JP6873019B2 - 溶接管理システム - Google Patents
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Description
しかしながら、磁気信号の波形において溶接不良を示す部分の小刻みな変化幅は、非常に小さいことが多い。仮に、磁気センサの検出レンジを磁気信号の波形全体の変化幅に合わせると、それに伴って信号収録時のA/D変換に伴う量子化幅が大きくなるため、溶接不良の検出精度が低くなる。
図1は、第1実施形態に係る溶接管理システム100の説明図である。
なお、図1に示すように、円筒状を呈する被溶接部材W1,W2の中心軸をz軸とする。このz軸を基準とする動径方向をθ方向とする(「周方向」ともいう)。以下では、被溶接部材W1,W2の端面を突き合わせた状態で抵抗溶接を行う例について説明する。
また、補正磁気センサ20が「湾曲している」という事項は、補正磁気センサ20が円弧状に湾曲している場合の他、四角枠状等を呈するように湾曲している場合も含んでいる。
データ収録部32は、差分演算部31の演算結果を収録(記憶)する機能を有している。
図2に示す例では、円筒状の被溶接部材W1,W2が互いに突き合わされた状態で、一方の被溶接部材W2が台座Eによって支持されている。他方の被溶接部材W1の上端面には、第1電極Fが設置されている。また、被溶接部材W1,W2の外周面において互いに対向する所定位置に、一対の第2電極U1,U2が設置されている。
なお、図3では、台座E(図2参照)、第1電極F、第2電極U1,U2、及び載置部材H1,H2の図示を省略している。
図3に示すように、局所磁気センサ10a〜10cと補正磁気センサ21とは径方向において近接し、また、局所磁気センサ10d〜10fと補正磁気センサ22とは径方向において近接している。
図4Aにおける紙面左端の波形図の縦軸は、局所磁気センサ10aによって検出された誘導電圧Vであり、横軸は時間tである。紙面左から2番目の波形図の縦軸は、局所磁気センサ10bによって検出された誘導電圧Vであり、横軸は時間tである。
図4Bの縦軸は、補正磁気センサ21によって検出された誘導電圧Vであり、横軸は時間tである。他方の補正磁気センサ22については図示を省略しているが、その検出値の波形は、一方の補正磁気センサ21の検出値の波形Gxと同様である。
また、図4Bに示す波形Gxは、小刻みな変動がない点を除いて、局所磁気センサ10a,10b…の検出値の波形Ga1,Gb1,…(図4A参照)と同様である。
同様に、データ処理手段30は、局所磁気センサ10d〜10f(図3参照)のそれぞれの検出値と、補正磁気センサ22(同図参照)の検出値と、の差分に基づいて、接合対象箇所Kの接合状態に関する情報を生成する。
図4Cに示す波形Ga2は、局所磁気センサ10aの時々刻々の(例えば、1msec毎や1μsec毎の)検出値から、補正磁気センサ21の時々刻々の検出値を減算して得られた波形である。つまり、波形Ga2は、図4Aに示す波形Ga1の小刻みな変動を抽出したものである。
図1に示す電流分布分析部33は、例えば、局所磁気センサ10aの検出値と、補正磁気センサ21の検出値と、の時々刻々の差分ΔVの絶対値の時間積分値(波形Ga2の斜線部分の面積)を算出する。なお、接合対象箇所Kにおける電流分布の偏りの程度が大きいほど、前記した時間積分値が大きくなる傾向がある。
図5Aに示す例では、局所磁気センサ10aの検出値(波形Ga1)の最大値が比較的大きく、また、局所磁気センサ10bの検出値(波形Gb1)の最大値が比較的小さい。このように局所磁気センサ10a,10b,…の検出値のばらつきが大きい場合にも、電流分布の偏りに起因する溶接不良が生じている可能性がある。
図5Bに示す例では、補正磁気センサ21の検出値(波形Gx)の最大値が、局所磁気センサ10aの検出値(破線で示す波形Ga1)の最大値よりも小さく、また、局所磁気センサ10bの検出値(破線で示す波形Gb1)の最大値よりも大きくなっている。
