JP6909858B2 - シャッター装置及びその制御方法、リソグラフィー装置及びその露光量制御方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 41
- 238000001459 lithography Methods 0.000 title claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 16
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical group [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 claims description 4
- 238000007743 anodising Methods 0.000 claims description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 5
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000002620 method output Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/005—Diaphragms
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- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B9/00—Exposure-making shutters; Diaphragms
- G03B9/08—Shutters
- G03B9/10—Blade or disc rotating or pivoting about axis normal to its plane
- G03B9/18—More than two members
- G03B9/22—More than two members each moving in one direction to open and then in opposite direction to close, e.g. iris type
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/02—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the intensity of light
- G02B26/023—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the intensity of light comprising movable attenuating elements, e.g. neutral density filters
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B9/00—Exposure-making shutters; Diaphragms
- G03B9/08—Shutters
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- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B9/00—Exposure-making shutters; Diaphragms
- G03B9/08—Shutters
- G03B9/10—Blade or disc rotating or pivoting about axis normal to its plane
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B9/00—Exposure-making shutters; Diaphragms
- G03B9/08—Shutters
- G03B9/10—Blade or disc rotating or pivoting about axis normal to its plane
- G03B9/14—Two separate members moving in opposite directions
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B9/00—Exposure-making shutters; Diaphragms
- G03B9/58—Means for varying duration of "open" period of shutter
- G03B9/60—Means for varying duration of "open" period of shutter by varying speed of movement of obturating members
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B9/00—Exposure-making shutters; Diaphragms
- G03B9/58—Means for varying duration of "open" period of shutter
- G03B9/62—Means for varying duration of "open" period of shutter by varying interval of time between end of opening movement and beginning of closing movement
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
- G03F7/7055—Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
- G03F7/7055—Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
- G03F7/70558—Dose control, i.e. achievement of a desired dose
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
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Description
(1)300mj未満のプロセス用量に対して、照度減衰構造のエネルギー減衰方式によって少量の露光量を実現しなければならない。
(2)開閉時間の制限により、少量露光歩留まりに明らかな欠点がある。
(3)照度減衰機構の存在及びシャッター開閉速度の制限により、単位時間あたりの光源の利用率が低下する。
即ち、単一シャッター羽根200の開閉角度が20°に達し、光通過直径は40mmであり、単一シャッター羽根200の駆動平均電力は15.3Wである時に、最小開閉時間は28.4msに達し、動作ストロークを縮小することにより開閉時間を大幅に減小した。また、光源放射照度2500mW/cm2の条件下で、シャッター羽根200が170Wの光強度での最小露光量は80mjであり、従来技術に比べて、少量露光歩留まりは少なくとも3倍増加して、照明減衰機構を使用する必要がなく、単位時間あたりの光源の利用率が向上した。
まず、 露光時に必要なスポットサイズによって単一シャッター羽根200の回転ストロークを決定し、前記回転ストロークによって開閉過程におけるシャッター羽根200に必要な推力を計算し、さらに、ボイスコイルモータ100の出力パワーを決定する。具体的には、下記の式によって実現される。
