JP6909858B2 - シャッター装置及びその制御方法、リソグラフィー装置及びその露光量制御方法 - Google Patents

シャッター装置及びその制御方法、リソグラフィー装置及びその露光量制御方法 Download PDF

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Description

本発明はリソグラフィー装置分野に関し、特に、シャッター装置及びその制御方法、リソグラフィー装置及びその露光量制御方法に関する。
フォトリソグラフィーは、基板の表面上に特徴を有するパターンを印刷するために用いられる。一般的に用いられる基板は、表面に感光性媒体が塗布された半導体ウェハーまたはガラス基板を含む。フォトリソグラフィープロセスにおいて、ウェハーはウェハーステージ上に置かれ、リソグラフィー装置内の露光装置によって特徴を有するパターンをウェハーの表面に投影する。
リソグラフィー装置の重要な指標は露光量であり、露光量を正確に制御することはリソグラフィー装置のエッチング精度に直接影響を与える。
従来のミディアムエンド及びローエンドフォトリソグラフィ装置の露光システムは、光源として高圧水銀ランプを用い、露光の開始及び終了は光学路内の機械式シャッターによって制御し、露光量は露光時間によって決められる。具体的には、まず、予熱または環境制御によって、高圧水銀ランプの出力光パワーを安定させた後、露光時間を計算し、シャッターを開いて露光を開始し、同時にカウントを始める。最後に、露光時間になると、シャッターを閉じ、露光を終了する。
露光に適用されるシャッターの機械形式は、シャッター羽根の動作形態によって、回転式シャッターとリニア式シャッターとに分けられる。シャッター動作制御方式は、主に開ループ制御と閉ループ制御を含む。
従来技術において、二重羽根回転式直接駆動方式のシャッターが開示されており、ここで、動作体は永久磁石であり、コイル内部の電流方向を変えることで磁場の方向を変えて永久磁石の直線運動を吸収している。但し、速度については明らかに開示していない。従来技術において電磁直線運動駆動構造がさらに開示されているが、この構造の適用条件はカメラ分野であり、開口径が10mmより小さく、カメラの動作条件の光強度エネルギーが低く、リソグラフィ装置に適しない。
従来技術では、回転モータを駆動として用いる単一羽根の回転式シャッターをさらに提案しており、閉ループ制御により露光開閉位置を制御し、シャッターの最小開閉時間(シャッターが開き始めてから完全に閉じるまでに必要な最小時間)は150ms〜170msであり、光源の照射強度が2000mW/cmの動作条件下で、前記回転式シャッターを用いて実現可能な最小露光量は300mjである。但し、このシャッターが直面する主な問題は以下の通りである。
(1)300mj未満のプロセス用量に対して、照度減衰構造のエネルギー減衰方式によって少量の露光量を実現しなければならない。
(2)開閉時間の制限により、少量露光歩留まりに明らかな欠点がある。
(3)照度減衰機構の存在及びシャッター開閉速度の制限により、単位時間あたりの光源の利用率が低下する。
本発明は、シャッター開閉時間を短縮し、少量露光歩留まりを向上させ、また、光源の利用率を向上させるシャッター装置及びその制御方法、リソグラフィー装置及びその露光量制御方法を提供する。
前記技術問題を解決するために、本発明は、遮光ユニット及びボイスコイルモータを含み、前記ボイスコイルモータは永久磁石モジュール、駆動ガイドレールモジュール、及びコイル構造を含み、前記コイル構造は前記駆動ガイドレールモジュール上に設置され、前記永久磁石モジュールは前記駆動ガイドレールモジュールの内部で磁場を発生し、前記遮光ユニットは2つのシャッター羽根を含み、前記シャッター羽根は前記コイル構造と連結され、前記コイル構造に通電されると、前記駆動ガイドレールモジュールの磁場方向と反対または同じ方向の磁場を発生して、前記コイル構造が前記駆動ガイドレールモジュールに沿って正方向または逆方向に運動するようにして2つのシャッター羽根を開閉させるシャッター装置を提供する。
好ましくは、前記永久磁石モジュールは、対称的に配置された2組の永久磁石グループを含み、各組の永久磁石グループは2つの永久磁石を含み、前記駆動ガイドレールモジュールは前記2つの永久磁石の間に設けられ、前記コイル構造は2つのコイルを含み、1つのコイルは1つのシャッター羽根に連結され、且つ1組の永久磁石グループに対応する。
好ましくは、前記駆動ガイドレールモジュールは鉄心を用いる。
好ましくは、前記駆動ガイドレールモジュールは弧形または半円形である。
好ましくは、前記2つのシャッター羽根ははさみ型でヒンジ連結され、且つ2つのシャッター羽根の間は閉鎖状態で重なり合う。
好ましくは、前記シャッター羽根はアルミニウム製羽根を用いる。
好ましくは、前記シャッター羽根の表面に対して黒色陽極酸化工程処理を行う。
好ましくは、前記シャッター装置はボイスコイルモータ及び遮光ユニットの外部に覆われて設けられたハウジングをさらに含み、前記ハウジング上の遮光ユニットに対応する位置に光通過孔が設けられている。