データ処理手段30(図1参照)は、局所磁気センサ10aの検出値と、補正磁気センサ21の検出値との時々刻々の差分ΔVに基づいて、接合対象箇所Kの接合状態に関する情報を生成する。例えば、データ処理手段30は、差分ΔVの絶対値の時間積分値(図5Cの各斜線部分の面積)を算出する。
溶接管理システム100(図1参照)は、データ処理手段30によって生成された情報を報知する報知手段40として、図6に示す光源La〜Lfを備えている。
光源Laは、接合対象箇所Kの周方向において、局所磁気センサ10aの付近に溶接不良が生じている可能性がある場合には点灯し、そうでない場合には消灯するようになっている。同様に、局所磁気センサ10b〜10fに対応付けて、光源Lb〜Lfが設けられている。
例えば、通電開始から所定時間が経過した時(溶接電流のピーク時等)における局所磁気センサ10a〜10fの検出値を、図7に示すように、レーダーチャートとして報知手段40(図1参照)に表示させてもよい。
一方、局所磁気センサ10cの検出値が、補正磁気センサ21の検出値よりも大きい場合(前記した差分ΔVが正の値である場合)には、基準線Qの外側に局所磁気センサ10cの検出値がプロットされる。なお、溶接不良があったか否かの判定処理は必須ではなく、例えば、図7に示すレーダーチャートのみを表示するようにしてもよい。
第1実施形態によれば、局所磁気センサ10a〜10fの検出値と、補正磁気センサ21等の検出値(周方向で均一な磁気成分)と、の時々刻々の差分ΔVに基づいて、被溶接部材W1,W2の電流分布に関する情報が生成される。これによって、前記した差分ΔV(周方向で不均一な磁気成分)の変化幅に合わせて、量子化を行う際の検出レンジを予め設定できる。したがって、差分ΔVの変化幅が非常に小さい場合であっても、この差分ΔVを精度よく検出できる。
図8は、第1実施形態の変形例に係る溶接管理システム100Aでの接合対象箇所Kの付近の横断面図である。
図8に示すように、例えば、被溶接部材の断面形状が矩形状であってもよい。また、溶接機(図示せず)の動作に干渉しなければ、図8に示すように、接合対象箇所Kを囲むように四角枠状に湾曲した補正磁気センサ20を一つ設け、この補正磁気センサ20の付近に複数の局所磁気センサ10a〜10mを設けるようにしてもよい。なお、データ処理手段30(図1参照)が実行する処理については、第1実施形態と同様であるから、説明を省略する。
第2実施形態は、局所磁気センサ10a〜10c(図9参照)のコイルが補正磁気センサ21に巻回され、また、局所磁気センサ10d〜10fのコイルが補正磁気センサ22に巻回されている点が、第1実施形態とは異なっている。なお、その他の点(データ処理手段30の構成や処理)については、第1実施形態と同様である。したがって、第1実施形態とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
図9に示すように、溶接管理システム100Bは、接合対象箇所Kの周囲に配置される局所磁気センサ10a〜10fと、接合対象箇所Kを囲むように湾曲している補正磁気センサ21,22と、を備えている。
第2実施形態よれば、補正磁気センサ21が局所磁気センサ10a〜10cの設置スペースを兼ねる構成になっており、また、補正磁気センサ22が局所磁気センサ10d〜10fの設置スペースを兼ねる構成になっている。したがって、「磁気検出手段」(局所磁気センサ10a〜10f及び補正磁気センサ21,22)の設置スペースを第1実施形態よりも縮小できる。
第3実施形態は、補正磁気センサ21,22(図10参照)の一部分を局所磁気センサ10a〜10fとしても機能させる点が、第1実施形態とは異なっている。なお、その他の点(データ処理手段30の構成や処理)については、第1実施形態と同様である。したがって、第1実施形態とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
図10に示すように、溶接管理システム100Cは、接合対象箇所Kの周囲に配置される局所磁気センサ10a〜10fと、接合対象箇所Kを囲むように湾曲している補正磁気センサ21,22と、を備えている。そして、補正磁気センサ21,22において、周方向の一部分が局所磁気センサ10a〜10fとしても機能するようになっている。
第3実施形態よれば、補正磁気センサ21,22が局所磁気センサ10a〜10fの設置スペースを兼ねる構成であるため、「磁気検出手段」(局所磁気センサ10a〜10f及び補正磁気センサ21,22)の設置スペースを第1実施形態よりも縮小できる。
第4実施形態は、接合状態に関する情報がデータ処理手段30D(図11参照)によって生成される際、補正磁気センサ21,22の検出値そのものも用いられる点が、第1実施形態とは異なっている。なお、その他については第1実施形態と同様である。したがって、第1実施形態とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
図11に示すように、溶接管理システム100Dのデータ処理手段30Dは、差分演算部31と、データ収録部32Dと、電流分布分析部33Dと、を備えている。
差分演算部31の構成・機能は、第1実施形態と同様である。
データ収録部32Dは、差分演算部31に接続されるとともに、配線jを介して補正磁気センサ20にも接続されている。つまり、データ収録部32Dには、差分演算部31の演算結果(それぞれの局所磁気センサ10a〜10fと補正磁気センサ20との差分)に加えて、補正磁気センサ20の検出値も入力される。
また、溶接開始から所定時間が経過したときの補正磁気センサ20の検出値が大きいほど、前記した差分ΔVに基づく判定を行う際の閾値を小さくするようにしてもよい。前記した処理のうちいずれを行うかは、溶接に関連する所条件に基づき、予め管理者によって決定される。
第4実施形態によれば、電流分布の不均一性の分析に加え、補正磁気センサ20の検出値の分析も行われる。例えば、補正磁気センサ20の検出値が誘導電圧である場合、その検出値は、接合対象箇所Kに流れた電流の微分値に比例する。また、補正磁気センサ20の検出値が磁束密度である場合には、その検出値は、接合対象箇所Kに流れた電流に比例する。
第5実施形態は、報知手段40E(図12参照)の構成が第1実施形態とは異なっているが、その他については第1実施形態と同様である。したがって、第1実施形態とは異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
図12に示すように、溶接管理システム100Eは、局所磁気センサ10a〜10f、補正磁気センサ20、及びデータ処理手段30の他に、報知手段40Eと、MES50(Manufacturing Execution System:制御手段)と、を備えている。
MES50は、PLC41を介して自身に入力されるデータに基づいて溶接機等(図示せず)の機器を稼動させ、溶接品の製造を実行する製造実行システムである。すなわち、MES50は、データ処理手段30によって生成された情報に基づいて、被溶接部材W1,W2の溶接を行う溶接機(図示せず)を含む機器を制御する。
携帯端末43は、溶接に関する所定の情報を表示したり、所定の音を発したりする機能を有している。これによって、携帯端末43を持っている管理者は、溶接に関する情報を把握できる。
第5実施形態によれば、データ処理手段30による判定結果が、MES50の制御に反映される。これによって、接合対象箇所Kに溶接不良があった場合、例えば、MES50が、溶接機(図示せず)を含む機器を一時的に停止させるといった処理を行うことができる。また、データ処理手段30の処理結果が、携帯端末43や異常通知部44に表示される。これによって、現場監督者や管理者は、溶接に関する詳細な情報を把握できる。
以上、本発明に係る溶接管理システム100等について各実施形態により説明したが、本発明はこれらの記載に限定されるものではなく、種々の変更を行うことができる。
例えば、第1実施形態では、補正磁気センサ20(図1参照)の内側に局所磁気センサ10a〜10fが配置される構成について説明したが、これに限らない。すなわち、補正磁気センサ20の外側に局所磁気センサ10a〜10fが配置されるようにしてもよい。また、補正磁気センサ20の外側に配置される局所磁気センサと、補正磁気センサ20の内側に配置される局所磁気センサと、が混在していてもよい。
