JP6765119B2 - 基準電圧発生回路及び方法 - Google Patents

基準電圧発生回路及び方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6765119B2
JP6765119B2 JP2017022429A JP2017022429A JP6765119B2 JP 6765119 B2 JP6765119 B2 JP 6765119B2 JP 2017022429 A JP2017022429 A JP 2017022429A JP 2017022429 A JP2017022429 A JP 2017022429A JP 6765119 B2 JP6765119 B2 JP 6765119B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
generation circuit
voltage generation
circuit
reference voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017022429A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018128926A (ja
Inventor
洋光 広瀬
洋光 広瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Electronic Devices Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Electronic Devices Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Electronic Devices Co Ltd filed Critical Ricoh Electronic Devices Co Ltd
Priority to JP2017022429A priority Critical patent/JP6765119B2/ja
Priority to CN201780086032.XA priority patent/CN110291486B/zh
Priority to PCT/JP2017/040400 priority patent/WO2018146878A1/ja
Priority to US16/484,539 priority patent/US10635127B2/en
Publication of JP2018128926A publication Critical patent/JP2018128926A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6765119B2 publication Critical patent/JP6765119B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/30Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/565Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
    • G05F1/567Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for temperature compensation
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/468Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc characterised by reference voltage circuitry, e.g. soft start, remote shutdown

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)