好ましくは、前記ハウジングに圧縮空気を流入して前記ボイスコイルモータ及び遮光ユニットを冷却するための冷却ガス入口が設けられている。
好ましくは、前記シャッター羽根の直径は前記光通過孔の直径よりも大きい。
好ましくは、前記シャッター羽根と前記コイル構造との間にベアリングシャフトアセンブリがさらに設けられている。
好ましくは、前記ベアリングシャフトアセンブリは、べアリングハウジングと、前記ベアリングハウジングに取り付けられた回転軸と、前記回転軸に設置されたベアリングと、前記ベアリングと結合される軸スリーブとを含み、前記シャッター羽根は前記回転軸に設けられ、且つコイル構造と連結される。
好ましくは、前記回転軸と前記ベアリングとの間、前記ベアリングと前記軸スリーブとの間は中間嵌めされる。
好ましくは、前記ベアリングは二重深溝玉ベアリングを用いる。
好ましくは、前記シャッター装置は、位置検出器と位置検出片とをさらに含み、前記位置検出器は前記ベアリングハウジングに取り付けられ、前記位置検出片は前記軸スリーブに取り付けられ、且つ前記シャッター羽根に対して固定された位置を有する。
好ましくは、前記シャッター羽根の重心は前記回転軸の中心付近であり、且つ前記シャッター羽根の円弧縁側に偏っている。
好ましくは、前記永久磁石モジュール及び駆動ガイドレールモジュールがべアリングハウジングに取り付けられて固定される。
本発明は、所望のスポットサイズによってボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップと、ボイスコイルモータの出力パワーによって制御カードからコイル構造に出力される電流を決定するステップと、を含み、前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力してシャッター羽根の加速を制御することができ、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力してシャッター羽根の減速を制御することができ、加速開き、減速開き、加速閉じ及び減速閉じの四つの速度の制御段階によって前記シャッター羽根の開閉を実現し、同時にシャッター羽根が加速開き、減速開き、加速閉じ及び減速閉じ状態時の通電時間を設定する前記のようなシャッター装置の制御方法をさらに提供する。
好ましくは、前記方法は、前記制御カードによりコイル構造にシャッター羽根の加速を制御する正方向電流及びシャッター羽根の減速を制御する逆方向電流よりもはるかに小さい電流を出力してシャッター羽根が静止状態になるようにするステップをさらに含む。
好ましくは、所望のスポットサイズによってボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップは、所望のスポットサイズによって単一シャッター羽根の回転ストロークを決定し、前記回転ストロークによって開閉過程でシャッター羽根の所望の推力を計算して、さらにボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップを含む。
好ましくは、前記方法は、前記制御カードがコイル構造に出力する電流ピークを最適化し、前記シャッター羽根に対してS型速度曲線制御を行うステップをさらに含む。
本発明は、前記シャッター装置を含むリソグラフィー装置をさらに提供する。
本発明は、露光量コマンドを受信し、前記露光量に基づいて前記ボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップと、前記ボイスコイルモータの出力パワーによって、制御カードがコイル構造に出力する電流と通電時間を決定するステップとを含み、前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力して前記シャッター装置が加速開き動作を行うようにし、加速が終わると、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力して前記シャッター装置が減速開き動作を行うようにし、減速電流が終わると、前記制御カードは前記コイル構造に保持電流を出力して待機段階に入り、エネルギー時間積分判断条件に従って閉鎖コマンドの発行を待ち、閉鎖コマンドが発行されると、前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力して前記シャッター装置が加速閉じ動作を行うようにし、加速が終わると、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力して前記シャッター装置を減速閉じ動作を行うようにすることにより、一回の露光量制御過程を完成する前記リソグラフィー装置に適用される露光量制御方法をさらに提供する。
従来技術に比べて、本発明は以下のような長所を有する。本発明は、2つのシャッター羽根を結合して用いることにより、シャッター羽根のストロークを低減することができ、一方、大きいトルクを提供することができるボイスコイルモータを用い、両者を結合することにより、本発明のリソグラフィ装置の露光シャッター装置が以下の技術指標を実現することができるようにする:即ち、単一シャッター羽根の開閉角度が20°に達し、光通過直径は40mm、最小開閉時間は28.4msであり、シャッター羽根の開閉時間が大幅に向上した、また、単一シャッター羽根の駆動平均電力は15.3Wであり、照度2500mW/cmの条件下で、シャッター羽根が170Wの光強度での最小露光量は80mjであり、少量露光歩留まりが少なくとも3倍増加して、照明減衰機構を使用する必要がなく、単位時間あたりの光源の利用率が向上した。
本発明の実施例1におけるシャッター装置の構造を示す図である。 本発明の実施例1におけるボイスコイルモータの構造を示す図である。 本発明の実施例1におけるベアリングシャフトアセンブリの構造を示す図である。 本発明の実施例1におけるシャッター羽根の質量重心位置を示す図である。 本発明の実施例1におけるシャッター羽根とハウジングとの間の位置関係を示す図である。 本発明の実施例1におけるシャッター羽根速度制御を示す図である。 本発明の実施例1におけるシャッター装置の開ループ電流制御原理を示す図である。 本発明の実施例1においてリソグラフィー装置の露光過程におけるエネルギー検出を示す図である。 本発明の実施例2におけるシャッター羽根速度最適化制御を示す図である。
以下、本発明の前記目的、特徴及び利点をより明確で且つ分かりやすくするために、図面を結合して本発明の具体的な実施形態について詳しく説明する。なお、本発明の図面は、簡易化した形式を採用し、且つ正確ではない比率を使用しており、本発明の実施例を容易かつ明確に説明することを補助するために用いられることに留意すべきである。
図1〜5に示すように、本発明のリソグラフィー装置の露光シャッター装置は、ハウジング500、前記ハウジング500内に設置された遮光ユニット、ベアリングシャフトアセンブリ300、ボイスコイルモータ100、及び位置検出モジュールを含む。ハウジング500、つまりリソグラフィー装置の露光シャッター装置の全体外形寸法は、例えば、160mm×50mm×200mmである。ここで、前記遮光ユニットは2つのシャッター羽根200を含み、前記ボイスコイルモータ100は前記ベアリングシャフトアセンブリ300を通じて前記シャッター羽根200の動作を制御して前記シャッター羽根200が回転軸320の周りを回転するようにする。
主に、図1〜2によれば、前記ボイスコイルモータ100は、永久磁石モジュール110、駆動ガイドレールモジュール120及びコイル構造を含み、前記永久磁石モジュール110は、対称的に配置された2組の永久磁石グループ1101、1102を含み、各永久磁石グループは2つの永久磁石111を含む。前記駆動ガイドレールモジュール120は、2組の永久磁石グループ1101、1102を貫通し、2つの永久磁石111の間に設置される鉄心を用いる。前記コイル構造は、2つのコイル130を含み、前記2つのコイル130は前記鉄心上に設置されて対応するシャッター羽根200と連結される。具体的には、1組の永久磁石は1つのコイル130に対応し、1つのコイル130は1つのシャッター羽根200に連結し、4つの永久磁石111で構成される2組の永久磁石グループ1101、1102は鉄心の内部で鉄心の方向に磁場を生成し、コイル130が通電されると、コイル130の磁場の方向は鉄心内部の磁場の方向と反対または同一なり、コイル130内の電流の方向を変えることにより、コイル130が鉄心上で加速及び減速運動をするように制御することができる。
前記ボイスコイルモータ100は、永久磁石グループ1101、1102及び駆動ガイドレールモジュール120を固定するための取付座140をさらに含む。前記駆動ガイドレールモジュール120は弧形または半円形であり、本実施例では、前記2組のシャッター羽根200の動作を簡単に駆動するために、前記取付座140及び前記永久磁石モジュール110も対応するように弧形または半円形に設けていることに留意されたい。従って、本実施例の図2は、ボイスコイルモータ100の構造に対する補助的説明として用いられるだけで、ボイスコイルモータ100の具体的な形状を限定してはならない。
主に、図1及び図3によれば、前記ベアリングシャフトアセンブリ300は、ベアリングハウジング310、前記ベアリングハウジング310上に取り付けられる回転軸320、前記回転軸320上に設けられるベアリング330、及び前記ベアリング330と中間ばめされた軸スリーブ340を含み、2つのシャッター羽根200は回転軸320に取り付けられた後、それぞれ対応するコイル130に連結され、回転軸320に取り付けられたシャッター羽根200は前記ベアリング330、軸スリーブ340を順次に通過してベアリングハウジング310に取り付けられ、前記回転軸320と前記ベアリング330との間、前記ベアリング330と軸スリーブ340との間は何れも中間ばめを採用することにより、シャッター羽根200の軸方向の揺動量を大幅に低減することができる。好ましくは、前記永久磁石モジュール110及び駆動ガイドレールモジュール120は、図1に示されるように、ベアリングハウジング310に取り付けられて固定される。
好ましくは、前記ベアリング330は二重深溝玉ベアリングを採用し、単一ベアリング構造を採用する際に比べて、ベアリングハウジング310及び回転軸320の高速運動過程における揺れを効果的に低減することができる。
図5に示すように、前記ハウジング500上の遮光ユニットつまりシャッター羽根200と対応する位置に光通過孔510が開設され、前記ハウジング500には冷却ガス入口が設けられ、前記冷却ガス入口を通じて少量の圧縮空気が流入されて、コイル130とシャッター羽根200に対して放熱処理をすることによって、熱影響によりコイル130内の電流が不安定なリスクを回避し、同時にシャッター羽根200の長期的な信頼性を向上させた。シャッター羽根200の耐熱性をさらに確保するために、本発明では、耐熱ステンレス鋼よりも優れた放熱係数を有し、回転慣性モーメントがより小さいアルミニウム製羽根を採用し、前記アルミニウム製羽根は前述の小流量の圧縮空気と補助的に協力してシャッター羽根200の冷却放熱を実現する。
図1〜図5によれば、本発明の2つのシャッター羽根200は、はさみ型ヒンジ連結を採用し、さらに、未露光状態で、2つのシャッター羽根200の間の隙間による散乱光及び反射光が照明システムに入ることを効果的に減少するために、2つのシャッター羽根200は重なっている。具体的には、シャッター羽根200の隙間(図1の紙面方向に垂直する距離)が2mmである場合、重なり合う設計幅(図1において、dで示す)は8mmであるため、迷光が2つのシャッター羽根200の間での反射回数を増加した。さらに、前記シャッター羽根200は、硬質黒色陽極酸化プロセスで処理する必要があるので、シャッター羽根200の表面反射率を6%未満にして、迷光を効果的に吸収することができる。同時に、シャッター羽根200とハウジング500との間のピッチを2mm以下に制御し、シャッター羽根200の直径を光通過孔510の開口一辺より4mm以上にすることにより、ハウジング500の光通過孔510の辺縁での散乱光の影響を減少する。図1に示すように、光通過孔510の半径はrであり、2つのシャッター羽根を重ね合わせた後の半径はRであれば、R−r≧4mmが要求される。
好ましくは、図4に示されるように、前記シャッター羽根200の重心Cは前記シャッター羽根200上の回転軸320の下方に位置し、且つシャッター羽根200の重力トルクがベアリング330の摩擦抵抗トルクよりも大きくなるようにシャッター羽根200の円弧側に偏っていて、シャッター羽根200電源が切れた異常状態で自ら閉じて遮光状態になり、それにより、紫外線が長時間照射してワークテーブルまたはシリコンウェーハに影響を及ぼすことを避ける。
好ましくは、位置検出モジュールは、位置検出器400及び位置検出片350を含み、位置検出器400は2つあり、それぞれ回転軸320の両側の前記ベアリングハウジング310に取り付けられ、位置検出片350は2つあり、何れも2つのシャッター羽根200の中の何れか一つのシャッター羽根200に連結された軸スリーブ340に取り付けられ、2つの位置検出片350はシャッター羽根200の回転により回転し、位置検出器400は位置検出片350の位置と1対1に対応して、シャッター羽根200の開閉を認識するのに用いられる。本実施形態で、図1に示すように、2つの位置検出片350は何れも図面の左側のシャッタ羽根200の軸スリーブ340に取り付けられ、2つのシャッタ羽根200が閉状態のとき、右側の位置検出器400は右側の位置検出片350の位置を検出することができ、右側の位置検出器400によって信号状態「1」をフィードバックし、左側の位置検出器400は左側の位置検出片350の位置を検出することができないので、左側の位置検出器400は信号状態「0」をフィードバックし、2つの位置検出器400の組み合わせたフィードバック信号は「10」であるが、これは2つの前記シャッター羽根200が閉状態であることを示す。同様に、2つのシャッタ羽根200を開くと、左側のシャッタ羽根200は時計回りに回転し、右側のシャッタ羽根200は反時計回りに回転し、同時に、2つの位置検出片350も対応して時計回りに回転して、右側の位置検出片350が右側の位置検出器を離れて、右側の位置検出器400が右側の位置検出片350を検出できないようにし、右側の位置検出器400は信号状態「0」をフィードバックし、左側の位置検出器400は左側の位置検出片350を検出することができ、左側の位置検出器400は信号状態「1」をフィードバックし、2つの位置検出器400のフィードバック信号は「01」であり、これは2つのシャッター羽根200が開いた状態であることを示す。以上の説明は、位置検出器400及び位置検出片350の概略的な設置位置及び開閉状態の検出方法である。本技術分野における技術者にとって、図1の左右2つの位置検出片350の設置位置も交換可能であること、即ち、2つの位置検出片350が何れも図面の右側のシャッター羽根200の軸スリーブ340に取り付けられ、2つのシャッタ羽根200が閉状態で、左側の位置検出器400は左側の位置検出片350を検出することができ、右側の位置検出器は右側の位置検出片350を検出することができなく、2つのシャッタ羽根200が開かれた状態では前記と反対に行えばいいということは容易に理解され得る。また、状態「0」で位置検出片350を検出したことを表し、状態「1」で位置検出片350を検出されなかったことを表してもよい。以上の説明の外に、本発明は他の位置設定方式及び開閉状態検出方式によって実現することができ、位置検出器400と位置検出片350との間の検出状態によってシャッター羽根の開閉状態を反映する実施形態は何れも本出願の保護範囲に属するべきである。
以上から分かるように、本実施形態は、2つのシャッター羽根200を結合して用いることにより、シャッター羽根200のストロークを低減することができ、一方、大きいトルクを提供することができるボイスコイルモータ100を用い、両者を結合することにより、本発明のリソグラフィ装置の露光シャッター装置が以下の技術指標を実現することができるようにする。
即ち、単一シャッター羽根200の開閉角度が20°に達し、光通過直径は40mmであり、単一シャッター羽根200の駆動平均電力は15.3Wである時に、最小開閉時間は28.4msに達し、動作ストロークを縮小することにより開閉時間を大幅に減小した。また、光源放射照度2500mW/cmの条件下で、シャッター羽根200が170Wの光強度での最小露光量は80mjであり、従来技術に比べて、少量露光歩留まりは少なくとも3倍増加して、照明減衰機構を使用する必要がなく、単位時間あたりの光源の利用率が向上した。
図6に示すように、本発明のリソグラフィー装置の露光シャッター装置の開閉動作を示す図、つまりシャッター羽根の速度制御を示す図であり、その運動形態は、主に加速開き過程、減速開き過程、加速閉じ過程及び減速閉じ過程を含む。
図1〜図5によれば、本発明は、リソグラフィー装置の露光シャッター装置の制御方法をさらに提供する。本発明はシャッター装置に対して開ループ電流制御を行い、具体的には、
まず、 露光時に必要なスポットサイズによって単一シャッター羽根200の回転ストロークを決定し、前記回転ストロークによって開閉過程におけるシャッター羽根200に必要な推力を計算し、さらに、ボイスコイルモータ100の出力パワーを決定する。具体的には、下記の式によって実現される。
L=0.5・ξ・t (公式1)
M=J・ξ (公式2)
M=F・l (公式3)
式において、Lは単一シャッター羽根200の回転ストロークであり、最小開閉所要時間tは30msであり(即ち、シャッターが開き始めてから完全に閉じるまでの最小時間tが30msを越えないことが好ましい)、単一シャッター羽根200の回動慣性モーメントJは0.000042Kg・mであり、Mは回動モーメントの大きさであり、ξはシャッター羽根200の角速度であり、lはコイル130のトルクアームの長さである。
シャッター装置の開閉過程で単一シャッター羽根200に必要な推力Fの大きさ、即ちボイスコイルモータ100の出力パワーFは、下記の式により計算する。
F=M/l=2・J・L/(t・l)≒13N
また、摩擦力などの要因を考慮して、ボイスコイルモータ100の出力パワーFの大きさは14Nに決定される。
ボイスコイルモータ100の出力パワーによってコイル130に供給される必要な電流の方向と大きさを決定し、制御カード(図示しない)を通じて対応する電流をコイル130に出力することができ、シャッター羽根が静止状態であり、制御カードが正方向電流I1を出力する時に、シャッター羽根200は開かれ、制御カードが逆方向電流I2を出力する時に、シャッター羽根200は閉じられる。シャッター羽根200の開閉過程で、制御カードが正方向電流I1を出力すると、シャッター羽根200は加速開きまたは加速閉じ過程にあり、制御カードが逆方向電流I2を出力すると、シャッター羽根200は減速開きまたは減速閉じ過程にある。同時に、シャッター羽根200が加速開き、減速開き、加速閉じ及び減速閉じ状態にある時の通電時間t1、t2、t3、t4の大きさを設定し、さらに、シャッター装置の開閉過程を制御し、図7に示すように、t1+t2+t3+t4≦30msである。動作がない場合、制御カードの出力電流は正方向電流及び逆方向電流よりもはるかに小さいため、シャッター羽根200は静止状態になる。
前記方式で得られたシャッター装置の電気パラメータは、主に以下を含む:単一コイル130の抵抗<6Ω、コイル130内の電流<5A、電力<22W。
図8に示すように、露光過程におけるエネルギー検出を示す図である。シャッター露光量制御プロセスには、露光量コマンドを受信し、リソグラフィー装置の露光シャッター装置が順次に加速開き、減速開き動作をするように制御カードは正方向及び逆方向電流を出力し、減速電流が終わると、制御カードは保持電流を出力して待機段階に入る。この段階で、前記保持電流は正方向及び逆方向の電流よりもはるかに小さい電流を指すため、シャッター羽根200は静止状態(開いた状態に保持されているように示されている)になる。エネルギー時間積分判断条件に従って閉鎖コマンドの発行を待ち、閉鎖コマンドが発行されると、制御カードは正方向及び逆方向電流を出力してシャッター装置200が加速閉じ、減速閉じ動作を行うようにする。
