JP7209096B2 - 脱気装置及び電解質測定システム - Google Patents

Description

本発明は、脱気装置及び電解質測定システムの技術に関する。

従来、理化学分析装置、特に、臨床検査である血液分析装置において、サンプルや試薬等の分注精度を向上させるために、液内の溶存気体を脱気装置等によって分離（脱気）することが一般的に行われている。これは、例えば、血液分析装置において、シリンジや、電磁弁等の可動部において、急激な体積変化が起きると、溶液内の溶存気体が気化し、分注精度が悪化するためである。

特許文献１には、「試料を希釈して試料溶液を生成するための希釈液を希釈用容器に供給する希釈液供給手段と、標準液を前記希釈用容器に供給する標準液供給手段と、イオン選択性電極を用いて前記試料溶液および前記標準液のそれぞれの起電力を計測することにより、前記試料溶液に含まれる被測定成分の電解質濃度を測定する測定手段とを備えた電解質分析装置において、前記希釈液供給手段により供給される希釈液と、前記標準液供給手段により供給される標準液とを互いに熱交換させるための熱交換手段を備えたことを特徴とする」電解質分析装置が開示されている（請求項１参照）。

特許文献２には、「被温度調整物を流通させる１本又は複数本の被温調用チューブ１と温度調整用物を流通させる１本又は複数本の温調用チューブ２とを一緒に束ねて接触させることにより、前記被温度調整物を上記被温調用チューブ内を流通している間に所定の温度に調整するようにした」分析機器における温度調整装置が開示されている（要約参照）。

特開２００５－６２１２８号公報 特開２０００－９９１６２号公報

特許文献１に記載の技術では、液体間の熱交換手段を備えた電解質分析装置が記載されているが、脱気を行うことについては記載がされていない。
特許文献２に記載の技術では、熱交換と脱気を同時に行うことが記載されているが、複数の液体の脱気を行うことについては記載されていない。

このような背景に鑑みて本発明がなされたのであり、本発明は、複数の液体の脱気と熱交換を同時に行うことにより、装置を大型化することなく効率的な物質測定を可能にすることを課題とする。

前記した課題を解決するため、本発明は、一端側の口から他端側の口へと第１の処理液が通流されて該処理液中の気体を膜透過させる第１の中空糸と、一端側の口から他端側の口へと第２の処理液が通流されて該処理液中の気体を膜透過させる第２の中空糸と、内部に、前記第１の中空糸及び前記第２の中空糸を収容する容器と、前記容器の内部の空間と接続される排気機構とを、備え、所定長にわたって１本の前記第１の中空糸、及び、１本の前記第２の中空糸が、互いにらせん状に編まれることで、中空糸同士が互いに接していることを特徴とする。
その他の解決手段は実施形態中において適宜記載する。

本発明によれば、複数の液体の脱気と熱交換を同時に行うことにより、装置を大型化することなく効率的な物質測定が可能となる。

第１実施形態における脱気システムの外観図である。 第１実施形態における中空糸の外観図である。 第１実施形態における中空糸の部分断面図である。 第１実施形態に係る脱気装置の側面図である。 第１実施形態に係る脱気装置の上面図である。 脱気システムの側面図である。 脱気装置内部への中空糸の実装方法を示す図である。 脱気装置の変形例を示す図である。 第２実施形態に係る脱気装置を示す図である。 第３実施形態における中空糸を示す図である。 第４実施形態に係る脱気装置の一部を切断した部分断面図である。 第４実施形態に係る脱気装置の上面図である。 脱気装置における中空糸を示す図である。 第５実施形態に係る脱気システムの外観図を示す図である。 第６実施形態に係る電解質測定システムの構成例を示す図である。 第７実施形態に係る電解質測定システムの構成例を示す図である。 本実施形態で用いられる処理装置のハードウェア構成を示す図である。 これまでの電解質測定システムの構成を示す図である。 これまでの電解質測定システムにおける電解質測定の手順を示すフローチャートである。

次に、本発明を実施するための形態（「実施形態」という）について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図面において同様の構成については同一の符号を付して説明を適宜省略する。

［これまでの電解質測定システム１ｇ］
まず、図１８及び図１９を参照して、これまでの電解質測定システム１ｇ及び電解質測定方法について説明し、その問題点を記載する。
イオン選択性電極法には、式（１）のネルンストの式が基本的原理として用いられている。

Ｅ＝Ｅ０＋（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ Ｃ ・・・ （１）

ここで、Ｅはイオン選択性電極の電位、Ｅ０は標準電極電位、ｎは反応に関与するイオンの価数、Ｆはファラデー定数、Ｒは気体定数、Ｔは絶対温度、Ｃは測定対象物のイオン濃度である。

イオン選択性電極法による測定は、以下に記載するような、２つの電極の電位の差を測定することで求められる。測定対象物の電極の電位をＥｓ、参照電極の電位をＥＲｅｆとすれば、式（２）、式（３）が成り立つ。従って、測定対象物の電極と参照電極の電位差Ｅｗは式（４）となる。

Ｅｓ＝Ｅ０＋（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ Ｃｓ ・・・ （２）

ＥＲｅｆ＝Ｅ０＋（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ ＣＲｅｆ ・・・ （３）

Ｅｗ＝Ｅｓ－ＥＲｅｆ
＝（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ（Ｃｓ／ＣＲｅｆ） ・・・ （４）

図１８は、これまでの電解質測定システム１ｇの構成を示す図である。
図１８を参照して、これまでの電解質測定システム１ｇによる測定を説明する。
電解質測定システム１ｇは、分注前加温装置３０１、脱気装置１００ｇ、真空ポンプ２０１、標準液容器３１１、希釈液容器３２１、比較液容器３３１を有する。また、電解質測定システム１ｇは、標準液送液装置３１２、標準液用ノズル３１３を有する。さらに、電解質測定システム１ｇは、希釈液送液装置３２２、希釈液用ノズル３２３を有する。そして、電解質測定システム１ｇは、加温装置熱源３０２、吸引用ノズル３５４、ＩＳＥ電極３５１、比較電極３５２、差分電圧算出装置３５５、処理装置４００を有する。また、電解質測定システム１ｇは、検体容器３４１から分注する検体分注装置３４２、希釈槽３８０を有する。さらに、電解質測定システム１ｇは、廃液吸引用ノズル３７６、真空廃液容器３７１、廃液用真空ポンプ３７２、電位測定後廃液容器３６２を有する。

分注前加温装置３０１は、加温装置熱源３０２によって、所望の温度に恒温されている。所望の温度は、例えば、臨床検査用の電解質測定において、理想的には、摂氏３７度であり、実用的には摂氏３７±０．２度である。

脱気装置１００ｇは、排気機構である真空ポンプ２０１によって、脱気装置１００ｇの容器内が減圧され、脱気装置１００ｇの内部に備えられている中空糸を通る液が気液分離される。また、検体容器３４１には検体である血清や、尿等が保持されている。また、実用的には、標準液容器３１１、希釈液容器３２１、比較液容器３３１は環境温度下で保管されている。ここで、通常、環境温度は摂氏１８～３２度である。

標準液は、標準液送液装置３１２によって、第１の標準液用二方電磁弁３１４ａ、第２の標準液用二方電磁弁３１４ｂを介して、標準液用ノズル３１３から希釈槽３８０に分注される。この際、標準液は、標準液送液装置３１２と希釈槽３８０との間に設置されている分注前加温装置３０１によって、同じく分注前加温装置３０１を流通する恒温液（不図示）と同じ温度に加熱される。

検体容器３４１に保持されている血清や、尿は、検体分注装置３４２によって、希釈槽３８０に分注される。希釈液は、検体である血清や、尿を希釈するものである。そして、希釈液は、希釈液送液装置３２２により、脱気装置１００ｇ、と希釈液送液装置３２２、第１の希釈液用二方電磁弁３２４ａ、第２の希釈液用二方電磁弁３２４ｂを介して希釈液用ノズル３２３に送液される。そして、希釈液は、希釈液用ノズル３２３によって、希釈槽３８０に分注される。この際、希釈液は、希釈液送液装置３２２と、希釈槽３８０との間に設置されている分注前加温装置３０１によって、同じく分注前加温装置３０１を流通する恒温液（不図示）と同じ温度に加熱される。つまり、標準液と希釈液とが同一の分注前加温装置３０１を流通することによって、希釈液と標準液との液温差が小さくなる。

比較液は、脱気装置１００ｇを介して、比較電極３５２に直接流入する。比較液の比較電極３５２への流入は、比較液用二方電磁弁３３２によって、そのタイミングが調整される。比較液については、比較液は、分注前加温装置３０１を通していないため、比較液が通る流路の周辺温度によって、わずかに、加温又は冷却される。

次に、電解質測定システム１ｇにおける電解質測定の一般的な手順について、図１８及び図１９を参照して説明する。
ここで、図１９は、これまでの電解質測定システム１ｇにおける電解質測定の手順を示すフローチャートである。
まず、処理装置４００は、ピンチ弁３５３を閉じた状態、かつ、比較液用二方電磁弁３３２、第１の廃液用二方電磁弁３６３ａ及び第２の廃液用二方電磁弁３６３ｂを開いた状態で、吸引用送液装置３６１を動作させる。この結果、比較液が比較電極３５２内部の流路に満たされる。つまり、比較液が比較電極３５２に送液される（Ｓ１０１）。比較液が比較電極３５２内部の流路を満たすと、処理装置４００は、比較液用二方電磁弁３３２を閉じ、吸引用送液装置３６１を一旦停止させる。
ステップＳ１０１と同時に、処理装置４００は、標準液送液装置３１２を動作させる。これによって、標準液用ノズル３１３から標準液が希釈槽３８０に分注される（Ｓ１０２）。

次に、処理装置４００が、ピンチ弁３５３、第１の廃液用二方電磁弁３６３ａ及び第２の廃液用二方電磁弁３６３ｂを開くとともに、吸引用送液装置３６１を動作させる。これによって、希釈槽３８０の標準液が吸引用ノズル３５４から吸引され、吸引された標準液がＩＳＥ電極３５１内部の流路に満たされる。つまり、標準液がＩＳＥ電極３５１へ送液される（Ｓ１０３）。標準液がＩＳＥ電極３５１内部の流路を満たすと、処理装置４００は吸引用送液装置３６１を一旦停止させる。

次に、差分電圧算出装置３５５が、ＩＳＥ電極３５１に生じる電位と、比較電極３５２に生じる電位との電位差を算出する（Ｓ１０４）。これが、標準液の電位差となる。標準液の電位差は、式（４）で示した通り、標準液の濃度と比較液の濃度とに依存している。ただし、標準液の濃度は一定であるとみなす。算出された標準液の電位差は処理装置４００へ送信される。なお、差分電圧算出装置３５５はアンプを内蔵しており、算出した電位差を増幅して処理装置４００へ送る。

次に、廃液の排出処理が行われる（Ｓ１０５）。
ステップＳ１０５において、処理装置４００は、ピンチ弁３５３、第１の廃液用二方電磁弁３６３ａ及び第２の廃液用二方電磁弁３６３ｂを開き、比較液用二方電磁弁３３２を閉じる。そして、処理装置４００は吸引用送液装置３６１を動作させる。これによって、比較電極３５２内の比較液、ＩＳＥ電極３５１内の標準液は電位測定後廃液容器３６２を介して廃液として排出される。

また、希釈槽３８０に残っている標準液は、真空廃液容器３７１を通して廃液として排出される。この場合、処理装置４００は、廃液用二方電磁弁３７５及び真空切替用二方電磁弁３７３を閉じ、真空切替用二方電磁弁３７４を開く。そして、処理装置４００は、廃液用真空ポンプ３７２を動作させる。これによって、真空廃液容器３７１内部が減圧される。その後に、処理装置４００は、廃液用二方電磁弁３７５を閉じたまま、真空切替用二方電磁弁３７４を閉じ、真空切替用二方電磁弁３７３を開く。これによって、希釈槽３８０に残った液（標準液）が、廃液吸引用ノズル３７６から吸引され、真空廃液容器３７１に流れ込む。その後に、処理装置４００が、廃液用二方電磁弁３７５を開くことにより、標準液の排出が行われる。

次に、処理装置４００は、ピンチ弁３５３を閉じた状態、かつ、比較液用二方電磁弁３３２、第１の廃液用二方電磁弁３６３ａ及び第２の廃液用二方電磁弁３６３ｂを開く。その後、処理装置４００は吸引用送液装置３６１を動作させる。この結果、比較液が比較電極３５２内部の流路に満たされる。つまり、比較液が比較電極３５２に送液される（Ｓ１１１）。比較液が比較電極３５２内部の流路を満たすと、処理装置４００は比較液用二方電磁弁３３２を閉じ、吸引用送液装置３６１を一旦停止させる。

