JP6988754B2 - 空燃比センサの制御装置、空燃比センサの不具合検出プログラム - Google Patents
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Description
本発明は、空燃比センサを制御するための制御装置、および空燃比センサの不具合検出プログラムに関する。
例えばガス給湯器等の燃焼装置は、排気経路に排気ガス中の酸素濃度を検出する空燃比センサを設け、検出した酸素濃度から空燃比を検出して燃焼制御が行われている。この空燃比センサは、A/Fセンサとも称されており、例えばジルコニアを含む検出素子と、検出素子が所定の目標抵抗値となるように検出素子の温度を調整するヒータとにより構成されている。そして、酸素濃度を検出する際には、検出素子が最適に活性化される抵抗値となるように、検出素子の温度を例えばPWM(Pulse Width Modulation)制御されるヒータによって調整している。
このような空燃比センサを用いて正しく燃焼制御するためには、空燃比センサに生じる不具合を検出する必要がある。そして、例えば特許文献1では、ヒータの温度を最適となる温度から敢えてずらすことによって空燃比センサの故障を検出することが提案されている。
しかしながら、検出素子を最適な抵抗値となる温度からずらしてしまうと、ずらしている期間では最適な状態での検出ができず、燃焼装置の運転中であっても正しく空燃比を検出することができない状態となる。換言すると、特許文献1のような構成では、燃焼装置の運転中に検出素子を最適な抵抗値となる温度に維持することができなくなる。その一方で、不具合を検出する検出装置を別途設け、検出に最適な状態を維持したまま不具合を検出する構成とすると、設置スペースや取り付け構造が必要となる。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサの制御装置単体で、空燃比センサに生じた不具合を検出することができる空燃比センサの制御装置、および空燃比センサの不具合検出プログラムを提供することにある。
請求項1記載の発明では、空燃比センサの制御装置は、検出素子の抵抗値を検出する抵抗値検出部と、抵抗値検出部で検出した検出素子の抵抗値に基づいてヒータに与えるPWM信号を生成する温度制御部と、ヒータに与えるPWM信号を生成する温度制御部と、PWM信号のデューティ比の時系列での増加態様に基づいて空燃比センサに不具合が生じたか否かを判定する判定部と、を備える。
空燃比センサに生じると想定される不具合としては、検出素子のクラックの発生つまりはひび割れ等の部分的な破損、検出素子の嵌合不良つまりは接続部位の接触不良、ヒータの故障、検出素子の経年劣化が想定される。このうち、クラック発生時には、検出素子の抵抗値は、クラックが生じていない場合と比べて大きく増加すると考えられる。また、嵌合不良が発生した場合には、接触状態が変化することによって、検出される抵抗値が大きく且つ比較的短期間に変化することが予想される。また、ヒータが故障した場合には、同じ電力を与えても発熱量が低下することから、検出素子の抵抗値が最適値から増加した状態になることが予想される。また、検出素子の経年劣化した場合も同様に、検出素子の抵抗値が最適値から増加した状態になることが予想される。
つまり、空燃比センサに不具合が生じた場合には、いずれも検出素子の抵抗値、または、抵抗値検出部で検出される値が、正常動作時よりも増加すると考えられる。
さて、空燃比センサは検出素子が最適な抵抗値(以下、便宜的に最適値と称する)である場合に最も精度よく酸素濃度を検出することができることから、検出素子の抵抗値が最適値から増加した場合には、検出素子の抵抗値を最適値に近づける必要がある。そして、検出素子をヒータで加熱する空燃比センサの場合、検出素子の抵抗値を下げるためには、ヒータにより検出素子の温度を上昇させる必要がある。
そのため、不具合が発生して検出素子が適切な抵抗値からずれた場合には、PWM制御されるヒータであれば、PWM信号のデューティ比ここではPWM信号の1周期におけるオン期間が増加することになる。換言すると、PWM信号のデューティ比が増加する態様で変化した場合には、何らかの不具合が発生している可能性があると判定できる。
そのため、制御装置は、PWM信号のデューティ比が正常動作時と比べて増加したことに基づいて、すなわち、PWM信号のデューティ比の時系列での増加態様に基づいて、空燃比センサに不具合が生じたか否かを判定する。これにより、空燃比センサに何らかの不具合が生じたことを判定できる。
また、空燃比センサでは検出素子の抵抗値は元々検出されており、デューティ比もPWM制御のために元々算出されていることから、別途装置を設けたりしなくても、上記の判定を行うことができる。さらに、出力されるPWM信号は、現在の検出素子の抵抗値を最適値にするために出力されていることから、不具合の判定時においても酸素濃度の検出状態を最適なままに維持することができる。
したがって、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサの制御装置単体で、空燃比センサに生じた不具合を検出することができる。
したがって、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサの制御装置単体で、空燃比センサに生じた不具合を検出することができる。
また、請求項7に係る発明のように、空燃比センサの制御装置に、検出素子の抵抗値に基づいてヒータに与えるために生成されるPWM信号のデューティ比の時系列での増加態様に基づいて、空燃比センサに不具合が生じたか否かを判定する処理を実行させる不具合検出プログラムによっても、同様に、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサの制御装置単体で、空燃比センサに生じた不具合を検出することができる。
請求項2に係る発明では、制御装置の判定部は、直近のデューティ比と現在のデューティ比との差分が所定のクラック判定値を超えた場合、検出素子にクラック発生の不具合が生じたと判定する。
空燃比センサの検出素子は、ジルコニアを含む固体電解質素子として形成されていることが多く、比較的高温で使用されていることから、また、燃焼装置の排気経路に設けられることから、燃焼時に生じた水が付着するとクラックが生じるおそれがある。そして、検出素子にクラックが生じると、上記したように検出素子の抵抗値は、クラックが生じていない正常動作時の抵抗値と比べて大きく増加することから、検出素子を加熱して抵抗値を下げることが必要となる。
換言すると、PWM信号のデューティ比が短期間例えば直近のデューティ比に対して所定のクラック判定値を超えるような大きな増加が観測された場合には、検出素子にクラックが発生したと考えることができる。そのため、デューティ比がクラック判定値を超えて短期間に変化した場合には、クラックが発生したと判定することができる。
請求項3に係る発明では、制御装置の判定部は、直近のデューティ比と現在のデューティ比との差分が所定の嵌合不良判定値を超えたか否かを判定し、嵌合不良判定値を連続して超えた回数が所定の異常確定値を超えた場合、検出素子の嵌合部位に嵌合不良の不具合が生じたと判定する。
検出素子は、嵌合部4を介して物理的にセンサ本体に取り付けられている。そのため、嵌合部が破損した場合には、振動等によって接触状態が変化するいわゆる接触不良のような現象が生じると考えられる。その場合、抵抗値検出部で検出される抵抗値は、接触状態に応じてその値が変化することから、時系列で見ると、比較的短期間にその値が大きく変動すると考えられる。
換言すると、PWM信号のデューティ比が直近のデューティ比に対して増加したり減少したりする状態が比較的短期間に観測された場合に、嵌合不良発生の不具合が生じたと考えられる。そのため、ディーティ比が嵌合不良判定値を連続して超えた回数が所定の異常確定値を超えた場合には、嵌合不良が発生したと判定することができる。
請求項4に係る発明では、制御装置の判定部は、直近のデューティ比と現在のデューティ比との差分を累積するとともに、累積した値が予め設定されている異常判定値を超えるまでに要した増加期間を計測し、当該増加期間が予め設定されている経年劣化判定期間以下の場合にヒータが故障した不具合が生じたと判定する一方、当該増加期間が経年劣化判定期間よりも長い場合に経年劣化の不具合が生じたと判定する。
ヒータが故障した場合、ヒータの温度を上げようとしても上がり難くなり、正常動作時と同じPWM信号で制御しても検出素子が最適な温度とならず、検出素子の抵抗値が徐々に大きくなると考えられる。その一方で、検出素子は、使用期間が長くなるにつれてその特性が変化するいわゆる経年劣化が生じ、その場合にも抵抗値が徐々に大きくなっていくと考えられる。
そのため、PWM信号のデューティ比が正常動作時のデューティ比から継続的に大きくなり、その累積値が異常判定値を超えた場合には、ヒータの故障または経年劣化の不具合が発生したと考えることができる。そして、ヒータが故障した場合には、経年劣化よりも短期間で異常判定値に到達すると考えられる。
換言すると、累積値が異常判定値に到達したこと、および、累積値が異常判定値に到達するまでの期間によって、ヒータの故障または経年劣化のいずれの不具合が発生したのかを区別することができる。そのため、増加期間が予め設定されている経年劣化判定期間以下の場合にはヒータが故障した不具合が生じたと判定する一方、増加期間が経年劣化判定期間よりも長い場合に経年劣化の不具合が生じたと判定することができる。
請求項5に記載した発明では、空燃比センサは、周期的に熱の対流が生じる位置に設置されており、制御装置の判定部は、デューティ比の周期的な変化を計測し、計測した変化周期が、予め設定されている周期異常判定値を超えて変化した場合、空燃比センサに不具合が生じたと判定する。
例えばガス給湯器の燃焼室内は、混合気の供給とバーナーの燃焼とが行われているため、熱の対流が周期的に発生する。そして、この周期的な熱の対流は、空燃比センサが設置されている部位の環境温度の周期的な変化を生じさせ、それによって、検出素子の温度の変化つまりは抵抗値の変化を招くことになる。
そのため、周期的に熱の対流が生じる位置に空燃比センサを設置した場合には、デューティ比の増加態様だけでなく、環境温度の変化に伴う周期的な変動も考慮する必要がある。そして、空燃比センサに不具合が生じた場合には、上記したようにディーティ比が増加することから、変動の周期にずれを生じさせると考えられる。
そのため、デューティ比の周期的な変化を計測し、計測した周期が周期異常判定値を超えているかを判定することにより、空燃比センサに不具合が生じたことを判定することができる。この場合、周期が変化した後のデューティ比の増加態様を観測することにより、上記した不具合の種類を特定することもできる。
請求項6に記載した発明では、制御装置の判定部は、デューティ比が変化する周期を計測し、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が上昇している場合、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が低下している場合、および、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が一定となっている場合には、デューティ比が時系列で変化していても不具合と判定しない。
上記したガス給湯器の場合、電源投入の時点ではバーナーには点火されておらず、バーナーが点火されることにより環境温度が上昇し、バーナーが消化された場合には環境温度が低下することになる。このため、電源投入時点では、PWM信号は、検出素子の抵抗値を素早く目標抵抗値となるようにするために直線的に増加すると考えられる。また、デューティ比は、安全性等を考慮して上限が設定されており、ある程度増加するとそれ以降は一定値となる。そして、バーナーが点火されると、環境温度が急速に上昇することから、相対的にヒータの温度を急速に下げる必要があり、デューティ比は徐々に直線的に低下することになる。つまり、実際の燃焼装置への適用を考えた場合には、燃焼装置の運転状態も考慮して不具合を判定する必要がある。
そこで、デューティ比が変化する周期を計測し、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が上昇している場合、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が低下している場合、および、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が一定となっている場合には不具合を判定しないことにより、燃焼装置の始動時等を除外した状態で不具合を判定することができ、より正確な不具合の検出を行うことができる。
以下、複数の実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、各実施形態において実質的に共通する部位には同一符号を付して説明する。
(第1実施形態)
以下、第1実施形態について、図1から図7を参照しながら説明する。
(第1実施形態)
以下、第1実施形態について、図1から図7を参照しながら説明する。
図1に示すように、空燃比センサ1は、検出素子2とヒータ3とを備えており、周知のように、排気ガス中の酸素濃度に応じた電流を出力する構成となっている。なお、空燃比センサ1は、厳密に言えば酸素濃度センサではあるが、空燃比を求めるために用いるものとしてここでは空燃比センサ1と称している。
検出素子2は、ジルコニアを含む固体電解質素子で形成されており、嵌合部4を介して図示しない本体に収容されている。ヒータ3は、PWM制御によって制御されるものであり、検出素子2の近傍に設けられて、検出素子2の抵抗値が酸素濃度の検出に最適な値となるように検出素子2の温度を調整する。
このような構成の空燃比センサ1が接続されている制御装置10は、空燃比センサ1を制御するために必要となる制御部11、検出素子2の抵抗値を検出する抵抗値検出部に相当する抵抗値検出回路12、空燃比センサ1から出力される電流つまりは酸素濃度に応じて出力される電流を検出する電流検出回路13、およびヒータ3をPWM制御するためのPWM信号を電圧信号として出力するヒータ制御部に相当するヒータ制御回路14等を備えている。なお、本実施形態では、制御装置10は、空燃比センサ1とともに検出キットとして提供されるものを想定しており、図示は省略するが、検出した酸素濃度あるいは混合気の空燃比を外部の装置に出力するための出力回路等も備えている。
制御部11は、いわゆるマイクロコンピュータで構成されており、ヒータ3を制御するPWM信号を生成する温度制御部15、空燃比センサ1から出力された電流値に基づいて酸素濃度を演算する濃度演算部16、および、詳細は後述するが、PWM信号のデューティ比の変化に基づいて空燃比センサ1に不具合が生じているか否かを判定する判定部17を有している。
これら温度制御部15、濃度演算部16および判定部17は、本実施形態ではソフトウェアで実現されている。そのため、本実施形態の制御装置10は、空燃比センサ1に必要とされる回路構成だけで、空燃比センサ1に不具合が生じているか否かを判定可能となっている。つまり、制御装置10は、空燃比センサ1を制御する装置として機能するとともに、空燃比センサ1に生じる不具合を検出する装置としても機能する。
次に、上記した構成の作用について説明する。
次に、上記した構成の作用について説明する。
前述のように、空燃比センサ1を用いて酸素濃度を検出する際には、検出素子2が最適に活性化された抵抗値となることが求められる。このとき、一般的な燃焼装置は連続で運転されることが想定されるため、空燃比センサ1そのものは不具合を判定する場合であっても検出に最適な状態に維持されていることが望ましい。その一方で、不具合を検出するための検出装置を制御装置10とは別に設けると、設置スペースや取り付け構造が必要となることから望ましくない。
また、空燃比センサ1に不具合が生じたことを検出するだけでなく、どのような不具合が生じたのかまで特定することができれば、故障箇所を早期に特定することが可能となり、修理や交換等の対応を取り易くなると考えられる。
そこで、本実施形態では、以下のようにして、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサ1の制御装置10単体で、空燃比センサ1に生じた不具合を検出することができるようにしている。
まず、空燃比センサ1に生じると想定される不具合は、以下のように分類できるため、 各不具合の詳細について個別に説明する。
・検出素子2のクラック。
・検出素子2の嵌合不良。
・ヒータ3の故障。
・検出素子2の経年劣化。
・検出素子2のクラック。
・検出素子2の嵌合不良。
・ヒータ3の故障。
・検出素子2の経年劣化。
<検出素子2のクラック>
検出素子2は、上記したように固体電解質素子であり、比較的高温で使用されていることから、燃焼時に生じた水が付着した際にクラックつまりはひびが生じるおそれがある。なお、検出素子2が完全に破損してしまった場合には、抵抗値が無限大となることから別途異常として検出できるため、ここでは検出素子2の一部が破損する状態をクラックと称している。
検出素子2は、上記したように固体電解質素子であり、比較的高温で使用されていることから、燃焼時に生じた水が付着した際にクラックつまりはひびが生じるおそれがある。なお、検出素子2が完全に破損してしまった場合には、抵抗値が無限大となることから別途異常として検出できるため、ここでは検出素子2の一部が破損する状態をクラックと称している。
さて、クラックが生じると、検出素子2の抵抗値は、クラックが生じていない正常動作時の抵抗値と比べて大きく増加する。以下、正常動作時の抵抗値を、便宜的に目標抵抗値と称する。そして、検出素子2の抵抗値が目標抵抗値よりも増加した場合には、検出に最適な状態を維持するためには、検出素子2の抵抗値を目標抵抗値に近づけること、つまりは、検出素子2を加熱して抵抗値を下げることが必要となる。
そのため、検出素子2にクラックが生じた場合には、ヒータ3の温度を上昇させる必要があることから、図2に示すように、クラック発生時におけるPWM信号の1周期(1T)におけるオン期間(Ton)の割合が、正常動作時におけるPWM信号のオン期間(Ton)の割合よりも大きくなる。
このため、PWM信号のデューティ比が短期間例えば直近のデューティ比に対して大きく増加した場合には、検出素子2にクラック発生の不具合が生じたと考えられる。この場合、嵌合不良との区別を付けるために、デューティ比が増加してから所定の判定期間には変化が観測されなかった場合に、クラック発生の不具合が生じたと判定する構成とすることもできる。
<検出素子2の嵌合不良>
検出素子2は、上記したように嵌合部4を介してセンサ本体に固定されている。この嵌合部4は、物理的な接続部材であり、破損した場合には、振動等によって、接触状態が変化するいわゆる接触不良のような不具合が生じると考えられる。このような嵌合不良が生じた場合、接触状態に応じて検出素子2の抵抗値が変化するようになり、正常動作時の抵抗値と同じ値になったり、正常動作時の抵抗値よりも大きく増加したりする状態が観測されることになる。つまり、嵌合不良となった場合には、検出素子2の抵抗値は、時系列で見ると比較的短期間にその値が変動すると考えられる。
検出素子2は、上記したように嵌合部4を介してセンサ本体に固定されている。この嵌合部4は、物理的な接続部材であり、破損した場合には、振動等によって、接触状態が変化するいわゆる接触不良のような不具合が生じると考えられる。このような嵌合不良が生じた場合、接触状態に応じて検出素子2の抵抗値が変化するようになり、正常動作時の抵抗値と同じ値になったり、正常動作時の抵抗値よりも大きく増加したりする状態が観測されることになる。つまり、嵌合不良となった場合には、検出素子2の抵抗値は、時系列で見ると比較的短期間にその値が変動すると考えられる。
そのため、嵌合不良が生じた場合には、ヒータ3の温度を短期間に異なる温度に調整する必要があることから、図3に示すように、嵌合不良時におけるPWM信号の1周期(1T)におけるオン期間(Ton)の割合が、正常動作時におけるPWM信号のオン期間(Ton)とずれた状態が観測されるとともに、そのずれが比較的短期間に変化することになる。このため、PWM信号のデューティ比が正常動作時のデューティ比から大きくずれており、且つ、そのずれ量が比較的短期間に変化するような増加態様が観測された場合には、嵌合不良発生の不具合が生じたと考えられる。
<ヒータ3の故障>
ヒータ3が故障した場合、ヒータ3の温度を上げようとしても上がり難くなり、正常動作時と同じPWM信号で制御しても検出素子2が最適な温度とならず、検出素子2の抵抗値が徐々に大きくなり続けると考えられる。そのため、検出に最適な状態を維持するためには、検出素子2の加熱を徐々に大きくしていき、抵抗値が最適となるようにする必要がある。
ヒータ3が故障した場合、ヒータ3の温度を上げようとしても上がり難くなり、正常動作時と同じPWM信号で制御しても検出素子2が最適な温度とならず、検出素子2の抵抗値が徐々に大きくなり続けると考えられる。そのため、検出に最適な状態を維持するためには、検出素子2の加熱を徐々に大きくしていき、抵抗値が最適となるようにする必要がある。
そのため、ヒータ3が故障した場合には、ヒータ3の温度を徐々に上昇させる必要があることから、図4に示すように、PWM信号の1周期(1T)におけるオン期間(Ton)の割合が、正常動作時におけるPWM信号のオン期間(Ton)の割合よりも大きくなるとともに、継続的に大きくなり続けると考えられる。このため、PWM信号のデューティ比が正常動作時のデューティ比から継続的に大きくなるように変化する増加態様が観測された場合には、ヒータ3故障の不具合が生じたと考えられる。なお、増加期間(P1)は、以下に説明するように、経年劣化と区別するために計測されている。
<検出素子2の経年劣化>
検出素子2は、使用期間が長くなるにつれてその特性が変化するいわゆる経年劣化が生じると想定される。そして、空燃比センサ1の検出素子2は、経年劣化するにつれて抵抗値が徐々に増加する。そのため、検出に最適な状態を維持するためには、検出素子2の加熱を徐々に大きくしていき、抵抗値が最適となるようにする必要がある。
検出素子2は、使用期間が長くなるにつれてその特性が変化するいわゆる経年劣化が生じると想定される。そして、空燃比センサ1の検出素子2は、経年劣化するにつれて抵抗値が徐々に増加する。そのため、検出に最適な状態を維持するためには、検出素子2の加熱を徐々に大きくしていき、抵抗値が最適となるようにする必要がある。
そのため、ヒータ3が故障した場合には、ヒータ3の温度を徐々に上昇させる必要があることから、図4に示すように、PWM信号の1周期(1T)におけるオン期間(Ton)の割合が、正常動作時におけるPWM信号のオン期間(Ton)の割合よりも大きくなるとともに、継続的に大きくなり続けると考えられる。
そして、経年劣化の場合には、図5にグラフG2として示すように、抵抗値が所定の判定値まで増加する増加期間(P2)は、グラフG1として示すヒータ3故障における増加期間(P1)と比べて、長くなると予想される。このため、PWM信号のデューティ比が正常動作時のデューティ比から継続的に大きくなるように変化しており、且つ、その増加期間(P2)が予め設定されている経年劣化判定期間(Pa)よりも長い状態の増加態様が観測された場合には、ヒータ3故障ではなく検出素子2の経年劣化の不具合が生じたと考えられる。
このように、空燃比センサ1に生じると想定される各種の不具合は、検出素子2の抵抗値の増加つまりはデューティ比の変化を招くと考えられる。そのため、PWM信号のデューティ比が時系列で変化した場合、空燃比センサ1に何らかの不具合が生じたと判定することができるとともに、デューティ比が変化した際の増加態様を観測することにより、不具合の種類を特定することができる。
そのため、制御装置10は、空燃比センサ1により酸素濃度を検出処理に加えて、以下に説明する不具合判定処理を実行する。なお、以下では説明の簡略化のために、図6において検出素子2のクラック発生と嵌合不良とを判定する処理の流れを示し、図7においてヒータ3の故障と検出素子2の経年劣化とを判定する処理の流れを示しているが、これらの処理は同時あるいは並列に行うことができる。また、図6、図7に示す処理は、制御装置10において不具合検出プログラムを実行することにより行われる。
図6に示す不具合判定処理では、制御装置10は、各種の変数を初期化する(S101)。具体的には、制御装置10は、直近のデューディ比(PWMb)を正常動作時のデューティ比である目標値に設定するとともに、異常の回数をカウントする異常CNTを0に初期化する。なお、目標値は、検出素子2やヒータ3の仕様や設計値に基づいて設定することもできるし、出荷時試験等により測定した正常動作時の実測値を設定することもできる。
初期化が終了すると、制御装置10は、検出素子2の抵抗値(Rn)を取得し(S102)、抵抗値の差分(Rd)を、Rd=最適値−Rnとして求める(S102)。なお、最適値は、検出素子2の仕様に基づいて設定することができる。そして、制御装置10は、検出した現在の抵抗値(Rd)が最適値となるようにヒータ3の温度を調整するためのPWM信号を生成するPWMN制御処理を実行する(S104)。このとき、現在のPWM信号のデューティ比(PWMn)が決定される。
続いて、制御装置10は、デューティ比の差分(PWMd)をPWMd=|PWMn−PWMb|として求めた後(S105)、直近のデューティ比(PWMb)として現在のデューティ比(PWMn)を新たに記憶する(S106)。そして、制御装置10は、デューティ比の差分(PWMd)がクラック判定値よりも大きいか否かを判定する(S107)。このクラック判定値は、デューティ比の変化量が誤差範囲を超えているか否かを判定するために予め設定されている。
制御装置10は、デューティ比の差分(PWMd)がクラック判定値よりも大きいと判定した場合には(S107:YES)、クラック発生の不具合が生じたと判定して、クラック発生処理を実行する(S108)。なお、クラック発生処理では、クラック発生の報知等、クラックが発生した場合に取るべき対処が行われる。
一方、制御装置10は、デューティ比の差分(PWMd)がクラック判定値よりも大きくないと判定した場合には(S108:YES)、嵌合判定値よりも大きいか否かを判定する(S109)。この嵌合判定値は、嵌合不良を判定するために予め設定されている値であり、クラック判定値よりも大きい値が設定されている。
制御装置10は、デューティ比の差分(PWMd)が嵌合判定値よりも大きくないと判定した場合には(S109)、異常CNTを0にした後(S113)、ステップS102に移行する。つまり、制御装置10は、デューティ比の差分(PWMd)が嵌合判定値を超えていない場合には、嵌合不良とは判定しない。
これに対して、制御装置10は、デューティ比の差分(PWMd)が嵌合判定値よりも大きくないと判定した場合には(S109)、異常CNTをインクリメントした後(S110)、異常CNTが予め設定されている異常確定値を超えたか否かを判定する(S111)。この異常確定値は、嵌合判定値を超えるような大きなデューティ比の変化が連続して何回発生したかを判定する値である。
さて、制御装置10は、異常CNTが異常確定値を超えていないと判定した場合には(S111:NO)、ステップS102に移行する。つまり、制御装置10は、嵌合判定値を超えるデューティ比の変化が、異常確定値を超えるまで連続していない時点では、まだ嵌合不良とは判定しない。
一方、制御装置10は、異常CNTが異常確定値を超えていると判定した場合には(S111:YO)、嵌合判定値を超えるような大きなデューティ比の変化が連続して複数回観測されたことから、嵌合不良の不具合が発生したとして、嵌合不良処理を実行する(S112)。この嵌合不良処理では、嵌合不良が発生したことの報知等、嵌合不良が発生した場合に取るべき対処が行われる。このようにして、制御装置10は、検出素子2のクラック発生と嵌合不良とを判定している。
また、制御装置10は、図7に示す不具合判定処理では、各種の変数を初期化する(S201)。具体的には、制御装置10は、直近のデューディ比(PWMb)、異常CNTを初期化するとともに、デューティ比の差分(PWMd)の累積値(PWMi)と、タイムCNTを読み出す。この、累積値(PWMi)は、初回の起動時に0に設定され、その後、現在までの運転において計測されたデューティ比の差分(PWMd)が累積されて例えば不揮発性のメモリ等に記憶されている。また、タイムCNTは、累積を始めてから経過した期間をカウントしている値であり、不揮発性のメモリ等に記憶されている。
初期化が終了すると、制御装置10は、上記した図6と同様に、検出素子2の抵抗値(Rn)を取得し(S202)、抵抗値の差分(Rd)を最適値−Rnとして求め(S202)、PWMN制御処理を実行し(S204)、デューティ比の差分(PWMd)を|PWMn−PWMb|として求める(S205)。
そして、制御装置10は、タイムCNTをインクリメントした後(S207)、累積値(PWMi)が故障判定値を超えたか否かを判定する(S208)。この故障判定値は、累積値(PWMi)の上限を示すものであり、累積値(PWMi)がこの故障判定値を超えると、故障ここではヒータ3故障または経年劣化のいずれかであると判定するために設定されている。
制御装置10は、累積値(PWMi)が故障判定値よりも大きくないと判定した場合には(S208:NO)、ステップS202に移行する。この場合、制御装置10は、空燃比センサ1が故障していないと判定していることになる。一方、制御装置10は、累積値(PWMi)が故障判定値よりも大きいと判定した場合には(S208:YES)、タイムCNTが上記した経年劣化判定期間(Pa)に対応する経年劣化判定値よりも大きいか否かを判定する(S209)。
そして、制御装置10は、累積値(PWMi)が経年劣化判定値よりも大きいと判定した場合には(S209:YES)、経年劣化判定期間(Pa)を経過した状態で累積値(PWMi)が上限に達したことから、経年劣化であると判定して、経年劣化処理を実行する(S210)。この経年劣化処理では、経年劣化が発生したことや取り換え時期がきたことの報知等、経年劣化が発生した際に取るべき対処が行われる。
これに対して、制御装置10は、累積値(PWMi)が経年劣化判定値よりも大きくないと判定した場合には(S209:NO)、つまりは、増加期間(P1)が経年劣化判定期間(Pa)以下である場合には、比較的短期間に累積値(PWMi)が上限に達したことから、ヒータ3故障であると判定して、ヒータ3故障処理を実行する(S211)。このヒータ3故障処理では、ヒータ3が故障したことや取り換え時期がきたことの報知等、ヒータ3故障時に取るべき対処が行われる。
以上説明した制御装置10、不具合検出プログラムによれば、次のような効果を得ることができる。
制御装置10は、酸素濃度を検出する検出素子2と、検出素子2の抵抗値が所定の目標抵抗値となるように当該検出素子2の温度を調整するPWM制御されるヒータ3とを有する空燃比センサ1を制御するものであって、ヒータ3に与えるPWM信号を生成する温度制御部15と、PWM信号のデューティ比時系列での増加態様に基づいて空燃比センサ1に不具合が生じたか否かを判定する判定部17と、を備える。
制御装置10は、酸素濃度を検出する検出素子2と、検出素子2の抵抗値が所定の目標抵抗値となるように当該検出素子2の温度を調整するPWM制御されるヒータ3とを有する空燃比センサ1を制御するものであって、ヒータ3に与えるPWM信号を生成する温度制御部15と、PWM信号のデューティ比時系列での増加態様に基づいて空燃比センサ1に不具合が生じたか否かを判定する判定部17と、を備える。
上記したように、空燃比センサ1に生じる不具合は、ヒータ3をPWM制御する際のPWM信号に影響を与えると考えられる。そのため、PWM信号のデューティ比が正常動作時におけるデューティ比に対して時系列で変化した場合には、空燃比センサ1に何らかの不具合が生じたと判定することができる。この場合、PWM信号の生成は、空燃比センサ1の制御装置10で常に行われていることであるため、追加の構成を必要とすることなく、不具合の判定を行うことができる。したがって、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサ1の制御装置10単体で、空燃比センサ1に生じた不具合を検出することができる。
また、制御装置10の判定部17は、判定部17は、直近のデューティ比(PWMb)と現在のデューティ比との差分(PWMd)が所定のクラック判定値を超えた場合、検出素子2にクラック発生の不具合が生じたと判定する。これにより、空燃比センサ1に生じることが想定される複数の不具合のうち、クラック発生の不具合を特定することができる。
また、制御装置10の判定部17は、直近のデューティ比(PWMb)と現在のデューティ比(PWMn)との差分(PWMd)が所定の嵌合不良判定値を超えたか否かを判定し、嵌合不良判定値を連続して超えた回数が所定の異常確定値を超えた場合、検出素子2の嵌合部4位に嵌合不良の不具合が生じたと判定する。これにより、空燃比センサ1に生じることが想定される複数の不具合のうち、嵌合不良発生の不具合を特定することができる。
また、制御装置10の判定部17は、直近のデューティ比(PWMb)と現在のデューティ比(PWMn)との差分(PWMd)を積算するとともに、積算した値が予め設定されている異常判定値を超えるまでに要した増加期間(P1、P2)を計測し、当該増加期間(P1、P2)が予め設定されている経年劣化判定期間(Pa)以下の場合にヒータ3が故障した不具合が生じたと判定する一方、当該増加期間(P1、P2)が経年劣化判定期間(Pa)よりも長い場合に経年劣化の不具合が生じたと判定する。これにより、空燃比センサ1に生じることが想定される複数の不具合のうち、デューティ比が同様の増加態様を示すヒータ3故障の不具合と経年劣化の不具合とを個別に特定することができる。
また、制御装置10に、PWM制御を行う際のPWM信号のデューティ比の時系列での増加態様に基づいて空燃比センサ1に不具合が生じたか否かを判定する処理を実行させることを特徴とする空燃比センサ1の不具合検出プログラムによっても、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサ1の制御装置10単体で、空燃比センサ1に生じた不具合を検出することができる。
(第2実施形態)
以下、第2実施形態について、図8から図12を参照しながら説明する。なお、空燃比センサ1や制御装置10の構成は第1実施形態と共通するので、図1等も参照しながら説明する。
以下、第2実施形態について、図8から図12を参照しながら説明する。なお、空燃比センサ1や制御装置10の構成は第1実施形態と共通するので、図1等も参照しながら説明する。
本実施形態では、空燃比センサ1は、燃焼装置としてのガス給湯器20の燃焼室21に設置されている。ガス給湯器20は、燃料と空気とが混合された状態の混合気を供給し、燃焼室21でバーナー22により混合気を燃焼させて熱交換器23を加熱することにより、タンク24内に貯留されている水(W)を加熱する。このようなガス給湯器20においては、空燃比センサ1は、燃焼室21内に設けられることになる。
さて、燃焼室21内は、混合気の供給とバーナー22の燃焼とが行われているため、矢印Yで示すように、熱の対流が周期的に発生する。そして、この周期的な熱の対流は、空燃比センサ1が設置されている部位の環境温度の周期的な変化を生じさせる。
そのため、このように周期的に熱の対流が生じる位置に空燃比センサ1を設置した場合には、空燃比センサ1の検出素子2の抵抗値が環境温度によって周期的に変化することになり、図9に示すように、グラフG11として示す環境温度が上昇する場合には抵抗値を上げるためにグラフG10として示すPWM信号のデューティ比が相対的に小さくなる一方、環境温度が低下する場合には抵抗値を下げるためにPWM信号のデューティ比が相対的に大きくなる。以下、デューティ比の周期的な変化を、デューティ比の変動とも称する。
この場合、図10に示すように、グラフG20として示す正常動作時に環境温度によって変化するデューティ比の周期(F20)を例えば極大値から極大値までの期間として求めておき、グラフG21として示す不具合発生時の周期(F21)を比較することにより、不具合の発生を特定できると考えられる。この場合、その後のデューティ比の変化を、正常動作時の周期的な変動を加味して判定することにより、第1実施形態と同様に不具合の種類も特定することができると考えられる。
ところで、ガス給湯器20の場合、電源投入の時点ではバーナー22には点火されておらず、バーナー22が点火されることにより環境温度が上昇し、定常的な燃焼状態では図9に示す周期的な変化が観測され、バーナー22が消化された場合には環境温度が低下することになる。このため、PWM信号は、図11に示すように、電源投入時付近の範囲(H1)では、検出素子2の抵抗値を素早く目標抵抗値となるようにするためにデューティ比が直線的に増加すると考えられる。なお、デューティ比は、安全性等を考慮して上限が設定されており、ある程度大きくなるとその上限で一定となる。
そして、バーナー22が点火された近傍の範囲(H2)では、環境温度が上昇したことによって相対的にヒータ3の温度を下げる必要があることから、デューティ比は徐々に低下することになる。なお、バーナー22の点火直後にも熱流センサの周囲に熱流が発生することが考えられるものの、燃焼室21の温度上昇によって検出素子2の抵抗値が大きく変化することから、それに追従するデューティ比は、概ねリニアに低下すると考えられる。
その後、バーナー22が安定した燃焼状態となると、上記した周期的なデューティ比の変動が観測されるようになり、バーナー22が消化された近傍の範囲(H3)では環境温度が低下することからデューティ比がリニアに上昇し、バーナー22が再び点火された近傍の範囲(H4)ではデューティ比が概ねリニアに低下する。
そのため、ガス給湯器20等の燃焼装置において、周期的に熱の対流が生じる位置に熱流センサを設置する場合には、熱の対流による環境温度の変化と、燃焼装置の運転状態とを考慮して不具合を判定する必要がある。
そのため、制御装置10は、それらを考慮して、図12示す不具合判定処理を実行する。この処理は、図6および図7に示した処理と同時あるいは並列に行うことができる。また、図8に示す処理は、制御装置10において不具合検出プログラムを実行することにより行われる。
制御装置10は、まず、変数を初期化する(S301)。ここでは、デューティ比が上昇しつつある状態を示す上昇フラグをオフし、直近の周波数(Fb)を0に初期化している。初期化が終了すると、制御装置10は、PWM制御処理を行う(S302)。なお、図12では省略しているが、第1実施形態と同様に、検出素子2の抵抗値に基づいてPWM信号が生成されている。
続いて、制御装置10は、デューティ比の変動を検出する処理を実行する(S303)。この処理では、時系列で取得した過去複数回のデューティ比の変化に基づいて、現在の周期(Fn)を特定している。そして、デューティ比が上昇中であって、且つ、現在の周波数(Fn)が0であるか否かを判定する(S304)。この場合、制御装置10は、デューティ比がほぼ直線状に分布しているか否か、つまりは、デューティ比がリニアに上昇中であるか否かを判定している。なお、以下に説明する下降中についても、制御装置10は、デューティ比がリニアに下降中であるか否かを判定している。
制御装置10は、デューティ比が上昇中であって、且つ、現在の周波数(Fn)が0である場合、つまりは、周期的な変動が観測されないままデューティ比がリニアに増加している場合には(S304:YES)、図11に示す範囲(H11)のように電源オンされた状態であると判断して、上昇フラグをオンし(S305)、直近の周波数(Fb)に新たに現在の周波数(Fn)を記憶した後(S306)、ステップS302に移行する。
さて、電源投入後の範囲(H1)では上記の処理が繰り返された後にデューティ比が上限に到達すると、デューティ比は上昇を止めて一定になる。このとき、制御装置10は、ステップS304においてデューティ比が上昇中ではなくなったことから(S304:NO)、デューティ比が低下中、且つ現在の周波数(F)=0であるかを判定し(S307)、この時点ではデューティ比が低下中ではないことから(S307:NO)、さらにデューティ比が一定、且つ現在の周波数(F)=0であるかを判定する(S308)。
そして、制御装置10は、現時点ではデューティ比が一定、且つ現在の周波数(F)=0であるため(S308:YES)、ステップS306に移行して直近の周波数(Fb)を更新した後、ステップS302以降の処理を繰り返す。この繰り返しは、バーナー22が点火されるまで繰り返される。
また、制御装置10は、範囲(H2)においてバーナー22が着火されると、ステップS307においてデューティ比が低下中、且つ現在の周波数(F)=0であることから(S307:YES)、ステップS306に移行して直近の周波数(Fb)を更新した後、ステップS302以降の処理を繰り返す。
その後、バーナー22が着火されてある程度の期間が経過し、燃焼室21内が安定した燃焼状態になると、上記したように周期的な変動が観測されるようになる。この場合、制御装置10は、デューティ比が上昇中、且つ現在の周波数(F)=0ではなく(S305:NO)、デューティ比が下降中、且つ現在の周波数(F)=0ではなく(S307:NO)、デューティ比が一定、且つ現在の周波数(F)=0でもないことから(S308:NO)、上昇フラグがオンであるか否かを判定し、現時点では上昇フラグがオンであるので(S309:YES)、周波数の差分(ΔF)をΔF=|Fb−Fn|として求め、求めた差分(ΔF)が周期異常判定値を超えているか否かを判定する(S310)。この周期異常判定値は、図10に示した大きな周波数のずれ、つまりは不具合の発生を判定するために予め設定されている。
そして、制御装置10は、範囲(H2)の終点のように、リニアな変動は観測されなくなったものの、求めた差分(ΔF)が周期異常判定値を超えていない場合には(S310:NO)、上昇フラグをオフした後(S311)、ステップS306に移行する。このように上昇フラグをオフすることにより、不具合の判定から除外すべき期間が終了したこと、つまりは、次回以降の処理では不具合を検出すべきであることが判明する。
そのため、制御装置10は、次回以降の処理において、求めた差分(ΔF)が周期異常判定値を超えている場合には(S310:YES)、不具合が生じたとして不具合検出処理を実行する(S312)、この不具合検出処理では、第1実施形態で説明した4つの不具合の検出や、所定のいずれかの不具合の検出が行われる。なお、不具合が検出されずに例えば範囲(H3)に到達した場合には、制御装置10は、デューティ比がリニアに増減しているか否かに基づいて不具合の判定を行うことになる。
そして、不具合検出処理が終了すると、制御装置10は、何らかの不具合が生じたことから、全体の処理を終了する。ただし、まだ継続して酸素濃度の検出が可能なレベルの不具合であれば、ステップS302に移行することもできる。
以上説明した制御装置10、不具合検出プログラムによれば、次のような効果を得ることができる。
空燃比センサ1は、周期的に熱の対流が生じる位置に設置されており、制御装置10の判定部17は、デューティ比の周期的な変化を計測し、計測した変化周期が、予め設定されている周期異常判定値を超えて変化した場合、空燃比センサ1に不具合が生じたと判定する。これにより、例えばガス給湯器20のように、空燃比センサ1の設置場所の環境温度が周期的に変化する場合であっても、正確に酸素濃度を検出することが可能になるとともに、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサ1の制御装置10単体で、空燃比センサ1に生じた不具合を検出することができる。
空燃比センサ1は、周期的に熱の対流が生じる位置に設置されており、制御装置10の判定部17は、デューティ比の周期的な変化を計測し、計測した変化周期が、予め設定されている周期異常判定値を超えて変化した場合、空燃比センサ1に不具合が生じたと判定する。これにより、例えばガス給湯器20のように、空燃比センサ1の設置場所の環境温度が周期的に変化する場合であっても、正確に酸素濃度を検出することが可能になるとともに、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサ1の制御装置10単体で、空燃比センサ1に生じた不具合を検出することができる。
また、制御装置10の判定部17は、周期的なデューティ比の変化を計測し、周期的な変化が現れていない状態でデューティ比が上昇している場合、周期的な変化が現れていない状態でデューティ比が低下している場合、および、周期的な変化が現れていない状態でデューティ比が一定となっている場合には、デューティ比が時系列で変化しても不具合と判定しない。これにより、例えば範囲(H1)〜範囲(H4)のようにデューティ比が変化しているものの不具合ではない状況を除外した状態で不具合の発生を判定することが可能となり、誤判定するおそれを低減することができる。
また、制御装置10に上記の処理を実行させる判定プログラムによっても、空燃比センサ1の設置場所の環境温度が周期的に変化する場合であっても、正確に酸素濃度を検出することが可能になるとともに、酸素濃度の検出に最適な状態を維持したままで、且つ、空燃比センサ1の制御装置10単体で、空燃比センサ1に生じた不具合を検出することができる。
また、各実施形態で示した構成は一例であり、その要旨を変更しない範囲で適宜変更或いは組み合わせることができる。
第1実施形態ではクラックの発生と嵌合不良とを1つの流れにおいて判定する例を示したが、クラック判定値の方が嵌合判定値よりも高く設定される場合を考慮して、クラック発生の判定と嵌合不良の判定とを別の処理とすることもできる。
第2実施形態では燃焼装置としてガス給湯器20を例示したが、内燃機関等、排気ガスを発生させる装置であれば他の燃焼装置に適用することができる。
実施形態ではデューティ比の変化に基づいて不具合を判定する構成を示したが、デューティ比はPWM信号の1周期(1T)におけるオン期間(Ton)の割合であり、PWM信号の周期(1T)は一定であることから、デューティ比が特定されればオン期間(Ton)およびオフ期間(Toff)を一義的に求めることができ、逆に、オン期間(Ton)またはオフ期間(Toff)が特定されればデューティ比を求めることができる。そのため、デューティ比の変化ではなく、オン期間(Ton)の変化あるいはオフ期間(Toff)の変化を検出することによっても、あるいは、PWM制御処理においてPWM信号を生成するために演算された演算値によっても、空燃比センサ1の不具合を判定することができる。すなわち、PWM信号のデューティ比の変化を実質的に特定可能なオン期間(Ton)の変化やオフ期間(Toff)の変化ならびに演算値の変化に基づいて空燃比センサ1の不具合を判定する構成も、本願の技術的範囲に含まれている。
実施形態では直近のデューティ比(PWMb)や周波数(Fb)との差分により不具合を判定する構成を例示したが、例えば過去サイクル分のデータの平均値や移動平均値を直近のデューティ比(PWMb)や周波数(Fb)として扱う構成とすることもできる。すなわち、直近のデューティ比(PWMb)や直近の周波数(Fb)とは、技術的あるいは常識的に現在のデューティ比(PWMn)や現在の周波数(Fn)と対比させることができるデータであればよく、必ずしも直前に取得したデータに限定されるものではない。
図面中、1は空燃比センサ、2は検出素子、3はヒータ、4は嵌合部、10は制御装置、12は抵抗値検出回路(抵抗値検出部)、14はヒータ制御回路(ヒータ制御部)、15は温度制御部、17は判定部、20はガス給湯器(燃焼装置)を示す。
Claims (7)
- 酸素濃度を検出する検出素子と、前記検出素子の抵抗値が所定の目標抵抗値となるように当該検出素子の温度を調整するPWM制御されるヒータとを有する空燃比センサを制御する制御装置であって、
前記検出素子の抵抗値を検出する抵抗値検出部と、
前記抵抗値検出部で検出した前記検出素子の抵抗値に基づいて前記ヒータに与えるPWM信号を生成する温度制御部と、
前記PWM信号のデューティ比の時系列での増加態様に基づいて前記空燃比センサに不具合が生じたか否かを判定する判定部と、
を備えることを特徴とする空燃比センサの制御装置。 - 前記判定部は、直近のデューティ比と現在のデューティ比との差分が所定のクラック判定値を超えた場合、検出素子にクラック発生の不具合が生じたと判定することを特徴とする請求項1記載の空燃比センサの制御装置。
- 前記判定部は、直近のデューティ比と現在のデューティ比との差分が所定の嵌合不良判定値を超えたか否かを判定し、嵌合不良判定値を連続して超えた回数が所定の異常確定値を超えた場合、前記検出素子の嵌合部位に嵌合不良の不具合が生じたと判定することを特徴とする請求項1または2記載の空燃比センサの制御装置。
- 前記判定部は、直近のデューティ比と現在のデューティ比との差分を累積するとともに、累積した値が予め設定されている異常判定値を超えるまでに要した増加期間を計測し、当該増加期間が予め設定されている経年劣化判定期間以下の場合に前記ヒータが故障した不具合が生じたと判定する一方、当該増加期間が前記経年劣化判定期間よりも長い場合に経年劣化の不具合が生じたと判定することを特徴とする請求項1から3のいずれか一項記載の空燃比センサの制御装置。
- 前記空燃比センサは、周期的に熱の対流が生じる位置に設置されており、
前記判定部は、デューティ比が変化する周期を計測し、計測した周期が予め設定されている周期異常判定値を超えて変化した場合、前記空燃比センサに不具合が生じたと判定することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項記載の空燃比センサの制御装置。 - 前記判定部は、デューティ比が変化する周期を計測し、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が上昇している場合、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が低下している場合、および、周期的な変化が観測されていない状態でデューティ比が一定となっている場合には、デューティ比が時系列で変化していても不具合と判定しないことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項記載の空燃比センサの制御装置。
- 酸素濃度を検出する検出素子と、前記検出素子の抵抗値が所定の目標抵抗値となるように当該検出素子の温度を調整するPWM制御されるヒータとを有する空燃比センサの制御装置に、
前記検出素子の抵抗値に基づいて前記ヒータに与えるために生成されるPWM信号のデューティ比の時系列での増加態様に基づいて、前記空燃比センサに不具合が生じたか否かを判定する処理を実行させることを特徴とする空燃比センサの不具合検出プログラム。
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