JP2016151437A - 配光特性測定装置および配光特性測定方法 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 76
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title abstract description 20
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 62
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 273
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 82
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 32
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 31
- 235000019557 luminance Nutrition 0.000 description 42
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 38
- 230000008569 process Effects 0.000 description 37
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 32
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 6
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 5
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0228—Control of working procedures; Failure detection; Spectral bandwidth calculation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0242—Control or determination of height or angle information of sensors or receivers; Goniophotometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/10—Image acquisition
- G06V10/12—Details of acquisition arrangements; Constructional details thereof
- G06V10/14—Optical characteristics of the device performing the acquisition or on the illumination arrangements
- G06V10/145—Illumination specially adapted for pattern recognition, e.g. using gratings
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/60—Extraction of image or video features relating to illumination properties, e.g. using a reflectance or lighting model
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4247—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/448—Array [CCD]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10016—Video; Image sequence
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
- G06T2207/10144—Varying exposure
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
【解決手段】配光特性測定装置は、光源に対して所定距離だけ離して配置された撮像部と、光源と撮像部との間の距離を維持したまま、光源に対する撮像部の位置関係を連続的に変化させる移動機構と、光源の配光特性を算出する処理手段とを含む。処理手段は、第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するとともに、第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する。
【選択図】図8
Description
まず、本実施の形態に従う配光特性測定方法の概要について説明する。図1は、本実施の形態に従う配光特性測定方法の基本的な測定方法を説明するための図である。図1に示すように、本実施の形態に従う配光特性測定方法では、所定の撮像視野を有するカメラ10(一種の2次元センサー)を用いて、所定の立体角の範囲に亘ってサンプル2を測定することで、サンプル2の発光面についての配光特性を取得する。取得される配光特性は、典型的には、配光輝度特性を意味し、サンプル2の発光面の各点(以下、「測定点」とも称す。)における各照射角度(以下、「測定角度」とも称す。)についての輝度の情報を含む。
次に、本実施の形態に従う配光特性測定装置の構成について説明する。本実施の形態に従う配光特性測定装置は、サンプル2に対して所定距離だけ離して配置されたカメラ10(撮像部)と、サンプル2とカメラ10との間の距離を維持したまま、サンプル2に対するカメラ10の位置関係(相対関係)を連続的に変化させる移動機構とを有する。移動機構は、サンプル2とカメラ10と間の相対関係を異なる2つの軸方向(以下の例では、X軸方向およびY軸方向)にそれぞれ独立に変更可能になっている。
次に、本実施の形態に従う配光特性測定方法の処理手順について説明する。図7は、本実施の形態に従う配光特性測定方法の処理手順を示すフローチャートである。図7に示す各ステップは、主として、情報処理装置100のCPU101およびトリガー装置110によって実行される。事前準備として、測定者は、対象となるサンプル2の発光部分(明るい部分)に応じて、カメラ10の絞り値、ゲイン、減光フィルターの有無・種類といった撮像感度(すなわち、撮像条件)を適宜調整する。図7に示す処理手順の開始時点における撮像条件を、便宜上「撮像条件1」と称す。
もし、(1)式が成立していなければ、すなわち補正データの画素値が飽和していなければ、座標(x,y)における基準データの画素値は、(2)式に示すように、補正データ内の対応する座標(x,y)における画素値に感度差に応じた係数αを乗じた値に置き換えられる。
(1)式が成立していれば、すなわち補正データの画素値が飽和していれば、画素値の置き換えは行われない。(1)式および(2)式に示される処理が、補正データを構成する全画素について実行されることで、画素値の飽和のない画像データを取得できる。
次に、照度算出処理(図7のステップS23)について説明する。図9は、図7のステップS23に示す照度算出処理の処理手順を示すフローチャートである。図9に示す各ステップは、主として、情報処理装置100のCPU101によって実行される。
次に、本実施の形態に従う配光特性測定方法によって得られた測定結果の一例を示す。
上述の実施の形態においては、同一の撮像ポイントにおいて異なる撮像条件で複数回撮像する処理例について説明した。但し、同一の撮像ポイントにおいて複数回の撮像を行なう必要はなく、ある撮像条件で撮像を行なった撮像ポイントとは別の(但し、それに近接した)撮像ポイントで別の撮像条件で撮像を行なってもよい。より多くの撮像ポイントで撮像を行なうことで、サンプル2についての測定角度をより細かい間隔に設定でき、かつ、同一の撮像ポイントで撮像することによる情報の重複(冗長な情報)を排除できるので、測定精度および測定効率を高めることができる。
同一の撮像ポイントについて、複数の画像データを取得できる場合には、より撮像感度の低い画像データの画素値に重み(寄与率)を乗じた上で平均化処理を行なう。この重みは、感度差に応じた係数である。例えば、図18(f)の撮像ポイント(1)の画素値については、以下の数式に従って算出できる。
このように、情報処理装置100は、第1の画像データ群から選択された画像データ内の注目している領域の情報(第1の画像情報)および第2の画像データ群から選択された画像データ内の注目している領域の情報(第2の画像情報)を平均化して、各撮像ポイント(注目相対位置)に対応する補正後の画像情報を決定する。
異なる撮像ポイントについてそれぞれ画像データを取得できる場合には、注目している撮像ポイントに近接する撮像ポイントについて取得された他の画像データを抽出し、それらの抽出した画像データを用いて補間処理を行なう。補間処理の手法としては、線形補間やスプライン補間などの各種の方法を採用できる。
係数b=撮像条件1で撮像された画像データの画素値(1)−係数a×画素値(1)に対応する撮像ポイントの測定角度
算出された係数aおよび係数bを用いて、撮像ポイント(2)の測定角度XをY=aX+bに代入することで、撮像条件1における撮像ポイント(2)の注目画素の画素値を算出できる。
自動車のヘッドライトなどのように、指向性の強い光源を測定する場合には、撮像範囲内の最も明るい部分が適切に撮像できるように、露光時間、カメラの絞り値、ゲイン、減光フィルターの有無・種類などによって撮像感度が適宜調整される。一方で、このような最も明るい部分に撮像感度を適合させると、暗い部分については、十分な撮像感度を得ることができず、その結果、得られる画像データのS/N比は目的のレベルを達成できない場合がある。
Claims (6)
- 光源の配光特性を測定するための配光特性測定装置であって、
前記光源に対して所定距離だけ離して配置された撮像部と、
前記光源と前記撮像部との間の距離を維持したまま、前記光源に対する前記撮像部の位置関係を連続的に変化させる移動機構と、
前記撮像部により撮像された複数の画像データと、前記複数の画像データがそれぞれ撮像されたときの前記光源に対する前記撮像部の相対位置とに基づいて、前記光源の配光特性を算出する処理手段とを備え、
前記処理手段は、
第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、前記第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するとともに、
前記第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、前記第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる前記注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、前記注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する、配光特性測定装置。 - 前記第2の撮像条件における撮像は、前記第1の撮像条件における撮像に比較して、撮像感度が高く、
前記処理手段は、前記第2の画像情報が画素値の飽和を示している場合には、前記第1の画像情報を優先的に使用し、それ以外の場合には、前記第2の画像情報を優先的に使用する、請求項1に記載の配光特性測定装置。 - 前記処理手段は、前記第1の撮像条件と前記第2の撮像条件との間の撮像感度の差に応じて、前記第1の画像情報および前記第2の画像情報のいずれかのレベルを調整する、請求項1または2に記載の配光特性測定装置。
- 前記処理手段は、前記第1の画像情報および前記第2の画像情報を平均化して、前記注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定する、請求項1に記載の配光特性測定装置。
- 前記処理手段は、前記注目相対位置とは異なる位置で撮像された複数の画像データから、前記注目相対位置に対応する画像情報を算出する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の配光特性測定装置。
- 光源の配光特性を測定するための配光特性測定方法であって、
前記光源と撮像部との間の距離を維持したまま、前記光源に対する前記撮像部の位置関係を連続的に変化させるステップと、
前記撮像部により撮像された複数の画像データと、前記複数の画像データがそれぞれ撮像されたときの前記光源に対する前記撮像部の相対位置とに基づいて、前記光源の配光特性を算出するステップとを備え、
前記光源の配光特性を算出するステップは、
第1の撮像条件において撮像された複数の画像データと、前記第1の撮像条件とは異なる第2の撮像条件において撮像された複数の画像データとを取得するステップと、
前記第1の撮像条件において撮像された画像データに含まれる注目相対位置に対応する第1の画像情報と、前記第2の撮像条件において撮像された画像データに含まれる前記注目相対位置に対応する第2の画像情報とから、前記注目相対位置に対応する補正後の画像情報を決定するステップとを含む、配光特性測定方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015027747A JP6717564B2 (ja) | 2015-02-16 | 2015-02-16 | 配光特性測定装置および配光特性測定方法 |
