JP6836848B2 - レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置 - Google Patents

レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6836848B2
JP6836848B2 JP2016123688A JP2016123688A JP6836848B2 JP 6836848 B2 JP6836848 B2 JP 6836848B2 JP 2016123688 A JP2016123688 A JP 2016123688A JP 2016123688 A JP2016123688 A JP 2016123688A JP 6836848 B2 JP6836848 B2 JP 6836848B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
light
wavelength
laser
etalon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016123688A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017228646A (ja
Inventor
鳴海 達也
達也 鳴海
洋一 戸井田
洋一 戸井田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP2016123688A priority Critical patent/JP6836848B2/ja
Priority to US15/617,307 priority patent/US10505336B2/en
Priority to CN201710450281.4A priority patent/CN107528210B/zh
Priority to DE102017210544.5A priority patent/DE102017210544A1/de
Publication of JP2017228646A publication Critical patent/JP2017228646A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6836848B2 publication Critical patent/JP6836848B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/106Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity
    • H01S3/108Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using non-linear optical devices, e.g. exhibiting Brillouin or Raman scattering
    • H01S3/109Frequency multiplication, e.g. harmonic generation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/131Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
    • H01S3/1317Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation by controlling the temperature
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/136Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling devices placed within the cavity
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/04Arrangements for thermal management
    • H01S3/0405Conductive cooling, e.g. by heat sinks or thermo-electric elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/106Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity
    • H01S3/1062Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using a controlled passive interferometer, e.g. a Fabry-Perot etalon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/1303Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by using a passive reference, e.g. absorption cell
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/1305Feedback control systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/13Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
    • H01S3/136Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling devices placed within the cavity
    • H01S3/137Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling devices placed within the cavity for stabilising of frequency
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35Non-linear optics
    • G02F1/355Non-linear optics characterised by the materials used
    • G02F1/3551Crystals
    • G02F1/3553Crystals having the formula MTiOYO4, where M=K, Rb, TI, NH4 or Cs and Y=P or As, e.g. KTP
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/025Constructional details of solid state lasers, e.g. housings or mountings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/02Constructional details
    • H01S3/04Arrangements for thermal management
    • H01S3/0402Arrangements for thermal management for liquid lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/1601Solid materials characterised by an active (lasing) ion
    • H01S3/1603Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth
    • H01S3/1611Solid materials characterised by an active (lasing) ion rare earth neodymium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H01S3/163Solid materials characterised by a crystal matrix
    • H01S3/1671Solid materials characterised by a crystal matrix vanadate, niobate, tantalate
    • H01S3/1673YVO4 [YVO]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)

Description

本発明は、レーザ光を出射するレーザ光源装置におけるレーザ光調整方法、及びレーザ光源装置に関する。
従来、励起光を出射する励起用の光源と、励起用の光源からの励起光を受けてレーザ光を生成する共振器とを備えたレーザ光源装置が知られている(例えば、特許文献1、2参照)。
このようなレーザ光源装置は、共振器の筐体内にNd:YVO結晶等の固体レーザ媒体と、非線形光学結晶のSHG(Second Harmonic Generation)素子(例えばKTP結晶等)と、エタロンと、共振器ミラーとを備える。そして、半導体レーザからの励起光を固体レーザ媒体に入射させて基本波光を出射させ、当該基本波光を高調波光に変換し、エタロンを透過した所定周波数の高調波光が共振器から出力させる。
ここで、特許文献1に記載のレーザ光源装置は、共振器の温度調整機構と、エタロンの温度調整機構とを備える。このレーザ光源装置は、共振器の温度制御を行うことで、共振器内のSHG素子にて安定した波長変換動作を行わせ、エタロンの温度制御を行うことで、高調波光の波長と、エタロンのピーク透過波長とを合わせ込む。
また、特許文献2に記載のレーザ光源装置は、SHG素子(非線形光学結晶)の温度調整機構と、共振器の温度調整機構とを備える。このレーザ光源装置は、エタロンを共振器から取り外した状態でSHG素子の温度調整を行った後、エタロンを共振器内に配置し、共振器の温度制御を行うことで、エタロンの温度制御を行う。
特許第3509598号公報 特開2011−249400号公報
ところで、上記特許文献1では、共振器全体の温度制御とエタロンの温度制御とを行っているが、共振器の温度とエタロンの温度とが異なる場合に、互いに影響を及ぼし合うことになる。また、特許文献2では、SHG素子の温度制御を行った後、エタロンを組み入れて共振器全体の温度制御を行っているが、共振器の温度とSHG素子の温度とが異なる温度とする場合に、共振器全体の温度制御を行う際にSHG素子もその影響を受けてしまう。このように、従来の構成では、共振器内の各素子の温度を最適な温度に設定することが困難であり、所望波長のレーザ光を高出力で出力することが困難であるとの課題があった。
本発明は、所望波長のレーザ光を高出力で出力可能なレーザ光調整方法、及びレーザ光源装置を提供することを目的とする。
本発明のレーザ光調整方法は、励起光を出射する励起用光源と、前記励起光を受けて基本波光を生成するレーザ媒体と、前記基本波光を目的波長の高調波光に変換する非線形光学結晶と、所定の波長の光を透過させるエタロンと、前記レーザ媒体、前記非線形光学結晶、及び前記エタロンを内部に収納する共振器筐体と、前記レーザ媒体及び前記非線形光学結晶の温度を制御する第一温度調整機構と、前記エタロンの温度を制御する第二温度調整機構と、を備えたレーザ光源装置におけるレーザ光調整方法であって、前記高調波光を検出する光検出部を用いて、前記高調波光の光強度及び波長を検出し、検出された前記高調波光の波長が目的波長に近づき、かつ前記高調波光の光強度が所定値以上となるように、前記第一温度調整機構を調整して前記レーザ媒体及び前記非線形光学結晶の温度を調整する第一調整ステップと、前記第一調整ステップの後、前記光検出部を用いて前記高調波光の光強度及び波長を検出し、検出された前記高調波光の波長が目的波長に近づき、かつ前記高調波光の光強度が所定値以上となるように、前記第二温度調整機構により前記エタロンの温度を調整する第二調整ステップと、を実施する。
本発明では、レーザ光源装置において、第一温度調整機構によりレーザ媒体及び非線形光学結晶(SHG素子)の温度が制御可能となり、第二温度調整機構によりエタロンの温度が制御可能となっている。そして、本発明では、検出器により検出される高調波光の検出結果(波長や光強度)に基づいて、先ず、第一調整ステップで、第一温度調整機構を制御し、レーザ媒体及び非線形光学結晶の温度を最適化する。つまり、レーザ媒体及び非線形光学結晶を目的波長のレーザ光が高出力で得られる温度に設定し、これを第一温度調整機構によって維持させる。この後、第二調整ステップを実施して、エタロンの温度調整を行って、エタロンを透過するピーク透過波長を目的波長に合わせる。なお、第二調整ステップでは、エタロンの温度のみではなく、共振器筐体の光軸に対するエタロンの角度も適宜調整してもよい。
第二調整ステップでは、第一調整ステップにおいて設定した温度条件が第一温度調整機構により維持されているため、エタロンの温度制御を行った際のレーザ媒体や非線形光学結晶の温度変化を抑制することが可能となる。つまり、レーザ媒体や非線形光学結晶は、第二調整ステップによる温度制御の影響を受けることがなく、最適化されたレーザ光(高調波光)をそのまま出力し続けることが可能となる。したがって、本発明では、レーザ光源装置から所望波長のレーザ光を高出力で出力することができる。
本発明のレーザ光調整方法において、前記レーザ光源装置は、前記共振器筐体の温度を制御する第三温度調整機構を備え、前記第三温度調整機構により前記共振器筐体の温度を予め設定された基準温度に維持する第三調整ステップを実施することが好ましい。
本発明では、第三調整ステップが実施されることで、第三温度調整機構により共振器筐体の温度が基準温度に維持される。これにより、レーザ光の波長安定化を行う際の温度条件が統一された状態で、第一調整ステップ及び第二調整ステップが行われることになる。よって、使用環境等によって、レーザ光源装置の周囲の環境温度が変化する場合でも、当該温度変化の影響を受けずに、レーザ媒体、非線形光学結晶、及びエタロンの温度を最適温度に設定することができる。
本発明のレーザ光調整方法において、前記共振器筐体は、前記レーザ媒体、前記非線形光学結晶、及び前記エタロンのそれぞれを支持する支持部を備え、前記共振器筐体及び前記支持部は、熱伝導率が170(W/mK)以上の素材により構成されていることが好ましい。
従来のレーザ光源装置では、熱伝導率が小さく線膨張係数も小さい低膨張素材により共振器筐体が構成されていた。これは、上述した特許文献1のように、共振器筐体の温度を制御することでレーザ媒体や非線形光学結晶の温度を制御したり、特許文献2のように、共振器筐体の温度を制御することでエタロンの温度を制御したりする場合、共振器筐体の温度を変化させることによる共振器長の変化を抑制するためである。また、上記のような従来のレーザ光源装置では、共振器筐体の温度と、各素子の温度とを、それぞれ異なる温度とする場合に、互いの設定温度が影響を及ぼし合い、温度制御が困難となる。よって、熱伝導率が小さい素材により共振器筐体や支持部を構成して、互いの設定温度が影響を及ぼし合う不都合を抑制していた。しかしながら、このような熱伝導率が低い素材により共振器筐体を構成する場合、共振器筐体の温度を均一化するのに長い時間を要する。特に、環境温度が経時的に変化するような場合では、温度の均一化により一層の時間を要する。
これに対して、本発明では、共振器筐体が、熱伝導率が170(W/mK)以上の素材により構成されている。このため、共振器筐体の温度を迅速に均一化することができ、温度条件を統一した状態で、レーザ光の安定化処理を実施することができる。また、本発明では、上述のように、レーザ媒体及び非線形光学結晶と、エタロンと、共振器筐体と、の間の温度影響を抑制することが可能であるので、熱伝導率が大きい共振器筐体を用いた場合でも、その影響を抑制できる。なお、共振器筐体を基準温度に維持した状態でレーザ光の安定化処理を実施するので、低膨張素材により構成された共振器筐体を用いる必要もない。
本発明のレーザ光調整方法において、前記共振器筐体及び前記支持部は、ベリリウム銅により構成されていることが好ましい。
