JP7016874B2 - マニピュレータ - Google Patents
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Description
に,検査ヘッドを下降させる表面とレベルを揃えて検査ヘッドを方位付けすれば,マニピュレータは,検査ヘッドが重量の相当部分を検査ヘッドの一部のみに不均等に負荷する事態を回避することができる。
Claims (19)
- 基部と,
該基部に結合された立ち上がり部と,
該立ち上がり部に設けられた検査ヘッドアタッチメントと,
該検査ヘッドアタッチメントに設けられた第1クイック結合アセンブリと,
重量移動機構と,
を備え,
前記第1クイック結合アセンブリは,取り外し工具やファスナを使用することなく検査ヘッドと結合可能であり,
前記第1クイック結合アセンブリは,機械的係合により前記検査ヘッドにインターロックされ,
前記重量移動機構は,前記検査ヘッドの重量が前記第1クイック結合アセンブリに加わる際に,前記第1クイック結合アセンブリのフェース角を動的且つ自動的に調整して水平方向のたわみを補償するマニピュレータ。 - 請求項1に記載のマニピュレータであって,
前記基部に設けられた第2クイック結合アセンブリを更に備え,
前記第2クイック結合アセンブリは,機械的係合によりプローバにインターロックされる,マニピュレータ。 - 請求項2に記載のマニピュレータであって,
前記基部が,前記基部に向かって伸長し,また,前記基部から離間するように構成された,展開可能なアウトリガーを更に備え,
該展開可能なアウトリガーに前記第2クイック結合アセンブリが設けられている,
マニピュレータ。 - 請求項1に記載のマニピュレータであって,
前記基部に設けられた操舵可能なキャスタを更に備える,マニピュレータ。 - 請求項1に記載のマニピュレータであって,
前記重量移動機構は,前記マニピュレータが前記検査ヘッドに取り付けられ,該検査ヘッドが重量支持機構から持ち上げられる際に,前記検査ヘッドの重量がマニピュレータに加わることによって生じる前記たわみを動的且つ自動的に補償する,マニピュレータ。 - 請求項5に記載のマニピュレータであって,
前記重量支持機構がプローバである,マニピュレータ。 - 請求項1に記載のマニピュレータであって,
前記重量移動機構が,
検査ヘッドに結合可能なマニピュレータフェースと,
該マニピュレータフェースの角度を調整するためのサグモータと,
を更に備える,マニピュレータ。 - 請求項1に記載のマニピュレータであって,
前記重量移動機構が,検査ヘッドが前記マニピュレータに前記第1クイック結合アセンブリを介して結合される際に,該検査ヘッドのレベルを決定するためのレベルセンサを備える,マニピュレータ。 - 請求項7に記載のマニピュレータであって,
前記サグモータは,前記マニピュレータが前記検査ヘッドをプラットフォームから離間移動させる際に,前記検査ヘッドのレベルを連続的に調整する,マニピュレータ。 - 請求項1に記載のマニピュレータであって,
前記第1クイック結合アセンブリが,
突出部と,
該突出部内に配置されたロック要素と,
を備え,前記突出部が検査ヘッドの受け部内に挿入可能な寸法とされ,前記ロック要素が前記受け部にインターロックされるよう,前記突出部の中心軸線に関して内向き又は外向きに可動であり,
前記ロック要素は,空気圧又は流体圧で制御されて前記内向き又は前記外向きに可動であり,
前記ロック要素は,前記空気圧又は前記流体圧が供給されていない場合であっても,前記受け部とのインターロックを維持するマニピュレータ。 - 検査ヘッドを移動させる方法であって,
マニピュレータにおける第1のクイック結合アセンブリを,取り外し工具やファスナを使用することなく検査ヘッドに取付けるステップと,
マニピュレータにおける第2のクイック結合アセンブリを,取り外し工具やファスナを使用することなく前記検査ヘッドを支持するプローバに取付けるステップと,
前記検査ヘッドを前記マニピュレータと共に持ち上げるステップと,
前記検査ヘッドの重量が前記第1のクイック結合アセンブリに加わる際に,前記第1のクイック結合アセンブリのフェース角を動的且つ自動的に調整して水平方向のたわみを補償するステップとを備え,
前記第1のクイック結合アセンブリは,機械的係合により前記検査ヘッドにインターロックされ,
前記第2のクイック結合アセンブリは,機械的係合によりプローバにインターロックされる方法。 - 請求項11に記載の方法であって,
前記検査ヘッドが持ち上げられる際に該検査ヘッドのレベルをサグモータにより,前記マニピュレータに負荷される重量の増分に基づいて調整するステップを更に備える,方法。 - 請求項11に記載の方法であって,
前記第2のクイック結合アセンブリを,前記マニピュレータの基部が前記プローバに結合される位置まで個別的に移動させるステップを更に備える,方法。 - 請求項13に記載の方法であって,
前記第2のクイック結合アセンブリを移動させるステップが,該第2のクイック結合アセンブリを,前記マニピュレータの基部に結合されたアウトリガー上で移動させるステップを備える,方法。 - 請求項13に記載の方法であって,
前記第2のクイック結合アセンブリの突出部を前記検査ヘッドにおける受け部内に挿入するステップと,
