JP6956963B2 - 光触媒および水素生成用光触媒電極 - Google Patents
光触媒および水素生成用光触媒電極 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6956963B2 JP6956963B2 JP2018062215A JP2018062215A JP6956963B2 JP 6956963 B2 JP6956963 B2 JP 6956963B2 JP 2018062215 A JP2018062215 A JP 2018062215A JP 2018062215 A JP2018062215 A JP 2018062215A JP 6956963 B2 JP6956963 B2 JP 6956963B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photocatalyst
- cgizs
- electrode
- same manner
- sulfide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000011941 photocatalyst Substances 0.000 title claims description 275
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 title claims description 68
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 title claims description 68
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 67
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 36
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 63
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 claims description 56
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 53
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 45
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 45
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 44
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 claims description 43
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 claims description 42
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 39
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 39
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 38
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 35
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 31
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 239000003426 co-catalyst Substances 0.000 description 77
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 75
- 238000000034 method Methods 0.000 description 65
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 65
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 53
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 53
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 52
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 49
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 44
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 43
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 38
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 35
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 35
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 34
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 34
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 32
- DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N chalcopyrite Chemical compound [S-2].[S-2].[Fe+2].[Cu+2] DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 32
- KWGKDLIKAYFUFQ-UHFFFAOYSA-M lithium chloride Inorganic materials [Li+].[Cl-] KWGKDLIKAYFUFQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 31
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 29
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 29
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- 229910052951 chalcopyrite Inorganic materials 0.000 description 28
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 28
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 27
- 230000001699 photocatalysis Effects 0.000 description 26
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 22
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 22
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 22
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 21
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 21
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 21
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 19
- 229910052976 metal sulfide Inorganic materials 0.000 description 18
- 238000002848 electrochemical method Methods 0.000 description 17
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 17