本発明では、共振器筐体及び支持部がベリリウム銅により構成されている。ベリリウム銅は、熱伝導率が170〜260(W/mK)であり、上述したように、共振器筐体の温度を迅速に均一化することができる。
本発明のレーザ調整方法において、前記光検出部は、前記共振器筐体から出射された前記高調波光が照射され、所定波長の光を吸収する吸収セルと、前記吸収セルを介した前記高調波光を受光して出力信号を出力する検出器と、を含み、前記第一調整ステップ及び前記第二調整ステップは、前記検出器からの前記出力信号に基づく前記吸収セルの飽和吸収線の波長と、前記高調波光の波長とが一致するように、前記第一温度調整機構及び前記第二温度調整機構を制御することが好ましい。
これにより、本発明では、第二出力信号に含まれる飽和吸収線を検出し、高調波光の波長がこの飽和吸収線の波長となるように、第一調整ステップや第二調整ステップを実施することで、高精度に目的波長に設定することができる。
本発明のレーザ光源装置は、励起光を出射する励起用光源と、前記励起光を受けて基本波光を生成するレーザ媒体と、前記基本波光を目的波長の高調波光に変換する非線形光学結晶と、所定の波長の光を透過させるエタロンと、前記レーザ媒体、前記非線形光学結晶、及び前記エタロンを内部に収納する共振器筐体と、前記レーザ媒体及び前記非線形光学結晶の温度を制御する第一温度調整機構と、前記エタロンの温度を制御する第二温度調整機構と、を備えることを特徴とする。
本発明のレーザ光源装置は、レーザ媒体及び非線形光学結晶の温度を制御する第一温度調整機構と、エタロンの温度を制御する第二温度調整機構とがそれぞれ独立して設けられている。このため、上述したようなレーザ光調整方法によるレーザ光の調整が可能となり、目的波長のレーザ光(高調波光)を高出力で出力することができる。
本発明のレーザ光源装置において、前記高調波光の出力を安定化させる制御部を備え、前記制御部は、前記共振器筐体から出射された前記高調波光の波長及び光強度を検出する光検出部からの検出結果に基づき、検出された前記高調波光の波長が目的波長に近づくように、かつ検出された前記高調波光の光強度が所定値以上となるように、前記第一温度調整機構及び前記第二温度調整機構を制御して、前記レーザ媒体及び前記非線形光学結晶の温度、前記エタロンの温度の順で温度調整を実施することが好ましい。
本発明のレーザ光源装置は、制御部が第一温度調整機構および第二温度調整機構を順に制御することで、上述したようなレーザ光調整方法を自動で行うことができ、ユーザの利便性を向上できる。
本発明のレーザ光源装置において、前記共振器筐体の温度を制御する第三温度調整機構をさらに備え、前記制御部は、前記第三温度調整機構を制御して、前記共振器筐体の温度を予め設定された基準温度に維持することが好ましい。
本発明では、共振器筐体の温度を制御する第三温度調整機構が設けられているので、共振器筐体の温度を基準温度に維持することができ、環境温度の変化によらず、安定したレーザ光を出力することができる。
本発明のレーザ光源装置において、前記共振器筐体は、前記レーザ媒体、前記非線形光学結晶、及び前記エタロンのそれぞれを支持する支持部を備え、前記共振器筐体及び各前記支持部は、熱伝導率が170(W/mK)以上の素材により構成されていることが好ましい。
また、前記共振器筐体及び各前記支持部は、ベリリウム銅により構成されていることが好ましい。
本発明では、共振器筐体や支持部は、熱伝導率が170(W/mK)以上となるベリリウム銅により構成されている。このため、共振器筐体における温度を迅速に均一化でき、基準温度に維持することができる。したがって、共振器の温度が統一された温度条件下で迅速なレーザ光の安定化処理を実施することができる。
本発明は、レーザ光源装置から所望波長のレーザ光を高出力で出力することができる。
本発明に係る一実施形態におけるレーザ光源装置1を示すブロック図。 本実施形態における制御ユニットの機能構成を示すブロック図。 本実施形態におけるレーザ光調整処理を示すフローチャート。
以下、本発明に係る一実施形態について説明する。
[レーザ光源装置の構成]
図1は、本実施形態におけるレーザ光源装置1を示すブロック図である。
レーザ光源装置1は、図1に示すように、光を出射する光源2と、共振器3と、共振器3から出射される光をレーザ光源装置1の外部に導光する導光手段4と、共振器3から出射される光を変調することでヨウ素の飽和吸収線を検出するための飽和吸収線検出手段5と、レーザ光源装置1を制御する制御ユニット6とを備える。
光源2は、励起用光源であり、例えば808nm付近の波長の光(励起光)を出射する半導体レーザ21と、半導体レーザ21から出射される励起光を平行化するコリメータレンズ22と、半導体レーザ21の熱を逃がすための放熱板23と、光源2の温度を制御するための光源温度調整機構24とを備える。光源温度調整機構24は、例えばサーミスタ等により構成される温度センサ241と、温度を調整するペルチェ素子等により構成される温度調整器242とを備える。光源温度調整機構24により、半導体レーザ21の温度が調整されることで、基本波光を生成可能な波長の励起光を安定して出力することができる。
[共振器の構成]
共振器3は、筐体31(共振器筐体)を備え、筐体31の内部には、コリメータレンズ22にて平行化された励起光を集光するフォーカスレンズ311と、フォーカスレンズ311にて集光される励起光で励起され、1064nm付近の波長の光(基本波光)を出射するNd:YVO結晶32(レーザ媒体)と、Nd:YVO結晶32から出射される基本波光を532nm付近の波長の光(第2高調波光)に変換するためのKTP結晶33(非線形光学結晶)と、KTP結晶33の光路後段に配設されるエタロン34、及び共振器ミラー35と、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度を制御する第一温度調整機構36と、エタロン34の温度を制御する第二温度調整機構37と、エタロンの角度を調整する角度調整機構38と、を備えている。また、筐体31には、筐体31自体の温度を調整する第三温度調整機構39が設けられている。
より具体的には、筐体31は、その内部に、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33を支持するレーザ素子支持部312と、エタロン34を支持するエタロン支持部313とを備えている。なお、共振器ミラー35は、ピエゾ素子351を介して筐体31に取り付けられている。共振器ミラー35は、ピエゾ素子351への印加電圧を制御することで、共振器3の光軸方向に沿って移動可能となる(共振器長を変更することができる)。
そして、レーザ素子支持部312やエタロン支持部313は、筐体31に一体構成とされていてもよく、筐体31に対して別途取り付けられていてもよい。これらの筐体31、レーザ素子支持部312、及びエタロン支持部313は、少なくとも熱伝導率が170(W/mK)以上の素材により構成されており、本実施形態では、ベリリウム銅(熱伝導率170〜260(W/mK))により構成される。
このようなベリリウム銅は、従来のレーザ光源装置において用いられていたセラミック(熱伝導率10〜15(W/mK))等に比べて、極めて熱伝導率が高い。このような筐体31では、第三温度調整機構39による温度制御が行われた際に、迅速に設定された温度に均一化することができる。
つまり、従来のような熱伝導率が低い素材により構成された筐体では、温度が伝達しにくいので、共振器全体を均一温度にするために長時間を要し、レーザ光の安定化処理を実施するための時間が長くなる。これに対して、熱伝導率が高い本実施形態の筐体31では、第三温度調整機構39により、筐体31の温度制御を行った際に、迅速に設定温度に均一化することができる。また、熱伝導率が小さい場合、周囲環境が変化して、例えば、筐体31の第三温度調整機構39から遠い位置で温度変化が発生した場合でも、当該位置から第三温度調整機構39まで熱が伝達されにくい。したがって、筐体31の温度分布が不均一になりやすい。これに対して、本実施形態では、筐体31の一部に温度変化が発生した場合でも、その温度が迅速に第三温度調整機構39まで伝達されることになり、即座の温度調整が可能となる。
Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33は、上述のように、レーザ素子支持部312に取り付けられている。
ここで、Nd:YVO結晶32の半導体レーザ21側の面には、励起光を透過し、基本波光を反射するためのコーティングが施され、共振器ミラー35におけるNd:YVO結晶32側の面には、基本波光を反射し、第2高調波光を透過するためのコーティングが施されている。したがって、基本波光は、Nd:YVO結晶32、及び共振器ミラー35の間を往復してマルチモードで発振し、第2高調波光は、共振器ミラー35を透過して共振器3から出射される。
なお、本実施形態では、レーザ媒体として、Nd:YVO結晶32を例示するが、これに限定されず、例えばNd:YAG結晶等が用いられてもよい。また、非線形光学結晶として、KTP結晶33を例示するが、これに限定されず、例えばBBO結晶やLBO結晶等が用いられてもよい。
また、レーザ素子支持部312には、図1に示すように、第一温度調整機構36が設けられている。この第一温度調整機構36は、例えば、温度を検出するためのサーミスタ等により構成された温度センサ361や、温度を調整するためのペルチェ素子等で構成される温度調整器362により構成されている。この第一温度調整機構36は、制御ユニット6に接続されており、温度センサ361により検出した温度が制御ユニット6に出力される。また、温度調整器362は、制御ユニット6から入力された制御信号に基づいて、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度を所定値に変更及び維持する。
エタロン34は、上述のように、共振器3の内部の光軸上に配設され、所定の波長の光を透過させるものであり、マルチモードで発振する基本波光をシングルモードにすることができる。なお、基本波光をシングルモードにすることによって、KTP結晶33にて変換された第2高調波光もシングルモードにすることができる。
このエタロン34は、エタロン支持部313に支持され、かつ、角度調整機構38により共振器3の光軸に対する角度を変更可能となる。この角度調整機構38は、例えばアクチュエータ等により構成されており、制御ユニット6の制御により駆動することができる。
また、エタロン支持部313には、第二温度調整機構37が設けられている。この第二温度調整機構37は、第一温度調整機構36と同様の構成を有し、例えば温度センサ371と温度調整器372とにより構成することができ、制御ユニット6によりエタロン34の温度を所定値に設定することができる。
なお、共振器3に、KTP結晶33の、共振器3の光軸に対する角度を変化させるKTP角度調整部等が設けられていてもよい。
[導光手段の構成]
導光手段4は、共振器3の光路後段に配設されるフィルタ41,42と、フィルタ41,42を透過した光の偏光方向を調整する1/2波長板43と、1/2波長板43にて偏光方向が調整された光を分離するための偏光ビームスプリッタ44とを備える。
フィルタ41は、共振器3からの漏れ光である励起光を減衰させる機能を有している。また、フィルタ42は、レーザ光源装置1の光軸に対して傾斜した状態で配設され、共振器3からの漏れ光である基本波光を反射させる機能を有しているので、フィルタ42を反射した光は、レーザ光源装置1の光軸から離間する方向に導かれる。すなわち、1/2波長板43には、フィルタ41,42を透過する第2高調波光が入射する。
偏光ビームスプリッタ44は、偏光分離膜44Aを有している。そして、1/2波長板43から出射され、偏光ビームスプリッタ44に入射した光のうち、偏光分離膜44Aに対してP偏光の光は、偏光分離膜44Aを透過し、S偏光の光は、偏光分離膜44Aを反射する。
また、導光手段4は、偏光ビームスプリッタ44にて反射されたS偏光の光を分離するための2つのビームスプリッタ45,46と、各ビームスプリッタ45,46にて分離された光の光強度を検出するための強度検出部47と、各ビームスプリッタ45,46にて分離された光の波長及びスペクトルを検出するための波長検出部48とを備える。
各ビームスプリッタ45,46は、入射する光の一部を界面45A,46Aにて反射させるとともに、他の一部を透過させるものであり、それぞれ同一の機能を有している。そして、ビームスプリッタ46を透過した光は、レーザ光源装置1の外部に出射され、測長等に使用するレーザ光として用いられる。
次に、導光手段4における光路について説明する。
偏光ビームスプリッタ44にて反射されたS偏光の光は、ビームスプリッタ45に入射する。ビームスプリッタ45に入射した光のうち、ビームスプリッタ45を透過した光は、強度検出部47に入射する。そして、強度検出部47は、入射した光の光強度を検出し、検出した光強度に基づく信号を制御ユニット6に出力する。
また、ビームスプリッタ45にて反射された光は、ビームスプリッタ46に入射する。ビームスプリッタ46に入射した光のうち、ビームスプリッタ46にて反射された光は、波長検出部48に入射する。そして、波長検出部48は、入射した光の波長を検出し、検出した光の波長に基づく信号を制御ユニット6に出力する。また、ビームスプリッタ46を透過した光は、レーザ光源装置1の外部に出射される。
この波長検出部48としては、例えば回析格子を用いた検出部や、マイケルソン干渉計を用いた検出部を例示できる。回析格子を用いた検出部を用いる場合、回析格子は、入射光の波長に応じて反射する方向が異なるため、回析格子により反射された光が検出された位置及び光量を検出することで、波長を計測することができる。また、マイケルソン干渉計では、被測定レーザ光の波長と、基準となるレーザ光の波長とを比較し、被測定レーザ光の波長を計測する。
[飽和吸収線検出手段の構成]
飽和吸収線検出手段5は、本発明の光検出部であり、偏光ビームスプリッタ44を透過したP偏光の光を入射させる偏光ビームスプリッタ51と、偏光ビームスプリッタ51を透過した光が入射される1/4波長板52と、1/4波長板52の光路後段に配設されるヨウ素セル53(吸収セル)と、ヨウ素セル53を透過した光を反射させる反射ミラー54と、偏光ビームスプリッタ51にて反射された光強度を検出するための強度検出部55(光検出器)とを備える。
なお、ヨウ素セル53には、サーミスタや温度調整器により構成されたセル温度調整機構531が取り付けられている。ヨウ素セル53の温度が所定の基準値に調整されることで、ヨウ素の吸収線(波長)を所望の値に設定する。
偏光ビームスプリッタ51は、偏光分離膜51Aを有し、偏光ビームスプリッタ44と同様の機能を有している。また、1/4波長板52は、入射する光の位相を90°遅らせる機能を有している。
次に、飽和吸収線検出手段5における光路について説明する。
偏光ビームスプリッタ44を透過したP偏光の光は、偏光ビームスプリッタ51を透過し、1/4波長板52を介してヨウ素セル53に入射する。ヨウ素セル53を透過した光は、反射ミラー54にて反射され、ヨウ素セル53、及び1/4波長板52を透過して偏光ビームスプリッタ51に再び入射する。このとき、偏光ビームスプリッタ51に再び入射した光は、1/4波長板52を2度通過しているので、偏光方向が90度回転し、偏光分離膜51Aに対してS偏光の光となる。したがって、偏光ビームスプリッタ51に再び入射した光は、偏光分離膜51Aにて反射される。偏光ビームスプリッタ51にて反射された光は、強度検出部55に入射する。そして、強度検出部55は、入射した光の光強度を検出し、検出した光強度に基づく光出力信号を制御ユニット6に出力する。
