JPH075121A - 鋼材の表面きず検査方法 - Google Patents
鋼材の表面きず検査方法Info
- Publication number
- JPH075121A JPH075121A JP14385893A JP14385893A JPH075121A JP H075121 A JPH075121 A JP H075121A JP 14385893 A JP14385893 A JP 14385893A JP 14385893 A JP14385893 A JP 14385893A JP H075121 A JPH075121 A JP H075121A
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- Japan
- Prior art keywords
- billet
- inspection
- fluorescent lamp
- flaws
- ultraviolet
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、磁粉探傷試験における紫外線照明
強度と目視試験における蛍光灯照度を最適な値として、
同一場所で磁粉探傷試験と目視試験を同時に行うことに
より生産性の向上を図る方法を提供する。 【構成】 暗室内に紫外線ランプと蛍光灯を装備し、紫
外線照明強度を３０００μw/cm2 以上、蛍光灯照度を５
０〜１００ルクスに調光してビレットの検査面に照射し
て目視検査することにより、全種類の表面きずを検査可
能とすることを特徴とする表面きず検査方法。 【効果】 本発明により、ビレットの全種類の表面きず
を高精度かつ効率良く検査することができる。
強度と目視試験における蛍光灯照度を最適な値として、
同一場所で磁粉探傷試験と目視試験を同時に行うことに
より生産性の向上を図る方法を提供する。 【構成】 暗室内に紫外線ランプと蛍光灯を装備し、紫
外線照明強度を３０００μw/cm2 以上、蛍光灯照度を５
０〜１００ルクスに調光してビレットの検査面に照射し
て目視検査することにより、全種類の表面きずを検査可
能とすることを特徴とする表面きず検査方法。 【効果】 本発明により、ビレットの全種類の表面きず
を高精度かつ効率良く検査することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、鋼材、とくに角鋼片
（以下ビレット）の表面きずを探傷する検査方法に関す
るものである。
（以下ビレット）の表面きずを探傷する検査方法に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ビレットの表面きずは、磁粉探
傷方法により検査される。磁粉探傷方法は、ビレットを
長手方向に搬送して磁粉液を散布しながらヨークコイル
等の磁化装置で励磁することにより、ビレットの表面に
きずがあれば、その部位から漏洩磁束が発生することを
利用して、この表面きずによる漏洩磁束の回りに磁粉を
集結させて磁粉模様を形成し、この磁粉模様を暗室内の
紫外線ランプにより顕在化させて、観察により表面きず
を検査するものである。
傷方法により検査される。磁粉探傷方法は、ビレットを
長手方向に搬送して磁粉液を散布しながらヨークコイル
等の磁化装置で励磁することにより、ビレットの表面に
きずがあれば、その部位から漏洩磁束が発生することを
利用して、この表面きずによる漏洩磁束の回りに磁粉を
集結させて磁粉模様を形成し、この磁粉模様を暗室内の
紫外線ランプにより顕在化させて、観察により表面きず
を検査するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】磁粉探傷方法は、表面
きずからの磁束の漏洩を利用するものであるため、きず
の形態により検出の容易なきずと検出の困難なきずがあ
る。磁粉探傷により精度良く検出できるきずとしては、
ビレットの長手方向に延びたシーム状のきずやへげ状の
きずがあり、これらは製造工程上最も発生頻度の高い表
面きずである。
きずからの磁束の漏洩を利用するものであるため、きず
の形態により検出の容易なきずと検出の困難なきずがあ
る。磁粉探傷により精度良く検出できるきずとしては、
ビレットの長手方向に延びたシーム状のきずやへげ状の
きずがあり、これらは製造工程上最も発生頻度の高い表
面きずである。
【０００４】一方、発生頻度は低いが、開口幅の大きな
きずやへこみおよび長さの小さいあな状のきずは、きず
からの磁束の漏洩が小さく、磁粉模様が形成しづらいた
め、磁粉探傷では検出が難しい問題がある。
きずやへこみおよび長さの小さいあな状のきずは、きず
からの磁束の漏洩が小さく、磁粉模様が形成しづらいた
め、磁粉探傷では検出が難しい問題がある。
