JP7020834B2 - Igbt型トランジスタを備える電気回路網における短絡の検出方法および関連する制御装置 - Google Patents
Igbt型トランジスタを備える電気回路網における短絡の検出方法および関連する制御装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7020834B2 JP7020834B2 JP2017182049A JP2017182049A JP7020834B2 JP 7020834 B2 JP7020834 B2 JP 7020834B2 JP 2017182049 A JP2017182049 A JP 2017182049A JP 2017182049 A JP2017182049 A JP 2017182049A JP 7020834 B2 JP7020834 B2 JP 7020834B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- short circuit
- state
- main current
- transistor
- emitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/082—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
- H03K17/0828—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in composite switches
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/0027—Measuring means of, e.g. currents through or voltages across the switch
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
オン状態とオフ状態との間でトランジスタを切り替えるフェーズにおいて実現され、
この切り替えるフェーズは、トランジスタをオフ状態からオン状態に切り替えることを有する、導通へ切り替えるフェーズであり、
時間観測ウィンドウの開始は、導通へ切り替えるフェーズの開始に対応し、
この方法は、時間観測ウィンドウにおける主電流の時間導関数の符号を観測することと、主電流の時間導関数が、所定のテスト期間の間、厳密に正に留まるときに、短絡の存在を検出することと、を有するステップを有し、
方法は更に、主電流の時間導関数が、テスト期間に続く(従う)追加期間の間、ゼロ以上のままであるときに、短絡の存在を確認することを有する、短絡の存在を確認するステップを有し、
この方法は、短絡が検出された場合は、トランジスタをオフ状態に保つことを有し、
観測ウィンドウの長さは、1μsと20μsとの間で構成される、という特徴の1つ又は複数を有する。
12 電力構成要素
14 トランジスタ
15 ダイオード
16 電圧測定モジュール
18 電流変化測定モジュール
20 制御装置
C コレクタ
E エミッタ
G ゲート
Claims (8)
- IGBT型トランジスタ(14)を備える電気回路網(10)における短絡を検出する方法(100)であって、前記トランジスタ(14)は、ゲート(G)、コレクタ(C)およびエミッタ(E)を備え、主電流(Ic)が前記コレクタ(C)と前記エミッタ(E)との間を流れるオン状態と、前記コレクタ(C)が前記エミッタ(E)から電気的に隔離されているオフ状態と、を規定し、前記検出方法(100)は、
所定の長さの時間観測ウィンドウ(Tobs)において、前記主電流(Ic)の時間導関数(dIc/dt)の符号を観測することと、
前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)の符号に基づいて、前記時間観測ウィンドウ(Tobs)において短絡を検出することと、を有し、
前記検出方法は、
前記時間観測ウィンドウ(Tobs)において、前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)の符号を観測するステップ(110)と、
前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)が、所定のテスト期間(Tt)の間、厳密に正であるとき、短絡の存在を検出するステップ(120)と、を有する方法(100)。 - 前記オン状態と前記オフ状態との間で前記トランジスタ(14)を切り替えるフェーズの間に実現される、請求項1に記載の方法(100)。
- 前記切り替えるフェーズは、前記トランジスタ(14)を、前記オフ状態から前記オン状態に切り替えることを有する、導通へ切り替えるフェーズである、請求項2に記載の方法(100)。
- 前記時間観測ウィンドウ(Tobs)の開始は、前記導通へ切り替えるフェーズの開始に対応する、請求項3に記載の方法(100)。
- 前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)が、前記テスト期間(Tt)に続く追加期間の間、ゼロ以上のままであるときに、短絡の存在を確認することを有する、短絡の存在を確認するステップ(130)を更に有する、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法(100)。
- 短絡が検出された場合、前記トランジスタ(14)を前記オフ状態に保つことを更に有する、請求項1~5のいずれか一項に記載の方法(100)。
- 前記観測ウィンドウ(Tobs)の前記長さは、1μsと20μsとの間で構成される、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法(100)。
- IGBT型トランジスタ(14)に対する制御装置(20)であって、前記トランジスタ(14)は、ゲート(G)、コレクタ(C)およびエミッタ(E)を備え、主電流(Ic)が前記コレクタ(C)と前記エミッタ(E)との間を流れるオン状態と、前記コレクタ(C)が前記エミッタ(E)から電気的に隔離されているオフ状態と、を規定し、
前記装置(20)は、所定の長さの時間観測ウィンドウ(Tobs)において、前記主電流(Ic)の時間導関数(dIc/dt)の符号を観測でき、前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)の符号に基づいて、前記時間観測ウィンドウ(Tobs)において短絡を検出でき、
前記装置は、
前記時間観測ウィンドウ(Tobs)において、前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)の符号を観測し、
前記主電流(Ic)の前記時間導関数(dIc/dt)が、所定のテスト期間(Tt)の間、厳密に正であるとき、短絡の存在を検出するように構成される、制御装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1658983 | 2016-09-23 | ||
FR1658983A FR3056756B1 (fr) | 2016-09-23 | 2016-09-23 | Procede de detection d'un court-circuit dans un circuit electrique comprenant un transistor du type igbt et dispositif de pilotage associe |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018050453A JP2018050453A (ja) | 2018-03-29 |
JP7020834B2 true JP7020834B2 (ja) | 2022-02-16 |
Family
ID=57796461
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017182049A Active JP7020834B2 (ja) | 2016-09-23 | 2017-09-22 | Igbt型トランジスタを備える電気回路網における短絡の検出方法および関連する制御装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3299827B1 (ja) |
JP (1) | JP7020834B2 (ja) |
CN (1) | CN107870280B (ja) |
ES (1) | ES2850351T3 (ja) |
FR (1) | FR3056756B1 (ja) |
PL (1) | PL3299827T3 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3056859B1 (fr) * | 2016-09-23 | 2018-11-30 | Alstom Transport Technologies | Procede de pilotage d'un transistor du type igbt et dispositif de pilotage associe |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005503749A (ja) | 2001-09-21 | 2005-02-03 | エービービー エービー | コンバータ及び該コンバータを制御する方法 |
JP2012009962A (ja) | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Honda Motor Co Ltd | ゲート駆動回路 |
JP2012032327A (ja) | 2010-08-02 | 2012-02-16 | Advantest Corp | 試験装置及び試験方法 |
