JP6814085B2 - 監視回路及び半導体装置 - Google Patents
監視回路及び半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6814085B2 JP6814085B2 JP2017072218A JP2017072218A JP6814085B2 JP 6814085 B2 JP6814085 B2 JP 6814085B2 JP 2017072218 A JP2017072218 A JP 2017072218A JP 2017072218 A JP2017072218 A JP 2017072218A JP 6814085 B2 JP6814085 B2 JP 6814085B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- unsaturated
- current
- detection circuit
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims description 42
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 131
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/042—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
- G05B19/0428—Safety, monitoring
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16533—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
- G01R19/16538—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16533—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
- G01R19/16538—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
- G01R19/16552—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies in I.C. power supplies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31721—Power aspects, e.g. power supplies for test circuits, power saving during test
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
- G01R19/16571—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 comparing AC or DC current with one threshold, e.g. load current, over-current, surge current or fault current
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31712—Input or output aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31725—Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/32—Means for saving power
- G06F1/3203—Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
- G06F1/3206—Monitoring of events, devices or parameters that trigger a change in power modality
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/32—Means for saving power
- G06F1/3203—Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
- G06F1/3234—Power saving characterised by the action undertaken
- G06F1/3287—Power saving characterised by the action undertaken by switching off individual functional units in the computer system
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3024—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system component is a central processing unit [CPU]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3055—Monitoring arrangements for monitoring the status of the computing system or of the computing system component, e.g. monitoring if the computing system is on, off, available, not available
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/20—Pc systems
- G05B2219/24—Pc safety
- G05B2219/24024—Safety, surveillance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
図7は、一般的なMPUを含むシステムのブロック図である。
半導体装置100は、出力トランジスタ110と誤差増幅器111と帰還回路112と基準電圧源113とを有するLDOレギュレータ部と、電流検出回路115とウォッチドッグタイマ116と非飽和検出回路117とを有する監視回路114と、を備えている。
