JPH09159650A - 丸棒鋼の表面疵検査方法および装置 - Google Patents
丸棒鋼の表面疵検査方法および装置Info
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- JPH09159650A JPH09159650A JP7319297A JP31929795A JPH09159650A JP H09159650 A JPH09159650 A JP H09159650A JP 7319297 A JP7319297 A JP 7319297A JP 31929795 A JP31929795 A JP 31929795A JP H09159650 A JPH09159650 A JP H09159650A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 丸棒鋼の表面疵検査にあたり、長尺鋼材を対
象とする場合でも、設備コストの増大を招くことなく、
しかも高感度かつ高精度の疵検出を行う。 【解決手段】 丸棒鋼を軸通電により磁化して、表面疵
による磁粉模様を形成し、該棒鋼の長手方向と平行に、
紫外線スポットレーザをスキャニング照射して疵部分を
励起発光させ、該棒鋼の長手方向と平行に配置した光導
棒で励起発光光を受光し、該光導棒の端部に設置した光
電子増倍管にて信号検出する方法。また、丸棒鋼の表面
疵の磁粉模様形成を行う軸通電方式の磁粉探傷装置と、
紫外線スポットレーザを該棒鋼の長手方向と平行にスキ
ャニング照射する紫外線レーザ照射装置と、該棒鋼の長
手方向と平行に配置した光導棒と、該光導棒の端部に設
置した光電子増倍管とを有してなる装置。
象とする場合でも、設備コストの増大を招くことなく、
しかも高感度かつ高精度の疵検出を行う。 【解決手段】 丸棒鋼を軸通電により磁化して、表面疵
による磁粉模様を形成し、該棒鋼の長手方向と平行に、
紫外線スポットレーザをスキャニング照射して疵部分を
励起発光させ、該棒鋼の長手方向と平行に配置した光導
棒で励起発光光を受光し、該光導棒の端部に設置した光
電子増倍管にて信号検出する方法。また、丸棒鋼の表面
疵の磁粉模様形成を行う軸通電方式の磁粉探傷装置と、
紫外線スポットレーザを該棒鋼の長手方向と平行にスキ
ャニング照射する紫外線レーザ照射装置と、該棒鋼の長
手方向と平行に配置した光導棒と、該光導棒の端部に設
置した光電子増倍管とを有してなる装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、丸棒鋼の表面疵を
自動的に検査する方法および装置に関するものである。
自動的に検査する方法および装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】丸棒鋼の表面疵自動検査方式として、軸
通電方式の磁粉探傷法が一般に行われている。すなわ
ち、丸棒鋼に直接電流を流し、該鋼の周方向に磁束を発
生させて丸棒鋼表面を磁化し、疵部分で発生する漏洩磁
束に蛍光磁粉を付着させて疵出しを行い、ついで、該鋼
表面に紫外線を照射して、付着した蛍光磁粉を励起発光
させ、これをカメラで撮像し、２値化やノイズ除去等の
画像処理により疵部を抽出する方法である。励起発光さ
せる紫外線は、波長３２５nm近傍のもの、励起発光光の
波長は５５０〜６００nmのものが採用されている。
通電方式の磁粉探傷法が一般に行われている。すなわ
ち、丸棒鋼に直接電流を流し、該鋼の周方向に磁束を発
生させて丸棒鋼表面を磁化し、疵部分で発生する漏洩磁
束に蛍光磁粉を付着させて疵出しを行い、ついで、該鋼
表面に紫外線を照射して、付着した蛍光磁粉を励起発光
させ、これをカメラで撮像し、２値化やノイズ除去等の
画像処理により疵部を抽出する方法である。励起発光さ
せる紫外線は、波長３２５nm近傍のもの、励起発光光の
波長は５５０〜６００nmのものが採用されている。