JP2014187837A (ja) | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Honda Motor Co Ltd | 電力変換器の保護システム |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5121766A (en) * | 1974-08-16 | 1976-02-21 | Hitachi Ltd | Sairisutahenkankino hogosochi |
JPH08251907A (ja) * | 1995-03-08 | 1996-09-27 | Toshiba Corp | 半導体遮断器 |
US7679874B2 (en) * | 2005-07-25 | 2010-03-16 | Semiconductor Components Industries, L.L.C. | Power overload detection method and structure therefor |
US7357019B2 (en) * | 2005-11-30 | 2008-04-15 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Faulty lifter oil manifold assembly solenoid diagnostic system |
AT508193B1 (de) * | 2009-05-08 | 2015-05-15 | Fronius Int Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum schutz von transistoren |
CN105493218B (zh) * | 2013-08-30 | 2018-06-29 | 伊顿工业(荷兰)有限公司 | 具有混合开关的断路器 |
FR3013919B1 (fr) * | 2013-11-22 | 2016-01-08 | Continental Automotive France | Detection de court-circuit dans une structure de commutation |
-
2016
- 2016-09-23 FR FR1658983A patent/FR3056756B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2017
- 2017-09-22 JP JP2017182049A patent/JP7020834B2/ja active Active
- 2017-09-22 PL PL17192582T patent/PL3299827T3/pl unknown
- 2017-09-22 ES ES17192582T patent/ES2850351T3/es active Active
- 2017-09-22 EP EP17192582.9A patent/EP3299827B1/fr active Active
- 2017-09-25 CN CN201710873450.5A patent/CN107870280B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005503749A (ja) | 2001-09-21 | 2005-02-03 | エービービー エービー | コンバータ及び該コンバータを制御する方法 |
JP2012009962A (ja) | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Honda Motor Co Ltd | ゲート駆動回路 |
JP2012032327A (ja) | 2010-08-02 | 2012-02-16 | Advantest Corp | 試験装置及び試験方法 |
JP2014187837A (ja) | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Honda Motor Co Ltd | 電力変換器の保護システム |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
MAHMOUD SHAHBAZI他4名,"Open and Short-Circuit Fault Diagnosis for Non-Isolated DC-DC Conveters Using Field Programmable Gate Aarray",IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS,Vol.60, No.9,IEEE,2013年09月01日,pp.4136-4146 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES2850351T3 (es) | 2021-08-27 |
FR3056756B1 (fr) | 2020-06-12 |
CN107870280B (zh) | 2021-07-13 |
EP3299827B1 (fr) | 2020-12-02 |
JP2018050453A (ja) | 2018-03-29 |
FR3056756A1 (fr) | 2018-03-30 |
EP3299827A1 (fr) | 2018-03-28 |
PL3299827T3 (pl) | 2021-05-31 |
CN107870280A (zh) | 2018-04-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7355433B2 (en) | Configurations and method for carrying out wafer level unclamped inductive switching (UIS) tests | |
KR101488201B1 (ko) | 전기 회로 차단기의 스위칭 컨택의 저항 측정을 위한 방법 및 장치 | |
US8866489B2 (en) | Test apparatus with power cutoff section having variable maximum and minimum thresholds | |
JP5566412B2 (ja) | パワー半導体用試験装置 | |
JP2012229971A (ja) | 半導体検査装置、及び半導体検査方法 | |
US20130229200A1 (en) | Testing apparatus for performing an avalanche test and method thereof | |
CN110168328B (zh) | 用于确定至少一个电子开关元件的温度的方法和电子组件 | |
JP2010210330A (ja) | 半導体試験装置および測定装置 | |
JP7020834B2 (ja) | Igbt型トランジスタを備える電気回路網における短絡の検出方法および関連する制御装置 | |
KR101531018B1 (ko) | 전력반도체소자의 불량 예측 방법 | |
JP7071079B2 (ja) | Igbt型トランジスタの制御方法および関連する制御装置 | |
US11067629B2 (en) | Automated test equipment for testing high-power electronic components | |
JP5707579B2 (ja) | パワー半導体用試験装置 | |
JP2021043191A (ja) | 試験測定回路及び装置並びに被試験デバイスの特性測定方法 | |
JP5258810B2 (ja) | 半導体装置の試験装置 | |
JP2015055596A (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
CN108051737B (zh) | 一种开关器件筛选系统及方法 | |
CN115712044A (zh) | SiC MOSFET功率循环试验的阈值电压监测电路 | |
CN105445636A (zh) | 半导体测试电路及被测试件导电性能的检测方法 | |
US20180205375A1 (en) | Circuit arrangement for a secure digital switched output, test method for and output module for the same | |
Jensen et al. | Online MOSFET condition monitoring for inverter-driven electric machines | |
US11099225B2 (en) | Method for determining the output voltage of a transistor | |
JP2020064026A (ja) | コイルの信頼性試験装置 | |
JP2019086306A (ja) | 半導体装置の試験装置 | |
Zhang et al. | A Half-Bridge-Level Gate-Oxide Failure Online Detection Method Without Invading Converters for SiC MOSFETs |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200821 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210630 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210706 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20211005 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220104 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220203 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7020834 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |