JP6823933B2 - レーザ表面加工装置 - Google Patents

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Description

本発明は、レーザを照射して加工対象物の表面を加工するレーザ表面加工装置に関するものである。
加工対象物の表面の除去を行う装置として、表面にレーザを照射する装置がある。例えば、特許文献1には、有害物質により汚染された無機物質表層の汚染にレーザ照射ヘッドよりレーザを照射して当該汚染部分を溶融するレーザ照射装置と、レーザの照射により溶融した汚染部分である溶融層に高圧ガス噴射ノズルより高圧ガスを噴射して、当該溶融層を汚染物質粉とする高圧ガス噴射装置と、溶融層より生じた汚染物質粉を回収フードにより回収する汚染物質粉回収装置と、少なくともレーザ照射装置のレーザ照射ヘッド、高圧ガス噴射装置の高圧ガス噴射ノズル、汚染物質粉回収装置の回収フードを連動して移動させて順次汚染部分を除染する走査装置と、を有する除染装置(レーザ表面加工装置)が記載されている。
特開2001−116892号公報
ここで、特許文献1に記載されているように、レーザで溶解した溶解物に高圧ガス(アシストガス)を吹き付けることで、溶解させた物質を加工対象物から除去することができる。しかしながら、特許文献1に記載の方法では、レーザが照射された領域に溶融物が残留する場合がある。残存する溶融物が多いとレーザを照射して除去する表面の材料の量が多くなり、必要以上に加工対象物を加工してしまう場合がある。加工量が多くなると作業効率が低下する。
そこで、本発明は、溶融物を効率よく加工位置から除去することができるレーザ表面加工装置を提供することを課題とする。
上記課題を解決するために、本発明のレーザ表面加工装置は、加工対象物にレーザを照射するレーザ照射装置と、前記加工対象物の前記レーザが照射されている領域にアシストガスを供給するアシストガス供給装置と、前記レーザ照射装置と前記加工対象物とを相対移動させる移動機構と、前記レーザが照射され溶融した前記加工対象物を回収する回収機構と、を有し、前記アシストガス供給装置は、前記加工対象物の溶融物の表面張力の2倍以上の衝突力で前記加工対象物にアシストガスを噴射することを特徴とする。
また、前記アシストガス供給装置は、前記アシストガスの供給方向と前記加工対象物の表面に対して垂直な線とのなす角が、45度以下であることが好ましい。
また、前記アシストガス供給装置は、前記レーザ照射装置よりも前記加工対象物に対して前記レーザ照射位置が移動する移動方向の下流側に配置され、前記アシストガスの供給方向と前記加工対象物の表面に対して垂直な線とのなす角が、前記加工対象物と前記加工対象物の表面に対して垂直な線と前記レーザとのなす角よりも小さいことが好ましい。
また、前記アシストガス供給装置は、前記加工対象物の溶融物の表面張力の2倍以上の衝突力で前記加工対象物にアシストガスを噴射する第1アシストガス供給ノズルと、前記加工対象物に対して前記レーザ照射位置が移動する移動方向において前記レーザ照射装置よりも上流側に配置され、前記加工対象物のレーザが照射されている領域にアシストガスを供給する第2アシストガス供給ノズルと、を有することが好ましい。
また、前記アシストガス供給装置は、前記加工対象物に対して前記レーザ照射位置が移動する移動方向において、前記レーザの焦点位置よりも上流側の位置にアシストガスを供給することが好ましい。
また、前記アシストガス供給装置は、前記アシストガスの供給中心線の前記加工対象物までの線分が、前記レーザ照射装置と前記レーザの焦点とを結んだ線分と重なることが好ましい。
上記課題を解決するために、本発明のレーザ表面加工装置は、加工対象物に前記レーザを照射するレーザ照射装置と、前記加工対象物の前記レーザが照射されている領域にアシストガスを供給するアシストガス供給装置と、前記レーザ照射装置と前記加工対象物とを相対移動させる移動機構と、レーザが照射され溶融した前記加工対象物を回収する回収機構と、を有し、前記アシストガス供給装置は、アシストガスの供給中心線が、前記レーザ照射装置と前記レーザの焦点との間を通ることを特徴とする。
また、前記アシストガス供給装置は、アシストガスの供給中心線が、前記レーザ照射装置と前記レーザの焦点との間を通ることが好ましい。
また、前記アシストガス供給装置は、前記アシストガスの供給中心線が前記レーザの中心線と重なることが好ましい。
また、前記レーザ照射装置は、リングにレーザを照射し、前記移動機構は、前記レーザ照射装置をリング状のレーザの中心を通り、前記レーザの進行方向と平行な方向に移動させ、前記アシストガス供給装置は、前記レーザ照射装置に対面する位置に配置されていることが好ましい。
また、前記移動機構は、前記レーザ照射装置を回転させることが好ましい。
本発明によれば、溶融物を効率よく加工位置から除去することができる。
図1は、本実施形態に係るレーザ表面加工装置を模式的に示す概略構成図である。 図2は、本実施形態に係るノズル周辺を示す斜視図である。 図3は、加工状態を模式的に示す断面図である。 図4は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。 図5は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。 図6は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。 図7は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。 図8は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。 図9は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。 図10は、図9に示すレーザ表面加工装置の斜視図である。
以下に、本発明に係る実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態によりこの発明が限定されるものではない。また、下記実施形態における構成要素には、当業者が置換可能かつ容易なもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能であり、また、実施形態が複数ある場合には、各実施形態を組み合わせることも可能である。
図1から図3を用いて、レーザ表面加工装置10について説明する。図1は、本実施形態に係るレーザ表面加工装置を模式的に示す概略構成図である。図2は、本実施形態に係るノズル周辺を示す斜視図である。図3は、加工状態を模式的に示す断面図である。
レーザ表面加工装置10は、加工対象物60の表面にレーザを照射して、溶融し除去する。レーザ表面加工装置10は、移動機構となるマニピュレータ11と、レーザ照射装置12と、アシストガス供給装置13と、回収機構14と、制御装置16と、を備える。
マニピュレータ11は、例えば、6軸マニピュレータであり、その先端部には、支持フレーム18が取り付けられている。支持フレーム18には、レーザ照射装置12の一部である後述するレーザ照射ヘッド23が保持されている。このマニピュレータ11は、制御装置16に接続され、制御装置16によって動作が制御されることで、レーザ照射装置12から照射されるレーザ光の照射方向及び照射位置を変化させることができる。本実施形態のマニピュレータ11は、加工対象物60に対してレーザ照射装置12のレーザ照射ヘッド23を移動方向70に移動させる。つまり、移動方向70は、加工対象物60に対してレーザ照射位置が移動する方向となる。
レーザ照射装置12は、加工対象物60にレーザLを照射する。レーザ照射装置12は、レーザ発振器21と、伝送ケーブル22によってレーザ発振器21に接続されるレーザ照射ヘッド23とを有する。レーザ発振器21は、レーザ光を照射し、制御装置16に接続されている。レーザ発振器21は、制御装置16によってレーザ光の照射が制御されることで、所定の出力となるレーザ光を照射する。伝送ケーブル22は、レーザ発振器21から照射されたレーザ光を、レーザ照射ヘッド23へ向けて導光する。レーザ照射ヘッド23は、伝送ケーブル22により導光されたレーザ光を、加工対象物60へ向けて照射している。このレーザ照射ヘッド23は、支持フレーム18によって保持されている。
ここで、レーザ照射装置12から照射されたレーザ光Lは、加工対象物60に照射される。具体的には、レーザ照射装置12は、レーザ中心線Lcが加工対象物60の表面に垂直な線に対して移動方向70上流側に傾斜した向きとなる状態で、レーザ光Lを照射する。
アシストガス供給装置13は、加工対象物60にアシストガスGを噴射する。アシストガス供給装置13は、アシストガス供給部31と、アシストガス供給ライン32によってアシストガス供給部31に接続されるアシストガス噴射ノズル33とを有する。アシストガス供給部31は、例えば、不活性ガス(N、Ar、He、CO)や、支燃性ガス(O)を供給し、制御装置16に接続されている。アシストガスの種類は、加工対象や加工雰囲気応じて設定すればよい。アシストガス供給部31は、制御装置16によって不活性ガスの供給が制御されることで、所定の供給量で不活性ガスを供給する。アシストガス供給ライン32は、アシストガス供給部31から供給された不活性ガスを、アシストガス噴射ノズル33へ向けて流通させる。アシストガス噴射ノズル33は、支持部材48を介して、支持フレーム18によって保持されている。このアシストガス噴射ノズル33は、レーザ光が照射される加工位置へ向けてアシストガスGを噴射する。
ここで、アシストガス供給装置13は、アシストガス噴射ノズル33が、レーザ照射ヘッド23よりも移動方向70下流側に配置されている。また、本実施形態のアシストガス供給装置13は、アシストガス中心線Gcが加工対象物60の表面に垂直となる状態で、アシストガスGを噴射する。
回収機構14は、加工対象物60から溶融された溶融物を回収する。回収機構14は、受け部51と、吸引ライン52と、吸引ポンプ53と、を有する。受け部51は、レーザ照射ヘッド23の移動方向70の下流側に配置されている。受け部51は、加工時に加工対象物60の近傍に配置されている。受け部51は、支持フレーム18と一体で移動する。吸引ライン52は、受け部51と吸引ポンプ53に接続されている。吸引ポンプ53は、吸引ライン52を介して受け部51の空気を吸引する。回収機構14は、受け部51の空気を吸引ポンプ53で吸引することで、受け部51内の物質を吸引し、回収する。
制御装置16は、マニピュレータ11、レーザ照射装置12、アシストガス供給装置13及び回収機構14の動作を制御する。
ここで、レーザ照射ヘッド23、アシストガス噴射ノズル33、受け部51は、支持フレーム18及び支持部材48によって一体に支持されることから、相対的な位置関係が固定される。このため、マニピュレータ11は、支持部材48を移動させることで、レーザ照射装置12によるレーザ光の照射方向及び照射位置、アシストガス噴射ノズル33によるアシストガスの供給方向及び供給位置、受け部51の位置を、一体に移動させることができる。
レーザ表面加工装置10は、アシストガス噴射ノズル33からアシストガス中心線GcのアシストガスGを加工対象物60に噴射しつつ、レーザ照射ヘッド23からレーザ中心線LcのレーザLを加工対象物60に照射する。加工対象物60は、レーザLが照射される位置が加熱され、溶融し、一部が溶融物62となる。溶融物62は、アシストガスGにより吹き飛ばされる。アシストガスGで吹き飛ばされた溶融物62のうち、移動方向70の上流側に移動した溶融物64が受け部51に回収される。レーザ表面加工装置10は、マニピュレータ11でレーザ照射ヘッド23、アシストガス噴射ノズル33、受け部51を移動方向に移動させつつ、加工対象物60の表面を溶融し、溶融物62を生成し、溶融物64をアシストガスGで吹き飛ばし、受け部51で回収することで、加工対象物60の表面の一部を除去する。
ここで、アシストガス供給装置13は、加工対象物60の溶融物62の表面張力の2倍以上の衝突力で加工対象物60にアシストガスGを噴射する。衝突力Fi[N]は、アシストガス流速v[m/s]、アシストガス密度ρ[kg/m]、有効アシストガス流量Q [m/s]、レーザ照射幅L [m]、有効幅b [m] に基づいて下記式で算出する。
Figure 0006823933
これにより、溶融層の底部、つまり溶融物62と加工対象物60の境界を露出させる、もしくは残存する溶融層厚を極力小さくすることができ、レーザLによる加工を効率よく行うことができる。
アシストガス供給装置13は、アシストガス中心線(アシストガスの供給中心線)Gcの加工対象物60までの線分が、レーザ照射装置12とレーザLの焦点とを結んだ線分と重なること、本実施形態では、レーザ中心線Lcとアシストガス中心線Gcとが加工対象物60の表面で重なる状態で、レーザLを照射しアシストガスGを噴射する。これにより、溶融物62がレーザ照射ヘッド23に移動することを抑制することができる。また、レーザLを照射した位置から溶融物62を移動方向70下流側に移動させることができ、アシストガスGで効率よく受け部51に移動させることができる。
レーザ表面加工装置10は、アシストガス供給装置13が、レーザ照射装置12よりも加工対象物60の移動方向70下流側、つまり、アシストガス噴射ノズル33がレーザ照射ヘッド23よりも加工対象物60の移動方向70下流側に配置され、アシストガスGの供給方向と加工対象物の表面に対して垂直な線とのなす角が、加工対象物60と加工対象物60の表面に対して垂直な線とレーザとのなす角よりも小さい構造とすることで、アシストガスGの圧力を効率よく高くすることができ、アシストガスGにより溶融物62を除去する能力を高くすることができる。アシストガス噴射ノズル33をレーザ照射ヘッド23よりも移動方向70下流側に配置することで、簡単な構造で、アシストガスGの供給方向と加工対象物60の表面に対して垂直な線とのなす角を小さくすることができる。
図4は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。図4に示すレーザ表面加工装置10aは、アシストガス供給装置13のアシストガス噴射ノズル33から噴射するアシストガスGのアシストガス中心線Gcの角度以外、レーザ表面加工装置10と同様の構造である。
アシストガス噴射ノズル33は、アシストガスGの供給方向と加工対象物60の表面に対して垂直な線とのなす角θが0ではない向きである。アシストガス噴射ノズル33は、アシストガスGの供給方向が加工対象物60の表面に対して垂直な線よりも移動方向下流側に傾いている。このように、なす角θが0でない、つまり加工対象物60の表面に対してアシストガス中心線Gcが垂直でない位置としても、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。
アシストガス供給装置13は、アシストガスの供給方向と加工対象物の表面に対して垂直な線とのなす角θを45度以下とすることが好ましく、15度以下とすることがより好ましい。なす角θは、垂直な線に対して、移動方向70の上流側に傾斜しても、下流側に傾斜してもよい。なす角θを45度以下とすることで、アシストガスGの衝突力を高くしやすくすることができ、15度以下とすることで、アシストガスGの衝突力をより高くしやすくすることができる。
図5は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。図5に示すレーザ表面加工装置10bは、アシストガス供給装置のアシストガス噴射ノズル(第1アシストガス供給ノズル)33aとアシストガス供給ノズル(第2アシストガス供給ノズル)33bを備える以外、レーザ表面加工装置10と同様の構造である。アシストガス噴射ノズル33aは、アシストガス噴射ノズル33と同様の位置、機能でありアシストガスG1を供給する。アシストガス供給ノズル33bは、レーザ照射装置12のレーザ照射ヘッド23よりも移動方向上流側に配置され、加工対象物60のレーザが照射されている領域にアシストガスG2を供給する。
レーザ表面加工装置10bは、レーザ照射ヘッド23よりも移動方向上流側に配置されたアシストガス供給ノズル33bを設け、移動方向70上流側からもアシストガスG2を供給することで、レーザ照射位置から溶融物をより効率よく除去することができる。
図6は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。図6に示すレーザ表面加工装置10cは、アシストガス供給装置のアシストガス噴射ノズル33から噴射するアシストガスGのアシストガス中心線Gcの位置以外、レーザ表面加工装置10と同様の構造である。アシストガス供給装置13は、レーザLの焦点位置よりも移動方向70上流側の位置にアシストガスGを供給する。アシストガス供給装置3は、アシストガス中心線GcがレーザLの焦点位置よりも距離ds、移動方向70上流側となる位置にアシストガスGを噴射する。
レーザ表面加工装置10cは、アシストガス中心線GcをレーザLの焦点位置よりも距離ds、移動方向70上流側とすることで、溶融物62を受け部51に向けて搬送することができる。
レーザ表面加工装置10cは、アシストガスの供給中心線が、レーザ照射装置と前記レーザの焦点との間を通ることで、レーザ照射ヘッド23に溶融物が飛散することを抑制することができる。
図7は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。図7に示すレーザ表面加工装置10dは、アシストガス供給装置のアシストガス噴射ノズル33cがレーザ照射ヘッド23aと一体となっている。レーザ表面加工装置10dは、レーザ光LaとアシストガスGaとを同軸で供給する。アシストガスGaは、レーザ光Laの外周側から供給される。アシストガスGaは、内径がd1、外径がd2のリング形状となる。
レーザ表面加工装置10dは、レーザ光LaとアシストガスGaとを同軸で供給することで、アシストガスで溶融物を好適に除去することができ、レーザ照射ヘッド23に溶融物が飛散することを抑制できる。これにより、溶融層除去能率の向上と施工安定性の両立が可能となる。また、アシストガスの供給とレーザの相対的な位置ズレがなくなり、施工裕度が向上する。
図8は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。図8に示す加工対象物60aは、円筒の配管である。レーザ表面加工装置10eは、加工対象物60aの内周面を除去する。レーザ表面加工装置10dは、レーザ照射装置112と、アシストガス供給装置113と、回収機構114と、を備える。また、図示を省略したが、レーザ表面加工装置10dは、移動機構となるマニピュレータ11と、制御装置16と、を有する。
レーザ照射装置112は、レーザ照射ヘッド123が加工対象物60aの中心に配置されている。レーザ照射装置112は、リング状のレーザを照射し、内周面80を加工する。レーザ照射装置112は、レーザを回転させて、リング状に照射しても、リング状のレーザを照射してもよい。
移動機構11は、レーザ照射装置112をリング状のレーザLの中心を通り、レーザの進行方向と平行な方向に移動させる。つまり、移動機構11は、レーザ照射ヘッド123を加工対象物60aの軸方向に沿って移動させる。
アシストガス供給装置113は、レーザ照射装置112に対面する位置に配置されている。アシストガス供給装置113は、レーザ照射装置112及び、レーザの照射位置よりも移動方向70下流側に配置されている。アシストガス供給装置113は、アシストガス噴射ノズル133が加工対象物60aの内部に配置されている。アシストガス噴射ノズル133は、アシストガスGを噴射する噴射口133aが加工対象物60aの内周面の全周に開口したリング形状である。
回収機構114は、レーザ照射装置112に対面する位置に配置されている。アシストガス供給装置113は、レーザ照射装置112及びレーザの照射位置よりも移動方向70下流側に配置されている。回収機構114は、受け部151の内部にアシストガス噴射ノズル133が挿入されている。
レーザ表面加工装置10eは、リング状のレーザを照射し、アシストガスをリング状に噴射して、内部が円となる加工対象物60aを加工する。この場合も、アシストガスとレーザとの関係を上記関係とすることで同様の効果を得ることができる。
図9は、他の実施形態のレーザ表面加工装置の加工状態を模式的に示す断面図である。図10は、図9に示すレーザ表面加工装置の斜視図である。図9及び図10に示すレーザ表面加工装置10fは、内部で回転可能な径の加工対象物60bの内周面を加工する。レーザ表面加工装置10fは、レーザ照射装置212と、アシストガス供給装置213と、回収機構214と、を備える。また、図示を省略したが、レーザ表面加工装置10fは、移動機構となるマニピュレータ11と、制御装置16と、を有する。マニピュレータ11は、レーザ照射ヘッド223と、アシストガス噴射ノズル233と受け部51を、加工対象物60bの軸を中心とした周方向である移動方向70eに回転させる。
レーザ表面加工装置10fは、アシストガス噴射ノズル233と受け部51を、加工対象物60bの軸を中心とした周方向である移動方向70eに回転させる場合も、アシストガスとレーザとの関係を上記関係とすることで同様の効果を得ることができる。
また、本実施形態では、マニピュレータ(移動機構)11でレーザ照射ヘッド23等を加工対象物に対して移動させたが、加工対象物とレーザ照射ヘッド23等とを相対移動させればよく、加工対象物を移動させても、加工対象物とレーザ照射ヘッド23等との両方を移動させてもよい。
10 レーザ表面加工装置
11 マニピュレータ(移動機構)
12 レーザ照射装置
13 アシストガス供給装置
14 回収機構
16 制御装置
18 支持フレーム
21 レーザ発振器
22 伝送ケーブル
23 レーザ照射ヘッド
31 アシストガス供給部
32 アシストガス供給ライン
33 アシストガス噴射ノズル
51 受け部
52 吸引ライン
53 吸引ポンプ

Claims (8)

  1. 加工対象物にレーザを照射するレーザ照射装置と、
    前記加工対象物の前記レーザが照射されている領域にアシストガスを噴射するアシストガス供給装置と、
    前記レーザ照射装置と前記加工対象物とを相対移動させる移動機構と、
    前記レーザが照射され溶融した前記加工対象物を回収する回収機構と、を有し、
    前記アシストガス供給装置は、アシストガスの供給中心線が、前記レーザ照射装置と前記レーザの焦点との間を通り、前記レーザ照射装置が前記レーザを照射した位置で溶融した前記加工対象物にアシストガスを噴射し、前記レーザが照射されている位置から溶融した前記加工対象物を吹き飛ばし、前記回収機構に向けて除去し、
    前記アシストガス供給装置は、前記加工対象物に対してレーザ照射位置が移動する移動方向において前記レーザの焦点位置よりも上流側の位置にアシストガスを供給することを特徴とするレーザ表面加工装置。
  2. 加工対象物にレーザを照射するレーザ照射装置と、
    前記加工対象物の前記レーザが照射されている領域にアシストガスを噴射するアシストガス供給装置と、
    前記レーザ照射装置と前記加工対象物とを相対移動させる移動機構と、
    前記レーザが照射され溶融した前記加工対象物を回収する回収機構と、を有し、
    前記アシストガス供給装置は、アシストガスの供給中心線が、前記レーザ照射装置と前記レーザの焦点との間を通り、前記レーザ照射装置が前記レーザを照射した位置で溶融した前記加工対象物にアシストガスを噴射し、前記レーザが照射されている位置から溶融した前記加工対象物を吹き飛ばし、前記回収機構に向けて除去し、
    前記アシストガス供給装置は、前記アシストガスの供給中心線の前記加工対象物までの線分が、前記レーザ照射装置と前記レーザの焦点とを結んだ線分と重なることを特徴とするレーザ表面加工装置。
  3. 前記アシストガス供給装置は、前記アシストガスの供給方向と前記加工対象物の表面に対して垂直な線とのなす角が、45度以下であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のレーザ表面加工装置。
  4. 前記アシストガス供給装置は、前記加工対象物に対してレーザ照射位置が移動する移動方向において前記レーザ照射装置よりも下流側に配置され、前記アシストガスの供給方向と前記加工対象物の表面に対して垂直な線とのなす角が、前記加工対象物と前記加工対象物の表面に対して垂直な線と前記レーザとのなす角よりも小さいことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のレーザ表面加工装置。
  5. 前記アシストガス供給装置は、前記加工対象物にアシストガスを噴射し、前記レーザが照射されている位置から溶融した前記加工対象物を前記回収機構に向けて除去する第1アシストガス供給ノズルと、
    前記加工対象物に対して前記レーザ照射位置が移動する移動方向において前記レーザ照射装置よりも上流側に配置され、前記加工対象物のレーザが照射されている領域にアシストガスを供給する第2アシストガス供給ノズルと、を有することを特徴とする請求項に記載のレーザ表面加工装置。
  6. 前記アシストガス供給装置は、前記アシストガスの供給中心線が前記レーザの中心線と重なることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか一項に記載のレーザ表面加工装置。
  7. 前記レーザ照射装置は、リング状にレーザを照射し、
    前記移動機構は、前記レーザ照射装置をリング状のレーザの中心を通り、前記レーザの進行方向と平行な方向に移動させ、
    前記アシストガス供給装置は、前記レーザ照射装置に対面する位置に配置されていることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載のレーザ表面加工装置。
  8. 前記移動機構は、前記レーザ照射装置を回転させることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載のレーザ表面加工装置。
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