JPS6225253A

JPS6225253A - 磁粉探傷方法

Info

Publication number: JPS6225253A
Application number: JP16490285A
Authority: JP
Inventors: Yasuhiro Yoshida; 泰洋吉田; Masaru Haneda; 羽根田　勝
Original assignee: NIPPON HIKOKI KK; Japan Aircraft Manufacturing Co Ltd
Current assignee: NIPPON HIKOKI KK; Japan Aircraft Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1985-07-25
Filing date: 1985-07-25
Publication date: 1987-02-03

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の技術分野〕この発明は磁粉探（ｍ方法に関するものである。

（発明の技術的背景とその問題点〕・蛍光物質を被着させた磁粉を用いて被検査材の表面疵
を探傷する１４１粉探傷方法には、乾燥磁粉を使用する
乾式と、磁粉を水や油等の溶液に混入した磁粉溶液を使
用する湿式とがあるが、一般には、湿式が広く利用され
ている。

この旧式の磁粉探傷方法は、被検査材を磁化させてこの
被検査材の表面に磁粉溶液を散布し、この後被検査材表
面の残存磁粉を検査して被検査材の表面疵を探傷するも
ので、被検査材を磁１ヒすると、その表面疵部分が［ｉ
となってこの部分に磁粉が吸着され、この後被検査材を
暗）に入れて被検査材にブラックライトを当てれば被検
査材表面の磁粉〈磁粉表面の蛍光物質）が光って見える
から、被検査材の表面疵を容易に探（ｎすることができ
る。

ところで、魁粉探１においては、被検査材の表面に散布
されたｖＡ扮が疵部分だけでなく被検査材表面の疵のな
い部分にも付着するために、被検査材表面にブラックラ
イトを当てて疵を検査する時に、疵のない部分に付着し
た磁粉も光って見えることになり、そのために、光って
見える部分が疵か否かの判断が面倒で、疵が小さい場合
には疵を見落してしまったり、疵がないにもかかわらず
疵があると判定してしまったりする誤認を生ずることが
あった。また、最近では、被検査材の表面をテレビカメ
ラで搬影して画像処理により自動的に疵検査を行なう方
法が採用されるようになってきているが、この場合には
、被検査材を直接目視して検査する場合に比べてさらに
ＷＡ認の度合いが増加する心配があった。

このため、従来から、疵の検査を行なう前にまず被検査
材表面の疵以外の部分に付着した不要な磁粉を除去し、
この後に疵の検査を行なうことが考えられているが、こ
の不要磁粉の除去は、疵部分の磁粉をも除去してしまわ
ないようにして行なう必要があるために、従来は、被検
査材に空気を吹付けて被検査材表面の不要磁粉を吹飛ば
すエアーブロ一方法が検討されている。

しかしながら、このエアーブロ一方法は、乾式の磁粉探
傷にはある程度効果があるが、湿式の場合は不要磁粉の
除去効果はあまり期待できず、逆に磁粉溶液が吹き寄せ
られて縞状の紋様を作るから、疵の検査時にこの部分を
疵と誤認してしまうおそれがあった。

〔発明の目的〕

この発明は上記のような実情にかんがみてなされたもの
であって、その目的とするところは、被検査材の表面に
付着した不要磁粉を効果的に除去して、疵検査時におけ
るｔ［をなくすことができる磁粉探傷方法を提供するこ
とにある。

〔発明の概要〕

すなわち、この発明は、被検査材を磁化してその表面に
磁粉溶液を散布した後、この被検査材を磁化させた状態
で被検査材の表面に散水して被検査材表面に付着してい
る不要磁粉を洗い流し、この後被検査材表面の残存磁粉
を検査して被検査材の表面疵を探傷することを特徴とす
るものである。

つまり、この発明は、従来全く考えられていなかった水
による洗浄で被検査材表面の不要磁粉を除去するもので
あり、水により被検査材の表面を洗浄すれば、被検査材
の表面に付着した不要磁粉を完全に洗い流すことができ
るし、また、被検査材を磁化した状態で散水を行なえば
、疵部分の磁粉はこの疵部分に磁気吸着されてそのほと
んどが洗い流されることなく残るから、不要磁粉だけを
効果・的に除去して、疵検査時における誤認をなくすこ
とができる。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の一実施例を被検査材が鋼管である場合
についてｔ面を参照し説明する。