KR1020160012319A KR102257506B1 (ko) | 2015-02-16 | 2016-02-01 | 배광 특성 측정 장치 및 배광 특성 측정 방법 |
DE102016201833.7A DE102016201833A1 (de) | 2015-02-16 | 2016-02-08 | Lichtverteilungscharakteristik-Messvorrichtung und Lichtverteilungscharakteristik-Messverfahren |
US15/041,320 US10127472B2 (en) | 2015-02-16 | 2016-02-11 | Light distribution characteristic measurement apparatus and light distribution characteristic measurement method |
CN201610086088.2A CN105890746B (zh) | 2015-02-16 | 2016-02-15 | 配光特性测量装置以及配光特性测量方法 |
TW105104236A TWI687660B (zh) | 2015-02-16 | 2016-02-15 | 配光特性測定裝置以及配光特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015027747A JP6717564B2 (ja) | 2015-02-16 | 2015-02-16 | 配光特性測定装置および配光特性測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016151437A true JP2016151437A (ja) | 2016-08-22 |
JP6717564B2 JP6717564B2 (ja) | 2020-07-01 |
Family
ID=56551824
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015027747A Active JP6717564B2 (ja) | 2015-02-16 | 2015-02-16 | 配光特性測定装置および配光特性測定方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10127472B2 (ja) |
JP (1) | JP6717564B2 (ja) |
KR (1) | KR102257506B1 (ja) |
CN (1) | CN105890746B (ja) |
DE (1) | DE102016201833A1 (ja) |
TW (1) | TWI687660B (ja) |
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- 2015-02-16 JP JP2015027747A patent/JP6717564B2/ja active Active
-
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- 2016-02-01 KR KR1020160012319A patent/KR102257506B1/ko active IP Right Grant
- 2016-02-08 DE DE102016201833.7A patent/DE102016201833A1/de active Pending
- 2016-02-11 US US15/041,320 patent/US10127472B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2016-02-15 TW TW105104236A patent/TWI687660B/zh active
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MITSUNAGA, T. AND NAYAR S. K.: "Radiometric Self Calibration", IEEE PROC. COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION,, JPN6018027227, 1999, pages 380 - 386, ISSN: 0004029924 * |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102018008277A1 (de) | 2017-11-06 | 2019-05-09 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Verfahren zur Messung optischer Eigenschaften und System zur Messung optischer Eigenschaften |
KR20190051834A (ko) | 2017-11-06 | 2019-05-15 | 오츠카덴시가부시끼가이샤 | 광학 특성 측정 방법 및 광학 특성 측정 시스템 |
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US10733750B2 (en) | 2017-11-06 | 2020-08-04 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Optical characteristics measuring method and optical characteristics measuring system |
JP6997593B2 (ja) | 2017-11-06 | 2022-01-17 | 大塚電子株式会社 | 光学特性測定方法および光学特性測定システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI687660B (zh) | 2020-03-11 |
CN105890746A (zh) | 2016-08-24 |
JP6717564B2 (ja) | 2020-07-01 |
US20160239720A1 (en) | 2016-08-18 |
US10127472B2 (en) | 2018-11-13 |
KR102257506B1 (ko) | 2021-05-31 |
KR20160100825A (ko) | 2016-08-24 |
CN105890746B (zh) | 2020-12-18 |
DE102016201833A1 (de) | 2016-08-18 |
TW201643386A (zh) | 2016-12-16 |
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