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 17
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 description 16
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 description 16
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 15
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 14
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 14
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 14
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 14
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 12
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 11
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 238000007716 flux method Methods 0.000 description 9
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 9
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 9
- 229910018091 Li 2 S Inorganic materials 0.000 description 8
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000010408 film Substances 0.000 description 8
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 8
- 238000010532 solid phase synthesis reaction Methods 0.000 description 8
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 229910001510 metal chloride Inorganic materials 0.000 description 7
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 6
- 239000002585 base Substances 0.000 description 6
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 6
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 6
- UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N thiourea Chemical compound NC(N)=S UMGDCJDMYOKAJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 5
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 4
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 4
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 4
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 4
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 4
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 4
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 4
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 150000004763 sulfides Chemical class 0.000 description 4
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N Urea Natural products NC(N)=O XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 3
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 3
- AIYUHDOJVYHVIT-UHFFFAOYSA-M caesium chloride Chemical compound [Cl-].[Cs+] AIYUHDOJVYHVIT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- AQMRBJNRFUQADD-UHFFFAOYSA-N copper(I) sulfide Chemical compound [S-2].[Cu+].[Cu+] AQMRBJNRFUQADD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 235000013365 dairy product Nutrition 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 3
- 238000005470 impregnation Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 3
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 3
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 3
- 229910052979 sodium sulfide Inorganic materials 0.000 description 3
- GRVFOGOEDUUMBP-UHFFFAOYSA-N sodium sulfide (anhydrous) Chemical compound [Na+].[Na+].[S-2] GRVFOGOEDUUMBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021607 Silver chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 alkali metal selenium salts Chemical class 0.000 description 2
- 229910052977 alkali metal sulfide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QCUOBSQYDGUHHT-UHFFFAOYSA-L cadmium sulfate Chemical compound [Cd+2].[O-]S([O-])(=O)=O QCUOBSQYDGUHHT-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229910000331 cadmium sulfate Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 2
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 238000000224 chemical solution deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 150000001805 chlorine compounds Chemical group 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000004146 energy storage Methods 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- QNWMNMIVDYETIG-UHFFFAOYSA-N gallium(ii) selenide Chemical compound [Se]=[Ga] QNWMNMIVDYETIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BVSHTEBQPBBCFT-UHFFFAOYSA-N gallium(iii) sulfide Chemical compound [S-2].[S-2].[S-2].[Ga+3].[Ga+3] BVSHTEBQPBBCFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- SIXIBASSFIFHDK-UHFFFAOYSA-N indium(3+);trisulfide Chemical compound [S-2].[S-2].[S-2].[In+3].[In+3] SIXIBASSFIFHDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- GLNWILHOFOBOFD-UHFFFAOYSA-N lithium sulfide Chemical compound [Li+].[Li+].[S-2] GLNWILHOFOBOFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 2
- NROKBHXJSPEDAR-UHFFFAOYSA-M potassium fluoride Chemical compound [F-].[K+] NROKBHXJSPEDAR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000000634 powder X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- NMHFBDQVKIZULJ-UHFFFAOYSA-N selanylideneindium Chemical compound [In]=[Se] NMHFBDQVKIZULJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M silver monochloride Chemical compound [Cl-].[Ag+] HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- PUZPDOWCWNUUKD-UHFFFAOYSA-M sodium fluoride Chemical compound [F-].[Na+] PUZPDOWCWNUUKD-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L Calcium chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Ca+2] UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004783 Serene Substances 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001514 alkali metal chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001339 alkali metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910001617 alkaline earth metal chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005290 antiferromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- WDIHJSXYQDMJHN-UHFFFAOYSA-L barium chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Ba+2] WDIHJSXYQDMJHN-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001626 barium chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- LHQLJMJLROMYRN-UHFFFAOYSA-L cadmium acetate Chemical compound [Cd+2].CC([O-])=O.CC([O-])=O LHQLJMJLROMYRN-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001110 calcium chloride Substances 0.000 description 1
- 229910001628 calcium chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002484 cyclic voltammetry Methods 0.000 description 1
- 230000000779 depleting effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- ZVSWQJGHNTUXDX-UHFFFAOYSA-N lambda1-selanyllithium Chemical compound [Se].[Li] ZVSWQJGHNTUXDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 235000010755 mineral Nutrition 0.000 description 1
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- 230000003472 neutralizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005504 petroleum refining Methods 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 239000011698 potassium fluoride Substances 0.000 description 1
- 235000003270 potassium fluoride Nutrition 0.000 description 1
- DPLVEEXVKBWGHE-UHFFFAOYSA-N potassium sulfide Chemical compound [S-2].[K+].[K+] DPLVEEXVKBWGHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BHZRJJOHZFYXTO-UHFFFAOYSA-L potassium sulfite Chemical compound [K+].[K+].[O-]S([O-])=O BHZRJJOHZFYXTO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 235000019252 potassium sulphite Nutrition 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052701 rubidium Inorganic materials 0.000 description 1
- IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N rubidium atom Chemical compound [Rb] IGLNJRXAVVLDKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940065287 selenium compound Drugs 0.000 description 1
- 150000003343 selenium compounds Chemical class 0.000 description 1
- HVAKSLUOHARFLM-UHFFFAOYSA-N selenium;sodium Chemical compound [Se][Na] HVAKSLUOHARFLM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MTCFGRXMJLQNBG-UHFFFAOYSA-N serine Chemical compound OCC(N)C(O)=O MTCFGRXMJLQNBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000011775 sodium fluoride Substances 0.000 description 1
- 235000013024 sodium fluoride Nutrition 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 229910001631 strontium chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- AHBGXTDRMVNFER-UHFFFAOYSA-L strontium dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Sr+2] AHBGXTDRMVNFER-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000000967 suction filtration Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007736 thin film deposition technique Methods 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/30—Hydrogen technology
- Y02E60/36—Hydrogen production from non-carbon containing sources, e.g. by water electrolysis
Landscapes
- Catalysts (AREA)
Description
本発明の光触媒を構成する複合金属化合物は、カルコパイライト型の結晶構造を有する。
カルコパイライト(Chalcopyrite)とは金色の鉱物である黄銅鉱CuFeS2の英名である。この物質は、ZnSに代表される閃亜鉛鉱(ZB)構造を2段重ねにしてZnをCuとFeの2元素で秩序正しく置き換えた正方晶の結晶構造をとる反強磁性の半導体である。構成元素は全て他の元素の四面体で取り囲まれており、原子同士は強い共有結合で結びついている。
(上記式中、a、b、c、d、e、fは下記条件を満たし、XはSeを示し、Yはアルカリ金属を示す。
0<a≦2、0<(b+c)≦1.67、0≦d<2、0≦e<2、0<f<0.1。)
本発明の光触媒の製造方法は特に限定はされない。上記の通り、光触媒を構成する複合金属化合物の元素成分および組成、カルコパイライト型の結晶構造が満たされれば、その製造方法は限定されるものではない。
本発明の光触媒である複合金属化合物は、光励起された電子を用いて水を還元して水素を生成するが、助触媒はその活性点として機能する。その際に、光励起された電子が助触媒の表面において水分子に電子を与えることで水素分子が生成すると考えられる。
本発明の光触媒は、光水分解反応用(水素生成用)の光触媒として好適に利用することができる。その場合、光水分解反応に供される光触媒の形態としては、特に限定されず、例えば、水中に光触媒を分散させる形態、光触媒を成形体として当該成形体を水中に設置する形態、基材上に光触媒を含む層を設けて積層体とし当該積層体を水中に設置する形態、集電体上に光触媒を固定化して光水分解反応用の光触媒電極とし対極とともに水中に設置する形態等が挙げられる。
本発明の光触媒や、光触媒電極を、水若しくは電解質水溶液に浸漬し、当該光触媒または光触媒電極に光を照射して光水分解を行うことで、水素を製造することができる。
[光触媒合成]
Cu2S((株)高純度化学研究所製、純度99.0%)を0.6366g、Ga2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.5655g、In2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.6517g、ZnS((株)高純度化学研究所製、純度99.999%)を0.3897g、そして、Li源としてLi2Sを0.0084gを秤量して、乳鉢にて混合後、片端が封じられた石英製ガラスチューブに入れた。この石英製ガラスチューブのもう一方の端を真空下に保ちながらバーナーにて熱して封じた。この真空下に封じられた密閉チューブを電気炉に入れて800℃10hr(時間)熱処理を行った。室温に放冷してから内容物(以下「CGIZS光触媒」とも記載する。)を取り出した。この内容物をICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.109、21.9、14.9、20.5、12.0、30.5%であり、組成比は、各々順に、0.0331、0.72、0.45、0.38、0.39、2.00(すなわち式(1)において、f=0.0331、a=0.72、b=0.45、c=0.38、d=0.39、e=0)であり、また、全金属原子に対するLiの割合は、1.68モル%であった。
上記実施例1において得られた試料(CGIZS光触媒)について、粉末X線回折(XRD)を用いて結晶構造解析を行った。結果を図1に示す。図1のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1において得られたCGIZS光触媒 30mgを1mLの2−プロパノールに懸濁させ、この懸濁液200μLをガラス基板上に滴下し、次いで乾燥することを3回繰り返してガラス基板上に光触媒層を形成した。次に、該光触媒層上に、集電導電体層となるAuを蒸着により2μm程度の膜厚で積層した。蒸着装置には、真空蒸着装置(アルバック機工(株)製、VPC−260F)を用いた。その後、両面テープを用いて集電導電体層の上から別のガラス基板を接着して、最初に付けたガラス基材を除去し、純水中で超音波洗浄した。最後に、エポキシ樹脂を用いて光触媒層以外の部分を封止し、さらにIn導線を集電導電体層に接着することで、光触媒層(CGIZS)/集電導電体層(Au)/ガラス基板からなるCGIZS光触媒電極を得た。
50mLの水を70℃に加温して、同温度にて撹拌下に、硫酸カドミウム0.28g、28%アンモニア水0.4mL、チオ尿素1.4gを順次加えた後、上記で得られた各CGIZS光触媒電極を5分間浸漬した。取り出した光触媒電極を純水で洗浄した後、室温で一晩乾燥することでCdSで表面修飾されたCGIZS光触媒電極を得た。次に、助触媒となるPtをマルチ成膜装置を用いて1nm程度の厚さ相当の量を担持した。こうして、電極構成としてPt/CdS/光触媒層(CGIZS)/集電導電体層(Au)/ガラス基板からなる光触媒電極を得た。
上記[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、以下の測定条件によって、光電気化学特性を調べた。結果を図2及び表1に示す。
・光源 ソーラーシミュレーター AM1.5G(100mW/cm2)
・電解液 0.5M Na2SO4、0.25M Na2HPO4、0.25M NaH2PO4 pH 6.3
・参照電極 Ag/AgCl、対電極 Ptワイヤ
・アルゴン雰囲気
[光触媒合成]
Li2Sを0.0001gとした以外は実施例1と同様の操作でLiを含有するCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒をICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.001、22.7、15.2、21.0、11.7、29.6%であり、組成比は、各々順に、0.0002、0.77、0.47、0.40、0.38、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.01モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例2で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図1に示す。図1のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図2に示す。
[光触媒合成]
Li2Sを0.0008gとした以外は実施例1と同様の操作でLiを含有するCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒をICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.007、21.8、15.5、21.7、11.7、29.3%であり、組成比は、各々順に、0.0023、0.75、0.49、0.41、0.39、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.11モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例3で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図1に示す。図1のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図2に示す。