【０００３】具体例を示すと、図４のように、丸棒鋼１
を接触式の電極２で磁化電源２２と接続して通電するこ
とで、丸棒鋼１の周方向に磁束を形成し、磁粉液散布装
置２１で磁粉液を散布する。すると、主に丸棒鋼１の長
手方向に延びる表面疵に発生した漏洩磁束に、磁粉が集
積する。そして、図５に示すように、磁粉模様の形成さ
れた丸棒鋼１を回転させつつ、紫外線照射装置２３で紫
外線を照射し、カメラ装置２４で撮像し、図示しない画
像処理装置で疵認識を行っていた。
を接触式の電極２で磁化電源２２と接続して通電するこ
とで、丸棒鋼１の周方向に磁束を形成し、磁粉液散布装
置２１で磁粉液を散布する。すると、主に丸棒鋼１の長
手方向に延びる表面疵に発生した漏洩磁束に、磁粉が集
積する。そして、図５に示すように、磁粉模様の形成さ
れた丸棒鋼１を回転させつつ、紫外線照射装置２３で紫
外線を照射し、カメラ装置２４で撮像し、図示しない画
像処理装置で疵認識を行っていた。
【０００４】また、特開平６−２０１６５５号公報に
は、高速全断面探傷を可能とする磁気光学探傷方法およ
びその装置が開示され、図６に示すように、丸棒鋼１を
磁化器２５で交流磁化して磁気飽和状態とし、疵部で生
じる漏洩磁束を光学的手段で検出する例が示されてい
る。検出手段としては、丸棒鋼１の近傍に磁気光学素子
列２６が、丸棒鋼１と平行に配設してあり、レーザ発生
装置３から発したレーザ光をスキャナ４で、磁気光学素
子列２６の長さ方向に走査して、その反射光を検光子２
７および光導棒５を経て光検出器２８ａにより検出し、
増幅器３１へ入力する。
は、高速全断面探傷を可能とする磁気光学探傷方法およ
びその装置が開示され、図６に示すように、丸棒鋼１を
磁化器２５で交流磁化して磁気飽和状態とし、疵部で生
じる漏洩磁束を光学的手段で検出する例が示されてい
る。検出手段としては、丸棒鋼１の近傍に磁気光学素子
列２６が、丸棒鋼１と平行に配設してあり、レーザ発生
装置３から発したレーザ光をスキャナ４で、磁気光学素
子列２６の長さ方向に走査して、その反射光を検光子２
７および光導棒５を経て光検出器２８ａにより検出し、
増幅器３１へ入力する。
【０００５】一方、磁気光学素子列２６への光走査域を
少し外れた位置に光検出器２８ｂが設置してあり、該検
出器２８ｂで、スキャナ４による走査の終了または開始
タイミングを検出し、移相器２９により交流電源３０お
よびゲート回路３２へ送り、増幅器３１からの信号と同
期させて、モニタ３３に探傷信号を表示する構成になっ
ている。
少し外れた位置に光検出器２８ｂが設置してあり、該検
出器２８ｂで、スキャナ４による走査の終了または開始
タイミングを検出し、移相器２９により交流電源３０お
よびゲート回路３２へ送り、増幅器３１からの信号と同
期させて、モニタ３３に探傷信号を表示する構成になっ
ている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】棒状鋼材の品質管理
は、産業構造の高度化に伴い、より厳格化されつつあ
る。一方、生産設備についても、高能率化および省力化
の要求が益々高まっており、近年、表面疵検査装置の性
能および機能は、著しい改善が図られてきている。上記
の従来例はその例であるが、まだ解決すべき課題が残さ
れている。
は、産業構造の高度化に伴い、より厳格化されつつあ
る。一方、生産設備についても、高能率化および省力化
の要求が益々高まっており、近年、表面疵検査装置の性
能および機能は、著しい改善が図られてきている。上記
の従来例はその例であるが、まだ解決すべき課題が残さ
れている。
【０００７】図４および図５の例では、所要の検査精度
を維持するためには、カメラ装置２４の分解能を所定値
以上に確保する必要があり、長尺の鋼材、例えば長さ６
ｍ程度の棒鋼を対象としたとき、カメラ装置２４の台数
が、画像処理装置の台数とともに極めて多くならざるを
えない。例えば、深さ０．１mm程度の疵を通常のエリア
