JP6772989B2 - 試料ホルダ - Google Patents
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- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 claims description 41
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 18
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 16
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 16
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 12
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 11
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 8
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 2
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000379 polypropylene carbonate Polymers 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/2204—Specimen supports therefor; Sample conveying means therefore
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L3/00—Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware; Droppers
- B01L3/50—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes
- B01L3/505—Containers for the purpose of retaining a material to be analysed, e.g. test tubes flexible containers not provided for above
- B01L3/5055—Hinged, e.g. opposable surfaces
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3563—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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Description
そのため、試料ホルダから試料を取り出す作業を行うことなく、試料を保持した試料ホルダごと装置に設置することで、試料の分析を行うことができる。
その結果、蛍光X線分析装置及びフーリエ変換赤外分光光度計を用いて試料の分析を行う際における、試料の設置に伴うユーザの作業を簡易化できる。
そのため、簡易な構成で、試料を試料ホルダに保持させることができる。
そのため、蛍光X線分析装置を用いて試料を分析する際において、試料を装置側にできるだけ近づけるようにして、試料ホルダを装置に設置できる。
その結果、蛍光X線分析装置を用いた試料の分析において、蛍光X線を試料に対して正確に照射できる。
よって、蛍光X線分析装置を用いた試料の分析において、分析精度を向上できる。
そのため、1対のフィルムの間に試料が挟み込まれた状態において、一方のフィルムと他方のフィルムとの間の距離を短くできる。
その結果、1対のフィルムの間で試料を安定的に保持できる。
図1は、本発明の一実施形態に係る試料ホルダ1が設置された状態の分析システム30の構成例を示した概略図である。
フーリエ変換赤外分光光度計31は、筐体311と、干渉計312と、反射鏡313と、赤外線検出器314とを備えている。
干渉計312は、干渉光を発生させるためのものであって、光源315と、ハーフミラー316と、移動鏡317と、固定鏡318とを備えている。
光源315は、測定光としての赤外光(赤外線)を出射する。
固定鏡318は、ハーフミラー316を挟んで、光源315と反対側に配置されている。
反射鏡313は、筐体311の開口311aと間隔を隔てて配置されている。
筐体321は、ボックス状に形成されている。筐体321内には、光源322及び蛍光X線検出器323が配置されている。筐体321の上面は、試料(試料ホルダ1)を設置するための設置部として機能する。筐体321の上面には、開口321aが形成されている。
光源322は、筐体321の開口321aと間隔を隔てて配置されている。光源322は、測定光としての励起X線を出射する。
蛍光X線検出器323は、入射するX線(蛍光X線)を検出し、検出した光に応じて検出信号を得るように構成されている。
制御部33は、蛍光X線検出器323からの検出信号に基づいて、スペクトルの強度分布データを得る。
図2は、開状態の試料ホルダ1を内面側から見た状態を示した平面図である。図3は、開状態の試料ホルダ1を外面側から見た状態を示した平面図である。図4は、図2のA−A線に沿う断面図である。
第1開口部412は、平面視矩形状に形成されており、第1本体板41の中央部を直交方向に貫通している。
突出壁422は、第2本体板42の内面側の外縁から直交方向に向かって突出している。
このように、第2フィルム6は、基材層61及び粘着層62の2層で構成されており、その厚みは、例えば、50μm以下である。
以下では、図4、及び、図5A〜図5Cを用いて、試料ホルダ1による試料Sの保持、及び、試料ホルダ1の設置について説明する。図5Aは、試料ホルダ1の粘着層62に試料Sを保持させた状態を示した断面図である。図5Bは、フーリエ変換赤外分光光度計31に試料ホルダ1を設置した状態を示した断面図である。図5Cは、蛍光X線分析装置32に試料ホルダ1を設置した状態を示した断面図である。
この状態で、上記したように、試料ホルダ1の試料Sに向けて赤外光が照射される。
この状態で、上記したように、試料ホルダ1の試料Sに向けて励起X線が照射される。
4.作用効果
その結果、簡易な構成で、試料Sを試料ホルダ1に保持させることができる。
このように、ユーザは、第1開口部412及び第2開口部424のそれぞれを介して、試料ホルダ1で保持された試料Sを視認できる。
その結果、蛍光X線分析装置32を用いた試料の分析において、蛍光X線を試料Sに対して正確に照射できる。
よって、蛍光X線分析装置32を用いた試料Sの分析において、分析精度を向上できる。
その結果、第1フィルム5と第2フィルム6との間で試料Sを安定的に保持できる。
その結果、試料Sの有機物を正確に分析できる。
5.変形例
4 ホルダ本体
5 第1フィルム
6 第2フィルム
31 フーリエ変換赤外分光光度計
32 蛍光X線分析装置
41 第1本体板
42 第2本体板
61 基材層
62 粘着層
412 第1開口部
423 目印
424 第2開口部
Claims (8)
- 蛍光X線分析装置及びフーリエ変換赤外分光光度計に共用することができ、分析対象となる試料を保持するための試料ホルダであって、
ホルダ本体と、
前記ホルダ本体に取り付けられた1対のフィルムとを備え、
前記蛍光X線分析装置を用いて試料を分析する際には、前記1対のフィルムの間に試料が挟み込まれた状態で、一方のフィルムを介して試料にX線が照射され、
前記フーリエ変換赤外分光光度計を用いて試料を分析する際には、前記1対のフィルムにより試料が挟み込まれていない状態で、前記1対のフィルムを介さずに試料に赤外線が照射されることを特徴とする試料ホルダ。 - 前記1対のフィルムのうち他方のフィルムには、前記1対のフィルムの間に試料が挟み込まれた状態で前記一方のフィルムに対向する面に、粘着層が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の試料ホルダ。
- 前記ホルダ本体は、それぞれ板状に形成された1対の本体板を有し、
前記1対のフィルムのうち前記一方のフィルムは、前記1対の本体板の一方に取り付けられ、他方のフィルムは、前記1対の本体板の他方に取り付けられていることを特徴とする請求項1又は2に記載の試料ホルダ。 - 前記ホルダ本体は、前記1対の本体板が互いに対向するように折り畳まれることにより、前記1対のフィルムの間に試料が挟み込まれることを特徴とする請求項3に記載の試料ホルダ。
- 前記1対の本体板には、前記1対のフィルムが取り付けられる開口部がそれぞれ形成されており、
