JP6222118B2 - 処理液濾過装置、薬液供給装置及び処理液濾過方法並びに記憶媒体 - Google Patents

処理液濾過装置、薬液供給装置及び処理液濾過方法並びに記憶媒体 Download PDF

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Description

本発明は、薬液供給源から薬液流路及びノズルを介して被処理体に薬液を供給する薬液供給装置に用いられる処理液を濾過する技術に関する。
半導体製造工程に用いられる枚葉式の液処理装置は、例えばスピンチャックに保持されている被処理体の表面にノズルから薬液を吐出するように構成されている。薬液としてはレジストパターンを形成するためのレジスト液、露光後の基板を現像するための現像液、あるいはシリコン酸化膜の前駆物質を含む塗布液等が挙げられる。このような薬液は、薬液供給源から途中にバルブ、フィルタ、ポンプ等の機器を設けた薬液流路によりノズルを介して被処理体に供給される。
近年回路の微細化に伴い、さらなる欠陥数の低減が求められており、レジスト液等の薬液や、配管や機器を含む薬液流路について、高い清浄度が要求されている。薬液からパーティクルや気泡等の異物を除去して清浄度を高める技術としては、例えば特許文献1に、処理液貯留容器とノズルとを接続する供給管路にフィルタ装置とポンプを設けると共に、ポンプの吐出側とフィルタ装置の吸入側とを接続する循環管路を設ける構成が記載されている。この構成では、ポンプの駆動により、循環管路を介してフィルタ装置に処理液を循環供給して処理液から異物を除去しているが、ポンプによる液の移動量は数ml/数十sec程度であり、時間がかかる。
従って薬液の清浄度をより高くするために、フィルタ装置による濾過回数を増加させようとすると長時間処理液を循環させる必要があり、作業時間の大幅な増加が懸念される。作業時間の短縮を図るために送液量を増加することも考えられるが、ポンプが大型化するために好ましくない。またポンプ近傍に循環管路を設けているため、処理液の吐出系統が複雑化し、処理液の通流制御が煩雑になる。こうしたことから処理液の消費量が少なく、短時間で作業を行うことができ、しかも処理液の吐出系統の簡素化が図れる清浄化技術が求められている。
特開2013−211525号公報
本発明は、このような事情においてなされたものであり、その目的は、薬液供給源から薬液流路及びノズルを介して被処理体に薬液を供給する薬液供給装置に用いられる処理液を濾過するにあたり、作業時間の短縮化を図ることができる技術を提供することにある。
本発明は、薬液供給源から薬液流路及びノズルを介して被処理体に薬液を供給する薬液供給装置に用いられる前記薬液または前記薬液流路を洗浄する洗浄液である処理液を濾過する装置において、
前記処理液が各々貯溜される第1の密閉容器及び第2の密閉容器と、
前記第2の密閉容器内の処理液を吸引するために、前記第1の密閉容器の気相部を減圧する第1の減圧部と、
前記第1の密閉容器内の処理液を吸引するために、前記第2の密閉容器の気相部を減圧する第2の減圧部と、
前記第1の密閉容器から前記第2の密閉容器に処理液を送るための第1の処理液流路と、
前記第2の密閉容器から前記第1の密閉容器に処理液を送るための第2の処理液流路と、
前記第1の処理液流路及び第2の処理液流路の少なくとも一方に設けられ、処理液中の異物を除去するためのフィルタ部と
前記第1の処理液流路に設けられ、前記第2の減圧部により前記第2の密閉容器の気相部を減圧するときには開かれた状態となり、前記第1の減圧部により前記第1の密閉容器の気相部を減圧するときには閉じられた状態となる第1のバルブと、
前記第2の処理液流路に設けられ、前記第1の減圧部により前記第1の密閉容器の気相部を減圧するときには開かれた状態となり、前記第2の減圧部により前記第2の密閉容器の気相部を減圧するときには閉じられた状態となる第2のバルブと、
前記第2の密閉容器の気相部が減圧されるときに前記第1の密閉容器の気相部を加圧する第1の加圧部と、
前記第1の密閉容器の気相部が減圧されるときに前記第2の密閉容器の気相部を加圧する第2の加圧部と、を備えたことを特徴とする。
本発明の薬液供給装置は、
薬液供給源からの薬液を送液機構により薬液流路及びノズルを介して被処理体に供給する薬液供給装置において、
前記処理液濾過装置と、前記処理液濾過装置にて濾過された処理液を前記薬液流路に供給するための処理液供給路と、備えたことを特徴とする。
他の発明は、薬液供給源から薬液流路及びノズルを介して被処理体に薬液を供給する薬液供給装置に用いられる前記薬液または前記薬液流路を洗浄する洗浄液である処理液を濾過する方法において、
第1の密閉容器及び第2に密閉容器を用い、
前記第2の密閉容器の気相部を減圧することにより、第1の密閉容器から第1の処理液流路を介して前記第2の密閉容器に処理液を送り出す工程と、
前記第1の密閉容器の気相部を減圧することにより、第2の密閉容器から第2の処理液流路を介して前記第1の密閉容器に処理液を送り出す工程と、
前記処理液が前記第1の処理液流路及び第2の処理液流路の少なくとも一方を流れるときに、フィルタ部により処理液中の異物を除去する工程と、を含み、
前記第2の密閉容器の気相部が減圧されるときに前記第1の密閉容器の気相部を加圧し、
前記第1の密閉容器の気相部が減圧されるときに前記第2の密閉容器の気相部を加圧することを特徴とする。



本発明の記憶媒体は、
薬液供給源から薬液流路及びノズルを介して被処理体に薬液を供給する薬液供給装置に用いられる前記薬液または前記薬液流路を洗浄する洗浄液である処理液を濾過する装置に用いられるコンピュータプログラムを記憶する記憶媒体であって、
前記コンピュータプログラムは、前記処理液濾過方法を実行するようにステップ群が組まれていることを特徴とする。
本発明によれば、処理液が各々貯留される第1の密閉容器と第2の密閉容器の一方から他方に処理液を送液するときに、処理液がフィルタ部を通過するように構成されているので、処理液中の異物が除去される。第1の密閉容器と第2の密閉容器との間の処理液の送液は、移動先の密閉容器を減圧することにより行っているので、ポンプを用いて処理液を送液する場合に比べて処理液の単位時間当たりの移動量が多く、処理液中の異物の濾過処理に要する作業時間が短縮される。
本発明の第1の実施形態に係る薬液供給装置を示す全体構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る処理液濾過装置を示す構成図である。 本発明の第2の実施形態に係る薬液供給装置を示す全体構成図である。 本発明の第3の実施形態に係る薬液供給装置を示す全体構成図である。 本発明の第4の実施形態に係る薬液供給装置を示す全体構成図である。
(第1の実施形態)
図1は、本発明における処理液濾過装置を備えた薬液供給装置の第1の実施形態を示すものであり、図2は処理液濾過装置の詳細構成を示したものである。処理液濾過装置の濾過対象となる処理液は薬液あるいは洗浄液であるが、この例では被処理体に供給される薬液を濾過対象としている。
図1及び図2中1は、薬液供給源である処理液貯留容器をなす薬液タンク1であり、薬液タンク1内には、薬液である処理液例えばレジスト液が貯留されている。この薬液タンク1には薬液流路2(21〜27)の上流端が突入して設けられ、薬液流路2の下流端には、後述する処理液濾過装置3等を介してノズル20が設けられている。図1において符号30として示す部分は、処理液濾過装置3の一部をなす処理液循環部を示している。
薬液タンク1は加圧管をなすガス供給路51を介して加圧用のガスのガス供給源53に接続されており、ガス供給路51には薬液タンク1から上流側に向けてバルブV5、圧力調整用タンク52及びバルブV6が配設されている。加圧用のガスとしては不活性ガス例えば窒素(N)ガスが用いられる。圧力調整用タンク52は、ガス供給源53から送られた加圧用のガスを圧力調整して送り出すためのものであり、バルブV7を備えた排気路521が接続されている。
薬液タンク1の下流側には処理液濾過装置3が設けられており、この処理液濾過装置3について図2を参照して説明する。図2中31は、処理液が貯留される第1の密閉容器であり、密閉容器31内の液面の上限レベルを検知する液面センサ311と、密閉容器31内の液面の下限レベルを検知する液面センサ312とを備えている。薬液タンク1の液相部と第1の密閉容器31との間は、バルブV1を備えた薬液流路21により接続されており、この薬液流路21は第3の処理液流路に相当する。
第1の密閉容器31は、バルブV8が介設された加圧管をなすガス供給路54によりガス供給路51、圧力調整用タンク52、バルブV6を介してガス供給源53に接続されている。この例では第1の密閉容器31の気相部を加圧する第1の加圧部は、ガス供給路54、51、圧力調整用タンク52及びガス供給源53を備えており、処理液濾過装置3の一部を構成している
また第1の密閉容器31は、バルブV12が介設された減圧管をなす排気路71及び排気路7を介して減圧機構73に接続されており、この例では第1の密閉容器31の気相部を減圧する第1の減圧部は、排気路71、7及び減圧機構73を備えている。さらに第1の密閉容器31は、バルブV10が介設された加圧管をなすガス供給路61、6により加圧用のガス供給源63に接続されている。加圧用のガスとしては、不活性ガス例えば窒素ガスが用いられる。このガス供給源63は、第1の加圧部よりも大きな圧力で第1の密閉容器31の気相部を加圧するために設けられており、例えば第1の密閉容器31から薬液を排出する場合等に薬液を下流側へ圧送するときに用いられる。
第1の密閉容器31の下流側には、バルブV2及びフィルタ部4を備えた第1の処理液流路22を介して第2の密閉容器32が設けられており、例えば第1の密閉容器31と第2の密閉容器32は上下に配列されている。第1の処理液流路22は第1の密閉容器31の液相部から第2の密閉容器32の気相部に薬液を送り出すためのものであって、薬液流路2の一部を構成している。
フィルタ部4は、処理液中に含まれる例えば5nmサイズ以上のパーティクルや気泡等の異物を除去する濾過材を備えており、フィルタ部4内の雰囲気を排気するためのドレイン管41がバルブV4を介して接続されている。
第2の密閉容器32は、フィルタ部4により異物が除去された薬液を一時的に貯留するものであり、第1の密閉容器31と同様に、密閉容器32内の液面の上限レベルを検知する液面センサ321と、密閉容器32内の液面の下限レベルを検知する液面センサ322とを備えている。
第1の密閉容器31の天井部と第2の密閉容器32の底面との間は、バルブV3を備えた第2の処理液流路33により接続されている。この第2の処理液流路33は、第2の密閉容器32の液相部から第1の密閉容器31の気相部に薬液を送り出すためのものである。
第2の密閉容器32は、バルブV9が介設された加圧管をなすガス供給路55により、ガス供給路54、51、圧力調整用タンク52、バルブV6を介してガス供給源53に接続されている。この例では、第2の密閉容器32の気相部を加圧する第2の加圧部は、ガス供給路55、54、51、圧力調整用タンク52及びガス供給源53を備え、ガス供給路55の上流側は第1の加圧部と共通化されている。
また第2の密閉容器32は、バルブV13が介設された減圧管をなす排気路72、7を介して減圧機構73に接続されている。この例では第2の密閉容器32の気相部を減圧する第2の減圧部は、排気路72、7及び減圧機構73を備え、排気路72の下流側は第1の第1の減圧部と共通化されている。
さらに第2の密閉容器32は、バルブV11を備えたガス供給路62、6によりガス供給源63に接続されている。ガス供給源63は、第2の加圧部よりも大きな圧力で第2の密閉容器32の気相部を加圧するために設けられるものであり、例えばノズル20に薬液を供給するために、第2の密閉容器32から薬液を下流側へ圧送するときに用いられる。
図1に戻って薬液供給装置の全体構成について説明を続けると、処理液濾過装置3の下流側には、バルブV14を備えた薬液流路23を介して、処理液が貯留される中間タンク10が設けられている。この例では薬液流路23が処理液濾過装置3にて濾過された処理液(薬液であるレジスト液)を薬液流路に供給する処理液供給路に相当する。
中間タンク10には、バルブV10を備えた排出路11と、バルブV61を備えると共に工場の排気系に接続された排気路60とが夫々接続されている。さらに例えばタンク10内の液面の上限レベルを検知する液面センサ(図示せず)と、タンク10内の液面の下限レベルを検知する液面センサ(図示せず)とが設けられている。
中間タンク10の下流側は、バルブV15を備えた薬液流路24を介してポンプ流路系12に接続されている。ポンプ流路系12は、図1に示すように、上流側から順に、フィルタ部13と、薬液流路25と、薬液のトラップ部14と、薬液流路26と、ポンプ部15と、を備えている。ポンプ部15は薬液(処理液)をノズル20に供給すると共に、ノズル20から薬液を吐出させるためのものであり、例えばダイヤフラムポンプからなる。ポンプ部15には、液供給用のバルブV16、液吐出用のバルブV17、及びベント用のバルブV18が設けられており、ベント用のバルブV18とトラップ部14との間は流路16により接続されている。また薬液流路25におけるバルブV15の上流側とトラップ部14との間には、フィルタ部13をバイパスすると共にバルブV19を備えたバイパス路17が設けられている。
ポンプ流路系12の下流側には、例えばディスペンスバルブV20を介してノズル20が設けられている。ノズル20は図示しない液処理モジュールに搬送されたウエハに薬液である処処理液例えばレジスト液を供給するものである。液処理モジュールは、例えば基板保持部にて鉛直軸まわりに回転自在に保持されたウエハに対して、ノズル20からレジスト液を供給し、回転の遠心力によりレジスト液をウエハ表面に進展させて、塗布膜を形成するように構成されている。この例においては、ディスペンスバルブV20以外のバルブは、例えばエアオペレートバルブより構成される。
薬液供給装置及び液処理モジュールよりなる液処理装置にはコンピュータからなる制御部100が設けられ、この制御部100はプログラム格納部110を有している。プログラム格納部110には、後述の作用で説明する処理液の濾過処理、薬液流路の洗浄処理及び液処理モジュールにおける液処理が行われるように命令が組まれた、例えばソフトウェアからなるプログラムが格納される。このプログラムが制御部100に読み出されることで、制御部100は薬液供給装置及び液処理モジュールの各部に制御信号を出力する。それによって、バルブの開閉やポンプの駆動、ノズルの移動、基板保持部の駆動等の各動作が制御され、後述する処理液の濾過処理、洗浄処理及び液処理が行われるようになっている。このプログラムは、例えばハードディスク、コンパクトディスク、マグネットオプティカルディスクまたはメモリーカード等の記憶媒体に収納された状態でプログラム格納部110に格納される。
続いて本実施形態の作用について、薬液であるレジスト液から異物を除去する場合を例にし、図3〜図11を参照して説明する。レジスト液中の異物除去は、例えば液処理モジュールにて液処理を開始する直前のタイミングにて実施される。
先ず図3に示すように、バルブV6及びバルブV7を開き、その他のバルブを閉じて、圧力調整用タンク52にガス供給源53から窒素ガスを、圧力調整用タンク52内が設定圧力例えば標準気圧+5kPaの圧力になるまで供給する。この例では、バルブV6、V7を開いて窒素ガスを供給し、設定圧力よりも低いある圧力でバルブV7を閉じ、引き続き窒素ガスの供給を続けることにより圧力調整用タンク52内が設定圧力になると、バルブV6を閉じるようにバルブV6、V7の開閉が制御される。バルブV6、V7は、例えば圧力調整用タンク52内の圧力を検出しながら開閉制御される。また予め所定の流量でガス供給源53から窒素ガスを供給したときに、圧力調整用タンク52内の圧力が設定圧力になるようにバルブV6、V7の開閉のタイミングを取得し、以降はこの取得したタイミングでバルブV6、V7の開閉制御するようにしてもよい。なお図3〜図11においては、閉じているバルブについては「C」を付し、気体や液体が流れている流路については太線で示している。
次に図4に示すように、第1の密閉容器31にレジスト液を供給する。この工程は、バルブV1、V5、V8、V12を開き、その他のバルブを閉じることにより実施される。これにより圧力調整用タンク52内の窒素ガスが薬液タンク1内に一気に供給されてレジスト液の液面が加圧されると共に、第1の密閉容器31内の気相部が減圧機構73により、例えば標準気圧−20kPaの圧力になるまで真空引き(減圧)される。こうして薬液タンク1内のレジスト液が薬液流路21(第3の処理液流路)を介して第1の密閉容器31側へ吸引されて送液される。圧力調整用タンク52内の窒素ガスを薬液タンク1に供給することにより、薬液タンク1内は例えば標準気圧+5kPa程度の圧力で加圧されるが、以降この程度の圧力による加圧を微加圧と呼ぶ。第1の密閉容器31内のレジスト液の液面は液面センサ311により監視され、レジスト液の液面が上限レベルに達すると、図5に示すように、バルブV1、V5を閉じて第1の密閉容器31へのレジスト液の供給を停止すると共に、バルブV8、V12を開いて、第1の密閉容器31内を例えば標準気圧−50kPa程度の圧力で減圧保持し、第1の密閉容器31内のレジスト液を脱気する。またバルブV6、V7を開き、図3に示す工程と同様に、圧力調整用タンク52内が設定圧力になるように窒素ガスを供給する。
次いで図6に示すように、フィルタ部4にレジスト液を送液してレジスト液中の異物の濾過による除去を行う。この工程は、バルブV2、V8、V13を開き、その他のバルブを閉じることにより実施される。これにより圧力調整用タンク52内の窒素ガスが第1の密閉容器31に一気に供給されて気相部が微加圧されると共に、第2の密閉容器32内の気相部が減圧機構73により減圧される。こうして第1の密閉容器31内のレジスト液が第1の処理液流路22を介して第2の密閉容器32側へ送り出される。
第1の密閉容器31と第2の密閉容器32との間にはフィルタ部4が介設されているので、レジスト液は第2の密閉容器32側に移動するときにフィルタ部4を通過する。これによりフィルタ部4の濾過材によってレジスト液中の異物が捕捉されて除去され、第2の密閉容器32には異物が除去されたレジスト液が貯留される。
第2の密閉容器32内のレジスト液の液面は液面センサ321により監視され、レジスト液の液面が上限レベルに達すると、図7に示すように、バルブV2、V8を閉じてレジスト液の供給を停止すると共に、バルブV6、V7を開き、図3に示す工程と同様に、圧力調整用タンク52が設定圧力になるように窒素ガスを供給する。
次に図8に示すように、第2の密閉容器32のレジスト液を第2の処理液流路33を介して第1の密閉容器31に送液する。この工程は、バルブV3、V8、V9、V12を開き、その他のバルブを閉じることにより実施される。これにより圧力調整用タンク52内の窒素ガスが第2の密閉容器32に供給されて気相部が微加圧されると共に、第1の密閉容器31内の気相部が減圧機構73により減圧されて、第2の密閉容器32内のレジスト液が第2の処理液流路33を介して第1の密閉容器31側へ送り出される。そして第1の密閉容器31内のレジスト液の液面が上限レベルに達すると、図9に示すように、バルブV3、V9を閉じて第1の密閉容器31へのレジスト液の供給を停止すると共に、バルブV8、V12を開いて第1の密閉容器31内を減圧保持し、第1の密閉容器31内のレジスト液を脱気する。またバルブV6、V7を開き、図3に示す工程と同様に、圧力調整用タンク52内が設定圧力になるように窒素ガスを供給する。
次いで再びフィルタ部4に処理液を送液する。この工程は、バルブV2、V8、V13を開き、その他のバルブを閉じることにより実施される(図6参照)。これにより圧力調整用タンク52内の窒素ガスが第1の密閉容器31に供給されて気相部が微加圧されると共に、第2の密閉容器32内の気相部が減圧機構73により減圧されて、第1の密閉容器31内のレジスト液が第1の処理液流路22を介して第2の密閉容器32側へ送り出される。そしてレジスト液がフィルタ部4を通過することによりレジスト液中の異物が除去される。こうして第2の密閉容器32内のレジスト液の液面が上限レベルに達すると、バルブV2を閉じて第2の密閉容器32へのレジスト液の供給を停止すると共に、バルブV6、V7を開き、図3に示す工程と同様に、圧力調整用タンク52が設定圧力になるように窒素ガスを供給する(図10参照)。
また図10に示すように、処理液循環部30の下流側にレジスト液を送液する工程を実施する。この工程は、バルブV8、V11、V14、V61を開き、その他のバルブを閉じることにより実施される。なお図10では、圧力調整タンク52に窒素ガスを供給する工程と、処理液循環部30の下流側にレジスト液を送液する工程とを示しているので、バルブV6、V7が開いている。
このようにガス供給源63の窒素ガスを第2の密閉容器32に供給することにより、その気相部が加圧されて、第2の密閉容器32内のレジスト液が薬液流路23を介して中間タンク10へ圧送される。そして中間タンク10内の処理液の液面が上限レベルに達すると、バルブV14、V11、V61を閉じて中間タンク10へのレジスト液の供給を停止する。
そして、液処理モジュールにて液処理を行うときには、例えば図11に示すように、バルブV15、V16、V17、V20を開き、その他のバルブを閉じてポンプ部15を駆動させる。ポンプ部15の吸引動作により中間タンク10内のレジスト液は、薬液流路24→フィルタ部13→薬液流路25→トラップ部14→薬液流路26を介してポンプ部15内に吸引される。次いでポンプ部15の吐出動作により、ポンプ部15内のレジスト液を薬液流路27を介して下流側に送液し、ノズル20から吐出させて、図示しない液処理モジュールによりウエハに対して所定の液処理を行う。
このようにこの実施形態では、薬液供給源である薬液タンク1からの薬液(レジスト液)を薬液流路2及びノズル20を介してウエハに供給するための薬液の送液機構は、第1の減圧部、第2の減圧部、第1の加圧部、第2の加圧部、窒素ガス供給源63、ガス供給路62及びポンプ部15を備えている。
この実施形態によれば、処理液濾過装置3にてレジスト液中の異物を除去する際、第2の密閉容器32の気相部を減圧することにより、第1の密閉容器31内のレジスト液を第1の処理液流路22によりフィルタ部4を介して第2の密閉容器32に送液している。また第1の密閉容器31の気相部を減圧することにより、第2の密閉容器32内のレジスト液を第2の処理液流路33を介して第1の密閉容器31に送液している。このように液の移動先の密閉容器の気相部を吸引することによりレジスト液を送液しているので、ポンプの吸引と吐出とを繰り返すことによる送液に比べて単位時間当たりのレジスト液の移動量が増加し、異物を除去する工程であるレジスト液の濾過に要する作業時間を短縮することができる。またポンプによる送液では、吸引と吐出とを繰り返すため、レジスト液の送液を一定の速度で行うことができないが、本実施形態のように、減圧による送液ではレジスト液を一定速度で移動できるので、効率よく送液を行うことができる。
また減圧によってレジスト液の移動させるために、第1の密閉容器31と第2の密閉容器32との間でレジスト液を循環させればよく、ポンプ近傍に循環路を設ける必要がないので、ポンプの吐出系統の構成の複雑化を抑えることができる。
さらに減圧による送液では薬液の通流路内が脱気されるため、レジスト液中の溶存気体が減少する。また第1及び第2の密閉容器31、32にレジスト液を貯留した後、図5及び図9に示すように、第1及び第2の密閉容器31、32を減圧維持して脱気するようにすれば、レジスト液中の溶存気体が減少し、この溶存気体に起因する欠陥数を削減できる。
さらにまた第1の密閉容器31と第2の密閉容器32との間でレジスト液を移動させるときに、液の移動先の密閉容器の気相部を減圧することに加えて、液の移動元の密閉容器の気相部を加圧するようにすれば、よりレジスト液の移動時間が短縮されてレジスト液の濾過処理に要する作業時間の削減に寄与できる。
