JP6844464B2 - 電池システム - Google Patents
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Description
本開示は、電池システムに関し、より特定的には、セルの劣化量を推定する電池システムに関する。
特開2016−81638公報(特許文献1)には、電極体と電極体を収容する筐体とを有するセルの劣化量を推定する電池システムが開示されている。この電池システムには、セルの筐体において破断が生じやすい箇所に温度センサが設けられており、温度センサが検出した温度を用いてセルの劣化量が推定される。
電池システムにおいて、セルを冷却するために、セルの特定の箇所を局所的に冷却する冷却装置が用いられる場合がある。この場合、冷却装置によって冷却される箇所と、そうでない箇所とでは冷却される程度に差が生じる。そのため、セルの電極体の内部において温度ばらつきが生じ得る。
特許文献1に開示されている電池システムにおいては、温度センサが設けられた箇所の温度を用いてセルの劣化量が推定される。電極体の内部に大きな温度ばらつきが生じている状態においては、セルのいずれの箇所に温度センサが設けられるかによって、検出される値が大きく異なり得る。よって、セルの劣化量を精度よく推定することができなくなる可能性がある。
本開示は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的は、電池システムにおいて、セルの劣化量を精度よく推定することである。
この開示に係る電池システムは、電極体と電極体を収容する筐体とを有するセルと、筐体の特定部分を冷却するための冷却液通路を有する冷却装置と、筐体の特定部分に対応する第1部分に設けられ、第1部分の温度に関する第1温度情報を検出するための第1センサと、筐体の第1部分とは異なる第2部分に設けられ、第2部分の温度に関する第2温度情報を検出するための第2センサと、セルの劣化量を推定可能に構成された制御装置とを備える。制御装置は、第1温度情報および第2温度情報を用いて電極体の内部における温度ばらつきを算出する。制御装置は、温度ばらつきが基準値よりも大きい状態で検出された第1温度情報および第2温度情報を用いることなく、温度ばらつきが基準値よりも小さい状態で検出された第1温度情報および第2温度情報の少なくとも一方を用いて電極体の内部温度を推定する推定処理を実行する。制御装置は、1または2以上の推定処理によってそれぞれ推定された1または2以上の内部温度を温度履歴データとして記憶する。制御装置は、温度履歴データに含まれる内部温度の値とその値の頻度との関係を示す温度頻度分布を算出する。制御装置は、算出された温度頻度分布を用いてセルの劣化量を推定する。
上記構成によれば、第1および第2センサからそれぞれ検出された第1および第2温度情報を用いて、電極体の内部における温度ばらつきが算出される。温度ばらつきが基準値よりも小さい状態で検出された第1および第2温度情報の少なくとも一方を用いて電極体の内部温度が推定される。一方、温度ばらつきが基準値よりも大きい状態で検出された第1および第2温度情報は、電極体の内部温度の推定に用いられない。よって、セルのいずれの箇所に上記センサが設けられているかに関わらず、電極体の内部温度が精度よく推定される。
そして、上記のように精度よく推定された電極体の内部温度を1または2以上用いて温度頻度分布が算出され、算出された温度頻度分布を用いてセルの劣化量が推定される。その結果、セルの劣化量を精度よく推定することができる。
本開示によれば、セルの劣化量を精度よく推定することができる。
以下、本実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
以下に示す実施の形態においては、電池システムが、電気自動車に搭載される構成を例に説明する。
<電池システムの構成>
図1は、本実施の形態に係る電池システムが搭載された車両の全体構成を概略的に示す図である。車両1は、電池システム2と、パワーコントロールユニット(PCU:Power Control Unit)40と、モータジェネレータ50と、駆動輪60とを備える。電池システム2は、バッテリ10と、監視ユニット20と、冷却装置30と、電子制御装置(ECU:Electronic Control Unit)100とを備える。
図1は、本実施の形態に係る電池システムが搭載された車両の全体構成を概略的に示す図である。車両1は、電池システム2と、パワーコントロールユニット(PCU:Power Control Unit)40と、モータジェネレータ50と、駆動輪60とを備える。電池システム2は、バッテリ10と、監視ユニット20と、冷却装置30と、電子制御装置(ECU:Electronic Control Unit)100とを備える。
バッテリ10は、各々がリチウムイオン二次電池である複数のセル110(図2参照)を含んで構成される。各セル110の詳細な構成については図2にて説明する。バッテリ10は、モータジェネレータ50を駆動するための電力を蓄え、PCU40を通じてモータジェネレータ50へ電力を供給する。また、バッテリ10は、モータジェネレータ50の発電時にPCU40を通じて発電電力を受けて充電される。
監視ユニット20は、バッテリ10の状態を監視し、その監視結果をECU100に出力する。監視ユニット20は、電流センサ22、温度センサ23および熱流束センサ241,242を含む。電流センサ22は、バッテリ10に入出力される電流IBを検出する。温度センサ23は、バッテリ10の環境温度Tout(外部温度)を検出する。各センサは、その検出結果をECU100に出力する。熱流束センサ241,242の詳細は後述する。
冷却装置30は、冷却液が流れる冷却液通路31(図3参照)を含んで構成された液冷式の冷却装置である。冷却装置30は、バッテリ10(各セル110)の特定の箇所を局所的に冷却する。冷却装置30は、ECU100からの制御信号に従って冷却性能を変更する。
PCU40は、ECU100からの制御信号に従って、バッテリ10から受ける直流電力を、MG50を駆動するための交流電力に変換する。また、PCU40は、MG50により発電された交流電力を、バッテリ10を充電するための直流電力に変換する。
MG50は、PCU40に電気的に接続されるとともに、駆動輪60に連結される。MG50は、交流回転電機であり、たとえば、ロータに永久磁石が埋設された三相交流同期電動機である。MG50は、PCU40から電力の供給を受けて、車両1を走行させるための駆動力を発生させる。また、MG50は、駆動輪60からの回転力を受けて交流電力を発生するとともに、ECU100からの回生トルク指令によって回生制動力を発生する。
ECU100は、CPU(Central Processing Unit)100Aと、メモリ(より具体的にはROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory))100Bと、各種信号を入出力するための入出力ポート(図示せず)とを含んで構成される。ECU100は、各センサから受ける信号ならびにメモリ100Bに記憶されたプログラムおよびマップに基づいて、バッテリ10の充放電を制御したり、冷却装置30の冷却性能を制御したり、バッテリ10の劣化量を推定したりする。
<セル構成>
図2は、セル110および監視ユニット20の構成をより詳細に説明するための図である。図2において、セル110は、その内部を透視して示されている。セル110は、筐体111と、蓋体112と、正極端子113と、負極端子114と、電極体115(破線で示す)と、熱流束センサ241,242を含む。
図2は、セル110および監視ユニット20の構成をより詳細に説明するための図である。図2において、セル110は、その内部を透視して示されている。セル110は、筐体111と、蓋体112と、正極端子113と、負極端子114と、電極体115(破線で示す)と、熱流束センサ241,242を含む。
筐体111は、角型形状(略直方体形状)を有する。以下では、筐体111の長辺方向(長さ方向)をx軸方向とし、短辺方向(厚み方向)をy軸方向とし、高さ方向をz軸方向とする。図2において、鉛直方向は負のz軸方向であり、水平方向はxy平面方向である。
蓋体112は、筐体111の上面(鉛直方向上面)を封止する。正極端子113および負極端子114の各々の一方端は、蓋体112から外部に突出している。正極端子113および負極端子114の各々の他方端は、筐体111の内部において、内部正極端子および内部負極端子(いずれも図示せず)にそれぞれ電気的に接続されている。
電極体115は、正極116と負極117とがセパレータ118を介して積層され、その積層体が捲回されることにより形成されている。電極体115は、その捲回軸が筐体111の長辺方向(x軸方向)に延在するように筐体111に収容されている。電解液は、主に電極体115の内部に保持されている。なお、図2では電極体115が捲回型である例を示すが、電極体115は積層型であってもよい。
正極116、負極117、セパレータ118および電解液には、リチウムイオン二次電池の正極、負極、セパレータおよび電解液として従来公知の構成および材料をそれぞれ用いることができる。
熱流束センサ241,242は、筐体111の底部および筐体111の上部にそれぞれ設置され、設置箇所における熱流束Q1,Q2をそれぞれ検出する。熱流束センサ241,242の設けられる箇所の詳細については後述する。
熱流束センサ241,242は、図示しないが、2つの感熱素子(薄膜サーミスタ)を含んで構成される。筐体111の材料の熱伝導率をCと表し、筐体111の設置箇所の厚みをdと表し、2つの感熱素子間の温度差をΔT0と表す場合、これらのパラメータと熱流束Qとの間には、Q=C/d×ΔT0との関係が成立する。熱伝導率Cおよび厚みdは筐体111の測定値または仕様値から既知であるため、温度差ΔT0の検出値から熱流束Qを算出することができる。
なお、熱流束センサ241、242のセットは、バッテリ10に含まれるすべてのセル110に対して設けられてもよいし、監視単位となる複数個(たとえば数個〜数十個)のセル110毎に設けられてもよい。
<冷却装置およびセルの配置>
図3は、本実施の形態に係る冷却装置30およびセル110の配置を概略的に示す図である。具体的には、図3は、図2においてy軸方向にz−x平面をみた冷却装置30およびセル110の配置を示している。
図3は、本実施の形態に係る冷却装置30およびセル110の配置を概略的に示す図である。具体的には、図3は、図2においてy軸方向にz−x平面をみた冷却装置30およびセル110の配置を示している。
ケース底面11は、各セル110を収容しているバッテリ10のケースの底面である。ケース底面11は、セル110の筐体111の底面111a(以下、筐体底面ともいう)と接触しており、かつ冷却装置30の冷却液通路31と接触するように配置されている。冷却液が冷却液通路31を通る際にケース底面11を介して各セル110の筐体底面111aと冷却液との間で熱交換が行なわれる。これにより、各セル110が冷却される。
熱流束センサ241は、図3に示すように、筐体111の長辺方向に延在する側面において底面に近い部分の中央領域に設けられている。熱流束センサ241は、筐体底面111aの熱流束Q1を検出する。
熱流束センサ242は、図3に示すように、筐体111の長辺方向に延在する側面において上面に近い部分の中央領域に設けられている。熱流束センサ242は、筐体111の上面111b(以下、筐体上面ともいう)の熱流束Q2を検出する。
<セルの劣化量推定処理>
一般に、充放電サイクルや長期保存によって、容量の低下や内部抵抗増加といったバッテリの劣化が進行することが知られており、バッテリを適切に使用するためには、バッテリの劣化状態を把握することが好ましい。そこで、本実施の形態においては、バッテリ10の劣化状態を表す指標として、ECU100が、セル110の単位劣化量ΔDおよび積算劣化量Dを推定する劣化量推定処理を行なう。以下、単位劣化量ΔDおよび積算劣化量Dを総称して「劣化量」とも称する。
一般に、充放電サイクルや長期保存によって、容量の低下や内部抵抗増加といったバッテリの劣化が進行することが知られており、バッテリを適切に使用するためには、バッテリの劣化状態を把握することが好ましい。そこで、本実施の形態においては、バッテリ10の劣化状態を表す指標として、ECU100が、セル110の単位劣化量ΔDおよび積算劣化量Dを推定する劣化量推定処理を行なう。以下、単位劣化量ΔDおよび積算劣化量Dを総称して「劣化量」とも称する。
単位劣化量ΔDとは、1回の劣化量推定処理期間における内部抵抗の増加量を示す指標である。積算劣化量Dとは、単位劣化量ΔDを積算した値である。
図4は、ECU100によって実行される劣化量推定処理手順を説明するフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、バッテリ10を構成する各セル110に対して繰り返し実行されるが(後述する図5参照)、バッテリ10の代表的な一部のセル110に対して実行されてもよい。各ステップ(以下、Sと略す)は、基本的にはECU100によるソフトウェア処理によって実現されるが、ECU100内に作製された電子回路によるハードウェア処理によって実現されてもよい(後述する図5においても同じ)。
ECU100は、セル110の電極体の内部温度Tin(以下、単に「内部温度」と称する)の所定期間における最頻値である最頻値温度Tfをメモリ100Bから読み出す(S3)。最頻値温度Tfは、温度頻度分布を用いて算出される。温度頻度分布とは、ECU100が推定した内部温度Tinの値とその値が生じた頻度との関係性を示したものである。温度頻度分布および内部温度Tinの算出方法については、後述する。
次いで、ECU100は、取得した最頻値温度Tfを用いて単位劣化量ΔDを推定する(S5)。具体的には、ECU100は、最頻値温度Tfを用いて内部抵抗の増加量を推定する。
セルの温度と単位劣化量ΔDとの関係は、実験等によって予め求められ、メモリ100Bにマップとして記憶されている。そして、メモリ100Bから読み出された最頻値温度Tfをセル110の温度としてマップに照合することによって、セル110の単位劣化量ΔDが推定される。
ECU100は、メモリ100Bに記憶されている前回の積算劣化量Dに今回の推定された単位劣化量ΔDを加算し、今回の積算劣化量Dとする(D=D+ΔD)(S7)。ECU100は、今回の積算劣化量Dをメモリ100Bに記憶する。記憶された今回の積算劣化量Dは、次回のS5において、前回の積算劣化量Dとして用いられる。
次いで、ECU100は、積算劣化量Dが閾値Dthより大きいか否かを判定する(S10)。積算劣化量Dが閾値Dthより大きければ(S10においてYES)、ECU100は、セル110は劣化しているものとして、表示部(図示せず)に警告を表示させてユーザに通知する(S20)。
ユーザへの通知は、特に限定されるものではないが、表示部へのセル110の異常を示す視覚的な表示または聴覚的な通知、あるいはこれらの組み合わせであってもよい。その後、ECU100は一連の処理を終了する。
一方、積算劣化量Dが閾値Dth未満であれば(S10においてNO)、ECU100は、セル110は劣化していないものと判断する(S15)。その後処理をリターンに移す。
<セルの内部温度の推定処理および温度頻度分布の算出処理>
上述したとおり、セル110の劣化量の推定には、温度頻度分布から算出した最頻値温度Tfが用いられる。この最頻値温度Tfを算出するための温度頻度分布の算出には、ECU100が推定したセル110の電極体の内部温度Tinが用いられる。
上述したとおり、セル110の劣化量の推定には、温度頻度分布から算出した最頻値温度Tfが用いられる。この最頻値温度Tfを算出するための温度頻度分布の算出には、ECU100が推定したセル110の電極体の内部温度Tinが用いられる。
冷却装置30は、冷却液通路31がバッテリ10のケース底面11(セル110の筐体底面111a)を局所的に冷却する。よって、筐体底面111aと筐体上面111bとでは温度差が生じ、セル110の電極体の内部における温度ばらつきが生じ得る。
特に、セル110に入出力される電流IBが大きい場合あるいは、環境温度が低い状態でセル110が発熱する場合に、セル110の電極体の内部における温度ばらつきは顕著になる。
ゆえに、冷却装置30の作用によって温度ばらつきが生じた状態で内部温度Tinが算出されると、温度ばらつきの影響を受けた温度頻度分布および最頻値温度Tfが算出される。結果として、セル110の単位劣化量ΔDの推定が正確になされず、セル110の積算劣化量Dが過剰あるいは過少に推定される可能性がある。
そこで、本実施の形態においては、電極体の内部における温度ばらつきが基準値よりも大きい状態で検出された熱流束Q1,Q2は、内部温度Tinの推定に用いられず、温度ばらつきが基準値未満で検出された熱流束Q1,Q2の一方を用いて内部温度Tinが推定される。それゆえ、内部温度Tinの推定精度が向上する。そして、精度よく推定された内部温度Tinを1または2以上用いて温度頻度分布および最頻値温度Tfが算出され、算出された最頻値温度Tfを用いて単位劣化量ΔDが推定される。単位劣化量ΔDを積算して積算劣化量Dが推定される。つまり、内部温度Tinを精度よく推定することによって、積算劣化量Dの推定精度が向上する。
図5は、本実施の形態におけるセルの内部温度および温度頻度分布の算出を示すフローチャートである。このフローチャートに示される処理は、バッテリ10を構成する各セル110に対して繰り返し実行される。
ECU100は、バッテリ10に入出力される電流IBおよびバッテリ10の環境温度Toutを、電流センサ22および温度センサ23から、それぞれ検出する(S25)。
ECU100は、熱流束センサ241,242から熱流束Q1,Q2をそれぞれ検出する(S30)。
ECU100は、電流IBと環境温度Toutと熱流束Q1,Q2とから、電極体下部温度T1および電極体上部温度T2を算出する(S35)。電極体下部温度T1は筐体底面111aにおける電極体の内部温度であり、電極体上部温度T2は筐体上面111bにおける電極体の内部温度である。
ここで、電極体下部温度T1および電極体上部温度T2の算出方法について以下に説明する。図6は、電極体下部温度T1および電極体上部温度T2の算出方法を説明するための図である。
セル110は熱量(IB)2×Rで発熱する。Rはセル110の内部抵抗値である。つまり、電流IBが大きいほどセル110の発熱量が大きくなる。筐体底面111aにおいては、熱流束Q1の大きさで筐体内部から筐体外部の方向へ熱が流出する。熱流束Q1の大きさには、セル110の発熱量と環境温度Toutとが関係している。本実施の形態においては、電流IB、環境温度Toutおよび熱流束Q1と、電極体下部温度T1との関係は実験等によって予め求められる。これらの関係は、ECUのメモリ100Bにマップとして記憶されている。電流センサ22から検出された電流IBと、温度センサ23から検出された環境温度Toutと、熱流束センサ241から検出された熱流束Q1とを用いて電極体下部温度T1が算出される。
電極体上部温度T2においても同様である。筐体上面111bにおいては、熱流束Q2の大きさで筐体内部から筐体外部の方向へ熱が流出する。熱流束Q2の大きさには、セルの発熱量と環境温度Toutとが関係しており、これらの値を用いて電極体上部温度T2が算出される。電流IB、環境温度Toutおよび熱流束Q2と、電極体上部温度T2との関係は実験等によって予め求められる。これらの関係は、ECUのメモリ100Bにマップとして記憶されている。電流センサ22から検出された電流IBと、温度センサ23から検出された環境温度Toutと、熱流束センサ242から検出された熱流束Q2とを用いて電極体上部温度T2が算出される。
なお、図6においては、熱流束の大きさを矢印の太さで示している。本実施の形態においては、冷却装置30の冷却液通路31が、筐体底面111aの下方に位置するため、筐体底面111aは筐体上面111bよりもより冷却されやすい。ゆえに、筐体底面111aにおける筐体内部から筐体外部への熱の流出は、筐体上面111bにおける筐体内部から筐体外部への熱の流出よりも大きくなるため、筐体底面111aの熱流束Q1の方が筐体上面111bの熱流束Q2よりも大きくなっている。
図5に戻り、ECU100は、S35にて算出した電極体下部温度T1および電極体上部温度T2を用いて、電極体の内部の温度ばらつきΔTを算出する(S40)。具体的には、温度ばらつきΔTは、下記の式(1)により求められ、電極体下部温度T1と電極体上部温度T2との差の絶対値で表わされる。
ΔT=|T1−T2|・・・(1)
ECU100は、S40にて算出した温度ばらつきΔTを所定の基準値ΔTrefよりも大きいか否かを判定する(S45)。基準値ΔTrefは、温度センサや熱流束センサの測定精度などを用いて実験的に定めることができ、たとえば数℃程度の値に設定することができる。
ECU100は、S40にて算出した温度ばらつきΔTを所定の基準値ΔTrefよりも大きいか否かを判定する(S45)。基準値ΔTrefは、温度センサや熱流束センサの測定精度などを用いて実験的に定めることができ、たとえば数℃程度の値に設定することができる。