前記1対のフィルムは、それぞれ透明であることを特徴とする請求項3又は4に記載の試料ホルダ。 - 前記一方のフィルムは、前記一方の本体板に対して、前記1対のフィルムの間に試料が挟み込まれたときに外側となる面に取り付けられており、
前記他方のフィルムは、前記他方の本体板に対して、前記1対のフィルムの間に試料が挟み込まれたときに内側となる面に取り付けられている ことを特徴とする請求項3〜5のいずれか一項に記載の試料ホルダ。 - 前記1対のフィルムは、同一の材料により形成されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の試料ホルダ。
- 前記ホルダ本体には、前記蛍光X線分析装置を用いて試料を分析する際にX線が照射される側とは反対側の面、及び、前記フーリエ変換赤外分光光度計を用いて試料を分析する際に赤外線が照射される側とは反対側の面に、当該ホルダ本体の設置の向きを表す目印が設けられていることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の試料ホルダ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017160497A JP6772989B2 (ja) | 2017-08-23 | 2017-08-23 | 試料ホルダ |
US15/926,079 US10508999B2 (en) | 2017-08-23 | 2018-03-20 | Sample holder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017160497A JP6772989B2 (ja) | 2017-08-23 | 2017-08-23 | 試料ホルダ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019039724A JP2019039724A (ja) | 2019-03-14 |
JP6772989B2 true JP6772989B2 (ja) | 2020-10-21 |
Family
ID=65437114
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017160497A Active JP6772989B2 (ja) | 2017-08-23 | 2017-08-23 | 試料ホルダ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10508999B2 (ja) |
JP (1) | JP6772989B2 (ja) |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5657383A (en) * | 1995-06-06 | 1997-08-12 | Lucent Technologies Inc. | Flexible customer controlled telecommunications handling |
JP3331124B2 (ja) * | 1996-07-05 | 2002-10-07 | 理学電機工業株式会社 | X線分析のための測定用試料およびその作製方法 |
JP4092037B2 (ja) * | 1999-03-05 | 2008-05-28 | 株式会社堀場製作所 | 物質同定装置 |
JP2001013095A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Horiba Ltd | 試料の無機物分析装置ならびに試料の無機物および/または有機物分析装置 |
US7932095B2 (en) * | 2000-10-18 | 2011-04-26 | Herpst Robert D | Sample holding substrate for use with an infrared spectrophotometer or filtometer and methods of manufacture and use thereof |
JP2003270208A (ja) * | 2002-03-14 | 2003-09-25 | Tdk Corp | 試料ホルダ、レーザアブレーション装置、レーザアブレーション方法、試料分析装置、試料分析方法及び試料ホルダ用保持台 |
JP2005189121A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Nitto Denko Corp | サンプル保管用シート及びサンプル保管方法 |
US7597852B2 (en) * | 2004-09-03 | 2009-10-06 | Symyx Solutions, Inc. | Substrate for sample analyses |
US8062901B2 (en) * | 2005-04-30 | 2011-11-22 | Alere Switzerland Gmbh | Devices and methods for sample collection and analysis |
JP2008268059A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | St Japan Inc | 試料ホルダ |
US8384895B2 (en) * | 2009-01-20 | 2013-02-26 | Spectro, Inc. | Spectrometer flip top sample head |
JP2011203102A (ja) * | 2010-03-25 | 2011-10-13 | Nikon Corp | 試料ホルダ及び試料分析方法 |
GB201104607D0 (en) * | 2011-03-18 | 2011-05-04 | Ge Healthcare Ltd | Arrangement for preservation of biological samples |
US9412572B2 (en) * | 2012-10-28 | 2016-08-09 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Sample holders and methods of using them |
JP3183194U (ja) * | 2013-02-18 | 2013-05-09 | 株式会社島津製作所 | フーリエ変換赤外分光光度計におけるフィルム状試料透過測定用試料ホルダ |
JP6507757B2 (ja) * | 2015-03-20 | 2019-05-08 | 株式会社島津製作所 | 異物解析装置 |
WO2018102467A1 (en) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | Anasys Instruments Corporation | Method and apparatus for enhanced photo-thermal imaging and spectroscopy |
-
2017
- 2017-08-23 JP JP2017160497A patent/JP6772989B2/ja active Active
-
2018
- 2018-03-20 US US15/926,079 patent/US10508999B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190064085A1 (en) | 2019-02-28 |
JP2019039724A (ja) | 2019-03-14 |
US10508999B2 (en) | 2019-12-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A80 | Written request to apply exceptions to lack of novelty of invention |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A80 Effective date: 20170906 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191205 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200826 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200901 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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