JP2016151437A - 配光特性測定装置および配光特性測定方法 - Google Patents

配光特性測定装置および配光特性測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2016151437A
JP2016151437A JP2015027747A JP2015027747A JP2016151437A JP 2016151437 A JP2016151437 A JP 2016151437A JP 2015027747 A JP2015027747 A JP 2015027747A JP 2015027747 A JP2015027747 A JP 2015027747A JP 2016151437 A JP2016151437 A JP 2016151437A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
imaging
image data
light distribution
image
distribution characteristic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015027747A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6717564B2 (ja
Inventor
世志 江南
Tsuguyuki Enami
世志 江南
吉彦 西田
Yoshihiko Nishida
吉彦 西田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Otsuka Electronics Co Ltd
Original Assignee
Otsuka Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Otsuka Electronics Co Ltd filed Critical Otsuka Electronics Co Ltd
Priority to JP2015027747A priority Critical patent/JP6717564B2/ja
Priority to KR1020160012319A priority patent/KR102257506B1/ko
Priority to DE102016201833.7A priority patent/DE102016201833A1/de
Priority to US15/041,320 priority patent/US10127472B2/en
Priority to CN201610086088.2A priority patent/CN105890746B/zh
Priority to TW105104236A priority patent/TWI687660B/zh
Publication of JP2016151437A publication Critical patent/JP2016151437A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6717564B2 publication Critical patent/JP6717564B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0228Control of working procedures; Failure detection; Spectral bandwidth calculation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0242Control or determination of height or angle information of sensors or receivers; Goniophotometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/10Image acquisition
    • G06V10/12Details of acquisition arrangements; Constructional details thereof
    • G06V10/14Optical characteristics of the device performing the acquisition or on the illumination arrangements
    • G06V10/145Illumination specially adapted for pattern recognition, e.g. using gratings
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/40Extraction of image or video features
    • G06V10/60Extraction of image or video features relating to illumination properties, e.g. using a reflectance or lighting model
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J2001/4247Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4446Type of detector
    • G01J2001/448Array [CCD]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10016Video; Image sequence
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10141Special mode during image acquisition
    • G06T2207/10144Varying exposure

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Geometry (AREA)

Abstract

【課題】指向性の強い光源であっても、より高い精度で配光特性を測定可能な配光特性測定装置およびそれに向けられた配光特性測定方法を提供する。
【解決手段】配光特性測定装置は、光源に対して所定距離だけ離して配置された撮像部と、光源と撮像部との間の距離を維持したまま、光源に対する撮像部の位置関係を連続的に変化させる移動機構と、光源の配光特性を算出する処理手段とを含む。処理手段は、第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するとともに、第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する。
【選択図】図8