さらにまた圧力調整用タンク52にて設定圧力に昇圧された窒素ガスを用いて薬液タンク1や密閉容器の気相部を加圧しているので、加圧用の窒素ガスの圧力調整が容易となる。また液の移動先の密閉容器を減圧するときに、圧力調整用タンク52から加圧用の不活性ガスを液の移動元の密閉容器に供給して加圧しているので、密閉容器内を減圧しても、当該密閉容器内への大気の混入が防止される。このため大気が混入することによるレジスト液の乾燥等が抑制され、レジスト液(薬液)の劣化を抑えることができる。
上述の薬液供給装置では、例えば液処理装置が何らかの原因で停止した場合に、ノズル20に供給した薬液を例えば中間タンク10を介して処理液循環部30に戻し、再びレジスト液の濾過処理を実施するようにしてもよい。この場合には、中間タンク10の下流側の処理液は、例えば図12に示すように、バルブV13、V14、V17、V18、V19、V20を開き、その他のバルブを閉じて第2の密閉容器32内を減圧することにより、流路16及びバイパス路17を介して中間タンク10内に戻される。又はバルブV17、V18、V19、V20、V61を開き、その他のバルブを閉じてポンプ部15を駆動することにより、中間タンク10内に戻すようにしてもよい。このようにノズル20側から中間タンク10へ向けて、フィルタ部13を迂回するバイパス路17を介してレジスト液を移動させる場合には、仮にレジスト液中に異物が存在したとしても、フィルタ部13の汚染が防止される。
そして中間タンク10内の処理液を第2の密閉容器32に戻す工程は、例えば図13に示すように、バルブV13、V14、V8を開き、その他のバルブを閉じて、第2の密閉容器32の気相部を減圧し、中間タンク10内のレジスト液を薬液流路23を介して吸引することにより行われる。この例の薬液流路23は、既述のように、処理液濾過装置3にて濾過されたレジスト液を薬液流路2に供給するための処理液供給路に相当するが、この処理液供給路は薬液流路2に送られたレジスト液を処理液濾過装置3に戻すための流路を兼用している。またバルブV6、V7を開き、図3に示す工程と同様に、圧力調整用タンク52内が設定圧力になるように窒素ガスを供給する。
次いで図14に示すように、バルブV3、V8、V9、V12を開き、その他のバルブを閉じて、圧力調整用タンク52内の窒素ガスにより第2の密閉容器32の気相部を微加圧すると共に、第1の密閉容器31内の気相部を減圧機構73により減圧する。こうして第2の密閉容器32の処理液を第2の処理液流路33を介して第1の密閉容器31に供給する。そして第1の密閉容器31内のレジスト液の液面が上限レベルに達すると、バルブV3、V9を閉じて処理液の供給を停止すると共に、バルブV8、V12を開いて、第1の密閉容器31内を減圧保持し第1の密閉容器31内のレジスト液を脱気する。またバルブV6、V7を開き、図3に示す工程と同様に、圧力調整用タンク52内が設定圧力になるまで窒素ガスを供給する。この後、既述のように、図5〜図10に示す工程を実施してレジスト液中の異物を除去し、異物が除去されたレジスト液を中間タンク10に送液する。
従来、液処理装置が停止したときに、ノズル20の先端まで達する処理液は、時間の経過と共に異物が増加するためにダミーディスペンスしていたが、この例では、ノズル20内部のレジスト液を、中間タンク10→第2の密閉容器32→第2の処理液流路33→第1の密閉容器31の経路で再び処理液循環部30まで戻している。このため処理液循環部30にて再び濾過処理を行なうことにより、レジスト液から異物が除去されるので、レジスト液を無駄にすることなく利用でき、薬液消費量の削減が達成できる。
第1の実施形態では、処理液循環部30にてレジスト液中の異物除去を行う際に、第1の密閉容器31→フィルタ部4→第2の密閉容器32→第2の処理液流路33→第1の密閉容器31のサイクルを複数回繰り返して実施するようにしてもよい。また上述の薬液であるレジスト液の濾過処理方法は一例であり、必ずしも上述の手法には限定されない。例えば一旦薬液タンク1から薬液流路2(21〜27)を介してノズル20にレジスト液を送液して液処理モジュールにて液処理を行ない、次いでノズル20内のレジスト液を中間タンク10を介して処理液循環部30に戻して、処理液の濾過処理を行うようにしてもよい。
さらに処理液濾過装置3にて異物を除去したレジスト液を下流側に送液する工程は、ポンプ部15を駆動させて実施してもよい。さらにまた処理液濾過装置3にて異物を除去したレジスト液を中間タンク10に送液した後、新たに薬液タンク1から第1の密閉容器31にレジスト液を供給し、処理液循環部30にてレジスト液中の異物除去を行うようにしてもよい。この場合には、中間タンク10からノズル20にレジスト液を供給して液処理を行う工程と、処理液濾過装置3においてレジスト液の異物除去を行う工程とを並行して実施するようにしてもよい。
(第2の実施形態)
続いて本発明の薬液供給装置の第2の実施形態について説明する。この実施形態は、処理液として薬液流路2を洗浄する洗浄液を用いて、薬液流路2を洗浄する例であり、この薬液流路2の洗浄は、例えば液処理装置の立ち上げ時に流路を構成する配管を組み立てた後に実施される。
この実施形態が第1の実施形態と異なる点は、薬液流路2の上流端に、薬液タンク1の代わりに処理液貯留容器として洗浄液タンク71を接続することである。またこの例では、図15に示すように、中間タンク10に、バルブV62が介設された加圧管をなすガス供給路64を介してガス供給源63が接続され、中間タンク10内に窒素ガスを供給して加圧することによって下流側に洗浄液を送液するように構成されている。さらに例えばフィルタ部13は薬液(レジスト液)中の異物を除去するための濾過材が装着されていない状態である。その他の構成については第1の実施形態と同様に構成され、同じ構成部材については同符号を付し、説明を省略する。
薬液流路2に洗浄液を通流させて洗浄する場合には、例えば先ず洗浄液タンク71内の洗浄液を、洗浄液タンク71から第1の密閉容器31→第2の密閉容器32→中間タンク10→フィルタ部13→トラップ部14→ポンプ部15の経路で、薬液流路2(21〜27)を介して、ノズル20内部まで送液する。洗浄液タンク71から中間タンク10への洗浄液の送液は、例えば第1の実施形態と同様に行う。
