JP5944719B2 - 配光特性測定装置および配光特性測定方法 - Google Patents
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Description
まず、本実施の形態に従う配光特性測定装置についての理解のため、本実施の形態の関連技術について説明する。本実施の形態の関連技術として、配光特性の測定方法について説明する。
図1は、本実施の形態の関連技術に従って1台のカメラで光源の配光特性を測定する方法を説明するための図である。図1に示すように、所定の撮像視野を有するカメラ10(一種の2次元センサー)を用いて、測定対象となる光源2による照度の配光特性(あるいは、光度の配光特性)を測定することができる。この場合、カメラ10は、光源2の発光面の全体が撮像できる位置に、その光軸方向が発光面と垂直となるように設置される。ここで、カメラ10で撮像される画像に対して、上下方向をY軸、左右方向をY軸とする。また、カメラ10の光軸方向が光源2の発光面と垂直になった状態を、X軸角度=0°、Y軸角度=0°と定義する。この状態を以下では「初期状態」とも称す。X軸およびY軸のそれぞれに対して±180°の範囲でカメラ10を移動させつつ、カメラ10で光源2を撮像することで、光源2の発光面についての配光特性(配光輝度特性)を取得することができる。
図3(a)に示すようなカメラ(2次元センサー)を用いて配光特性を測定する場合には、測定対象の光源2からの光をレンズで集光した上で、2次元センサーで受光し、この受光された結果に基づいて、光源2の表面輝度を測定する。この方法によれば、光源2に対する距離に依存することなく、光源2の表面輝度を測定することができる。さらに、二軸のゴニオメータに関連付けて、光源2を中心とする全球面/半球面にわたって、光源2を2次元センサーで測定することで、光源2の表面輝度の配光特性を取得できる。さらに、光源2の表面輝度の配光特性に基づいて、光源2を点光源とみなせる距離における照度を算出し、算出された照度を光度に変換することで、光源2の配光特性を取得できる。
次に、本実施の形態に従う配光特性測定装置の概要について説明する。図4は、本実施の形態に従う配光特性測定装置の概要を説明するための図である。図4を参照して、本実施の形態に従う配光特性測定装置は、所定の相対関係をもって配置された複数の検出器(2次元センサー/カメラ)を用いる。なお、後述するように、一方の検出器の検出範囲の少なくとも一部は、隣接する他の検出器の検出範囲と重複して設定される。図4(a)は、発光面が広い光源および/または複数の発光点を有する光源の配光特性を測定するのに適した構成例を示す。図4(b)は、光源から複数のデータ(色度および波長情報など)を測定するのに適した構成例を示す。以下、これらの構成例について概略する。
上述した関連技術に従えば、相対的に大きな光源を1台のカメラを用いて測定する場合には、光源とカメラ(2次元センサー)との距離を離す、および/または、視野範囲を拡大するための広角レンズを用いる、といった方法が採用される。また、複数の発光点を有する光源を1台のカメラを用いて測定する場合にも同様の手法が採用される。
(1) 光源の大きさに影響されることなく、空間分解能を維持しつつ、配光特性を測定できる。
(4) 光源の大きさなどに応じて、レンズの種類を変える必要がない。
上述した関連技術に従えば、光源から複数の情報(色度および波長情報など)を取得するためには、カメラ(2次元センサー)の前段に光学フィルターを装着する、および/または、ビームスプリッタなどを用いて、2次元センサーごとに光路を分けて計測を行なう、といった方法が採用される。
(1) 既存の配光特性測定装置に対してカメラを単純に追加するだけで、必要な情報を追加的に取得することができる。
次に、上述した本実施の形態に従う配光特性測定装置の適用例について説明する。以下の適用例では、自動車のヘッドライトをサンプル光源とした場合について説明する。
まず、自動車のヘッドライトの配光特性を測定する例について説明する。図5は、光源2を撮像する場合のカメラの設置位置を説明するための図である。図6は、図5に示すそれぞれの設置位置において撮像された画像例を示す図である。