Description

本発明は、光源の配光特性を測定するための配光特性測定装置および配光特性測定方法に関する。
光源から照射される光の特性の一つとして、配光特性が知られている。配光特性は、光源による光度(あるいは、輝度)の空間分布を意味する。配光特性としては、絶対値配光および相対値配光のいずれもが使用される。絶対値配光は、光度の絶対値の空間分布を測定したものであり、光源が発生する全光束を求めるような場合などに利用される。一方、相対値配光は、光度の相対値の空間分布を測定したものであり、配光パターンを求めるような場合などに利用される。一般的に、複雑な配光パターンを有する光源や、その特性が未知の光源について、その配光特性を測定することは、容易ではない。
このような配光測定に関して、特開2013−217651号公報(特許文献1)は、装置構成を大きくすることなく、光源の配光特性を効率的に測定できる配光特性測定装置を開示する。
特開2013−217651号公報
上述の特許文献1に開示される配光特性測定装置を用いて、光源の表面輝度を測定する場合には、測定対象となる光源の発光部分(明るい部分)の面積が相対的に大きく、かつ、発光部分の輝度を測定すれば、所望の精度で配光特性を測定できる。
例えば、自動車のヘッドライトなどのように、指向性の強い光源を測定する場合には、発光部分(明るい部分)と非発光部分(暗い部分)との間の輝度の差が大きいので、非発光部分の輝度を安定して測定することは容易ではない。
本発明の目的は、指向性の強い光源であっても、より高い精度で配光特性を測定可能な配光特性測定装置およびそれに向けられた配光特性測定方法を提供することである。
本発明のある局面に従えば、光源の配光特性を測定するための配光特性測定装置が提供される。配光特性測定装置は、光源に対して所定距離だけ離して配置された撮像部と、光源と撮像部との間の距離を維持したまま、光源に対する撮像部の位置関係を連続的に変化させる移動機構と、撮像部により撮像された複数の画像データと、複数の画像データがそれぞれ撮像されたときの光源に対する撮像部の相対位置とに基づいて、光源の配光特性を算出する処理手段とを含む。処理手段は、第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するとともに、第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する。
好ましくは、第2の撮像条件における撮像は、第1の撮像条件における撮像に比較して、撮像感度が高く、処理手段は、第2の画像情報が画素値の飽和を示している場合には、第1の画像情報を優先的に使用し、それ以外の場合には、第2の画像情報を優先的に使用する。
好ましくは、処理手段は、第1の撮像条件と第2の撮像条件との間の撮像感度の差に応じて、第1の画像情報および第2の画像情報のいずれかのレベルを調整する。
好ましくは、処理手段は、第1の画像情報および第2の画像情報を平均化して、注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する。
好ましくは、処理手段は、注目相対位置とは異なる位置で撮像された複数の画像データから、注目相対位置に対応する画像情報を算出する。
本発明の別の局面に従えば、光源の配光特性を測定するための配光特性測定方法が提供される。配光特性測定方法は、光源と撮像部との間の距離を維持したまま、光源に対する撮像部の位置関係を連続的に変化させるステップと、撮像部により撮像された複数の画像データと、複数の画像データがそれぞれ撮像されたときの光源に対する撮像部の相対位置とに基づいて、光源の配光特性を算出するステップとを含む。光源の配光特性を算出するステップは、第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するステップと、第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定するステップとを含む。
本発明によれば、指向性の強い光源であっても、より高い精度で配光特性を測定できる。
本実施の形態に従う配光特性測定方法の基本的な測定方法を説明するための図である。 本実施の形態に従う配光特性測定方法におけるカメラの移動方法を説明するための図である。 本実施の形態に従う配光特性測定方法の概要を説明するための図である。 本実施の形態に従う配光特性測定装置の外観構成を示す模式図である。 本実施の形態に従う配光特性測定装置におけるカメラの回転駆動に係る構成を示す模式図である。 図4に示す情報処理装置の内部構成を示す模式図である。 本実施の形態に従う配光特性測定方法の処理手順を示すフローチャートである。 本実施の形態に従う配光特性測定方法による補正処理の内容を示す模式図である。 図7のステップS23に示す照度算出処理の処理手順を示すフローチャートである。 図9の輝度配光データの格納処理(ステップS2301)での処理を説明するための図である。 図9の輝度配光データの格納処理(ステップS2301)での処理を説明するための図である。 図9の照度算出点の決定処理(ステップS2302)を説明するための図である。 図9の照度算出点に対する見込み角度の算出処理(ステップS2304)を説明するための図である。 図9の見込み角度に関連する輝度を検索する処理(ステップS2305)を説明するための図である。 本実施の形態に従う配光特性測定方法によって得られた照度分布を画像化した結果を示す図である。 図15に示す画像化された照度分布のA−A’断面における照度を示す図である。 本実施の形態の変形例に従う配光特性測定方法の概要を説明するための図である。 本実施の形態の変形例に従う配光特性測定方法の測定動作の一例を示す図である。
本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中の同一または相当部分については、同一符号を付してその説明は繰り返さない。
本実施の形態においては、主として、光源(以下、単に「サンプル」とも称す。)の配光特性(典型的には、配光輝度特性)を測定するための配光特性測定装置について例示する。但し、本実施の形態に従う配光特性測定装置は、単なる配光特性に限られず、配光特性から算出される、光源の色度および波長情報、ならびに光源から照射される光束によって生じる照度分布などの各種光学特性を測定することもできる。
<A.配光特性測定方法の概要>
まず、本実施の形態に従う配光特性測定方法の概要について説明する。図1は、本実施の形態に従う配光特性測定方法の基本的な測定方法を説明するための図である。図1に示すように、本実施の形態に従う配光特性測定方法では、所定の撮像視野を有するカメラ10(一種の2次元センサー)を用いて、所定の立体角の範囲に亘ってサンプル2を測定することで、サンプル2の発光面についての配光特性を取得する。取得される配光特性は、典型的には、配光輝度特性を意味し、サンプル2の発光面の各点(以下、「測定点」とも称す。)における各照射角度(以下、「測定角度」とも称す。)についての輝度の情報を含む。
図1(a)に示すように、カメラ10の光軸方向がサンプル2の発光面と垂直になっている状態を、以下では「初期状態」とも称す。便宜上、カメラ10で撮像される画像に対して、左右方向をY軸とし、上下方向をY軸と定義する。初期状態では、X軸角度=0°、Y軸角度=0°である。典型的には、X軸およびY軸のそれぞれに関して±180°の範囲でカメラ10を移動させつつ、カメラ10でサンプル2を撮像することで、サンプル2の発光面についての配光特性を取得する。
図1(a)に示す状態では、カメラ10には、主として、サンプル2の発光面の垂直方向に照射される光束(全光束の一部)が入射し、図1(b)に示す状態では、サンプル2の発光面からカメラ10が位置する方向に照射される光束(全光束の一部)が入射する。図1(b)に示すように、カメラ10がY軸上を角度θyだけ移動した場合、これらのなす角度は、初期状態(X軸角度=0°、Y軸角度=0°)にY軸上の角度θyを加算した角度となる。すなわち、図1(b)に示す例では、測定角度がX軸角度=0°Y軸角度=θyである測定点の輝度を測定できる。
以下同様に、サンプル2に対するカメラ10の角度(立体角)を順次変化させて、サンプル2を順次撮像することで、各測定点の配光特性を取得できる。
図2は、本実施の形態に従う配光特性測定方法におけるカメラ10の移動方法を説明するための図である。移動方法の一例として、図2(a)は、X軸およびY軸の両方を同時に移動させる方式(両軸同時駆動方式)を示し、図2(b)は、X軸およびY軸の一方をそれぞれ移動させる方式(軸単独駆動方式)を示す。
図2に示すように、カメラ10を移動させるとともに、周期的または非周期的にサンプル2を含む視野範囲を順次撮像することで、必要な画像データを取得する。この画像データを取得するカメラ10の位置を、以下「撮像ポイント」とも称す。
図2(a)に示す両軸同時駆動方式では、Y軸方向に停止しないので、停止時にカメラが揺れるといった状態を回避できるという利点があり、かつ測定全体に要する時間を短縮化できるという利点もある。但し、撮像点のY軸における角度間隔が一定ではないので、角度間隔が一定ではないことによる誤差が発生しないように前処理が必要になる。
図2(b)に示す軸単独駆動方式は、Y軸方向の移動が停止する際に、カメラに揺れが発生するので、この揺れによる誤差影響を受けないように対策を施す必要があるが、Y軸上の撮像間隔を一定にできるため、演算処理を簡素化できる。
本実施の形態に従う配光特性測定方法は、指向性の強い光源であっても、より高い精度で配光特性を測定するものである。すなわち、配光特性測定方法は、例えば、自動車のヘッドライトなどのように、指向性の強い光源について、発光部分(明るい部分)および非発光部分(暗い部分)の両方についての輝度を適切に測定するための処理を採用する。より具体的には、同一のサンプル2を異なる撮像条件でそれぞれ撮像するとともに、撮像によって得られたそれぞれの画像データを用いて、サンプル2についてより多くの輝度情報を取得する。撮像条件を異ならせることで、撮像可能な輝度範囲(ダイナミックレンジ)を拡大することができ、それによって、画像データ内のS/N(Signal to Noise)比を向上させることができる。すなわちS/N比を向上させることで、発光部分(明るい部分)および非発光部分(暗い部分)の両方について、輝度をより正確に測定できる。
撮像条件としては、典型的には、カメラ10の撮像感度を含む。撮像感度は、露光時間、カメラ10の絞り値、ゲイン、減光フィルターの有無・種類などによって適宜調整することができる。
図3は、本実施の形態に従う配光特性測定方法の概要を説明するための図である。図3に示す例では、説明の便宜上、撮像条件1および撮像条件2のそれぞれについて、カメラ10を同一の経路で移動させて、同一の撮像ポイントで撮像を行なった場合の例を示す。すなわち、撮像ポイント1において、撮像条件1でサンプル2を撮像して画像データ11_1を取得するとともに、撮像条件2でサンプル2を撮像して画像データ12_1を取得したとする。同様に、撮像ポイント2において、撮像条件1および撮像条件2でサンプル2をそれぞれ撮像して画像データ11_2および画像データ12_2を取得し、撮像ポイント3において、撮像条件1および撮像条件2でサンプル2をそれぞれ撮像して画像データ11_3および画像データ12_3を取得したとする。
例えば、撮像条件1は、撮像条件2に比較して、輝度の測定可能範囲が相対的に高い、すなわち撮像感度が低いものとする。そのため、概略すると、撮像条件1は、サンプル2(光源)の発光部分(明るい部分)の測定に適しており、撮像条件2は、サンプル2の非発光部分(暗い部分)の測定に適している。
図3に示すように、撮像条件2において取得された画像データ12_1のうち、その画素値が飽和していない領域15_1の画像情報を用いて、撮像条件1において取得された画像データ11_1の対応する領域14_1を補正する。同様の処理を、画像データ11_2(領域14_2)と画像データ12_2(領域15_2)との間、および、画像データ11_3(領域14_3)と画像データ12_3(領域15_3)との間で行なう。このような補正処理を用いることで、サンプル2の発光部分(明るい部分)および非発光部分(暗い部分)の輝度をより高い精度で測定することができる。
上述の補正処理において、撮像条件1と撮像条件2との間で撮像感度が異なっており、同一の画素値が示す輝度の大きさは同一ではない。そのため、画像データ間で補正処理を行なう場合には、撮像感度の相違を補正するための換算処理を経た上で、一方の画像データ上の画素値を他方の画像データの対応する画素値に割り当てることになる。補正処理の詳細については、後述する。
図3には、2つの撮像条件下でサンプル2を撮像する場合の例を示すが、これに限らず、より多くの撮像条件下でより多くの回数に亘ってサンプル2を撮像してもよい。また、図3には、それぞれの撮像条件の間で撮像ポイントを互いに同一に設定する例を示すが、必ずしも同一にする必要はない。それぞれの撮像条件において、撮像ポイントを互いに異ならせる処理例については、後述する。
<B.配光特性測定装置の構成>
次に、本実施の形態に従う配光特性測定装置の構成について説明する。本実施の形態に従う配光特性測定装置は、サンプル2に対して所定距離だけ離して配置されたカメラ10(撮像部)と、サンプル2とカメラ10との間の距離を維持したまま、サンプル2に対するカメラ10の位置関係(相対関係)を連続的に変化させる移動機構とを有する。移動機構は、サンプル2とカメラ10と間の相対関係を異なる2つの軸方向(以下の例では、X軸方向およびY軸方向)にそれぞれ独立に変更可能になっている。
カメラ10とサンプル2との間の相対関係を変化させる構成としては、典型的には、サンプル2を固定しておきカメラ10を回転移動させる撮像部移動型と、カメラ10を固定しておきサンプル2を回転移動させる光源移動型とが存在する。以下では、撮像部移動型を一例としてその構成などを説明する。但し、本発明は、光源移動型の構成を用いて実現してもよい。
図4は、本実施の形態に従う配光特性測定装置1の外観構成を示す模式図である。図4を参照して、配光特性測定装置1は、サンプル2を中心としてカメラ10を回転移動させるゴニオメータ200(移動機構)と、ゴニオメータ200によるカメラ10の回転移動を制御するとともに、カメラ10で撮像された画像データを処理する情報処理装置100とを含む。
ゴニオメータ200は、ベース30と、カメラ10と、カメラ10を支持する撮像部支持アーム33と、撮像部支持アーム33を回転するY軸モータ36と、その一端がY軸モータ36に接続されるとともに、X軸モータ35によって回転されるX軸回転アーム32と、ベース30に配置されるX軸モータ35とを含む。X軸モータ35の回転軸とY軸モータ36の回転軸との交点にカメラ10が配置される。X軸モータ35の回転およびY軸モータ36の回転駆動によって、カメラ10はX軸およびY軸を中心に自在回転する。サンプル2の位置は、X軸とY軸との交点に維持される。これによって、サンプル2とカメラ10との間の相対関係が自在に変更される。
カメラ10は、典型的には、CCD(Charged Couple Device)イメージセンサーや、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサーといった2次元センサーを有している。
図5は、本実施の形態に従う配光特性測定装置1におけるカメラの回転駆動に係る構成を示す模式図である。図5を参照して、本実施の形態に従う配光特性測定装置1は、図4に示すコンポーネントに加えて、トリガー装置110をさらに含む。
トリガー装置110は、ゴニオメータ200によるサンプル2とカメラ10との間の相対関係の変化に連動して、カメラ10の撮像タイミング(図2に示す撮像ポイント)を管理する。トリガー装置110の機能については、情報処理装置100によって実現してもよいが、撮像タイミング(撮像ポイント)をより正確に制御する観点から、専用のハードウェア回路を含むトリガー装置110を情報処理装置100とは別に配置することが好ましい。
情報処理装置100は、X軸モータ35およびY軸モータ36に対して、それぞれ駆動用コマンドを送出する。この駆動用コマンドは、X軸モータおよびY軸モータの移動速度および/または目標位置などを含む。本実施の形態においては、サンプル2を中心とする全球面/半球面に亘って測定を行なう必要があるので、駆動用コマンドとしては、Y軸に沿った一連の移動が完了するまで、X軸に沿った往復運動を繰り返すための命令を含む。情報処理装置100は、送信開始タイミングで駆動用コマンドを送出し、駆動用コマンドを受けたX軸モータおよびY軸モータ(および、X軸モータおよびY軸モータを駆動するモータドライバ)はそれぞれ移動を開始する。X軸モータおよびY軸モータは、それぞれ回転量を示すモータ駆動パルスをトリガー装置110へ出力する。
トリガー装置110は、受信したモータ駆動パルスを所定数で分周してX軸およびY軸における現在位置(角度)を算出するとともに、予め定められた測定点に対応する角度間隔で、撮像を指示するトリガーパルスをカメラ10へ出力する。
カメラ10は、トリガー装置110からトリガーパルスを受信すると、撮像を行ない、その撮像によって取得された画像データを情報処理装置100へ出力する。カメラ10は、トリガー装置110からトリガーパルスを受信するたびに、撮像および画像データの送信を繰り返す。情報処理装置100は、画像データの撮像順序に基づいて、各撮像における撮像ポイント(立体角など)を特定する。情報処理装置100は、カメラ10により撮像された複数の画像データと、それらの複数の画像データがそれぞれ撮像されたときのサンプル2に対するカメラ10の相対位置とに基づいて、サンプル2の配光特性を算出する。このサンプル2の配光特性の算出処理については、後述する。
図6は、図4に示す情報処理装置100の内部構成を示す模式図である。図6を参照して、情報処理装置100は、典型的には、汎用のパーソナルコンピュータで構成される。より具体的には、図6を参照して、情報処理装置100は、CPU(Central)101と、主メモリ102と、HDD(Hard Disk Drive)103と、通信インターフェイス(I/F)104と、表示部105と、入力部106とを含む。これらのコンポーネントは、バス107を介して互いに通信可能に接続されている。
CPU101は、HDD103などの格納されている配光特性測定プログラム108を実行することで、本実施の形態に従う機能を実現するための演算処理部である。主メモリ102は、CPU101によるプログラムの実行に必要なワーキングエリアを提供する。このワーキングエリアには、プログラムに実行に必要な一時データやカメラ10の撮像によって取得された画像データなどが格納される。HDD103は、CPU101で実行される配光特性測定プログラム108や処理の実行に必要なパラメータなどを不揮発的に記憶する。
HDD103にはCPU101で実行される配光特性測定プログラム108が予めインストールされる。配光特性測定プログラム108のインストールは、各種の方法を採用できる。例えば、CD−ROM(Compact Disk Read Only Memory)やDVD(Digital Versatile Disk)といった各種の記録媒体に格納されたプログラムを対応する装置で読み出してHDD103へ格納する方法、あるいはネットワークを介してプログラムをダウンロードする方法などを採用できる。
通信インターフェイス104は、他の装置とデータを遣り取りする。具体的には、通信インターフェイス104は、X軸モータ35およびY軸モータ36に対して駆動用コマンドをそれぞれ出力するとともに、カメラ10が撮像して得られた画像データを受信する。
表示部105は、撮像された画像データや測定結果を表示する。具体的には、表示部105は、LCD(Liquid Crystal Display)などから構成される。入力部106は、測定者からの操作を受付ける。具体的には、入力部106は、マウスやキーボードなどから構成される。情報処理装置100には、必要に応じて、プリンタなどの他の出力装置が接続されてもよい。
本実施の形態に従う各種機能については、CPU101がプログラムを実行することで提供される形態に代えて、その全部または一部を専用のプロセッサまたはIC(集積回路)などを用いて実現するようにしてもよい。あるいは、専用のLSI(Large Scale Integration)を用いて実現してもよい。
<C.配光特性測定方法の処理手順>
次に、本実施の形態に従う配光特性測定方法の処理手順について説明する。図7は、本実施の形態に従う配光特性測定方法の処理手順を示すフローチャートである。図7に示す各ステップは、主として、情報処理装置100のCPU101およびトリガー装置110によって実行される。事前準備として、測定者は、対象となるサンプル2の発光部分(明るい部分)に応じて、カメラ10の絞り値、ゲイン、減光フィルターの有無・種類といった撮像感度(すなわち、撮像条件)を適宜調整する。図7に示す処理手順の開始時点における撮像条件を、便宜上「撮像条件1」と称す。
図7を参照して、測定開始が指示されると、情報処理装置100のCPU101は、X軸モータ35およびY軸モータ36のそれぞれへ駆動用コマンドを出力し、カメラ10の回転移動を開始する(ステップS1)。ステップS1において、CPU101は、カメラ10が図2に示すような軌道に沿って移動するように、駆動用コマンドを生成および出力する。すなわち、CPU101は、サンプル2とカメラ10との間の距離を維持したまま、サンプル2に対するカメラ10の位置関係を連続的に変化させる。
続いて、トリガー装置110は、カメラ10が予め定められた撮像ポイントに到達したか否かを判断する(ステップS2)。より具体的には、トリガー装置110は、X軸モータ35からのモータ駆動パルスおよびY軸モータ36からのモータ駆動パルスをそれぞれカウントし、それぞれのカウント値が撮像ポイントを示す条件に合致するか否かを判断する。カメラ10が予め定められた撮像ポイントに到達していなければ(ステップS2においてNO)、ステップS2以下の処理が繰り返される。
カメラ10が予め定められた撮像ポイントに到達していれば(ステップS2においてYES)、トリガー装置110は、カメラ10へトリガーパルスを出力する(ステップS3)。カメラ10は、トリガーパルスの受信に応答して撮像を行ない(ステップS4)、撮像によって取得された画像データを情報処理装置100へ送信する(ステップS5)。
続いて、トリガー装置110は、カメラ10が到達した撮像ポイントが最後の撮像ポイントであるか否かを判断する(ステップS6)。より具体的には、トリガー装置110は、X軸モータ35からのモータ駆動パルスおよびY軸モータ36からのモータ駆動パルスをそれぞれカウントし、それぞれのカウント値が最後の撮像ポイントを示す条件に合致するか否かを判断する。カメラ10が到達した撮像ポイントが最後の撮像ポイントでなければ(ステップS6においてNO)、ステップS2以下の処理が繰り返される。
カメラ10が到達した撮像ポイントが最後の撮像ポイントであれば(ステップS6においてYES)、情報処理装置100のCPU101は、X軸モータ35およびY軸モータ36のそれぞれへ駆動用コマンドを出力し、カメラ10を初期位置に戻す(ステップS7)。そして、カメラ10の回転移動は、一旦停止する。この時点で、撮像条件1の下で、各撮像ポイントにおいて取得された画像データ群が情報処理装置100に格納される。撮像条件1において取得された画像データ群を、便宜上「第1の画像データ群」と称す。
ここで、測定者は、カメラ10の撮像感度が高まるように、カメラ10の絞り値、ゲイン、減光フィルターの有無・種類といった撮像感度(すなわち、撮像条件)を適宜調整する(ステップS8)。調整後の撮像条件を、便宜上「撮像条件2」と称す。測定者が測定再開を指示すると、以下のステップS9〜S15が実行される。ステップS9〜S15の処理は、ステップS1〜S7と同様である。
すなわち、測定再開が指示されると、情報処理装置100のCPU101は、X軸モータ35およびY軸モータ36のそれぞれへ駆動用コマンドを出力し、カメラ10の回転移動を開始する(ステップS9)。続いて、トリガー装置110は、カメラ10が予め定められた撮像ポイントに到達したか否かを判断する(ステップS10)。カメラ10が予め定められた撮像ポイントに到達していなければ(ステップS10においてNO)、ステップS10以下の処理が繰り返される。
カメラ10が予め定められた撮像ポイントに到達していれば(ステップS10においてYES)、トリガー装置110は、カメラ10へトリガーパルスを出力する(ステップS11)。カメラ10は、トリガーパルスの受信に応答して撮像を行ない(ステップS12)、撮像によって取得された画像データを情報処理装置100へ送信する(ステップS13)。
続いて、トリガー装置110は、カメラ10が到達した撮像ポイントが最後の撮像ポイントであるか否かを判断する(ステップS14)。カメラ10が到達した撮像ポイントが最後の撮像ポイントでなければ(ステップS14においてNO)、ステップS10以下の処理が繰り返される。
カメラ10が到達した撮像ポイントが最後の撮像ポイントであれば(ステップS14においてYES)、情報処理装置100のCPU101は、X軸モータ35およびY軸モータ36のそれぞれへ駆動用コマンドを出力し、カメラ10を初期位置に戻す(ステップS15)。そして、カメラ10の回転移動は、停止する。この時点で、撮像条件2の下で、各撮像ポイントにおいて取得された画像データ群が情報処理装置100に格納される。撮像条件2において取得された画像データ群を、便宜上「第2の画像データ群」と称す。
以上のような手順によって、第1および第2の画像データ群が取得されると、情報処理装置100は、これらの画像データ群を用いて補正処理を実行する。すなわち、情報処理装置100は、第1の撮像条件において撮像された複数の画像データ(第1の画像データ群)と、第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データ(第2の画像データ群)とを取得するとともに、第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる各撮像ポイント(注目相対位置)に対応する画素値(第1の画像情報)と、第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる各撮像ポイント(注目相対位置)に対応する画素値(第2の画像情報)とから、各撮像ポイント(注目相対位置)に対応する補正後の画像情報を決定する。
補正処理としては、各種の方法を採用し得るが、本実施の形態においては、第1の画像データ群の各画像データを基準データに設定するとともに、第2の画像データ群の対応する画像データの情報を用いて、この基準データを補正するという方法を採用する。
より具体的には、情報処理装置100のCPU101は、第1の画像データ群のうちから対象となる画像データを選択して基準データに設定するとともに、第2の画像データ群のうち対応する(すなわち、同一の撮像ポイントにおいて異なる撮像条件で撮像された画像データ)画像データを補正データとして設定する(ステップS16)。すなわち、第1の画像データ群および第2の画像データ群から、同一の撮像ポイントにおいて撮像された一対の画像データが選択される。
続いて、CPU101は、補正データを構成する画素の画素値を順次読み出して(ステップS17)、その画素値が上限値に到達しているか否かを判断する(ステップS18)。すなわち、CPU101は、画素値が飽和しているか否かを判断する。その画素値が上限値に到達していなければ(ステップS18においてNO)、当該画素値に感度差に応じた係数を乗じた値(係数補正後の画素値)を、基準データの対応する位置にある画素の画素値として設定する(ステップS19)。すなわち、補正データ内の上限値に到達していない画素値を用いて、基準データの対応する位置にある画素の画素値を更新する。
その画素値が上限値に到達していれば(ステップS18においてYES)、ステップS19の処理はスキップされる。
続いて、対象となっている補正データを構成するすべての画素の画素値が読み出されたか否かが判断される(ステップS20)。対象となっている補正データを構成する画素のうちその画素値が読み出されていないものがあれば(ステップS20においてNO)、ステップS17以下の処理が繰り返される。
対象となっている補正データを構成するすべての画素の画素値が読み出されていれば(ステップS20においてYES)、対象となっている一対の画像データに対する補正処理が完了したことを意味する。この場合には、CPU101は、取得された第1の画像データ群に含まれる画像データのすべてに対して補正処理が完了したか否かを判断する(ステップS21)。
取得された第1の画像データ群に含まれる画像データのうち補正処理が完了していないものがあれば(ステップS21においてNO)、CPU101は、第1の画像データ群のうちから対象となる画像データを選択して新たな基準データに設定するとともに、第2の画像データ群のうち対応する画像データを補正データとして設定する(ステップS22)。そして、ステップS17以下の処理が繰り返される。
取得された第1の画像データ群に含まれる画像データのすべてに対して補正処理が完了していれば(ステップS21においてYES)、CPU101は、照度算出処理を実行する(ステップS23)。照度算出処理による処理結果が出力されると、処理は終了する。
上述のステップS17〜S19の処理を式で表わすと、以下のようになる。すなわち、第1の画像データ群から選択された基準データの画素値をP1(x,y)とし、第2の画像データ群から選択された補正データの画素値をP2(x,y)とする。まず、(1)式に示すように、補正データ内のある座標(x,y)における画素値が上限値UL(画素階調の上限値(例えば、255))に到達しているか否かが判断される。
画素値P2(x,y)≧上限値UL …(1)
もし、(1)式が成立していなければ、すなわち補正データの画素値が飽和していなければ、座標(x,y)における基準データの画素値は、(2)式に示すように、補正データ内の対応する座標(x,y)における画素値に感度差に応じた係数αを乗じた値に置き換えられる。
画素値P1(x,y)←α×画素値P2(x,y) …(2)
(1)式が成立していれば、すなわち補正データの画素値が飽和していれば、画素値の置き換えは行われない。(1)式および(2)式に示される処理が、補正データを構成する全画素について実行されることで、画素値の飽和のない画像データを取得できる。
図8は、本実施の形態に従う配光特性測定方法による補正処理の内容を示す模式図である。図8を参照して、第1の画像データ群と第2の画像データ群とを用いて、対応付けられる一対の画像データ同士で、画素値が補正される。但し、第2の画像データのうち、飽和している部分については、補正には用いられない。
以上のように、本実施の形態に従う配光特性測定方法では、第1回目の測定において撮像した画像データ群を基本とし、より撮像感度を高めた2回目の測定において撮像した画像データ群から、有効な情報を有している画素値(飽和していない部分)を順次抽出し、それらを基本の画像データに埋込む。すなわち、第2の撮像条件における撮像は、第1の撮像条件における撮像に比較して、撮像感度が高くなるように設定される。そして、情報処理装置100は、第2の画像データ群から選択された画像データ内の注目している領域の情報(第2の画像情報)が画素値の飽和を示している場合には、第1の画像データ群から選択された画像データ内の注目している領域の情報(第1の画像情報)を優先的に使用し、それ以外の場合には、第2の画像情報を優先的に使用する。
画素値を埋込む際には、撮像感度を高めたことにある増分を基本の画像データの撮像条件に適合するように規格化する。すなわち、情報処理装置100は、第1の撮像条件と第2の撮像条件との間の撮像感度の差に応じて、第1の画像データ群から選択された画像データ内の注目している領域の情報(第1の画像情報)および第2の画像データ群から選択された画像データ内の注目している領域の情報(第2の画像情報)のいずれかのレベルを調整する。上述の例では、1回目の測定において撮像した画像データ群(第1の画像データ群)を基本としたので、この第1の画像データ群の画素値に適合するように、第2の画像データ群のレベルを補正したが、その逆に、第1の画像データ群のレベルを補正してもよい。
特に、CCDイメージセンサーをカメラ10に採用した場合には、ある画素位置において飽和が生じると、その隣接する画素にも影響を与えるブルーミングと呼ばれる現象が生じるので、このようなブルーミングの影響を受けている領域の画素値については、基本の画像データには埋め込まないようにすることが好ましい。
以上のような処理を全画素について繰り返すことで、最終的にS/N比を向上させた画像データを取得できる。このようなS/N比を向上させた画像データ(輝度画像)を用いて、照度や光度を算出する。すなわち、本実施の形態に従う配光特性測定方法では、撮像条件を異ならせて複数の測定を行なうことで、輝度の大きく異なる光源であっても、その輝度(光の状態)を高感度で測定することができ、これによって、暗部の照度についても安定した精度で測定することができる。
なお、上述の処理手順においては、撮像感度の低い条件で取得された画像データを基準データとしたが、撮像感度の高い条件で取得された画像データを基準データとして同様の処理を実行してもよい。
また、上述の処理手順においては、基準データのある画素の画素値を、補正データの対応する位置にある画素の画素値で置き換えるという処理について説明したが、基準データおよび補正データの対応するそれぞれの画素が有する画素値から算出される値を新たな画素値としてもよい。
<D.照度算出処理の概要>
次に、照度算出処理(図7のステップS23)について説明する。図9は、図7のステップS23に示す照度算出処理の処理手順を示すフローチャートである。図9に示す各ステップは、主として、情報処理装置100のCPU101によって実行される。
図9を参照して、情報処理装置100のCPU101は、補正後の基準データ(第1の画像データ群)から対応する撮像ポイントについての輝度分布を算出して、輝度配光データとして格納する(ステップS2301)。
図10および図11は、図9の輝度配光データの格納処理(ステップS2301)での処理を説明するための図である。図10(a)に示すように、補正後の1または複数の基準データから、各測定点Vn(xv,yv,zv)について、測定角度毎の輝度が取得される。各測定点Vnは、カメラ10で撮像される画像データ(2次元センサー上の画素値の集合)内の座標として特定される。測定点Vnを含む1または複数のピクセルの画素値を用いて、測定角度毎の輝度が算出される。好ましくは、測定点Vnを基準として設定される予め定められたエリア内における撮像画像の明るさの累積平均値が用いられる。また、カメラ10の位置(カメラ位置Camera(pxc,pyc,pzc))と各測定点Vn(xv,yv,zv)との位置関係(相対位置)から測定角度が決定される。
最終的に、各測定点Vn(xv,yv,zv)について、測定角度毎の輝度B(Vn,X1,Y1),B(Vn,X2,Y2),B(Vn,X3,Y3),…が算出される。
例えば、図11に示すような配列構造を利用して、測定角度に関連付けられたそれぞれの輝度が格納される。この配列構造に格納されるそれぞれの輝度が輝度配光データの要素となる。サンプル2が有する配光特性に応じて、輝度の大きさは測定角度毎に異なり得る。図11に示す配列構造に限らず、任意のデータ格納方法を採用してもよい。
再度図9を参照して、CPU101は、照度算出点の決定処理を実行する(ステップS2302)。この照度算出点の決定処理において、CPU101は、照度を算出すべき領域を任意に設定し、その設定した領域に含まれる1つの点を照度算出点として決定し、その空間座標を取得する。
図12は、図9の照度算出点の決定処理(ステップS2302)を説明するための図である。照度算出点は、どのような座標系を用いて定義してもよいが、例えば、XY座標系、αβ座標系、φθ座標系などを用いることができる。図12には、XY座標系で照度を算出すべき領域を定義するとともに、その領域上に設定される照度算出点の一例を示す。図12に示すXY座標系においは、軸の中心を空間座標の原点(0,0,0)として、設定された照度算出点が定義される。
再度図9を参照して、CPU101は、輝度配光データを取得している複数の測定点のうちいずれか1つの測定点を選択し(ステップS2303)、選択した測定点について、照度算出点に対する見込み角度を算出する(ステップS2304)。
図13は、図9の照度算出点に対する見込み角度の算出処理(ステップS2304)を説明するための図である。図13を参照して、選択された測定点Vnの座標値を(xv,yv,zv)とし、照度算出点Gnの座標値を(xg,yg,zg)とする。これらの座標値の関係から、選択された測定点Vnについて、照度算出点Gnに対する見込み角度Θx,Θyがそれぞれ算出される。見込み角度Θx,Θyは、選択された測定点Vnから照射された光束が照度算出点Gnに到達するための角度である。
再度図9を参照して、CPU101は、選択した測定点に関連付けられた輝度配光データから、ステップS2304において算出した見込み角度に関連する輝度を検索する(ステップS2305)。
図14は、図9の見込み角度に関連する輝度を検索する処理(ステップS2305)を説明するための図である。図14に示すように、各測定点Vn(xv,yv,zv)について、測定角度毎の輝度が算出されているが、それぞれの測定角度は離散的に決定されるため、ステップS2304において算出した見込み角度に対応する輝度が格納されていない場合が多い。そのため、図14に示すような配列構造を利用して、算出された見込み角度Θx,Θyに近接している見込み角に対応する輝度を用いて、見込み角度Θx,Θyに対応する輝度を算出する。図14に示す例では、2次元配列上の見込み角度Θxと見込み角度Θyとの交点300に近接する4つの格納アドレス(配列位置301,302,303,304)が抽出される。
再度図9を参照して、CPU101は、見込み角度の近傍にある複数の輝度から、算出した見込み角度に対応する輝度を算出し(ステップS2306)、光度補正係数を用いて、算出した輝度を光度に変換し、選択されている照度算出点に関連付けられた照度格納データに当該算出した光度を加算する(ステップS2307)。
そして、CPU101は、輝度配光データを取得している複数の測定点のすべてについての選択が完了したか否かを判断する(ステップS2308)。複数の測定点のうち選択が完了していないものがあれば(ステップS2308においてNO)、CPU101は、別の測定点を選択し(ステップS2309)、ステップS2304以下の処理を実行する。
これに対して、複数の測定点のすべてについての選択が完了していれば(ステップS2308においてYES)には、CPU101は、選択されている照度算出点に関連付けられた照度格納データの値を、当該照度算出点における照度として出力する(ステップS2310)。
すなわち、1つの照度算出点について、すべての測定点から照射される輝度(または、変換によって得られる光度)が加算される。そして、すべての測定点についての輝度(または、光度)の加算処理が完了すると、その加算結果が対応する照度算出点における照度となる。
この一連の処理が他の照度算出点についてもそれぞれ実行される。すなわち、照度を算出すべき領域から照度算出点が順次特定され、上述した処理が繰り返し実行される。より具体的には、CPU101は、照度を算出すべき領域に含まれる複数の照度算出点のすべてについての選択が完了したか否かを判断する(ステップS2311)。複数の照度算出点のうち選択が完了していないものがあれば(ステップS2311においてNO)、CPU101は、別の照度算出点を選択し(ステップS2312)、ステップS2304以下の処理を実行する。
これに対して、複数の照度算出点のすべてについての選択が完了していれば(ステップS2311においてYES)、照度算出処理(図7のステップS23)は終了する。
<E.測定結果例>
次に、本実施の形態に従う配光特性測定方法によって得られた測定結果の一例を示す。
図15は、本実施の形態に従う配光特性測定方法によって得られた照度分布を画像化した結果を示す図である。図16は、図15に示す画像化された照度分布のA−A’断面における照度を示す図である。
図15に示すように、特定の範囲に照度のピークが存在するようなサンプルに対して、本実施の形態に従う配光特性測定方法は、図16に示すように、非発光部分(暗い部分)の照度も安定して算出できていることがわかる。図16には、同一のサンプルについて、本実施の形態および関連技術に従う配光特性測定方法のそれぞれでの測定結果を比較して示す。関連技術においては、上述したような補正処理を実行していない。図16に示す比較結果からもわかるように、関連技術では、安定していない非発光部分(暗い部分)についても、本実施の形態では、安定して照度を算出できていることがわかる。
<F.変形例>
