JP6974144B2 - 処理装置および処理方法 - Google Patents
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∇・(σ'∇V(↑r))=−I(δ(↑r−↑rs)−δ(↑r−↑rd))…(1)式
但し、σ'は前記測定位置を示す位置ベクトル↑rの各成分に対応する前記シート体の各導電率を要素とする2次正方行列を表し、∇はナブラ演算子であり、V(↑r)は位置ベクトル↑rで示される前記測定位置における前記電位を表し、Iは前記測定用信号の電流値を表し、δはデルタ関数を表し、↑rsはソース側の前記供給位置を示す位置ベクトルを表し、↑rdはドレイン側の前記供給位置を示す位置ベクトルを表す。
(1/ρx)(∂2/∂x2)V(x,y)+(1/ρy)(∂2/∂y2)V(x,y)=−I(δ(x−xs)δ(y−ys)−δ(x−xd)δ(y−yd))…(2)式
但し、xは前記xy直交座標系における前記測定位置のx座標を表し、yは前記xy直交座標系における前記測定位置のy座標を表し、ρxは前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率のいずれか一方を表し、ρyは前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率の他方を表し、∂は偏微分記号であり、V(x,y)はxおよびyをパラメータとする電位の変化を表し、Iは前記測定用信号の電流値を表し、δはデルタ関数を表し、xsは前記xy直交座標系におけるソース側の前記供給位置のx座標を表し、ysは前記xy直交座標系におけるソース側の前記供給位置のy座標を表し、xdは前記xy直交座標系におけるドレイン側の前記供給位置のx座標を表し、ydは前記xy直交座標系におけるドレイン側の前記供給位置のy座標を表す。
V(x,y,ρx,ρy)=V0−(I/LxLy)Σ'nx,ny(4/2δnx,0+δ0,ny)[1/(λnx 2/ρx+λny 2/ρy)](cosλnxxdcosλnyyd−cosλnxxscosλnyys)cosλnxxcosλnyy…(3)式
但し、xは前記xy直交座標系における前記測定位置のx座標を表し、yは前記xy直交座標系における前記測定位置のy座標を表し、ρxは前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率のいずれか一方を表し、ρyは前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率の他方を表し、V(x,y,ρx,ρy)はx,y,ρx,ρyをパラメータとする電位の変化を表し、V0はxおよびyによらない定数であり、Iは前記測定用信号の電流値を表し、Lxは前記xy直交座標系における前記シート体のx軸方向の長さを表し、Lyは前記xy直交座標系における前記シート体のy軸方向の長さを表し、nは前記各測定位置にそれぞれ付与された数を表し、Σ'はnx=ny=0の項を除いた和を表し、δはクロネッカーのデルタを表し、λnxはnxπ/Lxであり、λnyはnyπ/Lyであり、xdは前記xy直交座標系におけるドレイン側の前記供給位置のx座標を表し、ydは前記xy直交座標系におけるドレイン側の前記供給位置のy座標を表し、xsは前記xy直交座標系におけるソース側の前記供給位置のx座標を表し、ysは前記xy直交座標系におけるソース側の前記供給位置のy座標を表す。
∇・(σ'∇V(↑r))=−I(δ(↑r−↑rs)−δ(↑r−↑rd))…(1)式
但し、σ'は前記測定位置を示す位置ベクトル↑rの各成分に対応する前記シート体の各導電率を要素とする2次正方行列を表し、∇はナブラ演算子であり、V(↑r)は位置ベクトル↑rで示される前記測定位置における前記電位を表し、Iは前記測定用信号の電流値を表し、δはデルタ関数を表し、↑rsはソース側の前記供給位置を示す位置ベクトルを表し、↑rdはドレイン側の前記供給位置を示す位置ベクトルを表す。
∇・(σ'∇V(↑r))=−I(δ(↑r−↑rs)−δ(↑r−↑rd))…(1)式
なお、(1)式において、∇はナブラ演算子を表し、δはデルタ関数を表す。
(1/ρx)(∂2/∂x2)V(x,y)+(1/ρy)(∂2/∂y2)V(x,y)=−I(δ(x−xs)δ(y−ys)−δ(x−xd)δ(y−yd))…(2)式
但し、(2)式において、xはxy直交座標系における測定位置72のx座標を表し、yはxy直交座標系における測定位置72のy座標を表し、ρxはxy直交座標系におけるx方向の表面抵抗率(表面抵抗率ρ1の理論値に相当する)を表し、ρyはxy直交座標系におけるy方向の表面抵抗率(表面抵抗率ρ2の理論値に相当する)を表し、V(x,y)はx(x座標)およびy(y座標)をパラメータとする電位の変化を表し、Iは測定用信号(直流電流)の電流値を表し、xsはxy直交座標系におけるソース側の供給位置71aのx座標を表し、ysはxy直交座標系におけるソース側の供給位置71aのy座標を表し、xdはxy直交座標系におけるドレイン側の供給位置71bのx座標を表し、ydはxy直交座標系におけるドレイン側の供給位置71bのy座標を表す。なお、(2)式において、∂は偏微分記号であり、δはデルタ関数を表す。