また、各実施形態では、局所磁気センサ10a〜10fや補正磁気センサ20がコイルである場合について説明したが、これに限らない。例えば、局所磁気センサ10a〜10fや補正磁気センサ20として、ホールセンサや磁気抵抗センサを用いてもよい。
また、各実施形態では、抵抗溶接が行われる場合について説明したが、これに限らない。例えば、アーク溶接やレーザ溶接の他、摩擦撹拌溶接にも各実施形態を適用できる。
100A,100B,100C,100D,100E 溶接管理システム
10a,10b,10c,10d,10e,10f 局所磁気センサ(磁気検出手段、第1磁気検出手段)
20,21,22 補正磁気センサ(磁気検出手段、第2磁気検出手段)
30,30D データ処理手段
31 差分演算部
32,32D データ収録部
33,33D 電流分布分析部
40,40E 報知手段
50 MES(制御手段)
h 配線(一対の配線)
K 接合対象箇所
La,Lb,Lc,Ld,Le,Lf 光源(報知手段)
W1,W2 被溶接部材
Claims (9)
- 被溶接部材への通電に伴う熱で前記被溶接部材の溶接を行う際の、前記通電に伴って接合対象箇所の周囲に発生する磁気を検出する磁気検出手段と、
前記磁気検出手段の検出値を処理するデータ処理手段と、を備え、
前記磁気検出手段は、
前記接合対象箇所の周囲に配置される複数の第1磁気検出手段と、
前記接合対象箇所を囲むように湾曲している第2磁気検出手段と、を有し、
前記データ処理手段は、複数の前記第1磁気検出手段のそれぞれの検出値と、前記第2磁気検出手段の検出値と、の差分に基づいて、前記接合対象箇所の接合状態に関する情報を生成すること
を特徴とする溶接管理システム。 - 前記接合対象箇所を囲むように湾曲している前記第2磁気検出手段の周方向の範囲は、複数の前記第1磁気検出手段のそれぞれの周方向の位置を含んでいること
を特徴とする請求項1に記載の溶接管理システム。 - 前記データ処理手段によって生成された前記情報を報知する報知手段を備え、
前記接合対象箇所での溶接不良があった場合において、前記報知手段は、当該溶接不良の位置に対応する前記第1磁気検出手段と、残りの前記第1磁気検出手段と、を区別するように表示すること
を特徴とする請求項1に記載の溶接管理システム。 - 前記データ処理手段によって生成された前記情報を報知する報知手段を備え、
前記報知手段は、前記第2磁気検出手段の検出値を基準として、複数の前記第1磁気検出手段のそれぞれの検出値をレーダーチャートとして表示すること
を特徴とする請求項1に記載の溶接管理システム。 - 複数の前記第1磁気検出手段、及び前記第2磁気検出手段は、それぞれ、磁気検出用のコイルを有すること
を特徴とする請求項1に記載の溶接管理システム。 - 前記接合対象箇所を囲むように湾曲している前記第2磁気検出手段に、複数の前記第1磁気検出手段が、それぞれ、巻回されていること
を特徴とする請求項5に記載の溶接管理システム。 - 前記接合対象箇所を囲むように湾曲している前記第2磁気検出手段において、周方向の一部分が前記第1磁気検出手段としても機能し、
前記第2磁気検出手段の前記一部分が、一対の配線を介して前記データ処理手段に接続され、当該一部分が、前記第2磁気検出手段において周方向で複数箇所に設けられること
を特徴とする請求項5に記載の溶接管理システム。 - 前記データ処理手段は、前記第2磁気検出手段の検出値の波形、及び前記差分に基づいて、前記接合対象箇所の接合状態に関する前記情報を生成すること
を特徴とする請求項1に記載の溶接管理システム。 - 前記データ処理手段によって生成された前記情報に基づいて、前記被溶接部材の溶接を行う溶接機を含む機器を制御する制御手段を備えること
を特徴とする請求項1に記載の溶接管理システム。
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