カメラで検出しようとすれば、カメラ分解能は、１画素
あたり０．５mm程度が必要となる。通常のカメラ画素
は、５１２画素×５１２画素程度であることから、少な
くとも２３〜２４台のエリアカメラが必要となり、さら
に、各カメラ毎に画像処理装置が必要である。すなわ
ち、図４および図５の例は、多数台のカメラ装置および
画像処理装置による設備コストの増大、各カメラ装置間
の特性のばらつきを補正するための複雑な信号処理シス
テムの設置、多数台にわたるカメラ装置の保全等の問題
を抱えている。
を維持するためには、カメラ装置２４の分解能を所定値
以上に確保する必要があり、長尺の鋼材、例えば長さ６
ｍ程度の棒鋼を対象としたとき、カメラ装置２４の台数
が、画像処理装置の台数とともに極めて多くならざるを
えない。例えば、深さ０．１mm程度の疵を通常のエリア
カメラで検出しようとすれば、カメラ分解能は、１画素
あたり０．５mm程度が必要となる。通常のカメラ画素
は、５１２画素×５１２画素程度であることから、少な
くとも２３〜２４台のエリアカメラが必要となり、さら
に、各カメラ毎に画像処理装置が必要である。すなわ
ち、図４および図５の例は、多数台のカメラ装置および
画像処理装置による設備コストの増大、各カメラ装置間
の特性のばらつきを補正するための複雑な信号処理シス
テムの設置、多数台にわたるカメラ装置の保全等の問題
を抱えている。
【０００８】また、図６に示す特開平６−２０１６５５
号公報の例は、磁化器２５で外部磁場を加えながら、か
つ丸棒鋼１を回転させながら疵部で生じる漏洩磁束を光
学的手段で検査するものであるため、磁化と検査を同時
に行う必要があるが、全長全周にわたり検査する方法
は、材料をスパイラル搬送する方法、若しくは同検査装
置を回転させて材料を直接搬送する方法しかない。とこ
ろが、外部磁界で磁化する方式で検査性能を確保するに
は、磁束を丸棒鋼１の表面の周方向に平行に分布させ、
磁場の均一化を図ることが重要である。
号公報の例は、磁化器２５で外部磁場を加えながら、か
つ丸棒鋼１を回転させながら疵部で生じる漏洩磁束を光
学的手段で検査するものであるため、磁化と検査を同時
に行う必要があるが、全長全周にわたり検査する方法
は、材料をスパイラル搬送する方法、若しくは同検査装
置を回転させて材料を直接搬送する方法しかない。とこ
ろが、外部磁界で磁化する方式で検査性能を確保するに
は、磁束を丸棒鋼１の表面の周方向に平行に分布させ、
磁場の均一化を図ることが重要である。
【０００９】このため、丸棒鋼１のサイズに応じて、磁
化器２５の磁極形状を変更したり、丸棒鋼１との距離一
定化のため励磁コイルの高さを調整したりする必要があ
り、実用上困難な課題を有している。また、外部磁界方
式において、磁束を丸棒鋼１表面の周方向に平行に分布
させようとすると、丸棒鋼１表面に垂直に入る磁場が、
物理的に形成されてしまい、Ｓ／Ｎの高い疵模様が得ら
れないという問題がある。
化器２５の磁極形状を変更したり、丸棒鋼１との距離一
定化のため励磁コイルの高さを調整したりする必要があ
り、実用上困難な課題を有している。また、外部磁界方
式において、磁束を丸棒鋼１表面の周方向に平行に分布
させようとすると、丸棒鋼１表面に垂直に入る磁場が、
物理的に形成されてしまい、Ｓ／Ｎの高い疵模様が得ら
れないという問題がある。
【００１０】本発明は、丸棒鋼の表面疵検査にあたり、
長尺鋼材を対象とする場合でも、設備コストの増大を招
くことなく、しかも高感度かつ高精度の疵検出を行うこ
とのできる方法および装置を目的とする。
長尺鋼材を対象とする場合でも、設備コストの増大を招
くことなく、しかも高感度かつ高精度の疵検出を行うこ
とのできる方法および装置を目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、丸棒鋼を軸通電により磁化して、表面疵に
よる磁粉模様を形成し、該棒鋼の長手方向と平行に、紫
