JP7017603B2 - 半田ペースト組成物およびそれを用いた半田付け方法 - Google Patents
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Description
本発明は、半田ペースト組成物に関し、より詳細には、プリント回路基板のための製造工程に適用される半田ペースト組成物および前記半田ペースト組成物を用いた半田付け方法に関する。
近年、軽量、薄型で小さい高機能エレクトロニクスデバイスに対する消費者の需要に応えるために、エレクトロニクスデバイスに実装されるプリント回路基板(PCB)は、それに応じて、そのサイズおよび厚さを減らすことが求められている。従って、半田ペーストとPCB上の電子部品との間の結合強度を改善する方法が研究開発の注力対象の1つになっている。これは、前述の開発により、それらの間の接触面積を小さくして電子部品のファインピッチを達成できることが理由となっている。
金属酸化物除去の工程は、水蒸気の生成を伴う。水蒸気が半田接合部に閉じ込められると、空孔(空隙)が生ずる。さらに、カルボン酸金属塩またはロジンおよび四級アンモニウムハライド塩から生成されたその他の残存有機成分などのフラックス残留物が半田接合部から排除されていない場合、空孔の発生、高い界面抵抗、低熱伝導率、腐食された半田接合部、低半田付け強度、低構成部品信頼性および短い部品寿命などのいくつかの問題が発生することになる。
さらに、特許文献2は、還元剤および活性化剤不含の半田ペースト組成物を開示している。換言すれば、この半田ペースト組成物は、金属粉末、特定のチキソトロピック剤および溶媒のみを含む。金属粉末上の金属酸化物膜を除去するために、半田ペースト組成物は、半田付け工程中に還元性ガスと一緒に使用するように制限される。しかし、前述の半田ペースト組成物が大規模ウェハ用の半田付け工程に適用されると、得られた半田接合部の半田付け結合強度は、不十分になる。理由は、前記半田ペースト組成物が活性化剤不含であるために、半田接合部の最外部の金属酸化物膜は還元されて融解を開始するが、半田接合部の中央部の金属酸化物膜は、還元性ガスが容易には中央部に侵入しないために還元されないので、金属粉末が全体的に融解しない可能性があるからである。従って、得られた半田付け品は、より低い信頼性を有することになろう。さらに、還元性ガスが分解して、水蒸気を生成する場合、依然として半田接合部にいくつかの空孔が存在する。
予備的加熱ステップが5段階加熱ステップの場合、複合体構造物は、予備的加熱ステップの4段階目の加熱の完了後に、酸性ガスを含むチャンバーに移送され、第5段階目の加熱を同時に受け得る。予備的加熱ステップが6段階加熱ステップの場合、複合体構造物は、予備的加熱ステップの4段階目の加熱の完了後に、酸性ガスを含むチャンバーに移送され、第5段階目の加熱を同時に受け、その後、予備的加熱ステップの第6段階目の加熱を受け、続けて、第5段階目の加熱を受ける。
1.溶媒A:ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル;沸点:258℃
2.溶媒B:2-エチル-1,3-ヘキサンジオール;沸点:241℃~249℃
3.溶媒C:ジエチレングリコールモノブチルエーテル;沸点:171℃
4.溶媒D:ジエチレングリコールモノメチルエーテル;沸点:193℃
5.溶媒E:トリメチレングリコールモノヘキシルエーテル;沸点:321.2℃
6.溶媒F:ジプロピレングリコールモノメチルエーテル;沸点:190℃
7.有機酸I:ギ酸;pKa:3.75
8.有機酸II:酢酸;pKa:4.75
9.有機酸III:プロパン酸;pKa:4.86
10.有機酸IV:酪酸;pKa:4.82
11.有機酸V:シュウ酸;pKa1:1.38、pKa1:4.28
12.チキソトロピック剤a:アミド系チキソトロピック剤、N-[2-[(2-ヒドロキシエチル)アミノ]エチル]ステアルアミド
13.チキソトロピック剤b:アミド系チキソトロピック剤、n,n’-メチレンビスオクタデカンアミド
14.チキソトロピック剤c:硬化ヒマシ油系チキソトロピック剤;製品モデル:Crayvallac MT
15.チキソトロピック剤d:ヒマシ油チキソトロピック剤;製品モデル:Crayvallac CVP
16.チキソトロピック剤e:ソルビトール系チキソトロピック剤、トリベンジリデンソルビトール
17.金属粉末i:スズ-銀-銅合金、スズ:銀:銅の重量比=96.5:3:0.5;製品モデル:SAC305;融点:220℃;平均粒径:25μm~45μm
18.金属粉末ii:鉛-スズ-銀合金、鉛:スズ:銀の重量比=92.5:5:2.5;融点:296℃;平均粒径:25μm~45μm
最初に、表1-1に示す含量比(単位:重量部)に従って、有機混合物1~有機混合物20を次のステップに従い調製した。
試験試料の調製
30mmの長さ、30mmの幅および300μmの厚みを有する、銅基板を調製した。次に、半田ペースト組成物E1~E20およびC1~C3をそれぞれ、分取して、2mmの長さ、2mmの幅および100μm~200μmの厚みを有する半田ペースト層を形成することにより、銅基板の表面上に適用した。次に、上部カバー(すなわち、半田付け目的物)をそれぞれ半田ペースト層上に置き、試験試料E1-1~E20-1およびC1-1とC3-1を得た。外観分析のために、上部カバーをガラスシートとし、それぞれ8mm長さ、8mm幅、150μm厚さであった。気孔率分析のために、上部カバーをウェハとし、それぞれ1.7mm長さ、1.7mm幅、150μm厚さであった。スラスト試験のために、上部カバーをウェハとし、それぞれ2.4mm長さ、2.4mm幅、200μm厚さであった。