[光触媒合成]
Li2Sを0.0126gとした以外は実施例1と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒をICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.156、23.0、14.6、20.8、11.7、29.7%であり、組成比は、各々順に、0.0486、0.78、0.45、0.39、0.39、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、2.36モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例4で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図1に示す。図1のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図2に示す。
[光触媒合成]
Li2Sを0.0185gとした以外は実施例1と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒をICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.226、23.3、15.2、20.7、11.5、29.0%であり、組成比は、各々順に、0.0721、0.81、0.48、0.40、0.39、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、3.35モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例5で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図1に示す。図1のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図2に示す。
[光触媒合成]
原料としてLi2Sを用いないこと以外は実施例1と同様の操作でLiを含有しないCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒をICP分析したところ、その成分として、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、22.6、15.1、20.9、11.7、29.6%であり、組成比は、各々順に、0.77、0.47、0.40、0.39、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.00モル%であった。
実施例1と同様にして、比較例1で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図1に示す。図1のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図2に示す。
[光触媒合成]
Li2Sの代わりに、Na源としてNa2Sを0.0028gを用いた以外は実施例1と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒ICP分析したところ、その成分として、Na、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.072、21.7、15.2、21.3、11.9、29.8であり、組成比は、各々順に、0.0067、0.73、0.47、0.40、0.39、2.0%であった。また、全金属原子に対するNaの割合は、0.34モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例6で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図3に示す。図3のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図4に示す。
[光触媒合成]
Li2Sの代わりに、K源としてK2Sを0.0010gを用いた以外は実施例1と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒をICP分析したところ、Kは、検出限界のため測定不可であった。仕込んだK分がすべてCGIZS触媒に組み込まれたとした理論重量%は、0.03%、全金属原子に対するKの割合の理論値は、0.04モル%と見積もられた。
実施例1と同様にして、実施例7で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図3に示す。図3のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図4に示す。
[光触媒合成]
Cu2S((株)高純度化学研究所製、純度99.0%)を0.6366g、Ga2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.5655g、In2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.6517g、ZnS((株)高純度化学研究所製、純度99.999%)を0.3897g、そして、フラックス剤として、塩化リチウム(LiCl、関東化学(株)製、純度99.9%)2.29gと塩化カリウム(KCl、関東化学(株)製、純度99.5%)2.68gを秤量して、乳鉢にて混合後、片端が封じられた石英製ガラスチューブに入れた。この石英製ガラスチューブのもう一方の端を真空下に保ちながらバーナーにて熱して封じた。この真空下に封じられた密閉チューブを電気炉に入れて550℃15hr熱処理を行った。室温に放冷してから内容物(CGIZS光触媒)を取り出した。この内容物を100ccの水を用いて洗浄する操作を3回実施した。その後、ろ過したものを40℃で15時間乾燥させた。得られたCGIZS触媒を、ICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.031、22.7、15.2、21.0、11.1、30.0%であり、組成比は、各々順に、0.0094、0.76、0.47、0.39、0.36、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.47モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例8で得られた光触媒のXRD測定を行なった。結果を図5に示す。図5のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図6に示す。
[光触媒合成]
熱処理条件を650℃15hr(時間)とした以外は実施例8と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒を、ICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.049、22.6、15.0、21.2、11.0、30.2%であり、組成比は、各々順に、0.0151、0.75、0.45、0.39、0.36、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.77モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例9で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行った。結果を図5に示す。図5のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図6に示す。
[光触媒合成]
熱処理条件を750℃3hrとした以外は実施例8と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒を、ICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.042、23.0、16.4、20.6、11.3、28.7%であり、組成比は、各々順に、0.0134、0.81、0.53、0.40、0.39、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.63モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例10で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図5に示す。図5のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図6に示す。