外線スポットレーザをスキャニング照射して疵部分を励
起発光させ、該棒鋼の長手方向と平行に配置した光導棒
で励起発光光を受光し、該光導棒の端部に設置した光電
子増倍管にて信号検出することを特徴とする丸棒鋼の表
面疵検査方法である。
の本発明は、丸棒鋼を軸通電により磁化して、表面疵に
よる磁粉模様を形成し、該棒鋼の長手方向と平行に、紫
外線スポットレーザをスキャニング照射して疵部分を励
起発光させ、該棒鋼の長手方向と平行に配置した光導棒
で励起発光光を受光し、該光導棒の端部に設置した光電
子増倍管にて信号検出することを特徴とする丸棒鋼の表
面疵検査方法である。
【００１２】また本発明は、丸棒鋼の表面疵の磁粉模様
形成を行う軸通電方式の磁粉探傷装置と、紫外線スポッ
トレーザを該棒鋼の長手方向と平行にスキャニング照射
する紫外線レーザ照射装置と、該棒鋼の長手方向と平行
に配置した光導棒と、該光導棒の端部に設置した光電子
増倍管とを有してなることを特徴とする丸棒鋼の表面疵
検査装置である。
形成を行う軸通電方式の磁粉探傷装置と、紫外線スポッ
トレーザを該棒鋼の長手方向と平行にスキャニング照射
する紫外線レーザ照射装置と、該棒鋼の長手方向と平行
に配置した光導棒と、該光導棒の端部に設置した光電子
増倍管とを有してなることを特徴とする丸棒鋼の表面疵
検査装置である。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明法は、疵部で生じる漏洩磁
束を光学的手段で検査するのではなく、まず、丸棒鋼を
軸通電により磁化して、表面疵による磁粉模様を形成す
る。軸通電は、丸棒鋼の両端に電極を接触させて行うこ
とができ、磁粉の付着は、丸棒鋼に磁粉液を散布し、あ
るいは丸棒鋼を磁粉液に浸漬して行うことができる。こ
の場合、丸棒鋼を通電磁化しつつ、磁粉液を散布あるい
は磁粉液に浸漬してもよく、あるいは、磁粉液に浸漬し
たのち、通電磁化してもよい。
束を光学的手段で検査するのではなく、まず、丸棒鋼を
軸通電により磁化して、表面疵による磁粉模様を形成す
る。軸通電は、丸棒鋼の両端に電極を接触させて行うこ
とができ、磁粉の付着は、丸棒鋼に磁粉液を散布し、あ
るいは丸棒鋼を磁粉液に浸漬して行うことができる。こ
の場合、丸棒鋼を通電磁化しつつ、磁粉液を散布あるい
は磁粉液に浸漬してもよく、あるいは、磁粉液に浸漬し
たのち、通電磁化してもよい。
【００１４】ついで、図１に例示するように、磁粉模様
の形成された丸棒鋼１を周方向に回転させつつ、レーザ
発生装置３から発した紫外線スポットレーザを、スキャ
ナ４により丸棒鋼１の長手方向と平行にスキャニング線
状照射し、線状の紫外線照射エリアのみを励起発光させ
る。スキャニングは、ポリゴンミラー９を回転させ、２
０００〜３０００スキャン／ｓｅｃの高速スキャンで行
うことができ、紫外線レーザの波長は３２５nm、励起発
光光の波長は５００〜６００nmのものを採用することが
できる。
の形成された丸棒鋼１を周方向に回転させつつ、レーザ
発生装置３から発した紫外線スポットレーザを、スキャ
ナ４により丸棒鋼１の長手方向と平行にスキャニング線
状照射し、線状の紫外線照射エリアのみを励起発光させ
る。スキャニングは、ポリゴンミラー９を回転させ、２
０００〜３０００スキャン／ｓｅｃの高速スキャンで行
うことができ、紫外線レーザの波長は３２５nm、励起発
光光の波長は５００〜６００nmのものを採用することが
できる。
【００１５】この励起発光光を、丸棒鋼１の長手方向と
平行に配置した光導棒５で受光し、光導棒５の端部に設
置した光電子増倍管６にて信号検出する。光電子増倍管
６は、図示のように光導棒５の両端に設ける他、片端に
設けてあってもよい。疵部には磁粉模様が形成されてい
て、励起発光の光強度が高く、疵部以外での励起発光の
光強度は低いので、光強度を信号処理することで疵部の
検出が可能となる。検出した信号は、コントローラ７に
入力し、スキャナ４および丸棒鋼１の回転機構（図示せ