前記突出部におけるロック可能要素を該突出部の中心軸線に関して内向き又は外向きに移動させることにより,前記受け部にインターロックするステップと,
を更に備え,
前記ロック可能要素は,空気圧又は流体圧で制御されて前記内向き又は前記外向きに可動であり,
前記ロック可能要素は,前記空気圧又は前記流体圧が供給されていない場合であっても,前記受け部とのインターロックを維持する方法。 - 請求項11に記載の方法であって,
前記検査ヘッドを持ち上げる間に,該検査ヘッドのレベルを連続的に計測するステップを更に備える,方法。 - 請求項11に記載の方法であって,
前記第1のクイック結合アセンブリを第1のクイック結合アセンブリにより検査ヘッドに取り付けるステップを,前記マニピュレータにおける第2のクイック結合アセンブリを前記プローバに取り付けた後に実行する,方法。 - 請求項2に記載のマニピュレータであって,
前記第2クイック結合アセンブリは,取り外し工具やファスナを使用することなく前記プローバと結合可能であるマニピュレータ。 - 請求項18に記載のマニピュレータであって,
前記重量移動機構が,
サグモータと,
該サグモータに接続したレベルセンサと,
を備え,
前記重量移動機構は,前記レベルセンサからの出力に応じて前記検査ヘッドが前記プローバから持ち上げられる際に,前記第1クイック結合アセンブリの前記フェース角を動的且つ自動的に調整する,マニピュレータ。
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Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102653657B1 (ko) * | 2016-02-12 | 2024-04-03 | (주)테크윙 | 반도체소자 테스트용 핸들러 |
US10325796B2 (en) * | 2017-10-30 | 2019-06-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Apparatus and system for detecting wafer damage |
EP3488977A1 (de) | 2017-11-23 | 2019-05-29 | HILTI Aktiengesellschaft | Selbstausrichtende werkzeugführung |
EP3488974A1 (de) | 2017-11-23 | 2019-05-29 | HILTI Aktiengesellschaft | Selbstausrichtende werkzeugführung |
EP3488978A1 (de) * | 2017-11-23 | 2019-05-29 | HILTI Aktiengesellschaft | Selbstausrichtende werkzeugführung |
CN109366455A (zh) * | 2018-12-10 | 2019-02-22 | 浙江禾运科技有限公司 | 一种结构简单的吸盘机械手 |
KR102210515B1 (ko) * | 2019-06-28 | 2021-02-01 | 주식회사 기온 | 이동형 웨이퍼 정렬상태 비전 검사 시스템 |
CN111776573A (zh) * | 2020-07-15 | 2020-10-16 | 界首市鑫华装璜彩印有限公司 | 一种纸箱智能运输机器人及其运输方法 |
US11498207B2 (en) * | 2021-01-08 | 2022-11-15 | Teradyne, Inc. | Test head manipulator configured to address uncontrolled test head rotation |
KR20220139742A (ko) | 2021-04-08 | 2022-10-17 | 윤정헌 | 다기능 우편함 |
CN115609613B (zh) * | 2022-09-29 | 2024-05-31 | 重庆赛力斯凤凰智创科技有限公司 | 触摸屏用机械手及触摸屏测试系统 |
CN117182548B (zh) * | 2023-03-10 | 2024-04-12 | 中山常成日用制品有限公司 | 脚轮组装、包装和码垛系统 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003336483A (ja) | 2002-05-22 | 2003-11-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 分割管および該分割管の結合方法 |
JP2009503854A (ja) | 2005-07-29 | 2009-01-29 | ネクステスト システムズ コーポレイション | 積層可能な半導体テストシステム用の可搬式マニピュレータ |
JP2009525098A (ja) | 2006-02-03 | 2009-07-09 | ザ ヨーロピアン アトミック エナジー コミュニティ(ユーラトム)、リプリゼンテッド バイ ザ ヨーロピアン コミッション | 最小侵襲医療手技を実行するためのロボット手術システム |
US20120048656A1 (en) | 2010-07-27 | 2012-03-01 | Intest Corporation | Positioner system and method of positioning |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5769315A (en) | 1980-10-13 | 1982-04-28 | Fanuc Ltd | Control system of industrial robot |
JPS5890486A (ja) | 1981-11-20 | 1983-05-30 | 株式会社日立製作所 | 工業用ロボツト |
JPS5943792A (ja) | 1982-09-07 | 1984-03-10 | 株式会社明電舎 | 遠隔操作式吊具 |
US5163649A (en) * | 1990-03-30 | 1992-11-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Multi-axis positional gimbal |
JP3215475B2 (ja) * | 1991-12-20 | 2001-10-09 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブ装置 |
JP2500291B2 (ja) * | 1993-07-12 | 1996-05-29 | 日本電気株式会社 | 電子回路パッケ―ジ収納架および電子回路パッケ―ジ交換用ロボット |
JPH07328963A (ja) | 1994-06-07 | 1995-12-19 | Hitachi Zosen Corp | 重量物用マニピュレータ装置および重量物用マニピュレータ設備ならびにその制御方法 |
JPH08108334A (ja) | 1994-10-07 | 1996-04-30 | Brother Ind Ltd | 工作機械の工具把持装置 |
JP2642075B2 (ja) * | 1995-02-13 | 1997-08-20 | 日本電気ロボットエンジニアリング株式会社 | 自走式基板交換ロボット |
DE69522586T2 (de) | 1995-02-23 | 2002-07-11 | Aesop Inc | Manipulator für einen testkopf einer automatischen testanlage |
JP2000091794A (ja) * | 1998-09-09 | 2000-03-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品実装装置 |
MY138984A (en) * | 2000-03-01 | 2009-08-28 | Intest Corp | Vertical counter balanced test head manipulator |
DE10016530C1 (de) | 2000-04-03 | 2001-10-25 | Microhandling Handhabungsgerae | Handhabungsgerät für einen Testkopf |
KR100380885B1 (ko) | 2000-05-26 | 2003-04-18 | 한국전력공사 | 임의의 충격각도 및 충격점 조정이 가능한 진자식충격시험기 |
US6838868B1 (en) * | 2000-11-07 | 2005-01-04 | Teradyne, Inc. | Test head actuation system with positioning and compliant modes |
US6766996B1 (en) * | 2001-07-16 | 2004-07-27 | Reid-Ashman Manufacturing, Inc. | Manipulator |
US6828774B2 (en) * | 2002-02-27 | 2004-12-07 | Teradyne, Inc. | Rear-mounted gimbal for supporting test head |
SG137846A1 (en) * | 2003-08-06 | 2007-12-28 | Intest Corp | Test head positioning system |
EP1947466B1 (en) * | 2003-08-06 | 2012-07-04 | inTEST Corporation | Test head positioning system |
TWI490513B (zh) * | 2006-12-29 | 2015-07-01 | Intest Corp | 用於使負載沿平移軸線平移之負載定位系統以及使負載達到平衡之方法 |
US7764079B1 (en) * | 2007-01-31 | 2010-07-27 | SemiProbe LLC | Modular probe system |
WO2008103328A1 (en) * | 2007-02-23 | 2008-08-28 | Intest Corporation | Test head manipulator |
EP2150823A4 (en) * | 2007-05-07 | 2016-12-21 | Intest Corp | BOWL AND SHELL HANDLER FOR A TEST HEAD MANIPULATOR |
US7685885B2 (en) * | 2007-12-10 | 2010-03-30 | Teradyne, Inc. | Manipulator constant force spring counterbalance |
US8141856B2 (en) | 2008-04-04 | 2012-03-27 | Mag Ias, Llc | Pallet loader and manipulator |
JP5557547B2 (ja) * | 2010-02-10 | 2014-07-23 | 株式会社アドバンテスト | テストヘッド及びそれを備えた半導体ウェハ試験装置 |
KR101343910B1 (ko) | 2013-07-31 | 2013-12-20 | 테스토피아 주식회사 | 시험헤드의 하중제어 구조를 갖는 매니퓰레이터 |
JP2016030320A (ja) * | 2014-07-30 | 2016-03-07 | キヤノン株式会社 | ロボットシステム、ツール交換装置及びロボット装置 |
US10094854B2 (en) * | 2015-10-23 | 2018-10-09 | Teradyne, Inc. | Manipulator in automatic test equipment |
-
2017
- 2017-10-09 WO PCT/US2017/055764 patent/WO2018071335A1/en active Application Filing
- 2017-10-09 KR KR1020197013348A patent/KR102221204B1/ko active IP Right Grant
- 2017-10-09 JP JP2019540296A patent/JP7016874B2/ja active Active
- 2017-10-09 US US15/728,206 patent/US10634718B2/en active Active
- 2017-10-09 EP EP17859543.5A patent/EP3523664A4/en active Pending
- 2017-10-09 CN CN201780062598.9A patent/CN109891254A/zh active Pending
- 2017-10-11 TW TW106134709A patent/TWI701449B/zh active
-
2020
- 2020-04-27 US US16/860,029 patent/US11408933B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003336483A (ja) | 2002-05-22 | 2003-11-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 分割管および該分割管の結合方法 |
JP2009503854A (ja) | 2005-07-29 | 2009-01-29 | ネクステスト システムズ コーポレイション | 積層可能な半導体テストシステム用の可搬式マニピュレータ |
JP2009525098A (ja) | 2006-02-03 | 2009-07-09 | ザ ヨーロピアン アトミック エナジー コミュニティ(ユーラトム)、リプリゼンテッド バイ ザ ヨーロピアン コミッション | 最小侵襲医療手技を実行するためのロボット手術システム |
US20120048656A1 (en) | 2010-07-27 | 2012-03-01 | Intest Corporation | Positioner system and method of positioning |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180100893A1 (en) | 2018-04-12 |
EP3523664A1 (en) | 2019-08-14 |
TWI701449B (zh) | 2020-08-11 |
WO2018071335A1 (en) | 2018-04-19 |
EP3523664A4 (en) | 2020-06-17 |
US11408933B2 (en) | 2022-08-09 |
US20200393508A1 (en) | 2020-12-17 |
TW201825919A (zh) | 2018-07-16 |
JP2019536650A (ja) | 2019-12-19 |
US10634718B2 (en) | 2020-04-28 |
KR20190054177A (ko) | 2019-05-21 |
CN109891254A (zh) | 2019-06-14 |
KR102221204B1 (ko) | 2021-03-03 |
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