Description

本発明は、例えばバンドギャップ基準電圧発生回路などの基準電圧発生回路及び方法に関する。
多くのシステム又は半導体回路において、温度に対して適度に安定的なDC基準電圧を発生させるための手段として、バンドギャップ基準電圧発生回路が採用されている。従来、この出力の温度依存性を低減し、温度による精度良く基準電圧を生成する試みが多くなされている。
従来のバンドギャップ基準電圧発生回路は、温度傾斜が互いに反対で均衡している2つの電圧を加算することで、基準電圧を発生する。ここで、1つの電圧は、PN接合の順方向電圧であって、負の温度特性を有するベース−エミッタ間電圧Vbe電圧(バイポーラトランジスタのベース−エミッタ間電圧であり、その温度係数は−2mV/°C)である。もう1つの電圧はPN接合の順方向電圧の差(ΔVbe)が有する正の温度特性による電圧である。
例えば特許文献1では、高温特性と低温特性とを両立し,良好な電圧精度が得られる温度範囲を拡大した基準電圧発生回路を提供することを目的としている。当該基準電流発生回路は、バンドギャップに基づく基準電圧を出力する基準電圧発生回路である。基準電圧発生回路は、PN接合素子と複数の抵抗素子とを有し,前記PN接合素子のバンドギャップを前記複数の抵抗素子で補正した電圧を出力する基準電圧出力部を備える。また、前記基準電圧発生回路は、前記基準電圧出力部の出力電圧の温度特性を変更するスイッチと、温度により前記スイッチを操作するスイッチ操作部とを有する。
前記の2つの電圧が加算された電圧は、ベース−エミッタ間電圧Vbeの非線形項も含むため、ある温度を中心として、出力電圧が上に凸の曲線を有する。ただし使用対象の用途によっては温度特性が不十分な場合があった。
本発明の目的は以上の問題点を解決し、従来技術に比較してより簡単な回路で、出力電圧の温度依存性を改善することができる基準電圧発生回路を提供することにある。
本発明の一態様にかかる基準電圧発生回路は、
第1の抵抗と、第1のPN接合素子とが直列に接続され、第1の直流電圧を発生する第1の電圧発生回路と、
第2及び第3の抵抗と、互いに並列に接続された複数の第2のPN接合素子とが直列に接続され、第2の直流電圧を発生する第2の電圧発生回路と、
前記第1の直流電圧と前記第2の直流電圧の差電圧を発生する演算増幅器とを備え、
前記第1及び第2のPN接合素子はそれぞれ、ダイオード接続された第1及び第2のPNP型バイポーラトランジスタで構成され、
前記差電圧に基づいて前記第1及び第2の電圧発生回路に流れる各電流を制御することで、バンドギャップに基づく基準電圧を発生する基準電圧発生回路において、
第4の抵抗と、第3のPNP型バイポーラトランジスタとが直列に接続された第3の電圧発生回路であって、前記第1の電圧発生回路に並列に接続された第3の電圧発生回路を備え、
前記第3の電圧発生回路は、前記第3のPNP型バイポーラトランジスタに流れるベース・エミッタ電流に対応する第3の直流電圧を発生して前記第1の直流電圧とともに前記演算増幅器に印加することを特徴とする。
本発明に係る基準電圧発生回路によれば、1個の抵抗と1個のトランジスタの電圧発生回路からなる第3の電圧発生回路である補正回路をさらに備えたので、従来技術に比較して回路規模を大きくすることなく、温度による出力電圧の温度偏差が少なくし高精度な基準電圧を提供できる。
比較例1にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路の構成例を示す回路図である。 比較例2にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路の構成例を示す回路図である。 図2のバンドギャップ基準電圧発生回路の出力電圧の温度特性を示すグラフである。 本発明の実施形態1にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路の構成例を示す回路図である。 図4の補正回路31の動作を説明するグラフであって、トランジスタQ1のベース−エミッタ間電圧Vbe1の温度特性を示すグラフである。 図4のバンドギャップ基準電圧発生回路において温度Temp<しきい値温度Tvthのときの動作回路を示す回路図である。 図4のバンドギャップ基準電圧発生回路において温度Temp≧しきい値温度Tvthのときの動作回路を示す回路図である。 図8の動作における電流I3の温度特性を示すグラフである。 図8の動作における電流I1の温度特性を示すグラフである。 実施形態1にかかる出力電圧の温度特性を得るための第1の設定手順を示すグラフである。 実施形態1にかかる出力電圧の温度特性を得るための第2の設定手順を示すグラフである。 実施形態1にかかる出力電圧の温度特性を得るための第3の設定手順を示すグラフである。 本発明の実施形態2にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路の構成例を示す回路図である。 図13のバンドギャップ基準電圧発生回路の出力電圧の温度特性を示すグラフである。
以下、比較例及び本発明に係る実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の各実施形態において、同様の構成要素については同一の符号を付している。
比較例1.
図1は比較例1にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路の構成例を示す回路図である。図1において、バンドギャップ基準電圧発生回路は、2個の電流源11,12と、トランジスタQ1と、複数M個のトランジスタQ2−1〜Q2−Mが並列に接続されてなる並列トランジスタ回路30と、抵抗23と、演算増幅器10とを備える。そして、バンドギャップ基準電圧発生回路はバンドギャップ基準電圧に基づいて所定の基準電圧を発生する。ここで、トランジスタQ1,Q2−1〜Q2Mはそれぞれ、例えばPNP型バイポーラトランジスタであり、以下同様である。また、抵抗23は抵抗値R3を有し、以下同様である。
図1において、電流I1を流す電流源11と、ベース及びコレクタが短絡されたトランジスタQ1とが直列に接続され、電源電圧VDDは電流源11及びトランジスタQ1のエミッタ及びコレクタを介して接地される。また、電流I2を流す電流源12と、抵抗23と、それぞれベース及びコレクタが短絡された複数M個のトランジスタQ2からなる並列トランジスタ回路30とが直列に接続され、電源電圧VDDは電流源12及び並列トランジスタ回路30を介して接地される。ここで、トランジスタQ1及びQ2−1〜Q2−Mはそれぞれ、いわゆるダイオード接続されている。トランジスタQ1のベース−エミッタ電圧Vbe1は演算増幅器10の反転入力端子に印加される。複数M個のトランジスタQ2−1〜Q2−Mのベース−エミッタ電圧Vbe2に抵抗23の電圧降下を加算してなる電圧(電流源12と抵抗23の接続点電圧)は演算増幅器10の非反転入力端子に参照電圧として印加される。なお、Vbe2を並列トランジスタ回路30のベース−エミッタ間電圧という。さらに、電源電圧VDDは演算増幅器10に対してその電源電圧として印加される。
以上のように構成されたバンドギャップ基準電圧発生回路において、演算増幅器10の出力端子から出力される出力電圧Voutは電流源11,12の制御入力端子に印加されて、それぞれ電流I1,I2を制御する。当該バンドギャップ基準電圧発生回路の制御系において、演算増幅器10に入力される2個の電圧の差電圧が実質的に0になるように出力電圧Voutが発生され、出力電圧Voutが基準電圧として出力される。
比較例2.
図2は比較例2にかかる一般的なバンドギャップ基準電圧発生回路の構成例を示す回路図である。図2において、バンドギャップ基準電圧発生回路は、3個の抵抗R1,R2,R3と、トランジスタQ1と、複数M個のトランジスタQ2−1〜Q2−Mが並列に接続されてなる並列トランジスタ回路30と、演算増幅器10とを備える。ここで、抵抗21は抵抗値R1を有し、抵抗R22は抵抗値R2を有し、以下同様である。
図2において、電流I1を流す抵抗21と、ベース及びコレクタが短絡されたトランジスタQ1とが直列に接続されて第1の直列回路が形成され、演算増幅器10の出力端子は抵抗21及びトランジスタQ1を介して接地される。また、電流I2を流す抵抗22と、抵抗23と、それぞれベース及びコレクタが短絡された複数M個のトランジスタQ2からなる並列トランジスタ回路30とが直列に接続されて第2の直列回路が形成される。ここで、演算増幅器10の出力端子は抵抗22,23及び並列トランジスタ回路30を介して接地される。トランジスタQ1のベース−エミッタ電圧Vbe1は演算増幅器10の反転入力端子に印加される。複数M個のトランジスタQ2−1〜Q2−Mのベース−エミッタ電圧Vbe2に抵抗23の電圧降下を加算してなる電圧(抵抗22と抵抗23の接続点電圧)は演算増幅器10の非反転入力端子に参照電圧として印加される。なお、電源電圧VDDは演算増幅器10に対してその電源電圧として印加される。