V(x,y,ρx,ρy)=V0−(I/LxLy)Σ'nx,ny(4/2δnx,0+δ0,ny)[1/(λnx 2/ρx+λny 2/ρy)](cosλnxxdcosλnyyd−cosλnxxscosλnyys)cosλnxxcosλnyy…(3)式
但し、(3)式において、x,y,ρx,ρy,xs,ys,xd,yd,Iは、上記した(2)式における同じ符号とそれぞれ同じ内容を表し、V(x,y,ρx,ρy)はx,y,ρx,ρyをパラメータとする電位の変化を表し、V0はxおよびyによらない定数であり、Lxはシート体100のxyの直交座標系におけるx軸方向の長さ(図2参照)を表し、Lyはシート体100のxy直交座標系におけるy軸方向の長さ(同図参照)を表し、nは測定位置72にそれぞれ付与された数(この場合、測定位置72aのnを「1」とし、測定位置72bのnを「2」とする)を表し、Σ'はnx=ny=0の項を除いた和を表し、δはクロネッカーのデルタを表す。また、λnxはnxπ/Lxであり、λnyはnyπ/Lyである。
J=Σ(Vn−Vn')2…(4)式
但し、(4)式において、Vnは、nが付された測定位置72(この場合、測定位置72aのnを1とし、測定位置72bのnを2としている)における電位の実測値を表し、Vn'は、nが付された測定位置72における電位の理論値を表している。つまり、上記の(4)式により、各測定位置72における電位の測定値Vと各測定位置72における電位の理論値V’との差分値の残差平方和が評価値Jとして算出される。
12 測定部
15 処理部
21a,21b 供給用プローブ
22a,22b 測定用プローブ
50 表面抵抗率特定処理
71a,71b 供給位置
72a,72b 測定位置
100 シート体
101 表面
J 評価値
Va,Vb 測定値
V’ 理論値
ε 規定値
ρ1,ρ2 表面抵抗率
Claims (6)
- シート体の表面における2つの供給位置にそれぞれ接触している一対の供給用プローブを介して測定用信号を供給している状態で当該表面における複数の測定位置にそれぞれ接触している複数の測定用プローブを介して当該各測定位置における電位を測定する測定部と、
前記測定部によって測定された電位の測定値に基づいて前記表面における第1方向の第1表面抵抗率、および前記表面における前記第1方向とは異なる第2方向の第2表面抵抗率を特定する表面抵抗率特定処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記表面抵抗率特定処理において、下記の(1)式の解であって、前記各測定位置を示す位置ベクトルの成分と前記第1表面抵抗率と前記第2表面抵抗率とをパラメータとする算出式に、前記各測定位置を示す位置ベクトルの成分と前記第1表面抵抗率として任意に設定した第1設定値と前記第2表面抵抗率として任意に設定した第2設定値とを代入して前記各測定位置における電位の理論値を算出し、前記各測定値と前記各理論値とに基づいて特定される当該各測定値と当該各理論値との一致の程度を評価する評価値を算出する評価値算出処理を前記第1設定値および前記第2設定値を変更しつつ繰り返して実行し、前記評価値が予め決め規定された規定条件を満たしたときの前記第1設定値および前記第2設定値をそれぞれ前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率として特定する処理装置。
∇・(σ'∇V(↑r))=−I(δ(↑r−↑rs)−δ(↑r−↑rd))…(1)式
但し、σ'は前記測定位置を示す位置ベクトル↑rの各成分に対応する前記シート体の各導電率を要素とする2次正方行列を表し、∇はナブラ演算子であり、V(↑r)は位置ベクトル↑rで示される前記測定位置における前記電位を表し、Iは前記測定用信号の電流値を表し、δはデルタ関数を表し、↑rsはソース側の前記供給位置を示す位置ベクトルを表し、↑rdはドレイン側の前記供給位置を示す位置ベクトルを表す。 - 前記処理部は、前記評価値算出処理において、前記第1方向および前記第2方向のいずれか一方をxy直交座標系におけるx軸方向とすると共に当該第1方向および当該第2方向の他方を当該xy直交座標系におけるy軸方向として前記(1)式を変形した下記の(2)式の解である前記算出式を用いて前記理論値を算出する請求項1記載の処理装置。
(1/ρx)(∂2/∂x2)V(x,y)+(1/ρy)(∂2/∂y2)V(x,y)=−I(δ(x−xs)δ(y−ys)−δ(x−xd)δ(y−yd))…(2)式
但し、xは前記xy直交座標系における前記測定位置のx座標を表し、yは前記xy直交座標系における前記測定位置のy座標を表し、ρxは前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率のいずれか一方を表し、ρyは前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率の他方を表し、∂は偏微分記号であり、V(x,y)はxおよびyをパラメータとする電位の変化を表し、Iは前記測定用信号の電流値を表し、δはデルタ関数を表し、xsは前記xy直交座標系におけるソース側の前記供給位置のx座標を表し、ysは前記xy直交座標系におけるソース側の前記供給位置のy座標を表し、xdは前記xy直交座標系におけるドレイン側の前記供給位置のx座標を表し、ydは前記xy直交座標系におけるドレイン側の前記供給位置のy座標を表す。 - 前記処理部は、前記評価値算出処理において、前記(2)式の解である前記算出式としての下記の(3)式を用いて前記理論値を算出する請求項2記載の処理装置。
