JP6783674B2 - 自動分析装置、自動分析装置における廃液方法、及び、三方電磁弁 - Google Patents

Description

本発明は、自動分析装置、自動分析装置における廃液方法、及び、三方電磁弁に関する。

イオン選択性電極（Ｉｏｎ Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ Ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ：ＩＳＥ）は、血液などに代表される生体試料中のカリウム、ナトリウム、及び塩化物などのイオン（電解質）の濃度を測定するセンサとして広く用いられている。

ＩＳＥは、イオン選択性感応膜（以下、単に「感応膜」ともいう）、内部電解質溶液（以下、単に「内部液」ともいう）、及び、銀塩化銀などからなる内部電極などを備える。フローセル型ＩＳＥは、測定対象の試料を供給する流路を筐体の内部に備える。感応膜の一面が流路に接して設けられ、感応膜の他面側に内部液と内部電極が設けられる。フローセル型ＩＳＥは、フローセル型の参照電極と組み合わせて、参照電極との間に生じる電位差を測定し、目的イオンの活量（濃度）を求めるために使用される。

臨床検査の分野では、生体試料である血液、特に血清や血漿、尿などの検体に含まれる電解質の濃度を定量する必要性が高い。これらの試料をそのままＩＳＥを用いて測定する方法、いわゆる非希釈法が行われる場合がある。また、所定量の試料に所定量の希釈液を添加及び混合して希釈した後、その混合液をＩＳＥを用いて測定する方法、いわゆる希釈法が行われる場合もある。希釈法に関しては、試料液の必要量が少なく、また、混合液中のたんぱく質や脂質などの共存物の濃度が低く、共存物による汚れの影響も少ない。従って、希釈法は、ＩＳＥの安定性が高いという特徴を有する。従って、電解質自動分析装置においてはフローセル型ＩＳＥと希釈法の組み合わせが現在主流となっている。

試料の希釈には希釈槽と呼ばれる容器が用いられ、希釈槽に準備した希釈済み試料は、フローセル型ＩＳＥへ送られる。内部標準液と試料とが交互に希釈槽に分注され、内部標準液と試料とが交互に測定される。残余の試料や内部標準液は、廃液機構により希釈槽から除去される。試料を測定した後、希釈槽を純水や内部標準液で洗浄する。洗浄に用いた洗浄液も、廃液機構により除去される。

特許文献１には、ＩＳＥ測定装置における減圧廃液機構が開示されている。また、ＩＳＥ測定装置以外の分野においても、真空吸引方式による廃液機構が用いられる。例えば、特許文献２には、自動分析装置（例えば、酵素免疫測定装置（ＥＩＡ））に用いられる減圧吸引装置が開示されている。

特公昭６１−６９３８号公報 特許第２６６３６６１公報

特許文献１には、廃液容器８に溜まった廃液を自動で廃棄する手段が開示されていない。従って、廃液容器８が満杯になった時点で廃液容器８の内容物を手動で廃棄する必要がある。この廃棄作業の間は装置を停止する必要があるため、スループットが低い、という課題がある。

特許文献２の課題を解決する手段の欄には、「本発明では吸引口をもつ一次減圧容器と、大気圧下への排液口をもつ二次減圧容器とを直列に接続し、一次減圧容器は常時減圧状態にして連続して吸引できるようにする」と記載されている。しかし、実施形態を示す図８を参照すると、実際には、一次減圧付容器（一次減圧瓶２）に接続される開閉弁Ｖｆが、真空ポンプへの接続と大気圧開放とを交互に行っており、一次減圧付容器は常時減圧状態になっていない。特許文献２では、一次減圧付容器での泡の発生などの事情を考慮して、一次減圧付容器を一時的に大気圧に開放していると考えられる。

以上から、特許文献２の「一次減圧容器は常時減圧状態にする」という記載は、「図８のシーケンスの全時間帯のうち、多くの時間帯において減圧状態にする」こととして解釈するのが妥当であり、厳密な意味で「常時減圧状態にする」と解釈すべきではない。特許文献２においては、実際には、一次減圧付容器が大気圧に開放される期間が存在し、この期間では廃液を吸引できず、スループットが低い、という課題がある。

そこで、本発明は、真空容器を常時減圧状態とすることにより任意のタイミングでの廃液の吸引が可能な技術を提供する。

例えば、上記課題を解決するために、特許請求の範囲に記載の構成を採用する。本願は上記課題を解決する手段を複数含んでいるが、その一例をあげるならば、試料を測定する測定部を含む複数の測定ユニットと、第１経路を介して前記複数の測定ユニットと接続された吸引容器と、第２経路を介して前記吸引容器と接続された減圧排気系と、第３経路を介して前記吸引容器に接続された排出部と、前記第２経路に配置された圧力調整機構と、前記減圧排気系によって前記吸引容器を減圧排気するように制御する制御部とを備える自動分析装置が提供される。

また、他の例によれば、試料を測定する測定部を含む複数の測定ユニットと、第１経路を介して前記複数の測定ユニットと接続された吸引容器と、第２経路を介して前記吸引容器と接続された減圧排気系と、第３経路を介して前記吸引容器に接続された排出部と、前記複数の測定ユニットにおける測定時に、前記減圧排気系によって前記吸引容器を減圧排気するように制御する制御部とを備え、前記制御部は、少なくとも、前記排出部が減圧排気されている間及び大気解放されている間、前記吸引容器を減圧排気するように制御する、自動分析装置が提供される。

また、他の例によれば、試料を測定する測定部を含む複数の測定ユニットと、第１経路を介して前記複数の測定ユニットと接続された吸引容器と、第２経路を介して前記吸引容器と接続された減圧排気系と、第３経路を介して前記吸引容器に接続された排出部とを備える自動分析装置における廃液方法が提供される。当該廃液方法は、前記減圧排気系によって前記吸引容器を減圧排気する工程と、前記測定ユニットから第１廃液を前記吸引容器に吸引する工程と、前記吸引容器を大気解放せずに、前記測定ユニットから第２廃液を前記吸引容器に吸引する工程と、前記吸引容器内の前記第１廃液及び前記第２廃液の混合液を前記排出部へ移送する工程とを含む。

また、他の例によれば、第１ポート、第２ポート、及び、前記第１ポート又は前記第２ポートに接続される第３ポートを有する三方電磁弁であって、第１流路及び第２流路を有する可動部と、コイルと、磁石と、前記コイルの間を移動し、かつ、前記可動部に接続された可動磁芯とを備えるポート切換制御部とを備え、前記コイルに第１方向で電流を流した際は前記第１流路を介して前記第１ポートと前記第３ポートとが接続され、前記コイルに第２方向で電流を流した際は前記第２流路を介して前記第２ポートと前記第３ポートとが接続され、前記コイルに電流を流さない場合、前記第３ポートが前記第１ポート及び前記第２ポートのいずれにも接続されないように構成されている、三方電磁弁が提供される。

本発明によれば、真空容器を常時減圧状態とすることにより任意のタイミングでの廃液の吸引が可能となり、スループットを向上させることができる。本発明に関連する更なる特徴は、本明細書の記述、添付図面から明らかになるものである。また、上記した以外の、課題、構成及び効果は、以下の実施例の説明により明らかにされる。

実施例１に係る自動分析装置の全体構成を示す構成図である。 実施例１による電解質測定ユニット２１００の模式図である。 実施例１による廃液機構の模式図である。 実施例１の変形例による自動分析装置の模式図である。 実施例１の変形例による廃液機構の模式図である。 実施例１による動作の概要を示すフローチャートである。 実施例１における校正工程の概要を示すフローチャートである。 実施例１における測定工程の概要を示すフローチャートである。 実施例１における検体測定工程の概要を示すフローチャートである。 実施例１における内部標準液測定工程の概要を示すフローチャートである。 実施例１の廃液機構における検体測定サイクルのタイムチャートである。 実施例１の廃液機構における内部標準液測定サイクルのタイムチャートである。 実施例１の検体測定工程と内部標準液測定工程における廃液機構内の圧力の測定結果である。 実施例２による廃液機構の模式図である。 実施例３による廃液機構の模式図である。 実施例３による中点ＯＦＦ型三方電磁弁の模式図である。 実施例３における中点ＯＦＦ型の三方電磁弁の動作を説明する図である。 実施例３における中点ＯＦＦ型の三方電磁弁の動作を説明する図である。 実施例３における中点ＯＦＦ型の三方電磁弁の動作を説明する図である。 実施例４による廃液機構の模式図である。 実施例５による廃液機構の模式図である。 実施例６による比色自動分析装置の模式図である。

以下、添付図面を参照して本発明の実施例について説明する。添付図面は本発明の原理に則った具体的な実施例を示しているが、これらは本発明の理解のためのものであり、決して本発明を限定的に解釈するために用いられるものではない。なお、実施の形態及び実施例を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。

以下の実施例は、生体試料などに含まれる成分の量を測る装置に関する。以下の実施例は、好ましくは、イオン選択性電極に基づく電解質分析ユニットを複数搭載する自動分析装置の廃液装置に適用される。本自動分析装置は、自動かつ連続的に臨床検査を行うために、単独であるいは生化学自動分析装置などの一要素として、好適に用いられる。

［実施例１］
図１は、実施例１による電解質自動分析装置１０の概略構成を示す模式図である。電解質自動分析装置１０は、中央制御装置２０と、廃液機構３０と、複数の電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００とを備える。廃液機構３０は、中枢部１００と、複数の電磁弁ＳＶＡ１（３１１０）〜ＳＶＡ９（３９１０）とを備える。図１は、電解質測定ユニットの数が９である場合を例示しているが、電解質測定ユニットの数は９である必要は無く、一般に自然数、即ち１以上の整数であり、より好ましくは複数、即ち２以上の整数である。

図２は、実施例１による電解質測定ユニット２１００の概略構成を示す模式図である。電解質測定ユニット２２００、…、２９００の構成は、電解質測定ユニット２１００のそれと同様であるため、以下では、電解質測定ユニット２１００について説明する。電解質測定ユニット２１００は、試料を測定する測定部を含む。具体的には、電解質測定ユニット２１００は、希釈槽２１１０と、検体分注機構２１２０と、希釈液分注機構２１３０と、内部標準液分注機構２１４０と、送液機構２１５０と、参照電極液送液機構２１６０と、フローセル型のＣｌ−ＩＳＥ ２１７１と、フローセル型のＫ−ＩＳＥ ２１７２と、フローセル型のＮａ−ＩＳＥ ２１７３と、フローセル型の液絡２１８０と、フローセル型の参照電極２１９０と、計測制御装置２１０１と、廃液ノズル３１０１と、廃液ノズル３１０１の駆動機構（図示省略）とを備える。また、電解質測定ユニット２１００は、検体用容器２１２１と、希釈液用容器２１３１と、内部標準液用容器２１４１と、参照電極液用容器２１６１と、廃液容器２１５９とをさらに備える。図２に示すように、廃液ノズル３１０１は、電磁弁ＳＶＡ１（３１１０）を介して廃液機構３０に接続されている。

