JP7004071B2 - フィルムラミネート金属板、フレキシブルデバイス用基板、及び有機elデバイス用基板 - Google Patents
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Description
エスアイアイナノテクノロジー株式会社製E-sweep、及びカンチレバーとして日立ハイテクサイエンス株式会社製背面AlコートSiカンチレバーを用いて、DFMモード(表面形状像)にて測定した。測定範囲は10μm×10μmとし、室温の大気中にて測定を行った。フィルムラミネート金属板の樹脂フィルムについて、ISO25178に準拠して、無作為に選んだ3箇所を測定し、算術平均高さ・十点領域高さ共にその平均値を求めた。熱処理は、50mm×50mmサイズにせん断したフィルムラミネート金属板の樹脂フィルム表面を上にして、雰囲気温度が100℃の熱風オーブン内に3分静置させた後、取り出して室温にて徐冷させた。熱処理前の算術平均高さ及び十点領域高さをそれぞれSa0、S10z0とし、熱処理後の算術平均高さ及び十点領域高さをそれぞれSa1、S10z1とした。
日本電色工業社製ハンディ型光沢度計(PG-1M)を用いて、フィルムラミネート金属板の樹脂フィルム表面を測定した(角度20°)。無作為に選んだ方向、場所にて5回測定し、この平均値を光沢度とした。
フィルムラミネート金属板の金属板を塩酸で溶解させ、樹脂フィルムを採取した。ミツトヨ社製ダイヤルゲージスタンド7001-10に設置した同じくミツトヨ社製のダイヤルゲージ2110S-10(超硬ボール付測定子)にて、採取した樹脂フィルムの厚みを測定した。測定は無作為に選んだ10箇所について行い、その平均値を樹脂フィルムの厚みとした。
フィルムラミネート金属板をサンプルサイズ10mm×10mmにせん断後、塩酸に浸漬させて金属板のみを溶解し樹脂フィルムを単離した。単離した樹脂フィルム5mgを試料としてアルミニウム製パンに採取し、TAインスツルメント社製示差走査熱量計(DSCQ100)を用いて測定した。まず、窒素雰囲気下で-50℃まで冷却し、そこから290℃まで20℃/分で昇温した(1stRun)。1stRun測定にて得られたチャートより融解エンタルピーが5J/g以上の融解ピークのピーク温度を求めた。それぞれ同様の測定を3回行い、その平均値を融点とした。上記測定にて290℃まで昇温した後、5分保持して液体窒素にて急冷した。その後、再び-50℃から290℃まで20℃/分で昇温した(2ndRun)。2ndRun測定にて得られたチャートよりガラス転移温度を求めた。それぞれ同様の測定を3回行い、その平均値をガラス転移温度とした。
フィルムラミネート金属板を基板として用いて、樹脂フィルムの表面上に陽極(アルミニウム・金電極)、正孔輸送層、発光層兼電子輸送層、及び半透明陰極(銀電極)を順に真空蒸着した。なお、発光面積が2mm×2mmとなるように金属マスクを設けた。具体的な有機ELデバイス作製方法を下記する。まず、基板を有機溶媒で洗浄した。その後、基板を真空蒸着機内に取り付け0.001Pa以下まで減圧した。次いで、陽極としてアルミニウム及び金を蒸着し、陽極を覆うように正孔輸送層としてα-NPD(N,N’-ジフェニル-N,N’-ジ(α-ナフチル)-ベンジジン)を蒸着速度6nm/minで膜厚50nmとなるように形成した。この正孔輸送層の上に、発光層兼電子輸送層としてAlq3(トリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム)を蒸着速度6nm/minで膜厚50nmとなるように形成した。最後に、銀を半透明電極となるように蒸着して陰極を形成した。このように作製した有機ELデバイスに封止を施し、100℃で3分間熱処理を行った。室温に冷却した有機ELデバイスを印加電圧15Vで通電し有機EL発光を確認した。下記判断基準により有機ELデバイス用基板適性を評価した。
B(良好):一部ダークスポット発生するも発光
C(不可):発光後すぐにショート、もしくは発光せず
上項と同様に有機ELデバイスを作製し、印加電圧10Vで通電した際の有機EL発光を確認した。デバイス内のダークスポット数を数え、下記判断基準により有機ELデバイスの発光外観を評価した。
B(良好):ダークスポット個数が1~100個
C(不可):ダークスポット個数が101個以上、もしくは発光せず
樹脂フィルムの原料樹脂として、ポリエステル樹脂であるPETのペレットを準備し、水分を含まないように真空高温下にて十分に乾燥させた。これを単軸押出機に投入し280℃で溶融混練した。次いで、25μmカットの焼結フィルターを介して異物除去を行った後、Tダイから吐出し、25℃に表面温度を制御したキャスティングドラム上で冷却固化させての無延伸フィルムを得た。次いで、加熱したセラミックロールを用いて樹脂フィルム温度が100℃になるように予熱を行い、樹脂フィルムの縦方向に3.8倍延伸を行った。その後、テンター式延伸機に端部をクリップで把持させて導入し、120℃で4.5倍に横方向に延伸した。そのまま、165℃で熱固定しながら横方向に1.0%の弛緩を施した。その後、室温まで徐冷し、端部を除去した樹脂フィルムを巻取機で巻き取り、厚み30μmの二軸延伸フィルムを得た。続いて、得られた二軸延伸フィルムを金属板にラミネートした。金属板として厚さ0.22mmのTFS(金属Cr層:120mg/m2、Cr酸化物層:金属Cr換算で10mg/m2)を用い、熱圧着フィルムラミネート法を利用して金属板の両面に上記樹脂フィルムを被覆した。金属板の一方の表面には上記で得られた二軸延伸フィルムを、他方の表面には東レ社製PETフィルム(ルミラーS10:20μm)をラミネートした。具体的なラミネート条件は、ラミネート直前の金属板温度239℃、ラミネート冷却ロール温度0℃、ラミネート加圧面圧5kgf/cm2とした。なお、ラミネート時の温度は、放射温度計によってラミネート前の温度を測定した(ニップ位置から100mmの位置)。その後、熱圧着から0.8秒経過後に水冷することにより、金属板の両面に樹脂フィルムを被覆したフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
ポリエステル樹脂をPENとし、縦方向延伸での延伸温度を140℃、横方向延伸での延伸温度を150℃、熱固定温度を190℃、ラミネート直前の金属板温度を250℃とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
ラミネート冷却ロール温度を25℃とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
ラミネート冷却ロール温度を20℃とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
無延伸フィルムを縦方向に延伸する際の樹脂フィルム温度を90℃とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
無延伸フィルムを縦方向に延伸する際の樹脂フィルム温度を85℃とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
ラミネート加圧面圧を15kgf/cm2とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
ラミネート加圧面圧を13kgf/cm2とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
溶融樹脂の吐出量を制御し、厚み10μmの二軸延伸フィルムとした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
溶融樹脂の吐出量を制御し、厚み50μmの二軸延伸フィルムとした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
ラミネート加圧面圧を16kgf/cm2とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
ラミネートロールを冷却せず温度を30℃とした以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
熱圧着から1.0秒経過後に水冷する以外は実施例1と同様にフィルムラミネート金属板を得た。得られたフィルムラミネート金属板の物性を以下の表1に示す。
実施例1~10及び比較例1~3の有機ELデバイス用基板適性の評価結果を以下の表1に併せて示す。表1に示すように、比較例1~3では、有機ELデバイス用基板適性及び/又は有機ELデバイス発光外観がC(不可)評価であった。これに対して、実施例1~10では、有機ELデバイス用基板適性及び有機ELデバイス発光外観がB(良好)評価以上であった。このように、本発明によれば、フレキシブルデバイス用基板に必要な平滑性、耐熱性を満足するフィルムラミネート金属板を提供できることが確認された。また、本発明のフィルムラミネート金属板はフレキシブル性、ガスバリア性を備え、環境負荷が低く、生産性にも優れる等、フレキシブルデバイス用基板として優れた特性を有する。
Claims (8)
- 金属板の少なくとも片面が熱圧着ラミネートにより樹脂フィルムで被覆されており、前記樹脂フィルムの表面の算術平均高さSa0が0.1nm以上3.0nm以下であり、100℃で3分熱処理した後に室温にて徐冷させた前記樹脂フィルムの表面の算術平均高さをSa1としたときの算術平均高さ変化率{(Sa1/Sa0)×100}が80%以上120%以下である、フィルムラミネート金属板。
- 前記樹脂フィルムの表面の十点領域高さS10z0が0.5nm以上50nm以下である、請求項1に記載のフィルムラミネート金属板。
- 100℃で熱処理した後の前記樹脂フィルムの表面の十点領域高さをS10z1としたときの十点領域高さ変化率{(S10z1/S10z0)×100}が80%以上120%以下である、請求項1又は2に記載のフィルムラミネート金属板。
- 前記樹脂フィルムの表面の光沢度が100以上である、請求項1~3のいずれか1項に記載のフィルムラミネート金属板。
- 前記樹脂フィルムの厚みが10μm以上50μm以下である、請求項1~4のいずれか1項に記載のフィルムラミネート金属板。
- 前記樹脂フィルムの成分は80質量%以上がポリエステル樹脂である、請求項1~5のいずれか1項に記載のフィルムラミネート金属板。
- 請求項1~6のいずれか1項に記載のフィルムラミネート金属板を用いる、フレキシブルデバイス用基板。
- 請求項1~6のいずれか1項に記載のフィルムラミネート金属板を用いる、有機ELデバイス用基板。
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