[制御ユニットの構成]
図2は、本実施形態における制御ユニット6を示すブロック図である。
制御ユニット6は、メモリ等により構成される記憶部61や、CPU(Central Processing Unit)等により構成される制御部62を備える。そして、制御部62は、記憶部61に記憶されたプログラムを読み込み実行することで、図2に示すように、半導体レーザ制御手段621、第一温度制御手段622、第二温度制御手段623、第三温度制御手段624、エタロン角度制御手段625、及びピエゾ素子制御手段626等として機能する。
半導体レーザ制御手段621は、強度検出部47や強度検出部55から出力される信号に基づいて、共振器3から出射された第2高調波光の光強度が一定となるように、半導体レーザ21を駆動する電流の制御、及び、光源温度調整機構24の制御を行う。
第一温度制御手段622は、第一温度調整機構36の温度センサ361から出力された出力信号に基づいてNd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度を検出する。また、第一温度制御手段622は、強度検出部47、波長検出部48、及び強度検出部55からの出力信号に基づいて、第一温度調整機構36の温度調整器362に対して制御信号を出力し、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度を変更したり、維持したりする。
第二温度制御手段623は、第二温度調整機構37の温度センサ371から出力された出力信号に基づいて、エタロン34の温度を検出する。また、第二温度制御手段623は、強度検出部47、波長検出部48、及び強度検出部55からの出力信号に基づいて、第二温度調整機構37の温度調整器372に対して制御信号を出力し、エタロン34の温度を変更したり、維持したりする。
第三温度制御手段624は、第三温度調整機構39の温度センサ391から出力された出力信号に基づいて、共振器3の筐体31の温度を検出する。また、第三温度調整機構39の温度調整器392に対して制御信号を出力し、筐体31の温度を基準温度に維持する。
エタロン角度制御手段625は、強度検出部47、波長検出部48、及び強度検出部55からの出力信号に基づいて、角度調整機構38を制御し、エタロン34の共振器3の光軸に対する角度を変更する。
ピエゾ素子制御手段626は、強度検出部47、波長検出部48、及び強度検出部55からの出力信号に基づいて、ピエゾ素子351に対する電圧を制御し、共振器ミラー35の位置を変更する。
[レーザ光源装置のレーザ光調整方法]
次に、レーザ光源装置1のレーザ光調整処理について説明する。図3は、レーザ光調整処理を示すフローチャートである。
レーザ光源装置1を用いる場合、目的波長のレーザ光を高い光強度で出力するために、レーザ光調整処理を実施する。なお、目的波長としては、ヨウ素の飽和吸収線が安定して検出可能な波長が設定される。
具体的には、制御ユニット6は、まず、第三温度調整機構39を制御して、共振器3の筐体31の温度を所定の基準温度(例えば20℃等)に設定し、当該温度を維持する(ステップS1)。ステップS1により、筐体31の温度条件が統一されることになる。
次に、制御ユニット6の半導体レーザ制御手段621は、半導体レーザ21に流す電流や温度を制御して、励起光を出射させる(ステップS2)。
半導体レーザ21から励起光がNd:YVO結晶32に入射されると、基本波光が励起されて出射され、当該基本波光がKTP結晶33により波長変換されて第2高調波光となる。ステップS1では、強度検出部47から出力される出力信号が最大となるように、つまり、第2高調波光の光強度が最大となるように、半導体レーザ21に流す電流や温度を制御する。これにより、半導体レーザ21から最適な波長の励起光が出射される。
次に、第一温度制御手段622は、第一温度調整機構36を制御して、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度を調整する(ステップS3;第一調整ステップ)。具体的には、第一温度制御手段622は、強度検出部55からの出力信号に基づくヨウ素の飽和吸収線と、波長検出部48により検出される波長(スペクトルにおけるピーク波長)とを一致させるように、かつ、強度検出部47により検出される光強度が最大となるように、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度を調整する。このステップS3では、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33から出射されるレーザ光(第2高調波光)の波長を安定化させる。
また、ステップS1により、共振器3の筐体31の温度が基準温度に設定され、その温度がステップS3においても維持される。したがって、ステップS3によりNd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度が変更されても、筐体31の温度が変更されることがない。
次に、エタロン34の角度及び温度を調整する(ステップS4;第二調整ステップ)。このステップS4では、エタロン角度制御手段625により、角度調整機構38を制御して、エタロン34の角度を調整し、第二温度制御手段623により、第二温度調整機構37を制御して、エタロン34の温度を調整する。
具体的には、エタロン角度制御手段625及び第二温度制御手段623は、強度検出部55からの出力信号に基づくヨウ素の飽和吸収線の波長と、波長検出部48により検出される波長(エタロン34のピーク透過波長)との差分値が、所定の誤差範囲内となるように、かつ、強度検出部47により検出される光強度が、強度検出部55により検出されるヨウ素の飽和吸収線の波長における光強度以上となるように、エタロン34の角度及び温度を制御する。この際、ピエゾ素子制御手段626によりピエゾ素子351に印加する電圧を制御して共振器長を走査(波長走査)し、目的波長が波長走査範囲の中央となるように、エタロン34の角度を設定する。
このステップS4において、エタロン34の角度が変更されることで、エタロン内を通過する光の光路長が変更され、エタロン34の温度が変更されることで、エタロンの熱膨張(ミラー間の距離が変動)により光路長が変更される。これにより、エタロン34を透過する光のピーク透過波長が変更されることになる。
なお、上述したように、ステップS1により、筐体31の温度が基準温度で維持されるので、ステップS4によりエタロン34の温度を変更しても、筐体31の温度は、基準温度に維持されたままとなる。また、ステップS3により、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33が設定されると、第一温度制御手段622は、温度センサ361によりその温度を検出して記憶部61に記憶し、当該温度を維持するように第一温度調整機構36を制御する。したがって、ステップS4において、エタロン34の温度が変更されても、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度変化は発生しない。
以上の後、レーザ光調整処理を終了させる。
[本実施形態の作用効果]
本実施形態のレーザ光源装置1は、励起光を出射する半導体レーザ21を有する光源2と、共振器3とを備える。共振器3には、励起光を受けて基本波光を生成するNd:YVO結晶32と、基本波光を目的波長の第2高調波光に変換するKTP結晶33と、所定波長の光を透過させるエタロン34と、これらのNd:YVO結晶32、KTP結晶33、及び前記エタロン34を内部に収納する筐体31と、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度を制御する第一温度調整機構36と、エタロン34の温度を制御する第二温度調整機構37と、が収納されている。
そして、このようなレーザ光源装置1におけるレーザ調整方法として、第一調整ステップを実施して、強度検出部47,55及び波長検出部48により検出された検出結果に基づいて、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度を最適化した後、第二調整ステップを実施してエタロン34の温度を最適化する。
つまり、先ず、制御ユニット6の第一温度制御手段622は、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33を、目的波長のレーザ光を好適に出力される状態にして、この状態を維持する。その後、第二温度制御手段623は、エタロン34を目的波長の光がピーク透過波長として透過するように調整する。このようなレーザ光調整方法により、エタロン34の温度を調整する際に、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33の温度が影響を受けることがなく、これによるレーザ光の波長や強度が不安定になる不都合も抑制でき、所望波長のレーザ光を高出力で出力することができる。
本実施形態では、上述したような第一調整ステップや第二調整ステップの前に、ステップS1を実施して、第三温度制御手段624は、第三温度調整機構39を制御して、共振器3の筐体31の温度を予め設定された基準温度に設定し、当該温度を維持する。
このため、レーザ光の波長安定化処理を行う際の温度条件が統一された状態で、第一調整ステップ及び第二調整ステップが行われることになる。よって、使用環境等によって、レーザ光源装置1の周囲の環境温度が変化する場合でも、当該温度変化の影響を低減でき、波長や強度が安定したレーザ光を出力することができる。
本実施形態では、筐体31、レーザ素子支持部312、及びエタロン支持部313は、熱伝導率が170(W/mK)以上の素材、より具体的にはベリリウム銅により構成されている。
このような筐体31を用いることで、共振器3の温度を迅速に均一化することができ、所望の目的波長で安定化されたレーザ光を迅速に出力することができる。また、第三温度調整機構39による温度制御が迅速に筐体31や支持部(レーザ素子支持部312及びエタロン支持部313)の全体に行き渡るため、周囲の環境温度が変化する場合でも、迅速に対応することができ、精度よく共振器3の温度を均一にできる。
ここで、本実施形態のベリリウム銅により構成された筐体31を含む共振器3と、低膨張材料により構成された筐体を有する従来の共振器とにおいて、線膨張係数、共振器の許容温度、共振器長の許容寸法誤差を比較する表を下記表1に示す。
Figure 0006836848
本実施形態では、従来用いられていた低膨張材料により構成される筐体に替えて、ベリリウム銅により構成された筐体31を用いる。ベリリウム銅は、表1に示すように、従来の低膨張材料に比べて線膨張係数が大きく、温度変化による共振器長の変化が大きくなる。このため、従来では、共振器長を許容寸法誤差内とするために、共振器の許容温度差を表1に示すように、1.48℃としていたものに対し、本実施形態では、許容温度差を0.26℃としている。共振器3の温度を基準温度から許容温度差内の範囲内であれば、共振器長が許容寸法誤差内となり、レーザ光の波長や出力に対する影響は許容できる範囲となる。
本実施形態では、許容温度差を従来よりも抑えているが、ベリリウム銅の熱伝導率が高い(従来の低膨張材料では、10〜15(W/mK)ため、上述したように、第三温度調整機構39による温度制御を迅速かつ高精度に行うことができる。
本実施形態では、ヨウ素セル53を利用して、ヨウ素の飽和吸収線への波長安定化を行うことで、レーザ光の波長を高度に安定化させる。このようなヨウ素セル53を用いた波長安定化法では、飽和吸収線は特定の波長域で得られる。したがって、目的の飽和吸収線が得られる波長域で、シングルモード化されたレーザ光を十分に高い光強度で発振させる必要がある。これに対して、本実施形態では、上記のようなレーザ光調整処理において、目的波長として、ヨウ素の飽和吸収線が安定して検出可能な波長が設定されている。これにより、強度検出部55により検出される光出力信号から目標とする飽和吸収線を安定して検出することができるようになり、このような飽和吸収線に基づいて、レーザ光の波長を高度に安定化させることができる。
[変形例]
なお、本発明は、前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、上記実施形態では、第二調整ステップにおいて、エタロン34の温度及び角度を調整するが、先ず、エタロン34の角度を調整した後に、エタロン34の温度調整を行ってもよい。エタロン34の角度変化による波長シフト量がエタロン34の温度変化による波長シフト量よりも多いため、上記調整方法では、粗調整の後に微調整を行うことになり、迅速に、かつ精度よくエタロン34の角度及び温度の調整を行うことができる。
上記実施形態では、第三温度調整機構39により、共振器3の全体の温度を維持する構成を例示したが、これに限定さない。
例えば、環境温度が一定に保たれた使用環境等においてレーザ光源装置1を用いる場合では、第三温度調整機構39が設けられていなくてもよい。また、このような場合では、筐体31として、熱伝導率が低い素材により構成されていてもよく、エタロン34の温度調整時の、Nd:YVO結晶32及びKTP結晶33への温度影響を低減できる。
上記実施形態では、ヨウ素セル53(吸収セル)を用いて飽和吸収線を検出し、第2高調波光の波長を飽和吸収線の波長に合わせ込むことでレーザ光の安定化処理を行う例を示したが、これに限定されない。例えば、吸収セルが設けられず、波長検出部48により検出される波長のみに基づいてレーザ光の波長を目的波長に調整する構成などとしてもよい。
上記実施形態では、筐体31、レーザ素子支持部312、及びエタロン支持部313の各々がベリリウム銅により構成される例を示すが、筐体31の外装部のみがベリリウム銅により構成され、レーザ素子支持部312、及びエタロン支持部313がその他の素材(例えばセラミック等の熱導電率が小さい素材)により構成されていてもよい。
また、上記実施形態では、波長検出部48により出射されたレーザ光の波長を検出する構成例を示したが、これに限定されず、例えば飽和吸収線検出手段5により検出されるヨウ素の飽和吸収線の検波のみでレーザ光の波長を検出してもよい。
その他、本発明の実施の際の具体的な構造は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造等に適宜変更できる。
本発明は、励起光を出射する励起用の光源と、励起光により生成されたレーザ光を生成する共振器とを備えたレーザ光源装置に利用できる。
1…レーザ光源装置、2…光源、3…共振器、4…導光手段、5…飽和吸収線検出手段、6…制御ユニット、21…半導体レーザ、31…筐体、32…Nd:YVO結晶(レーザ結晶)、33…KTP結晶(非線形光学結晶)、34…エタロン、35…共振器ミラー、36…第一温度調整機構、37…第二温度調整機構、38…角度調整機構、39…第三温度調整機構、47…強度検出部、48…波長検出部、53…ヨウ素セル、55…強度検出部、61…記憶部、62…制御部、312…レーザ素子支持部、313…エタロン支持部、622…第一温度制御手段、623…第二温度制御手段、624…第三温度制御手段、625…エタロン角度制御手段。