ず）と同期させて、各丸棒鋼１毎の疵マップを作成し、
表示器８に表示し、あるいは記録することができる。
平行に配置した光導棒５で受光し、光導棒５の端部に設
置した光電子増倍管６にて信号検出する。光電子増倍管
６は、図示のように光導棒５の両端に設ける他、片端に
設けてあってもよい。疵部には磁粉模様が形成されてい
て、励起発光の光強度が高く、疵部以外での励起発光の
光強度は低いので、光強度を信号処理することで疵部の
検出が可能となる。検出した信号は、コントローラ７に
入力し、スキャナ４および丸棒鋼１の回転機構（図示せ
ず）と同期させて、各丸棒鋼１毎の疵マップを作成し、
表示器８に表示し、あるいは記録することができる。
【００１６】また本発明装置は、軸通電方式の磁粉探傷
装置として、丸棒鋼に接触させる電極とそれに接続する
電源、磁粉液槽あるいは磁粉液散布装置、および丸棒鋼
の搬送装置を有し、さらに、紫外線レーザ照射装置とし
て、図１に示すような紫外線スポットレーザの発生装置
１およびスキャナ４を有し、丸棒鋼の長手方向と平行に
配置した光導棒５、該光導棒５の端部に設置した光電子
増倍管６を有して構成される。
装置として、丸棒鋼に接触させる電極とそれに接続する
電源、磁粉液槽あるいは磁粉液散布装置、および丸棒鋼
の搬送装置を有し、さらに、紫外線レーザ照射装置とし
て、図１に示すような紫外線スポットレーザの発生装置
１およびスキャナ４を有し、丸棒鋼の長手方向と平行に
配置した光導棒５、該光導棒５の端部に設置した光電子
増倍管６を有して構成される。
【００１７】このような本発明法および装置において、
光導棒５の長さは、最大３〜４ｍまで長くすることがで
きるので、検査対象の丸棒鋼１が６〜８ｍの長尺材であ
っても、２セットの光学系で全長全周にわたる疵検査を
行うことができる。そして、軸通電方式で丸棒鋼を磁化
するので、該棒鋼の全周にわたって一様な磁場が形成さ
れ、外部磁界方式の場合のような垂直磁場による問題が
生じず、高感度かつ高精度の疵検出を高速で行うことが
できる。
光導棒５の長さは、最大３〜４ｍまで長くすることがで
きるので、検査対象の丸棒鋼１が６〜８ｍの長尺材であ
っても、２セットの光学系で全長全周にわたる疵検査を
行うことができる。そして、軸通電方式で丸棒鋼を磁化
するので、該棒鋼の全周にわたって一様な磁場が形成さ
れ、外部磁界方式の場合のような垂直磁場による問題が
生じず、高感度かつ高精度の疵検出を高速で行うことが
できる。
【００１８】
【実施例】図２に示す本発明装置により、丸棒鋼１の表
面疵自動検査を行った。図２は、丸棒鋼１の端面側から
みた図である。丸棒鋼１ａが受台１１ａの上に載置さ
れ、クレーン１０により右方向に搬送されて自動検査さ
れる。まず、クレーンアーム１６ａで磁粉液槽１２上に
搬送し（丸棒鋼１ｂ）、電極２ａを接触させ、図示しな
い電源により通電磁化しつつ、磁粉液に浸漬し、引き上
げて疵模様を形成し、受台１１ｂに載置した。ついで、
クレーンアーム１６ｂにより水槽１３上に搬送し（丸棒
鋼１ｃ）、電極２ｂで通電磁化しながら水に浸漬し、疵
以外の部分の付着磁粉を洗い落し、受台１１ｃに載置し
た。
面疵自動検査を行った。図２は、丸棒鋼１の端面側から
みた図である。丸棒鋼１ａが受台１１ａの上に載置さ
れ、クレーン１０により右方向に搬送されて自動検査さ
れる。まず、クレーンアーム１６ａで磁粉液槽１２上に
搬送し（丸棒鋼１ｂ）、電極２ａを接触させ、図示しな
い電源により通電磁化しつつ、磁粉液に浸漬し、引き上
げて疵模様を形成し、受台１１ｂに載置した。ついで、
クレーンアーム１６ｂにより水槽１３上に搬送し（丸棒
鋼１ｃ）、電極２ｂで通電磁化しながら水に浸漬し、疵
以外の部分の付着磁粉を洗い落し、受台１１ｃに載置し
た。
【００１９】そして、ウォーキングビーム１４で回転装
置１７上に搬送し（丸棒鋼１ｄ）、丸棒鋼１ｄを回転さ
せつつ、紫外線スポットレーザをスキャニング照射し