対応する半田ペースト組成物および対応する半田付け方法により調製した半田付け品P1~P24およびCP1とCP6の、それらの該環、多孔性および半田付け強度を分析し、半田付け品P1~P21およびCP1とCP6の結果を表3-1に記載し、半田付け品P9およびP22~P24の結果を表3-2に記載した。
1.外観:それぞれの半田付け品の融解状態を光学顕微鏡を用いて50倍の倍率で観察し、表3-1および3-2に記載した。半田付け品の半田接合部の融解面積が90%を超える場合には、結果を「〇」として記録した。半田付け品の半田接合部の融解面積が30%以上で90%未満の場合に、結果を「△」として記録した。半田付け品の半田接合部の融解面積が30%未満の場合には、結果を「X」として記録した。さらに、半田付け品の半田接合部の融解面積が90%を超える場合に半田付け品の半田接合部について、前記半田接合部に何らかの明らかな空孔があるかどうかを観察し、結果を表3-1および3-2に記載した。
2.気孔率:それぞれの半田付け品をX線分光計により真上から撮影した。半田接合部に何らかの空孔があった場合には、写真中の空孔の面積が蛍光により認められ;その後、ウェハの全面積に対する各試験試料の全空孔の面積の比率がX線組込ソフトウエアにより分析され、各半田付け品の気孔率が得られた。
3.スラスト試験:それぞれの半田付け品をデジタル力計(YOTEC Instrument Co.,Ltd.製品モデル:SH-200により製造)で測定した。標準的方法JIS Z 3198-7(チップ部品の半田継手せん断試験方法)に従って、剪断ジグと半田接合部との間の接触位置は、半田接合部の厚さが1/3(半田ペーストと銅基板との間の境界を基準にして)に達する位置とし、次に、水平スラストを半田接合部に加え、半田接合部が耐え得る最大スラストをそれぞれの半田付け品の半田付け強度として記録した。半田付け品の半田接合部が耐え得る最大スラストが20kg重(kgf;1kgfは9.8Nに等しい)より大きい場合、半田付け強度の結果を「優」として評価した。半田付け品の半田接合部が耐え得る最大スラストが12kgf以上で20kgfより小さい場合、半田付け強度の結果を「良」として評価した。半田付け品の半田接合部が耐え得る最大スラストが12kgfより小さい場合、半田付け強度の結果を「不可」として評価した。
表3-1に示す外観分析の結果によると、半田付け品P1~P21は、特定の有機酸を含む半田ペースト組成物E1~E20から、および酸性ガスを導入するステップを含む半田付け方法により調製されたので、有機酸は、半田接合部の全ての部分に均一に侵入できる。従って、金属粉末上の金属酸化物膜は、広い範囲にわたり破壊され、半田接合部の融解状態は良好で、全半田接合部の融解面積は、ほぼ100%になるであろう。
Claims (8)
- 半田ペースト組成物であって、
100重量部の量の金属粉末、および3重量部~18重量部の量の有機混合物を含み、
前記有機混合物は、溶媒、チキソトロピック剤および有機酸を含み、
前記有機酸は前記金属粉末の融点よりよりも低い沸点を有し、前記半田ペースト組成物は、ロジン、四級アンモニウムハライド塩、および前記金属粉末の前記融点以上の沸点を有する有機酸を含まず、
前記チキソトロピック剤は、アミド系チキソトロピック剤、硬化ヒマシ油系チキソトロピック剤、ヒマシ油系チキソトロピック剤またはソルビトール系チキソトロピック剤を含み、
前記有機酸は、ギ酸、酢酸、プロパン酸、酪酸またはシュウ酸を含み、
前記溶媒を100重量部の量とした場合、前記チキソトロピック剤は0.5重量部~5重量部の量であり、前記有機酸は0.005重量部~3重量部の量であることを特徴とする、
半田ペースト組成物。 - 前記金属粉末は、スズを含み、前記スズの含量は、前記金属粉末の総重量を基準にして4.5重量%~96重量%の範囲であることを特徴とする、請求項1に記載の半田ペースト組成物。
- 前記溶媒は、アルコール溶媒、エーテル溶媒またはグリコールエーテル溶媒を含むことを特徴とする、請求項1または2に記載の半田ペースト組成物。
- 半田付けペースト組成物を基板と半田付け目的物との間に供給し、複合体構造物を形成する準備ステップであって、前記半田付けペースト組成物は、請求項1~3のいずれか1項に記載の半田付けペースト組成物であることを特徴とする、ステップ、
前記複合体構造物をチャンバー中に置き、酸性ガスを前記チャンバーに導入するステップ、および、
前記半田付けペースト組成物の金属粉末を融解し、前記半田付け目的物を前記基板に半田付けするステップ、を含むことを特徴とする、
半田付け方法。 - 前記チャンバー内の酸性ガスの圧力は、700Pa~80,000Paの範囲である、請求項4に記載の半田付け方法。
- 前記酸性ガスは、ガス状ギ酸、ガス状酢酸、ガス状プロパン酸、ガス状酪酸または塩酸を含むことを特徴とする、請求項5に記載の半田付け方法。
- 前記半田付け方法は、前記準備ステップ後に予備的加熱ステップをさらに含み、前記予備的加熱ステップの温度は、前記金属粉末の融点より低い、請求項4~6のいずれか1項に記載の半田付け方法。
- 前記チャンバーの温度は、200℃~380℃の範囲であることを特徴とする、請求項4~7のいずれか1項に記載の半田付け方法。
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