[光触媒合成]
Ga2S3を0.6127gとした以外は実施例8と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒を、ICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.025、21.5、16.4、20.4、11.2、30.5%であり、組成比は、各々順に、0.0075、0.71、0.49、0.37、0.36、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.39モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例11で得られた光触媒のXRD測定を行なった。結果を図5に示す。図5のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図6に示す。
[光触媒合成]
Ga2S3を0.6127gとし、熱処理条件を650℃25hrとした以外は実施例8と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒を、ICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.087、22.9、16.1、19.8、10.8、30.3%であり、組成比は、各々順に、0.0266、0.76、0.49、0.37、0.35、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、1.33モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例12で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図5に示す。図5のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図6に示す。
[光触媒合成]
In2S3を0.7821g、ZnSを0.4677gとした以外は実施例8と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られたCGIZS光触媒を、ICP分析したころ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.020、18.4、13.8、22.8、13.9、31.0%であり、組成比は、各々順に、0.0058、0.60、0.41、0.41、0.44、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.31モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例13で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図5に示す。図5のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図6に示す。
[光触媒合成]
Cu2S((株)高純度化学研究所製、純度99.0%)を0.8038g、Ga2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.7070g、In2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.8147g、そして、フラックス剤として、塩化リチウム(LiCl、関東化学(株)製、純度99.9%)2.54gと塩化カリウム(KCl、関東化学(株)製、純度99.5%)2.98gを秤量して、乳鉢にて混合後、片端が封じられた石英製ガラスチューブに入れた。この石英製ガラスチューブのもう一方の端を真空下に保ちながらバーナーにて熱して封じた。この真空下に封じられた密閉チューブを電気炉に入れて650℃15hr熱処理を行った。室温に放冷してから内容物(CGIS光触媒)を取り出した。この内容物を100ccの水を用いて洗浄する操作を3回実施した。その後、ろ過したものを40℃で15時間乾燥させた。得られたCGIZS触媒を、ICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、Sの重量%は、各々順に、0.0805、25.6、18.9、25.2、0.00、30.1%であり、組成比は、各々順に、0.0247、0.86、0.58、0.47、0.00、2.00であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、1.28モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例14で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図7に示す。図7のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図8に示す。
Cu2Se((株)高純度化学研究所製、純度99.9%)を0.8250g、Ga2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.5656g、In2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.6517g、ZnS((株)高純度化学研究所製、純度99.999%)を0.3897g、そして、フラックス剤として、塩化リチウム(LiCl、関東化学(株)製、純度99.9%)2.54gと塩化カリウム(KCl、関東化学(株)製、純度99.5%)2.98gを秤量して、乳鉢にて混合後、片端が封じられた石英製ガラスチューブに入れた。この石英製ガラスチューブのもう一方の端を真空下に保ちながらバーナーにて熱して封じた。この真空下に封じられた密閉チューブを電気炉に入れて650℃15hr熱処理を行った。室温に放冷してから内容物(CGIZS光触媒)を取り出した。この内容物を100ccの水を用いて洗浄する操作を3回実施した。その後、ろ過したものを40℃で15時間乾燥させた。得られたCGIZS触媒を、ICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、S、Seの重量%は、各々順に、0.0616、21.3、13.9、19.3、10.3、22.6、12.5%であり、組成比は、各々順に、0.0207、0.78、0.46、0.39、0.37、1.64、0.36であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、1.02モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例15で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図7に示す。図7のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図8に示す。
ZnSの代わりにZnSe(SIGMA−ALDRICH製99.99%)0.5775gを用いた以外は実施例15と同様の操作によりCGIZS光触媒を得た。得られた光触媒についてICP分析したところ、その成分として、Li、Cu、Ga、In、Zn、S、Seの重量%は、各々順に、0.0287、20.0、12.6、17.9、9.9、15.6、24.1%であり、組成比は、各々順に、0.0106、0.80、0.46、0.40、0.39、1.24、0.76であった。また、全金属原子に対するLiの割合は、0.51モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例16で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図8に示す。図8のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例1と同様にして、[CGIZS光触媒電極の作製、粒子転写法]および[CdS表面修飾とPt助触媒担持]を行った。
[CdS表面修飾とPt助触媒担持]で得られた光触媒電極を用いて、実施例1と同様にして、光電気化学特性を調べた。結果を図8に示す。
[光触媒合成]