V(x,y,ρx,ρy)=V0−(I/LxLy)Σ'nx,ny(4/2δnx,0+δ0,ny)[1/(λnx 2/ρx+λny 2/ρy)](cosλnxxdcosλnyyd−cosλnxxscosλnyys)cosλnxxcosλnyy…(3)式
但し、xは前記xy直交座標系における前記測定位置のx座標を表し、yは前記xy直交座標系における前記測定位置のy座標を表し、ρxは前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率のいずれか一方を表し、ρyは前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率の他方を表し、V(x,y,ρx,ρy)はx,y,ρx,ρyをパラメータとする電位の変化を表し、V0はxおよびyによらない定数であり、Iは前記測定用信号の電流値を表し、Lxは前記xy直交座標系における前記シート体のx軸方向の長さを表し、Lyは前記xy直交座標系における前記シート体のy軸方向の長さを表し、nは前記各測定位置にそれぞれ付与された数を表し、Σ'はnx=ny=0の項を除いた和を表し、δはクロネッカーのデルタを表し、λnxはnxπ/Lxであり、λnyはnyπ/Lyであり、xdは前記xy直交座標系におけるドレイン側の前記供給位置のx座標を表し、ydは前記xy直交座標系におけるドレイン側の前記供給位置のy座標を表し、xsは前記xy直交座標系におけるソース側の前記供給位置のx座標を表し、ysは前記xy直交座標系におけるソース側の前記供給位置のy座標を表す。 - 前記測定部は、評価値算出処理において、前記各測定位置における前記測定値と前記理論値との差分値の残差平方和を前記評価値として算出する請求項1から3のいずれかに記載の処理装置。
- 前記処理部は、前記規定条件としての前記評価値が規定値以下との条件を満たすまで前記評価値算出処理を繰り返して実行する請求項1から4のいずれかに記載の処理装置。
- シート体の表面における2つの供給位置にそれぞれ接触させた一対の供給用プローブを介して測定用信号を供給している状態で当該表面における複数の測定位置にそれぞれ接触させた複数の測定用プローブを介して当該各測定位置における電位を測定し、当該測定した電位の測定値に基づいて前記表面における第1方向の第1表面抵抗率、および前記表面における前記第1方向とは異なる第2方向の第2表面抵抗率を特定する表面抵抗率特定処理において、
下記の(1)式の解であって、前記各測定位置を示す位置ベクトルの成分と前記第1表面抵抗率と前記第2表面抵抗率とをパラメータとする算出式に、前記各測定位置を示す位置ベクトルの成分と前記第1表面抵抗率として任意に設定した第1設定値と前記第2表面抵抗率として任意に設定した第2設定値とを代入して前記各測定位置における電位の理論値を算出し、前記各測定値と前記各理論値とに基づいて特定される当該各測定値と当該各理論値との一致の程度を評価する評価値を算出する評価値算出処理を前記第1設定値および前記第2設定値を変更しつつ繰り返して実行し、前記評価値が予め決め規定された規定条件を満たしたときの前記第1設定値および前記第2設定値をそれぞれ前記第1表面抵抗率および前記第2表面抵抗率として特定する処理方法。
∇・(σ'∇V(↑r))=−I(δ(↑r−↑rs)−δ(↑r−↑rd))…(1)式
但し、σ'は前記測定位置を示す位置ベクトル↑rの各成分に対応する前記シート体の各導電率を要素とする2次正方行列を表し、∇はナブラ演算子であり、V(↑r)は位置ベクトル↑rで示される前記測定位置における前記電位を表し、Iは前記測定用信号の電流値を表し、δはデルタ関数を表し、↑rsはソース側の前記供給位置を示す位置ベクトルを表し、↑rdはドレイン側の前記供給位置を示す位置ベクトルを表す。
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JP2017233877A JP6974144B2 (ja) | 2017-12-06 | 2017-12-06 | 処理装置および処理方法 |
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JP2017233877A Active JP6974144B2 (ja) | 2017-12-06 | 2017-12-06 | 処理装置および処理方法 |
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JP2010217134A (ja) * | 2009-03-19 | 2010-09-30 | Eiji Nemoto | 多点電圧・電流プローブ法による2次元、および3次元異方性物質の主軸電気抵抗率測定方法およびその測定装置 |
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