リソグラフィー装置の露光シャッター装置の電力が20W未満である場合、制御カードの出力電流のピーク値を最適化することにより、シャッター羽根200の開閉速度を向上させることができ、光源の照度が3000mW/cmの条件下で、最小開閉時間が20msに達するように実現する。図9と図6の比較により、本実施例と実施例1は、本実施例は、実施例1に基づいて制御カードに対して最適化し、遮光ユニットつまりシャッター羽根200に対してS型速度曲線制御を行うことにより、開位置及び閉位置におけるシャッター羽根200の振動周波数及び振幅を低減することができ、さらに、露光量の精度及び再現性をさらに確保することができるという点で異なる。
本技術分野において通常の知識を有する者は本発明の精神及び範囲内で発明に対して各種変更及び変形を行うことができる。このように、本発明のこのような修正及び変形が本発明の特許請求範囲及びそれと同等技術範囲に属すれば、本発明もこのような変更及び変形を含むべきである。
100−ボイスコイルモータ、110−永久磁石モジュール、111−永久磁石、120−駆動ガイドレールモジュール、130−コイル、200−シャッター羽根、300−ベアリングシャフトアセンブリ、310−べアリングハウジング、320−回転軸、330−ベアリング、340−軸スリーブ、400−位置検出器、350−位置検出片、500−ハウジング、510−開口。

Claims (20)

  1. 遮光ユニット及びボイスコイルモータを含み、前記ボイスコイルモータは永久磁石モジュール、駆動ガイドレールモジュール、及びコイル構造を含み、前記コイル構造は前記駆動ガイドレールモジュール上に設置され、前記永久磁石モジュールは前記駆動ガイドレールモジュールの内部で磁場を発生し、前記遮光ユニットは2つのシャッター羽根を含み、前記シャッター羽根は前記コイル構造と連結され、前記コイル構造に通電されると、前記駆動ガイドレールモジュールの磁場方向と反対または同じ磁場を発生して、前記コイル構造が前記駆動ガイドレールモジュールに沿って正方向または逆方向に運動するようにして2つのシャッター羽根を開閉させ、
    コイルを通電することで前記コイル構造内の電流の方向を変えることにより、前記2つのシャッター羽根の開閉速度を制御
    前記シャッター羽根と前記コイル構造との間にベアリングシャフトアセンブリがさらに設けられており、
    前記ベアリングシャフトアセンブリは、ベアリングハウジングと、前記ベアリングハウジングに取り付けられた回転軸と、前記回転軸に設置されたベアリングと、前記ベアリングと結合される軸スリーブとを含み、前記シャッター羽根は前記軸スリーブに設けられ、且つコイル構造と連結され、
    前記シャッター羽根の重心は前記回転軸の中心付近であり、且つ前記シャッター羽根の円弧縁側に偏っており、
    前記シャッター羽根は、電源が切れた異常状態で自ら閉じて遮光状態を実現する、
    ことを特徴とするシャッター装置。
  2. 前記永久磁石モジュールは、対称的に配置された2組の永久磁石グループを含み、各組の永久磁石グループは2つの永久磁石を含み、前記駆動ガイドレールモジュールは前記2つの永久磁石の間に設けられ、前記コイル構造は2つのコイルを含み、1つのコイルは1つのシャッター羽根に連結され、且つ1組の永久磁石グループに対応することを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
  3. 前記駆動ガイドレールモジュールは鉄心を用い、
    前記鉄心は2組の永久磁石グループを貫通し、かつ前記各永久磁石グループの2つの永久磁石の間に設けられる、
    ことを特徴とする請求項2に記載のシャッター装置。
  4. 前記鉄心は弧形または半円形であることを特徴とする請求項3に記載のシャッター装置。
  5. 前記2つのシャッター羽根ははさみ型でヒンジ連結され、且つ2つのシャッター羽根の間は閉鎖状態で重なり合うことを特徴とする請求項1または2に記載のシャッター装置。
  6. 前記シャッター羽根はアルミニウム製羽根を用いることを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
  7. 前記シャッター羽根の表面に対して黒色陽極酸化工程処理を行うことを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
  8. 前記シャッター装置はボイスコイルモータ及び遮光ユニットの外部に覆われて設けられたハウジングをさらに含み、前記ハウジング上の遮光ユニットに対応する位置に光通過孔が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