Claims (7)

  1. 励起光を出射する励起用光源と、前記励起光を受けて基本波光を生成するレーザ媒体と、前記基本波光を目的波長の高調波光に変換する非線形光学結晶と、所定の波長の光を透過させるエタロンと、前記レーザ媒体、前記非線形光学結晶、及び前記エタロンを内部に収納する共振器筐体と、前記レーザ媒体及び前記非線形光学結晶の温度を制御する第一温度調整機構と、前記エタロンの温度を制御する第二温度調整機構と、を備えたレーザ光源装置におけるレーザ光調整方法であって、
    前記レーザ光源装置は、前記共振器筐体の温度を制御する第三温度調整機構を備え、
    前記第三温度調整機構により前記共振器筐体の温度が予め設定された基準温度に維持するステップと、
    前記高調波光を検出する光検出部を用いて、前記高調波光の光強度及び波長を検出し、検出された前記高調波光の波長が目的波長に近づき、かつ前記高調波光の光強度が所定値以上となるように、前記第一温度調整機構を調整して前記レーザ媒体及び前記非線形光学結晶の温度を調整する第一調整ステップと、
    前記第一調整ステップの後、前記光検出部を用いて前記高調波光の光強度及び波長を検出し、検出された前記高調波光の波長が目的波長に近づき、かつ前記高調波光の光強度が所定値以上となるように、前記第二温度調整機構により前記エタロンの温度を調整する第二調整ステップと、
    を実施することを特徴とするレーザ光調整方法。
  2. 請求項1に記載のレーザ光調整方法において、
    前記共振器筐体は、前記レーザ媒体、前記非線形光学結晶、及び前記エタロンのそれぞれを支持する支持部を備え、
    前記共振器筐体及び前記支持部は、熱伝導率が170(W/mK)以上の素材により構成されている
    ことを特徴とするレーザ光調整方法。
  3. 請求項に記載のレーザ光調整方法において、
    前記共振器筐体及び前記支持部は、ベリリウム銅により構成されている
    ことを特徴とするレーザ光調整方法。
  4. 請求項1から請求項のいずれか1項に記載のレーザ調整方法において、
    前記光検出部は、
    前記共振器筐体から出射された前記高調波光が照射され、所定波長の光を吸収する吸収セルと、
    前記吸収セルを介した前記高調波光を受光して出力信号を出力する検出器と、を含み、
    前記第一調整ステップ及び前記第二調整ステップは、前記検出器からの前記出力信号に基づく前記吸収セルの飽和吸収線の波長と、前記高調波光の波長とが一致するように、前記第一温度調整機構及び前記第二温度調整機構を制御する
    ことを特徴とするレーザ光調整方法。
  5. 励起光を出射する励起用光源と、
    前記励起光を受けて基本波光を生成するレーザ媒体と、
    前記基本波光を目的波長の高調波光に変換する非線形光学結晶と、
    所定の波長の光を透過させるエタロンと、
    前記レーザ媒体、前記非線形光学結晶、及び前記エタロンを内部に収納する共振器筐体
    と、
    前記レーザ媒体及び前記非線形光学結晶の温度を制御する第一温度調整機構と、
    前記エタロンの温度を制御する第二温度調整機構と、
    前記共振器筐体の温度を制御する第三温度調整機構と、
    前記高調波光の出力を安定化させる制御部と、を備え
    前記制御部は、前記第三温度調整機構を制御して、前記共振器筐体の温度を予め設定された基準温度に維持した状態で、前記共振器筐体から出射された前記高調波光の波長及び光強度を検出する光検出部からの検出結果に基づき、検出された前記高調波光の波長が目的波長に近づくように、かつ検出された前記高調波光の光強度が所定値以上となるように、前記第一温度調整機構及び前記第二温度調整機構を制御して、前記レーザ媒体及び前記非線形光学結晶の温度、前記エタロンの温度の順で温度調整を実施する
    ことを特徴とするレーザ光源装置。
  6. 請求項に記載のレーザ光源装置において、
    前記共振器筐体は、前記レーザ媒体、前記非線形光学結晶、及び前記エタロンのそれぞれを支持する支持部を備え、
    前記共振器筐体及び各前記支持部は、熱伝導率が170(W/mK)以上の素材により構成されている
    ことを特徴とするレーザ光源装置。
  7. 請求項に記載のレーザ光源装置において、
    前記共振器筐体及び各前記支持部は、ベリリウム銅により構成されている
    ことを特徴とするレーザ光源装置。
JP2016123688A 2016-06-22 2016-06-22 レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置 Active JP6836848B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016123688A JP6836848B2 (ja) 2016-06-22 2016-06-22 レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置
US15/617,307 US10505336B2 (en) 2016-06-22 2017-06-08 Laser adjustment method and laser source device
CN201710450281.4A CN107528210B (zh) 2016-06-22 2017-06-15 激光调节方法和激光源装置
DE102017210544.5A DE102017210544A1 (de) 2016-06-22 2017-06-22 Laserjustierverfahren und laserquellenvorrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016123688A JP6836848B2 (ja) 2016-06-22 2016-06-22 レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017228646A JP2017228646A (ja) 2017-12-28
JP6836848B2 true JP6836848B2 (ja) 2021-03-03