第１図は磁粉探傷工程を示したもので、（ａ）は磁粉溶
液散布工程、（ｂ）は不要磁粉除去工程、（Ｃ）は疵検
査工程を示している。

まず、第１図（ａ）に、示した石粉溶液散布工程につい
て説明すると、この磁粉溶液の散布は、従来の湿式磁粉
探傷方法と同様に、被検査材１を飽和磁化させた状態で
行なわれる。なお、この実施例では被検査材１の磁化方
法として、被検査材１に通電棒２を挿通し、この通電棒
２に磁化電流を流して被検査材１を磁化させる貫通法を
採用している。また、被検査材１を飽和磁化させるのに
必要な磁化Ｎ流は、被検査材１の大きさおよび材質によ
って異なるが、例えば直径３５５ｇ、肉厚２．０ａｍ１
長さ３００〜５００ａｘの鋼管の場合は、１０００Ａ程
度で十分である。一方、被検査材表面への磁粉溶液の散
布は、被検査材１を飽和磁化させた状Ｂ（！１化電流を
通電したままの状態）で被検査材１を回転させながら行
なわれる。この磁粉溶液の散布方法としては、種々の方
法があるが、この実施例では、長さ方向に沿って多数の
散布孔を設けた磁粉溶液散布管３を用いて被検査材１の
表面にその全長にわたって同時に磁粉溶液４を散布する
方法を採用している。この磁粉溶液４は、前述したよう
に、螢光物質（例えば螢光塗料）を被着させた磁粉を水
や油等の溶液に混入したもので、螢光物質は、水や油等
の溶液に溶解しにくいものが使用されている。

このように、被検査材１を飽和磁化させた状態でその表
面に磁粉溶液４を散布すると、被検査材１の表面に疵ａ
がある場合にはこの疵部分が磁極となって散布された磁
粉溶液４中の磁粉を吸着する。また、散布された磁粉溶
液４は、被検査材表面を伝って流れ落ちる（この流れ落
ちた磁粉溶液は回収されて再使用される）が、一部の磁
粉溶液は被検査材１の表面に残るから、被検査材表面の
疵ａのない部分にも、被検査材表面の全域にわたって磁
粉溶液４中の磁粉４ａが付着する。第４図（ａ）は磁粉
溶液散布後の被検査材表面を拡大して示したもので、疵
ａのない部分に付着した磁粉４ａの密度は疵部分に吸着
された磁粉４ａの密度に比べれば疎らではあるが、この
まま疵検査を行なったのでは、疵ａのない部分に付着し
た磁粉４ａも光って見えるから、疵検査に誤認を生じさ
せるおそれがある。

そこで、この磁粉探傷方法では、被検査材１の表面に磁
粉溶液４を散布した後に、被検査材表面に付着している
不要磁粉を水による洗浄で除去してから疵検査を行なう
ようにしている。

この不要磁粉の除去は、第１図（ｂ）に示すように、被
検査材１を磁化させた状態でその表面に散水することに
よって行なわれる。

この不要磁粉の除去を具体的に説明すると、第２図およ
び第３図は不要磁粉除去装置を示したもので、不要磁粉
除去部に搬入された被検査材１は、回転ローラ５，５に
支持され、このロー５５，５０回転によって回転される
ようになっている。また、６は被検査材１の磁化装置で
あり、この実施例では被検査材１の磁化に、被検査材１
内に通電棒７を挿入しこの通電棒７°に磁化電流を流し
て被検査材１を磁化させる貫通法を利用している。なお
、図中８はシリンダ等によって軸方向に移動される通電
棒支持体、９ａは通電棒支持体８に取付けられた可動電
慟、９ｂは固定１ｉ糧であり、前記通電棒７は、その基
端を可動電極９ａに取付けて通電棒支持体８に片持ら支
持されている。そして、通電棒７は、不要磁粉除去部に
被検査材１が搬入された後に、通電棒支持体８の前進移
動によって被検査材１内に挿入されるようになっており
、この通電棒７の先端を固定％ｆｉ９ｔ）に接触させて
通電棒７に磁化電流を通電すると、通電＋１７の周囲に
磁界が生じて被検査材１が磁化される。

一方、第２図および第３図において、１０は被検査材１
の上方を被検査材１の長さ方向に移動する散水ノズルで
あり、この散水ノズル１０は、ガイドロッド１１に支持
されて図示しない送り開溝によって移動されるようにな
っている。また、この散水ノズル１０は、被検査材１の
散水面つまり上側表面に対して斜めに傾けて設けられて
いる。

そして、被検査材表面への散水は、磁粉溶液の散布時に
おける被検査材１の磁化電流値と同じ磁化電流を通電棒
７に通電して通電被検査材１を飽和磁化させた後に、磁
化電流の通電を続行して飽和磁化状態を維持しながら行
なわれる。また、被検査材表面への散水は、被検査材１
を回転させるとともに散水ノズル１０を被検査材１の長
さ方向に移動させながら行なわれる。このようにして被
検査材１の表面に散水すると、被検査材１の表面全体が
散水された水によって洗浄され、被検査材１の表面に付
着している不要な磁粉溶液が洗い流されて水とともに被
検査材１の下方に落下する。

なお、この洗い流された磁粉は、回収して再利用するこ
とができる。

また、この場合、被検査材１の表面疵部分に磁気吸着さ
れている磁粉も散水ノズル１０からの散水水圧を受ける
が、被検査材１を飽和磁化させておけば、疵部分の磁粉
を強く被検査材１に吸着させておくことができるから、
疵部分に吸着されている磁粉はほとんど洗い流されずに
残ることになる。ただし、散水ノズル１ｏからの散水水
圧が強すぎると、疵部分に吸着されている磁粉も洗い流
されしまうし、また、水圧か弱すぎると疵以外の部分に
付着している不要磁粉を十分洗い流すことができなくな
るから、散水水圧は１．ＯＫｇｆ／ｃｉ〜１　、５Ｋｇ
ｆ　／ｃｒＮ’ｉ度とするのが適当である。

また、被検査材表面に付着している磁粉溶液は、被検査
材表面に対して直角に近い方向から散水するほど、また
被検査材表面の近くから散水するはど効率よく洗い流す
ことができるが、磁粉溶液の除去効率を高くしすぎると
疵部分の磁粉も洗い流されてしまうから、散水ノズル１
０の被検査材表面に対する傾斜角度α・は２０〜４０度
（望ましくは約３０度）、散水ノズル１０の先端と被検
査材表面との間隔Ｈは２５〜４５Ｉ！ＩＩＩ（望ましく
は約３５　Ｍ　）とするのが適当である。

さらに、被検査材表面の同一部分に対する散水時間も、
長すぎると疵部分に吸着されている磁粉も洗い流されし
まうし、また短すぎると不要磁粉を十分洗い流すことが
できなくなるから、同一部分への散水時間は０．１〜０
．３秒（望ましくは約０．２秒）とするのが適当である
。この同一部分への散水時間は、被検査材１の回転速度
と散水ノズル１０の移動速度とによって決定されるが、
例えば被検査材１が直径３５履の鋼管である場合は、被
検査材１を約２　　ｓｅｅ／　ｒｐｍで回転させ、散水
ノズル１０を約５０Ｍ／ｓｅｅで移動させれば、同一部
分への散水時間を約０．２秒にすることができる。

第４図（ｂ）は不要磁粉を水による洗浄で除去した後の
被検査材表面を拡大して示したもので、疵ａのない部分
に付着した不要磁粉は全て洗い流されており、被検査材
１の表面には、疵ａの部分に吸着された磁粉４ａだけが
残っている。

このようにして被検査材表面の不要磁粉を除去した後は
、被検査材１を暗至に入れて被検査材表面の残存磁粉を
検査し、疵の有無を判定する。第１図（Ｃ）はこの疵検
査工程を示したもので、この実施例では、被検査材１を
回転させながら、テレビカメラ１２をブラックライト照
射器１３とともに被検査材１の長さ方向に移動させて被
検査材１の表面全域を撮影し、その画像を処理して疵の
有無を検査している。