また中間タンク10からノズル20への洗浄液の供給は、例えば図15に示すように、バルブV62、V15、V16、V17、バルブV20を開き、その他のバルブを閉じて、ガス供給源63から中間タンク10内に窒素ガスを供給することにより行われる。これにより中間タンク10内が窒素ガスにより加圧され、洗浄液は薬液流路24〜27によりフィルタ部13、トラップ部14及びポンプ部15を介してノズル20まで供給される。但し、バルブV15、V16、V17、V20を開き、ポンプ部15を駆動させて中間タンク10内の洗浄液をノズル20まで供給するようにしてもよい。
こうして洗浄液タンク71からノズル20内部に至る薬液流路2に洗浄液を通流させることによって、薬液流路2に付着する異物を剥がして除去する。これにより洗浄液内には異物が混入するが、この異物は処理液濾過装置3のフィルタ部4を通過する際に除去される。
次いで例えばバルブV17、V18、V19、V20、V61を開き、その他のバルブを閉じて、ポンプ部15の駆動、又は第2の密閉容器32の気相部を減圧することにより、ノズル20の内部まで満たした洗浄液を流路16、バイパス路17を介して中間タンク10に戻す。第2の密閉容器32の気相部を減圧して送液するときには、バルブV14、バルブV13を開く。
続いて第2の密閉容器32の気相部を減圧することにより中間タンク10から第2の密閉容器32に洗浄液を送液する。さらに第1の密閉容器31の気相部を減圧すると共に第2の密閉容器32の気相部を微加圧することにより、第2の密閉容器32から第2の処理液流路33を介して第1の密閉容器31に洗浄液を送液する。
しかる後第2の密閉容器32の気相部を減圧すると共に、第1の密閉容器31の気相部を微加圧することにより、第1の密閉容器31内の洗浄液を第1の処理液流路22によりフィルタ部4を介して第2の密閉容器32に送液する。このとき洗浄液中の異物はフィルタ部4により除去される。
そして例えば再び第2の密閉容器32内の洗浄液をノズル20内部まで送液する。こうして例えばノズル20内部までの洗浄液の送液と、ノズル20内の洗浄液を中間タンク10を介して処理液濾過装置3に戻して、洗浄液の異物をフィルタ4により除去する処理とを複数回実施して薬液流路2の洗浄と、洗浄液中の異物の除去とを行う。
しかる後ノズル20から洗浄液を吐出させて、洗浄液中の異物を検出し、異物が設定値以下であれば洗浄処理を終了し、設定値を超えていれば再びノズル20から処理液濾過装置3に洗浄液を戻して、異物除去を行う。
洗浄処理が終了すると、例えば洗浄液タンク71を取り外すと共に、第1の密閉容器31を減圧して、薬液流路21内の洗浄液を第1の密閉容器31に吸引除去してから薬液流路2の上流端に薬液タンク1を取り付ける。また例えば第1の密閉容器31及び第2の密閉容器32内の洗浄液をノズル20に送液して、ノズル20から吐出させて回収する。この洗浄液の送液は、第1及び第2の密閉容器31、32に夫々ガス供給源63から窒素ガスを供給して加圧することにより行ってもよいし、ポンプ部15の駆動により行ってもよい。
こうして第1及び第2の密閉容器31、32内及び薬液流路2内の洗浄液を除去した後、フィルタ部13にレジスト液の異物除去用のろ過材を装着してレジスト液を薬液流路2に供給する。そして例えば第1の実施形態のように、処理液濾過装置3にてレジスト液中の異物除去を行ってから、薬液をノズル20から被処理体に供給して所定の液処理を行う。
この実施形態によれば、処理液濾過装置3にて洗浄液中の異物を除去する際、第1の密閉容器31と第2の密閉容器32との間の洗浄液の送液を、移動先の密閉容器を減圧することにより行っているので、ポンプによる送液に比べて単位時間当たりの洗浄液の移動量が増加し、洗浄液の濾過時間を短縮することができる。このため装置の立ち上げに要する作業時間を短縮することができる。さらに第1の密閉容器31と第2の密閉容器32との間で洗浄液を移動させるときに、液の移動先の密閉容器の気相部を減圧することに加えて、液の移動元の密閉容器の気相部を微加圧するようにすれば、より洗浄液の濾過処理に要する時間が削減される。またノズル20の先端まで達した洗浄液を廃棄せずに処理液濾過装置3まで戻して再び濾過処理を行なうことにより、洗浄液を再利用することができ、洗浄液消費量の削減が達成できる。
第2の実施形態では、処理液濾過装置3にて洗浄液中の異物除去を行う際に、第1の密閉容器31→フィルタ部4→第2の密閉容器32→第2の処理液流路33→第1の密閉容器31のサイクルを複数回繰り返して実施するようにしてもよい。
また薬液流路2の洗浄手法については、必ずしも上述の手法に限らず、一端処理液濾過装置3にて、第1の密閉容器31→フィルタ部4→第2の密閉容器32→第2の処理液流路33→第1の密閉容器31のサイクルを実施してから、ノズル20の先端まで洗浄液を供給し、再び処理液濾過装置3に戻すようにしてもよい。
(第3の実施形態)
次いで本発明の薬液供給装置の第3の実施形態について図16を参照しながら説明する。この実施形態が第1の実施形態と異なる点は、処理液貯留容器8と中間タンク10と、をバルブV81を備えた薬液流路81により接続すると共に、この薬液流路81におけるバルブV81の上流側に、第2の密閉容器32の液相に一端が接続される薬液流路23を介して処理液循環部30を接続したことである。処理液貯留容器8から第1の貯留容器31へ直接処理液が供給されないこと以外については処理液濾過装置300等、その他の構成は第1の実施形態と同様であり、同じ構成部材については同符号を付し、説明を省略する。
この実施形態の薬液供給装置にて行われる薬液供給の一例について説明すると、例えば処理液貯留容器8に薬液(レジスト液)が貯留されている場合には、例えば処理液貯留容器8内の気相部をガス供給源53からの窒素ガスの供給により加圧することにより中間タンク10に薬液を送液する。次いで第1の実施形態と同様に中間タンク10からポンプユニット12を介してノズル20に薬液を送液して、ウエハに対して液処理を行う。