【０００５】本発明は、上記の問題を解決しようとする
もので、磁粉探傷で検査できない表面きずは蛍光灯照明
下の目視試験で検査精度を確保し、磁粉探傷の紫外線照
明下の観察と組み合わせて、これらの検査を暗室内で同
時に行うことにより、表面きずの検査精度の高度化と検
査能率の向上が図れる表面きず検査方法を提供しようと
するものである。
もので、磁粉探傷で検査できない表面きずは蛍光灯照明
下の目視試験で検査精度を確保し、磁粉探傷の紫外線照
明下の観察と組み合わせて、これらの検査を暗室内で同
時に行うことにより、表面きずの検査精度の高度化と検
査能率の向上が図れる表面きず検査方法を提供しようと
するものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、蛍光磁粉を用
いる鋼材の磁粉探傷試験において、蛍光磁粉に可視光線
を発しせしめる紫外線を照明強度３０００μw/cm2 以上
照射すると共に、別に設けた蛍光灯により５０〜１００
lxの蛍光灯照明を前記紫外線に重ねて照射して磁粉探傷
試験における磁粉模様の観察と目視試験を同時に行うこ
とを特徴とする鋼材の表面きず検査方法である。
いる鋼材の磁粉探傷試験において、蛍光磁粉に可視光線
を発しせしめる紫外線を照明強度３０００μw/cm2 以上
照射すると共に、別に設けた蛍光灯により５０〜１００
lxの蛍光灯照明を前記紫外線に重ねて照射して磁粉探傷
試験における磁粉模様の観察と目視試験を同時に行うこ
とを特徴とする鋼材の表面きず検査方法である。
【０００７】
【作用】磁粉探傷で検査できるシーム状のきずやへげ状
のきずは、暗室内の紫外線照明下で磁粉模様を観察し、
磁粉探傷で検査の困難な開口幅の大きなきずやへこみお
よび長さの小さいあな状のきずは、同じ暗室内の蛍光灯
照明下で目視試験することにより、これら紫外線ランプ
と蛍光灯の両照明下で同時に検査ができるため、ビレッ
トに発生するあらゆる種類の表面きずについて極めて精
度の高い効率的な検査を行うことができる。
のきずは、暗室内の紫外線照明下で磁粉模様を観察し、
磁粉探傷で検査の困難な開口幅の大きなきずやへこみお
よび長さの小さいあな状のきずは、同じ暗室内の蛍光灯
照明下で目視試験することにより、これら紫外線ランプ
と蛍光灯の両照明下で同時に検査ができるため、ビレッ
トに発生するあらゆる種類の表面きずについて極めて精
度の高い効率的な検査を行うことができる。
【０００８】以下、本発明の実施態様例により作用を詳
細に説明する。図１は表面きず検査設備を示す図であ
る。ビレットは図示しない磁化装置、磁粉散布器により
ビレット搬送中にビレットの４面を全長にわたって励磁
され、表面きずがあるとそこに磁粉模様が形成される。
この磁粉模様と磁粉模様が形成されない表面きずについ
ても、図１の検査設備により目視検査される。
細に説明する。図１は表面きず検査設備を示す図であ
る。ビレットは図示しない磁化装置、磁粉散布器により
ビレット搬送中にビレットの４面を全長にわたって励磁
され、表面きずがあるとそこに磁粉模様が形成される。
この磁粉模様と磁粉模様が形成されない表面きずについ
ても、図１の検査設備により目視検査される。
【０００９】図１（ａ）は暗室内でのビレット１０の長
さ方向の照明装置の配置を示し、１は紫外線ランプ、３
は蛍光灯で各々ビレット１０の長さ方向に照明強度が確
保できるように複数灯設置される。紫外線ランプは高い
照明強度が確保できるメタルハライドランプであり、２
は紫外線ランプの調光装置、４は蛍光灯の調光装置、５
は電源装置である。
さ方向の照明装置の配置を示し、１は紫外線ランプ、３
は蛍光灯で各々ビレット１０の長さ方向に照明強度が確
保できるように複数灯設置される。紫外線ランプは高い
照明強度が確保できるメタルハライドランプであり、２
は紫外線ランプの調光装置、４は蛍光灯の調光装置、５
は電源装置である。
【００１０】図１（ｂ）に示すように、ビレット１０の
検査面１１は、紫外線ランプ１と蛍光灯３により各々調
光装置２，４により適度に調整された強度の紫外線およ
び蛍光の照明がされ、ビレット１０の転回により４面の
全てが目視検査される。表面きずを精度良く検出するた
めには、ビレット１０の検査面１１に照射する紫外線照
明強度と蛍光灯照度を最適な光量にする必要があり、こ
れは次の試験結果より求めている。
検査面１１は、紫外線ランプ１と蛍光灯３により各々調
光装置２，４により適度に調整された強度の紫外線およ
び蛍光の照明がされ、ビレット１０の転回により４面の
全てが目視検査される。表面きずを精度良く検出するた
めには、ビレット１０の検査面１１に照射する紫外線照
明強度と蛍光灯照度を最適な光量にする必要があり、こ
れは次の試験結果より求めている。
【００１１】図２は、磁粉探傷における紫外線照明下で
の紫外線照明強度と検出した表面きず深さの関係を、蛍
光灯照度を変化させて試験した結果を示す。対象として
いる表面きずは、磁粉探傷で検出可能なシーム状および
へげ状の表面きずであり試験条件は下記の通りである。 ビレット；寸法１６２mm、鋼種Ｓ４５Ｃ 励磁；ヨークコイルによる励磁、磁化強度１００エルス
テッド 搬送速度３０ｍ/minでのビレット全長励磁 磁粉；ＬＹ−４３００（マークテック（株）製）、磁粉
濃度１ｇ/l 照明；紫外線ランプはメタルハライドランプ 検査；ビレット静止状態での目視検査
の紫外線照明強度と検出した表面きず深さの関係を、蛍
光灯照度を変化させて試験した結果を示す。対象として
いる表面きずは、磁粉探傷で検出可能なシーム状および
へげ状の表面きずであり試験条件は下記の通りである。 ビレット；寸法１６２mm、鋼種Ｓ４５Ｃ 励磁；ヨークコイルによる励磁、磁化強度１００エルス
テッド 搬送速度３０ｍ/minでのビレット全長励磁 磁粉；ＬＹ−４３００（マークテック（株）製）、磁粉
濃度１ｇ/l 照明；紫外線ランプはメタルハライドランプ 検査；ビレット静止状態での目視検査
【００１２】図２より、紫外線照明強度が高い程、ま
た、蛍光灯照度が低い程、深さの浅い表面きずの検出が
できる、即ち検査精度が高い傾向にある。検査目標とし
ている深さ０．３mmの表面きずを検出するには、蛍光灯
照度０lxのとき紫外線強度８００μw/cm2 、蛍光灯照度
５０〜１００lxのとき紫外線強度３０００μw/cm2 以上
が必要である。
た、蛍光灯照度が低い程、深さの浅い表面きずの検出が
できる、即ち検査精度が高い傾向にある。検査目標とし
ている深さ０．３mmの表面きずを検出するには、蛍光灯
照度０lxのとき紫外線強度８００μw/cm2 、蛍光灯照度
５０〜１００lxのとき紫外線強度３０００μw/cm2 以上
が必要である。
【００１３】図３は、蛍光灯照明下のビレット静止状態
での目視試験による表面きず検出精度を示す図である。
対象としている表面きずは、開口幅の大きなきずやへこ
みおよび長さの小さいあな状のきずで深さが０．３mm以
上のものである。図３より、蛍光灯照度が高い程検査精
度が高くなるが、５０lx以上ではほぼ飽和の傾向が見ら
れる。
での目視試験による表面きず検出精度を示す図である。
対象としている表面きずは、開口幅の大きなきずやへこ
みおよび長さの小さいあな状のきずで深さが０．３mm以
上のものである。図３より、蛍光灯照度が高い程検査精
度が高くなるが、５０lx以上ではほぼ飽和の傾向が見ら
れる。
【００１４】紫外線強度と蛍光灯照度の最適光量は、図
２と図３の結果から求められ、紫外線強度を３０００μ
w/cm2 以上、蛍光灯照度を５０〜１００lxとすれば磁粉
探傷と昼光探傷の各々の得意な表面きずを同時に検査す
ることができる。
２と図３の結果から求められ、紫外線強度を３０００μ
w/cm2 以上、蛍光灯照度を５０〜１００lxとすれば磁粉
探傷と昼光探傷の各々の得意な表面きずを同時に検査す
ることができる。
【００１５】
【実施例】図４は、ビレットに発生する全種類の表面き
ずを対象に、磁粉探傷の励磁後、紫外線照明と蛍光灯照
明下で目視検査した結果を示す。ビレット、磁粉条件、
励磁条件および照明条件は下記の通りである。 ビレット；寸法１６２mm、鋼種Ｓ４５Ｃ 励磁；ヨークコイルによる励磁、磁化強度１００エルス
テッド 搬送速度３０ｍ/minでのビレット全長励磁 磁粉；ＬＹ−４３００（マークテック（株）製）、磁粉
濃度１ｇ/l 照明；紫外線照明と蛍光灯照明の同時照明 紫外線ランプはメタルハライドランプ 紫外線強度３０００μw/cm2 蛍光灯照度１００lx 検査；ビレット静止状態での目視検査
ずを対象に、磁粉探傷の励磁後、紫外線照明と蛍光灯照
明下で目視検査した結果を示す。ビレット、磁粉条件、
励磁条件および照明条件は下記の通りである。 ビレット；寸法１６２mm、鋼種Ｓ４５Ｃ 励磁；ヨークコイルによる励磁、磁化強度１００エルス
テッド 搬送速度３０ｍ/minでのビレット全長励磁 磁粉；ＬＹ−４３００（マークテック（株）製）、磁粉
濃度１ｇ/l 照明；紫外線照明と蛍光灯照明の同時照明 紫外線ランプはメタルハライドランプ 紫外線強度３０００μw/cm2 蛍光灯照度１００lx 検査；ビレット静止状態での目視検査
【００１６】図４から、検査目標の０．３mm深さ以上の
表面きずが１００％検出されており、本発明の検査方法
はビレットの表面きず検査方法として極めて有効なこと
が示されている。尚、本発明の検査方法は目視検査のみ
に限定されるものでなく、ｌＴＶカメラによる撮像と撮
像像の画像処理による表面きずの自動検査についても適
用可能なことは勿論である。
表面きずが１００％検出されており、本発明の検査方法
はビレットの表面きず検査方法として極めて有効なこと
が示されている。尚、本発明の検査方法は目視検査のみ
に限定されるものでなく、ｌＴＶカメラによる撮像と撮
像像の画像処理による表面きずの自動検査についても適
用可能なことは勿論である。
【００１７】
【発明の効果】以上のように、本発明方法によれば、磁
粉探傷の紫外線照明下での目視検査と蛍光灯照明下での
目視検査を同時にでき、ビレットの全種類の表面きずを
検査できるなど表面きず検査の高度化と効率化を図れ、
産業上極めて有益である。
粉探傷の紫外線照明下での目視検査と蛍光灯照明下での
目視検査を同時にでき、ビレットの全種類の表面きずを
検査できるなど表面きず検査の高度化と効率化を図れ、
産業上極めて有益である。
【図１】表面きず検査設備を示す図である。
【図２】磁粉探傷の紫外線照明下での表面きずの検査精
度を示す図である。
度を示す図である。
【図３】蛍光灯照明下での表面きずの目視試験検査精度
を示す図である。
を示す図である。
【図４】紫外線照明と蛍光灯の同時照明下での表面きず
の検査精度を示す図である。
の検査精度を示す図である。
１ 紫外線ランプ ２ 紫外線ランプ用調光装置 ３ 蛍光灯 ４ 蛍光灯用調光装置 ５ 電源装置 １０ ビレット １１ 検査面
Claims (1)
- 【請求項１】 蛍光磁粉を用いる鋼材の磁粉探傷試験に
おいて、蛍光磁粉に可視光線を発しせしめる紫外線を照
明強度３０００μw/cm2 以上照射すると共に、別に設け
た蛍光灯により５０〜１００lxの蛍光灯照明を前記紫外
線に重ねて照射して磁粉探傷試験における磁粉模様の観
察と目視試験を同時に行うことを特徴とする鋼材の表面
きず検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14385893A JPH075121A (ja) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | 鋼材の表面きず検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14385893A JPH075121A (ja) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | 鋼材の表面きず検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075121A true JPH075121A (ja) | 1995-01-10 |
Family
ID=15348613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14385893A Withdrawn JPH075121A (ja) | 1993-06-15 | 1993-06-15 | 鋼材の表面きず検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH075121A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005227183A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | National Agriculture & Bio-Oriented Research Organization | 品質測定装置 |
| JP2009103569A (ja) * | 2007-10-23 | 2009-05-14 | Kobe Steel Ltd | 鋼材の検査ライン及び鋼材の検査方法 |
| KR101859019B1 (ko) | 2017-11-15 | 2018-06-27 | 주식회사 동성테크 | 금속소재 표면검사장치 |
-
1993
- 1993-06-15 JP JP14385893A patent/JPH075121A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005227183A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | National Agriculture & Bio-Oriented Research Organization | 品質測定装置 |
| JP2009103569A (ja) * | 2007-10-23 | 2009-05-14 | Kobe Steel Ltd | 鋼材の検査ライン及び鋼材の検査方法 |
| KR101859019B1 (ko) | 2017-11-15 | 2018-06-27 | 주식회사 동성테크 | 금속소재 표면검사장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000905 |