L=0.5・ξ・t2 (公式1)
M=J・ξ (公式2)
M=F・l (公式3)
式において、Lは単一シャッター羽根200の回転ストロークであり、最小開閉所要時間tは30msであり(即ち、シャッターが開き始めてから完全に閉じるまでの最小時間tが30msを越えないことが好ましい)、単一シャッター羽根200の回動慣性モーメントJは0.000042Kg・m2であり、Mは回動モーメントの大きさであり、ξはシャッター羽根200の角速度であり、lはコイル130のトルクアームの長さである。
F=M/l=2・J・L/(t2・l)≒13N
また、摩擦力などの要因を考慮して、ボイスコイルモータ100の出力パワーFの大きさは14Nに決定される。
Claims (20)
- 遮光ユニット及びボイスコイルモータを含み、前記ボイスコイルモータは永久磁石モジュール、駆動ガイドレールモジュール、及びコイル構造を含み、前記コイル構造は前記駆動ガイドレールモジュール上に設置され、前記永久磁石モジュールは前記駆動ガイドレールモジュールの内部で磁場を発生し、前記遮光ユニットは2つのシャッター羽根を含み、前記シャッター羽根は前記コイル構造と連結され、前記コイル構造に通電されると、前記駆動ガイドレールモジュールの磁場方向と反対または同じ磁場を発生して、前記コイル構造が前記駆動ガイドレールモジュールに沿って正方向または逆方向に運動するようにして2つのシャッター羽根を開閉させ、
コイルを通電することで前記コイル構造内の電流の方向を変えることにより、前記2つのシャッター羽根の開閉速度を制御し、
前記シャッター羽根と前記コイル構造との間にベアリングシャフトアセンブリがさらに設けられており、
前記ベアリングシャフトアセンブリは、ベアリングハウジングと、前記ベアリングハウジングに取り付けられた回転軸と、前記回転軸に設置されたベアリングと、前記ベアリングと結合される軸スリーブとを含み、前記シャッター羽根は前記軸スリーブに設けられ、且つコイル構造と連結され、
前記シャッター羽根の重心は前記回転軸の中心付近であり、且つ前記シャッター羽根の円弧縁側に偏っており、
前記シャッター羽根は、電源が切れた異常状態で自ら閉じて遮光状態を実現する、
ことを特徴とするシャッター装置。 - 前記永久磁石モジュールは、対称的に配置された2組の永久磁石グループを含み、各組の永久磁石グループは2つの永久磁石を含み、前記駆動ガイドレールモジュールは前記2つの永久磁石の間に設けられ、前記コイル構造は2つのコイルを含み、1つのコイルは1つのシャッター羽根に連結され、且つ1組の永久磁石グループに対応することを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
- 前記駆動ガイドレールモジュールは鉄心を用い、
前記鉄心は2組の永久磁石グループを貫通し、かつ前記各永久磁石グループの2つの永久磁石の間に設けられる、
ことを特徴とする請求項2に記載のシャッター装置。 - 前記鉄心は弧形または半円形であることを特徴とする請求項3に記載のシャッター装置。
- 前記2つのシャッター羽根ははさみ型でヒンジ連結され、且つ2つのシャッター羽根の間は閉鎖状態で重なり合うことを特徴とする請求項1または2に記載のシャッター装置。
- 前記シャッター羽根はアルミニウム製羽根を用いることを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
- 前記シャッター羽根の表面に対して黒色陽極酸化工程処理を行うことを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
- 前記シャッター装置はボイスコイルモータ及び遮光ユニットの外部に覆われて設けられたハウジングをさらに含み、前記ハウジング上の遮光ユニットに対応する位置に光通過孔が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
- 前記ハウジングに圧縮空気を流入して前記ボイスコイルモータ及び遮光ユニットを冷却するための冷却ガス入口が設けられていることを特徴とする請求項8に記載のシャッター装置。
- 前記シャッター羽根の直径は前記光通過孔の直径よりも大きいことを特徴とする請求項8に記載のシャッター装置。
- 前記回転軸と前記ベアリングとの間、前記ベアリングと前記軸スリーブとの間は中間嵌めされることを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
- 前記ベアリングは二重深溝玉ベアリングを用いることを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
- 前記シャッター装置は、位置検出器と位置検出片とをさらに含み、前記位置検出器は前記ベアリングハウジングに取り付けられ、前記位置検出片は前記軸スリーブに取り付けられ、且つ前記シャッター羽根に対して固定された位置を有することを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
- 前記永久磁石モジュール及び駆動ガイドレールモジュールがべアリングハウジングに取り付けられて固定されることを特徴とする請求項1に記載のシャッター装置。
- 所望のスポットサイズによってボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップと、
ボイスコイルモータの出力パワーによって制御カードからコイル構造に出力される電流を決定するステップと、を含み、
前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力してシャッター羽根の加速を制御することができ、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力してシャッター羽根の減速を制御することができ、加速開き、減速開き、加速閉じ及び減速閉じの四つの速度の制御段階によって前記シャッター羽根の開閉を実現し、同時にシャッター羽根が加速開き、減速開き、加速閉じ及び減速閉じ状態時の通電時間を設定することを特徴とする請求項1〜14の中の何れか一項に記載のシャッター装置に適用される制御方法。 - 前記制御カードによりコイル構造にシャッター羽根の加速を制御する正方向電流及びシャッター羽根の減速を制御する逆方向電流よりもはるかに小さい電流を出力してシャッター羽根が静止状態になるようにするステップをさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の制御方法。
- 所望のスポットサイズによってボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップは、所望のスポットサイズによって単一シャッター羽根の回転ストロークを決定し、前記回転ストロークによって開閉過程でシャッター羽根の所望の推力を計算して、さらにボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップを含むことを特徴とする請求項15に記載の制御方法。
- 前記制御カードがコイル構造に出力する電流ピークを最適化し、前記シャッター羽根に対してS型速度曲線制御を行うステップをさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の制御方法。
- 請求項1〜14中の何れか一項に記載のシャッター装置を含むことを特徴とするリソグラフィー装置。
- 露光量コマンドを受信し、露光量に基づいて前記ボイスコイルモータの出力パワーを決定するステップと、前記ボイスコイルモータの出力パワーによって、制御カードがコイル構造に出力する電流と通電時間を決定するステップとを含み、
前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力して前記シャッター装置が加速開き動作を行うようにし、加速が終わると、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力して前記シャッター装置が減速開き動作を行うようにし、減速電流が終わると、前記制御カードは前記コイル構造に 保持電流を出力して待機段階に入り、エネルギー時間積分判断条件に従って閉鎖コマンドの発行を待ち、閉鎖コマンドが発行されると、前記制御カードはコイル構造に正方向電流を出力して前記シャッター装置が加速閉じ動作を行うようにし、加速が終わると、前記制御カードはコイル構造に逆方向電流を出力して前記シャッター装置を減速閉じ動作を行うようにすることにより、一回の露光量制御過程を完成することを特徴とする請求項19に記載のリソグラフィー装置に適用される露光量制御方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710061013.3A CN108345157B (zh) | 2017-01-25 | 2017-01-25 | 快门装置及其控制方法、光刻机及其曝光剂量控制方法 |
CN201710061013.3 | 2017-01-25 | ||
PCT/CN2018/074089 WO2018137676A1 (zh) | 2017-01-25 | 2018-01-25 | 快门装置及其控制方法、光刻机及其曝光剂量控制方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020505642A JP2020505642A (ja) | 2020-02-20 |
JP6909858B2 true JP6909858B2 (ja) | 2021-07-28 |
Family
ID=62962438
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019539864A Active JP6909858B2 (ja) | 2017-01-25 | 2018-01-25 | シャッター装置及びその制御方法、リソグラフィー装置及びその露光量制御方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10983415B2 (ja) |
EP (1) | EP3575861B1 (ja) |
JP (1) | JP6909858B2 (ja) |
KR (1) | KR102259532B1 (ja) |
CN (1) | CN108345157B (ja) |
SG (1) | SG11201906706UA (ja) |
TW (1) | TWI658338B (ja) |
WO (1) | WO2018137676A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112782938B (zh) * | 2019-11-05 | 2022-10-14 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种可动狭缝装置及光刻系统 |
CN113037978B (zh) * | 2021-03-12 | 2023-05-02 | 新思考电机有限公司 | 快门驱动装置、快门、拍摄装置、电子元件 |
TWI804212B (zh) * | 2022-02-25 | 2023-06-01 | 大立光電股份有限公司 | 可控光圈、微型相機模組與電子裝置 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US9671676B2 (en) * | 2012-11-26 | 2017-06-06 | Thorlabs, Inc. | Bi-stable electromagnetically controlled shutter |
CN105807572B (zh) * | 2014-12-31 | 2018-03-30 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种用于光刻机曝光分系统的自阻尼快门装置 |
CN108663871B (zh) * | 2017-03-31 | 2021-06-25 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种快门装置 |
US10771710B2 (en) * | 2018-10-22 | 2020-09-08 | Raytheon Company | Shutter assembly for managing light relative to a photosensitive device |
-
2017
- 2017-01-25 CN CN201710061013.3A patent/CN108345157B/zh active Active
-
2018
- 2018-01-25 SG SG11201906706UA patent/SG11201906706UA/en unknown
- 2018-01-25 TW TW107102609A patent/TWI658338B/zh active
- 2018-01-25 WO PCT/CN2018/074089 patent/WO2018137676A1/zh unknown
- 2018-01-25 KR KR1020197024058A patent/KR102259532B1/ko active IP Right Grant
- 2018-01-25 US US16/480,639 patent/US10983415B2/en active Active
- 2018-01-25 JP JP2019539864A patent/JP6909858B2/ja active Active
- 2018-01-25 EP EP18744361.9A patent/EP3575861B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108345157B (zh) | 2019-07-23 |
WO2018137676A1 (zh) | 2018-08-02 |
US20190391463A1 (en) | 2019-12-26 |
TWI658338B (zh) | 2019-05-01 |
JP2020505642A (ja) | 2020-02-20 |
US10983415B2 (en) | 2021-04-20 |
KR20190102292A (ko) | 2019-09-03 |
EP3575861B1 (en) | 2022-10-05 |
SG11201906706UA (en) | 2019-08-27 |
TW201842409A (zh) | 2018-12-01 |
CN108345157A (zh) | 2018-07-31 |
EP3575861A4 (en) | 2020-02-12 |
EP3575861A1 (en) | 2019-12-04 |
KR102259532B1 (ko) | 2021-06-02 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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