JP6848321B2 - 路面状況検出プログラム及び路面状況検出装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title description 77
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 184
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 67
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 66
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- 238000005336 cracking Methods 0.000 claims 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 55
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 24
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 11
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 201000010099 disease Diseases 0.000 description 1
- 208000037265 diseases, disorders, signs and symptoms Diseases 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Signal Processing (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Immunology (AREA)
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Description
まず、本実施例における路面状況検出プログラムによる出力結果について、図1乃至図3を用いて、背景技術と比較しながら説明する。図1は、背景技術における路面状況の検出結果表示画面の一例を示す図である。図1は、始点1001から終点1101までの道路を対象とした路面状況の検出結果を出力した画面1000の一例を示す。
次に、本実施例における機能構成について説明する。図4は、実施例1における路面状況検出装置の機能ブロックの一例を示す図である。図4に示すように、本実施例における路面状況検出装置100は、ネットワークNを通じて、ひび割れ検出装置200と、凹凸検出装置300と相互に通信可能に接続される。また、本実施例における路面状況検出装置100は、表示装置400に接続される。なお、本実施例における路面状況検出装置100、ひび割れ検出装置200、凹凸検出装置300及び表示装置400の数は、それぞれ図示された数に限られない。
図9は、路面状況検出処理の一例を示すフローチャートである。なお、路面状況検出装置100は、例えば、利用者によるデータ取得要求を受信することにより、路面状況検出処理を開始する。
このように、路面状況検出装置100は、ひび割れの有無に応じて測定感度を変更するので、路面の劣化の進行の検出の際に生じる漏れやノイズを軽減することができる。
また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を手動的におこなうこともできる。あるいは、手動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的におこなうこともできる。この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
図13は、路面状況検出装置のハードウェア構成例を示す図である。図13に示すように、路面状況検出装置100は、通信インタフェース201、HDD(Hard Disk Drive)202と、メモリ203、プロセッサ204、入出力インタフェース205を有する。
110 通信部
111 出力部
120、520 記憶部
121、521 基準値DB
122 ひび割れDB
123 凹凸DB
124、524 判定結果DB
130、530 制御部
131 第一劣化度取得部
132 劣化地点特定部
133、533 第二劣化度取得部
200 ひび割れ検出装置
300 凹凸検出装置
400 表示装置
Claims (8)
- コンピュータに、
道路の地点毎に第一の劣化度を取得し、
第一の劣化度が所定値よりも悪い劣化の状態を示す劣化地点を特定し、
前記第一の劣化度とは異なる方式で道路の地点毎に第二の劣化度を取得する際に、特定した前記劣化地点については、第二の劣化度を取得する際の測定感度を増加させる処理を実行させ、
前記測定感度を増加させる処理が、前記劣化地点について、前記測定感度を増加させた後の第二の測定感度を用いて取得された前記第二の劣化度が所定の条件に合致するか否かを判定し、その他の前記道路の地点について、前記測定感度を増加させる前の第一の測定感度を用いて取得された前記第二の劣化度が所定の条件に合致するか否かを判定し、各地点における前記判定の結果を示す情報と、前記劣化地点の位置を示す情報とを出力する
ことを特徴とする路面状況検出プログラム。 - 前記測定感度を増加させる処理が、前記測定感度の下限値を低く設定することを特徴とする請求項1に記載の路面状況検出プログラム。
- 前記測定感度を増加させる処理が、前記所定の条件に合致する値の範囲が狭くなるように前記測定感度を設定することを特徴とする請求項1に記載の路面状況検出プログラム。
- 前記測定感度を増加させる処理が、特定された前記劣化地点において、前記第一の測定感度を用いて取得された前記第二の劣化度が所定の条件に合致するか否かをさらに判定し、前記第一の測定感度を用いて取得された前記第二の劣化度が所定の条件に合致する前記劣化地点と、前記第二の測定感度を用いて取得された前記第二の劣化度のみが所定の条件に合致する前記劣化地点とを区別して、前記劣化地点の位置を示す情報に重畳して出力することを特徴とする請求項1に記載の路面状況検出プログラム。
- 前記測定感度を増加させる処理が、所定の時点より前に前記劣化地点において取得された前記第二の劣化度と、所定の時点より後に前記劣化地点において取得された前記第二の劣化度とを比較することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1つに記載の路面状況検出プログラム。
- 前記測定感度を増加させる処理が、前記第一の劣化度とは質が異なる劣化度を用いて、前記第二の劣化度を取得することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1つに記載の路面状況検出プログラム。
- 前記第一の劣化度を取得する処理が、前記道路の地点における路面のひび割れ度合いを取得し、
前記測定感度を増加させる処理が、前記第一の劣化度とは質が異なる劣化度として、前記道路の地点における路面の平坦度を用いて、前記第二の劣化度を取得する
ことを特徴とする請求項6に記載の路面状況検出プログラム。 - 道路の地点毎に第一の劣化度を取得する第一劣化度取得部と、
第一の劣化度が所定値よりも悪い劣化の状態を示す劣化地点を特定する劣化地点特定部と、
前記第一の劣化度とは異なる方式で道路の地点毎に第二の劣化度を取得する際に、特定した前記劣化地点については、第二の劣化度を取得する際の測定感度を増加させる第二劣化度取得部とを有し、
前記第二劣化度取得部が、前記劣化地点について、前記測定感度を増加させた後の第二の測定感度を用いて取得された前記第二の劣化度が所定の条件に合致するか否かを判定し、その他の前記道路の地点について、前記測定感度を増加させる前の第一の測定感度を用いて取得された前記第二の劣化度が所定の条件に合致するか否かを判定し、各地点における前記判定の結果を示す情報と、前記劣化地点の位置を示す情報とを出力する
ことを特徴とする路面状況検出装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016198537A JP6848321B2 (ja) | 2016-10-06 | 2016-10-06 | 路面状況検出プログラム及び路面状況検出装置 |
US15/724,753 US20180100737A1 (en) | 2016-10-06 | 2017-10-04 | Computer-readable recording medium and road surface condition detection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016198537A JP6848321B2 (ja) | 2016-10-06 | 2016-10-06 | 路面状況検出プログラム及び路面状況検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018060427A JP2018060427A (ja) | 2018-04-12 |
JP6848321B2 true JP6848321B2 (ja) | 2021-03-24 |
Family
ID=61828733
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016198537A Active JP6848321B2 (ja) | 2016-10-06 | 2016-10-06 | 路面状況検出プログラム及び路面状況検出装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20180100737A1 (ja) |
JP (1) | JP6848321B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7169112B2 (ja) * | 2018-08-02 | 2022-11-10 | 西日本高速道路エンジニアリング四国株式会社 | 排水性舗装の路面管理システム |
JP7074698B2 (ja) * | 2019-02-27 | 2022-05-24 | トヨタ自動車株式会社 | 評価装置 |
WO2021014754A1 (ja) * | 2019-07-23 | 2021-01-28 | 富士フイルム株式会社 | ひび割れ評価装置、ひび割れ評価方法、及びひび割れ評価プログラム |
WO2022190204A1 (ja) * | 2021-03-09 | 2022-09-15 | 日本電気株式会社 | 発生危険度算出装置、発生危険度表示システム、発生危険度算出方法及び発生危険度算出プログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体 |
WO2023242897A1 (ja) * | 2022-06-13 | 2023-12-21 | 日本電気株式会社 | ポットホール予測システム、ポットホール予測方法及び記録媒体 |
WO2024069674A1 (ja) * | 2022-09-26 | 2024-04-04 | 日本電気株式会社 | 除雪支援システム、除雪支援方法および記録媒体 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7697727B2 (en) * | 2005-05-23 | 2010-04-13 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Automated surface distress measurement system |
JP4950620B2 (ja) * | 2006-11-02 | 2012-06-13 | 北海道電力株式会社 | 路面性状測定方法 |
JP6021309B2 (ja) * | 2011-10-05 | 2016-11-09 | 鹿島道路株式会社 | 路面凹凸評価システム |
JP5776545B2 (ja) * | 2011-12-28 | 2015-09-09 | 富士通株式会社 | 路面調査プログラム及び路面調査装置 |
JP6343987B2 (ja) * | 2014-03-18 | 2018-06-20 | 富士通株式会社 | 路面劣化検出方法、情報処理装置及びプログラム |
-
2016
- 2016-10-06 JP JP2016198537A patent/JP6848321B2/ja active Active
-
2017
- 2017-10-04 US US15/724,753 patent/US20180100737A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180100737A1 (en) | 2018-04-12 |
JP2018060427A (ja) | 2018-04-12 |
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A621 | Written request for application examination |
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