次に、光源2の色度を測定する例について説明する。図8は、光源2の色度を測定する場合のカメラの設置位置を説明するための図である。光源2に対する色度測定を行なう場合には、測定対象の3色に対応する等色関数の特性をそれぞれ有する3枚のバンドパスフィルターをカメラに装着し、同一位置(空間および角度)において、それぞれのフィルターを通じて撮像を行なう必要がある。
次に、本実施の形態に従う配光特性測定装置の装置構成について説明する。配光特性測定装置は、複数の検出器(カメラ11,12,13)を一体として駆動することで、複数の検出器(カメラ11,12,13)の光源2に対する位置関係を更新する駆動手段を有する。以下の説明では、駆動手段の一例として、カメラ(検出器)を固定し光源を回転移動させる光源移動型と、光源を固定しカメラ(検出器)を回転移動させる検出器移動型とを例示する。駆動手段は、光源2と複数の検出器(カメラ11,12,13)と間の位置関係(相対関係)を異なる2つの軸方向(以下の例では、X軸方向およびY軸方向)にそれぞれ独立に変更する。
図12は、本実施の形態に従う配光特性測定装置1Aの構成例(光源移動型)を示す模式図である。図12に示す配光特性測定装置1Aは、光源2が装着され、カメラ(検出器)を中心として当該装着された光源2を回転させるゴニオメータを有する。
図13は、本実施の形態に従う配光特性測定装置1Bの構成例(検出器移動型)を示す模式図である。図13に示す配光特性測定装置1Bは、カメラ(検出器)が装着され、光源2を中心として当該装着されたカメラを回転させるゴニオメータを有する。
次に、本実施の形態に従う配光特性測定装置の電気的構成について説明する。
図14は、本実施の形態に従う配光特性測定装置の電気的構成を示す模式図である。図14を参照して、本実施の形態に従う配光特性測定装置は、上述のX軸モータ25,35およびY軸モータ26,36ならびにカメラ11,12,13に加えて、コンピュータ100およびトリガー装置110を含む。
図15は、図14に示すコンピュータ100の内部構成を示す模式図である。コンピュータ100は、典型的には、汎用のパーソナルコンピュータで構成される。より具体的には、図15を参照して、コンピュータ100は、CPU(Central)101と、主メモリ102と、HDD(Hard Disk Drive)103と、通信インターフェイス(I/F)104と、表示部105と、入力部106とを含む。これらのコンポーネントは、バス107を介して互いに通信可能に接続されている。
次に、本実施の形態に従う配光特性測定装置を用いて光源2の配光特性を測定する場合の処理手順について説明する。
次に、図16のステップS1およびS2に示すX軸およびY軸の移動方法について説明する。図17は、本実施の形態に従う配光特性測定装置におけるX軸およびY軸の移動方法を説明するための図である。移動方法の一例として、図17(a)は、X軸およびY軸の両方を同時に移動させる方式(両軸同時駆動方式)を示し、図17(b)は、X軸およびY軸の一方をそれぞれ移動させる方式(軸単独駆動方式)を示す。
次に、図16のステップS7に示すデータ格納処理の詳細について説明する。一例として、図12に示す光源移動型の配光特性測定装置を用いた場合の処理手順について説明する。光源移動型の配光特性測定装置では、ゴニオメータによってX軸および/またはY軸の位置を変更すると光源2が移動する。このとき、カメラ11,12,13に対する測定対象の光源2の撮像位置も変化する。
(h1:カメラ視野範囲内の測定点の選択処理および測定値の取得処理)
まず、図18のステップS701およびS710に示すカメラ視野範囲内の測定点の選択処理、ならびにステップS707に示す測定値の取得処理について説明する。図19は、図18におけるカメラ視野範囲内の測定点の選択処理および測定値の取得処理を説明するための図である。
次に、図18のステップS704に示す測定空間座標値の算出処理について説明する。図20は、図18における測定空間座標値の算出処理を説明するための図である。図20には、一例として、まず、初期位置AがX軸に沿って移動角度(X軸移動角度)φxだけ回転されてX軸移動後の位置Bへ移動し、さらに、Y軸に沿って移動角度(Y軸移動角度)φyだけ回転されてY軸移動後の位置Cへ移動した場合を考える。
yb=ya
zb=xa*sinφx−za*cosφx
続いて、図20(b)に示すように、さらにY軸移動後の位置Cの座標値(xc,yc,zc)について検討する。
R=yb/cosθ
また、位置Bと中心座標のY軸とのなす角度θは、以下のようになる。
これらの値を利用して、Y軸移動後の位置Cの座標値(xc,yc,zc)は、以下のように算出される。
yc=R*cos(φy+θ)
zc=R*sin(φy+θ)
X軸方向および/またはY軸方向のいずれの回転であっても、上述と同様の方法で順次算出できる。
次に、図18のステップS705に示す測定角度の算出処理について説明する。図21および図22は、図18における測定角度の算出処理を説明するための図である。より具体的には、図21は見込み角度の算出方法を示し、図22は移動角度から測定角度を算出する方法を示す。
θy=atan{(yv−pyc)/(zv−pzc)}
次に、図22に示すような手順に従って、測定点Vの移動角度から測定角度が算出される。例えば、測定点VがX軸に沿って移動角度(X軸移動角度)φxだけ回転したとする。このX軸に沿った回転によって、初期状態の測定点Vが測定点V’(xv’,yv,zv’)に移動したとする。移動後の測定点V’の空間座標は、回転移動量と測定座標との関係から算出される。測定点V’の見込み角度θx’は、以下の式で算出される。
そして、測定点V’についての測定角度は、移動角度φx−見込み角度θx’として算出できる。
次に、図18のステップS706に示す測定撮像座標値の算出処理について説明する。図23は、図18における測定撮像座標値の算出処理を説明するための図である。
θx=atan((pzc−zv)/xv)
θy=atan((pzc−zv)/yv)
カメラの撮像面(撮像空間座標)は、Z座標が0であるX−Y平面と仮定する。このとき、撮像面上の撮像座標値C(xc,yc,zc)は、撮像角度θxおよびθyから以下の式で算出される。
yc=pzc*tanθy
zc=0
カメラの2次元センサー(CCD)上の座標に対する座標は、以下の式で算出される。
py=yc*(ccd_y_num/height)
但し、ccd_x_numおよびccd_y_numは、それぞれCCDの横側画素数および縦側画素数を示し、widthおよびheightは、それぞれ撮像範囲の横幅および縦幅を示す。
次に、図18のステップS707に示す測定値の取得処理およびステップS708に示す測定値の格納処理について説明する。図24および図25は、図18における測定値の取得処理および格納処理を説明するための図である。
次に、図16のステップS10に示す照度算出処理の詳細について説明する。この照度算出処理においては、算出対象の位置に入射する光源からの光線(輝度)をその配光特性を考慮して合算することで、当該位置における照度を算出する。そのため、照度を算出する位置に入射する測定点を特定するとともに、各測定点の見込み角度を反映して、その輝度を合算する処理を実行する。
まず、図26のステップS1001に示す照度算出位置の決定処理について説明する。図27は、図26における照度算出位置の決定処理を説明するための図である。
次に、図26のステップS1003に示す照度算出位置に対する測定点の見込み角度の算出処理について説明する。図28は、図26における照度算出位置に対する測定点の見込み角度の算出処理を説明するための図である。
Θy=atan{(yg−yv)/(zg−zv)}
(i3:見込み角度の輝度の検索処理)
次に、図26のステップS1004に示す見込み角度の輝度の検索処理について説明する。図29は、図26における見込み角度の輝度の検索処理を説明するための図である。
次に、図26のステップS1005に示す測定点における輝度の算出処理について説明する。図30は、図26における測定点における輝度の算出処理を説明するための図である。