光触媒をフラックス法で合成した。原料にはCu2S((株)高純度化学研究所製、純度99.0%)を1.019g(6.40mmol)、Ga2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を0.905g(3.84mmol)、In2S3((株)高純度化学研究所製、純度99.99%)を1.251g(3.84mmol)、ZnS((株)高純度化学研究所製、純度99.999%)を0.748g(7.68mmol)用いた。この原料仕込みは、Cu、Ga、In、Zn、Sの組成比が、モル基準で、各々順に、0.68、0.41、0.41、0.41、2.0に相当する。原料の混合はメノー乳鉢を用いて、N2グローブボックス中で行った。フラックス剤にはLiCl(関東化学(株)製、純度99.0%)4.070g(48mmol)およびKCl(関東化学(株)製、純度99.5%)4.771g(32mmol)を用いた。フラックス剤の混合は、原料の金属硫化物の混合と同様に行った。これらの混合物を、原料、フラックス剤の順番で石英製シース管に入れ、縦型管状炉において大気中、650℃、3時間の熱処理を行った。熱処理において、昇温速度は10℃/分である。熱処理の降温は、5℃/分の降温速度で行った。熱処理後の試料は、純水で十分に洗浄してフラックス成分を除去してから、吸引濾過にて分離回収した。その後、大気中、室温で一晩乾燥させた。得られた乾燥物(光触媒)をICP分析したところ、Liの含有量は0.037重量%であり、全金属原子に対するLiの割合は、0.57モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例17で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図9に示す。図9のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例17で得られたCGIZS光触媒に対して、助触媒としてRu 2重量%を光電着法により担持した。具体的には、RuCl3 0.40mmolとメタノール20mLとを含む水溶液200mLに上記触媒粉末0.2gを室温にて撹拌下に懸濁させた状態で300Wのキセノンランプによる光照射を3時間行った。その後、濾過して水洗浄を行い、一晩室温にて乾燥させた。
上記によりRu助触媒を担持させた、実施例17で得られたCGIZS光触媒について、水を分解して水素を生成する光触媒活性を、疑似太陽光照射下における亜硫酸カリウムおよび硫化ナトリウムを含む水溶液からの水素生成反応で評価した。評価には閉鎖循環型反応装置に接続した上方照射型反応セルを用いた。触媒粉末0.2gを、0.50mol/LのK2SO3、および、0.10mol/LのNa2Sを含む水溶液200mlに懸濁させ、マグネチックスターラーで評価中は撹拌した。反応条件としては、反応温度20℃、反応圧5kPaである。Pyrex(登録商標)ガラス製の窓の上から、ソーラーシミュレーター(AM1.5G)を用いて、疑似太陽光を照射した。照射強度は100mW/cm2であった。発生した水素は、オンラインのガスクロマトグラフ(島津製作所製;GC−8A、MS−5A、TCD、Arキャリアー)で定量した。結果を表2に示す。
In2S3を用いない以外は実施例17と同様にして、Cu、Ga、In、Zn、Sの組成比が、モル基準で、それぞれ順に、0.71、0.43、0.00、0.42、2.0に相当する光触媒を得た。ICP分析の結果、Liの含有量は0.048重量%であり、全金属原子に対するLiの割合は0.74モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例18で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図9に示す。図9のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例17と同様にして、[助触媒担持]および[CGIZS光触媒の水素生成活性評価(懸濁系)]を行って、水素生成活性を評価した。結果を表2に示す。
Ga2S3を用いない以外は実施例17と同様にして、Cu、Ga、In、Zn、Sの組成比が、モル基準で、それぞれ順に、0.71、0.00、0.42、0.42、2.0に相当する光触媒を得た。ICP分析の結果、Liの含有量は0.039重量%であり、全金属原子に対するLiの割合は0.67モル%であった。
実施例1と同様にして、実施例19で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図9に示す。図9のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例17と同様にして、[助触媒担持]および[CGIZS光触媒の水素生成活性評価(懸濁系)]を行って、水素生成活性を評価した。結果を表2に示す。
光触媒を固相法で合成した。具体的には、原料の金属硫化物には、実施例17と同じものを同じ仕込み量で用い、これらの混合物を石英製ガラス管に入れ、0.5Paの真空下に封管した後、電気炉で800℃、10時間の熱処理を行った。放冷後、室温になった状態で開封して粉末を取り出して、Cu、Ga、In、Zn、Sの組成比が、モル基準で、各々順に、0.68、0.41、0.41、0.41、2.0に相当する光触媒を得た。
実施例1と同様にして、比較例2で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図9に示す。図9のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例17と同様にして、[助触媒担持]および[CGIZS光触媒の水素生成活性評価(懸濁系)]を行って、水素生成活性を評価した。結果を表2に示す。
In2S3を用いない以外は比較例2と同様にして、Cu、Ga、In、Zn、Sの組成比が、モル基準で、各々順に、0.71、0.43、0.00、0.42、2.0に相当する光触媒を得た。
実施例1と同様にして、比較例3で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図9に示す。図9のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例17と同様にして、[助触媒担持]および[CGIZS光触媒の水素生成活性評価(懸濁系)]を行って、水素生成活性を評価した。結果を表2に示す。
Ga2S3を用いない以外は比較例2と同様にして、Cu、Ga、In、Zn、Sの組成比が、0.71、0.00、0.42、0.42、2.0に相当する光触媒を得た。
実施例1と同様にして、比較例4で得られたCGIZS光触媒のXRD測定を行なった。結果を図9に示す。図9のXRD測定結果において、カルコパイライト型の結晶構造の硫化物が得られていることが確認された。
実施例17と同様にして、[助触媒担持]および[CGIZS光触媒の水素生成活性評価(懸濁系)]を行って、水素生成活性を評価した。結果を表2に示す。
Claims (3)
- カルコパイライト型の結晶構造を有する複合金属化合物からなり、可視光を用いて水から水素の生成が可能な光触媒であって、
前記複合金属化合物が、Cuと、Sと、GaおよびInの少なくとも一方と、アルカリ金属とを必須成分として含有し、必要に応じてZnおよびSeの少なくとも一方を含有し、かつ、前記複合金属化合物中の全金属原子に対して前記アルカリ金属を0.001〜5モル%含有する、光触媒。 - 前記複合金属化合物が、Cuと、Sと、GaおよびInの少なくとも一方と、アルカリ金属と、Znとを含有する、請求項1に記載の光触媒。
- 請求項1又は2に記載の光触媒を有する、水素生成用光触媒電極。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018062215A JP6956963B2 (ja) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 光触媒および水素生成用光触媒電極 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018062215A JP6956963B2 (ja) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 光触媒および水素生成用光触媒電極 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019171284A JP2019171284A (ja) | 2019-10-10 |
JP6956963B2 true JP6956963B2 (ja) | 2021-11-02 |
Family
ID=68167844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018062215A Active JP6956963B2 (ja) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 光触媒および水素生成用光触媒電極 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6956963B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114752948B (zh) * | 2022-04-21 | 2024-04-09 | 西安电子科技大学 | 一种光电耦合双源激发裂解水产氢反应器及系统与方法 |