ステップＳ１１１の処理と同時に、希釈液送液装置３２２によって、希釈液が第１の希釈液用二方電磁弁３２４ａ、第２の希釈液用二方電磁弁３２４ｂを介して希釈液用ノズル３２３へ送液される。これにより、希釈液が希釈液用ノズル３２３から希釈槽３８０に分注される（Ｓ１１２）。
さらに、ステップＳ１１１及びステップＳ１１２の処理と同時に、検体分注装置３４２が検体容器３４１から血清や尿等の検体を希釈槽３８０に分注する（Ｓ１１３）。これによって、検体である血清や尿に含まれる電解質は、同時に分注される希釈液によって希釈される。

次に、処理装置４００は、ピンチ弁３５３を開き、比較液用二方電磁弁３３２を閉じ、吸引用送液装置３６１を動作させる。これによって、検体を含む希釈液がＩＳＥ電極３５１内部の流路を満たす。つまり、希釈された検体がＩＳＥ電極３５１へ送液される（Ｓ１１４）。

そして、差分電圧算出装置３５５が、ＩＳＥ電極３５１に生じる電位と、比較電極３５２に生じる電位との電位差を算出する（Ｓ１１５）。これが、検体を含んだ希釈液の電位差となる。この電位差は、式（４）で示した通り、検体を含んだ希釈液の濃度と比較液の濃度とに依存している。なお、以降では検体を含んだ希釈液、すなわち、希釈液によって希釈された検体を希釈検体と称する。

次に、廃液の排出処理が行われる（Ｓ１１６）。
ステップＳ１１６において、処理装置４００は、ピンチ弁３５３、第１の廃液用二方電磁弁３６３ａ及び第２の廃液用二方電磁弁３６３ｂを開き、比較液用二方電磁弁３３２を閉じる。その後、処理装置４００は吸引用送液装置３６１を動作させる。これによって、比較電極３５２内の比較液、ＩＳＥ電極３５１内の希釈検体が電位測定後廃液容器３６２を介して廃液として排出される。

また、希釈槽３８０に残っている希釈検体は、真空廃液容器３７１を通して廃液として排出される。この場合、処理装置４００は、廃液用二方電磁弁３７５及び真空切替用二方電磁弁３７３を閉じ、真空切替用二方電磁弁３７４を開く。そして、処理装置４００は、廃液用真空ポンプ３７２を動作させる。これによって、真空廃液容器３７１内部が減圧される。その後に、処理装置４００は、廃液用二方電磁弁３７５を閉じたまま、真空切替用二方電磁弁３７４を閉じ、真空切替用二方電磁弁３７３を開く。これによって、希釈槽３８０に残った液（検体を含む希釈液）が、真空廃液容器３７１に流れ込む。その後に、処理装置４００が、廃液用二方電磁弁３７５を開くことにより、希釈検体の排出が行われる。

その後、処理装置４００によって、測定された２つの電位差を基に検体に含まれる電解質の分析が行われる（Ｓ１２１）。

以下では、これまでの電解質測定システム１ｇの課題を記載する。
まず、便宜的に、標準液、希釈液が分注前加温装置３０１によって加温されず、それらの温度が環境内ですべて一定であるとする。つまり、環境温度による加温によって、標準液及び希釈液が一定であるとする。また、比較液についても、比較液が通る流路周辺温度は、環境温度と同一であると仮定する。つまり、標準液、希釈液、比較液の温度が同一であるとする。なお、希釈液には検体が加えられるが、希釈液の量に対して、検体の量は極微量であるため、検体が加えられたことによる希釈液の温度変化は無視することができる。

ここで、Ｃ１を標準液の濃度、Ｃ２を希釈された検体の濃度、Ｅｓ１を標準液測定時のＩＳＥ電極３５１に生じる電位とする。また、Ｅｓ２を希釈検体測定時のＩＳＥ電極３５１に生じる電位、Ｅｗ１を標準液測定時のＩＳＥ電極３５１に生じる電位と比較電極３５２に生じる電位の電位差とする。さらに、Ｅｗ２を、希釈検体測定時のＩＳＥ電極３５１に生じる電位と比較電極３５２に生じる電位の電位差、Ｅｗ０をＥｗ１とＥｗ２の差分とする。この時、以下の式（５）、式（６）、式（７）が成り立つ。

Ｅｓ１＝Ｅ０＋（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ Ｃ１ ・・・ （５）
Ｅｓ２＝Ｅ０＋（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ Ｃ２ ・・・ （６）
Ｅｗ１＝Ｅｓ１－ＥＲｅｆ
＝（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ（Ｃ１／ＣＲｅｆ） ・・・ （７）

また、以下の式（８）が成り立ち、式（９）が導き出せる。なお、式（９）で、Ｃ１は一定であることから、Ｅｗ１は一定である。すなわち、Ｅｗ０は、Ｃ２のみに依存する。

Ｅｗ２＝Ｅｓ２－ＥＲｅｆ
＝（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ（Ｃ２／ＣＲｅｆ） ・・・ （８）
Ｅｗ０＝Ｅｗ１－Ｅｗ２
＝（Ｒ Ｔ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ（Ｃ１／Ｃ２） ・・・ （９）

以上は、環境温度がすべて一定であると仮定した結果である。実際には、図１８に示すように、分注前加温装置３０１によって、希釈液と標準液は加温され、比較液は比較液が通る流路の周辺温度によって、影響を受ける。この影響を以下の計算によって考察する。ちなみに、Ｅｓ１、Ｅｓ２が前記した測定対象物の電位Ｅｓに相当し、ＥＲｅｆが前記した参照電極の電位ＥＲｅｆに相当する。

Ｔ１は、分注前加温装置３０１によって生じた加温前後の希釈液及び標準液の温度差、Ｔ２は、比較液が通る流路の周辺温度によって生じる比較液の温度差を示す。また、Ｔｋを環境温度、ＴｓをＩＳＥ電極３５１に流入する液の温度、ＴＲｅｆを比較電極３５２に流入する液の温度であるとする。これらにより、以下の式（１０）、式（１１）が成り立つ。

Ｔｓ＝Ｔｋ＋Ｔ１ ・・・ （１０）
ＴＲｅｆ＝Ｔｋ＋Ｔ２ ・・・ （１１）

よって、周辺の温度影響を考慮した際のＩＳＥ電極３５１の電位をＥｓｋ、比較電極３５２の電位をＥＲｅｆｋとすると、式（２）及び式（３）より、以下の式（１２）、式（１３）が成り立つ。この際に生じる電位差Ｅｗｋは式（１４）で表される。

Ｅｓｋ＝Ｅ０＋［｛Ｒ（Ｔｋ＋Ｔ１）｝／（ｎ Ｆ）］ｌｏｇ Ｃｓ ・・・ （１２）
ＥＲｅｆｋ＝Ｅ０＋［｛Ｒ（Ｔｋ＋Ｔ２）｝／（ｎ Ｆ）］ｌｏｇ ＣＲｅｆ
・・・ （１３）
Ｅｗｋ＝Ｅｓｋ－ＥＲｅｆｋ
＝（Ｒ Ｔｋ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ（Ｃｓ／ＣＲｅｆ）＋（Ｒ Ｔ１／ｎ Ｆ）ｌｏｇＣｓ
－（Ｒ Ｔ２／ｎ Ｆ）ｌｏｇ ＣＲｅｆ ・・・ （１４）

式（１４）と、式（７）とを比べると明らかなように、式（１４）には、式（１４）の右辺第２項及び第３項に示す誤差項がある。この誤差項が測定の誤差につながり、電解質測定における、正確性及び精密性の低下の原因となっている。

以上の問題点を解決するための手法を、図１～図１７を参照して説明する。

［第１実施形態］
図１は、第１実施形態における脱気システム２００の外観図である。図２は、第１実施形態における中空糸１３０の外観図を示し、図３は、第１実施形態における中空糸１３０の部分断面図を示す。図４は、第１実施形態に係る脱気装置１００の側面図であり、図５は、第１実施形態に係る脱気装置１００の上面図である。そして、図６は、脱気システム２００の側面図である。ちなみに、図２は図１における符号１５０の拡大図である。
図１及び図６に示すように脱気システム２００は、脱気装置１００及び真空ポンプ２０１を有している。また、脱気装置１００における容器１１０は、有底円筒形状を有する外筒部１１１と、上面を構成する蓋部１１２とを備え、内部に空間Ｓを有している。そして、図１、図４、図５、図６に示すように、蓋部１１２には第１の導入口１２１ａ、第１の導出口１２１ｂ、第２の導入口１２２ａ、第２の導出口１２２ｂ、真空ポンプ接続口１２５を備えている。

図１に示すように、脱気装置１００の内部には複数の中空糸１３０（図１～図３の例では第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２の２つ）が備えられる。
図１に示すように、これらの中空糸１３０のうち、第１の中空糸１３１は、一端が第１の導入口１２１ａに接続され、他端が第１の導出口１２１ｂに接続される。また、第２の中空糸１３２は、一端が第２の導入口１２２ａに接続され、他端が第２の導出口１２２ｂに接続される。第１の中空糸１３１には第１の導入口１２１ａから第１の導出口１２１ｂへ流通する一の液が流通する。同様に、第２の中空糸１３２には第２の導入口１２２ａから第２の導出口１２２ｂへ流通する他の液が流通する。

第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２のそれぞれは、例えば、四フッ化エチレン樹脂等、気体を透過するが液体は透過しない材質で構成されている。また、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２は、図２及び図３に示すように、らせん状に編み込まれることで互いに接している。このように、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２がらせん状に編み込まれることで、第１の中空糸１３１を流通する液と、第２の中空糸１３２を流通する液との間で熱交換が可能となる。なお、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２は、互いに接していればらせん状に編み込まれる形式でなくてもよいが、らせん状に編み込む形式とすることで効率的な熱交換が可能となる。

図１及び図６に示すように真空ポンプ接続口１２５には、他端が真空ポンプ２０１に接続されている真空ポンプ接続チューブ２０２が接続される。このような構成を有することにより、真空ポンプ２０１によって脱気装置１００の内部が減圧される。真空ポンプ２０１によって、脱気装置１００の内部は０～１５ＫＰａ（望ましくは８ＫＰａ）程度に減圧されている。

このように真空ポンプ２０１によって脱気装置１００の内部が減圧されることによって、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２を流通する液に溶解しているガス（溶存気体）が中空糸壁を透過して脱気装置１００の内部に拡散する。これによって、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２を流通する液の脱気が可能となる。

すなわち、図１～図６に示す脱気装置１００によれば、脱気装置１００を大型化することなく、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２の内部を流通する複数の液体の脱気と、熱交換による熱平衡とを同時に行うことが可能となる。
以上のような脱気装置１００の機能から、脱気装置１００内における第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２の長さは、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２を流通する液中のガスが脱気可能な程度の長さ以上である。また、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２が互いに接している部分の長さは、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２を流通する液同士の熱交換が十分に行われ、熱平衡状態となる程度の長さ以上である。第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２の長さは、少なくとも０．５ｍの長さを有することが望ましい。

真空ポンプ２０１の駆動時、脱気装置１００の内部は減圧されるため、外筒部１１１が大きく変形するおそれがある。この時、外筒部１１１の経時的な変形によって、外筒部１１１にクリープ破壊が生じるおそれがある。そこで、外筒部１１１の成形材料は、引張弾性係数が、１０～３０［Ｇｐａ］の材料を用いると経時的な変形を防ぐことができる。

また、図２及び図３に示すように第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２それぞれの表面はひだ状（凹凸）となっている。このような構成を有することにより、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２それぞれの表面積が大きくなり、透過するガスの量が多くなる。すなわち、効率的な脱気が可能となる。さらに、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２それぞれの表面がひだ状となることで、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２同士が接する面積が大きくなる。これにより、第１の中空糸１３１と、第２の中空糸１３２との間の熱交換が効率的に行われる。

なお、図２及び図３に示す例では、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２それぞれの表面がひだ状となることで、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２それぞれの表面に凹凸が設けられている。しかし、これに限らず、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２それぞれの表面に突起上のものが設けられることで、第１の中空糸１３１及び第２の中空糸１３２それぞれの表面に凹凸が設けられてもよい。

なお、図１、図４～図６に示す図では、真空ポンプ接続口１２５が中央に配置されているが、中央に限らなくてもよい。また、第１の導入口１２１ａ、第１の導出口１２１ｂ、第２の導入口１２２ａ及び第２の導出口１２２ｂの配置は、図１及び図５に示す配置でなくてもよい。つまり、第１の導入口１２１ａ、第１の導出口１２１ｂ、第２の導入口１２２ａ及び第２の導出口１２２ｂの配置は、図１及び図５に示すように対照的に配置されていなくてもよい。

図７は、脱気装置１００内部への中空糸１３０の実装方法を示す図である。
複数の中空糸１３０（図７の例では２つ）をまとめられた中空糸１３０は、図７に示すように、多重に折り曲げられた後、袋１４０に収納される。そして、中空糸１３０を収納した袋１４０が、外筒部１１１に、さらに収納される。中空糸１３０の材質や、太さにもよるが、束ねられた際における折り曲げられた箇所の幅（符号１４２）が３ｃｍ程度になるように束ねられると、送液の途中で、脱気性能が損なわれない。つまり、流路抵抗を十分小さくできる。中空糸１３０を束ねる際には、図７に示すように、ひも１４１が使用されてもよいし、中空糸１３０が折り曲げられた状態で袋１４０に直接収納されてもよい。なお、中空糸１３０を収納するための袋１４０は、脱気機能を損なわないよう網目の入ったものであることが望ましい。

（変形例）
図８は、脱気装置１００の変形例を示す図である。
図１、図４及び図６に示す例では、インジェクション成型、又は、ブロー成型とし、円筒の外筒部１１１と、底部が一体となった形状、すなわち有底円筒形状となっている。しかし、これに限らず、外筒部１１１ａを硬質ポリ塩化ビニル管のような直管とし、底部１１３を別部品としてもよい。つまり、図８に示すような、底蓋別型の脱気装置１００ａとなる。なお、外筒部１１１、蓋部１１２、底部１１３は、真空の気密性を保つために超音波溶着で一体にしているが、嵌め込み式にしてもよい。

［第２実施形態］
図９は、第２実施形態に係る脱気装置１００ｂを示す図である。
図９に示す脱気装置１００ｂは、図８と同様に、底部１１３を別部品とし、第１の導入口１２１ａ及び第２の導入口１２２ａが蓋部１１２に配置され、第１の導出口１２１ｂ及び第２の導出口１２２ｂが底部１１３に配置されている。すなわち、第１の導入口１２１ａ及び第２の導入口１２２ａと、第１の導出口１２１ｂ及び第２の導出口１２２ｂとが異なる面に配置されている。図９に示す例では、底部１１３を別部品としたが、図１、図４、図６等のように、底部１１３を外筒部１１１と一体とした場合、つまり、外筒部１１１が有底円筒形状である場合でも、第１の導出口１２１ｂ及び第２の導出口１２２ｂを底部に配置してもよい。また、第１の導入口１２１ａ及び第１の導出口１２１ｂを蓋部１１２に配置し、第２の導入口１２２ａ及び第２の導出口１２２ｂを底部に配置してもよい。つまり、第１の導入口１２１ａ、第１の導出口１２１ｂ、第２の導入口１２２ａ、第２の導出口１２２ｂは、脱気装置１００の、どの面に配置されてもよい。このようにすることにより、図１５等で後記する電解質測定システム１における流路の配設における自由度を高めることができる。

［第３実施形態］
図１０は、第３実施形態における中空糸１３０ｃを示す図である。
図１０に示す例は、異なる太さの中空糸１３０ｃが用いられている。すなわち、太い中空糸１３０ｃである第１の中空糸１３１ｃと、細い中空糸１３０ｃである第２の中空糸１３２とがらせん状に接している。このような構成とすることで、第１の中空糸１３１ｃを流通する液と、第２の中空糸１３２を流通する液の送液量や比熱が異なる場合でも、同一の温度にすることができる。

また、図１０に示す例では、第１の中空糸１３１ｃと、第２の中空糸１３２との長さが異なってもいる。このようにすることによって、第１の中空糸１３１ｃを流通する液と、第２の中空糸１３２を流通する液との送液量や比熱が異なる場合でも、これらの液の温度を同一にすることができる。図１０に示す例では、第１の中空糸１３１ｃと、第２の中空糸１３２との太さが異なっているが、同じ太さの第１の中空糸１３１と、第２の中空糸１３２との長さが異なってもよい。このようにすることで、第１の中空糸１３１を流通する液と、第２の中空糸１３２を流通する液との送液量や比熱が異なる場合でも、これらの液の温度を同一にすることができる。また、脱気装置１００を大型化することなく複数の液体の脱気をすることができる。

［第４実施形態］
図１１は、第４実施形態に係る脱気装置１００ｄの一部を切断した部分断面図である。図１２は、第４実施形態に係る脱気装置１００ｄの上面図である。図１３は、脱気装置１００ｄにおける中空糸１３０ｄを示す図である。ちなみに、図１３は、図１１の符号１５０ａを拡大した図である。
図１１～図１３では、３つの液が流通する脱気装置１００ｄを示している。すなわち、図１１及び図１２に示すように脱気装置１００の蓋部１１２には、第１の導入口１２１ａ、第１の導出口１２１ｂ、第２の導入口１２２ａ、第２の導出口１２２ｂ、第３の導入口１２３ａ、第３の導出口１２３ｂを備えている。ただし、図１１では、第１の導出口１２１ｂが図示されていない。

そして、脱気装置１００ｄの内部には、図１３に示すような３つの中空糸１３０ｄ（第１の中空糸１３１、第２の中空糸１３２、第３の中空糸１３３）が収納されている。第１の中空糸１３１、第２の中空糸１３２、第３の中空糸１３３のそれぞれには異なる液が流通する。そして、第１の中空糸１３１の一端は第１の導入口１２１ａに接続され、他端は第１の導出口１２１ｂに接続される。同様に、第２の中空糸１３２の一端は第２の導入口１２２ａに接続され、他端は第２の導出口１２２ｂに接続される。また、第３の中空糸１３３の一端は第３の導入口１２３ａに接続され、他端は第３の導出口１２３ｂに接続される。

そして、第１の中空糸１３１、第２の中空糸１３２、第３の中空糸１３３は、互いにらせん状に編み込まれることによって互いに接している。なお、第１の中空糸１３１、第２の中空糸１３２、第３の中空糸１３３は、らせん状に編み込まれなくても接していればよいが、らせん状に編み込まれることによって効率的な熱交換が可能となる。このようにすることで、第１の中空糸１３１、第２の中空糸１３２、第３の中空糸１３３を流通する３つの異なる液の温度を、効率的に同一にすることができる。

なお、蓋部１１２には真空ポンプ接続チューブ２０２が接続される真空ポンプ接続口１２５が備えられている。真空ポンプ接続チューブ２０２を介して、真空ポンプ接続口１２５に真空ポンプ２０１が接続され、真空ポンプ２０１が稼働することにより、脱気装置１００ｄの内部が真空ポンプ２０１によって減圧される。これにより、第１の中空糸１３１、第２の中空糸１３２、第３の中空糸１３３のそれぞれを流通する液の脱気が可能となる。
これにより、脱気装置１００ｄを大型化することなく、複数の液体の脱気と熱交換を同時に行うことができる。

［第５実施形態］
図１４は、第５実施形態に係る脱気システム２００ｅの外観図を示す図である。
脱気システム２００ｅでは、脱気装置１００ｅの周囲に調温機構であるヒータ１６０が備えられている。それ以外の構成は、図１等で示す構成と同様であるので説明を省略する。このようなヒータ１６０が備えられることにより、脱気装置１００の内部に備えられる中空糸１３０のそれぞれを流通する液の温度を所望の温度に調整することができる。これにより、脱気装置１００を大型化することなく、つまり、脱気システム２００ｅを大型化することなく、複数の液体の脱気と熱交換を同時に行うことができるとともに、液温を所定の温度に調整することも可能になる。

［第６実施形態］
図１５は、第６実施形態に係る電解質測定システム１の構成例を示す図である。図１５に示す電解質測定システム１は、本実施形態で示される脱気装置１００が用いられているものである。
図１５において、図１８と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
図１５に示す電解質測定システム１が、図１８に示す電解質測定システム１ｇと異なる点は以下の通りである。
１．分注前加温装置３０１、加温装置熱源３０２が省略されている。
２．比較液、希釈液に加えて、標準液も脱気装置１００ｃを流通する。つまり、標準液が流通する標準液流路３１５、希釈液が流通する希釈液流路３２５、及び、比較液が流通する比較液流路３３５が脱気装置１００ｃに接続されている。ここで、標準液流路３１５は、標準液を標準液容器３１１から標準液用ノズル３１３へ、すなわち、希釈槽３８０へ送液する流路である。また、希釈液流路３２５は、希釈液を希釈液容器３２１から希釈液用ノズル３２３へ、すなわち、希釈槽３８０へ送液する流路である。そして、比較液流路３３５は、比較液を比較液容器３３１から比較電極３５２へ送液する流路である。

また、３つの液が流通するため、図１１～図１３に示す脱気装置１００ｃが用いられる。
その他の構成は図１８に示す電解質測定システム１ｇと同様である。

なお、電解質測定システム１における電解質測定において、比較液と、希釈液は脱気が必須である。また、標準液と、希釈液とは同一の温度であることが必須であり、比較液の温度は一定であることが必要である。ちなみに、希釈液には検体が混合されるが、希釈液に対して検体は極微量であるため、希釈液の温度は変わらないとみなしてよい。すなわち、標準液の脱気は必須ではなく、比較液と、標準液及び希釈液とを同一の温度にすることも必須ではない。ただし、標準液を脱気しても問題はなく、比較液と、標準液及び希釈液とを同一の温度にしても問題はない。従って、比較液、標準液、希釈液を脱気装置１００ｃに流通させることに問題はない。そして、比較液、標準液、希釈液を脱気装置１００ｃに流通させることで、分注前加温装置３０１及び加温装置熱源３０２を省略することが可能となる。脱気装置１００ｃを大型化することなく、つまり、電解質測定システム１を大型化することなく、複数の液体の脱気と熱交換を同時に行うことにより、図１５に示す電解質測定システム１の省スペース化を図ることができる。

［第７実施形態］
図１６は、第７実施形態に係る電解質測定システム１ｆの構成例を示す図である。
図１６に示す電解質測定システム１ｆでは、標準液と希釈液とを同一の試薬としている。図１６における標準液と希釈液とを同一にした試薬を標準・希釈液と称する。例えば、標準液をトリエタノールアミン等の緩衝液を主成分とし、ナトリウムイオンを４．０～５．０ｍｍｏｌ／Ｌ、カリウムイオンを０．１～０．２ｍｍｏｌ／Ｌ、塩化物イオンを３．０～４．０ｍｍｏｌ／Ｌ含む構成とすると、標準液と希釈液とを同一成分にしても電位差は測定できる。

図１６に示す電解質測定システム１ｆでは、標準液容器３１１、希釈液容器３２１の代わりに標準・希釈液容器３９１が設けられている。また、電解質測定システム１ｆでは、標準液送液装置３１２、希釈液送液装置３２２の代わりに標準・希釈液送液装置３９２が設けられている。さらに、電解質測定システム１ｆでは、標準液用ノズル３１３、希釈液用ノズル３２３の代わりに標準・希釈液用ノズル３９３が設けられている。そして、電解質測定システム１ｆでは、第１の標準液用二方電磁弁３１４ａ、第１の希釈液用二方電磁弁３２４ａの代わりに第１の標準・希釈液用二方電磁弁３９４ａが設けられている。また、電解質測定システム１ｆでは、第２の標準液用二方電磁弁３１４ｂ、第２の希釈液用二方電磁弁３２４ｂの代わりに第２の標準・希釈液用二方電磁弁３９４ｂが設けられている。

そして、脱気装置１００には、標準・希釈液が流通する標準・希釈液流路３９５と、比較液が流通する比較液流路３３５とが接続されている。ここで、標準・希釈液流路３９５は、標準・希釈液を標準・希釈液容器３９１から標準・希釈液用ノズル３９３へ、すなわち、希釈槽３８０へ送液する流路である。
そして、図１６に示す電解質測定システム１ｆでは、脱気装置１００を流通する液が標準・希釈液及び比較液の２液であるので、図１～図１０に示される脱気装置１００，１００ａ，１００ｂが用いられる。
その他の構成は図１５に示す電解質測定システム１と同様であるので、説明を省略する。

このような構成とすることで、電解質測定に必要な試薬は２つとなり、図１５に示す電解質測定システム１よりも電解質測定システム１ｆの省スペース化を図ることができる。

［処理装置４００］
図１７は、本実施形態で用いられる処理装置４００のハードウェア構成を示す図である。
処理装置４００は、ＰＣ（Personal computer）等で構成されている。そして、処理装置４００は、メモリ４０１、ＣＰＵ（Central Processing Unit）４０２、ＨＤ（Hard Disk）等の記憶装置４０３を有している。さらに、処理装置４００は、キーボードや、マウスなどの入力装置４０４、ディスプレイ等の表示装置４０５、ＮＩＣ（Network Interface Card）等の通信装置４０６を備えている。

そして、記憶装置４０３に格納されているプログラムがメモリ４０１にロードされ、ＣＰＵ４０２によって実行される。これにより、電解質測定システム１の各部を制御するための機能や、電解質測定システム１によって得られた電位差を分析する機能が具現化する。

本実施形態に示す脱気装置１００を用いることにより、脱気と熱交換を同時に行うことができる。精度の高い電解質測定を行うことができる。
本実施形態の脱気装置１００は、その内部において、それぞれの中空糸１３０が、互いに接している。そのような構成を有することで、接する中空糸１３０内の液が効率的に熱交換し、それぞれの中空糸１３０を流通している液の同一の温度にすることができる。また、らせん状であることによって、中空糸１３０の外部が半分、脱気装置１００内の真空圧と接するので、効果的に溶液の気液分離ができる。

それぞれの中空糸１３０を流通している液の同一の温度にすることの効果を数式で証明する。本実施形態の脱気装置１００（１００ｃ）均一になった温度をＴｈとする。すなわち、式（１０）、式（１１）は式（１５）、式（１６）のようになる。この時生じる電位差Ｅｗｋｈは、式（１４）より式（１７）となる。

Ｔｈ＝Ｔｋ＋Ｔ１ ・・・ （１５）
Ｔｈ＝Ｔｋ＋Ｔ２ ・・・ （１６）
Ｅｗｋｈ＝（Ｒ Ｔｈ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ Ｃｓ－（Ｒ Ｔｈ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ ＣＲｅｆ
＝（Ｒ Ｔｈ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ（Ｃｓ／ＣＲｅｆ） ・・・ （１７）

なお、式（１５）及び式（１６）において、Ｔ１＝Ｔ２である。
ここで、式（１７）と式（１４）とを比較すると、式（１４）における誤差項が式（１７）ではキャンセルされている。従って、誤差項による、電位差の変動が起きないことが証明される。

この場合、式（５）、式（６）、式（７）、式（８）、式（９）、式（１３）と同様に、Ｅｓ１ｈを標準液測定時のＩＳＥ電極３５１に生じる電位、Ｅｓ２ｈを希釈検体測定時のＩＳＥ電極３５１に生じる電位とする。同様に、ＥＲｅｆｈを比較電極３５２に生じる電位、Ｅｗ１ｈを標準液測定時のＩＳＥ電極３５１に生じる電位と比較電極３５２に生じる電位の電位差とする。さらに、Ｅｗ２ｈを希釈検体測定時のＩＳＥ電極３５１に生じる電位と比較電極３５２に生じる電位の電位差、Ｅｗ０ｈをＥｗ１ｈとＥｗ２ｈの差分とする。すると、ＥＲｅｆｈは相殺される。つまり、式（１７）を用いて、式（５）～（９）に相当する式を算出すると、以下の式（１８－１）～（１８－６）が成り立つ。

Ｅｓ１ｈ＝Ｅ０＋（Ｒ Ｔｈ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ Ｃ１ ・・・ （１８－１）
Ｅｓ２ｈ＝Ｅ０＋（Ｒ Ｔｈ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ Ｃ２ ・・・ （１８－２）
ＥＲｅｆｈ＝Ｅ０＋（Ｒ Ｔｈ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ ＣＲｅｆ ・・・ （１８－３）
Ｅｗ１ｈ＝Ｅｓ１ｈ－ＥＲｅｆｈ ・・・ （１８－４）
Ｅｗ２ｈ＝Ｅｓ２ｈ－ＥＲｅｆｈ ・・・ （１８－５）
Ｅｗ０ｈ＝Ｅｗ１ｈ－Ｅｗ２ｈ
＝（Ｒ Ｔｈ／ｎ Ｆ）ｌｏｇ（Ｃ１／Ｃ２） ・・・ （１８－６）

本実施形態によれば、均一な温度であるＴｈを用いた式（１８－６）を用いることで、誤差項による電位差の変動を除去することができ、精度の高い電解質分析を実現することができる。

なお、本実施形態では、血液の電解質測定について説明したが、この分野に限らない。例えば、本実施形態の脱気装置１００を化学発光免疫装置に適用することも可能である。化学発光免疫装置では、免疫の反応量を化学発光させることで測定が行われる。この際、検体と試薬の混合溶液に、過酸化水素が主成分であるプレトリガが投入され、その後、水酸化ナトリウムが主成分であるトリガが投入される。この際に、プレトリガ溶液と、トリガ溶液の温度差を最小にすること、さらに、両方の溶液を脱気させることによって、精度の高い分析測定ができる。従って、プレトリガ容器及びトリガ容器を本実施形態の脱気装置１００に流通させることで、化学発光免疫の分析測定が可能となる。

また、電気化学発光の免疫項目測定装置においても、異なる２種類の溶液の温度差を最小にし、当該２種類の溶液を脱気させることによって、精度の高い分析測定ができる。従って、電気化学発光の免疫項目測定装置において、異なる２種類の溶液を本実施形態における脱気装置１００に流通させることで、精度の高い分析測定が可能となる。

なお、本実施形態では、電解質測定システム１，１ｆにおける各部の制御、及び、電解質の分析が処理装置４００によって行われている。しかし、これに限らず、電解質測定システム１，１ｆにおける各部の制御と、電解質の分析とが異なる装置によって行われてもよい。

本発明は前記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、前記した実施形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明したすべての構成を有するものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他実施形態の構成に置き換えることが可能であり、ある実施形態の構成に他実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。

また、前記した処理装置４００における各構成、機能、記憶装置４０３等は、それらの一部又はすべてを、例えば集積回路で設計すること等によりハードウェアで実現してもよい。また、図１７に示すように、前記した各構成、機能等は、ＣＰＵ４０２等のプロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、ＨＤに格納すること以外に、メモリ４０１や、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の記録装置、又は、ＩＣ（Integrated Circuit）カードや、ＳＤ（Secure Digital）カード、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の記録媒体に格納することができる。

また、各実施形態において、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしもすべての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には、ほとんどすべての構成が相互に接続されていると考えてよい。

１，１ｆ 電解質測定システム
１００，１００ａ，１００ｂ，１００ｄ，１００ｅ 脱気装置
１２１ａ 第１の導入口（一端側の口）
１２１ｂ 第１の導出口（他端側の口）
１２２ａ 第２の導入口（一端側の口）
１２２ｂ 第２の導出口（他端側の口）
１３０，１３０ｃ，１３０ｄ 中空糸
１３１ 第１の中空糸
１３２ 第２の中空糸
１３３ 第３の中空糸
２００ 脱気システム
２０１ 真空ポンプ（排気機構）
１１０ 容器
１１１，１１１ａ 外筒部
１１２ 蓋部（容器）
１１３ 底部（容器）
１６０ ヒータ（調温機構）
３１１ 標準液容器
３１５ 標準液流路（第１の流路）
３２１ 希釈液容器
３２５ 希釈液流路（第３の流路）
３３１ 比較液容器
３３５ 比較液流路（第４の流路）
３４１ 検体容器（サンプル容器）
３５１ ＩＳＥ電極
３５２ 比較電極
３５５ 差分電圧算出装置
３８０ 希釈槽
３９１ 標準・希釈液容器
３９５ 標準・希釈液流路（第２の流路）
Ｓ 空間

Claims (12)

1. 一端側の口から他端側の口へと第１の処理液が通流されて該処理液中の気体を膜透過させる第１の中空糸と、
   一端側の口から他端側の口へと第２の処理液が通流されて該処理液中の気体を膜透過させる第２の中空糸と、
   内部に、前記第１の中空糸及び前記第２の中空糸を収容する容器と、
   前記容器の内部の空間と接続される排気機構とを、備え、
   所定長にわたって１本の前記第１の中空糸、及び、１本の前記第２の中空糸が、互いにらせん状に編まれることで、中空糸同士が互いに接している
   ことを特徴とする脱気装置。
2. （削除）
3. 前記第１の中空糸及び前記第２の中空糸の太さが異なる
   ことを特徴とする請求項１に記載の脱気装置。
4. 前記第１の中空糸及び前記第２の中空糸の長さが異なる
   ことを特徴とする請求項１に記載の脱気装置。
5. 前記第１の中空糸及び前記第２の中空糸の口のうち、少なくとも１つが、他の口とは異なる前記容器の面に配置されている
   ことを特徴とする請求項１に記載の脱気装置。
6. 前記第１の中空糸及び前記第２の中空糸を流通する液体の温度を調整する調温機構
   を有することを特徴とする請求項１に記載の脱気装置。
7. 前記第１の中空糸及び前記第２の中空糸の表面に凹凸が設けられている
   ことを特徴とする請求項１に記載の脱気装置。
8. 前記第１の中空糸と前記第２の中空糸に加えて、さらに他の中空糸が前記容器の内部に収容されて、１本の前記他の中空糸、１本の前記第１の中空糸、及び、１本の前記第２の中空糸が互いにらせん状に編まれる
   ことを特徴とする請求項１に記載の脱気装置。
9. 一端側の口から他端側の口へと第１の処理液が通流されて該処理液中の気体を膜透過させる第１の中空糸と、
   一端側の口から他端側の口へと第２の処理液が通流されて該処理液中の気体を膜透過させる第２の中空糸と、
   内部に、前記第１の中空糸及び前記第２の中空糸を収容する容器と、
   前記容器の内部の空間と接続される排気機構とを、備え、
   所定長にわたって１本の前記第１の中空糸、及び、１本の前記第２の中空糸が、互いにらせん状に編まれることで、中空糸同士が互いに接している脱気装置
   を有する電解質測定システム。
10. 検体を保持するサンプル容器と、
    前記検体を希釈する希釈液と、標準液との役割を有する標準・希釈液を保持する標準・希釈液容器と、
    比較液を保持する比較液容器と、
    前記サンプル容器から注入された試料を前記標準・希釈液によって希釈する希釈槽と、
    前記比較液の電位を測定する比較電極と、
    前記標準・希釈液の電位、及び、前記検体が希釈されている前記標準・希釈液の電位を測定するＩＳＥ電極と、
    前記ＩＳＥ電極で測定された電位と、前記比較電極で測定された電位との差分である差分電位を算出する差分電圧測定装置と、
    前記差分電圧測定装置で算出された前記差分電位を基に、前記検体に含まれる電解質の解析を行う解析装置と、
    前記比較液を前記比較液容器から前記比較電極へ送液する第１の流路と、
    前記標準・希釈液を前記希釈槽へ送液する第２流路と、
    前記第１の流路及び前記第２の流路に接続された２つの前記中空糸を内部に有する前記脱気装置と、
    を有することを特徴とする請求項９に記載の電解質測定システム。
11. 前記第１の中空糸と前記第２の中空糸に加えて、さらに他の中空糸が前記容器の内部に収容されて、１本の前記他の中空糸、１本の前記第１の中空糸、及び、１本の前記第２の中空糸が互いにらせん状に編まれる
    ことを特徴とする請求項９に記載の電解質測定システム。
12. 検体を保持するサンプル容器と、
    前記検体を希釈する希釈液を保持する希釈液容器と、
    標準液を保持する標準液容器と、
    比較液を保持する比較液容器と、
    前記サンプル容器から注入された試料を前記希釈液によって希釈する希釈槽と、
    前記比較液の電位を測定する比較電極と、
    前記標準液の電位、及び、前記検体が希釈されている前記希釈液の電位を測定するＩＳＥ電極と、
    前記ＩＳＥ電極で測定された電位と、前記比較電極で測定された電位との差分である差分電位を算出する差分電圧測定装置と、
    前記差分電圧測定装置で算出された前記差分電位を基に、前記検体に含まれる電解質の解析を行う解析装置と、
    前記比較液を前記比較液容器から前記比較電極へ送液する第１の流路と、
    前記希釈液を前記希釈槽へ送液する第３の流路と、
    前記標準液を前記希釈槽へ送液する第４の流路と、
    前記第１の流路、前記第３の流路及び前記第４の流路に接続された３つの前記中空糸を内部に有する前記脱気装置と、
    を有することを特徴とする請求項１１に記載の電解質測定システム。

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