た。レーザは、レーザ発生装置３から波長３２５nmのス
ポットレーザを発生させ、スキャナ４により、図１のよ
うに、ポリゴンミラー９を回転させて、２０００スキャ
ン／ｓｅｃで高速スキャニングし、丸棒鋼１ｄの長手方
向に線状照射した。
置１７上に搬送し（丸棒鋼１ｄ）、丸棒鋼１ｄを回転さ
せつつ、紫外線スポットレーザをスキャニング照射し
た。レーザは、レーザ発生装置３から波長３２５nmのス
ポットレーザを発生させ、スキャナ４により、図１のよ
うに、ポリゴンミラー９を回転させて、２０００スキャ
ン／ｓｅｃで高速スキャニングし、丸棒鋼１ｄの長手方
向に線状照射した。
【００２０】丸棒鋼１ｄは、線状照射した部分だけで、
磁粉と反応する励起発光現象が起こり、磁粉が多く付着
した部分の発光強度が大となる。この励起発光による波
長５５０〜６００nmの光を、丸棒鋼１と平行に配設した
光導棒５で集光し、光電子増倍管６で信号検出した。信
号は、疵部信号Ｓと疵部以外の信号Ｎの比Ｓ／Ｎとして
検出し、図１に示すようにコントローラ７に入力し、ス
キャナ４および丸棒鋼１の回転機構と同期させて、各丸
棒鋼１毎の疵マップを作成し、表示器８に表示した。検
査の終了した丸棒鋼１ｄは、搬出ローラ１５で次工程に
送り、検査結果の疵マップに応じて自動疵取りを行っ
た。
磁粉と反応する励起発光現象が起こり、磁粉が多く付着
した部分の発光強度が大となる。この励起発光による波
長５５０〜６００nmの光を、丸棒鋼１と平行に配設した
光導棒５で集光し、光電子増倍管６で信号検出した。信
号は、疵部信号Ｓと疵部以外の信号Ｎの比Ｓ／Ｎとして
検出し、図１に示すようにコントローラ７に入力し、ス
キャナ４および丸棒鋼１の回転機構と同期させて、各丸
棒鋼１毎の疵マップを作成し、表示器８に表示した。検
査の終了した丸棒鋼１ｄは、搬出ローラ１５で次工程に
送り、検査結果の疵マップに応じて自動疵取りを行っ
た。
【００２１】このような本発明の実施例において、高感
度かつ高精度の疵検出を行うことができた。すなわち、
疵深さとＳ／Ｎ比の関係を示すと、図３のように、軸通
電方式で磁化した本発明例（破線）は、外部磁界方式で
磁化した比較例（実線）に対して非常に高い値を示し
た。なお、光導棒５としては、長さ３ｍのものを採用し
て３本直列に配設し、各光導棒５に、図１に示すような
レーザ光学系とコントローラおよび表示器を設けた。こ
の装置により、長さ約９ｍまでの長尺丸棒鋼の表面疵自
動検査が行える。
度かつ高精度の疵検出を行うことができた。すなわち、
疵深さとＳ／Ｎ比の関係を示すと、図３のように、軸通
電方式で磁化した本発明例（破線）は、外部磁界方式で
磁化した比較例（実線）に対して非常に高い値を示し
た。なお、光導棒５としては、長さ３ｍのものを採用し
て３本直列に配設し、各光導棒５に、図１に示すような
レーザ光学系とコントローラおよび表示器を設けた。こ
の装置により、長さ約９ｍまでの長尺丸棒鋼の表面疵自
動検査が行える。
【００２２】
【発明の効果】本発明法および装置は、丸棒鋼の表面疵
検査を行うにあたり、従来行われている軸通電方式の磁
粉探傷法に、紫外線スポットレーザと光導棒による検出
端を組み合わせて構成したものであり、カメラ装置等を
適用しないため、設備コストを大幅に低減させることが
可能となり、疵検出性能においても、極めて高感度かつ
高精度の疵検出が実現できる。
検査を行うにあたり、従来行われている軸通電方式の磁
粉探傷法に、紫外線スポットレーザと光導棒による検出
端を組み合わせて構成したものであり、カメラ装置等を
適用しないため、設備コストを大幅に低減させることが
可能となり、疵検出性能においても、極めて高感度かつ
高精度の疵検出が実現できる。
【図１】本発明法および装置の説明図である。
【図２】本発明の実施例を示す説明図である。
【図３】本発明の実施例における効果を示すグラフであ
る。
る。
【図４】従来装置の例を示す説明図である。
【図５】従来装置の例を示す説明図である。