しかして、この磁粉探傷方法では、被検査材１を磁化し
てその表面に磁粉溶液４を散布した後、この被検査材１
を磁化させた状態で被検査材１の表面に散水して被検査
材表面に付着している不要磁粉を洗い流し、この後被検
査材表面の残存磁粉を検査して被検査材の表面疵を探傷
するようにしているから、疵検査時に被検査材１の表面
にに残っている磁粉は疵部分に吸着された磁粉だけであ
り、従って、疵検査時における誤認をなくすことができ
る。なお、疵ａの検査は、被検査材１を直接目視して行
なってもよい。

つまり、このｌａ粉探儂方法は、従来全く考えられてい
なかった水による洗浄で被検査材表面の不要磁粉を除去
したものであり、水により被検査材１の表面を洗浄すれ
ば、不要磁粉を完全に洗い流すことができるし、また、
被検査材１を磁化した状態で散水を行なえば、疵部分の
磁粉はこの疵部分に磁気吸着されてそのほとんどが洗い
流されることなく残るから、不要磁粉だけを効果的に除
去して、疵検査時における誤認をなくすことができる。

なお、上記実施例では、磁粉溶液散布時および不要磁粉
除去時の被検査材１の磁化を貫通法によって行なってい
るが、この被検査材１の磁化は直接通電法やコイル法等
によって行なってもよく、また不要磁粉を除去する際の
被検査材の磁化は、磁粉溶液散布部においてこの磁粉溶
液散布部の磁化装置を利用して行なってもよい。また、
上記実施例では、不要磁粉の除去工程における被検査材
表面への散水を、１つの散水ノズル１０によりこの散水
ノズル１０を被検査材１の長さ方向に移動させながら行
なっているが、被検査材の長さ方向に複数の散水ノズル
を配列してこの各ノズルから一定時間だけ散水させるよ
うにすれば、散水ノズルを移動させる必要はないし、ま
た被検査材の一部分だけを探傷する場合は、その部分だ
けに磁粉溶液を散布すればよいから、不要磁粉の除去も
この部分にだけ散水して行なえばよい。

さらに、上記実施例では、被検査材を鋼管としているが
、この発明は、角材や板材の表面疵の探傷にも適用でき
るし、また、被検査材の磁化および［ｎ粉溶液と不要磁
粉の除去は、被検査材を搬送しながら連続的に行なって
もよい。

〔発明の効果〕この発明は、従来全く考えられていなかった水による洗
浄で被検査材表面の不要磁粉を除去するものであり、水
により被検査材の表面を洗浄すれば、被検査材の表面に
付着している不要磁粉を完全に洗い流すことができるし
、また、被検査材を磁化した状態で散水を行なえば、疵
部分の磁粉は　″この疵部分に磁気吸着されてそのほと
んどが洗い流されることなく残るから、不要磁粉だけを
効果的に除去して、疵検査時における誤認をなくすこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示したもので、第１図は磁
粉探傷工程図、第２図および第３図は不要磁粉除去装置
の正面図および縦断側面図、第４図は磁粉溶液散布後と
不要磁粉除去後の被検査材表面の拡大図である。１・・・被検査材、ａ・・・表面疵、４・・・磁粉溶液
、４ａ・・・磁粉、６・・・磁化装置、１０・・・散水
ノズル。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦１襠種ＩＪＴ第１図第２図第３図第４図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）螢光物質を被着させた磁粉を用いて被検査材の表
面疵を探傷する磁粉探傷方法において、被検査材を磁化
してその表面に磁粉溶液を散布した後、この被検査材を
磁化させた状態で被検査材の表面に散水して被検査材表
面に付着している不要磁粉を洗い流し、この後被検査材
表面の残存磁粉を検査して被検査材の表面疵を探傷する
ことを特徴とする磁粉探傷方法。
（２）被検査材の表面に散水する散水ノズルを、被検査
材の表面に対し２０〜４０度傾け、かつこのノズルを被
検査材の表面から２５〜４５ｍｍ離すとともに、散水水
圧を１．０Ｋｇｆ／ｃｍ＾２〜１．５Ｋｇｆ／ｃｍ＾２
、同一部分への散水時間を０．１〜０．３秒としたこと
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の磁粉探傷方法
。