  9. 前記ハウジングに圧縮空気を流入して前記ボイスコイルモータ及び遮光ユニットを冷却するための冷却ガス入口が設けられていることを特徴とする請求項8に記載のシャッター装置。
  10. 前記シャッター羽根の直径は前記光通過孔の直径よりも大きいことを特徴とする請求項8に記載のシャッター装置。
  11. 前記回転軸と前記ベアリングとの間、前記ベアリングと前記軸スリーブとの間は中間嵌めされることを特徴とする請求項に記載のシャッター装置。
  12. 前記ベアリングは二重深溝玉ベアリングを用いることを特徴とする請求項に記載のシャッター装置。
  13. 前記シャッター装置は、位置検出器と位置検出片とをさらに含み、前記位置検出器は前記ベアリングハウジングに取り付けられ、前記位置検出片は前記軸スリーブに取り付けられ、且つ前記シャッター羽根に対して固定された位置を有することを特徴とする請求項に記載のシャッター装置。
  14. 前記永久磁石モジュール及び駆動ガイドレールモジュールがべアリングハウジングに取り付けられて固定されることを特徴とする請求項に記載のシャッター装置。
  15. 所望のスポットサイズによってボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップと、
    ボイスコイルモータの出力パワーによって制御カードからコイル構造に出力される電流を決定するステップと、を含み、
    前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力してシャッター羽根の加速を制御することができ、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力してシャッター羽根の減速を制御することができ、加速開き、減速開き、加速閉じ及び減速閉じの四つの速度の制御段階によって前記シャッター羽根の開閉を実現し、同時にシャッター羽根が加速開き、減速開き、加速閉じ及び減速閉じ状態時の通電時間を設定することを特徴とする請求項1〜14の中の何れか一項に記載のシャッター装置に適用される制御方法。
  16. 前記制御カードによりコイル構造にシャッター羽根の加速を制御する正方向電流及びシャッター羽根の減速を制御する逆方向電流よりもはるかに小さい電流を出力してシャッター羽根が静止状態になるようにするステップをさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の制御方法。
  17. 所望のスポットサイズによってボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップは、所望のスポットサイズによって単一シャッター羽根の回転ストロークを決定し、前記回転ストロークによって開閉過程でシャッター羽根の所望の推力を計算して、さらにボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップを含むことを特徴とする請求項15に記載の制御方法。
  18. 前記制御カードがコイル構造に出力する電流ピークを最適化し、前記シャッター羽根に対してS型速度曲線制御を行うステップをさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の制御方法。
  19. 請求項1〜14中の何れか一項に記載のシャッター装置を含むことを特徴とするリソグラフィー装置。
  20. 露光量コマンドを受信し、露光量に基づいて前記ボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップと、前記ボイスコイルモータの出力パワーによって、制御カードがコイル構造に出力する電流と通電時間を決定するステップとを含み、
    前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力して前記シャッター装置が加速開き動作を行うようにし、加速が終わると、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力して前記シャッター装置が減速開き動作を行うようにし、減速電流が終わると、前記制御カードは前記コイル構造に 保持電流を出力して待機段階に入り、エネルギー時間積分判断条件に従って閉鎖コマンドの発行を待ち、閉鎖コマンドが発行されると、前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力して前記シャッター装置が加速閉じ動作を行うようにし、加速が終わると、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力して前記シャッター装置を減速閉じ動作を行うようにすることにより、一回の露光量制御過程を完成することを特徴とする請求項19に記載のリソグラフィー装置に適用される露光量制御方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112782938B (zh) * 2019-11-05 2022-10-14 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种可动狭缝装置及光刻系统