上述の実施の形態においては、同一の撮像ポイントにおいて異なる撮像条件で複数回撮像する処理例について説明した。但し、同一の撮像ポイントにおいて複数回の撮像を行なう必要はなく、ある撮像条件で撮像を行なった撮像ポイントとは別の(但し、それに近接した)撮像ポイントで別の撮像条件で撮像を行なってもよい。より多くの撮像ポイントで撮像を行なうことで、サンプル2についての測定角度をより細かい間隔に設定でき、かつ、同一の撮像ポイントで撮像することによる情報の重複(冗長な情報)を排除できるので、測定精度および測定効率を高めることができる。
図17は、本実施の形態の変形例に従う配光特性測定方法の概要を説明するための図である。図17に示すように、本実施の形態の変形例に従う配光特性測定方法においては、撮像条件1で、撮像ポイント1,撮像ポイント2,撮像ポイント3,…において、サンプル2を撮像するとともに、撮像条件2で、撮像ポイント1’,撮像ポイント2’,撮像ポイント3’,…において、サンプル2を撮像する。これらの撮像によって得られたそれぞれの画像データのうち、互いに近接する画像データの間で補正処理を行なうことで、より多くの情報を含む画像データを生成する。
典型的には、撮像条件を変化させてサンプル2の撮像を繰り返す際に、ゴニオメータ200がカメラ10を回転移動させる開始角度、終点角度、移動間隔(角度変化)などを撮像条件毎に変更することで、カメラ10の撮像感度を実質的に向上させることができるとともに、より多くの角度の情報を取得できるので、照度算出処理における空間分解能を向上させることができる。撮像ポイントを変化させる場合には、開始角度、終点角度、角度間隔について、X軸およびY軸の一方のみを変更してもよいし、両方とも変更してもよい。X軸およびY軸の両方の値を変更することで、照度算出処理における空間分解能をさらに向上させることができる。
図18は、本実施の形態の変形例に従う配光特性測定方法の測定動作の一例を示す図である。図18に示す測定例においては、撮像条件1→撮像条件2→撮像条件3の順で、カメラ10の撮像感度が高まっているとする。図18には、(a)〜(d)の4回に亘ってサンプル2を撮像した場合の例を示す。これらの撮像間において、カメラ10を回転移動させる開始角度および移動間隔はそれぞれ異なっている。すなわち、撮像条件2(図18(b))は、撮像条件1(図18(a))での開始位置よりD1だけ遅れた位置で移動が開始されており、2回目の撮像条件1(図18(c))は、1回目の撮像条件1(図18(a))での開始位置よりD2だけ遅れた位置で移動が開始されている。
図18(e)には、図18(a)〜(d)のそれぞれの撮影によって取得される画像データが格納される際の撮像ポイントの位置を示す。上述したように、各画像データは、それが撮像されたときのカメラ10の位置(撮像ポイントの座標)に関連付けて格納される。すなわち、画像データの情報は、サンプル2を撮像した測定角度に関連付けて格納される。カメラ10を回転移動させる開始角度および移動間隔をそれぞれ異ならせることで、同一の条件下で撮像した場合に比較して、撮像ポイントが増加する。図18に示す例では、開始角度および移動間隔に依存して、ある撮像ポイントに関して、複数の画像データが取得できる場合(図18(f)の撮像ポイント(1),(5),(11))と、単一の画像データのみが取得できる場合(図18(f)の撮像ポイント(2),(3),(4),…)とがある。
ある撮像ポイントに関して、複数の画像データが取得できる場合には、上述したように、より撮像感度の高い撮像条件で取得された画像データを優先的に使用する(撮像感度の光画像データに埋込む)ことができる。
あるいは、一方の画像データのみを優先的に使用するのではなく、複数の画像データの情報を用いるようにしてもよい。すなわち、複数の画像データの対応するそれぞれの画素値について平均化処理を行なうことで、より高精度に画像データを取得できる。平均化処理については、同一の撮像ポイントについて複数の画像データが取得できる場合に限らず、ある撮像ポイントに近接する撮像ポイントについて取得された画像データを用いても実現できる。
(1)ある撮像ポイントについて複数の画像データを取得できる場合
同一の撮像ポイントについて、複数の画像データを取得できる場合には、より撮像感度の低い画像データの画素値に重み(寄与率)を乗じた上で平均化処理を行なう。この重みは、感度差に応じた係数である。例えば、図18(f)の撮像ポイント(1)の画素値については、以下の数式に従って算出できる。
撮像ポイント(1)の画素値={(a)撮像条件1で撮像された画像データの画素値×重みα1+(d)撮像条件3で撮像された画像データの画素値}/2
このように、情報処理装置100は、第1の画像データ群から選択された画像データ内の注目している領域の情報(第1の画像情報)および第2の画像データ群から選択された画像データ内の注目している領域の情報(第2の画像情報)を平均化して、各撮像ポイント(注目相対位置)に対応する補正後の画像情報を決定する。
(2)ある撮像ポイントについて複数の画像データを取得できない場合
異なる撮像ポイントについてそれぞれ画像データを取得できる場合には、注目している撮像ポイントに近接する撮像ポイントについて取得された他の画像データを抽出し、それらの抽出した画像データを用いて補間処理を行なう。補間処理の手法としては、線形補間やスプライン補間などの各種の方法を採用できる。
線形補間を採用した場合、例えば、図18(f)の撮像ポイント(2)の画素値については、以下のような手順で、注目している撮像ポイントの画像データの情報を算出できる。
撮像ポイント(2)について、撮像条件1での画素値を補間により算出する場合には、その前後にある、撮像ポイント(1)および撮像ポイント(4)の撮像条件1に対応する画素値を用いる。撮像ポイント(1)と撮像ポイント(4)とを結ぶ直線をY=aX+bと定義すると、係数aおよびbは、以下の数式に従って算出できる。但し、Yは注目画素の画素値を示し、Xは測定角度を示す。
係数a=(撮像条件1で撮像された画像データの画素値(4)−撮像条件1で撮像された画像データの画素値(1))/(画素値(4)に対応する撮像ポイントの測定角度−画素値(1)に対応する撮像ポイントの測定角度)
係数b=撮像条件1で撮像された画像データの画素値(1)−係数a×画素値(1)に対応する撮像ポイントの測定角度
算出された係数aおよび係数bを用いて、撮像ポイント(2)の測定角度XをY=aX+bに代入することで、撮像条件1における撮像ポイント(2)の注目画素の画素値を算出できる。
このように、情報処理装置100は、ある撮像ポイント(注目相対位置)とは異なる位置で撮像された複数の画像データから、当該撮像ポイントに対応する画像情報を算出する。
撮像条件を異ならせて撮像された複数の画像データについて、その撮像ポイントが同一であるか否かに応じて、上述のいずれかの処理を選択的に実行することで、測定精度の高い画像データ群を取得できる。すなわち、撮像ポイント(測定角度)の情報を有効に使った上で、安定した画像データの取得が可能になる。
本実施の形態の変形例に従う配光特性測定方法によれば、撮像ポイント(測定角度)を順次異ならせて、より多くの撮像ポイントでサンプル2を撮像することで、より多くの情報を取得することができる。そして、これらの取得された情報(画像データ)に対して、補間処理などを行なうことで、配光特性(照度分布や光度分布)の算出に必要な、それぞれの撮像ポイントにおける画像データをより安定して取得することができる。
なお、上述の測定例では、撮像条件(撮像感度)および撮像ポイントの両方を変化させて撮像を行なう場合について説明したが、撮像条件を一定にしたまま、ゴニオメータ200がカメラ10を回転移動させる開始角度、終点角度、移動間隔(角度変化)などを変更するようにしてもよい。この場合にも、より多くの画像情報が取得できるため、照度算出処理における空間分解能を向上させることができる。
なお、対象の画素値に重み(寄与率)を乗じて平均化処理を実行する処理例について説明したが、この重みについては、感度差やカメラの光学特性などに応じた予め定められた値を用いてもよいし、状況に応じて動的に変更してもよい。例えば、複数回に亘る測定によって得られる結果の繰り返し性の標準偏差に応じて重み(寄与率)を決定してもよい。すなわち、偏差が大きいほど(すなわち、結果のばらつきが大きいほど)寄与率を小さくすることが好ましい。
また、上述の処理例では、撮像ポイントを示す測定角度を可変パラメータとして用いているが、測定開始からの経過時間を可変パラメータとして用いてもよい。カメラ10の露光時間が測定時間間隔より十分に短い場合には、時間間隔測定をより高精度(高分解能)で行なうことができる。
<G.利点>
自動車のヘッドライトなどのように、指向性の強い光源を測定する場合には、撮像範囲内の最も明るい部分が適切に撮像できるように、露光時間、カメラの絞り値、ゲイン、減光フィルターの有無・種類などによって撮像感度が適宜調整される。一方で、このような最も明るい部分に撮像感度を適合させると、暗い部分については、十分な撮像感度を得ることができず、その結果、得られる画像データのS/N比は目的のレベルを達成できない場合がある。
これに対して、本実施の形態に従う配光特性測定方法では、典型的には、明るい部分に適合させた撮像条件において取得される画像データと、暗い部分に適合させた撮像条件において取得される画像データとを少なくとも含む2回以上の測定を行なうことで、必要な画像情報を取得することができ、これらの画像情報から配光特性を安定して算出できる。すなわち、上述のような測定方法を採用することで、画像データにおける暗い部分のS/N比を向上させることができ、これによって、暗い部分の照度や光度についても、安定した値を算出できる。その結果、指向性の強い光源であっても、より高い精度で配光特性を測定できる。
上述した説明によって、本実施の形態に従う配光特性測定装置および配光特性測定方法に係るそれ以外の利点については明らかになるであろう。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
10 カメラ、35 X軸モータ、36 Y軸モータ、30 ベース、32 X軸回転アーム、33 撮像部支持アーム、100 情報処理装置、101 CPU、102 主メモリ、104 通信インターフェイス、105 表示部、106 入力部、107 バス、108 配光特性測定プログラム、110 トリガー装置、200 ゴニオメータ。

