JP6997593B2 - 光学特性測定方法および光学特性測定システム - Google Patents
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Description
[光学特性測定システム]
図1は、本発明の実施の形態に係る光学特性測定システムの外観構成を示す図である。図2は、本発明の実施の形態に係る光学特性測定システムの装置構成を示す図である。
図3は、本発明の実施の形態に係る検出器ユニットの構成を示す図である。
(補正係数の算出)
再び図1~図4を参照して、情報処理装置10は、分光器13からの光スペクトルの測定結果を受信し、受信した測定結果に基づいて、撮像装置31ごとの補正係数を算出する。
情報処理装置10は、撮像装置31による撮像画像に基づいて、撮像装置31の移動軌跡が含まれる球面Sp以外の位置である1または複数の解析点Apから仮想的に対象物Sを撮像した画像(以下、「仮想画像」と称する。)を、演算処理により作成する。
ここで、撮像装置31は、図10に示す仮想面Vp上の点Pxと解析点Apとを通る直線Stと、対象物Sを中心とする球面Spとの交点である点Dに位置した際に撮像を行っていない場合がある。この場合、情報処理装置10は、撮像装置31による複数の撮像画像に基づいて撮像画像の補完を行うことが可能である。
情報処理装置10は、作成した仮想画像を解析結果として出力する処理を行う代わりに、当該仮想画像に基づいて得られる光の強度を解析結果として出力する処理を行う構成であってもよい。
情報処理装置10は、コンピュータを備え、当該コンピュータにおけるCPU等の演算処理部は、以下のフローチャートの各ステップの一部または全部を含むプログラムを図示しないメモリからそれぞれ読み出して実行する。このプログラムは、外部からインストールすることができる。また、このプログラムは、記録媒体に格納された状態で流通する。
図15は、本発明の実施の形態に係る検出器ユニットの変形例1の構成を示す図である。
上述の例では、撮像装置31による撮像画像の中央に対象物Sが含まれる場合について説明した。しかしながら、撮像画像における対象物Sの位置が、当該撮像画像の中央からずれている場合がある。そこで、情報処理装置10の変形例2は、撮像画像における各画素の位置を示す位置情報の補正を行うことが可能である。
11 検出器ユニット
12 移動機構
13 分光器
14 支持台
21 第1アーム
22 第2アーム
23 第1モータ
24 第2モータ
31,31A,31B,31C 撮像装置
41A,41B,41C,71 カメラ
42A,42B,42C,62A,62B,62C 光学フィルタ
43A,43B,43C,63A,63B,63C 減光フィルタ
62D,63D 開口部
72 光学フィルタユニット
73 減光フィルタユニット
74 レンズ
Claims (11)
- 対象物の光学特性を測定する光学特性測定方法であって、
前記対象物に対して所定距離だけ離して配置され、前記所定距離を維持しながら前記対象物に対する位置を変化させることが可能な撮像装置を用いて、前記対象物を含む画像である複数の撮像画像を取得するステップと、
取得した前記撮像画像に基づいて、前記撮像装置の移動軌跡が含まれる面以外の位置である1または複数の解析点からの前記対象物を含む仮想画像を作成するステップとを含む、光学特性測定方法。 - 前記仮想画像を作成するステップにおいては、複数の前記解析点からの複数の前記仮想画像をそれぞれ作成し、
前記光学特性測定方法は、さらに、
作成した前記複数の仮想画像の各画素値の合計をそれぞれ算出するステップを含む、請求項1に記載の光学特性測定方法。 - 前記仮想画像を作成するステップにおいては、前記仮想画像に対応する仮想面上の位置と前記解析点の位置と前記面とに基づいて、前記移動軌跡における複数の前記撮像画像の中から特定の撮像画像を選択し、選択した前記撮像画像に基づいて前記仮想画像を作成する、請求項1または請求項2に記載の光学特性測定方法。
- 前記仮想画像を作成するステップにおいては、前記移動軌跡における複数の前記撮像画像の中から特定の複数の撮像画像を選択し、選択した前記複数の撮像画像を用いて1つの画像を生成し、作成した前記画像に基づいて前記仮想画像を作成する、請求項3に記載の光学特性測定方法。
- 前記撮像画像を取得するステップにおいては、撮像対象の波長が異なる複数の前記撮像装置を使用し、
前記仮想画像を作成するステップにおいては、前記仮想画像を前記撮像装置ごとに作成する、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の光学特性測定方法。 - 前記撮像画像を取得するステップにおいては、前記対象物を中心とした同一円の周上に配置された前記複数の撮像装置を用いる、請求項5に記載の光学特性測定方法。
- 前記撮像画像を取得するステップにおいては、前記複数の撮像装置の各々の1または複数の前記撮像画像における各画素の位置を示す位置情報を補正する、請求項5または請求項6に記載の光学特性測定方法。
- 前記撮像画像を取得するステップにおいては、撮像方向に設けられた減光フィルタを含む前記複数の撮像装置を用いる、請求項5から請求項7のいずれか1項に記載の光学特性測定方法。
- 対象物の光学特性を測定する光学特性測定システムであって、
情報処理装置と、
前記対象物に対して所定距離だけ離して配置された撮像装置と、
前記所定距離を維持しながら、前記対象物に対する前記撮像装置の位置を変更可能な移動機構とを備え、
前記情報処理装置は、前記撮像装置によって撮像された前記対象物を含む画像である複数の撮像画像に基づいて、前記撮像装置の移動軌跡が含まれる面以外の位置である1または複数の解析点からの前記対象物を含む仮想画像を作成可能である、光学特性測定システム。 - 前記情報処理装置は、複数の前記解析点からの複数の前記仮想画像をそれぞれ作成し、作成した前記複数の仮想画像の各画素値の合計をそれぞれ算出する、請求項9に記載の光学特性測定システム。
- 前記情報処理装置は、前記仮想画像に対応する仮想面上の位置と前記解析点の位置と前記面とに基づいて、前記移動軌跡における複数の前記撮像画像の中から特定の撮像画像を選択し、選択した前記撮像画像に基づいて前記仮想画像を作成する、請求項9または請求項10に記載の光学特性測定システム。
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