【図６】従来装置の例を示す説明図である。
１…丸棒鋼 ２…電極 ３…レーザ発生装置 ４…スキャナ ５…光導棒 ６…光電子増倍管 ７…コントローラ ８…表示器 ９…ポリゴンミラー １０…クレーン １１…受台 １２…磁粉液槽 １３…水槽 １４…ウォーキングビーム １５…搬出ローラ １６…クレーンアーム １７…回転装置 ２１…磁粉液散布装置 ２２…磁化電源 ２３…紫外線照射装置 ２４…カメラ装置 ２５…磁化器 ２６…磁気光学素子列 ２７…検光子 ２８…光検出器 ２９…移相器 ３０…交流電源 ３１…増幅器 ３２…ゲート回路 ３３…モニタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 乙部 厚志 北海道室蘭市仲町12番地 新日本製鐵株式 会社室蘭製鐵所内 (72)発明者 藤沢 淳一 北海道室蘭市仲町12番地 ニッテツ北海道 制御システム株式会社内 (72)発明者 吉田 三男 北海道室蘭市仲町12番地 ニッテツ北海道 制御システム株式会社内 (72)発明者 田島 広喜 北海道室蘭市仲町12番地 ニッテツ北海道 制御システム株式会社内 (72)発明者 久保 三敏 北海道室蘭市仲町12番地 ニッテツ北海道 制御システム株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 丸棒鋼を軸通電により磁化して、表面疵
による磁粉模様を形成し、該棒鋼の長手方向と平行に、
紫外線スポットレーザをスキャニング照射して疵部分を
励起発光させ、該棒鋼の長手方向と平行に配置した光導
棒で励起発光光を受光し、該光導棒の端部に設置した光
電子増倍管にて信号検出することを特徴とする丸棒鋼の
表面疵検査方法。 - 【請求項２】 丸棒鋼の表面疵の磁粉模様形成を行う軸
通電方式の磁粉探傷装置と、紫外線スポットレーザを該
棒鋼の長手方向と平行にスキャニング照射する紫外線レ
ーザ照射装置と、該棒鋼の長手方向と平行に配置した光
導棒と、該光導棒の端部に設置した光電子増倍管とを有
してなることを特徴とする丸棒鋼の表面疵検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7319297A JPH09159650A (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | 丸棒鋼の表面疵検査方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7319297A JPH09159650A (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | 丸棒鋼の表面疵検査方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09159650A true JPH09159650A (ja) | 1997-06-20 |
Family
ID=18108629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7319297A Pending JPH09159650A (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | 丸棒鋼の表面疵検査方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09159650A (ja) |
Cited By (4)
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1995
- 1995-12-07 JP JP7319297A patent/JPH09159650A/ja active Pending
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030318 |