Claims (6)

  1. 光源の配光特性を測定するための配光特性測定装置であって、
    前記光源に対して所定距離だけ離して配置された撮像部と、
    前記光源と前記撮像部との間の距離を維持したまま、前記光源に対する前記撮像部の位置関係を連続的に変化させる移動機構と、
    前記撮像部により撮像された複数の画像データと、前記複数の画像データがそれぞれ撮像されたときの前記光源に対する前記撮像部の相対位置とに基づいて、前記光源の配光特性を算出する処理手段とを備え、
    前記処理手段は、
    第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、前記第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するとともに、
    前記第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、前記第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる前記注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、前記注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する、配光特性測定装置。
  2. 前記第2の撮像条件における撮像は、前記第1の撮像条件における撮像に比較して、撮像感度が高く、
    前記処理手段は、前記第2の画像情報が画素値の飽和を示している場合には、前記第1の画像情報を優先的に使用し、それ以外の場合には、前記第2の画像情報を優先的に使用する、請求項1に記載の配光特性測定装置。
  3. 前記処理手段は、前記第1の撮像条件と前記第2の撮像条件との間の撮像感度の差に応じて、前記第1の画像情報および前記第2の画像情報のいずれかのレベルを調整する、請求項1または2に記載の配光特性測定装置。
  4. 前記処理手段は、前記第1の画像情報および前記第2の画像情報を平均化して、前記注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する、請求項1に記載の配光特性測定装置。
  5. 前記処理手段は、前記注目相対位置とは異なる位置で撮像された複数の画像データから、前記注目相対位置に対応する画像情報を算出する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の配光特性測定装置。
  6. 光源の配光特性を測定するための配光特性測定方法であって、
    前記光源と撮像部との間の距離を維持したまま、前記光源に対する前記撮像部の位置関係を連続的に変化させるステップと、
    前記撮像部により撮像された複数の画像データと、前記複数の画像データがそれぞれ撮像されたときの前記光源に対する前記撮像部の相対位置とに基づいて、前記光源の配光特性を算出するステップとを備え、
    前記光源の配光特性を算出するステップは、
    第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、前記第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するステップと、
    前記第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、前記第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる前記注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、前記注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定するステップとを含む、配光特性測定方法。
JP2015027747A 2015-02-16 2015-02-16 配光特性測定装置および配光特性測定方法 Active JP6717564B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015027747A JP6717564B2 (ja) 2015-02-16 2015-02-16 配光特性測定装置および配光特性測定方法
KR1020160012319A KR102257506B1 (ko) 2015-02-16 2016-02-01 배광 특성 측정 장치 및 배광 특성 측정 방법
DE102016201833.7A DE102016201833A1 (de) 2015-02-16 2016-02-08 Lichtverteilungscharakteristik-Messvorrichtung und Lichtverteilungscharakteristik-Messverfahren
US15/041,320 US10127472B2 (en) 2015-02-16 2016-02-11 Light distribution characteristic measurement apparatus and light distribution characteristic measurement method
CN201610086088.2A CN105890746B (zh) 2015-02-16 2016-02-15 配光特性测量装置以及配光特性测量方法
TW105104236A TWI687660B (zh) 2015-02-16 2016-02-15 配光特性測定裝置以及配光特性測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015027747A JP6717564B2 (ja) 2015-02-16 2015-02-16 配光特性測定装置および配光特性測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016151437A true JP2016151437A (ja) 2016-08-22
JP6717564B2 JP6717564B2 (ja) 2020-07-01

Family

ID=56551824

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015027747A Active JP6717564B2 (ja) 2015-02-16 2015-02-16 配光特性測定装置および配光特性測定方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10127472B2 (ja)
JP (1) JP6717564B2 (ja)
KR (1) KR102257506B1 (ja)
CN (1) CN105890746B (ja)
DE (1) DE102016201833A1 (ja)
TW (1) TWI687660B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018008277A1 (de) 2017-11-06 2019-05-09 Otsuka Electronics Co., Ltd. Verfahren zur Messung optischer Eigenschaften und System zur Messung optischer Eigenschaften

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6593753B2 (ja) * 2015-09-24 2019-10-23 パナソニックIpマネジメント株式会社 照度取得装置、照明制御システムおよびプログラム
JP2017143340A (ja) * 2016-02-08 2017-08-17 株式会社デンソー 情報処理装置及びプログラム
JP2020153713A (ja) * 2019-03-18 2020-09-24 大塚電子株式会社 発光体計測装置及び発光体計測方法
US11204383B2 (en) * 2019-09-30 2021-12-21 Formfactor, Inc. Methods for maintaining gap spacing between an optical probe of a probe system and an optical device of a device under test, and probe systems that perform the methods
DE102020208992A1 (de) * 2020-07-17 2022-01-20 TechnoTeam Holding GmbH Verfahren zur räumlichen Charakterisierung des optischen Abstrahlverhaltens von Licht- und Strahlungsquellen

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005109935A (ja) * 2003-09-30 2005-04-21 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 画像データ処理装置および画像データ処理プログラム
US20090185173A1 (en) * 2006-06-05 2009-07-23 Tir Technology Lp Apparatus and method for determining characteristics of a light source
JP2014230708A (ja) * 2013-05-30 2014-12-11 パナソニック株式会社 内視鏡

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7580161B2 (en) * 2005-03-15 2009-08-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and apparatus for image processing
US8373630B2 (en) * 2007-10-01 2013-02-12 Mitsubishi Electric Corporation Display device
JP5231284B2 (ja) 2008-03-31 2013-07-10 富士フイルム株式会社 撮像装置、撮像方法、およびプログラム
JP5577900B2 (ja) * 2010-07-05 2014-08-27 ソニー株式会社 撮像制御装置、撮像制御方法、プログラム
JP5944719B2 (ja) 2012-04-04 2016-07-05 大塚電子株式会社 配光特性測定装置および配光特性測定方法
JP6001960B2 (ja) * 2012-08-23 2016-10-05 大塚電子株式会社 配光特性測定装置および配光特性測定方法
JP2014176449A (ja) * 2013-03-14 2014-09-25 Panasonic Corp 内視鏡

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005109935A (ja) * 2003-09-30 2005-04-21 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 画像データ処理装置および画像データ処理プログラム
US20090185173A1 (en) * 2006-06-05 2009-07-23 Tir Technology Lp Apparatus and method for determining characteristics of a light source
JP2014230708A (ja) * 2013-05-30 2014-12-11 パナソニック株式会社 内視鏡

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
MITSUNAGA, T. AND NAYAR S. K.: "Radiometric Self Calibration", IEEE PROC. COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION,, JPN6018027227, 1999, pages 380 - 386, ISSN: 0004029924 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018008277A1 (de) 2017-11-06 2019-05-09 Otsuka Electronics Co., Ltd. Verfahren zur Messung optischer Eigenschaften und System zur Messung optischer Eigenschaften
KR20190051834A (ko) 2017-11-06 2019-05-15 오츠카덴시가부시끼가이샤 광학 특성 측정 방법 및 광학 특성 측정 시스템
JP2019086368A (ja) * 2017-11-06 2019-06-06 大塚電子株式会社 光学特性測定方法および光学特性測定システム
US10733750B2 (en) 2017-11-06 2020-08-04 Otsuka Electronics Co., Ltd. Optical characteristics measuring method and optical characteristics measuring system
JP6997593B2 (ja) 2017-11-06 2022-01-17 大塚電子株式会社 光学特性測定方法および光学特性測定システム

Also Published As

Publication number Publication date
TWI687660B (zh) 2020-03-11
CN105890746A (zh) 2016-08-24
JP6717564B2 (ja) 2020-07-01
US20160239720A1 (en) 2016-08-18
US10127472B2 (en) 2018-11-13
KR102257506B1 (ko) 2021-05-31
KR20160100825A (ko) 2016-08-24
CN105890746B (zh) 2020-12-18
DE102016201833A1 (de) 2016-08-18
TW201643386A (zh) 2016-12-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6717564B2 (ja) 配光特性測定装置および配光特性測定方法
US8896823B2 (en) Light distribution characteristic measurement apparatus and light distribution characteristic measurement method
US9549168B2 (en) Hand held portable three dimensional scanner
TWI610064B (zh) 配光特性量測裝置以及配光特性量測方法
JP2008185370A (ja) 3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法
JP6434296B2 (ja) 顕微鏡システム、設定値算出方法、及び、プログラム
KR102122275B1 (ko) 배광 특성 측정 장치 및 배광 특성 측정 방법
JP2015119344A (ja) 撮像素子の感度分布の測定装置及びその制御方法、画像表示装置のキャリブレーション装置及びその制御方法
JP6423261B2 (ja) 顕微鏡システム、関数算出方法、及び、プログラム
JP2008128770A (ja) レンズ性能検査装置及びレンズ性能検査方法
JP6386837B2 (ja) 画像処理プログラム、情報処理システム、情報処理装置、画像処理方法
WO2016174701A1 (ja) 内視鏡装置及び3次元形状計測方法
KR102676819B1 (ko) 광학 특성 측정 방법 및 광학 특성 측정 시스템
JP2009270893A (ja) 位置計測装置、位置計測方法およびプログラム
JP2011220752A (ja) 三次元形状計測装置および三次元形状計測装置のキャリブレーション方法
WO2021106447A1 (ja) 撮像支援装置、撮像システム、撮像支援方法、及びプログラム
JP2007158577A (ja) 撮像データ補正方法、および、撮像データ補正装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180724

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180720

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180918

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190129

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190220

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20190514

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200331

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200611

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6717564

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250