ECU100は、温度ばらつきΔTが基準値ΔTrefより大きければ(S45においてYES)、冷却装置30の冷却性能を低下させる(S50)。冷却性能の低下とは、冷却を弱めることを意図する。特に限定されるものではないが、冷却液の温度を上昇させたり、冷却を停止させたりすることを含む。ただし、冷却装置30の冷却性能の低下は、寿命保障している劣化量以上にならない範囲で行なう。たとえば、電極体上部温度T2が、冷却性能の低下により、所定値以上に高くならない範囲で行なう。
ECU100は、温度ばらつきΔTが基準値ΔTref未満であれば(S45においてNO)、内部温度Tinの推定処理を行なう(S55)。具体的には、ECU100は、電極体下部温度T1と電極体上部温度T2とのうち、温度の高い方を電極体の内部温度Tinとして推定する。
一般に二次電池は温度が高くなるほど劣化が大きくなるため、本実施の形態においては、劣化の度合いが大きくなる方、つまり温度の高い方(車両1の走行時においては電極体上部温度T2)をセル110の劣化量の推定に用いる。
ECU100は、算出した内部温度Tinを、算出された内部温度Tinの履歴のデータである温度履歴データに加え、メモリ100Bに記憶する(S57)。
次いで、ECU100は、メモリ100Bに記憶された温度履歴データ用いて、温度頻度分布を算出し、算出した温度頻度分布から最頻値温度Tfを算出してメモリ100Bに記憶する(S60)。
図7は、温度頻度分布の一例を示した図である。横軸に内部温度Tinの値、縦軸にその値が生じた頻度として、温度履歴データを用いてグラフ化したものである。温度頻度分布は、内部温度Tinが算出される毎に、算出された内部温度Tinを加えた温度履歴データを用いて算出される。以上のように算出された温度頻度分布から、ECU100は、温度頻度分布の最頻値温度Tfを算出してメモリ100Bに記憶する。
図5に戻り、S65において、ECU100は、劣化量推定処理を行なう。劣化量推定処理は、上述の<セルの劣化量推定処理>で説明した通りであるので、ここでは繰り返し説明を行なわない。
図8は、車両1の走行時における本実施の形態、車両1の停車時の例(比較例1)および車両1の走行時において本実施の形態の劣化量の推定手法を用いない場合の例(比較例2)を比較した図である。図8は、横軸に温度、縦軸にセル110のZ軸方向の位置を示し、上記3つの例における電極体下部温度T1および電極体上部温度T2の関係を示している。図8において、本実施の形態は実線L0、比較例1は点線L1、比較例2は一点鎖線L2で示されている。
まず、比較例1は、車両1が停止しているため各セル110は発熱しておらず、冷却装置30による冷却もされていない状態である。よって、比較例1の電極体下部温度T1および電極体上部温度T2は、環境温度Toutと同程度の温度に収束する。
比較例2では、電極体の内部の温度ばらつきΔTが基準値Trefよりも大きくなった場合であっても、冷却装置30の冷却性能を低下させる制御を行なっていない。そのため、筐体底面111aへの局所的な冷却が続けられている。これにより、電極体の内部の温度ばらつきΔTは基準値ΔTrefよりも大きな値となる。
本実施の形態は、電極体の内部の温度ばらつきΔTが基準値Trefよりも大きくなると、冷却装置30の冷却性能が低下される。冷却性能が低下されることによって、電極体下部温度T1および電極体上部温度T2の値が大きくなるが、冷却装置30の冷却性能の影響を大きく受けている電極体下部温度T1の値の増加幅は電極体上部温度T2の値の増加幅よりも大きくなる。ゆえに、比較例2に比べ、温度ばらつきΔTは小さくなる。電極体の内部温度ばらつきを抑えることで、セル110の劣化量を精度よく推定することができる。
なお、内部温度Tinの算出に関して、車両の走行時は、基本的に冷却液が通る筐体底面111aよりも筐体上面111bの温度の方が高くなるため、電極体上部温度T2が内部温度Tinとなる。停車時は、電極体下部温度T1と電極体上部温度T2とのうち、いずれか温度の高い方が内部温度Tinとなる。
以上のように、本実施の形態によれば、セル110に設けられた熱流束センサ241,242からそれぞれ検出された熱流束Q1,Q2を用いて電極体の内部における温度ばらつきが算出される。温度ばらつきが基準値よりも大きい状態で検出された熱流束Q1,Q2は内部温度Tinの推定に用いられず、温度ばらつきが基準値未満の状態で検出された熱流束Q1,Q2が内部温度Tinの推定に用いられる。内部温度Tinの推定に用いられる熱流束Q1,Q2のばらつきが一定の範囲内に抑えられることにより、内部温度Tinの推定精度が向上する。精度よく推定された内部温度Tinを1または2以上用いて温度頻度分布が算出され、算出された温度頻度分布を用いてセル110の劣化量が推定される。ゆえにセル110の劣化量を適切に推定することができる。
<変形例>
本実施の形態においては、冷却装置30の冷却液通路31がセル110の筐体底面111aを冷却したが、冷却装置30がセル110を冷却する箇所は、セル110の筐体111の特定箇所であればよく、筐体底面111aに限定されるものではない。冷却装置30の冷却液通路31がセル110の筐体底面111a以外の箇所を冷却してもよい。なお、筐体底面111aは、本開示に係る「特定部分」に相当する。
本実施の形態においては、冷却装置30の冷却液通路31がセル110の筐体底面111aを冷却したが、冷却装置30がセル110を冷却する箇所は、セル110の筐体111の特定箇所であればよく、筐体底面111aに限定されるものではない。冷却装置30の冷却液通路31がセル110の筐体底面111a以外の箇所を冷却してもよい。なお、筐体底面111aは、本開示に係る「特定部分」に相当する。
本実施の形態においては、熱流束センサ241は、筐体111の長辺方向に延在する側面において底面に近い部分の中央領域に設けられたが、熱流束センサ241の設けられる箇所はこれに限定されるものではない。熱流束センサ241の設けられる箇所は、冷却装置30の冷却液通路31が冷却する筐体底面111aに対応する部分であればよい。「筐体底面111aに対応する部分」とは、筐体底面111aあるいは筐体底面111aに近い部分であって、筐体底面111aにおける熱流束Q1を検出することができる部分である。たとえば、熱流束センサ241は、筐体底面111aに設けられてもよいし、筐体111の側面において底面に近い部分に設けられてもよい。なお、筐体底面111aに対応する部分は、本開示に係る「第1部分」に相当する。
本実施の形態においては、熱流束センサ242は、筐体111の長辺方向に延在する側面において上面に近い部分の中央領域に設けられたが、熱流束センサ242の設けられる箇所はこれに限定されるものではない。熱流束センサ242の設けられる箇所は、筐体底面111aに対応する部分とは異なる部分であればよい。「筐体底面111aに対応する部分とは異なる部分」とは、筐体111において、熱流束センサ241が設けられる筐体底面111aに対応する部分に該当しない部分である。たとえば、熱流束センサ242は、筐体上面111bに設けられてもよいし、筐体111の側面において上面に近い部分に設けられてもよい。なお、筐体底面111aに対応する部分とは異なる部分とは、本開示に係る「第2部分」に相当する。
本実施の形態においては、内部温度Tinの推定において、熱流束Q1,Q2のいずれか一方を用いたが、特にこれに限定されるものではなく、熱流束Q1,Q2を両方用いて内部温度Tinを推定してもよい。たとえば、熱流束Q1,Q2をそれぞれ用いて算出した電極体下部温度T1と電極体上部温度T2との平均値を内部温度Tinと推定してもよい。
また、熱流束センサ241を筐体111の下方部分に設け、熱流束センサ242を筐体111の中央部分に設けてもよい。EUC100は、熱流束センサ241,242によって検出された熱流束Q1,Q2を用いて、それぞれの電極体の内部温度を算出する。EUC100は、算出したそれぞれの電極体の内部温度を用いて、最も温度が高くなる筐体111の上方部分の電極体の内部温度を算出し、温度ばらつきΔTの算出および内部温度Tinの推定をする。
また、本実施の形態においては、熱流束センサが2箇所に設けられる例を示したが、3箇所以上に設けられてもよい。
本実施の形態においては、熱流束センサを用いたが、熱流束センサに代えて温度センサを用いてもよい。温度センサを用いる場合は、温度センサの検出値が電極体下部温度T1および電極体上部温度T2となる。
なお、熱流束センサを用いたのは、以下の理由による。劣化量の推定にはセル110の内部温度(電極体および電解液の温度)が用いられることが望ましいが、製造容易性および保守管理性などの観点から、温度センサ、熱流束センサは、セル110の外部(筐体外部)に設けられることになる。本実施の形態のように局所的に冷却を行なう冷却装置30を用いる場合、熱電対等の温度センサは外部環境の影響を受けやすい。具体的には、冷却装置30により冷却されている筐体底面111aの表面温度がセル110の内部温度よりも低くなり得る。つまり、温度センサにより検出される温度と、検出が望まれる内部温度との間の差が生じ得る。
また、温度センサを筐体底面111aのみに設けた場合には、上記の理由により劣化を過剰に推定する可能性がある。温度センサを筐体上面111bのみに設けた場合には、劣化を過少に推定する可能性がある。そこで、セル110の電極体115での熱流束を検出する熱流束センサを用いることで、外部環境の影響を低減することができる。
本実施の形態においては、内部温度Tinが算出される毎に温度頻度分布を算出したが、温度頻度分布の算出間隔は、これに限定されるものではなく、一定の時間間隔であってもよいし、メモリ100Bに記憶された内部温度Tinのデータ数であってもよい。種々のパターンが考えられる。
一定の時間間隔の場合は、ECU100は、指定された時間内おいてメモリ100Bに記憶された内部温度Tinを用いて温度頻度分布を算出する。メモリ100Bに記憶された内部温度Tinのデータ数の場合は、ECU100は、メモリ100Bに記憶されたデータ数が指定されたデータ数に達するごとに内部温度Tinを用いて温度頻度分布を算出する。
また、本実施の形態においては、温度頻度分布の算出に用いる温度履歴データは、温度頻度分布の算出時に記憶されているすべてのデータを用いたが、用いるデータ数を指定してもよいし、所定の時間間隔内において記憶されたデータを用いてもよい。種々の態様が適用される。
本実施の形態においては、セル110の劣化量の推定に最頻値温度Tfを用いたが、特に限定されるものではなく、温度頻度分布から内部温度Tinの平均値を算出して平均値温度を劣化量の推定に用いてもよいし、温度頻度分布から内部温度Tinの最大値を算出して最大値温度を劣化量の推定に用いてもよい。
今回開示された実施の形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本開示の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 車両、2 電池システム、10 バッテリ、11 ケース底面、20 監視ユニット、22 電流センサ、23 温度センサ、241,242 熱流束センサ、30 冷却装置、31 冷却液通路、40 PCU、50 モータジェネレータ、60 駆動輪、100 ECU、100A CPU、100B メモリ、110 セル、111 筐体、111a 筐体底面、111b 筐体上面、112 蓋体、113 正極端子、114 負極端子、115 電極体、116 正極、117 負極、118 セパレータ。
Claims (1)
- 電極体と前記電極体を収容する筐体とを有するセルと、
前記筐体の特定部分を冷却するための冷却液通路を有する冷却装置と、
前記筐体の前記特定部分に対応する第1部分に設けられ、前記第1部分の温度に関する第1温度情報を検出するための第1センサと、
前記筐体の前記第1部分とは異なる第2部分に設けられ、前記第2部分の温度に関する第2温度情報を検出するための第2センサと、
前記セルの劣化量を推定可能に構成された制御装置とを備え、
前記制御装置は、
前記第1温度情報および前記第2温度情報を用いて前記電極体の内部における温度ばらつきを算出し、
前記温度ばらつきが基準値よりも大きい状態で検出された前記第1温度情報および前記第2温度情報を用いることなく、前記温度ばらつきが前記基準値よりも小さい状態で検出された前記第1温度情報および前記第2温度情報の少なくとも一方を用いて前記電極体の内部温度を推定する推定処理を実行し、
1または2以上の前記推定処理によってそれぞれ推定された1または2以上の前記内部温度を温度履歴データとして記憶し、
前記温度履歴データに含まれる前記内部温度の値とその値の頻度との関係を示す温度頻度分布を算出し、
算出された前記温度頻度分布を用いて前記セルの劣化量を推定する、電池システム。
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