JP2003344515A

JP2003344515A - 磁場測定装置

Info

Publication number: JP2003344515A
Application number: JP2002157594A
Authority: JP
Inventors: Yoshiaki Adachi; 善昭足立
Original assignee: Kanazawa Institute of Technology (KIT)
Current assignee: Kanazawa Institute of Technology (KIT)
Priority date: 2002-05-30
Filing date: 2002-05-30
Publication date: 2003-12-03

Abstract

(57)【要約】【課題】対象磁場が雑音磁場に比べて微弱な場合で
も、対象磁場検出系のダイナミックレンジを対象磁場の
強さに適合させうるようにする。【解決手段】対象磁場検出センサ１０１で検出した対
象磁場および雑音磁場の両方を含む磁場に、雑音磁場の
みを検出する磁束計６１−ｘ〜６１−ｚで検出した雑音
磁場に基づいて発生した補正磁場を加えて、雑音磁場の
影響を抑制する。【効果】雑音磁場を抑制した上で対象磁場を対象磁場
検出センサ１０１で検出するため、雑音磁場で妨げられ
ずに対象磁場を正確に測定できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁場測定装置に関
し、さらに詳しくは、対象磁場が雑音磁場に比べて微弱
な場合でも、対象磁場検出系のダイナミックレンジを対
象磁場の強さに適したものにすることが出来る磁場測定
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図７は、従来の磁場測定装置の一例を示
す構成図である。この磁場測定装置６００は、被検体Ｐ
から発生した対象磁場および雑音源から発生した雑音磁
場の両方を検出する「線形化された磁束計」６１−ｄ
と、直交するｘ軸，ｙ軸，ｚ軸の各方向のみの雑音磁場
を検出する「線形化された磁束計」６１−ｘ，６１−
ｙ，６１−ｚと、磁束計６１−ｘ，６１−ｙ，６１−ｚ
からの検出信号ＩNx，ＩNy，ＩNzに加重Ｗｘ，Ｗｙ，Ｗ
ｚを乗算した補正信号Ｈx，Ｈy，Ｈzを出力する加重回
路３−ｘ，３−ｙ，３−ｚと、補正信号Ｈx，Ｈy，Ｈz
を加算する加算器４と、磁束計６１−ｄによる検出信号
Ｉ’から加算器４で得られた補正信号Ｃを減算した測定
信号Ｉｏを出力する減算器６５と、検出信号ＩNx，ＩN
y，ＩNzを解析した結果に基づいて最適な加重Ｗｘ，Ｗ
ｙ，Ｗｚを算出し加重回路３−ｘ，３−ｙ，３−ｚに設
定する加重最適化部６０とを具備して構成されている。
そして、補正信号Ｃの減算により雑音磁場の影響を抑制
した測定信号Ｉｏに基づいて、対象磁場が測定される。

【０００３】図８は、線形化された磁束計６１（６１−
ｄ，６１−ｘ，６１−ｙ，６１−ｚ）の一例を示す構成
図である。磁束計６１は、非線形の検出特性を有する磁
場検出センサ６０１と、磁場検出センサ６０１からの検
出信号ｉを増幅する増幅器６０２と、増幅器６０２から
の出力信号を積分した検出信号Ｉ’を出力する積分器６
０３と、検出信号Ｉ’をフィードバック電流Ｉｆに変換
する電圧電流変換器６０４と、フィードバック電流Ｉｆ
に基づくフィードバック磁場を発生するフィードバック
コイル６０５とを具備して構成されている。上記のよう
に、入力された磁場に基づく磁場を負帰還することで、
検出特性の線形化が図られる。

【０００４】図９は、線形化された磁束計６１の他例を
示す構成図である。磁束計６１は、非線形の検出特性を
有する磁場検出センサ６０１と、磁場検出センサ６０１
からの検出信号ｖが非反転入力端子に入力された増幅器
７０２と、増幅器７０２からの出力信号を積分して検出
信号Ｉ’を出力する積分器７０３と、検出信号Ｉ’に基
づくフィードバック信号Ｖｆを増幅器７０２の反転入力
端子に帰還する帰還インピーダンス７０４とを具備して
構成されている。上記のように、入力された磁場に基づ
く電圧を負帰還することで、検出特性の線形化が図られ
る。

【０００５】なお、雑音磁場の影響の抑制に関連する従
来技術として、特開平９−２４３７２２号公報および特
開２００１−２５２２５２号公報には、被検体から発生
した対象磁場および雑音源から発生した雑音磁場の両方
を検出する対象磁場検出センサと、雑音源から発生した
雑音磁場のみを実質的に検出する雑音磁場検出センサ
と、対象磁場検出センサによる検出信号Ｍ(ｔ)に雑音磁
場検出センサによる検出信号Ｎ(ｔ)を加重加算した信号
を対象磁場の測定信号とする演算手段とを具備した磁場
測定装置が開示されている。

【０００６】特開平９−２４３７２２号公報に開示の磁
場測定装置では、対象磁場の測定前の検出信号を基にし
て加重加算の加重が決定されている。一方、特開２００
１−２５２２５２号公報に開示の磁場測定装置では、注
目時刻を基準とした時間範囲の検出信号を基にして加重
加算の加重が決定されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記従来の磁場測定装
置６００では、線形化された磁束計６１−ｄによる検出
信号Ｉ’から、線形化された磁束計６１−ｘ，６１−
ｙ，６１−ｚによる検出信号ＩNx，ＩNy，ＩNzを加重加
算した補正信号Ｃを減算するによって、対象磁場の測定
信号Ｉｏを生成していた。しかし、対象磁場が雑音磁場
に比べて微弱な場合には、磁束計６１−ｄすなわち対象
磁場検出系のダイナミックレンジが、雑音磁場の強さに
よって規定されてしまい、対象磁場の強さに適したもの
にならない問題点があった。特に、対象磁場が非常に微
弱な生体磁場である場合には、この問題点が顕著であっ
た。

【０００８】同様に、特開平９−２４３７２２号公報お
よび特開２００１−２５２２５２号公報に開示された磁
場測定装置でも、対象磁場検出センサによる検出信号Ｍ
(ｔ)と雑音磁場検出センサによる検出信号Ｎ(ｔ)の加重
加算によって対象磁場の測定信号を求めていたので、上
記問題点があった。

【０００９】そこで、本発明の目的は、対象磁場が雑音
磁場に比べて微弱な場合でも、対象磁場検出系のダイナ
ミックレンジを対象磁場の強さに適したものにすること
が出来る磁場測定装置を提供することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、被検体から発生した対象磁場および雑音源から発生
した雑音磁場の両方を検出する対象磁場検出センサと、
前記雑音磁場のみを実質的に検出する雑音磁場検出セン
サと、前記雑音磁場検出センサで検出した雑音磁場に基
づく補正信号を前記対象磁場検出センサ側へ加えて前記
雑音磁場の影響を抑制する補正手段とを具備したことを
特徴とする磁場測定装置を提供する。上記第１の観点に
よる磁場測定装置では、補正信号を加えて雑音磁場を打
ち消す。これにより、対象磁場が雑音磁場に比べて微弱
な場合でも、対象磁場検出系のダイナミックレンジが、
雑音磁場の強さによって規定されなくなり、対象磁場の
強さに適したものにすることが出来る。この結果、微弱
磁場を正確に測定できるようになる。

【００１１】第２の観点では、本発明は、上記構成の磁
場測定装置において、前記補正手段は、前記補正信号に
基づく補正磁場を加えることを特徴とする磁場測定装置
を提供する。上記第２の観点による磁場測定装置では、
補正磁場を加えて雑音磁場を打ち消す。これにより、対
象磁場が雑音磁場に比べて微弱な場合でも、対象磁場検
出系のダイナミックレンジが、雑音磁場の強さによって
規定されなくなり、対象磁場の強さに適したものにする
ことが出来る。この結果、微弱磁場を正確に測定できる
ようになる。

【００１２】第３の観点では、本発明は、上記構成の磁
場測定装置において、前記補正手段は、前記補正信号に
基づく補正電流または補正電圧を加えることを特徴とす
る磁場測定装置を提供する。上記第３の観点による磁場
測定装置では、補正電流または補正電圧を加えて雑音磁
場を打ち消す。これにより、対象磁場が雑音磁場に比べ
て微弱な場合でも、対象磁場検出系のダイナミックレン
ジが、雑音磁場の強さによって規定されなくなり、対象
磁場の強さに適したものにすることが出来る。この結
果、微弱磁場を正確に測定できるようになる。

【００１３】第４の観点では、本発明は、上記構成の磁
場測定装置において、前記補正手段は、前記雑音磁場検
出センサによる検出信号Ｎ(ｔ)に加重ＷをかけたＷ・Ｎ
(ｔ)を補正信号とすることを特徴とする磁場測定装置を
提供する。上記第４の観点による磁場測定装置では、雑
音磁場検出センサによる検出信号Ｎ(ｔ)に加重Ｗをかけ
たＷ・Ｎ(ｔ)を補正信号とする。これにより、制御を簡
単化・高速化できる。

【００１４】第５の観点では、本発明は、上記構成の磁
場測定装置において、前記加重Ｗは、前記雑音磁場のみ
が存在する環境下での前記対象磁場検出センサによる検
出信号Ｍ(ｔ)および前記雑音磁場検出センサによる検出
信号Ｎ(t)を測定し、（Ｍ(t)−Ｗ・Ｎ(t)）^２の評価時
間の間の積算値が最小となるように決定されたものであ
ることを特徴とする磁場測定装置を提供する。上記第５
の観点による磁場測定装置では、突発的な雑音磁場に左
右されず、平均的な雑音磁場を抑制することが出来る。

【００１５】第６の観点では、本発明は、上記構成の磁
場測定装置において、前記評価時間のタイミングは前記
対象磁場を測定する前であり、前記評価時間の長さは１
秒以上であることを特徴とする磁場測定装置を提供す
る。上記第６の観点による磁場測定装置では、対象磁場
を測定する前の１秒以上の雑音磁場を基にして加重Ｗを
決定するため、最も適切な加重Ｗを得ることが出来る。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図に示す実施形態により本
発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。

【００１７】−第１の実施形態− 第１の実施形態は、フィードバックコイル（図１の１０
５）により補正磁場を加えて雑音磁場を抑制する実施形
態である。

【００１８】図１は、第１の実施形態にかかる磁場測定
装置を示す構成図である。この磁場測定装置１００は、
被検体Ｐから発生した対象磁場および雑音源から発生し
た雑音磁場の両方を測定するための「線形化された磁束
計」１と、直交するｘ軸，ｙ軸，ｚ軸の各方向のみの雑
音磁場を検出する「線形化された磁束計」６１−ｘ，６
１−ｙ，６１−ｚとを具備している。通常、ｚ方向は、
被検体Ｐに対する法線方向である。ｘ方向，ｙ方向は、
被検体Ｐに対する接線方向である。

【００１９】線形化された磁束計１は、非線形の検出特
性を有する対象磁場検出センサ１０１と、対象磁場検出
センサ１０１からの検出信号ｉを増幅する増幅器１０２
と、増幅器１０２からの出力信号を積分して測定信号Ｉ
を出力する積分器１０３と、測定信号Ｉをフィードバッ
ク電流Ｉｆに変換する電圧電流変換器１０４と、フィー
ドバック電流Ｉｆに基づくフィードバック磁場を発生し
それを対象磁場検出センサ１０１に入力するフィードバ
ックコイル１０５とを具備して構成されている。入力さ
れた磁場に基づく磁場の負帰還を行うことで、検出特性
の線形化が図られる。

【００２０】線形化された磁束計６１−ｘ，６１−ｙ，
６１−ｚの構成は、図８および図９を参照して説明した
通りであり、従来と同様の構成である。

【００２１】さらに、線形化された磁束計６１−ｘ，６
１−ｙ，６１−ｚからの検出信号ＩNx，ＩNy，ＩNzに加
重Ｗｘ，Ｗｙ，Ｗｚを乗算した補正信号Ｈx，Ｈy，Ｈz
を出力する加重回路３−ｘ，３−ｙ，３−ｚと、補正信
号Ｈx，Ｈy，Ｈzを加算する加算器４と、検出信号ＩN
x，ＩNy，ＩNzをデジタルデータＮx，Ｎy，Ｎzに変換す
るＡ／Ｄ変換器２−ｘ，２−ｙ，２−ｚと、デジタルデ
ータＮx，Ｎy，Ｎzを解析して最適な加重Ｗｘ，Ｗｙ，
Ｗｚを算出しそれを加重回路３−ｘ，３−ｙ，３−ｚに
設定する加重最適化部１１と、フィードバック電流Ｉｆ
に加える補正電流Ｉｃを出力する電圧電流変換器５と、
積分器１０３から出力された測定信号Ｉをデジタルデー
タＭに変換するＡ／Ｄ変換器６と、デジタルデータＭを
測定値として蓄積するデータ蓄積部１２とを具備してい
る。

【００２２】図１では、図示の都合上、対象磁場検出セ
ンサ１０１を１つだけしか描いていないが、実際には、
被検体Ｐを覆うように分布させて、多数の対象磁場検出
センサを配設してもよい。

【００２３】図２は、図１の磁場測定装置１００による
磁場測定処理を示すフロー図である。ステップＳ１で
は、雑音磁場のみが存在する環境下（対象磁場検出セン
サ１０１から被検体Ｐを十分に離した状態）で、加重Ｗ
ｘ，Ｗy，Ｗzを「０」にして、評価時間の間の、「線形
化された磁束計」１からの測定信号Ｉに基づくデジタル
データＭ(t)および「線形化された磁束計」６１−ｘ，
６１−ｙ，６１−ｚからの検出信号ＩNx，ＩNy，ＩNzに
基づくデジタルデータＮx(t)，Ｎy(t)，Ｎz(t)を、デー
タ蓄積部１２に蓄積する。評価時間のタイミングは対象
磁場を測定する直前であり、評価時間の長さは１秒以上
である。

【００２４】ステップＳ２では、加重最適化部１１は、
蓄積したデジタルデータＭ(t)およびＮx(t)，Ｎy(t)，
Ｎz(t)を基に加重Ｗx，Ｗy，Ｗzを算出し、加重回路３
−ｘ，３−ｙ，３−ｚに設定する。具体的には、ｄ＝Σ｛Ｍ(t)−Ｗx・Ｎx(t)−Ｗy・Ｎy(t)−Ｗz・Ｎz
(t)｝^２が最小となるような加重Ｗx，Ｗy，Ｗzを求め、加重回
路３−ｘ，３−ｙ，３−ｚに設定する。

【００２５】ステップＳ３では、対象磁場検出センサ１
０１に被検体Ｐを近接させる。ステップＳ４では、「線
形化された磁束計」６１−ｘ，６１−ｙ，６１−ｚから
の検出信号ＩNx，ＩNy，ＩNzに加重Ｗx，Ｗy，Ｗzを乗
算した補正信号Ｈx，Ｈy，Ｈzを加算した補正信号Ｃを
電圧電流変換器５で補正電流Ｉｃに変換して、フィード
バック電流Ｉｆに重畳してフィードバックコイル１０５
を駆動しつつ、測定時間の間の、線形化された磁束計１
からの測定信号Ｉに基づくデジタルデータＭを、データ
蓄積部１２に蓄積する。

【００２６】以上の磁場測定装置１００によれば、補正
電流Ｉｃによる補正磁場が、対象磁場検出センサ１０１
に入る雑音磁場を打ち消すようになる。このため、対象
磁場検出系のダイナミックレンジが、雑音磁場の強さに
よって規定されなくなり、対象磁場の強さに適したもの
とすることが出来る。この結果、微弱磁場を正確に測定
できるようになる。

【００２７】なお、図２の処理では、加重Ｗを設定する
処理を測定時間の直前に１回だけ行ったが、定期的に行
ってもよい。この場合、雑音磁場の状態（分布，強度，
方向等）が経時的に変化する場合でも、雑音磁場の影響
を好適に抑制できるようになる。

【００２８】−第２の実施形態− 第２の実施形態は、補助フィードバックコイル（図３の
２０５Ｈ）により補正磁場を加えて雑音磁場を抑制する
実施形態である。

【００２９】図３は、第２の実施形態にかかる磁場測定
装置を示す構成図である。この磁場測定装置２００で
は、線形化された磁束計２１におけるフィードバックコ
イルが、主フィードバックコイル２０５Ｍと，補助フィ
ードバックコイル２０５Ｈとに分かれている。主フィー
ドバックコイル２０５Ｍには、電圧電流変換器１０４か
ら出力されたフィードバック電流Ｉｆが供給される。こ
れにより、磁束固定ループ（Flux Locked Loop）のため
のフィードバック磁場が発生する。補助フィードバック
コイル２０５Ｈには、電圧電流変換器５から出力された
補正電流Ｉｃが供給される。これにより、雑音磁場を抑
制する補正磁場が発生する。

【００３０】以上の磁場測定装置２００によれば、主フ
ィードバックコイル２０５Ｍに補助フィードバックコイ
ル２０５Ｈを付設するので、本来のフィードバック磁場
の強さと，補正磁場の強さとのバランスを容易に加減で
きるようになる。

【００３１】−第３の実施形態− 第３の実施形態は、補正専用フィードバックコイル（図
４の３０５）により補正磁場を加えて雑音磁場を抑制す
る実施形態である。

【００３２】図４は、第３の実施形態にかかる磁場測定
装置を示す構成図である。この磁場測定装置３００にお
いて、線形化された磁束計３１は、非線形の検出特性を
有する対象磁場検出センサ１０１と、対象磁場検出セン
サ１０１からの検出信号ｖが非反転入力端子に入力され
た増幅器３０２と、増幅器３０２からの出力信号を積分
して測定信号Ｉを出力する積分器３０３と、検出信号Ｉ
に基づくフィードバック信号Ｖｆを増幅器７０２の反転
入力端子に帰還する帰還インピーダンス３０４とを具備
して構成されている。積分器３０３から出力された測定
信号Ｉは、Ａ／Ｄ変換器６でデジタルデータＭに変換さ
れ、データ蓄積部１２に蓄積される。上記のように、入
力された磁場に基づく電圧の負帰還を行うことで、検出
特性の線形化が図られる。また、対象磁場検出センサ１
０１の近傍に配設された補正専用フィードバックコイル
３０５には、電圧電流変換器５から出力された補正電流
Ｉｃが供給される。これにより、雑音磁場を抑制する補
正磁場が発生する。

【００３３】以上の対象磁場測定装置３００によれば、
独立した補正専用フィードバックコイル３０５により補
正磁場を発生させるので、雑音磁場をいっそう高精度に
抑制できるようになる。

【００３４】−第４の実施形態− 第４の実施形態は、補正電流を加えて雑音磁場を抑制す
る実施形態である。

【００３５】図５は、第４の実施形態にかかる磁場測定
装置を示す構成図である。この磁場測定装置４００にお
いて、線形化された磁束計４１の減算器４２は、対象磁
場検出センサ１０１からの検出信号ｉから、加算器４で
得られた補正信号Ｃを減算したものを、増幅器３０２に
入力する。なお、対象磁場検出センサ１０１が電圧出力
型ならば、減算器４２にて補正信号Ｃを電圧で減算す
る。

【００３６】以上の磁場測定装置４００によれば、加重
回路３−ｘ，３−ｙ，３−ｚからの補正信号Ｈx，Ｈy，
Ｈzを加算した補正信号Ｃが、対象磁場検出センサ１０
１に入る雑音磁場による電流を打ち消すようになる。こ
のため、対象磁場検出系のダイナミックレンジが、雑音
磁場の強さによって規定されなくなり、対象磁場の強さ
に適したものとすることが出来る。この結果、微弱磁場
を正確に測定できるようになる。

【００３７】−第５の実施形態− 第５の実施形態は、フィードバックコイル（図６の５０
４）により、磁場検出センサ５０３に補正磁場を加えて
雑音磁場を抑制する実施形態である。

【００３８】図６は、第５の実施形態にかかる脳磁場測
定装置を示す構成図である。この脳磁場測定装置５００
において、線形化された磁束計５１は、人の脳から発生
した脳磁場および雑音源から発生した雑音磁場の両方を
検出する脳磁場検出コイル５０１と、脳磁場検出コイル
５０１からの検出信号に基づく伝達磁場を発生する伝達
コイル５０２と、伝達磁場を検出する磁場検出センサ５
０３と、磁場検出センサ５０３からの検出信号ｖを増幅
する増幅器１０２と、増幅器１０２からの出力信号を積
分して測定信号Ｉを出力する積分器１０３と、測定信号
Ｉをフィードバック電流Ｉｆに変換する電圧電流変換器
１０４と、電圧電流変換器５から出力された補正電流Ｉ
ｃをフィードバック電流Ｉｆに重畳する加算器５０５
と、加算器５０５の出力に基づくフィードバック磁場を
発生するフィードバックコイル５０４とを具備して構成
されている。

【００３９】脳磁場検出コイル５０１と、伝達コイル５
０２と、磁場検出センサ５０３と、フィードバックコイ
ル５０４と、加算器５０５は、極低温槽ＣＲ中に収容さ
れている。極低温槽ＣＲの底部は、人の頭部Ａに合わせ
た湾曲形状となっている。

【００４０】以上の脳磁場測定装置５００によれば、補
正電流Ｉｃによる補正磁場が、脳磁場検出コイル５０１
に入る雑音磁場を打ち消すようになる。このため、対象
磁場検出系のダイナミックレンジが、雑音磁場の強さに
よって規定されなくなり、対象磁場の強さに適したもの
とすることが出来る。この結果、微弱な脳磁場を正確に
測定できるようになる。

【００４１】

【発明の効果】本発明の磁場測定装置によれば、対象磁
場が雑音磁場に比べて微弱な場合でも、対象磁場検出系
のダイナミックレンジを対象磁場の強さに適したものに
することが出来る。この結果、微弱磁場を正確に測定で
きるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施形態にかかる磁場測定装置を示す構
成図である。

【図２】第１の実施形態にかかる磁場測定装置による磁
場測定処理を示すフロー図である。

【図３】第２の実施形態にかかる磁場測定装置を示す構
成図である。

【図４】第３の実施形態にかかる磁場測定装置を示す構
成図である。

【図５】第４の実施形態にかかる磁場測定装置を示す構
成図である。

【図６】第５の実施形態にかかる磁場測定装置を示す構
成図である。

【図７】従来の磁場測定装置の一例を示す構成図であ
る。

【図８】図７の磁場測定装置における「線形化された磁
束計」の一例を示す構成図である。

【図９】図７の磁場測定装置における「線形化された磁
束計」の他例を示す構成図である。

【符号の説明】

１，２１，３１，４１，５１線形化された磁束計６１−ｘ，６１−ｙ，６１−ｚ線形化された磁束計３−ｘ，３−ｙ，３−ｚ加重回路４加算器１１加重最適化部１２データ蓄積部４２減算器１００，２００，３００，４００磁場測定装置５００脳磁場測定装置１０１，５０３磁場検出センサ１０２，３０２増幅器１０３，３０３積分器１０４電圧電流変換器１０５，５フィードバックコイ
ル２０５Ｍ主フィードバックコ
イル２０５Ｈ補助フィードバック
コイル３０４帰還インピーダンス３０５補正専用フィードバ
ックコイル５０１脳磁場検出コイル５０２伝達コイルＷｘ，Ｗｙ，Ｗｚ加重

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検体から発生した対象磁場および雑音
源から発生した雑音磁場の両方を検出する対象磁場検出
センサと、前記雑音磁場のみを実質的に検出する雑音磁
場検出センサと、前記雑音磁場検出センサで検出した雑
音磁場に基づく補正信号を前記対象磁場検出センサ側へ
加えて前記雑音磁場の影響を抑制する補正手段とを具備
したことを特徴とする磁場測定装置。
【請求項２】請求項１に記載の磁場測定装置におい
て、前記補正手段は、前記補正信号に基づく補正磁場を
加えることを特徴とする磁場測定装置。
【請求項３】請求項１に記載の磁場測定装置におい
て、前記補正手段は、前記補正信号に基づく補正電流ま
たは補正電圧を加えることを特徴とする磁場測定装置。
【請求項４】請求項１から請求項３のいずれかに記載
の磁場測定装置において、前記補正手段は、前記雑音磁
場検出センサによる検出信号Ｎ(ｔ)に加重ＷをかけたＷ
・Ｎ(ｔ)を補正信号とすることを特徴とする磁場測定装
置。
【請求項５】請求項４に記載の磁場測定装置におい
て、前記加重Ｗは、前記雑音磁場のみが存在する環境下
での前記対象磁場検出センサによる検出信号Ｍ(ｔ)およ
び前記雑音磁場検出センサによる検出信号Ｎ(t)を測定
し、評価時間の間の（Ｍ(t)−Ｗ・Ｎ(t)）^２の積算値が
最小となるように決定されることを特徴とする磁場測定
装置。
【請求項６】請求項５に記載の磁場測定装置におい
て、前記評価時間のタイミングは前記対象磁場を測定す
る前であり、前記評価時間の長さは１秒以上であること
を特徴とする磁場測定装置。