Family

ID=60676743

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016123688A Active JP6836848B2 (ja) 2016-06-22 2016-06-22 レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10505336B2 (ja)
JP (1) JP6836848B2 (ja)
CN (1) CN107528210B (ja)
DE (1) DE102017210544A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10371626B2 (en) * 2016-08-17 2019-08-06 Kla-Tencor Corporation System and method for generating multi-channel tunable illumination from a broadband source
JP2019149400A (ja) 2018-02-26 2019-09-05 株式会社ミツトヨ レーザ光源装置及びレーザ光調整方法
WO2019224601A2 (en) * 2018-05-24 2019-11-28 Panasonic intellectual property Management co., Ltd Exchangeable laser resonator modules with angular adjustment
CN114485962A (zh) 2020-10-23 2022-05-13 Ii-Iv特拉华股份有限公司 波长参考装置
US11048047B1 (en) 2021-02-03 2021-06-29 Quantum Valley Ideas Laboratories Housing an etalon in a frequency reference system
JP2023106919A (ja) * 2022-01-21 2023-08-02 キオクシア株式会社 試料、試料の製造方法、及び赤外吸収スペクトルの測定方法
US20230344190A1 (en) * 2022-04-20 2023-10-26 Coherent Lasersystems Gmbh & Co. Kg Intracavity frequency conversion in solid-state laser resonator with end-pumping

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS509598A (ja) 1973-05-30 1975-01-31
US5854802A (en) * 1996-06-05 1998-12-29 Jin; Tianfeng Single longitudinal mode frequency converted laser
US5949805A (en) * 1997-09-22 1999-09-07 Trw Inc. Passive conductively cooled laser crystal medium
JP3509598B2 (ja) * 1999-01-12 2004-03-22 株式会社島津製作所 半導体レーザ励起固体レーザ装置
US6671296B2 (en) * 2000-10-10 2003-12-30 Spectrasensors, Inc. Wavelength locker on optical bench and method of manufacture
US7606274B2 (en) * 2001-09-20 2009-10-20 The Uab Research Foundation Mid-IR instrument for analyzing a gaseous sample and method for using the same
US20090014174A1 (en) * 2006-12-29 2009-01-15 Encana Corporation Use of coated slots for control of sand or other solids in wells completed for production of fluids
CN100479274C (zh) * 2007-08-07 2009-04-15 山西大学 一种标准具控温装置
US20090141749A1 (en) * 2007-12-03 2009-06-04 Young Optics Inc. Laser module
JP2011100812A (ja) * 2009-11-05 2011-05-19 Mitsutoyo Corp レーザ光源装置、及びレーザ光源の調整システム
JP2011249400A (ja) * 2010-05-24 2011-12-08 Mitsutoyo Corp レーザ光源の調整システム、及びレーザ光源の調整方法
JP5859793B2 (ja) 2011-09-28 2016-02-16 株式会社ミツトヨ 光出力信号の安定化判定方法、及びレーザ周波数安定化装置
JP6609097B2 (ja) 2014-10-24 2019-11-20 株式会社ミツトヨ 光共振器
JP5897103B1 (ja) 2014-12-29 2016-03-30 季子 幸野 携帯型マスクポーチ
JP6469472B2 (ja) 2015-02-17 2019-02-13 株式会社ミツトヨ レーザ周波数安定化装置、及びレーザ周波数安定化方法
JP2016157863A (ja) 2015-02-25 2016-09-01 株式会社ミツトヨ レーザ光源装置およびその調整方法
CN105356215A (zh) * 2015-10-30 2016-02-24 中国工程物理研究院应用电子学研究所 一种半导体激光器直接倍频装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN107528210B (zh) 2021-01-26
US10505336B2 (en) 2019-12-10
CN107528210A (zh) 2017-12-29
US20170373463A1 (en) 2017-12-28
DE102017210544A1 (de) 2018-01-11
JP2017228646A (ja) 2017-12-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6836848B2 (ja) レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置
JP5042781B2 (ja) 周波数安定化レーザ装置及びレーザ周波数安定化方法
US20090232172A1 (en) Laser frequency stabilizing device, method and program
US7242700B2 (en) Stabilized frequency-converted laser system
US7978737B2 (en) Laser device, control device of laser device, method of controlling laser device, method of tuning wavelength of laser device and control data of laser device
JP2007019361A (ja) 周波数安定化レーザ
KR100363237B1 (ko) 제2고조파 발생 방법 및 장치
JP2016086045A (ja) 光共振器
JP2013524266A (ja) レーザービームの周波数変換のための装置及び方法
JP5557601B2 (ja) レーザ光源の調整システム
US20230178957A1 (en) Solid-state laser system, phase matching method, and electronic device manufacturing method
JP2011249400A (ja) レーザ光源の調整システム、及びレーザ光源の調整方法
JP2008130848A (ja) レーザ周波数安定化装置、及びレーザ周波数安定化方法
TWI675247B (zh) 波長轉換裝置
US10630046B2 (en) Laser light source device and laser light adjusting method
JP2007515765A (ja) レーザ共振器および周波数変換型のレーザ
JP2000208849A (ja) 半導体レ―ザ励起固体レ―ザ装置
JP2017528911A (ja) モード追跡を伴う光励起半導体レーザ
JP4470480B2 (ja) 波長変換レーザ装置
JP2013258248A (ja) レーザ光調整方法、及びレーザ光源装置
JP5231554B2 (ja) 周波数安定化レーザー装置及びレーザー周波数安定化方法
JP2001272705A (ja) 波長変換装置およびその波長変換装置を備えたレーザ装置
JP2011100812A (ja) レーザ光源装置、及びレーザ光源の調整システム
JP2018006365A (ja) 電流制御装置及びレーザ装置
JPH0694411A (ja) 2波長変位干渉計

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190513

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200626

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200707

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200904

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210126

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210208

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6836848

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250