CN113037978B (zh) * 2021-03-12 2023-05-02 新思考电机有限公司 快门驱动装置、快门、拍摄装置、电子元件
TWI804212B (zh) * 2022-02-25 2023-06-01 大立光電股份有限公司 可控光圈、微型相機模組與電子裝置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH558542A (de) 1973-07-19 1975-01-31 Sinar Ag Schaffhausen Verschlusseinrichtung fuer photographische kamera.
US4265530A (en) * 1979-06-05 1981-05-05 Polaroid Corporation Shutter blade drive system
JPS564127A (en) * 1979-06-22 1981-01-17 Canon Inc Electromagnetic drive shutter
US4839679A (en) 1987-06-18 1989-06-13 General Electric Corp. Dual voice coil shutter
CN2075349U (zh) * 1989-08-31 1991-04-17 袁凯鸿 照像机快门系统
JP2856584B2 (ja) 1991-11-27 1999-02-10 キヤノン株式会社 シャッタ装置を有するカメラ
US5706120A (en) * 1996-04-24 1998-01-06 Eastman Kodak Company Device for controlling an amount of light allowed to reach a photosensitive surface
GB9714134D0 (en) * 1997-07-05 1997-09-10 Lumonics Ltd Method and apparatus for actuating a shutter
US6046836A (en) * 1998-03-06 2000-04-04 Electro-Optical Products Corporation Low frequency optical shutter
JP3862438B2 (ja) * 1998-12-28 2006-12-27 キヤノン株式会社 走査露光装置、走査露光方法およびデバイス製造方法
US7513702B2 (en) * 2005-11-16 2009-04-07 Va, Inc. Non-contact shutter activation system and method
JP5154766B2 (ja) * 2006-04-24 2013-02-27 キヤノン電子株式会社 光路開閉装置およびこれを組み込んだカメラ
US7771132B2 (en) * 2006-08-04 2010-08-10 Tamron Co., Ltd. Shutter unit, shutter unit with built-in lens, and imaging apparatus
CN102073192B (zh) * 2009-11-23 2015-09-09 Lg伊诺特有限公司 快门装置
CN102087476A (zh) * 2009-12-08 2011-06-08 上海微电子装备有限公司 一种用于光刻机曝光分系统的快门装置
CN102540633A (zh) * 2011-12-27 2012-07-04 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 电磁铁式机械快门的快速开启与保持控制系统
US9671676B2 (en) * 2012-11-26 2017-06-06 Thorlabs, Inc. Bi-stable electromagnetically controlled shutter
CN105807572B (zh) * 2014-12-31 2018-03-30 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种用于光刻机曝光分系统的自阻尼快门装置
CN108663871B (zh) * 2017-03-31 2021-06-25 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种快门装置
US10771710B2 (en) * 2018-10-22 2020-09-08 Raytheon Company Shutter assembly for managing light relative to a photosensitive device

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