次に、図26のステップS1006に示す照度格納データへの光度の加算処理について説明する。図31は、図26における照度格納データへの光度の加算処理を説明するための図である。ある照度算出位置における照度は、当該照度算出位置に入射する光の強度(光度)の総和として算出できる。
なお、距離dについては、照度算出位置G(xg,yg,zg)と各測定点の座標値とに応じて順次算出される。
本実施の形態においては、所定の相対関係をもって配置された複数の検出器を用いて光源を測定する。上述した測定処理は、検出器毎に互いに独立して実行することができる。この場合、光源の同一の領域について評価した結果については、検出器の間で互いに干渉しないような調整処理が実行される。
上述したように、発光面が広い光源および/または複数の発光点を有する光源の配光特性を測定する際には、上述の図4(a)に示すように、平行に配置された複数のカメラ11,12が用いられる。この場合、カメラ11,12の撮像範囲は互いに重複しており、この重複している範囲の測定結果を適切に調整する必要がある。より具体的には、重複している検出範囲について対応する複数の検出器(カメラ)が算出したそれぞれの結果のうち1つの検出器が算出した結果のみを有効化する。
上述したように、光源から複数の情報(色度および波長情報など)を測定する際には、測定対象の情報に対応する複数のカメラを光源からの距離が同一となるように並べて設置する。各カメラは、複数の情報のうち割り当てられた1つの情報を測定する。このため、各カメラの前段には、測定対象の情報に応じた光学フィルターが装着される。
上述の図8を参照して説明したように、複数のデータ(色度および波長情報など)を測定するために複数のカメラ(カメラ群)を設置するとともに、同様のカメラ群をさらに設置してもよい。すなわち、図8に示すように、カメラ11,12,13に加えて、カメラ11#,12#,13#が光源2を撮像するように配置される。
本実施の形態に従う配光特性測定装置によれば、複数の検出器(カメラ)で光源を撮像できるので、光源の大きさに影響されることなく、空間分解能を維持しつつ、配光特性を測定できる。また、互いに離れた複数の発光点を有する光源に対しても、空間分解能を維持しつつ、配光特性を測定できる。さらに、複数の検出器を用いて同時に撮像(測定)を行なうので、測定全体に係る時間を短縮化できる。
Claims (8)
- 光源の配光特性を測定するための配光特性測定装置であって、
所定の相対関係をもって配置された複数の検出器を備え、1つの検出器の検出範囲の少なくとも一部は隣接する他の検出器の検出範囲と重複しており、さらに
前記複数の検出器を一体として駆動することで、前記複数の検出器の前記光源に対する位置関係を更新する駆動手段と、
前記複数の検出器が同一のタイミングで取得したそれぞれの検出結果に基づいて、前記複数の検出器の相対関係および検出範囲の重複の少なくとも一方に応じた処理を行ない、前記光源の配光特性を算出する算出手段とを備え、
前記複数の検出器は、各々の光軸方向が互いに平行になるとともに、各々の検出範囲の一部が他の検出器の検出範囲と重複するように、配置され、
前記算出手段は、重複している検出範囲に含まれる各測定点について、当該測定点について複数の検出器が算出したそれぞれの検出結果のうち1つの検出結果のみを有効化する、または、当該測定点について複数の検出器が算出したそれぞれの検出結果を平均化した結果を出力する、配光特性測定装置。 - 光源の配光特性を測定するための配光特性測定装置であって、
所定の相対関係をもって配置された複数の検出器を備え、1つの検出器の検出範囲の少なくとも一部は隣接する他の検出器の検出範囲と重複しており、さらに
前記複数の検出器を一体として駆動することで、前記複数の検出器の前記光源に対する位置関係を更新する駆動手段と、
前記複数の検出器が同一のタイミングで取得したそれぞれの検出結果に基づいて、前記複数の検出器の相対関係および検出範囲の重複の少なくとも一方に応じた処理を行ない、前記光源の配光特性を算出する算出手段とを備え、
前記複数の検出器は、各々の光軸方向が予め定められた基準点を向くとともに、それぞれの検出範囲が実質的に一致するように、配置され、
前記算出手段は、第1の検出器があるタイミングで取得した第1の検出結果を前記第1の検出器の位置情報に関連付けて格納するとともに、第2の検出器が当該タイミングで取得した第2の検出結果を、前記第1の検出器の位置情報を第1および第2の検出器の間の相対関係に応じて補正することで得られる位置情報に関連付けて格納する、配光特性測定装置。 - 前記算出手段は、検出器の検出範囲に含まれる複数の測定点の別に、配光特性を算出する、請求項1または2に記載の配光特性測定装置。
- 前記駆動手段は、前記光源と前記複数の検出器と間の位置関係を異なる2つの軸方向にそれぞれ独立に変更する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の配光特性測定装置。
- 光源の配光特性を測定するための配光特性測定方法であって、
複数の検出器を、所定の相対関係をもって配置するとともに、1つの検出器の検出範囲の少なくとも一部を隣接する他の検出器の検出範囲と重複させて配置するステップと、
前記複数の検出器を一体として駆動することで、前記複数の検出器の前記光源に対する位置関係を更新するステップと、
前記複数の検出器が同一のタイミングで取得したそれぞれの検出結果に基づいて、前記複数の検出器の相対関係および検出範囲の重複の少なくとも一方に応じた処理を行ない、前記光源の配光特性を算出するステップとを備え、
前記複数の検出器は、各々の光軸方向が互いに平行になるとともに、各々の検出範囲の一部が他の検出器の検出範囲と重複するように、配置され、
前記算出するステップは、重複している検出範囲に含まれる各測定点について、当該測定点について複数の検出器が算出したそれぞれの検出結果のうち1つの検出結果のみを有効化するステップ、または、当該測定点について複数の検出器が算出したそれぞれの検出結果を平均化した結果を出力するステップを含む、配光特性測定方法。 - 光源の配光特性を測定するための配光特性測定方法であって、
複数の検出器を、所定の相対関係をもって配置するとともに、1つの検出器の検出範囲の少なくとも一部を隣接する他の検出器の検出範囲と重複させて配置するステップと、
前記複数の検出器を一体として駆動することで、前記複数の検出器の前記光源に対する位置関係を更新するステップと、
前記複数の検出器が同一のタイミングで取得したそれぞれの検出結果に基づいて、前記複数の検出器の相対関係および検出範囲の重複の少なくとも一方に応じた処理を行ない、前記光源の配光特性を算出するステップとを備え、
前記複数の検出器は、各々の光軸方向が予め定められた基準点を向くとともに、それぞれの検出範囲が実質的に一致するように、配置され、
前記算出するステップは、第1の検出器があるタイミングで取得した第1の検出結果を前記第1の検出器の位置情報に関連付けて格納するとともに、第2の検出器が当該タイミングで取得した第2の検出結果を、前記第1の検出器の位置情報を第1および第2の検出器の間の相対関係に応じて補正することで得られる位置情報に関連付けて格納するステップを含む、配光特性測定方法。 - 前記算出するステップは、検出器の検出範囲に含まれる複数の測定点の別に、配光特性を算出するステップを含む、請求項5または6に記載の配光特性測定方法。
- 前記位置関係を更新するステップは、前記光源と前記複数の検出器と間の位置関係を異なる2つの軸方向にそれぞれ独立に変更するステップを含む、請求項5〜7のいずれか1項に記載の配光特性測定方法。
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JP2010266421A (ja) * | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Watanabe Denki Kogyo Kk | 車両用ヘッドライトの照射光測定方法とその装置 |
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