図３は、実施例１による廃液機構３０の中枢部１００の模式図である。廃液機構３０の中枢部１００は、制御装置１１０と、吸引容器Ｔ１（１１００）と、圧力調節機構１３００と、減圧排気系（排気ポンプ１４００）と、廃液容器１５００と、電磁弁ＳＶＢ（１１１０）と、電磁弁ＳＶＣ（１２１０）と、電磁弁ＳＶＤ（１２２０）と、電磁弁ＳＶＡ１（３１１０）〜ＳＶＡ９（３９１０）と、廃液流路Ａ１〜Ａ９と、移送流路Ｂと、移送流路Ｃと、移送排出流路Ｄと、排出流路Ｅと、排出流路Ｆと、排気管Ｇと、排気管Ｈと、排気管Ｊと、排気管Ｋと、排気管Ｍと、リーク管Ｎと、抵抗管Ｒと、配管接合部（Ｔ字管）Ｓ１と、配管接合部（Ｔ字管）Ｓ２とを備える。排気ポンプ１４００、電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９、ＳＶＢ、ＳＶＣ、ＳＶＤ、また場合によって圧力調節機構１３００などは、制御装置１１０との間を接続する制御用配線（図示省略）を備える。制御装置１１０は、上述した中枢部１００の各構成要素を制御可能である。

電磁弁ＳＶＡ１（３１１０）〜ＳＶＡ９（３９１０）は二方弁であり、複数の電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００と吸引容器Ｔ１との接続／非接続を制御できる。電磁弁ＳＶＡ１（３１１０）〜ＳＶＡ９（３９１０）の片端は、それぞれ、廃液ノズル３１０１、…、３９０１に接続されており、これらの他端は、それぞれ、廃液流路Ａ１〜Ａ９を介して吸引容器Ｔ１の上部に気密に接続されている。減圧する配管やその接続部、容器、及び流路などを気密にすることは以下同様であり、以下では、気密の断り書きを省略する。

吸引容器Ｔ１は、内部に廃液を収納可能な耐圧容器である。吸引容器Ｔ１は、複数の配管接続口を備える。吸引容器Ｔ１は、複数の配管接続口を介して、廃液流路Ａ１〜Ａ９、排気管Ｇ、及び移送流路Ｂに接続されている。より具体的には、廃液流路Ａ１〜Ａ９と吸引容器Ｔ１との接続部及び排気管Ｇと吸引容器Ｔ１との接続部は、鉛直方向において最も上方の位置に配置され、移送流路Ｂと吸引容器Ｔ１との接続部は、鉛直方向において最も下方の位置に配置されている。換言すると、廃液流路Ａ１〜Ａ９と排気管Ｇが吸引容器Ｔ１の上端に接続され、移送流路Ｂが吸引容器Ｔ１の下端に接続されている。減圧する配管やその接続部、容器、及び流路などを耐圧とすることは以下同様であり、以下では、耐圧の断り書きを省略する。

移送流路Ｂ、移送流路Ｃ、移送排出流路Ｄ、排出流路Ｅ、排出流路Ｆ、及びＴ字管Ｓ１は、廃液を流通可能な流路を内部に備える。なお、以降で説明する実装例では、移送流路Ｂ、移送流路Ｃ、移送排出流路Ｄ、排出流路Ｅ、排出流路Ｆとして、内径８ｍｍ外径１２ｍｍのシリコンゴムチューブを用いた（一部の接続部には異径アダプタを用いた）。移送排出流路Ｄの長さは約１８０ｍｍである。移送排出流路Ｄは、廃液を一時的に溜めておく空間を提供するものである。移送排出流路Ｄの設置高さは、好ましくは、吸引容器Ｔ１の設置高さよりも低い。移送排出流路Ｄ、Ｔ字管Ｓ１、排出流路Ｅ、電磁弁ＳＶＣ、排出流路Ｆは、この順番で概鉛直方向に配置されている。より具体的には、移送排出流路Ｄと抵抗管Ｒとの接続部は、これら部材の中で鉛直方向において最も上方の位置に配置され、排出流路Ｆはこれら部材の中で鉛直方向において最も下方の位置に配置されている。

排気管Ｇ、排気管Ｈ、排気管Ｊ、排気管Ｋ、排気管Ｍ、抵抗管Ｒ、Ｔ字管Ｓ２は、内部に気体を流通可能な流路を備える。抵抗管Ｒは、流路における気体の流通抵抗が大きいという特徴を備える。

圧力調節機構１３００は、真空度を調節可能な機構である。圧力調節機構１３００は、例えば、逆止弁、電磁弁、あるいは圧力レギュレータなどである。圧力調節機構１３００は、配管接続口を備える。圧力調節機構１３００の吸入端には排気管Ｇが接続されており、圧力調節機構１３００の吸出端には排気管Ｈの一端が接続されている。以降で説明する実装例では、圧力調節機構１３００として最低作動差圧１０ｋＰａ以下、最低逆止差圧４０ｋＰａの逆止弁（日本ピスコ社ＣＶＰＵ６−６）を使用し、逆止弁の自由流入口側が排気管Ｇに接続され、逆止弁の自由流出口側が排気管Ｈの一端に接続されている。圧力調節機構１３００と排気管Ｇとの間にはフィルター（図示省略）が設けてられてもよい。この構成によって、ミストを除去してもよい。圧力調節機構１３００としては、逆止弁の他に、圧力調整器を採用することができる。また、制御装置１１０と電磁弁を用いて適切なタイミングで流路の開閉を制御する方法、それらに加えて圧力センサも組み合わせて圧力制御を自動化する方法、などを採用することもできる。

電磁弁ＳＶＢ及び電磁弁ＳＶＣは二方弁であり、電磁弁ＳＶＤは三方弁である。電磁弁ＳＶＢは、吸引容器Ｔ１と移送排出流路Ｄとの間の接続／非接続を制御するものである。電磁弁ＳＶＣは、移送排出流路Ｄと廃液容器１５００との間の接続／非接続を制御するものである。電磁弁ＳＶＤは、移送排出流路Ｄと排気ポンプ１４００との間の接続と移送排出流路Ｄの大気解放とを切換えることができる。電磁弁ＳＶＢ、電磁弁ＳＶＣ、及び電磁弁ＳＶＤは、それぞれ、配管接続口を備える。電磁弁ＳＶＢの一端には移送流路Ｂが接続され、電磁弁ＳＶＢの他端には移送流路Ｃが接続されている。電磁弁ＳＶＣの一端には排出流路Ｅが接続され、電磁弁ＳＶＣの他端には排出流路Ｆが接続されている。電磁弁ＳＶＤの共通端には抵抗管Ｒが接続され、電磁弁ＳＶＤの通常時開通端（通電時閉止端）にはリーク管Ｎが接続され、電磁弁ＳＶＤの通常時閉止端（通電時開通端）には排気管Ｍが接続されている。

Ｔ字管Ｓ１には移送流路Ｃ、移送排出流路Ｄ、及び排出流路Ｅが接続されており、Ｔ字管Ｓ２には排気管Ｈ、排気管Ｊ、及び排気管Ｍが接続されている。移送排出流路Ｄと抵抗管Ｒは図示しないコネクタを介して接続されている。

排気ポンプ１４００として、真空到達度約−９５ｋＰａ、実効排気速度約６Ｌ／ｍｉｎのダイアフラムポンプ（Ｕｌｖａｃ社 ＤＡＰ−６Ｄ）を採用した。排気ポンプ１４００の吸入端には排気管Ｊが接続され、排気ポンプ１４００の排出端には排気管Ｋが接続されている。排気管Ｋは、フィルター（図示省略）を備え、フィルターを介して真空系内の空気を大気に放出する。排気ポンプ１４００は、吸入端において真空タンク（図示省略）を備えることもできる。この真空タンクは、飛沫類のトラップ、並びに真空圧の緩衝装置として機能する。リーク管Ｎは、フィルター（図示省略）を備え、当該フィルターを介して真空系内へ空気を導入する。

なお、排気ポンプ１４００とそれに直接つながる減圧系統、即ち排気管Ｊ、Ｔ字管Ｓ２、排気管Ｈ、Ｍなどを、以下では「Ｖ０ライン」と呼ぶ。また、Ｖ０ラインから電磁弁ＳＶＤによって隔てられる抵抗管Ｒ以遠の減圧系統、即ち抵抗管Ｒ、移送排出流路Ｄ、Ｔ字管Ｓ１、移送流路Ｃ、排出流路Ｅなどを、以下では「Ｖ２ライン」と呼ぶ。一方、Ｖ０ラインから圧力調節機構１３００によって隔てられる排気管Ｇ以遠の減圧系統、即ち排気管Ｇ、吸引容器Ｔ１、移送流路Ｂ、廃液流路Ａ１〜Ａ９などを、以下では「Ｖ１ライン」と呼ぶ。

以上の通り、廃液機構３０は、基本的に相互に気密に接続された減圧装置である。気密の例外は、廃液ノズル３１０１〜３９０１、リーク管Ｎ、排気管Ｋ、排出流路Ｆである。廃液ノズル３１０１〜３９０１、リーク管Ｎ、及び排気管Ｋはいずれも大気に解放された一端を有し、排出流路Ｆ内の廃液は、大気圧下の廃液容器１５００又は排液ドレイン（図示省略）に落下する。

本実施例の変形例について図４及び図５を用いて説明する。図４は、実施例１の変形例による電解質自動分析装置１０の概略構成を示す模式図である。図５は、実施例１の変形例による廃液機構３１の模式図である。図４及び図５の例では、電磁弁ＳＶＡ１（３１１０）〜ＳＶＡ９（３９１０）の他端が１つの廃液流路Ａ１０に合流し、廃液流路Ａ１０の一端が吸引容器Ｔ１の上部に接続されている点で、図１及び図３の構成と異なる。

次に本実施例の動作の概要を説明する。図６は、本実施例における電解質測定ユニット２１００の動作の概要を示すフローチャートである。電解質測定ユニット２２００、…、２９００の動作は電解質測定ユニット２１００のそれと同様であるが、周期的動作の位相が互いにずれている場合がある。

電解質測定ユニット２１００は、起動の後、初期化工程１１０００及び校正工程１２０００を実行した後、検体の数だけ測定工程１３０００を繰り返し実行する。全ての検体を測定し終えたかどうか判断する工程１４０００において、次に測定すべき検体がないと判定された場合、立下げ工程１５０００を実行する。

初期化工程１１０００は、電解質自動分析装置を構成する各構成要素の立上げや洗浄などの準備を含む。初期化の一環として、参照電極液用容器２１６１から、参照電極液が、参照電極２１９０経由でフローセル型液絡２１８０まで送液される。内部標準液用容器２１４１から内部標準液が希釈槽２１１０に分注され、その内部標準液がＩＳＥ ２１７１、２１７２、２１７３を経てフローセル型液絡２１８０まで送液され、ＩＳＥのコンディショニングが行われる。希釈槽２１１０に内部標準液を残したまま、初期化工程１１０００を終了する。

図７は、校正工程１２０００の概要を示す。校正工程１２０００は、低濃度標準液測定工程１２１００、高濃度標準液測定工程１２２００、校正液測定工程１２３００、及び、検量線作成工程１２４００などを含む。低濃度あるいは高濃度の標準液、及び、校正液の測定手順は、後述する測定工程１３０００に準じる（各濃度の標準液や、校正液を検体と同様に測定し、各ＩＳＥの起電力を記録する）。電解質測定ユニット２１００は、検量線作成工程１２４００において、高低２種の濃度の標準液の起電力測定結果から、スロープ感度を求める。電解質測定ユニット２１００は、スロープ感度と、内部標準液の起電力とから、内部標準液の濃度を求める。また、電解質測定ユニット２１００は、校正液の起電力測定結果とスロープ感度とから、校正液の計算上の濃度を求める。また、電解質測定ユニット２１００は、校正液の真の濃度（表示値）と、校正液の計算上の濃度との差から、オフセット補正値を求める。スロープ感度、内部標準液の濃度、及びオフセット補正値を検量線と称する。

図８は、測定工程１３０００の概要を示す。測定工程１３０００は、検体測定工程１３１００、内部標準液測定工程１３２００、及び、検体濃度算出工程１３３００などを含む。

図９は、検体測定工程１３１００の概要を示す。検体測定工程１３１００は、希釈槽廃液工程１３１１０、検体分注工程１３１２０、希釈液分注工程１３１３０、測定溶液導入工程１３１４０、希釈槽廃液工程１３１１０、希釈槽洗浄工程１３１５０、及び、電位計測工程１３１６０などを含む。以下、検体測定工程１３１００の各工程の詳細を説明する。

希釈槽廃液工程１３１１０において、廃液機構３０の制御装置１１０は、廃液ノズル３１０１用の駆動機構（図２において図示省略）を動作させ、希釈槽２１１０の内部の液（内部標準液や希釈試料、システム水など）を排出する。具体的には、この工程を開始する前に、電磁弁３１１０は閉じられている（希釈槽廃液以外の工程において、電磁弁３１１０は基本的に閉じられている）。また、廃液機構３０の作用により、廃液流路Ａ１の内部は減圧されている。電磁弁３１１０が閉じられているため、廃液ノズル３１０１内は大気圧に維持されている。工程開始後、制御装置１１０は、廃液ノズル３１０１用の駆動機構を駆動させ、廃液ノズル３１０１を希釈槽２１１０に浸す。同時に、制御装置１１０は、電磁弁３１１０を開け、廃液ノズル３１０１を通して、減圧環境を提供する。希釈槽２１１０の内部の液は廃液ノズル３１０１及び電磁弁３１１０を通して吸引容器Ｔ１に空気とともに排出される。制御装置１１０は、約１秒間だけ液を排出した後、電磁弁３１１０を閉じ、減圧を遮断する。すると、廃液ノズル３１０１内の圧力は大気圧に戻る。最後に、制御装置１１０は、駆動機構を駆動させ、廃液ノズル３１０１の先端部を希釈槽２１１０の鉛直上方に配置する、即ち希釈槽２１１０の外に出す。廃液機構３０の詳細な動作は後述する。

検体分注工程１３１２０において、電解質測定ユニット２１００は、検体分注機構２１２０の検体分注ノズル２１２２を用いて、検体用容器２１２１から検体（５μＬ）を吸い込み、その検体を希釈槽２１１０の内壁面に接触させながら全て吐出する。

希釈液分注工程１３１３０において、電解質測定ユニット２１００は、希釈液分注機構２１３０の希釈液分注ノズル２１３２を通して、希釈液用容器２１３１からの希釈液（１５０μＬ）を前記分注した検体の斜め上方の位置から検体に向けて吐出する。このとき、希釈液は、希釈槽２１１０の内表面に沿って螺旋状に旋回しつつ、検体を巻き込み、希釈槽２１１０の底部に流入して渦流れを形成する。その結果、検体は希釈液により希釈され、両者は均一に混合する（換言すると、吐出攪拌を行う）。この工程により、希釈液で検体を所定の割合（以下、希釈倍率、本実施例では３１倍）で希釈した希釈試料（１５５μＬ）を希釈槽２１１０の中に得ることができる。希釈試料は、試料溶液の一種であり、以下、試料溶液と称す。

測定溶液導入工程１３１４０において、電解質測定ユニット２１００は、測定溶液吸引ノズル２１５２用の駆動機構（図示省略、上下方向の駆動装置）を用いて、測定溶液吸引ノズル２１５２を希釈槽２１１０の中の試料溶液に（図２に示すように）浸す。なお、測定溶液導入工程１３１４０以外の工程においては、上記の駆動機構は、基本的に測定溶液吸引ノズル２１５２を希釈槽２１１０の上方に配置し、測定溶液吸引ノズル２１５２を希釈槽２１１０の外に出す。電解質測定ユニット２１００は、送液機構２１５０と参照電極液送液機構２１６０とを連動させて制御し、参照電極液用容器２１６１から参照電極液（２６μＬ）を参照電極２１９０経由でフローセル型液絡２１８０まで送液する。次に、電解質測定ユニット２１００は、希釈槽２１１０の中の試料溶液のうち１４５μＬの試料溶液を、測定溶液として、ＩＳＥ ２１７１、２１７２、２１７３を経てフローセル型液絡２１８０まで送液する。ここで、フローセル型液絡２１８０の内部の流路の合流点において測定溶液と参照電極液とが接触し、フリーフロー型の液絡が形成され、これにより、電池が形成される。必要に応じて、電解質測定ユニット２１００は、送液機構２１５０内の液を廃液容器２１５９へ排出する。送液終了後、電解質測定ユニット２１００は、測定溶液吸引ノズル２１５２用の駆動機構を用いて、測定溶液吸引ノズル２１５２を希釈槽２１１０から引き上げる。

次に、電解質測定ユニット２１００は、希釈槽廃液工程１３１１０と同様の操作を行い、希釈槽２１１０に残った試料溶液を廃液する。

希釈槽洗浄工程１３１５０において、電解質測定ユニット２１００は、検体分注ノズル２１２２に接続したシリンジポンプ（図示省略）を用いて、システム水（純水）２００ｕＬを、検体分注ノズル２１２２を通して希釈槽２１１０へ分注し、希釈槽２１１０を洗浄する。純水は、純水専用の分注機構又は配管を用いて希釈槽２１１０へ分注されてもよい。また、システム水の代わりに、希釈液又は内部標準液を、希釈液分注機構２１３０又は内部標準液分注機構２１４０を用いて、同様に希釈槽２１１０へ分注してもよい。また、希釈液、内部標準液、及びシステム水を希釈槽２１１０へ分注し、それらを混合することにより希釈槽２１１０を洗浄してもよい。

電位計測工程１３１６０において、電解質測定ユニット２１００は、Ｃｌ−ＩＳＥ ２１７１、Ｋ−ＩＳＥ ２１７２、及びＮａ−ＩＳＥ ２１７３の、参照電極２１９０に対する各起電力を、計測制御装置２１０１が備える電圧アンプ、ＡＤコンバータ、及びマイクロコンピュータなどを用いて、計測及び記録する。

図１０は、内部標準液測定工程１３２００の概要を示す。内部標準液測定工程１３２００は、希釈槽廃液工程１３２１０、内部標準液分注工程１３２２０、測定溶液導入工程１３２４０、希釈槽廃液工程１３２１０、希釈槽洗浄工程１３２５０、及び、電位計測工程１３２６０などを含む。内部標準液測定工程１３２００の各工程は、基本的に検体測定工程１３１００と同様である。内部標準液測定工程１３２００は、検体と希釈液の混合溶液の代わりに、１５５μＬの内部標準液を希釈槽２１１０に分注して試料溶液とすること、その試料溶液のうち１４５μＬを測定溶液としてＩＳＥへ導入すること、及び、参照電極液の送液量が２６μＬでなく４μＬである点で、検体測定工程１３１００と異なる。従って詳細な説明は省略する。

検体濃度算出工程１３３００の概要は以下の通りである。電解質測定ユニット２１００の計測制御装置２１０１は、検体測定工程１３１００の電位計測工程１３１６０と内部標準液測定工程１３２００の電位計測工程１３２６０において求めた各ＩＳＥの、希釈検体と内部標準液に対する起電力の差と、検量線作成工程１２４００で求めたスロープ感度と、希釈倍率（ここでは３１）とから、検体と内部標準液の濃度比を求める。そして、計測制御装置２１０１は、この濃度比を、検量線作成工程１２４００で求めた内部標準液の濃度に乗じることにより、検体の濃度（オフセット補正前）を求める。さらに、計測制御装置２１０１は、検体の濃度に、オフセット補正値を加えることにより、検体の濃度（オフセット補正後）を求める。以上により、計測制御装置２１０１は、検体中のＣｌ、Ｋ、Ｎａの濃度をそれぞれ求め、これらの濃度をユーザに報告する。

測定工程１３０００の後、全ての検体を測定し終えたかどうか判断する工程１４０００を実行する。全ての検体を測定し終えた場合、立下げ工程１５０００を実行する。立下げ工程１５０００では、各種部品の洗浄などを行い、電源遮断に備える。立下げ工程１５０００の後で、新たな検体の測定依頼があった場合は、初期化工程１１０００からの工程を再度実行することにより、検体の測定を行う。測定工程１３０００の後、工程１４０００を行うまでの間に、待機時間を設け、新たな検体の到着を待つこともできる。

以上の動作は、計測制御装置２１０１が備えるプログラムにより自動的かつ連続的に実行される。

次に、本実施例の廃液機構３０にかかわる動作の詳細についてタイムチャートと、圧力の測定結果を用いて説明する。図１１及び図１２は、本実施例における電解質測定ユニット２１００の動作のうち、本装置の主たる目的である検体の連続測定に関わる工程、即ち図６の測定工程１３０００を繰り返し行う場合のタイムチャートである。具体的には、図８の検体測定工程１３１００と内部標準液測定工程１３２００とを交互に繰り返し行う場合の、電磁弁などの要素部品に関するタイムチャートの例である。図１１は内部標準液測定サイクルのタイムチャートであり、図１２は検体測定サイクルのタイムチャートである。

まず、タイムチャートにおける上記２工程の位置づけについて説明する。検体測定工程１３１００と内部標準液測定工程１３２００は、実際には、それぞれ検体測定サイクル及び内部標準液測定サイクルの期間内だけで完結するわけでは無く、お互いにオーバーラップしながら実行される。これにより、時間効率を高めることができる。

例えば、検体測定工程１３１００の前半の工程は、内部標準液測定工程１３２００の後半の期間に行い、内部標準液測定工程１３２００の前半の工程は、検体測定工程１３１００の後半の期間に行うことができる。換言すると、図１１及び図１２上の時間軸の原点は任意に選択可能である。また、各工程の後処理と次の工程の前処理をいずれの工程に属するとみなすかも任意である。

例えば、検体測定工程１３１００及び内部標準液測定工程１３２００は、図１１の途中から開始される。ここでは、図１１のタイムチャート上の原点からでは無く、前述のフローチャートの時間軸に沿って動作の概要を説明する。

次に、タイムチャートの全体的な流れについて説明する。検体測定工程１３１００を、図１１の内部標準液測定サイクルにおける時刻３．５秒から開始した。希釈槽廃液工程１３１１０を時刻３．５秒から４．６秒の間で実施し、検体分注工程１３１２０を時刻４．６秒から５．２秒の間で実施し、希釈液分注工程１３１３０を時刻５．２秒から６．０秒までの間に実施した。

次に、測定溶液導入工程１３１４０を、図１２の検体測定サイクルにおける０．０秒から１．８秒の間で実施し、希釈槽廃液工程１３１１０を時刻１．８秒から２．４秒の間で実施し、希釈槽洗浄工程１３１５０を時刻２．４秒から３．５秒、電位計測工程１３１６０を時刻５．６秒から６．０秒までの間に実施した。

内部標準液測定工程１３２００も同様に、図１２の検体測定サイクルにおける時刻３．５秒から開始した。希釈槽廃液工程１３２１０を時刻３．５秒から４．６秒の間で実施し、内部標準液分注工程１３２２０を時刻４．６秒から６．０秒までの間で実施した。次に、測定溶液導入工程１３２４０を図１１の内部標準液測定サイクルにおける時刻０．０秒から１．８秒までの間で実施し、希釈槽廃液工程１３２１０を時刻１．８秒から２．４秒までの間で実施し、希釈槽洗浄工程１３２５０を時刻２．４秒から３．５秒までの間で実施し、電位計測工程１３２６０を時刻５．６秒から６．０秒までの間で実施した。

廃液排出操作に関しては、図１１の内部標準液測定サイクルにおける時刻４．３秒からＶ２ラインを減圧する。その後、時刻４．７秒から廃液を吸引容器Ｔ１から移送排出流路Ｄへ移送し、時刻５．５秒から再びＶ２ラインを大気圧へ戻した。また、図１２の検体測定サイクルにおける時刻０．０から時刻５．０秒までの間で廃液を移送排出流路Ｄからドレインへ排出し、時刻５．０秒に廃液排出操作を完了した。

以上のように、希釈槽廃液工程１３１１０、１３２１０は、廃液の移送又は排出と同時に並行して遂行することができる。

次に、タイムチャートの詳細、特に本実施例の主要な構成要素の一つである廃液機構３０を構成する電磁弁などの動作について詳細に説明する。

概略を説明すると、制御装置１１０は、減圧排気系（排気ポンプ１４００）によって、Ｖ０ラインを介して、吸引容器Ｔ１を含むＶ１ライン、及び、排出部（移送排出流路Ｄ）を含むＶ２ラインを減圧排気する。制御装置１１０は、電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を制御し、希釈槽２１１０から廃液を吸引する。制御装置１１０は、吸引容器Ｔ１に廃液を吸引する操作と並行して、排出部（移送排出流路Ｄ）を排気ポンプ１４００に接続し、排気ポンプ１４００によって移送排出流路Ｄを含むＶ２ラインを減圧排気するように制御する。次に、制御装置１１０は、吸引容器Ｔ１を移送排出流路Ｄに接続し、移送排出流路Ｄに廃液を移送するように制御する。制御装置１１０は、移送排出流路Ｄに廃液を移送した後に、吸引容器Ｔ１と移送排出流路Ｄとの間及び排気ポンプ１４００と移送排出流路Ｄとの間を遮断し、吸引容器Ｔ１（Ｖ１ライン）の減圧を維持したまま、移送排出流路Ｄ（Ｖ２ライン）を大気解放するように制御する。

図１１及び図１２のタイムチャートに図示しない初期化工程１１０００において、電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を非通電（閉止、非吸引モード）、電磁弁ＳＶＢを非通電（閉止、非移送モード）、電磁弁ＳＶＣを非通電（閉止、非排出モード）、電磁弁ＳＶＤを通電（抵抗管Ｒと排気管Ｍの間を接続、減圧モード）とする。排気ポンプ１４００を動作すると、排気管Ｊ内の空気が排気管Ｋを経由して系外（即ち大気）へ排出され、Ｔ字管Ｓ２以降の同一系内の他の配管、部品（排気管Ｈ、Ｍ、即ち前述のＶ０ラインの内部）も同様に減圧される。電磁弁ＳＶＤを経由して、移送排出流路Ｄ、移送流路ＣなどのＶ２ラインも、抵抗管Ｒの作用によりＶ０ラインよりやや遅れて、減圧される。一方、排気管Ｇ以降の排気管Ｇ、吸引容器Ｔ１、移送流路Ｂ、廃液流路Ａ１〜Ａ９などのＶ１ラインも、圧力調節機構１３００（逆止弁）を経由して減圧される。本実施例で採用した逆止弁には約１０ｋＰａの圧力損失があるため、Ｖ１ラインの圧力Ｐ１は、Ｖ０ラインの圧力Ｐ０と比較して、この圧力損失だけ高い圧力となる（つまりＰ１＞Ｐ０）。

減圧を開始してから約１秒後、系内の圧力が概ね安定したところで、吸引容器Ｔ１内に残っている可能性のある廃液を排出する。廃液排出操作については後述する。廃液排出操作を必要数繰り返すことにより、吸引容器Ｔ１内に残っている可能性のある廃液を全て排出する。

廃液の排出を開始してから約１分後、全ての廃液の排出が完了した時点で、電磁弁ＳＶＤの通電を停止し（抵抗管Ｒとリーク管Ｎの間を接続、リークモード）、Ｖ２ラインを大気圧に解放する。ここで大気圧に解放されるのはＶ２ラインだけであり、Ｖ１ラインや、Ｖ０ラインの減圧は維持される。

以上、廃液機構３０の初期化工程が完了した時点において、Ｖ０ラインは約−９５ｋＰａ（ゲージ圧、以下同様）の真空度に到達する。

図１３は、本実施例に基づく廃液機構３０におけるＶ１、Ｖ２ラインの圧力の測定結果である。図１３の時刻０．０秒に示すとおり、Ｖ１ラインの圧力は約−８５ｋＰａ、Ｖ２ラインの圧力は約０Ｋｐａ（大気圧）である。この時点で、電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９は閉（非吸引モード）、電磁弁ＳＶＢは閉（非移送モード）、電磁弁ＳＶＣは閉（非排出モード）、電磁弁ＳＶＤはリーク管Ｎに接続されている（リークモード）。

図１１の内部標準液測定サイクルの開始時刻ｔ＝０．０〜１．９（単位：秒、以下同様）の測定溶液導入工程１３２４０において、希釈槽２１１０に分注された内部標準液をＩＳＥの流路に導入する。
ｔ＝１．８の希釈槽廃液工程１３２１０において、電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を開く（吸引モード）。ここでは、電磁弁ＳＶＡ１を開いた例で説明する。この場合、Ｖ１ラインの約−８５ｋＰａの高い減圧状態が直ちに廃液ノズル３１０１に提供され、希釈槽２１１０の内部の液（ＩＳＥに導入されなかった内部標準液の残りなど）は廃液ノズル３１０１、電磁弁ＳＶＡ１、及び廃液流路Ａ１を通して、吸引容器Ｔ１に吸入される。このように、制御装置１１０は、複数の電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００のうちの所定の測定ユニットと廃液流路Ａ１とを電磁弁ＳＶＡ１を介して接続したとき、複数の電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００のうちの他の測定ユニットと廃液流路Ａ２〜Ａ９とを接続する電磁弁ＳＶＡ２〜ＳＶＡ９を閉じるように、換言すると互いの位相をずらす様に、制御してもよい。
ｔ＝２．４において電磁弁ＳＶＡ１を閉じ、非吸引モードに戻し、吸入を停止する（以下、元の状態に戻す場合の説明は省略する）。
ｔ＝２．４〜３．５の希釈槽洗浄工程１３２５０において、希釈槽２１１０にシステム水を注入して洗浄する。
ｔ＝３．５〜４．６の希釈槽廃液工程１３１１０において、上記希釈槽廃液工程１３２１０と同様、希釈槽２１１０の内部の洗浄液の残りなどを、吸引容器Ｔ１に吸入する。
ｔ＝４．６〜５．２の検体分注工程１３１２０において、検体を希釈槽２１１０に分注する。
ｔ＝５．２〜６．０の希釈液分注工程１３１３０において、希釈液を希釈槽２１１０に注入し、吐出撹拌により検体を希釈し、検体の測定溶液を調製する。
ｔ＝５．６〜６．０の電位計測工程１３２６０において、ＩＳＥを用いて内部標準液の電位を計測する。

上記の廃液吸引操作と並行して、廃液排出操作を行う。具体的には、図１１におけるｔ＝４．３〜において電磁弁ＳＶＤに通電し、抵抗管Ｒを排気管Ｍに接続する（Ｖ２減圧モード）。すると図１３に示すとおり、Ｖ２ラインの減圧が開始される。抵抗管Ｒから排気管Ｍへ流入する空気はＴ字管Ｓ２を経由して排気管Ｊや排気ポンプ１４００へ流入するばかりでなく、排気管Ｈへも逆流する。図１３の約４．４秒付近に見られるＶ１圧力のわずかな上昇は、この逆流に起因すると考えられる。この逆流が続くと、Ｖ０ラインの圧力がＶ１ラインのそれより高くなる。この差圧が圧力調節機構１３００（逆止弁）の逆止差圧を超えると、逆止弁が閉止する。これにより、排気管Ｈから排気管Ｇへ空気がそれ以上逆流してＶ１ラインの減圧が破壊される不具合は生じない。

本実施例では、圧力調節機構１３００（逆止弁）が閉止した時点でのＶ１ラインの圧力Ｐ１は、図１３に示す通り約−８０ｋＰａと、逆流前より５ｋＰａ程度と無視できる程の僅かな上昇にとどめることができた。つまり、圧力調節機構１３００（逆止弁）の作用により、Ｖ１ラインの真空度はほとんど損なわれることなく、減圧が維持されるという効果がある。制御装置１１０は、廃液排出操作において、Ｖ２ラインを減圧排気するとき、Ｖ２ラインの気圧が吸引容器Ｔ１内の気圧よりも低くなるように制御する。図１３に示すように、減圧開始後、時間経過とともにＶ２（並びにＶ０）系内の減圧度はさらに高まる。Ｖ２ラインの圧力Ｐ２はｔ＝約４．６頃にＶ１ラインの圧力Ｐ１と均衡する。さらに、ｔ＝約４．７頃に約−９０ｋＰａに到達する。即ちＰ２＜Ｐ１となる。

Ｖ０ラインの圧力Ｐ０は、Ｖ２の減圧に連動して低下し、Ｐ０がＶ１ラインの圧力Ｐ１より十分に下回った段階で、前述同様、圧力調節機構１３００（逆止弁）が開き、排気管Ｇから排気管Ｈへの排気が開始される。Ｐ１は、Ｐ０と比較して、逆止弁の圧力損失相当分だけ高くなる。つまりＶ１ラインの圧力は約−８５ｋＰａに向かって収束してゆく。

ｔ＝４．７〜において電磁弁ＳＶＢを開く（移送モード）。すると、それまでの（連続サイクルの場合は４回の）廃液吸引動作の結果として、吸引容器Ｔ１の内部に蓄積された廃液が、前述のＶ１ラインとＶ２ラインの間の圧力差（Ｐ１−Ｐ２、以下ΔＰと記す）を駆動力として、移送流路Ｂ、電磁弁ＳＶＢ、移送流路Ｃ、及び移送排出流路Ｄへ圧送される。ΔＰは図１３に示すとおり約８ｋＰａと比較的大きいため、流路の途中に気泡などの障害があってもそれらは廃液ととともに圧送され、目詰まりなどの不具合を起こすおそれがないという効果がある。また、抵抗管Ｒの作用により、移送排出流路Ｄから抵抗管Ｒへの気体の流量は抑制され、従って、廃液の流量も抑制される。これにより、廃液は、激しすぎない線速度で移送排出流路Ｄの内部を上昇することになる。適切なタイミング、即ち本実施例の場合はｔ＝５．４で電磁弁ＳＶＢを閉じる（非移送モード）ことにより、廃液は移送排出流路Ｄ内部にとどまる。従って、廃液が抵抗管Ｒや電磁弁ＳＶＤなどのＶ０ラインへ混入するおそれがないという効果がある。

なお、ΔＰ（＝Ｐ１−Ｐ２）は大きいほど廃液を強く圧送でき、目詰まりなどの不具合を回避しやすい効果がある。ここでＰ２の下限は完全真空の場合、つまり絶対圧で０ｋＰａ、ゲージ圧で約−１０１．３２５ｋＰａの場合である。換言するとΔＰの理論上の上限値は約Ｐ１＋１０１（ゲージ圧の場合、以下同様）と表せる。現実にはＰ２の下限はＶ０ラインの圧力Ｐ０で規定され、Ｐ０は排気ポンプ１４００の性能によって規定される。例えば、本実施例で採用した排気ポンプ１４００の場合、その真空到達度即ちＰ０の下限値は約−９５ｋＰａであるから、ΔＰの実際的な上限は約Ｐ１＋９５となる。一方、Ｐ１は低い方が（希釈槽から吸引容器Ｔ１への）廃液吸引能力が高いため、Ｐ１は可能な限り低く設定することが一般には好ましい。しかし、Ｐ１をあまり低くしすぎると（Ｐ０やＰ２が固定の場合）、ΔＰを十分に確保できないおそれが生じる。本実施例では廃液吸引能力の観点からＰ１を約−８０ないし−８５ｋＰａの範囲に設定し、廃液圧送に必要な圧力差ΔＰとして約８ｋＰａを設定し、それに必要なＰ２として−９３ｋＰａ以下を求め、この要求を満たす排気ポンプとして、Ｐ０に相当する定格約−９５ｋＰａのＵｌｖａｃ社ＤＡＰ−６Ｄ型を採用した。

一般に廃液吸引能力の観点から必要なＰ１を設定し、その上で、廃液圧送に必要な圧力差ΔＰを設定し、Ｐ２を求め、最後にＰ２を下回るＰ０を有する排気ポンプ１４００をコストパフォーマンスや占有容積、廃熱、消費電力などを考慮して選定するという設計手順を踏むことができる。

廃液圧送のための圧力差ΔＰとしては、本実施例で採用した電磁弁や配管などの組合せにおいては上述の通り約８ｋＰａが要求を満たしかつ性能バランスが良好であった。一般にΔＰとして約１ｋＰａないし３０ｋＰａ、より好ましくは約３ｋＰａないし１５Ｋｐａ、さらに好ましくは約５ｋＰａないし１０Ｋｐａを採用することができる。

ｔ＝５．５〜において、電磁弁ＳＶＤを非通電（リークモード）とする。すると、リーク管Ｎから空気が流入し、電磁弁ＳＶＤ、抵抗管Ｒ、やや遅れて移送排出流路Ｄ、移送流路Ｃ、及び排出流路ＥまでのＶ２ラインが大気圧に戻る。しかし、Ｖ１ラインやＶ０ラインは減圧状態を維持する。

図１２の検体測定サイクルにおけるｔ＝０．０において電磁弁ＳＶＣを開く（排出モード）。すると、移送排出流路Ｄ内部の廃液が、重力により、Ｔ字管Ｓ１、排出流路Ｅ、電磁弁ＳＶＣ、及び排出流路Ｆを経由して、廃液容器１５００へ排出される。ｔ＝５において、電磁弁ＳＶＣを閉じる（非排出モード）。この時点で、一連の廃液排出操作が完了する。

本実施例では、排出モードの持続時間は余裕を見て５秒間としたが、廃液の排出には約１秒もあれば十分であった。従って、電磁弁ＳＶＣを閉じるタイミングは、例えばｔ＝２．０やｔ＝１．０でも構わない。前述の初期化工程ではこの短いシーケンスを採用することができる。

並行して、ｔ＝０．０〜１．８の測定溶液導入工程１３１４０において、希釈槽２１１０に準備した希釈済みの検体液をＩＳＥの流路に導入する。
ｔ＝１．８〜の希釈槽廃液工程１３１１０において、前述同様、電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を開く（吸引モード）。この工程において、廃液したい希釈槽に対応する電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を適宜選択すればよい。すると、希釈槽２１１０の内部の検体の残液などは吸引容器Ｔ１に吸入される。
ｔ＝２．４において電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を閉じ、非吸引モードに戻し、吸入を停止する。
ｔ＝３．５〜４．６の希釈槽廃液工程１３２１０においても同様に、電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を開いて吸引モードとする。この工程において、廃液したい希釈槽に対応する電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を適宜選択すればよい。これにより、希釈槽２１１０の内部の洗浄液の残りなどを吸引容器Ｔ１に吸入する。
ｔ＝４．６〜の内部標準液分注工程１３２２０において、内部標準液を希釈槽２１１０に分注する。
ｔ＝５．６〜６．０の電位計測工程１３１６０において、ＩＳＥを用いて希釈された検体液の電位を計測する。
ｔ＝６において、検体測定サイクルは完了し、引き続き測定すべき検体がある場合は、次の内部標準液測定サイクルが開始される。

引き続き測定すべき検体がない場合は、以下の立下げ工程１５０００の廃液機構関連の動作を実行する。図１１及び図１２のタイムチャートに図示しない立下げ工程１５０００において、前述の廃液排出操作を行い、吸引容器Ｔ１内に残っている可能性のある廃液を全て排出する。測定溶液吸引ノズル２１５２用の駆動機構を用いて、測定溶液吸引ノズル２１５２を希釈槽２１１０から引き上げる。電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を通電（開、吸引モード）とし、吸引容器Ｔ１内へ大気を導入する。並行して、排気ポンプ１４００を停止するとともに、電磁弁ＳＶＤの通電を停止する（抵抗管Ｒとリーク管Ｎの間を接続、リークモード）。大気を導入してから約５秒後に、Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２ラインが概ね大気圧に戻る。電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９を非通電（閉、非吸引モード）に戻し、電磁弁ＳＶＢは閉（非移送モード）、電磁弁ＳＶＣは閉（非排出モード）、電磁弁ＳＶＤはリーク管Ｎに接続する（リークモード）。以上により、立下げ工程１５０００の廃液機構関連の動作が完了する。

上述の通り、制御装置１１０は、少なくとも、排出部（移送排出流路Ｄ）が減圧排気されている間及び大気解放されている間、吸引容器Ｔ１を減圧排気するように制御する。従来技術と異なり、測定ユニットでの測定中では、吸引容器Ｔ１は常時減圧された状態となる。したがって、吸引容器Ｔ１は、移送排出流路Ｄが減圧排気されている間及び大気解放されている間も、常に減圧された状態であり、これによって、吸引容器Ｔ１は、任意のタイミングで廃液を吸引できるという、従来にない、特有の効果がある。

また、本実施例の廃液方法は、排気ポンプ１４００によって吸引容器Ｔ１を減圧排気する工程と、電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００から第１廃液（例えば、内部標準液の残りなど）を吸引容器Ｔ１に吸引する工程（例えば、図１１の廃液工程１３２１０）と、吸引容器Ｔ１を大気解放せずに、電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００から第２廃液（例えば、洗浄液など）を吸引容器Ｔ１に吸引する工程（例えば、図１１の廃液工程１３１１０）と、吸引容器Ｔ１内の第１廃液及び第２廃液の混合液を移送排出流路Ｄへ移送する工程（例えば、図１１の時刻４．７〜５．４秒の移送）と、を含む。従来技術と異なり、本実施例では、並行して実施される複数の工程で使用された液体を任意のタイミングで自由に廃液機構３０によって吸引することができる。例えば、上述の通り、第１廃液の吸引と第２廃液の吸引とを、吸引容器Ｔ１を大気解放することなしに、連続して実施することができる。この効果は、上述の通り、吸引容器Ｔ１が常時減圧された状態であることから得られる。

以上の動作は特定の電解質測定ユニット２１００の測定サイクルを基準として説明した。しかし、他の電解質測定ユニット２２００、…、２９００を同じ位相で運用した場合、及び、他の電解質測定ユニット２２００、…、２９００のそれぞれを位相をずらして運用した場合でも、本実施例による廃液機構３０において、吸引容器Ｔ１の内部は常に約−８０ｋＰａ以下の減圧状態に保たれる。従って、複数の電解質測定ユニットを用いる場合でも、どの電解質測定ユニットについても、いつでも廃液吸引を行えるという特有の効果がある。これにより、スループットが高く、タイミング設計が容易な廃液装置を提供できる。

本実施例の自動分析装置は、試料を測定する測定部を含む複数の電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００と、第１経路を介して複数の電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００と接続された吸引容器Ｔ１と、第２経路を介して吸引容器Ｔ１と接続された減圧排気系と、第３経路を介して前記吸引容器に接続された排出部と、複数の電解質測定ユニット２１００、２２００、…、２９００における測定時に、減圧排気系によって吸引容器Ｔ１を減圧排気するように制御する制御装置１１０とを備える。本例では、第１経路は、廃液流路Ａ１〜Ａ９である。第２経路は、吸引容器Ｔ１と排気ポンプ１４００との間に配置された排気管Ｇ、Ｈ、Ｊである。また、第３経路は、吸引容器Ｔ１と移送排出流路Ｄとの間に配置された移送流路Ｂ、移送流路Ｃである。排出部は、廃液を一時的に溜めておくための空間を提供する流路及び／又は容器であり、本例では、移送排出流路Ｄである。また、本例では、圧力調節機構１３００が排気管ＧとＨの間に配置されている。

次に、本実施例の効果を説明する。以上の説明から明らかな通り、本実施例では初期化工程１１０００が完了してから立下げ工程１５０００を行うまでの間、換言すると、内部標準液測定サイクルと検体測定サイクルを交互に連続して繰り返す間、吸引容器Ｔ１の内部は常に約−８０ｋＰａ以下の減圧状態に保たれる。これには、Ｖ２ラインを大気圧から減圧する際に、Ｖ０ラインを経由してＶ１ラインへ空気が逆流することを、圧力調節機構１３００（逆止弁）により阻止したことも貢献している。排出部（移送排出流路Ｄ）の真空引き直しの際、圧力調節機構１３００の作用により、減圧排気系からの空気の逆流を阻止し、吸引容器Ｔ１の減圧を所定圧以下に維持する。従って、本実施例は、希釈槽２１１０からの廃液工程１３２１０、１３１１０を、例示したタイミングにかかわらず、任意の時刻において実施することが可能である。従って複数ユニットから廃液吸引を行うなどの場合にタイミング設計が容易でスループットが高いという特有の効果がある。

実際、本実施例では、内部標準液測定サイクルにおける希釈槽廃液工程１３１１０と、廃液排出操作の最初の工程（Ｖ２ラインの減圧）とを一部オーバーラップさせて実行するという難易度の高いシーケンスを採用したが、吸引容器Ｔ１の内部は常に約−８０ｋＰａ以下の減圧状態に保たれたため、希釈槽２１１０からの廃液吸引に何ら支障を来さずに遂行できた。また、本実施例は廃液を溜めておくためのタンク類を１つしか必要としないという特有の効果がある。従って、本実施例は、単位設置面積あたりの処理能力が高いという効果がある。

一方、従来の技術（特許文献２）では、一次減圧付容器が大気圧に解放される期間があり、この期間では廃液を吸引できず、ループットが低い、という課題がある。また、特許文献２の構成は、大きな体積を占有する２個の真空容器が必要であり、設置面積が大きいという課題もある。つまり、本実施例と従来の技術を比較すると、本実施例は、真の意味で廃液の「常時」真空吸引が可能であり、スループットが高く、かつ、単位設置面積当たりの処理能力が高いという効果がある。

［実施例２］
図１４は、実施例２による廃液機構３０Ｂの構成概略図である。本実施例では、三方電磁弁ＳＶＤ（１２２０）の代わりに、二方電磁弁ＳＶＤ１（１２２２）とＳＶＤ２（１２２３）が使用され、それに伴ってＴ字管Ｓ３、排気管Ｑ１、Ｑ２が使用される。また、廃液の移送の際はＶ２ラインの排気を止める。

本実施例の動作は、実施例１による廃液機構３０の動作と基本的に類似しているが、以下の点で異なる。実施例１において三方電磁弁ＳＶＤをリーク管Ｎ側に接続する工程は、本実施例において、二方電磁弁ＳＶＤ１を開け、二方電磁弁ＳＶＤ２を閉じる工程に変更される。また、実施例１において三方電磁弁ＳＶＤを排気管Ｍ側に接続する工程に関しては、本実施例において、二方電磁弁ＳＶＤ１を閉じ、二方電磁弁ＳＶＤ２を開ける工程に変更される。これにより、本実施例は、実施例１と同等の機能を発揮する。

また、本実施例は実施例１とは異なる以下の動作を行うことができる。具体的には、廃液排出操作において、ｔ＝４．３〜のＶ２減圧を行い、Ｐ２＜Ｐ１とした後、ｔ＝４．７〜において（電磁弁ＳＶＢを開いて移送モードを開始する前に）、予め二方電磁弁ＳＶＤ２を閉じる。二方電磁弁ＳＶＤ２が閉じた直後に電磁弁ＳＶＢを開いて移送モードを開始すると、二方電磁弁ＳＶＤ２が閉じているために、移送排出流路Ｄへ圧送される廃液の流量が抑制され、移送排出流路Ｄの内部を廃液が上昇する線速度を容易に制御できる。つまり、廃液を完全に移送排出流路Ｄ内部にとどめ、廃液が抵抗管Ｒや電磁弁ＳＶＤなどのＶ０ラインへ混入するおそれを払拭できるという特有の効果がある。

［実施例３］
図１５は、実施例３による廃液機構３０Ｃの構成概略図である。廃液機構３０Ｃの構成は、実施例２による廃液機構３０Ｂと類似しているが、（二方）電磁弁ＳＶＢと（通常の）三方電磁弁ＳＶＣの代わりに、中点ＯＦＦ型の三方電磁弁ＳＶＣ（１２１１）が使用される。また、二方電磁弁ＳＶＤ１とＳＶＤ２の代わりに、中点ＯＦＦ型の三方電磁弁ＳＶＤ（１２２１）が使用される点で異なる。また、本実施例では、移送流路Ｃ、排出流路Ｅ、Ｔ字管Ｓ１、Ｓ３、排気管Ｑ１、Ｑ２が省略されている点で実施例２と異なる。なお、Ｔ字管Ｓ２は、図示を省略した（以下、Ｔ字管類は同様に図示を省略する）。

図１６は、本実施例における中点ＯＦＦ型の三方電磁弁の概略構成図である。三方電磁弁１６００は、可動部１６０２を有する弁座１６０１と、ポート切換制御部１６０３とを備える。弁座１６０１には、ＮＣ１ポート１６０４、ＮＣ２ポート１６０５、及びＣＯＭポート１６０６が接続されている。可動部１６０２は、２本の流路１６０７、１６０８を有する。ポート切換制御部１６０３は、固定鉄心１６１０と、コイル１６１１と、永久磁石１６１３と、コイル１６１１の間を上下方向に移動する可動磁芯１６１２とを備える。可動磁芯１６１２は、連結棒１６１５を介して弁座１６０１の可動部１６０２に接続されている。また、可動磁芯１６１２は、バネ１６１４を介して連結棒１６１５に取付けられている。

図１７Ａ〜図１７Ｃは、本実施例における中点ＯＦＦ型の三方電磁弁の動作を説明する図である。コイル１６１１の電流がゼロの場合は、図１７Ａに示す通り、可動磁芯１６１２は永久磁石１６１３とバネ１６１４の力がつり合う中間点で停止する。このとき、弁座１６０１の可動部１６０２の２本の流路１６０７、１６０８は、ＮＣ１ポート１６０４、ＮＣ２ポート１６０５、及びＣＯＭポート１６０６のいずれのポート間も接続しない位置にある。即ち、弁座１６０１の可動部１６０２は、（中点）ＯＦＦポジションを取る。

コイル１６１１に対して第１方向に電流を流す（プラスの電流を流す）と、図１７Ｂに示す通り、コイル１６１１による磁力が永久磁石１６１３やバネ１６１４の力に打ち勝って可動磁芯１６１２が図の上方向に移動し、第１ポジションで停止する。このとき、弁座１６０１の可動部１６０２の流路１６０８は、ＣＯＭポート１６０６とＮＣ１ポート１６０４とを接続するような位置で停止する。即ち、弁座１６０１の可動部１６０２は、ＮＣ１ポジションを取る。

コイル１６１１に対して第２方向に電流を流す（マイナスの電流を流す）と、図１７Ｃに示す通り、コイル１６１１による磁力が永久磁石１６１３の力に打ち勝って可動磁芯１６１２が図の下方向に移動し、第２ポジションで停止する。このとき、弁座１６０１の可動部１６０２の流路１６０７は、ＣＯＭポート１６０６とＮＣ２ポート１６０５とを接続するような位置で停止する。即ち、弁座１６０１の可動部１６０２は、ＮＣ２ポジションを取る。

従来の通常のダイヤフラム式の三方電磁弁は、電圧のＯＮ／ＯＦＦに対応して、ＣＯＭポートがＮＣ１かＮＣ２のいずれかに接続され、いずれにも接続されない状態は取れない。一方、本実施例による中点ＯＦＦ型の三方電磁弁１６００は、電圧をかけない場合に中点、即ちＯＦＦポジションを取り、ＣＯＭポートがどこにも接続されない状態を実現できるという効果がある。

本実施例の動作は、実施例２による廃液機構３０Ｂと基本的に類似しているが、以下の点で異なる。実施例２において二方電磁弁ＳＶＤ１を開け、二方電磁弁ＳＶＤ２を閉じる工程は、本実施例においては、中点ＯＦＦ型の三方電磁弁ＳＶＤ（１２２１）をリーク管Ｎ側に接続する工程に変更される。実施例２において二方電磁弁ＳＶＤ１を閉じ、二方電磁弁ＳＶＤ２を開ける工程は、本実施例においては、中点ＯＦＦ型の三方電磁弁ＳＶＤ（１２２１）を排気管Ｍ側に接続する工程に変更される。実施例２において二方電磁弁ＳＶＤ１と二方電磁弁ＳＶＤ２を共に閉じる工程は、本実施例においては、中点ＯＦＦ型の三方電磁弁ＳＶＤ（１２２１）を中点ＯＦＦのポジションに設定し、（抵抗管Ｒに接続した）ＣＯＭポート１６０６を他の何れのポートからも遮断する工程に変更される。これにより、本実施例は、実施例２と同等の機能を発揮する。

また、実施例２において二方電磁弁ＳＶＣを開ける工程は、本実施例においては、中点ＯＦＦ型の三方電磁弁ＳＶＣ（１２１１）の（移送排出流路Ｄに接続した）ＣＯＭポート１６０６を排出流路Ｆに繋がるポートに接続する工程に変更される。実施例２において二方電磁弁ＳＶＢを開ける工程は、本実施例においては、中点ＯＦＦ型の三方電磁弁ＳＶＣ（１２１１）のＣＯＭポート１６０６を移送流路Ｂに繋がるポートに接続する工程に変更される。また、実施例２において二方電磁弁ＳＶＣと二方電磁弁ＳＶＢとを閉める工程は、本実施例においては、中点ＯＦＦ型の三方電磁弁ＳＶＣ（１２１１）のＣＯＭポート１６０６を中点ＯＦＦのポジションに設定し、ＣＯＭポート１６０６を他の何れのポートからも遮断する工程に変更される。これにより、本実施例は、実施例２と同等の機能を発揮する。

本実施例は、構成要素の部品点数が少なく、設置面積が少なく、また、コストが低いという特有の効果がある。また、本実施例は、設置面積当たりのパフォーマンスが高いという特有の効果がある。

［実施例４］
図１８は、実施例４による廃液機構３０Ｄの構成概略図である。廃液機構３０Ｄの構成は実施例３による廃液機構３０Ｃと類似しているが、移送排出流路Ｄと抵抗管Ｒとの間に排出部材Ｔ２（１２００）を設ける点、及び、抵抗管Ｒの代わりに排気管Ｌが用いられる点で異なる。本例において、廃液を一時的に溜めておく排出部は、移送排出流路Ｄ及び排出部材Ｔ２である。

排出部材Ｔ２は、内部に廃液を収納可能な気密な部材であり、配管接続口を備える。排出部材Ｔ２の上端に排気管Ｌが接続され、排出部材Ｔ２の下端に移送排出流路Ｄが接続される。排出部材Ｔ２として、吸引容器Ｔ１と同程度の底面積、吸引容器Ｔ１よりも小さい高さを有する容器を採用できる。また、排出部材Ｔ２として、チューブ、配管、パイプなどが採用されてもよい。

本実施例の動作は、実施例３と類似しているが、廃液排出操作の移送モードにおいて、廃液を移送排出流路Ｄへ圧送し、そして、移送排出流路Ｄを通過して排出部材Ｔ２まで圧送する点で異なる。排出部材Ｔ２の内容積は、移送排出流路Ｄの内容積と比較して数倍ないし数百倍大きいため、大量の廃液を保持できる、という特有の効果がある。

なお、排出部材Ｔ２内部を脱気する際に、比較的多量の空気を排出する必要があるため、抵抗管Ｒの代わりに排気管Ｌを用いることにより、空気の流通抵抗を低減し、排気に要する時間を短縮する。

本実施例による廃液機構３０Ｄは、排出部材Ｔ２に大量の廃液を保持できるため、廃液排出操作１サイクルのあたりの処理能力が高く、電解質測定ユニットを多数設ける場合などに発生する大量の廃液処理にも容易に対応可能という特有の効果がある。また、電解質測定ユニットばかりでなく、後述する比色ユニットなど、大量の廃液を吸引除去する必要がある他の用途にも容易に適用できるという特有の効果がある。

［実施例５］
図１９は実施例５による廃液機構３０Ｅの構成概略図である。廃液機構３０Ｅの構成は、実施例１による廃液機構３０と実施例４による廃液機構３０Ｄの組合せに類似しているが、廃液の移送流路として、排出部材Ｔ２の上部に接続される一端を有する移送流路Ｃ２が使用される点で異なる。排出部材Ｔ２の設置高さは、好ましくは、吸引容器Ｔ１の設置高さよりも低い。

本実施例の動作は、実施例４の動作と類似しているが、廃液排出操作の移送モードにおいて、廃液を移送流路Ｃ２から移送排出流路Ｄを経由せずに直接排出部材Ｔ２へ圧送し、排出部材Ｔ２の内部で鉛直上方から下方へ向かって廃液を噴出する点で異なる。この廃液の速度ベクトルは基本的に鉛直下向きであるため、入り口が鉛直上向きに配置された排気管Ｌへ液滴などが回り込みにくい。従って、廃液によってＶ２ライン、ひいてはＶ０ラインが汚染されるリスクが極めて少ない、という特有の効果がある。排出部材Ｔ２の内部にバッフル板などの障壁を設けることにより、このリスクをさらに低減することも可能である。

［実施例６］
図２０は、実施例５による比色自動分析装置４０の構成概略図である。比色自動分析装置４０は、中央制御装置２１と、廃液機構３２と、比色測定ユニット４０００とを備える。比色測定ユニット４０００は、複数の測光セル（図示省略）と、廃液ノズル４１１０〜４１９０と、廃液ノズル４１１０〜４１９０の駆動機構（図示省略）などを備える。

廃液ノズル４１１０〜４１９０は、電磁弁ＳＶＡ１（３１１０）〜ＳＶＡ９（３９１０）などを経由して、廃液機構３２の中枢部１００へ接続される。図２０は、測光セルや廃液ノズルの数が９である場合を例示しているが、数十ないし百以上の測光セルを備え、１０以上の廃液ノズルを備える比色自動分析装置が実用化されている。

次に、本実施例の動作の概略を説明する。比色自動分析装置４０は、各測光セルの内部に試料を分注し、その後、試薬を添加、反応、呈色させ、吸光度の変化により試料中の目的成分の濃度を定量する。測定終了後、洗浄工程を実施する。具体的には、まず洗浄液注入機構（図示省略）を用いて測光セルに洗浄液を注入して洗浄する。洗浄後の洗液（廃液）は、図２０に模式的に示した通り、廃液ノズル４１１０〜４１９０を用いて排出する。洗浄液による洗浄後、同様に純水を用いて同様に測光セルの洗浄を行う。最後に、各測光セルの内部に微量残留した純水を、廃液ノズル４１１０〜４１９０を用いて排出する。以上の洗浄工程が完了した後、測光セルは再び試料の測定に供される。以上の動作は中央制御装置２１によって、ユーザの指示の下、自動的に遂行される。

洗液や純水などの測光セルからの排出の具体的な操作は他の実施例と同様であり、減圧機構を備えた廃液機構３２の内部に廃液を減圧吸引し、最終的に廃液を排液ドレインへ排出する。本実施例では、廃液機構３２として、実施例５に記載の廃液機構３０Ｅと同等のものを採用する。

本実施例による廃液機構３２は、測定サイクル中のいかなるタイミングにおいても廃液を減圧吸引できるため、比色自動分析装置の動作シーケンスの設定自由度が高く、結果的に測定を高スループットに行うことができる、という特有の効果がある。この効果は特にサイクルタイムを極限まで短縮した最新型の比色自動分析装置において、より顕著に発揮される。本発明による廃液機構を応用した生化学自動分析装置の比色計測系は、動作タイミングの裕度が広く、シーケンスを柔軟に組めるため、スループットが高い、という特有の効果がある。

以下に、上述した複数の実施例の効果を説明する。自動分析装置の第１の構成は、試料を測定する測定部を含む複数の測定ユニットと、前記複数の測定ユニットと第１経路を介して接続された吸引容器と、前記吸引容器に接続された減圧排気系と、前記吸引容器と接続された排出部と、前記測定ユニットにおける測定時には、前記減圧排気系によって前記吸引容器を常時減圧排気するように制御する制御部とを備える。

上述の構成は、常時減圧状態に維持された吸引容器を備えるため、１つの廃液機構を用いて複数の測定ユニットからの廃液吸引をいつでも行うことができるという効果がある。従って、多数の測定ユニットを備える場合でも廃液機構は１つで済むため、占有面積を低減でき、設置面積当たりのスループットを改善できるという効果がある。また、上述の一部の実施例は、吸引容器を１つしか必要としない。従って、部品数を削減でき、メンテナンスの労力と時間が軽減し、コストも低いという効果がある。

また、自動分析装置の第２の構成において、前記吸引容器に廃液を溜めている間、前記排出部は前記減圧排気系に接続され、減圧排気される。また、前記排出部から前記廃液を排出する間は、前記排出部と前記減圧排気系とは遮断され、前記排出部が大気解放される。

また、自動分析装置の第３の構成において、前記第１経路と前記複数の測定ユニットとは、それぞれ弁を介して接続されている。所定の前記測定ユニットと前記第１経路とが前記弁によって接続されている間、他の前記測定ユニットと前記第１経路とを接続する他の弁は閉じるように制御される。

また、自動分析装置の第４の構成において、前記排出部から前記廃液を排出する間、前記吸引容器と前記排出部との間に設けられた弁は閉じている。

また、自動分析装置の第５の構成において、前記吸引容器の下部と前記排出部の下部との間は、中点ＯＦＦ型の３方弁を介して接続されている。

本発明の適用範囲は、電位差計測（イオン選択性電極）や比色（吸光度分析）の原理に基づく自動分析装置ばかりでなく、比濁や散乱光強度に基づくラテックス凝集分析装置、抗原抗体反応に基づく免疫分析装置など、減圧吸引によって廃液を排出する機構を備える自動分析装置に広く適用可能である。

本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。上記実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることもできる。また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることもできる。また、各実施例の構成の一部について、他の構成を追加・削除・置換することもできる。

上記の制御装置及び計測制御装置などの機能などは、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、ファイルなどの情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）などの記録装置、又は、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤなどの記録媒体に置くことができる。また、上記の各構成などは、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計するなどによりハードウェアで実現してもよい。

上述の実施例において、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。全ての構成が相互に接続されていてもよい。

１０：電解質自動分析装置
２０、２１：中央制御装置
３０、３０Ｂ、３０Ｃ、３０Ｄ、３０Ｅ、３０Ｆ、３１、３２：廃液機構
４０：比色自動分析装置
１００：廃液機構の中枢部
１１０：制御装置
１１００：吸引容器Ｔ１
１１１０：電磁弁ＳＶＢ
１２００：排出部材Ｔ２
１２１０、１２１１：電磁弁ＳＶＣ
１２２０、１２２１：電磁弁ＳＶＤ
１２２２、１２２３：電磁弁ＳＶＤ１、ＳＶＤ２
１３００：圧力調節機構
１４００：排気ポンプ
１５００：廃液容器
１６００：三方電磁弁
１６０１：弁座
１６０２：可動部
１６０３：ポート切換制御部
１６０４、１６０５、１６０６：ポート
１６０７、１６０８：流路
１６１０：固定鉄心
１６１１：コイル
１６１２：可動磁芯
１６１３：永久磁石
１６１４：バネ
１６１５：連結棒
２１００、２２００、…、２９００：電解質測定ユニット
２１０１：計測制御装置
２１１０：希釈槽
２１２０：検体分注機構
２１２１：検体用容器
２１３０：希釈液分注機構
２１３１：希釈液用容器
２１４０：内部標準液分注機構
２１４１：内部標準液用容器
２１５０：送液機構
２１５９：廃液容器
２１６０：参照電極液送液機構
２１６１：参照電極液用容器
２１７１、２１７２、２１７３：Ｃｌ−ＩＳＥ、Ｋ−ＩＳＥ、Ｎａ−ＩＳＥ
２１８０：液絡
２１９０：参照電極
３１０１、…、３９０１：廃液ノズル
３１１０、…、３９１０：電磁弁ＳＶＡ１〜ＳＶＡ９
４０００：比色測定ユニット
４１１０、〜４１９０：廃液ノズル
Ａ１〜Ａ９、Ａ１０：廃液流路
Ｂ：移送流路
Ｃ、Ｃ２：移送流路
Ｄ：移送排出流路
Ｅ：排出流路
Ｆ：排出流路
Ｇ：排気管
Ｈ：排気管
Ｊ：排気管
Ｋ：排気管
Ｌ：排気管
Ｌ２：抵抗管
Ｍ：排気管
Ｎ：リーク管
Ｑ１，Ｑ２：排気管
Ｒ：抵抗管
Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３：Ｔ字管

Claims (11)

1. 試料を測定する測定部を含む複数の測定ユニットと、
   第１経路を介して前記複数の測定ユニットと接続された吸引容器と、
   第２経路を介して前記吸引容器と接続された減圧排気系と、
   第３経路を介して前記吸引容器に接続された排出部と、
   前記第２経路に配置された圧力調整機構と、
   前記減圧排気系によって前記吸引容器および前記排出部を減圧排気するように制御する制御部と
   を備える自動分析装置において、
   前記排出部は、廃液を一時的に溜めておく空間を提供する流路及び容器の少なくとも一方であり、
   前記圧力調整機構の一端は前記吸引容器に接続され、前記圧力調整機構の他端は前記減圧排気系に接続され、
   前記排出部は、第４経路を介して前記減圧排気系に接続され、
   前記排出部は、前記制御部と前記減圧排気系によって減圧排気可能に制御され、
   前記第１経路の全てに流路を遮断可能な弁体を設け、
   前記排出部の減圧排気を行う際は、前記圧力調整機構は前記吸引容器と前記減圧排気系の間の流体の流通を阻止する
   ことを特徴とする、自動分析装置。
2. 請求項１に記載の自動分析装置において、
   前記圧力調整機構は、逆止弁、電磁弁、又は圧力レギュレータであることを特徴とする自動分析装置。
3. 請求項１に記載の自動分析装置において、
   前記第１経路に配置され、前記測定ユニットと前記吸引容器との接続を制御する第１弁と、
   前記排出部と前記減圧排気系との間に配置され、前記排出部と前記減圧排気系との間の接続と前記排出部の大気解放を切換える第２弁と、
   前記第３経路に配置され、前記吸引容器と前記排出部との接続を制御する第３弁とをさらに備えることを特徴とする自動分析装置。
4. 請求項３に記載の自動分析装置において、
   前記制御部は、
   前記第１弁を介して前記吸引容器に廃液を吸引している間に、前記第２弁を介して前記排出部を前記減圧排気系に接続し、
   前記減圧排気系によって前記排出部を減圧排気している間に、前記第３弁を介して前記吸引容器と前記排出部とを接続し、
   前記吸引容器と前記排出部との間を前記第３弁によって遮断し、かつ、前記第２弁によって前記排出部を大気解放する
   ように制御することを特徴とする自動分析装置。
5. 請求項３に記載の自動分析装置において、
   前記制御部は、前記第３弁を介して前記吸引容器と前記排出部とを接続する前に、前記吸引容器側の第１圧力が前記排出部側の第２圧力よりも高く、かつ、前記吸引容器側の第１圧力と前記排出部側の第２圧力との差が約１ｋＰａ〜３０ｋＰａになるように制御することを特徴とする自動分析装置。
6. 請求項１に記載の自動分析装置において、
   前記制御部は、廃液排出操作において前記減圧排気系によって前記排出部を減圧排気するとき、前記排出部の気圧が前記吸引容器内の気圧よりも低くなるように制御することを特徴とする自動分析装置。
7. 請求項１に記載の自動分析装置において、
   前記第３経路に配置された三方電磁弁をさらに備え、
   前記三方電磁弁は、
   第１ポート、第２ポート、及び、前記第１ポート又は前記第２ポートに接続される第３ポートと、
   第１流路及び第２流路を有する可動部と、
   コイルと、磁石と、前記コイルの間を移動し、かつ、前記可動部に接続された可動磁芯とを備えるポート切換制御部と
   を備え、
   前記三方電磁弁は、
   前記コイルに第１方向で電流を流した際は前記第１流路を介して前記第１ポートと前記第３ポートとが接続され、
   前記コイルに第２方向で電流を流した際は前記第２流路を介して前記第２ポートと前記第３ポートとが接続され、
   前記コイルに電流を流さない場合、前記第３ポートが前記第１ポート及び前記第２ポートのいずれにも接続されないように構成されていることを特徴とする自動分析装置。
8. 請求項１に記載の自動分析装置において、
   前記排出部の設置高さは、前記吸引容器の設置高さよりも低いことを特徴とする自動分析装置。
9. 請求項１に記載の自動分析装置において、
   前記第１経路と前記複数の測定ユニットの各々とを接続する複数の第１弁をさらに備え、
   前記制御部は、
   前記複数の測定ユニットのうちの所定の測定ユニットと前記第１経路とを前記第１弁を介して接続したとき、前記複数の測定ユニットのうちの他の測定ユニットと前記第１経路とを接続する前記第１弁を閉じるように制御することを特徴とする自動分析装置。
10. 試料を測定する測定部を含む複数の測定ユニットと、
    第１経路を介して前記複数の測定ユニットと接続された吸引容器と、
    第２経路を介して前記吸引容器と接続された減圧排気系と、
    第３経路を介して前記吸引容器に接続された排出部と、
    前記複数の測定ユニットにおける測定時に、前記減圧排気系によって前記吸引容器を減圧排気するように制御する制御部と
    を備え、
    前記制御部は、
    前記吸引容器に廃液を吸引している間に前記排出部を前記減圧排気系に接続し、前記減圧排気系によって前記排出部を減圧排気し、
    前記吸引容器を前記排出部に接続し、前記排出部に前記廃液を移送し、
    前記排出部に前記廃液を移送した後に、前記吸引容器と前記排出部との間及び前記減圧排気系と前記排出部との間を遮断し、前記排出部を大気解放する
    ことにより、少なくとも、前記排出部が減圧排気されている間及び大気解放されている間、前記吸引容器を減圧排気するように制御する、自動分析装置。
11. 試料を測定する測定部を含む複数の測定ユニットと、第１経路を介して前記複数の測定ユニットと接続された吸引容器と、第２経路を介して前記吸引容器と接続された減圧排気系と、第３経路を介して前記吸引容器に接続された排出部と、前記第２経路に配置された圧力調整機構と、を備える自動分析装置における廃液方法であって、
    前記排出部は、廃液を一時的に溜めておく空間を提供する流路及び容器の少なくとも一方であり、
    前記圧力調整機構の一端は前記吸引容器に接続され、前記圧力調整機構の他端は前記減圧排気系に接続され、
    前記排出部は、第４経路を介して前記減圧排気系に接続され、
    前記排出部は、前記減圧排気系によって減圧排気可能に制御され、
    前記第１経路の全てに流路を遮断可能な弁体を設け、
    前記減圧排気系によって前記吸引容器および前記排出部を減圧排気する工程と、
    前記測定ユニットから第１廃液を前記吸引容器に吸引する工程と、
    前記吸引容器を大気解放せずに、前記測定ユニットから第２廃液を前記吸引容器に吸引する工程と、
    前記吸引容器内の前記第１廃液及び前記第２廃液の混合液を前記排出部へ移送する工程と、
    を含み、
    前記排出部の減圧排気を行う際は、前記圧力調整機構は前記吸引容器と前記減圧排気系の間の流体の流通を阻止する廃液方法。

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