CN115055192B (zh) * | 2022-06-16 | 2023-06-30 | 中南大学 | 一种Al3+/Zn0.4(CuGa)0.3Ga2S4复合材料及其制备方法和应用 |
CN115155625B (zh) * | 2022-06-24 | 2023-08-04 | 江西理工大学 | 一种多结纳米催化剂及其制备方法和应用 |
CN115532284A (zh) * | 2022-10-14 | 2022-12-30 | 东莞理工学院 | 多元硫化物异质结微球及其制备方法、应用、光催化制氢方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4608693B2 (ja) * | 2004-12-17 | 2011-01-12 | 学校法人東京理科大学 | 可視光を全吸収する水素生成のための黒色光触媒 |
JP2015196155A (ja) * | 2014-04-03 | 2015-11-09 | 国際石油開発帝石株式会社 | 光触媒及びそれを用いた水素生成方法 |
JP6470868B2 (ja) * | 2016-02-23 | 2019-02-13 | 富士フイルム株式会社 | 人工光合成モジュール |
-
2018
- 2018-03-28 JP JP2018062215A patent/JP6956963B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019171284A (ja) | 2019-10-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Ng et al. | Z‐scheme photocatalytic systems for solar water splitting | |
JP6883799B2 (ja) | 金属化合物の製造方法、光触媒の製造方法、および光触媒複合体の製造方法 | |
Toe et al. | Recent advances and the design criteria of metal sulfide photocathodes and photoanodes for photoelectrocatalysis | |
Abouelela et al. | Metal chalcogenide-based photoelectrodes for photoelectrochemical water splitting | |
JP6956963B2 (ja) | 光触媒および水素生成用光触媒電極 | |
Zhang et al. | Highly efficient Zn–Cu–In–Se quantum dot-sensitized solar cells through surface capping with ascorbic acid | |
Nguyen et al. | In situ photo-assisted deposition of MoS 2 electrocatalyst onto zinc cadmium sulphide nanoparticle surfaces to construct an efficient photocatalyst for hydrogen generation | |
Yuan et al. | Cu2ZnSnS4 decorated CdS nanorods for enhanced visible-light-driven photocatalytic hydrogen production | |
Patra et al. | Hybrid dot–disk Au-CuInS2 nanostructures as active photocathode for efficient evolution of hydrogen from water | |
Chiang et al. | Aqueous solution-processed off-stoichiometric Cu–In–S QDs and their application in quantum dot-sensitized solar cells | |
Ikeda et al. | Photocathode characteristics of a spray-deposited Cu2ZnGeS4 thin film for CO2 reduction in a CO2-saturated aqueous solution | |
Gulen et al. | Ternary copper-tungsten-disulfide nanocube inks as catalyst for highly efficient dye-sensitized solar cells | |
Dhandole et al. | CdIn2S4 chalcogenide/TiO2 nanorod heterostructured photoanode: An advanced material for photoelectrochemical applications | |
JP5548923B2 (ja) | 光水分解用電極、光水分解用電極の製造方法、および、水分解方法 | |
JPWO2019181392A1 (ja) | 水分解用光触媒、電極および水分解装置 | |
Halder et al. | Cation exchange in Zn–Ag–In–Se core/alloyed shell quantum dots and their applications in photovoltaics and water photolysis | |
Park et al. | Effective formation of WO3 nanoparticle/Bi2S3 nanowire composite for improved photoelectrochemical performance | |
Carminati et al. | Challenges and prospects about the graphene role in the design of photoelectrodes for sunlight-driven water splitting | |
Gulen | Lithium perchlorate-assisted electrodeposition of CoS catalyst surpassing the performance of platinum in dye sensitized solar cell | |
Savariraj et al. | Stacked Cu 1.8 S nanoplatelets as counter electrode for quantum dot-sensitized solar cell | |
Patil et al. | Topotactic and Self-Templated Fabrication of Zn1–x Cd x Se Porous Nanobelt–ZnO Nanorod for Photoelectrochemical Hydrogen Production | |
Song et al. | Porous Cu2BaSn (S, Se) 4 film as a photocathode using non-toxic solvent and a ball-milling approach | |
Khodabandeh et al. | Photoelectrochemical water splitting based on chalcopyrite semiconductors: A review | |
JP6836239B2 (ja) | 複合金属化合物および光触媒電極 | |
Ni et al. | Improved H2 Evolution in Quaternary SCIGS Chalcopyrite Semiconductors |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200929 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210824 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210907 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210922 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6956963 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |