JP6985335B2 - 磁粉探傷検査用試験体およびその製造方法 - Google Patents
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Description
磁粉探傷検査システムの傷検出性能を評価する強磁性体の試験体において、
傷の内部に非磁性物質を含浸し、
傷の内部に磁粉が入り込まないことを特徴とする。
前記強磁性体は、鉄であり、
前記非磁性物質は、前記傷の略底部まで含浸していることを特徴とする。
前記非磁性物質は、シリコーンであることを特徴とする。
前記試験体の表面の前記傷の内部に含浸されなかった前記非磁性物質は、除去されていることを特徴とする。
傷の表面に非磁性物質を塗布する工程と、
真空を用いて前記傷の内部の略底部まで前記非磁性物質を含浸する工程と、
前記傷の内部に含浸されなかった前記非磁性物質を除去する工程と、を有することを特徴とする。
前記真空は、マイナス70kPa以下であることを特徴とする。
この試験体を磁粉探傷検査に用いると、照明角度や観測角度によらない磁粉指示模様を形成することが出来る。さらに、使用後は、傷内部に磁粉が入り込まない構造なので、容易に磁粉を除去することが可能であり、再現性が高い。
本発明の実施例1として、図1に示した様に、鉄棒に、軸方向に、幅50μm、長さ5mm、深さ0.3mmの人工傷をレーザー加工法で作成した。この試験体に粘度40Pa・sのシリコーンを0.5mmの厚さで塗布した後、マイナス75kPaの真空で傷内部の空気を除去し、これを大気圧に戻す過程で傷内部にシリコーンを略底部まで含浸させた。この試験体を軸通電法で500Aの電流を5秒間通電して磁化した。蛍光磁粉を塗布して磁粉指示模様を得た。
比較例1として、実施例1で作成したものと同様の人工傷のある鉄棒に、シリコーンを手で塗り込んだ試験体を作成した。この試験体を軸通電法で磁化し、蛍光磁粉を塗布して磁粉指示模様を得た。
比較例2として、実施例1で作成したものと同様の人工傷のある鉄棒をもちい、傷内部には何も充填しない状態の試験体を作成した。この試験体を軸通電法で磁化し、蛍光磁粉を塗布して磁粉指示模様を得た。
磁粉探傷検査として得られた磁粉指示模様を比較した。図5に蛍光磁粉光量の角度依存性を示した。角度は傷に対して直角方向の角度である。実施例1および比較例1では、図5の様に傷の幅方向の観測角度を変化させても、指示模様の明るさはほとんど変化しなかった。一方、比較例2では、図5に示した様に、大きな観測角度依存性がみられた。表面に対して垂直方向が最も明るく、観測角度を10°にすると明るさは50%に低下した。
試験体の再利用の為に、消磁を行い、ブラッシングを行った。実施例1と比較例1について、表面の拡大写真を図6A、6B、7A、7Bに示す。図の右下に0.1mmのスケールを表示した。図6Aは実施例1の使用前の状態を示し、図6Bは実施例1のクリーニング後を示す。実施例1では、クリーニング後、磁粉は除去されたが傷内部のシリコーンは除去されず、再利用可能である。図7Aは比較例1の使用前の状態を示し、図7Bは比較例1のクリーニング後を示す。比較例1の場合、磁粉は除去されたが、人工傷内のシリコーンも一部取り除かれてしまった。比較例1は再利用すると傷内部に磁粉が入り込む為、再現性が得られない。比較例2の場合、人工傷内部の磁粉は完全に除去する事が出来なかった。
磁粉探傷検査用試験体の実施例として、実施例1、比較例1、比較例2の磁粉探傷検査を行った結果、実施例1と比較例1は観測角度に依存しない磁粉指示模様が得られた。一方比較例2では、磁粉指示模様が得られたが、測定角度が変わると明るさが低減する不備があった。
さらに、クリーニングでは、実施例1と比較例1は磁粉を除去できたが、比較例2は傷の中に磁粉が残存した。また、再利用については、実施例1は良好であったが、比較例1は傷内に塗り込んだシリコーンがクリーニングの際に除去されてしまった為、再利用は出来なかった。比較例2も、傷内部に磁粉が残存した為、再利用出来なかった。
2、12 傷
3、13 非磁性物質
4、14 底部
Claims (6)
- 磁粉探傷検査システムの傷検出性能を評価する強磁性体の試験体において、
傷の内部に非磁性物質を含浸し、
傷の内部に磁粉が入り込まないことを特徴とする磁粉探傷検査用試験体。 - 前記強磁性体は、鉄であり、
前記非磁性物質は、前記傷の略底部まで含浸していることを特徴とする、
請求項1に記載の磁粉探傷検査用試験体。 - 前記非磁性物質は、シリコーンであることを特徴とする、
請求項1または2に記載の磁粉探傷検査用試験体。 - 前記試験体の表面の前記傷の内部に含浸されなかった前記非磁性物質は、除去されていることを特徴とする、
請求項1乃至3のいずれかに記載の磁粉探傷検査用試験体。 - 磁粉探傷検査システムの傷検出性能を評価する試験体の製造方法において、
傷の表面に非磁性物質を塗布する工程と、
真空を用いて前記傷の内部の略底部まで前記非磁性物質を含浸する工程と、
前記傷の内部に含浸されなかった前記非磁性物質を除去する工程と、を有することを特徴とする、
磁粉探傷検査用試験体の製造方法。 - 前記真空はマイナス70kPa以下であることを特徴とする、
請求項5に記載の磁粉探傷検査用試験体の製造方法。
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