次に第1の実施形態と同様に、ノズル20内部の薬液を中間タンク10→第2の密閉容器32→第2の処理液流路33の経路で第1の密閉容器31に戻し、処理液循環部30にて薬液の異物を除去する処理を行う。こうして異物が除去された薬液は再びノズル20に供給されて液処理が実施される。また処理液循環部30にて薬液中の異物の除去処理を行っている間に、バルブV14を閉じて処理液貯留容器8から中間タンク10を介してノズル20に薬液を供給して液処理を行ってもよい。
処理液貯留容器8に洗浄液を貯留する場合には、例えば中間タンク10を介してノズル20の内部まで洗浄液を送液して、薬液流路2の洗浄を行う。次いで第2の実施形態と同様に、ノズル20内部の洗浄液を中間タンク10、第2の密閉容器32、第2の処理液流路33を介して第1の密閉容器31に戻し、処理液循環部30にて洗浄液中の異物の除去処理を行う。こうして異物が除去された洗浄液を再びノズル20内部まで供給して薬液流路2の洗浄を行ってもよいし、処理液循環部30にて洗浄液中の異物の除去処理を行っている間に、バルブV14を閉じて処理液貯留容器8から中間タンク10を介してノズル20に向けて洗浄液を送液して薬液流路2の洗浄処理を行ってもよい。
こうして薬液流路2の洗浄が終了した後、例えばノズル20内の洗浄液を既述のように処理液循環部30の第1及び第2の密閉容器31、32の少なくとも一方に回収する。そして例えば処理液であるレジスト液が貯留される処理液貯留容器8を薬液流路81の上流端に取り付け、処理液貯留容器8からノズル20へ処理液である薬液を供給して、ウエハに対して液処理が行われる。また薬液流路2の洗浄が終了した後、例えば洗浄液をノズル20を介して排出して回収すると共に、処理液が貯留される処理液貯留容器8を薬液流路81の上流端に取り付け、処理液貯留容器8からノズル20へ処理液であるレジスト液を供給して、ウエハに対して液処理を行うようにしてもよい。
この実施形態によれば、処理液濾過装置300にて処理液中の異物を除去する際、第1の密閉容器31と第2の密閉容器32との間の洗浄液の送液を、移動先の密閉容器を減圧することにより行っているので、第1及び第2の実施形態と同様の効果が得られる。
(第4の実施形態)
続いて第4の実施形態について図17を参照して説明する。この実施形態では、薬液を貯留する処理液貯留容器82をバルブV84を備えた処理液流路84を介して、処理液循環部30の第1の密閉容器31に接続すると共に、洗浄液を貯留する処理液貯留容器83をバルブV85を備えた処理液流路85を介して、処理液循環部30の下流側の薬液流路23に接続したものである。また処理液貯留容器82、83は、夫々バルブV86、V87が介設された加圧管をなすガス供給路86、87により圧力調整用タンク52を介して窒素ガス供給源53に接続されている。その他の構成は第1の実施形態と同様であり、同じ構成部材については同符号を付し、説明を省略する。
この実施形態の薬液供給装置にて行われる薬液供給の一例について説明すると、例えば、処理液貯留容器83内の洗浄液を薬液流路23を介して下流側に送液してノズル20の内部まで供給し、次いでノズル20内の洗浄液を処理液循環部30に戻して既述の処理を行うことによって、流路の洗浄と、洗浄液中の異物除去を行う。そして例えば洗浄液をノズル20から吐出させて回収するか、処理液貯留容器83に回収した後、処理液貯留容器82から薬液(レジスト液)を処理液濾過装置3に送液して薬液の濾過処理を行い、次いで異物が除去された薬液をノズル20に供給して液処理を実施する。またノズル20内の薬液を処理液濾過装置3に戻して、薬液中の異物の除去処理を行うようにしてもよい。薬液や洗浄液の送液は第1の実施形態と同様に行われる。
この実施形態によれば、処理液濾過装置3にて処理液中の異物を除去する際、第1の密閉容器31と第2の密閉容器32との間の洗浄液の送液を、移動先の密閉容器を減圧することにより行っているので、第1及び第2の実施形態と同様の効果が得られる。
以上において、第1の密閉容器の気相部を加圧する第1の加圧部及び第2の密閉容器の気相部を加圧する第2の加圧部は必ずしも必要でなく、処理液の濾過処理については必ずしも上述の手法に限らない。また第1の処理液流路と第2の処理液流路の少なくとも一方にフィルタ部が設けられていればよく、これら第1及び第2の処理液流路の両方にフィルタ部が介設されていてもよい。さらに加圧用のガス供給源から送られた加圧用のガスを圧力調整して送り出すための圧力調整用のタンク及び中間タンクは必ずしも必要ではない。さらにまた洗浄液の濾過を専用とする装置においては、一方の密閉容器の減圧時には他方の密閉容器は空気雰囲気に連通し、空気により加圧されてもよい。さらにまた処理液の濾過のときに、密閉容器内を減圧保持して処理液を脱気する工程は必ずしも必要ではない。
W ウエハ
1 薬液タンク
2 薬液流路
21 第3の処理液流路
22 第1の処理液流路
3 処理液濾過装置
30 処理液循環部
31 第1の密閉容器
32 第2の密閉容器
33 第2の処理液流路
4 フィルタ部

Claims (7)

  1. 薬液供給源から薬液流路及びノズルを介して被処理体に薬液を供給する薬液供給装置に用いられる前記薬液または前記薬液流路を洗浄する洗浄液である処理液を濾過する装置において、
    前記処理液が各々貯溜される第1の密閉容器及び第2の密閉容器と、
    前記第2の密閉容器内の処理液を吸引するために、前記第1の密閉容器の気相部を減圧する第1の減圧部と、
    前記第1の密閉容器内の処理液を吸引するために、前記第2の密閉容器の気相部を減圧する第2の減圧部と、
    前記第1の密閉容器から前記第2の密閉容器に処理液を送るための第1の処理液流路と、
    前記第2の密閉容器から前記第1の密閉容器に処理液を送るための第2の処理液流路と、
    前記第1の処理液流路及び第2の処理液流路の少なくとも一方に設けられ、処理液中の異物を除去するためのフィルタ部と
    前記第1の処理液流路に設けられ、前記第2の減圧部により前記第2の密閉容器の気相部を減圧するときには開かれた状態となり、前記第1の減圧部により前記第1の密閉容器の気相部を減圧するときには閉じられた状態となる第1のバルブと、
    前記第2の処理液流路に設けられ、前記第1の減圧部により前記第1の密閉容器の気相部を減圧するときには開かれた状態となり、前記第2の減圧部により前記第2の密閉容器の気相部を減圧するときには閉じられた状態となる第2のバルブと、
    前記第2の密閉容器の気相部が減圧されるときに前記第1の密閉容器の気相部を加圧する第1の加圧部と、
    前記第1の密閉容器の気相部が減圧されるときに前記第2の密閉容器の気相部を加圧する第2の加圧部と、を備えたことを特徴とする処理液濾過装置。
  2. 前記第1の加圧部及び第2の加圧部は、加圧用のガス供給源から送られた加圧用のガスを圧力調整して送り出すための圧力調整用のタンクを備えていることを特徴とする請求項記載の処理液濾過装置。
  3. 前記処理液を貯留する処理液貯留容器と、この処理液貯留容器内の液相部から前記第1の密閉容器に処理液を供給するための第3の処理液流路と、を備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の処理液濾過装置。
  4. 薬液供給源からの薬液を送液機構により薬液流路及びノズルを介して被処理体に供給する薬液供給装置において、
    請求項1ないしのいずれか一項に記載された処理液濾過装置と、前記処理液濾過装置にて濾過された処理液を前記薬液流路に供給するための処理液供給路と、を備えたことを特徴とする薬液供給装置。
  5. 前記処理液供給路は、前記薬液流路に送られた処理液を処理液濾過装置に戻すための流路を兼用することを特徴とする請求項記載の薬液供給装置。
  6. 薬液供給源から薬液流路及びノズルを介して被処理体に薬液を供給する薬液供給装置に用いられる前記薬液または前記薬液流路を洗浄する洗浄液である処理液を濾過する方法において、
    第1の密閉容器及び第2に密閉容器を用い、
    前記第2の密閉容器の気相部を減圧することにより、第1の密閉容器から第1の処理液流路を介して前記第2の密閉容器に処理液を送り出す工程と、
    前記第1の密閉容器の気相部を減圧することにより、第2の密閉容器から第2の処理液流路を介して前記第1の密閉容器に処理液を送り出す工程と、
    前記処理液が前記第1の処理液流路及び第2の処理液流路の少なくとも一方を流れるときに、フィルタ部により処理液中の異物を除去する工程と、を含み、
    前記第2の密閉容器の気相部が減圧されるときに前記第1の密閉容器の気相部を加圧し、
    前記第1の密閉容器の気相部が減圧されるときに前記第2の密閉容器の気相部を加圧することを特徴とする処理液濾過方法。
  7. 薬液供給源から薬液流路及びノズルを介して被処理体に薬液を供給する薬液供給装置に用いられる前記薬液または前記薬液流路を洗浄する洗浄液である処理液を濾過する装置に用いられるコンピュータプログラムを記憶する記憶媒体であって、
    前記コンピュータプログラムは、請求項に記載された処理液濾過方法を実行するようにステップ群が組まれていることを特徴とする記憶媒体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107863313B (zh) * 2017-11-21 2020-12-04 长江存储科技有限责任公司 用于晶圆刻蚀的化学液供应装置及化学液供应方法
CN109316819A (zh) * 2018-10-30 2019-02-12 德淮半导体有限公司 反应槽设备的过滤器清洗装置及其清洗方法、反应槽设备
CN109696802B (zh) * 2019-01-16 2024-05-07 宁波南大光电材料有限公司 一种溶剂生产设备、溶剂制备及取用方法
JP7161955B2 (ja) * 2019-02-20 2022-10-27 東京エレクトロン株式会社 フィルタウェッティング方法及び処理液供給装置
CN110197801A (zh) * 2019-05-14 2019-09-03 清华大学 一种基板处理液的存储装置和基板后处理设备
JP7345296B2 (ja) * 2019-07-02 2023-09-15 東レエンジニアリング株式会社 薬液合成装置
CN114127550A (zh) * 2019-08-05 2022-03-01 株式会社日立高新技术 脱气装置及电解质测量系统

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0231785Y2 (ja) * 1985-08-26 1990-08-28
JP2556313B2 (ja) * 1986-10-15 1996-11-20 キヤノン株式会社 薬液供給装置
JP3206745B2 (ja) * 1999-05-21 2001-09-10 東京エレクトロン株式会社 液供給装置
JP4140369B2 (ja) * 2002-12-12 2008-08-27 マックス株式会社 コンクリートドリル用の冷却水濾過システム
WO2009050783A1 (ja) * 2007-10-16 2009-04-23 Japan Field Co., Ltd. 汚液の濾過方法及びその装置
JP4879253B2 (ja) * 2008-12-04 2012-02-22 東京エレクトロン株式会社 処理液供給装置
JP5451515B2 (ja) * 2010-05-06 2014-03-26 東京エレクトロン株式会社 薬液供給システム、これを備える基板処理装置、およびこの基板処理装置を備える塗布現像システム
KR20140130704A (ko) * 2012-02-24 2014-11-11 어드밴스드 테크놀러지 머티리얼즈, 인코포레이티드 유체 전달 시스템 및 방법
JP5439579B2 (ja) 2012-02-27 2014-03-12 東京エレクトロン株式会社 液処理装置及び液処理方法
JP5910401B2 (ja) * 2012-08-03 2016-04-27 東京エレクトロン株式会社 処理液供給装置の運転方法、処理液供給装置及び記憶媒体

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