ここで、トランジスタQ1と抵抗21との直列回路は電流I1に対応する電圧を発生する電圧発生回路を構成し、並列トランジスタ回路30と抵抗22,23との直列回路は電流I2に対応する電圧を発生する電圧発生回路を構成する。
以上のように構成されたバンドギャップ基準電圧発生回路において、演算増幅器10の出力端子から出力される出力電圧Voutは抵抗21,22に印加されて、各抵抗21,22は電流I1,I2を流す。当該バンドギャップ基準電圧発生回路の制御系において、演算増幅器10に入力される2個の電圧の差電圧が実質的に0になるように出力電圧Voutが発生され、出力電圧Voutが基準電圧として出力される。
図2のバンドギャップ基準電圧発生回路において、出力電圧Voutの温度特性は、PN接合の順方向電圧が有する負の温度特性と、トランジスタQ1,Q2−1〜Q2−MのPN接合の順方向電圧の差が有する正の温度特性とを利用して生成される。ここで、バンドギャップ基準電圧発生回路は、前記正と負の温度特性を利用して、演算増幅器10の出力電圧Voutを、温度にほとんど依存しないバンドギャップ基準電圧として生成する。出力電圧Voutは次式で表される。
Vout
=R1×I1+Vbe1
=R2×I2+R3×I2+Vbe2 (1)
ここで、演算増幅器10による仮想接地条件は次式で表される。
R1×I1=R2×I2 (2)
前記式(2)から次式(3)を得る。
I2=(R1/R2)×I1 (3)
図2において、ベース−エミッタ間電圧Vbe1及びVbe2の関係は次式で表される。
Vbe1=Vbe2+R3×I2 (4)
ここで、ベース−エミッタ間電圧Vbe1及びVbe2の電圧差ΔVbeは次式で表される。
ΔVbe
=R3×I2
=(R1/R2)×R3×I1 (5)
従って、式(5)を式(1)を代入することで次式を得る。
Vout
=Vbe1+R1×(R2/R1×R3)ΔVbe
=Vbe1+(R2/R3)×ΔVbe (6)
ここで、絶対温度Tに比例する電流Iptatは次式で表される。
Iptat=R2/(R1×R3)×ΔVbe (7)
各トランジスタのベース−エミッタ電圧Vbe1,Vbe2は次式で表される。
Vbe1=kT/q×ln(I1/Is) (8)
Vbe2=kT/q×ln(I2/Is) (9)
ここで、kはボルツマン係数、qは電荷量、Isはトランジスタのプロセス依存の係数である。このとき、出力電圧Voutは式(3)を用いて次式で表される。
Vout
=Vbe1+(R2/R3)×kT/q×ln(I1/I2)
=Vbe1+(R2/R3)×kT/q×ln(R1/R2)
(10)
ここで、ベース−エミッタ電圧Vbe1の温度傾斜はプロセスにより傾斜が決まり、これに対し、残りの項の電流Iptatで温度傾斜を打ち消せば絶対温度Tが一定となる。前記での説明は1次の線形成分のみで、実際は非線形成分が入り、以下の図3に示すような特性となる。
図3は図2のバンドギャップ基準電圧発生回路の出力電圧Toutの温度特性101を示すグラフである。図3から明らかなように、バンドギャップ基準電圧発生回路の出力電圧Toutは温度Tpkにおいてピーク電圧を有する。
ところで、非線形項の温度係数を有する場合の一般的なベース−エミッタ電圧Vbe(T)は次式で表される。
Vbe(T)
=Vbg(1−(T(T))+Vbe0−σ(kT/q)×ln(T(T))+σ(kT/q)×ln(I(T)) (11)
ここで、Vbgはバンドギャップエネルギ電圧、T0は基準温度、Vbe0は基準温度でのバイポーラトランジスタのベース−エミッタ電圧、σはプロセスで決まる飽和電流温度指数である。最終的には自然対数を2次のテイラー展開を用い展開を行うと次式のように展開可能である。
Vout=a+bT+cT (12)
ここで、a,b,cはそれぞれ、所定の定数である。
図3に示すようなピーク電圧を有する温度特性101となる。この非線形成分は色々な補正方法が従来技術文献で示されている。補正方法は様々だが、別回路追加などばらつき要因などが増える構成要素が多く含まれている。
本発明にかかる実施形態では、以下に示すように、バイポーラトランジスタの特性を利用し、温度に対して電流ptatを変化させることで、前記で説明したピーク電圧を複数回持たせることで温度特性の改善を行う。
実施形態1.
図4は本発明の実施形態1にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路の構成例を示す回路図である。図4において、実施形態1にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路は、図2の比較例2にかかるバンドギャップ基準回路に比較して、抵抗R4及びトランジスタQ3を有する補正回路31をさらに備えたことを特徴とする。ここで、トランジスタQ1,Q2−1〜Q2−M,Q3は例えばPNP型バイポーラトランジスタである。以下、上記相違点について詳述する。
図4において、補正回路31は、抵抗21及びトランジスタQ1の直列回路と並列に接続される。すなわち、抵抗24とトランジスタQ3とが直列に接続されt第3の直列回路が形成される。ここで、演算増幅器10の出力端子は、抵抗24及びトランジスタQ3のエミッタ及びコレクタを介して接地される。また、トランジスタQ3のベースはトランジスタQ1のエミッタに接続される。
ところで、先に説明した図2の一般的なバンドギャップ基準電圧発生回路ではピーク電圧は想定する温度範囲の中心になるようにするのが一般的で、ピーク電圧を発生する温度Tpkからの温度差が大きくなるほど電圧差も大きくなる。本実施形態では、図2の比較例2にかかるバンドギャップ基準回路に補正回路31を追加した回路構成により、ピーク電圧を1つではなく複数回持たせることで電圧変動を抑制することを特徴とする。
補正回路31の動作はトランジスタQ1のベース−エミッタ電圧Vbe1に依存する、温度に対してベース−エミッタ電圧Vbe1は以下の図5の負の傾きを有する温度特性102となる。補正回路31のトランジスタQ3はベース−エミッタ電圧Vbe1がそのしきい値電圧を超えるとオンし、ベース電流IbをトランジスタQ1に流し込む。従って、補正回路31は当該ベース電流Ibに対応する電圧を発生する電圧発生回路を構成する。仮にしきい値電圧Vbethを発生するしきい値温度をTvthとすると、バンドギャップ基準回路は以下の2つの条件1,2で選択的に動作する。
(条件1)温度Temp<Tvth
(条件2)温度Temp≧Tvth
(条件1)Temp<Tvthのとき
図6は図4のバンドギャップ基準電圧発生回路において温度Temp<しきい値温度Tvthのときの動作回路を示す回路図である。図6から明らかなように、トランジスタQ3はオフなので、補正回路31は動作せず、図2の通常のバンドギャップ基準電圧発生回路と同じ動作を行う。
(条件2)Temp≧Tvthのとき
図7は図4のバンドギャップ基準電圧発生回路において温度Temp≧しきい値温度Tvthのときの動作回路を示す回路図である。図7から明らかなように、トランジスタQ3はオンなので、補正回路31が動作する。ここで、トランジスタQ1のベース−エミッタ電圧Vbe1が温度に対して負の傾きを有するため、トランジスタQ3のしきい値電圧Vbethとなる温度Tvthになるときに電流I3が温度Tempに対して図8の特性103を示す。
本実施形態にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路の電流I1は、図2の一般的なバンドギャップ基準電圧発生回路に比較して、トランジスタQ3のベース電流Ibが加わり、次式で表される。
I1=I1+Ib=I1+I3/hfe (13)
ΔVbe
=((R1×R3)/R2)×(I1+Ib)
=((R1×R3)/R2)×(I1+I3/hfe) (14)
ここで、hfeはトランジスタQ3の電流増幅率、ΔVbeはベース−エミッタ電圧の変動成分である。温度特性において、実際の非線形成分を考慮すると、本実施形態にかかる出力電圧Voutは次式のように展開可能である。
Vout=a’+b’T+c’T (15)
ここで、a’,b’,c’はそれぞれ所定の定数である。先に示した図2の一般的なバンドギャップ基準電圧発生回路の出力電圧Voutの式に比較して、乗数が異なる式に展開できるため、ある温度を境に別のピーク電圧を有する特性を持たせることが可能となる。従って、図8の動作における電流I1の温度特性は図9の104となる。ここで、実際の非線形項を含む温度特性では、温度Tempに依存して以下の設定手順で設定できる。
図10、図11及び図12は実施形態1にかかる出力電圧の温度特性を得るための設定手順を示すグラフである。
まず、図10に示すように、しきい値温度Tvth以下の温度度Tvth1でピーク電圧P1を発生させるように、例えば抵抗21の抵抗値R1を調整することで温度特性105を設定する。
次いで、図11に示すように、しきい値温度Tvth以上ではトランジスタQ3のベース電流Ibが増加するしきい値温度Tvth2の設定で、サイドピーク電圧P2が出るように例えば抵抗24の抵抗値R4を調整することで温度特性106を設定する。これは、しきい値温度Tvth以上では補正回路31により電流Iptatに対応する電圧Vptatが増加するためである。
さらに、図12に示すように、特性105,106を組み合わせることで、それぞれの電流でピーク電圧P1、P2を有する温度特性を実現する。これにより、温度偏差が図2の一般的なバンドギャップ基準回路より大幅に改善される。
以上説明したように、本実施形態に係る基準電圧発生回路によれば、ダイオード接続されたPNP型バイポーラトランジスタQ1のエミッタとベースを接続すると、ベース−エミッタ電圧Vbeの温度変化により動作する。動作したときベース電流Ibが接続されたエミッタに流れ込むことで、温度に対して2つの傾斜を有するベース−エミッタ電圧Vbeと、電圧Vptatを生成することが可能になる。これにより、2つの温度Tvth1,Tvth2に対してそれぞれピーク電圧を有する、上に凸の2つの電圧曲線を実現させることができ、それらを組み合わせて温度特性106(図12)を実現する。従って、この温度特性106を有するバンドギャップ基準回路を構成することで、回路規模を大きくすることなく、従来技術に比較して温度による出力電圧の温度偏差が少なくし高精度な基準電圧を提供できる。
実施形態2.
図13は本発明の実施形態2にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路の構成例を示す回路図である。図13において、実施形態2にかかるバンドギャップ基準電圧発生回路は、図4の実施形態1にかかるバンドギャップ基準回路に比較して以下の点が異なる。
(1)抵抗値R5を有する抵抗25と、PNP型バイポーラトランジスタQ4とが直列に接続されてなる第3の直列回路である補正回路32をさらに備える。
(2)図4の抵抗21に代えて、抵抗値R1を有する抵抗21と、抵抗値R1aを有する抵抗21aとが直列に接続されてなる直列回路33を備える。
以下、上記相違点について詳述する。
図13において、演算増幅器10の出力端子は抵抗21,21a及びトランジスタQ1のエミッタ及びコレクタを介して接地される。また、演算増幅器10の出力端子は抵抗25及びトランジスタQ4のエミッタ及びコレクタを介して接地される。ここで、トランジスタQ4は例えばPNP型バイポーラトランジスタである。抵抗21と抵抗21aの接続点はトランジスタQ4のベースに接続され、抵抗21aとトランジスタQ1のエミッタの接続点はトランジスタQ3のベースに接続される。ここで、補正回路32は、PNP型バイポーラトランジスタQ4のベース電流に対応する電圧を発生して抵抗21,21aの接続点に印加する電圧発生回路を構成する。
図14は図13のバンドギャップ基準電圧発生回路の出力電圧の温度特性を示すグラフである。図13に示すように、トランジスタQ4のベースから接地側に抵抗21aを追加したことにより、トランジスタQ3のベースに対して電圧(I×R1a)だけ上がり、トランジスタQ4の動作開始温度が図4の実施形態1に比較して高くなる。結果として温度補正が3段階で行われ、図14の3個のピーク電圧P1,P2,P3をそれぞれ有する温度特性105,106,107を、温度Tq3,Tq4で連結されるように組み合わせた温度特性を得ることができる。これにより、実施形態1に比較して高温において電圧が落ち込むことを回避できる。
変形例.
以上の実施形態においては、2個のピーク電圧P1,P2、もしくは3個のピーク電圧P1,P2,P3をそれぞれ有する温度特性を実現している。本発明はこれに限らず、実施形態2と同様に、4個以上のピーク電圧を有する温度特性を実現できる。
以上の実施形態においては、補正回路31,32を追加することで、トランジスタQ1のベースに流れ込むベース電流Ibを増加させることで、複数のピーク電圧を有する温度特性を実現している。本発明はこれに限られず、トランジスタQ1のベース電流Ibを引き抜く補正回路を追加することで、複数のピーク電圧を有する温度特性を実現してもよい。
以上の実施形態においては、ダイオード接続されたトランジスタQ1,Q2によりそれぞれPN接合素子を構成している。本発明はこれに限らず、ダイオード接続されたトランジスタQ1,Q2代えてPN接合素子で構成してもよい。
本発明に係る基準電圧発生回路によれば、回路規模を大きくすることなく、従来技術に比較して温度による出力電圧の温度偏差が少なくし高精度な基準電圧を提供できる。
10…演算増幅器、
11,12…電流源、
21,21a,22,23,24,25…抵抗、
30…並列トランジスタ回路、
31,32…補正回路、
33…直列回路、
Q1,Q2−1〜Q2−M,Q3,Q4…トランジスタ。
特開2007−018377号公報

Claims (4)

  1. 第1の抵抗と、第1のPN接合素子とが直列に接続され、第1の直流電圧を発生する第1の電圧発生回路と、
    第2及び第3の抵抗と、互いに並列に接続された複数の第2のPN接合素子とが直列に接続され、第2の直流電圧を発生する第2の電圧発生回路と、
    前記第1の直流電圧と前記第2の直流電圧の差電圧を発生する演算増幅器とを備え、
    前記第1及び第2のPN接合素子はそれぞれ、ダイオード接続された第1及び第2のPNP型バイポーラトランジスタで構成され、
    前記差電圧に基づいて前記第1及び第2の電圧発生回路に流れる各電流を制御することで、バンドギャップに基づく基準電圧を発生する基準電圧発生回路において、
    第4の抵抗と、第3のPNP型バイポーラトランジスタとが直列に接続された第3の電圧発生回路であって、前記第1の電圧発生回路に並列に接続された第3の電圧発生回路を備え、
    前記第3の電圧発生回路は、前記第3のPNP型バイポーラトランジスタに流れるベースに対応する第3の直流電圧を発生して前記第1の直流電圧とともに前記演算増幅器に印加することを特徴とする基準電圧発生回路。
  2. 第5の抵抗と、第4のPNP型バイポーラトランジスタとが直列に接続された第4の電圧発生回路であって、前記第1の電圧発生回路に並列に接続された第4の電圧発生回路をさらに備え、
    前記第4の電圧発生回路は、前記第4のPNP型バイポーラトランジスタに流れるベース電流に対応する第4の直流電圧を発生して前記第1の直流電圧ともに前記演算増幅器に印加することを特徴とする請求項1記載の基準電圧発生回路。
  3. 第1の抵抗と、第1のPN接合素子とが直列に接続され、第1の直流電圧を発生する第1の電圧発生回路と、
    第2及び第3の抵抗と、互いに並列に接続された複数の第2のPN接合素子とが直列に接続され、第2の直流電圧を発生する第2の電圧発生回路と、
    前記第1の直流電圧と前記第2の直流電圧の差電圧を発生する演算増幅器とを備え、
    前記第1及び第2のPN接合素子はそれぞれ、ダイオード接続された第1及び第2のPNP型バイポーラトランジスタで構成され、
    前記差電圧に基づいて前記第1及び第2の電圧発生回路に流れる各電流を制御することで、バンドギャップに基づく基準電圧を発生する基準電圧発生回路のための基準電圧発生方法において、
    第4の抵抗と、第3のPNP型バイポーラトランジスタとが直列に接続された第3の電圧発生回路であって、前記第1の電圧発生回路に並列に接続された第3の電圧発生回路を備え、
    前記第3の電圧発生回路が、前記第3のPNP型バイポーラトランジスタに流れるベース電流に対応する第3の直流電圧を発生して前記第1の直流電圧ともに前記演算増幅器に印加するステップを含むことを特徴とする基準電圧発生方法。
  4. 第5の抵抗と、第4のPNP型バイポーラトランジスタとが直列に接続された第4の電圧発生回路であって、前記第1の電圧発生回路に並列に接続された第4の電圧発生回路をさらに備え、
    前記第4の電圧発生回路が、前記第4のPNP型バイポーラトランジスタに流れるベース電流に対応する第4の直流電圧を発生して前記第1の直流電圧ともに前記演算増幅器に印加するステップを含むことを特徴とする請求項3記載の基準電圧発生方法。
JP2017022429A 2017-02-09 2017-02-09 基準電圧発生回路及び方法 Active JP6765119B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017022429A JP6765119B2 (ja) 2017-02-09 2017-02-09 基準電圧発生回路及び方法
CN201780086032.XA CN110291486B (zh) 2017-02-09 2017-11-09 基准电压产生电路和方法
PCT/JP2017/040400 WO2018146878A1 (ja) 2017-02-09 2017-11-09 基準電圧発生回路及び方法
US16/484,539 US10635127B2 (en) 2017-02-09 2017-11-09 Reference voltage generator circuit generating reference voltage based on band gap by controlling currents flowing in first and second voltage generator circuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017022429A JP6765119B2 (ja) 2017-02-09 2017-02-09 基準電圧発生回路及び方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018128926A JP2018128926A (ja) 2018-08-16
JP6765119B2 true JP6765119B2 (ja) 2020-10-07

Family

ID=63107317

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017022429A Active JP6765119B2 (ja) 2017-02-09 2017-02-09 基準電圧発生回路及び方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10635127B2 (ja)
JP (1) JP6765119B2 (ja)
CN (1) CN110291486B (ja)
WO (1) WO2018146878A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11977405B2 (en) 2021-05-31 2024-05-07 Nisshinbo Micro Devices Inc. Reference voltage generator circuit such as band gap reference voltage generator circuit, and method of generating reference voltage

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI792977B (zh) * 2022-04-11 2023-02-11 立錡科技股份有限公司 具有高次溫度補償功能的參考訊號產生電路

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4111103A1 (de) * 1991-04-05 1992-10-08 Siemens Ag Cmos-bandabstands-referenzschaltung
US5910726A (en) * 1997-08-15 1999-06-08 Motorola, Inc. Reference circuit and method
US7122998B2 (en) * 2004-03-19 2006-10-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Current summing low-voltage band gap reference circuit
JP4103859B2 (ja) * 2004-07-07 2008-06-18 セイコーエプソン株式会社 基準電圧発生回路
JP2007018377A (ja) 2005-07-08 2007-01-25 Toyota Motor Corp 基準電圧発生回路
KR100694985B1 (ko) * 2006-05-02 2007-03-14 주식회사 하이닉스반도체 저전압용 밴드 갭 기준 회로와 이를 포함하는 반도체 장치
JP2009217809A (ja) * 2008-02-12 2009-09-24 Seiko Epson Corp 基準電圧生成回路、集積回路装置および信号処理装置
US8446140B2 (en) * 2009-11-30 2013-05-21 Intersil Americas Inc. Circuits and methods to produce a bandgap voltage with low-drift
US8278905B2 (en) * 2009-12-02 2012-10-02 Intersil Americas Inc. Rotating gain resistors to produce a bandgap voltage with low-drift
CN102541148B (zh) * 2010-12-31 2014-01-29 国民技术股份有限公司 一种双向可调基准电流产生装置
JP2013092926A (ja) * 2011-10-26 2013-05-16 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 基準電圧発生回路
JP5970993B2 (ja) * 2012-07-10 2016-08-17 株式会社ソシオネクスト バンドギャップ回路およびそれを有する集積回路装置
JP2014086000A (ja) * 2012-10-26 2014-05-12 Sony Corp 基準電圧発生回路
US9519304B1 (en) * 2014-07-10 2016-12-13 Ali Tasdighi Far Ultra-low power bias current generation and utilization in current and voltage source and regulator devices

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11977405B2 (en) 2021-05-31 2024-05-07 Nisshinbo Micro Devices Inc. Reference voltage generator circuit such as band gap reference voltage generator circuit, and method of generating reference voltage

Also Published As

Publication number Publication date
US10635127B2 (en) 2020-04-28
US20200057464A1 (en) 2020-02-20
CN110291486B (zh) 2020-08-11
JP2018128926A (ja) 2018-08-16
CN110291486A (zh) 2019-09-27
WO2018146878A1 (ja) 2018-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7170336B2 (en) Low voltage bandgap reference (BGR) circuit
US7511567B2 (en) Bandgap reference voltage circuit
CN210691139U (zh) 亚带隙补偿参考电压生成电路和亚带隙参考电压生成器
JP2008516328A (ja) 基準回路
US10416702B2 (en) Bandgap reference circuit, corresponding device and method
JP6873827B2 (ja) 基準電圧生成回路
CN103197716A (zh) 一种降低失调电压影响的带隙基准电压电路
US6201381B1 (en) Reference voltage generating circuit with controllable linear temperature coefficient
US20180074532A1 (en) Reference voltage generator
US7843231B2 (en) Temperature-compensated voltage comparator
JP6765119B2 (ja) 基準電圧発生回路及び方法
CN109521829B (zh) 一种具有全温段高阶温度补偿的电压基准源电路
Koudounas et al. A novel CMOS bandgap reference circuit with improved high-order temperature compensation
TW202046041A (zh) 電壓產生器
JP2007095031A (ja) 低電圧用バンドギャップ基準電圧発生回路
CN108345336B (zh) 能隙参考电路
JP2018165940A (ja) レギュレータ回路
CN107728690B (zh) 能隙参考电路
KR20120116708A (ko) 기준전류 발생기
Zhou et al. A 3.2 ppm/° C curvature-compensated bandgap reference with wide supply voltage range
JP5925357B1 (ja) 温度補償回路
US7554387B1 (en) Precision on chip bias current generation
JP2000284845A (ja) バンドギャップリファレンス回路
US9921601B2 (en) Fractional bandgap circuit with low supply voltage and low current
CN110647206A (zh) 一种提高电源电压波动上限的带隙基准电压源

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191202

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200901

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200909

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6765119

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250