ここでは最低限の接続のみについて説明しており、図示しないが、以後の説明で登場する電流検出回路115や非飽和検出回路117の具体例を構成する上で必要な接続は、それぞれの例に合わせて為されるものとする。
出力トランジスタ110と誤差増幅器111と帰還回路112と基準電圧源113を有するLDOレギュレータ部は、電源端子の電圧Vinを基準電圧Vrefに基いて電圧出力端子121の出力電圧Voutを出力する。出力電圧Voutが低下すると、帰還回路112の出力する帰還電圧Vfbが低下する。誤差増幅器111は、帰還電圧Vfbと基準電圧Vrefの誤差に基いて出力トランジスタ110のゲートを制御し、出力電圧Voutを上昇させる。逆に、出力電圧Voutが上昇すると、誤差増幅器111は、出力トランジスタ110のゲートを制御し、出力電圧Voutを低下させる。このように負帰還回路を構成することで、LDOレギュレータ部は出力電圧Voutが基準電圧Vrefに基いた所定の電圧となるように制御する。MPU101は、電源端子が電圧出力端子121に接続され、電源電圧はLDOレギュレータ部により一定に制御される。MPU101の電源電流は、出力トランジスタ110の出力電流により供給される。帰還回路112の入力端子に流れ込む電流に対してMPU101の電源電流が十分に大きい場合、MPU101の電源電流と出力トランジスタ110の出力電流はほぼ等しくなる。
図2の非飽和検出回路117は、コンパレータ171と、基準電圧源172と、を備えている。
なお、図2の非飽和検出回路117は、コンパレータ171と基準電圧源172を備えた構成で説明したが、オフセットコンパレータで構成しても良い。オフセットコンパレータで構成した場合は、電源端子の電圧と出力トランジスタの出力端子の電圧を比較するようにしても良い。
Vds≧Vgs−Vth (1)
この場合は、出力トランジスタのVdsの低下を直接検出することが出来るため、比較的早く非飽和検出信号131を出力することが出来るという利点がある。
図3の非飽和検出回路117は、センストランジスタ173と、電圧検出回路174と、抵抗175と、を備えている。
例えば、出力トランジスタ110の出力電流が小さい時はセンストランジスタ173のドレイン電流が小さくなるように設定し、電圧検出回路174を定電流制限付きのインバータで構成して定常的な回路電流が流れないようにすることで、非飽和検出回路117の消費電流を小さくすることが出来る。また、抵抗175の代わりに定電流源を用いても同様の作用が得られる。
図4の電流検出回路115は、センストランジスタ151と、スイッチ152と、抵抗153と、基準電圧源154と、コンパレータ155と、を備えている。
第一の実施形態の半導体装置100と同じ箇所については同一の符号を付して、その説明は省略する。
このように構成した第二の実施形態の半導体装置200によれば、第一の実施形態の半導体装置100と同様の効果を得ることが出来る。
第二の実施形態の半導体装置200と同じ箇所については同一の符号を付して、その説明は省略する。
101 マイクロプロセッサ
110 出力トランジスタ
111 誤差増幅器
112 帰還回路
113 基準電圧源
114、214、314 監視回路
115、215、315 電流検出回路
116 ウォッチドッグタイマ
117 非飽和検出回路
218,318 論理回路
171、155 コンパレータ
Claims (5)
- 監視対象の半導体装置と、前記監視対象の半導体装置に電源電圧を供給するLDOレギュレータと、を備えたシステムの監視回路であって、
前記監視回路は、前記LDOレギュレータの出力トランジスタの非飽和状態を検出する非飽和検出回路と、前記出力トランジスタの出力電流が所定の電流値以上であることを検出する電流検出回路と、前記監視対象の半導体装置の動作を監視するウォッチドッグタイマと、を備え、
前記非飽和検出回路は、前記出力トランジスタの非飽和状態を検出すると非飽和検出信号を前記電流検出回路に出力し、
前記電流検出回路は、前記非飽和検出信号が入力されていない時に、前記出力トランジスタの出力電流が所定の電流値以上であることを検出すると、前記ウォッチドッグタイマにイネーブル信号を出力する、
ことを特徴とする監視回路。 - 前記電流検出回路は、スイッチ回路を備えて、前記非飽和検出信号が入力されてると、前記スイッチ回路がオフして、動作電流が低減される
ことを特徴とする請求項1に記載の監視回路。 - 監視対象の半導体装置と、前記監視対象の半導体装置に電源電圧を供給するLDOレギュレータと、を備えたシステムの監視回路であって、
前記監視回路は、前記LDOレギュレータの出力トランジスタの非飽和状態を検出する非飽和検出回路と、論理回路と、前記出力トランジスタの出力電流が所定の電流値以上であることを検出する電流検出回路と、前記監視対象の半導体装置の動作を監視するウォッチドッグタイマと、を備え、
前記非飽和検出回路は、前記出力トランジスタの非飽和状態を検出すると非飽和検出信号を前記論理回路に出力し、
前記電流検出回路は、前記出力トランジスタの出力電流が所定の電流値以上であることを検出すると電流検出信号を前記論理回路に出力し、
前記論理回路は、前記非飽和検出信号が入力されていない時に、前記電流検出信号に基づいて前記ウォッチドッグタイマにイネーブル信号を出力する、
ことを特徴とする監視回路。 - 前記監視回路は、更に、前記出力トランジスタの出力電流が所定の電流値以上であることを検出すると第二の電流検出信号を前記論理回路に出力する第二の電流検出回路と、を備え、
前記論理回路は、前記非飽和検出信号が入力されているときは、前記第二の電流検出信号に基づいて前記ウォッチドッグタイマに前記イネーブル信号を出力する
ことを特徴とする請求項3に記載の監視回路。 - 監視対象の半導体装置の動作を監視する請求項1から4のいずれかに記載の監視回路と、
前記監視対象の半導体装置に電源電圧を供給するLDOレギュレータと、
を備えたことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017072218A JP6814085B2 (ja) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 監視回路及び半導体装置 |
TW107110334A TWI754030B (zh) | 2017-03-31 | 2018-03-26 | 監視電路及半導體裝置 |
US15/939,936 US10613122B2 (en) | 2017-03-31 | 2018-03-29 | Monitoring circuit and semiconductor device |
KR1020180036522A KR102438353B1 (ko) | 2017-03-31 | 2018-03-29 | 감시 회로 및 반도체 장치 |
CN201810270198.3A CN108693801B (zh) | 2017-03-31 | 2018-03-29 | 监视电路以及半导体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017072218A JP6814085B2 (ja) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 監視回路及び半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018173867A JP2018173867A (ja) | 2018-11-08 |
JP6814085B2 true JP6814085B2 (ja) | 2021-01-13 |
Family
ID=63669224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017072218A Active JP6814085B2 (ja) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 監視回路及び半導体装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10613122B2 (ja) |
JP (1) | JP6814085B2 (ja) |
KR (1) | KR102438353B1 (ja) |
CN (1) | CN108693801B (ja) |
TW (1) | TWI754030B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112187267B (zh) * | 2019-07-01 | 2022-09-16 | 江阴圣邦微电子制造有限公司 | 电流采样电路及其控制方法 |
KR20210118294A (ko) | 2020-03-19 | 2021-09-30 | 삼성전자주식회사 | 내부 에러를 검출하기 위한 전원 관리 회로 및 전자 장치 |
JP7361675B2 (ja) * | 2020-11-30 | 2023-10-16 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03231336A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-15 | Zexel Corp | ウオッチドックタイマの故障検出装置 |
JP3429917B2 (ja) * | 1995-09-14 | 2003-07-28 | 富士通株式会社 | 電源監視回路 |
JP3678075B2 (ja) * | 1998-12-09 | 2005-08-03 | セイコーエプソン株式会社 | 電源装置およびその制御方法、携帯型電子機器、計時装置およびその制御方法 |
KR100360717B1 (ko) * | 2000-03-27 | 2002-11-13 | 김강철 | Cmos논리회로의 고장감지장치 |
CN100381021C (zh) * | 2002-05-24 | 2008-04-09 | 龚明甫 | 防止高频电子镇流器产生声振荡的方法及装置 |
JP4190853B2 (ja) * | 2002-10-15 | 2008-12-03 | 株式会社デンソー | 電流検出機能付き負荷駆動回路 |
JP2004140230A (ja) * | 2002-10-18 | 2004-05-13 | Sony Corp | 半導体およびガラス基板の処理方法 |
JP2005191821A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Seiko Epson Corp | コンパレータ回路及び電源回路 |
US7589507B2 (en) * | 2005-12-30 | 2009-09-15 | St-Ericsson Sa | Low dropout regulator with stability compensation |
JP5283078B2 (ja) * | 2009-01-13 | 2013-09-04 | セイコーインスツル株式会社 | 検出回路及びセンサ装置 |
US8325453B2 (en) * | 2009-05-28 | 2012-12-04 | Qualcomm, Incorporated | Short-circuit protection for switched output stages |
KR101230164B1 (ko) * | 2009-09-10 | 2013-02-05 | 가부시끼가이샤 도시바 | 모터 제어 장치와 세탁기 |
US8760824B2 (en) * | 2011-03-04 | 2014-06-24 | Fairchild Semiconductor Corporation | Ground fault circuit interrupter (GFCI) monitor |
US20120259575A1 (en) * | 2011-04-07 | 2012-10-11 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit chip incorporating a test circuit that allows for on-chip stress testing in order to model or monitor device performance degradation |
JP5878742B2 (ja) * | 2011-11-30 | 2016-03-08 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | コントローラ |
JP2013238472A (ja) * | 2012-05-15 | 2013-11-28 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置および電圧測定装置 |
TW201416698A (zh) * | 2012-10-24 | 2014-05-01 | Atomic Energy Council | 再生高壓游離腔數位環境監測儀 |
JP6268712B2 (ja) * | 2013-01-31 | 2018-01-31 | ミツミ電機株式会社 | 保護ic及び保護回路及び電池電圧監視方法 |
CN104050050A (zh) * | 2013-03-13 | 2014-09-17 | 施耐德电器工业公司 | 一种看门狗控制电路和控制方法 |
FR3013528B1 (fr) * | 2013-11-19 | 2016-01-01 | Valeo Equip Electr Moteur | Boucle de regulation porportionnelle integrale pour un dispositif regulateur numerique de machine electrique tournante a excitation de vehicule automobile |
CN103885849B (zh) * | 2014-03-13 | 2019-04-30 | 深圳怡化电脑股份有限公司 | 一种电子系统的看门狗电路 |
TWI503645B (zh) * | 2014-05-07 | 2015-10-11 | Nuvoton Technology Corp | 電壓調節器、方法與晶片 |
TWI587116B (zh) * | 2014-05-07 | 2017-06-11 | 新唐科技股份有限公司 | 電壓調節晶片 |
-
2017
- 2017-03-31 JP JP2017072218A patent/JP6814085B2/ja active Active
-
2018
- 2018-03-26 TW TW107110334A patent/TWI754030B/zh active
- 2018-03-29 CN CN201810270198.3A patent/CN108693801B/zh active Active
- 2018-03-29 US US15/939,936 patent/US10613122B2/en active Active
- 2018-03-29 KR KR1020180036522A patent/KR102438353B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201837650A (zh) | 2018-10-16 |
CN108693801B (zh) | 2022-03-08 |
TWI754030B (zh) | 2022-02-01 |
CN108693801A (zh) | 2018-10-23 |
KR20180111643A (ko) | 2018-10-11 |
US10613122B2 (en) | 2020-04-07 |
US20180284164A1 (en) | 2018-10-04 |
JP2018173867A (ja) | 2018-11-08 |
KR102438353B1 (ko) | 2022-08-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20230324939A1 (en) | Voltage regulator | |
JP5987206B2 (ja) | 電圧調整回路機構および関連する動作方法 | |
TWI610528B (zh) | 升壓型切換調節器及電子機器 | |
US7362080B2 (en) | Power regulator having over-current protection circuit and method of providing over-current protection thereof | |
JP4443301B2 (ja) | ボルテージ・レギュレータ | |
JP3889402B2 (ja) | 過電流検出回路及びそれを備えたレギュレータ | |
US10877502B2 (en) | Input dependent voltage regulator with a charge pump | |
JP6814085B2 (ja) | 監視回路及び半導体装置 | |
EP2894537A1 (en) | Voltage regulator | |
US20150188423A1 (en) | Voltage regulator and electronic apparatus | |
US8354835B2 (en) | Wide range current sensing | |
US9601987B2 (en) | Power supply apparatus | |
US9671802B2 (en) | Voltage regulator having overshoot suppression | |
US20160231762A1 (en) | Control for Voltage Regulators | |
US10756621B2 (en) | Voltage regulators with controlled output voltage and the method thereof | |
US9891649B2 (en) | Voltage regulator | |
KR101558063B1 (ko) | 로우 드롭 출력 타입의 전압 레귤레이터 | |
JP6983718B2 (ja) | ボルテージレギュレータ | |
US10056771B2 (en) | Control system | |
US8283938B2 (en) | Monitoring system and input and output device thereof | |
JP2008152690A (ja) | 電源装置 | |
JP2015186349A (ja) | 過電流検出回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200117 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201030 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201110 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201203 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201215 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201218 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6814085 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |