JP6767176B2 - 端子圧着の良否判定装置および良否判定方法 - Google Patents
端子圧着の良否判定装置および良否判定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6767176B2 JP6767176B2 JP2016116080A JP2016116080A JP6767176B2 JP 6767176 B2 JP6767176 B2 JP 6767176B2 JP 2016116080 A JP2016116080 A JP 2016116080A JP 2016116080 A JP2016116080 A JP 2016116080A JP 6767176 B2 JP6767176 B2 JP 6767176B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- area
- determination
- terminal crimping
- areas
- defective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R4/00—Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation
- H01R4/10—Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation effected solely by twisting, wrapping, bending, crimping, or other permanent deformation
- H01R4/18—Electrically-conductive connections between two or more conductive members in direct contact, i.e. touching one another; Means for effecting or maintaining such contact; Electrically-conductive connections having two or more spaced connecting locations for conductors and using contact members penetrating insulation effected solely by twisting, wrapping, bending, crimping, or other permanent deformation by crimping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
- H01R43/04—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for forming connections by deformation, e.g. crimping tool
- H01R43/048—Crimping apparatus or processes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
Description
まず、図1および図2を参照しながら、端子圧着装置1の構成について説明する。図1は端子圧着装置1の正面図、図2は端子圧着装置1の側面図である。端子圧着装置1は、アンビル2と、昇降可能なクリンパ3と、クリンパ3を昇降させるモータ4とを備えている。モータ4は、モータ4の回転位置を検出可能なサーボモータにより構成されている。ただし、モータ4の種類は特に限定されず、サーボモータ以外のモータであってもよい。モータ4は、アンビル2に対しクリンパ3を接近および離反させる電動式のアクチュエータの一例である。しかし、アクチュエータはモータ4に限定される訳ではない。アクチュエータとして、クリンパ3を昇降可能な任意のアクチュエータを用いることができる。
次に、良否判定装置100の構成について説明する。図3に示すように、本実施形態に係る良否判定装置100は、前述の圧力センサ21と、A/D変換器22と、コントローラ20と、ディスプレイ26とを備えている。良否判定装置100は、ハードディスクなどの外部メモリ27を更に備えていてもよい。コントローラ20は、CPU30と、ROM24と、RAM25とを含んでいる。モータ4にはサーボアンプ8が接続され、サーボアンプ8はコントローラ20に接続されている。
次に、良否判定装置100が行う良否判定の方法について説明する。良否判定装置100は、検査品の端子圧着が行われたときに、所定の検出値(後述する判定エリアのエリア面積)が予め定めた閾値を超えたか否かに基づいて、端子圧着の良否を判定する。始めに、閾値の設定方法について説明する。
以上のように、本実施形態に係る良否判定装置100によれば、端子圧着装置1により複数の良品サンプルおよび複数の不良品サンプルの端子圧着を行い、それらのデータに基づいて閾値を自動的に設定する。人が勘や経験に基づいて閾値を手動で設定する場合、良否判定の精度は、その人の勘や経験に依存し、人為的誤差が発生し得る。しかし、本実施形態に係る良否判定装置100によれば、客観的なデータに基づいて閾値が自動的に設定されるので、そのような人為的誤差は生じない。また、人が勘や経験に基づいて閾値を手動で設定すると、データ上に新たな特異点(良品と不良品との差が区別しやすい点)が生じた場合、その特異点を利用することはできない。しかし、本実施形態に係る良否判定装置100によれば、良品サンプルおよび不良品サンプルのデータに基づいて閾値が自動的に設定されるので、新たに生じる特異点を利用することが可能となる。
前記実施形態では、ステップS5において、全エリアA1〜A10の中から3つの有効エリアA5〜A7を選択し、それら有効エリアA5〜A7を適宜組み合わせた複数の組合せエリアから判定エリアを抽出することとしていた。しかし、前述したように、全エリアA1〜A10のうち、良品サンプルの正規分布と不良品サンプルの正規分布とが最も分離している1つのエリアを有効エリアとして選択し、その有効エリアを判定エリアとして抽出するようにしてもよい。また、良品サンプルの正規分布と不良品サンプルの正規分布との分離度合いを指標する変数(以下、第3変数という)を定め、第3変数の値が所定値以上のエリアを有効エリアとして選択してもよい。最も第3変数の値が大きいエリア(第3変数の値が所定値以上となる有効エリアが1つの場合は当該有効エリア)を判定エリアとして抽出するようにしてもよい。
2 アンビル
3 クリンパ
4 モータ
10 端子
12 電線
20 コントローラ
21 圧力センサ
40 圧力波形取得部
50 エリア面積算出部
60 判定エリア抽出部
70 閾値設定部
80 判定部
100 良否判定装置
Claims (18)
- 端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形を取得する圧力波形取得部と、
前記圧力波形を端子圧着の進行度合いにより複数のエリアに分割し、前記圧力波形により囲まれる部分の面積であるエリア面積をエリア毎に算出するエリア面積算出部と、
前記複数のエリアに含まれる1つまたは2つ以上のエリアを用いて判定エリアを抽出する判定エリア抽出部と、
前記判定エリアにおける複数の良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と、前記判定エリアにおける複数の不良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と、に基づいて閾値を設定する閾値設定部と、
前記端子圧着装置により検査品の端子圧着が行われたときに、前記検査品の前記判定エリアにおけるエリア面積と前記閾値とを比較することにより、前記検査品の端子圧着の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記判定エリア抽出部は、
前記各エリアの良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と前記各エリアの不良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差とに基づいて、前記複数のエリアから1つまたは2つ以上のエリアを有効エリアとして選択する有効エリア選択部と、
前記有効エリアを用いて前記判定エリアを決定する判定エリア決定部と、
を有している、端子圧着の良否判定装置。 - 端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形を取得する圧力波形取得部と、
前記圧力波形を端子圧着の進行度合いにより複数のエリアに分割し、前記圧力波形により囲まれる部分の面積であるエリア面積をエリア毎に算出するエリア面積算出部と、
前記複数のエリアに含まれる1つまたは2つ以上のエリアを用いて判定エリアを抽出する判定エリア抽出部と、
前記判定エリアにおける複数の良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と、前記判定エリアにおける複数の不良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と、に基づいて閾値を設定する閾値設定部と、
前記端子圧着装置により検査品の端子圧着が行われたときに、前記検査品の前記判定エリアにおけるエリア面積と前記閾値とを比較することにより、前記検査品の端子圧着の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記閾値設定部は、
前記判定エリアにおける良品サンプルのエリア面積の平均値μdOK、良品サンプルのエリア面積の標準偏差σdOK、不良品サンプルのエリア面積の平均値μdNG、および不良品サンプルのエリア面積の標準偏差σdNGを算出する判定エリア算出部と、
p、qを1以上の実数としたときに、μdNG>μdOKかつ(μdNG−p×σdNG)>(μdOK+q×σdOK)のときの(μdNG−p×σdNG)と(μdOK+q×σdOK)との間の所定値、または、μdOK>μdNGかつ(μdOK−p×σdOK)>(μNG+q×σdNG)のときの(μdOK−p×σdOK)と(μdNG+q×σdNG)との間の所定値を、閾値として決定する閾値決定部と、
を有している、端子圧着の良否判定装置。 - 前記判定エリア抽出部は、前記各エリアの良品サンプルのエリア面積の平均値μOK、良品サンプルのエリア面積の標準偏差σOK、不良品サンプルのエリア面積の平均値μNG、および不良品サンプルのエリア面積の標準偏差σNGを算出するエリア別算出部を有し、
前記有効エリア選択部は、m、nを1以上の実数としたときに、μNG>μOKのときのB=(μNG−n×σNG)−(μOK+m×σOK)、または、μOK>μNGのときのB=(μOK−n×σOK)−(μNG+m×σNG)が大きくなるほど値が大きくなる第1変数に基づいて、前記複数のエリアから1つまたは2つ以上のエリアを有効エリアとして選択するように構成されている、請求項1または2に記載の端子圧着の良否判定装置。 - 前記第1変数は、μNG>μOKのときの分離度=[(μNG−n×σNG)−(μOK+m×σOK)]/(μNG−μOK)、または、μOK>μNGのときの分離度=[(μOK−n×σOK)−(μNG+m×σNG)]/(μOK−μNG)である、請求項3に記載の端子圧着の良否判定装置。
- m=n=3である、請求項4に記載の端子圧着の良否判定装置。
- 前記有効エリア選択部は、前記複数のエリアのうち、前記第1変数の値が最も大きい1つのエリアを有効エリアとして選択するように構成され、
前記判定エリア決定部は、前記有効エリアを判定エリアとするように構成されている、請求項3〜5のいずれか一つに記載の端子圧着の良否判定装置。 - 前記有効エリア選択部は、前記複数のエリアのうち、前記第1変数の値がより大きい2つ以上のエリアを有効エリアとして選択するように構成され、
前記判定エリア決定部は、前記2つ以上の有効エリアを用いて判定エリアを決定するように構成されている、請求項3〜5のいずれか一つに記載の端子圧着の良否判定装置。 - 前記有効エリア選択部は、前記複数のエリアのうち、少なくとも前記第1変数の値が大きい順に、または、不良品サンプルのエリア面積の標準偏差の小さい順に、2つ以上のエリアを有効エリアとして選択するように構成され、
前記判定エリア決定部は、
選択された有効エリアに対して重み付けを行った後、重み付けされた有効エリアを組み合わせてなる組合せエリアを作成する組合せエリア作成部と、
前記組合せエリアから判定エリアを決定する組合せエリア決定部と、
を有している、請求項3〜5のいずれか一つに記載の端子圧着の良否判定装置。 - 前記有効エリア選択部は、前記複数のエリアのうち、少なくとも前記第1変数の値が1番目に大きい第1エリア、2番目に大きい第2エリア、3番目に大きい第3エリアを有効エリアとして選択するように構成され、
前記判定エリア決定部は、
前記第1エリアと前記第2エリアとを足し合わせた組合せエリア、前記第1エリアと前記第3エリアとを足し合わせた組合せエリア、前記第2エリアと前記第3エリアとを足し合わせた組合せエリア、前記第1エリアと前記第2エリアと前記第3エリアとを足し合わせた組合せエリアを含む複数の組合せエリアを作成する組合せエリア作成部と、
前記各組合せエリアの良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と前記各組合せエリアの不良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差とに基づいて、前記複数の組合せエリアのうちいずれか1つを判定エリアとする組合せエリア決定部と、
を有している、請求項3〜5のいずれか一つに記載の端子圧着の良否判定装置。 - 前記判定エリア決定部は、前記各組合せエリアの良品サンプルのエリア面積の平均値μOK、良品サンプルのエリア面積の標準偏差σOK、不良品サンプルのエリア面積の平均値μNG、および不良品サンプルのエリア面積の標準偏差σNGを算出する組合せエリア別算出部を有し、
前記組合せエリア決定部は、r、sを1以上の実数としたときに、前記組合せエリア作成部が作成した複数の組合せエリアのうち、μNG>μOKのときのB=(μNG−r×σNG)−(μOK+s×σOK)、または、μOK>μNGのときのB=(μOK−r×σOK)−(μNG+s×σNG)が大きくなるほど大きくなる第2変数の値が最も大きい組合せエリアを、前記判定エリアとするように構成されている、請求項9に記載の端子圧着の良否判定装置。 - 前記第2変数は、μNG>μOKのときの分離度=[(μNG−r×σNG)−(μOK+s×σOK)]/(μNG−μOK)、または、μOK>μNGのときの分離度=[(μOK−r×σOK)−(μNG+s×σNG)]/(μOK−μNG)である、請求項10に記載の端子圧着の良否判定装置。
- r=s=3である、請求項11に記載の端子圧着の良否判定装置。
- 前記組合せエリア作成部は、前記複数の組合せエリアを作成する際に、少なくとも前記第1エリア、前記第2エリア、前記第3エリアに対し重み付けを行うように構成されている、請求項9〜12のいずれか一つに記載の端子圧着の良否判定装置。
- 前記組合せエリア作成部は、標準偏差が小さいほど重み付けが大きくなるような重み付けを行うように構成されている、請求項8または13に記載の端子圧着の良否判定装置。
- 前記組合せエリア作成部は、分離度が大きいほど重み付けが大きくなるような重み付けを行うように構成されている、請求項8、13、または14に記載の端子圧着の良否判定装置。
- 端子圧着装置による端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形を取得する圧力波形取得部と、
前記圧力波形を端子圧着の進行度合いにより複数のエリアに分割し、前記圧力波形により囲まれる部分の面積であるエリア面積をエリア毎に算出するエリア面積算出部と、
前記複数のエリアに含まれる1つまたは2つ以上のエリアを用いて判定エリアを抽出する判定エリア抽出部と、
前記判定エリアにおける複数の良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と、前記判定エリアにおける複数の不良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と、に基づいて閾値を設定する閾値設定部と、
前記端子圧着装置により検査品の端子圧着が行われたときに、前記検査品の前記判定エリアにおけるエリア面積と前記閾値とを比較することにより、前記検査品の端子圧着の良否を判定する判定部と、
を備え、
前記判定エリア抽出部は、
前記複数のエリアのうち、不良品サンプルのエリア面積の標準偏差の値が小さい順に1つまたは2つ以上のエリアを有効エリアとして選択する有効エリア選択部と、
前記有効エリアを用いて前記判定エリアを決定する判定エリア決定部と、
を有している、端子圧着の良否判定装置。 - 前記端子圧着装置は、電線の端部および端子が載置されるアンビルと、前記アンビルに対して接近および離反が可能なクリンパと、前記クリンパを前記アンビルに対して接近および離反させる電動式のアクチュエータと、を有し、
前記端子圧着の進行度合いは、経過時間、前記クリンパの位置、前記クリンパの移動距離、前記クリンパの速度、前記クリンパの加速度、前記アクチュエータに供給される電流、前記アクチュエータの作動位置のいずれか一つである、請求項1〜16のいずれか一つに記載の端子圧着の良否判定装置。 - 端子圧着装置により複数の良品サンプルおよび複数の不良品サンプルの端子圧着を行い、前記各サンプルの端子圧着の進行度合いと前記端子圧着装置に発生する圧力との関係を表す圧力波形を取得するステップと、
前記各サンプルの前記圧力波形を端子圧着の進行度合いにより複数のエリアに分割し、前記圧力波形により囲まれる部分の面積であるエリア面積をエリア毎に算出するステップと、
前記各エリアの良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差と、前記各エリアの不良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差とを算出するステップと、
前記良品サンプルおよび前記不良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差に基づいて、前記複数のエリアから1つまたは2つ以上のエリアを有効エリアとして選択するステップと、
前記有効エリアを用いて判定エリアを抽出するステップと、
前記判定エリアにおける前記良品サンプルおよび前記不良品サンプルのエリア面積の平均値および標準偏差に基づいて閾値を設定するステップと、
前記端子圧着装置により検査品の端子圧着を行い、前記検査品の前記判定エリアにおけるエリア面積と前記閾値とを比較することにより、前記検査品の端子圧着の良否を判定するステップと、
を含んだ端子圧着の良否判定方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016116080A JP6767176B2 (ja) | 2016-06-10 | 2016-06-10 | 端子圧着の良否判定装置および良否判定方法 |
PCT/JP2017/016174 WO2017212809A1 (ja) | 2016-06-10 | 2017-04-24 | 端子圧着の良否判定装置および良否判定方法 |
CN201780017292.1A CN108780974B (zh) | 2016-06-10 | 2017-04-24 | 端子压接的优劣判断装置以及优劣判断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016116080A JP6767176B2 (ja) | 2016-06-10 | 2016-06-10 | 端子圧着の良否判定装置および良否判定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017220417A JP2017220417A (ja) | 2017-12-14 |
JP6767176B2 true JP6767176B2 (ja) | 2020-10-14 |
Family
ID=60578490
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016116080A Active JP6767176B2 (ja) | 2016-06-10 | 2016-06-10 | 端子圧着の良否判定装置および良否判定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6767176B2 (ja) |
CN (1) | CN108780974B (ja) |
WO (1) | WO2017212809A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7353060B2 (ja) * | 2019-04-03 | 2023-09-29 | 株式会社フクダ | 漏れ検査方法 |
CN110034473A (zh) * | 2019-05-16 | 2019-07-19 | 常州金信诺凤市通信设备有限公司 | 自动化连接器压接装置及其工作方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH087104A (ja) * | 1994-06-20 | 1996-01-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 良否判別しきい値決定方法 |
JP3627212B2 (ja) * | 1999-07-23 | 2005-03-09 | 矢崎総業株式会社 | 端子圧着状態判別方法および装置並びに加締め型の摩耗状態検出方法 |
JP4031214B2 (ja) * | 2001-03-19 | 2008-01-09 | 矢崎総業株式会社 | 端子圧着状態判別方法 |
CN1297044C (zh) * | 2001-06-15 | 2007-01-24 | 矢崎总业株式会社 | 接线端压接状态的测试方法 |
JP4235074B2 (ja) * | 2003-10-03 | 2009-03-04 | トヨタ自動車株式会社 | 良否判定装置、良否判定プログラム及び良否判定方法 |
CN201421564Y (zh) * | 2009-06-15 | 2010-03-10 | 鹤壁海昌专用设备有限公司 | 用于端子压接机的压力控制装置 |
CN204333565U (zh) * | 2014-12-26 | 2015-05-13 | 广州国睿电子科技有限公司 | 一种汽车点火线端子的压接装置 |
-
2016
- 2016-06-10 JP JP2016116080A patent/JP6767176B2/ja active Active
-
2017
- 2017-04-24 CN CN201780017292.1A patent/CN108780974B/zh active Active
- 2017-04-24 WO PCT/JP2017/016174 patent/WO2017212809A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2017212809A1 (ja) | 2017-12-14 |
JP2017220417A (ja) | 2017-12-14 |
CN108780974A (zh) | 2018-11-09 |
CN108780974B (zh) | 2019-12-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6767176B2 (ja) | 端子圧着の良否判定装置および良否判定方法 | |
JP2020064286A (ja) | 異音等検出システム、装置、方法及びプログラム | |
US20180203052A1 (en) | Wire-cable snapping symptom detection apparatus | |
JP4670662B2 (ja) | 異常検出装置 | |
JP2010231455A (ja) | 信号識別方法および信号識別装置 | |
Proença et al. | Characterizing Parkinson’s disease speech by acoustic and phonetic features | |
CN104678220B (zh) | 绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法及装置 | |
JP6904062B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム | |
KR101535707B1 (ko) | 힘 시그니처를 사용하여 품질 수용 기준을 결정하기 위한 방법 | |
JP5134605B2 (ja) | 信号識別装置 | |
JP4775100B2 (ja) | 信号識別装置 | |
JP5525144B2 (ja) | 波形判定装置および該波形判定装置における時間軸位置調整方法 | |
JP7343424B2 (ja) | 端子圧着検査装置および端子圧着検査の基準波形の更新方法 | |
JP4469157B2 (ja) | 端子圧着不良検出装置 | |
JP2021150187A (ja) | 端子付き電線の芯線切れ本数の推定方法、端子圧着検査の良否判定に用いられる閾値の決定方法、および端子圧着検査装置 | |
JP6259749B2 (ja) | 埋設金属体の交流腐食リスク計測評価方法 | |
KR101518849B1 (ko) | 케이블 커넥터의 체결 상태 검사용 장치와 이를 이용한 검사 방법 | |
JP2006105714A (ja) | 送配電線路の事故原因判別方法 | |
JP7418302B2 (ja) | 放電判定装置およびその方法 | |
CN117152157B (zh) | 基于人工智能的电子元件识别方法 | |
JP2007059110A (ja) | 端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法 | |
JP2008046678A (ja) | 異常監視装置 | |
JP4978319B2 (ja) | コンデンサの検査装置 | |
WO2022263713A1 (en) | Monitoring and control of a semiconductor manufacturing process | |
JPH05273083A (ja) | クリック感を有する部品の検査方法及びその装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190416 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200421 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200521 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200915 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200917 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6767176 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |