JP6764595B2 - 遊技機 - Google Patents

Description

この発明は、検知手段を備えた遊技機に関する。遊技機は、たとえばパチンコ機、パチスロ機等である。

従来から、パチンコ機として、たとえば下記特許文献１に示すように、磁石を使用した不正入賞行為（磁石ゴト）を防止すべく、検知範囲における磁界を検知する磁気センサを遊技盤に配置したものが知られている。磁気センサの出力信号は、主制御基板に入力される。

特開２０１４−２３０９６７号公報

磁石ゴトを効果的に防止するためには、遊技盤の広範囲に検知手段（磁気センサ）を配置することが望ましく、この場合、多数の検知手段を遊技盤に搭載する必要がある。しかしながら、検知手段の数の増大に伴って制御基板（主制御基板）への入力が増大するため、多数の検知手段を遊技機に搭載した結果、制御基板への負荷が増大するおそれがある。
そこで、この発明は、制御基板への負荷を増大させることなく、検知手段の搭載数を増加できる遊技機を提供することを目的とする。

前記の目的を達成するための請求項１に記載の発明は、検知範囲の磁気を検知する磁気センサからなる、不正検知のための複数の検知手段と、各検知手段から出力された検知信号を受信可能な入力ポートを有する制御手段と、を備え、前記複数の検知手段は、第１の検知手段と、前記検知範囲が互いに重複しないように配置された複数の第２の検知手段と、を含み、前記入力ポートには、複数のビットが割り当てられており、前記複数の第２の検知手段の検知信号を、論理ＯＲ出力により前記制御手段の一つの前記ビットに入力させ、かつ、前記第１の検知手段の検知信号を、前記入力ポートにおいて前記第１の検知手段に一対一対応で設けられたビットに入力させることを特徴とする遊技機を提供する。

本発明によれば、主制御基板への負荷を増大させることなく、検知手段の搭載数を増加できる遊技機を提供できる。

本発明の一実施形態に係る遊技機の斜視図である。 前記遊技機に含まれる遊技盤の構成を示す正面図である。 前記遊技盤の右下部の拡大正面図である。 前記遊技機に含まれる下部ユニットの立体分解図である。 前記下部ユニットの立体分解図である。 前記遊技盤に搭載された第１〜第７の磁気センサの検知範囲を説明するための正面図である。 前記遊技機の電気的構成を示すブロック図である。 主制御基板における、異常検知用入力ポートのビット割り当ての例を示す図である。 中継基板の要部の回路図である。 主制御基板によるタイマ割込処理の流れを示すフローチャートである。 エラー管理処理の流れを示すフローチャートである。 不正信号検出処理の流れを示すフローチャートである。 前記エラー管理処理の流れを示すタイミングチャートである。

以下では、この発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る遊技機１の斜視図である。本実施形態では、遊技機１は、遊技球を用いた遊技を行うパチンコ機であるが、本発明を、遊技メダルを用いた遊技を行うパチスロ機に適用することもできる。
遊技機１は、遊技店内に配列された遊技島への取付け（設置）のための略四角枠状の外枠１０２と、この外枠１０２に対し片開き可能に取り付けられた前枠１０３とを備えている。外枠１０２の左右一方、たとえば左側のヒンジ１０４によって、前枠１０３はヒンジ１０４の回動軸まわりに回動可能に保持されている。

前枠１０３の上部分には、遊技盤２（図２参照）が収容保持されている。前枠１０３の下部には、発射装置（図示しない）が収容保持されている。前枠１０３の手前側には、前扉１０６が開閉可能に設けられている。また、前枠１０３の手前側には、前扉１０６の下方に、下部開閉板１０７が開閉可能に設けられている。前扉１０６には、遊技盤２に対向する位置に略円形の開口部１０８が形成されている。この開口部１０８には、ガラス板などの透明板１０９が嵌められていて、前扉１０６を閉じた状態で、その透明板１０９を介して、透明板１０９の奥側の遊技盤２を視認することができるようになっている。前扉１０６の上部には、左右一対のスピーカ１１０が配置されている。また、前扉１０６の下部には、左右一対のランプユニット１１１が配置されている。

下部開閉板１０７には、遊技に使用する遊技球（パチンコ球）を貯留しておくための上皿１１２と、上皿１１２からオーバーフロー路（図示しない）を通して溢れた遊技球を受け止める下皿１１３とが上下に並んで設けられている。また、下皿１１３の右側には、遊技球を遊技盤２に打ち出す際に操作されるハンドル１１４が配置されている。
図２は、遊技盤２の正面図である。

図２には遊技機１が第１種の遊技性と第２種の遊技性とを併せ持ったいわゆる１種２種混合タイプである場合を例に挙げているが、本発明は、このタイプ以外の遊技機にも適用できる。前記の第１種の遊技性は、始動口（特別図柄始動口８，１５）に遊技球が入賞したことを契機として特別図柄の変動表示を開始し、所定の大当り図柄で特別図柄が停止表示すると大当り遊技を開始する遊技性である。また、前記の第２種の遊技性は、始動口（特別図柄始動口８，１５）に遊技球が入賞したことを契機として、可変入賞装置（可変入賞装置１４，１７）に設けられた開閉部材を開閉して小当り遊技を開始し、小当り遊技において開閉部材が開状態のときに可変入賞装置（可変入賞装置１４，１７）内に入球した遊技球が可変入賞装置（可変入賞装置１４，１７）内に設けられた特定領域（いわゆるＶ領域。特定領域３８（図３参照））を通過したことを契機として特別利益状態を開始する遊技性である。

遊技盤２の盤面（前面）には、中央部に略円形の円形領域Ｒが設定されている。円形領域Ｒの周縁には、発射装置から発射された遊技球を、円形領域Ｒの上部（左側上部）に導くための略円弧状のガイドレール３と、このガイドレール３に対向して延びる内レール４とが配置されている。円形領域Ｒの中央部には、液晶表示ユニット６を含むセンターユニット７が配置されている。センターユニット７は、円形領域Ｒを、遊技球が流下可能な遊技領域Ｓと、液晶表示ユニット６等による演出が行われる演出領域Ｐとに前後に仕切るものである。液晶表示ユニット６には、遊技機１での遊技中に停止された演出図柄、変動中の演出図柄または所定のメッセージ等が表示される。

内レール４の先端は円形領域Ｒの上部まで延びていて、発射装置により発射された遊技球は、ガイドレール３と内レール４との間を通って円形領域Ｒ（遊技領域Ｓ）の上部へと導かれる。遊技領域Ｓには、多数本の障害釘５が植設されている。
円形領域Ｒにおいて、センターユニット７の下方（円形領域Ｒの下部）には、第１特別図柄始動口８が配置されている。第１特別図柄始動口８は、円形領域Ｒを流下する遊技球を入球可能に設けられている。第１特別図柄始動口８は、開閉手段等を有しない非可変式の入賞口（いわゆるヘソ入賞口）である。第１特別図柄始動口８への１球の遊技球の入賞に伴い、予め定める個数（たとえば３球）の賞球が、賞球払出装置９（図７参照）から払い出される。また、第１特別図柄始動口８への遊技球の入賞に伴って、特別利益状態を実行する大当りであるか否か、あるいは小当り遊技を実行する小当りであるか否かを決定するための特別図柄抽選が実行される。第１特別図柄始動口８は、第１特別図柄始動口８および次に述べる第２可変入賞装置１７をユニット化した下部ユニット７４に設けられている。

遊技領域Ｓは、センターユニット７の左側に形成された左流下領域Ｓａと、センターユニット７の右側に形成された右流下領域Ｓｂとを含む。左流下領域Ｓａにおける、上下方向に関し中央よりやや下方の領域には、風車役物１０が前後方向に延びる回転軸まわりに回転自在に取り付けられている。また、センターユニット７の左下方（円形領域Ｒの左下部）には、第１普通入賞口１１および第２普通入賞口１２が配置されている。第１および第２普通入賞口１１，１２への遊技球の１球の入賞に伴い、予め定める個数（たとえば３球）の賞球が、賞球払出装置９（図７参照）から払い出される。

また、右流下領域Ｓｂには、普通図柄ゲート１３と、第１可変入賞装置１４と、第２特別図柄始動口１５と、普通電動役物１６と、第２可変入賞装置１７と、第３普通入賞口１８とが、上方からこの順で配置されている。第３普通入賞口１８への遊技球の１球の入賞に伴い、予め定める個数（たとえば３球）の賞球が、賞球払出装置９（図７参照）から払い出される。

右流下領域Ｓｂの上端部には、遊技球が通過可能な普通図柄ゲート１３が配置されている。普通図柄ゲート１３を遊技球が通過すると、第２特別図柄始動口１５を開放するか否か（普通電動役物１６を開動作させるか否か）を決定するための普通図柄抽選が実行される。普通図柄ゲート１３を区画するゲート役物２０は、普通図柄ゲート１３を通過した遊技球を普通図柄ゲート１３よりも右側領域へと案内する湾曲案内部２１を有している。普通図柄ゲート１３は、円形領域Ｒに１つだけでなく２つ以上設けてもよい。この場合、右流下領域Ｓｂに限らず、左流下領域Ｓａにも普通図柄ゲートを配置してもよい。

第１可変入賞装置１４は、第１特別入賞口２２と、第１特別入賞口２２を開閉するための第１特別入賞口開閉役物２３と、第１特別入賞口開閉役物２３を開閉するための第１特別入賞口開閉役物駆動機構（たとえばソレノイド類を含む）２４（図７参照）とを含む。第１特別入賞口２２は、可変式の入賞口であり、遊技球が１個ずつ入球可能である。第１特別入賞口２２に遊技球が入ると、予め定める個数（たとえば１４球）の賞球が、賞球払出装置９（図７参照）から払い出される。第１特別入賞口開閉役物２３は、普通図柄ゲート１３の下方において、前後方向に延びる所定の回転軸線まわりに回動可能に設けられた１つの羽根を有する。第１特別入賞口開閉役物２３は、先端部の内角を先尖状の頂角とする略三角形をなしており、第１特別入賞口２２の上方領域を覆う覆い２６との間で、第１特別入賞口２２の上方領域を閉塞する鉛直姿勢（図２に示す姿勢）と、この鉛直姿勢から正面視で時計回り方向に所定角度傾斜する傾斜姿勢との間で姿勢変更可能に設けられている。第１特別入賞口開閉役物２３の開状態では、羽根２５が傾斜姿勢にあり、そのため、開状態にある第１特別入賞口開閉役物２３によって多数個の遊技球を捕獲でき、こうして捕獲した多数個の遊技球を第１特別入賞口２２に導くことが可能である。

また、この実施形態では、第１特別入賞口開閉役物として、１つのみ羽根を有する構成の第１特別入賞口開閉役物２３を採用しているが、これに代えて、左右に長い平面視長方形状をなす第１特別入賞口２２を、左右方向に延びる回動軸を中心として手前側に傾倒する開閉板によって開閉する構成であってもよいし、一対の拡開羽根を有する電動チューリップ役物によって第１特別入賞口２２を開閉する構成であってもよい。

第２特別図柄始動口１５は、普通電動役物１６によって開閉される可変式の入賞口であり、右横向きに開口している。第２特別図柄始動口１５に遊技球が入ると、予め定める個数（たとえば１球）の賞球が、賞球払出装置９（図７参照）から払い出される。また、第２特別図柄始動口１５への遊技球の入賞に伴って、特別利益状態を実行する大当りであるか否か、あるいは小当り遊技（開放遊技）を実行する小当りであるか否かを決定するための特別図柄抽選が実行される。

普通電動役物１６は、前後に出退可能に設けられた、平坦板状の案内シャッタ（案内手段）２８と、案内シャッタ２８を前後に出退させて、普通電動役物１６を開閉するための普通電動役物駆動機構（たとえばソレノイド類を含む）２９（図７参照）とを含む。案内シャッタ２８が遊技盤２の盤面よりも前方に突出する進出状態では、案内シャッタ２８が上方から流れ落れる遊技球を受け止め、その遊技球を案内シャッタ２８の上を転動させて第２特別図柄始動口１５へと案内する。すなわち、この突出状態の案内シャッタ２８によって、第２特別図柄始動口１５へと遊技球を導く案内路３０が形成される。一方、案内シャッタ２８が突出状態から後方に退避している状態では、第２特別図柄始動口１５の右側領域を流下する遊技球が案内シャッタ２８に受け止められず、当該右側領域をそのまま流下する。

円形領域Ｒの下部および右下部には、当該下部から右下部に跨るように、左右に細長い下部ユニット７４が配置されている。下部ユニット７４は、第２特別入賞口３１を有する始動入賞ユニットと、第２特別入賞口３１を区画する可変入賞ユニットと、第３普通入賞口１８を区画する普通入賞ユニットとを一体化した構成である。始動入賞ユニットと可変入賞ユニットとを一体に設けているので、これらを個別に設ける場合と比較して、始動入賞ユニットおよび可変入賞ユニットを安価に得ることができる。

図３は、遊技盤２の右下部の拡大正面図である。
第２可変入賞装置１７は、第２特別入賞口３１と、第２特別入賞口３１を開閉可能な第２特別入賞口開閉役物３２と、第２特別入賞口開閉役物３２を開閉するための第２特別入賞口開閉役物駆動機構（たとえばソレノイド類を含む）３３（図７参照）とを含む。第２特別入賞口３１は、遊技球の直径よりも大きい前後方向幅を有している。第２特別入賞口３１は、左右方向に関して、複数個（たとえば３〜４球）の遊技球が同時に入球可能なサイズに形成されている。第２特別入賞口３１への１球の遊技球の入賞に伴い、予め定める個数（たとえば３球）の賞球が、賞球払出装置９（図７参照）から払い出される。

下部ユニット７４には、右から左に向けて下がる緩やかな傾斜面を構成する第１転動壁１１８を有している。第２特別入賞口開閉役物３２は、第１転動壁１１８に沿う平坦面を有し、前後に出退可能に設けられた板状部材である。右流下領域Ｓｂを流下する遊技球は下部ユニット７４の第１転動壁１１８に受け止められ、第１転動壁１１８上を左側に向けて転動する。第２特別入賞口３１が開状態にあると、第１転動壁１１８上を転動している遊技球は第２特別入賞口３１に入球する。

第２特別入賞口３１は、Ｖ通過判定部３４付きの特別入賞口である。第２可変入賞装置１７は、Ｖ通過判定部３４と、第２特別入賞口３１とＶ通過判定部３４とを繋ぐ接続路３５とを含む。Ｖ通過判定部３４は下部ユニット７４内に設けられており、小当り遊技時において、特別利益状態の移行の権利取得に関する判定を行う。
開状態の第２特別入賞口３１から入った遊技球は、接続路３５を通して流下する。遊技球の通過は、接続路３５に配置された第２特別入賞口入球センサ３６によって検出され、第２特別入賞口３１への入賞としてカウントされる。Ｖ通過判定部３４は、接続路３５と連通する振分流路３７を備えている。振分流路３７は、その入口が１本の通路で出口は２本に分岐する二股通路から構成されている。接続路３５から振分流路３７に入った遊技球は、特定領域（Ｖ領域）３８または非特定領域（外れ領域）３９のいずれかに振り分けられる。図３では、非特定領域３９用の流路が上側に設けられ、特定領域３８用の流路が下側に設けられている。振分流路３７の分岐部分には、振分流路３７の分岐部分よりも上流側部分を流下する遊技球を特定領域３８用の流路へと導くための振分口４１が形成されている。振分流路３７には、振分口４１に関連して、振分口４１を開閉可能な駆動板４０が設けられている。駆動板４０には、駆動板４０を水平方向に駆動するための駆動ソレノイド４９（図７参照）が接続されている。駆動板４０が閉塞位置にあり、そのため振分口４１が閉塞された状態では、振分流路３７の分岐部分よりも上流側部分を流下する遊技球は、駆動板４０上を通って、非特定領域３９用の流路へと振り分けられる。一方、駆動板４０が開放位置にあり、そのため振分口４１が開放された状態では、振分流路３７の分岐部分よりも上流側部分を流下する遊技球は、振分口４１を通って、特定領域３８用の流路へと振り分けられる。

駆動板４０の左右方向の位置情報は位置センサ４２（図７参照）によって検出される。また、特定領域３８には、特定領域３８への遊技球の通過を検出するための特定領域センサ４３が配置されている。非特定領域３９には、非特定領域３９への遊技球の通過を検出するための非特定領域センサ４４が配置されている。
図２に示すように、たとえば遊技盤２の盤面におけるガイドレール３の外側領域には、第１特別図柄表示手段４５、第２特別図柄表示手段４６および普通図柄表示手段４７が配置されている。

第１特別図柄表示手段４５は、特別図柄を変動動作可能な、１または複数個の７セグメント式表示器等により構成されている。第１特別図柄表示手段４５は、第１特別図柄始動口８に遊技球が入賞することを条件に、第１特別図柄を所定時間変動動作して、第１特別図柄始動口８への入賞時に取得された大当り判定用乱数が、予め定められた大当り数値と一致する場合には所定の大当り態様で、大当り判定用乱数が、予め定められた小当り数値と一致する場合には所定の小当り態様で、それ以外の場合には外れ態様で停止する。第１特別図柄にたとえば４種類の数字図柄「１」〜「４」と記号図柄「−」とが用いられる場合には、たとえば「１」が大当り態様に設定され、たとえば「２」〜「４」が小当り態様に設定され、「−」が外れ態様に設定されていてもよい。

第１特別図柄始動口８への入賞に伴って、第１特別図柄表示手段４５の変動動作（以下、「第１特別図柄の変動動作」という場合がある）が開始される。但し、特別利益状態の実行中や、第１特別図柄の変動動作中、第２特別図柄の変動動作中に第１特別図柄始動口８に入賞した場合には、その入賞に対応する第１特別図柄の変動動作の開始は保留される。また、第１特別図柄の変動動作が既に保留されている状態または第２特別図柄の変動動作が既に保留されている状態で第１特別図柄始動口８に入賞した場合にも、その入賞に対応する第１特別図柄の変動動作の開始は保留される。第１特別図柄変動動作は最大保留数（たとえば４つ）まで保留可能となっている。

第２特別図柄表示手段４６は、特別図柄を変動動作可能な、１または複数個の７セグメント式表示器等により構成されている。第２特別図柄表示手段４６は、第２特別図柄始動口１５に入賞することを条件に、第２特別図柄を所定時間変動動作して、第２特別図柄始動口１５への入賞時に取得された大当り判定用乱数が、予め定められた大当り数値と一致する場合には前述の大当り態様で、大当り判定用乱数が、予め定められた小当り数値と一致する場合には前述の小当り態様で、それ以外の場合には外れ態様で停止する。第２特別図柄にたとえば９種類の数字図柄「１」〜「９」と記号図柄「−」とが用いられる場合には、たとえば「１」〜「４」が大当り態様に設定され、たとえば「５」〜「９」が小当り態様に設定され、「−」が外れ態様に設定されていてもよい。

第２特別図柄始動口１５への遊技球の入賞に伴って、第２特別図柄表示手段４６の図柄変動動作（以下、「第２特別図柄変動動作」という場合がある）が開始される。但し、特別利益状態の実行中や、第１特別図柄変動動作中、第２特別図柄変動動作中に第２特別図柄始動口１５に入賞した場合には、その入賞に対応する第２特別図柄変動動作の開始は保留される。また、第２特別図柄変動動作が既に保留されている状態で第２特別図柄始動口１５に入賞した場合にも、その入賞に対応する第２特別図柄変動動作の開始は保留される。第２特別図柄の変動動作は、最大保留数（たとえば４つ）まで保留可能となっている。

普通図柄表示手段４７は、普通図柄を変動動作するためのものであり、７セグメント表示器等を用いてなるべく目立たないように小さく設けられている。普通図柄ゲート１３に遊技球が通過すると普通図柄が所定時間の間変動動作する。そして、普通図柄ゲート１３に対する遊技球の通過時に取得された当り判定用乱数が予め定められた当り数値と一致する場合には所定の当り態様で、一致しない場合には所定の外れ態様で停止させるようになっている。この普通図柄は、遊技者がその種類を容易に区別できないように特別な意味を持たない図柄が割り当てられることが望ましい。

特別図柄表示手段４５，４６（図２参照）の変動動作中は、液晶表示ユニット６において演出図柄の変動動作が行われていてもよい。この場合、液晶表示ユニット６の表示画面内に設定されたたとえば３つの図柄表示領域において、複数種の演出図柄（たとえば「０」〜「９」などの数字図柄や、キャラクタ図柄等）がスクロール表示（変動表示）されていてもよい。特別図柄抽選の結果が大当りや小当りである場合には、液晶表示ユニット６に、当り用の演出図柄の組合せが表示される。

第１特別図柄の変動動作後または第２特別図柄の変動動作後に、大当り態様の特別図柄が停止表示されると、その後、特別利益状態が実行される。特別利益状態中は、第１特別入賞口開閉役物２３の揺動により第１特別入賞口２２が開放される。また、遊技機１には、第１特別利益状態または第２特別利益状態とは別の開放遊技である小当り遊技が用意されている。また、遊技機１には、特別図柄始動口の開放度合いが通常よりも向上させられた開放延長状態が設けられている。

円形領域Ｒにおける左上部分を狙って適度な速度で遊技球が発射されると（以下、このような遊技を、「左打ち遊技」という。）、円形領域Ｒの左上部分へと達した遊技球は、左流下領域Ｓａに植設された障害釘５によって、第１特別図柄始動口８付近に導かれる。つまり、発射位置を円形領域Ｒの左側上部とすることにより、第１特別図柄始動口８に遊技球を入賞させることができる。

遊技盤２の盤面に沿って流下する遊技球のうち、第１特別図柄始動口８ならびに第１および第２普通入賞口１１，１２のいずれにも入賞しなかった遊技球（アウト球）は、遊技盤２の盤面の下部に配置されたアウト口４８から機内に入り、球回収部（図示しない）に回収される。
また、遊技機１は、右打ち遊技（遊技領域Ｓの右流下領域Ｓｂに向けて遊技球を発射させる遊技）を実行できるように構成されている。第１特別利益状態中、第２特別利益状態中、開放延長状態中または小当り遊技中において、遊技者は右打ち遊技を行う。このとき、発射装置から勢い良く放たれた遊技球は、センターユニット７の上方を通って、右流下領域Ｓｂへと達し、右流下領域Ｓｂの上端部から下方に向けて放出される。

右流下領域Ｓｂの上端部から放出された遊技球は、普通図柄ゲート１３の周囲に導かれる。また、普通図柄ゲート１３の周囲を流下する遊技球は、円形領域Ｒに植設された障害釘５によって、第２特別図柄始動口１５の周囲および／または第２特別入賞口３１の周囲に導かれる。
開放延長状態の非実行時には、大抵の場合普通電動役物１６が閉状態をなしている。そのため、右流下領域Ｓｂを流下する遊技球は、第２特別図柄始動口１５には滅多に入賞しない。一方、開放延長状態中には、普通電動役物１６が頻繁に開動作するため、右流下領域Ｓｂを流下する遊技球が、第２特別図柄始動口１５に入賞し易い。

前述のように、特別利益状態中には第１特別入賞口２２が開放する。したがって、遊技者が右打ち遊技を行うことにより、第１特別入賞口２２に遊技球を入賞させることができる。
また、小当り遊技中には、第２特別入賞口３１が所定のパターンで開放する。したがって、遊技者が右打ち遊技を行うことにより、第２特別入賞口３１に遊技球を入賞させることができる。第２特別入賞口３１に入った遊技球が特定領域３８を通過するとＶ通過となって、Ｖ通過に基づく大当りが発生し、その後に第１特別利益状態が実行される。

右流下領域Ｓｂを流下する遊技球のうち、第１特別入賞口２２、第２特別図柄始動口１５、第２特別入賞口３１および第３普通入賞口１８のいずれにも入賞しなかった遊技球（アウト球）はアウト口４８から機内に入り、球回収部に回収される。
次に、下部ユニット７４について説明する。下部ユニット７４は、第１特別図柄始動口８を有する入賞口ユニットとしての機能と、第２可変入賞装置１７を有する可変入賞口ユニットとしての機能と、サイドランプおよび下部ランプとしての機能とを併せ持っている。さらに、下部ユニット７４は、第３普通入賞口１８をも備えている。

下部ユニット７４は、遊技盤２を構成する矩形のベニヤ板の下部および右下部において、内レール４の内側に沿って左右に延びる下部ユニット装着穴（図示しない）に嵌合装着されており、当該ベニヤ板にねじ止め等によって固定されている。下部ユニット７４の後面側は、遊技盤２の後面側に露出している。
図４および図５は、下部ユニット７４の立体分解図である。

下部ユニット７４は、前記の下部ユニット装着穴（図示しない）を塞ぐように遊技盤２に装着された台板２０１と、台板２０１の前面全域を覆う前面カバー２０２と、台板２０１に後方から取り付けられ、第２可変入賞装置１７として機能する入賞ユニット２００と、台板２０１に後方から取り付けられたソレノイドユニット２０３と、台板２０１の後面左部分を覆う左後面カバー２０４と、台板２０１の後面右部分を覆う右後面カバー２０５と、台板２０１の前面に装着された下飾り電飾基板２０６と、左後面カバー２０４の前面に装着された中央電飾基板２０７と、左後面カバー２０４の後面に装着された下部ユニット中継基板２０８とを含む。

台板２０１は、合成樹脂材料を用いて形成されている。台板２０１は、前記の下部ユニット装着穴と整合する左右方向に細長の平面視形状を有する平板状の台板本体２１１と、台板本体２１１の右上端部に形成された入賞口ユニット２１２と、台板本体２１１から後方に向けて突出する枠状の区画壁２１３とを一体に備えている。区画壁２１３は、前記の下部ユニット装着穴に下部ユニット７４を嵌合させる際に、当該装着穴の内周壁（図示しない）に摺接または近接する壁である。

台板本体２１１の左上端部には、正面視でＵ字状の切欠き２１４が形成されている。また、台板本体２１１の右側部分の上下方向の途中部には、入賞口ユニット２１２を挿通させるための、正面視矩形状の入賞口ユニット挿通口２１６が形成されている。
台板２０１の前面右下部には、下飾り電飾基板２０６が、前方からビス止め等により取り付けられている。下飾り電飾基板２０６は、その前面に複数個（たとえば９個）の第１のＬＥＤランプ２１７が分散配置されている。下飾り電飾基板２０６は下部ユニット中継基板２０８に接続されており、下部ユニット中継基板２０８および演出インターフェイス基板５４（図７参照）を介して演出制御基板５１（図７参照）に接続されている。

台板２０１の後面には、接続路３５（図３参照）および振分流路３７（図３参照）を区画するための流路区画壁２２９（図５参照）が後方に延びて形成されている。また、台板２０１の後面上部において左右方向の中央部には、第１の磁気センサ（検知手段）２２７が配置されている。図６を用いて後述するように、第１の磁気センサ２２７の検知範囲は、第２特別入賞口３１および第３普通入賞口１８をカバーしており、これらに対し、磁石を用いて不正に遊技球を滞留させるようなゴト行為（磁石ゴト）が行われることを未然に防止するものである。

前面カバー２０２は、台板２０１と整合する平面形状を有する前面板２１８と、前面板２１８の後面から後方に向けて突出する区画壁２１９とを一体に備えている。前面板２１８の前面には、装飾シール２２０（図４参照）が貼着されている。装飾シール２２０として、左右に並んで一対（複数）設けられているが、１つのみが設けられていてもよい。

区画壁２１９は、正面視クランク状の転動壁２２１と、第１始動口ユニット２２５とを有している。転動壁２２１は、前面カバー２０２の右半分に設けられ、円形領域Ｒの右流下領域Ｓｂを流下してきた遊技球を第２可変入賞装置１７（図２参照。第２特別入賞口３１）に案内し、その後円形領域Ｒの下部に案内する。第１始動口ユニット２２５は、前面カバー２０２の左半分に設けられ、台板本体２１１の切欠き２１４と合わさって第１特別図柄始動口８を区画する。転動壁２２１および第１始動口ユニット２２５は、互いに別部材を用いて構成されており、互いに左右方向に離間して配置されている。

左後面カバー２０４は、略板状の左カバー本体２３１と、第１特別図柄始動口８（図２参照）に入球して台板２０１の切欠き２１４を通ってきた遊技球を、第１特別図柄始動口入球センサ６１に案内するための第１球案内部２３２と、第１球案内部２３２の下方に配置され、第１特別図柄始動口入球センサ６１を収容装着保持可能な第１のスイッチ装着部２３３と、左カバー本体２３１の右上端部に配置され、振動センサ３００を装着保持可能な振動センサ装着部２３４と、左カバー本体２３１の右下端部に配置され、特定領域センサ４３を収容保持可能な第２のスイッチ装着部２３５と、第２のスイッチ装着部２３５の左側に配置され、非特定領域センサ４４を収容保持可能な第３のスイッチ装着部２３６とが配置されている。

第１特別図柄始動口入球センサ６１、特定領域センサ４３および非特定領域センサ４４は、たとえば高周波発振形の貫通型近接センサであり、略長方体状をなす合成樹脂製の本体ケーシングを有している。これらの入球センサ６１，４３，４４は、その本体ケーシングの長手方向を前後に向けた状態で、対応するスイッチ装着部２３３，２３５，２３６に装着される。

振動センサ３００は、遊技機１に対し所定大きさ以上の強い振動が与えられた場合に、異常を検知するセンサである。
左後面カバー２０４の左部分の下部には、第２の磁気センサ（検知手段）２７２が配置されている。第２の磁気センサ２７２は、左右方向に長い平面視矩形板状をなし、略水平に延びている。第２の磁気センサ２７２は、第１特別図柄始動口８の下方において長く左右に延びている。図７を用いて後述するように、第２の磁気センサ２７２の検知範囲は、第１特別図柄始動口８、非特定領域３９およびアウト口４８をカバーしており、これらに対し磁石を用いて不正に遊技球を滞留させるようなゴト行為（磁石ゴト）が行われることを未然に防止するものである。

左後面カバー２０４の前面には、中央電飾基板２０７が前方からビス止め等により取り付けられている。中央電飾基板２０７の前面には、その前面に複数個（たとえば９個）の第２のＬＥＤランプ２３７が分散配置されている。中央電飾基板２０７は下部ユニット中継基板２０８（図２６を参照）に接続されており、下部ユニット中継基板２０８および演出インターフェイス基板５４（図７参照）を介して演出制御基板５１（図７参照）に接続されている。

左後面カバー２０４の後面には、その左右方向の中央部に第３の磁気センサ（検知手段）２２８が配置されている。第３の磁気センサ２２８は、左右方向に関し、第１特別図柄始動口８と第２可変入賞装置１７（第２特別入賞口３１）との間に配置されている。図７を用いて後述するように、第３の磁気センサ２２８の検知範囲は、第３の磁気センサ２２８の検知範囲は、第１特別図柄始動口８、特定領域３８および非特定領域３９をカバーしており、これらに対し磁石を用いて不正に遊技球を滞留させるようなゴト行為（磁石ゴト）が行われることを未然に防止するものである。

仮に、第１特別図柄始動口８を有する入賞口ユニットと、第２可変入賞装置１７を有する可変入賞口ユニットとを個別に設ける場合を考える。この場合には、第１特別図柄始動口８と第２可変入賞装置１７との間の位置に磁気センサを収容するためのホルダを配置できないため、当該位置に磁気センサを配置することはできない。これに対し、この実施形態では、左後面カバー２０４において、第１特別図柄始動口８と第２可変入賞装置１７との間の位置に第３の磁気センサ２２８を収容するためのホルダ（図示しない）を設け、当該ホルダ（図示しない）に第３の磁気センサ２２８を収容させることにより、第１特別図柄始動口８と第２可変入賞装置１７との間の位置に、第３の磁気センサ２２８を配置することができる。

左後面カバー２０４の後面には、下部ユニット中継基板２０８が、後方からビス止め等により取り付けられている。下部ユニット中継基板２０８の後面には、コネクタ（図示しない）を差し込むための端子２３８が多数個（たとえば１１個）配置されている。
各端子２３８は、各電飾基板２０６，２０７や第２特別入賞口開閉役物駆動機構３３、駆動ソレノイド４９、各センサ３６，４２，４３，４４，２２７，２７２，２２８，３００に電気的に接続されている。下部ユニット中継基板２０８は、演出インターフェイス基板５４（図７等参照）および中継基板５６（図７等参照）と各部材２０６，２０７，１２６，２４１，２６１，３６，６１，４３，４４，２２７，２２８との信号授受を中継している（図７も併せて参照）。

図６は、遊技盤２に搭載された第１〜第７の磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検知範囲を説明するための正面図である。
遊技盤２には、第１〜第３の磁気センサ２２７，２７２，２２８の他に、第４〜第７の磁気センサ（検知手段）２７４〜２７７という４つの磁気センサが搭載されている。第４〜第７の磁気センサ２７４〜２７７は遊技盤２を構成するベニヤ版において、当該盤面の盤面の直ぐ後方に埋設されている。図６には、各磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検知範囲を、実線、二点鎖線および破線の３重円（より具体的には楕円）で記載し、当該磁気（磁界（静電界））の強さに応じて段階的に描いている。より具体的には、図６では、遊技機１の製造時に行う、検査用磁石（図示しない）を検知する場合の検知範囲を示している。図６の３重円のうち最も内側の円（楕円）が、検査用磁石の磁力が最も弱い場合（標準の磁石を２枚重ねにした場合）の検知範囲であり、図６の３重円のうち中から２つ目の円（楕円）が、検査用磁石の磁力がその次に弱い場合（標準の磁石を３枚重ねにした場合）の検知範囲であり、図６の３重円のうち最も外側の円（楕円）が、検査用磁石の磁力が最も強い場合の検知範囲である。

第１〜第７の磁気センサのうち第２の磁気センサ２７２を除く磁気センサ２２７，２２８，２７４〜２７７は、互いに同じ諸元の磁気センサが採用されている。この磁気センサは矩形形状をなし、より具体的には長方形状をなしている。この磁気センサは、当該磁気センサの長手方向の両端部から、当該長手方向に沿って円形（楕円形）の磁界（静電界）を形成する。磁気センサの幅方向側には、磁界はほとんど形成されない。当該両端部の強さは最も強く、各端部から、長手方向に沿って離れるのに従って磁界は弱くなる。この磁気センサは磁気インピーダンス効果を利用した高感度磁気センサであり、この磁気センサとして、たとえば（株）日本アレフ製のＰＳ−０１２６−７０１が採用されている。

第１の磁気センサ（第１の検知手段）２２７は、第２特別入賞口３１（第２可変入賞装置１７）の上方でかつ第３普通入賞口１８の左方において、その長手方向が左右方向に沿うように配置されている。第１の磁気センサ２２７の検知範囲は、第２特別入賞口３１および第３普通入賞口１８をカバーしている。第１の磁気センサ２２７の検出範囲は、第３の磁気センサ２２８および第６の磁気センサ２７６の検出範囲と重なっているが、それ以外の磁気センサ２７２，２７４，２７５，２７７とは重なっていない。

第２の磁気センサ（第１の検知手段）２７２は、一方向に長い長尺部材である。他の磁気センサ２２７，２２８，２７４〜２７７とは異なる諸元を有している。前述のように、第２の磁気センサ２７２は、その長手方向が左右方向に沿うように、かつ水平に配置されている。第２の磁気センサ２７２は、その長手方向の両端部および中央部２箇所の合計４箇所をそれぞれ中心とする円形（楕円形）の磁界を形成する。当該端部または当該中央部において発生する磁界の強さは最も強く、当該端部または当該中央部から離れるのに従って磁界は弱くなる。この磁気センサは磁気インピーダンス効果を利用した高感度磁気センサであり、この磁気センサとして、たとえばアルプス電気株式会社製のＨＧＤＦＰＡ００２Ａが採用されている。

第２の磁気センサ２７２は、第１特別図柄始動口８の下方において、その長手方向が左右方向に沿うように配置されている。第２の磁気センサ２７２の検知範囲は、第１特別図柄始動口８、非特定領域３９およびアウト口４８をカバーしている。第２の磁気センサ２７２の検出範囲は、第３の磁気センサ（第１の検知手段）２２８および第４の磁気センサ（第１の検知手段）２７４の検出範囲と重なっているが、それ以外の磁気センサ２２７，２７５，２７６，２７７とは重なっていない。

第３の磁気センサ２２８は、第１特別図柄始動口８の右方において、その長手方向が左右方向に沿うように配置されている。第３の磁気センサ２２８の検知範囲は、第１特別図柄始動口８、特定領域３８（図３参照）および非特定領域３９（図３参照）をカバーしている。第３の磁気センサ２２８の検出範囲は、第１の磁気センサ２２７、第２の磁気センサ２７２および第４の磁気センサ２７４の検出範囲と重なっているが、それ以外の磁気センサ２７５，２７６，２７７とは重なっていない。

第４の磁気センサ２７４は、第１普通入賞口１１の上方において、長手方向が、前後方向に直交する直交面に沿って上下方向に対し鋭角（たとえば６０°程度）傾斜した方向に沿うように配置されている。第４の磁気センサ２７４の検知範囲は、第１普通入賞口１１および第２普通入賞口１２をカバーしている。第４の磁気センサ２７４の検出範囲は、第２の磁気センサ２７２、第３の磁気センサ２２８および第５の磁気センサ２７５の検出範囲と重なっているが、それ以外の磁気センサ２２７，２７６，２７７とは重なっていない。

第５の磁気センサ（第２の検知手段）２７５は、第１普通入賞口１１の上方（すなわち左流下領域Ｓａ）において、その長手方向が上下方向に沿うように配置されている。第５の磁気センサ２７５の検出範囲は、第４の磁気センサ２７４の検出範囲と重なっているが、それ以外の磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７６，２７７とは重なっていない。
第６の磁気センサ（第２の検知手段）２７６は、第１特別入賞口２２の下方で、かつ第２特別図柄始動口１５の右斜め上方（すなわち右流下領域Ｓｂ）において、その長手方向が上下方向に沿うように配置されている。第６の磁気センサ２７６の検知範囲は、第１特別入賞口２２および第２特別図柄始動口１５をカバーしている。第６の磁気センサ２７６の検出範囲は、第５の磁気センサ２７５および第７の磁気センサ２７７の検出範囲と重なっているが、それ以外の磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４とは重なっていない。とくに、第５の磁気センサ２７５の配置位置と第６の磁気センサ２７６の配置位置との間は十分に離間しているため、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６の検知範囲が互いに重複することはない。

第７の磁気センサ２７７（第１の検知手段）は、普通図柄ゲート１３の近傍において、その長手方向が上下方向に沿うように配置されている。第７の磁気センサ２７７の検知範囲は、第１特別入賞口２２および普通図柄ゲート１３をカバーしている。第７の磁気センサ２７７の検出範囲は、第６の磁気センサ２７６と重なっているが、それ以外の磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４，２７５とは重なっていない。

図７は、遊技機１の電気的構成を示すブロック図である。
遊技機１は、当該遊技機１の統括的な動作制御を司る主制御基板（制御手段）５０と、演出制御を司る演出制御基板５１と、遊技機１から遊技球を払い出すための払出制御基板５２とを備えている。
払出制御基板５２は、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を含むマイクロコンピュータを備えており、主制御基板５０に直接接続されている。払出制御基板５２には、賞球払出装置９が制御対象として接続されている。払出制御基板５２には、遊技機１の外部に所定の信号（情報）を出力するための外部端子基板５３が接続されている。外部端子基板５３は、たとえば遊技店のホールコンピュータに信号を外部出力可能にされている。

演出制御基板５１は、演出インターフェイス基板５４を介して主制御基板５０に接続されている。演出制御基板５１は、ＣＰＵ、ＲＡＭおよびＲＯＭを含むマイクロコンピュータを備えている。演出制御基板５１には、演出インターフェイス基板５４を介して液晶表示制御基板５５が接続されている。液晶表示制御基板５５は、ＣＰＵ、ＲＡＭおよびＲＯＭを含むマイクロコンピュータを備えている。液晶表示制御基板５５には、液晶表示ユニット６が制御対象として接続されている。

主制御基板５０は、ＣＰＵ５０Ａ、ＲＡＭ５０ＢおよびＲＯＭ５０Ｃを含む遊技制御用マイクロコンピュータ５０Ｍを備えている。遊技制御用マイクロコンピュータ５０Ｍは、入力ポート５０Ｐを有している。

主制御基板５０の主遊技制御用マイクロコンピュータ５０Ｍには、第１および第２特別図柄表示手段４５，４６ならびに普通図柄表示手段４７が直接の制御対象として接続されている。主遊技制御用マイクロコンピュータ５０Ｍの入力ポート５０Ｐには、第１特別図柄始動口８（図２参照）への遊技球の入球を検出するための第１特別図柄始動口入球センサ６１からの検出出力、および第２特別図柄始動口１５（図２参照）への遊技球の入球を検出するための第２特別図柄始動口入球センサ６２からの検出出力が入力されるようになっている。

また、主遊技制御用マイクロコンピュータ５０Ｍには、中継基板５６が接続されている。
中継基板５６には、第２特別入賞口３１（図２参照）に遊技球が入球したことを検出するための第２特別入賞口入球センサ３６、位置センサ４２、特定領域センサ４３、非特定領域センサ４４、第１〜第３の磁気センサ２２７，２７２，２２８および振動センサ３００が、下部ユニット中継基板２０８を介して接続されている。主遊技制御用マイクロコンピュータ５０Ｍには、各センサ３６，４２，４３，４４，２２７，２７２，２２８，３００の検出出力が、中継基板５６および下部ユニット中継基板２０８を経由して入力されるようになっている。

また、中継基板５６には、第２特別入賞口開閉役物駆動機構３３および駆動ソレノイド４９が、下部ユニット中継基板２０８を介して接続されている。主遊技制御用マイクロコンピュータ５０Ｍは、第２特別入賞口開閉役物駆動機構３３および駆動ソレノイド４９を、中継基板５６および下部ユニット中継基板２０８を介して制御する。
また、中継基板５６には、普通図柄ゲート１３（図２参照）を遊技球が通過したことを検出するための普通ゲート通過センサ６３、第１特別入賞口２２（図２参照）に遊技球が入球したことを検出するための第１特別入賞口入球センサ６４、第４〜第７の磁気センサ（検知手段）２７４〜２７７および電波センサ２８１が、下部ユニット中継基板２０８を介さずに接続されている。電波センサ２８１は、放射磁界の検出により検出信号を出力するセンサであり、遊技機１に対し強い電波が発せられた場合に異常を検知するためのセンサである。

主遊技制御用マイクロコンピュータ５０Ｍの入力ポート５０Ｐには、各センサ６３，６４，２７４〜２７７，２８１の検出出力が、中継基板５６を経由して入力されるようになっている。
また、中継基板５６には、普通電動役物駆動機構２９および第１特別入賞口開閉役物駆動機構２４が、下部ユニット中継基板２０８を介さずに接続されている。主制御基板５０は、普通電動役物駆動機構２９および第１特別入賞口開閉役物駆動機構２４を、中継基板５６を介して制御する。

ＲＡＭ５０Ｂには、第１特別図柄始動メモリおよび第２特別図柄始動メモリが設けられている。
演出インターフェイス基板５４には、スピーカ１１０やランプユニット１１１が、枠中継基板５７を介して、制御対象として接続されている。
演出制御基板５１は、主制御基板５０からの制御指令信号に基づいて、液晶表示ユニット６の具体的な演出内容を決定し、その演出内容が記された制御指令信号を制御対象に対して出力する。具体的には、演出制御基板５１から出力される制御指令信号は、演出インターフェイス基板５４を介して液晶表示制御基板５５に与えられる。液晶表示制御基板５５は、演出制御基板５１から送出される制御指令信号（この場合、液晶制御用の制御指令信号）の内容に基づいて液晶表示ユニット６の表示を制御する。

図８は、主制御基板５０における、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビット割り当ての例を示す図である。
入力ポート５０Ｐ（図７参照）は、複数の入力ポートを有している。そのうちの一つが異常検知用入力ポート５０ＰＩＮである。
図８に示すように、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビット「０」およびビット「１」には、それぞれ、電波センサ２８１の検知信号および振動センサ３００の検知信号が入力される。異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビット「２」〜ビット「５」には、第１〜第４の磁気センサ２７４〜２７７の検知信号がそれぞれ入力される。異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビット「６」には、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６の検知信号が入力される。異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビット「７」には、第７の磁気センサ２７７の検知信号が入力される。

図９は、中継基板５６の要部の回路図である。
コネクタＣＮは、中継基板５６（図７参照）からの信号を主制御基板５０（図７参照）伝達するためのケーブルを、接続するためのコネクタである。中継基板５６には、ドライバ回路としての半導体素子（図示しない）が搭載されている。
たとえば、コネクタＣＮのチャンネル「３」には電波センサ２８１の検知信号が一対一対応で入力され、コネクタＣＮのチャンネル「５」には振動センサ３００の検知信号が一対一対応で入力される。また、コネクタＣＮのチャンネル「６」には第１の磁気センサ２２７の検知信号が一対一対応で入力され、コネクタＣＮのチャンネル「９」には第２の磁気センサ２７２の検知信号が一対一対応で入力され、コネクタＣＮのチャンネル「１０」には第３の磁気センサ２２８の検知信号が一対一対応で入力され、コネクタＣＮのチャンネル「１１」には第４の磁気センサ２７４の検知信号が一対一対応で入力される。コネクタＣＮのチャンネル「１２」には第５の磁気センサ２７５の検知信号および第６の磁気センサ２７６の検知信号が入力される。第５の磁気センサ２７５および第６の磁気センサ２７６は、チャンネル「１２」に論理ＯＲ出力可能に接続されている（以下、このような接続（論理ＯＲ接続）が採用された回路構成を、「論理ＯＲ出力する回路構成」という場合がある。以下同じ）。具体的には、第５の磁気センサ２７５の検知信号の出力および第６の磁気センサ２７６の検知信号の出力は、中継基板５６においてワイヤードＯＲ接続されている。そのため、第５の磁気センサ２７５の検知信号の出力および第６の磁気センサ２７６の検知信号の出力は、１つの信号出力としてコネクタＣＮのチャンネル「１２」に入力される。コネクタＣＮのチャンネル「１４」には第７の磁気センサ２７７の検知信号が一対一対応で入力される。なお、コネクタＣＮのチャンネル「４」、チャンネル「７」およびチャンネル「１３」はグランド（ＧＮＤ）接続用の端子であり、コネクタＣＮのチャンネル「５」およびチャンネル「８」は電源供給用の端子である。

以下、図９の回路図を参照しながら、第５の磁気センサ２７５の検知出力と第６の磁気センサ２７６の検知出力とのワイヤードＯＲ回路について説明する。
第５の磁気センサ２７５の出力端子に接続された信号線Ｌ１には、ダイオードＤ１が介装されている。信号線Ｌ１は、ダイオードＤ１よりも始端側において抵抗Ｒ１を介して直流電源ＶＤにプルアップ接続されている。第６の磁気センサ２７６の出力端子に接続された信号線Ｌ２には、ダイオードＤ２が介装されている。信号線Ｌ２は、ダイオードＤ２よりも始端側において抵抗Ｒ２を介して直流電源ＶＤにプルアップ接続されている。信号線Ｌ１および信号線Ｌ２の終端は、一端がコネクタのチャンネル「１２」に接続される信号線Ｌ３の他端に共に接続されている。信号線Ｌ１および信号線Ｌ２の終端は、抵抗Ｒ３を介して接地されている。

図７に戻って、主制御基板５０の制御プログラムは、電源電圧の復旧や投入に基づいて起動されるメイン処理であるシステムリセット処理を含んでいる。
システムリセット処理の実行は、電源が投入され、主制御基板５０に対し電源基板（図示しない）からのシステムリセット信号が入力されることに基づいて開始される。この場合に、ＣＰＵ５０Ａは、最初に自らを割込み禁止状態に設定し、かつＣＰＵ５０Ａに内蔵されている各レジスタの値を初期設定する。次いで、ＣＰＵ５０Ａは、周辺の基板（たとえば、払出制御基板５２や演出制御基板５１等の基板）の初期設定の完了までウエイトする。

また、電源投入に伴い、電源投入状態を示す電圧レベル（たとえばオン状態）の電圧降下信号が主制御基板５０に入力される。電圧降下信号が電源投入状態を示す電圧レベルであると、ＣＰＵ５０Ａは、払出制御基板５２が正常に立ち上がったことを確認した後、電源基板から付与されているＲＡＭクリア信号のレベルを判別し、ＲＡＭクリア信号がＬレベルである場合はＲＡＭ５０Ｂの全領域をゼロクリアし、かつＲＡＭクリア信号がＨレベルである場合はＲＡＭ５０Ｂに記憶されているバックアップデータの有効／無効を判別する。

これらの処理の実行完了に伴い、システムリセット処理が終了され、メイン処理（メインループの処理）を無限ループに入る。メイン処理の無限ループ中には、ＣＰＵ５０Ａを割込み禁止状態にセットした状態で、各種のカウンタについて更新処理を実行し、その実行終了後にＣＰＵ５０Ａを割込許可状態に戻す。メイン処理の無限ループ中は、4(msec）毎に、マスク可能なタイマ割込処理が実行される。より詳しくは、ＣＰＵ５０Ａでは、当該ＣＰＵ５０Ａが割込許可状態にあることを条件に、4(msec）毎にメイン処理が中断され、タイマ割込処理が実行される。

図１０は、主制御基板５０によるタイマ割込処理の流れを示すフローチャートである。タイマ割込処理について、図２、図７および図１０を参照しながら説明する。
タイマ割込処理が開始されると、ＣＰＵ５０Ａのレジスタを保存することなく、速やかに異常電源チェック処理が実行される（ステップＳ１）。異常電源チェック処理においては、主制御基板５０に接続された電源基板（図示しない）から主制御基板５０に供給されている電圧降下信号のレベルが判定される。この電圧降下信号のレベルが電源遮断を示すレベルであることが１回または複数回のタイマ割込処理に跨って検出されると、その後バックアップ処理に移行する。

一方、電圧降下信号が電源遮断を示さないレベルであることが判定された場合は、遊技動作の時間を管理している各タイマについて、タイマの減算（更新）が行われる（Ｓ２：タイマ管理処理）。
次いで、入力管理処理が実行される（ステップＳ３）。入力管理処理は、遊技機１に設けられた各種センサの検出出力の内容（たとえば、各種検出センサがオンオフ信号を出力する場合にはオン状態かオフ状態か）を記憶したり、その信号に基づくデータを定期的に更新したりする処理である。各種センサとして、位置センサ４２、特定領域センサ４３、非特定領域センサ４４、第１特別図柄始動口入球センサ６１、第２特別図柄始動口入球センサ６２、普通ゲート通過センサ６３、第１特別入賞口入球センサ６４、第２特別入賞口入球センサ３６等を例示することができる。

次いで、後述する普通図柄管理処理（ステップＳ７）における普通図柄判定処理で使用される普通当り判定用乱数カウンタの値や、後述する第１および第２特別図柄管理処理（ステップＳ９，Ｓ１０）における大当り判定用乱数判定処理で使用される大当り判定用乱数カウンタの値が更新される（Ｓ４：タイマ割込内乱数管理処理）。
次いで、賞球払出装置９に遊技球を供給するための球供給機構（図示しない）に対する遊技球の補給停止の有無や遊技球の詰まりの有無を判定するエラー管理処理が行われる（ステップＳ５）。このエラー管理処理においては、次に述べるように、遊技機１における異常発生の有無も判定されるようになっている。

次いで、入賞口（第１および第２特別図柄始動口８，１５、第１および第２特別入賞口２２，３１ならびに、第１、第２および第３普通入賞口１１，１２，１８）への入賞に対し、入賞情報の確認および指令信号データの作成を行う賞球管理処理が行われる（ステップＳ６）。賞球管理処理においては、各入賞口８，１５，２２，３１，１１，１２，１８に関連して設けられた球検出用のセンサ６１，６２，６３，６４，３６等の検出出力が主制御基板５０に入力されると、主制御基板５０のＣＰＵ５０Ａが、これらの検出出力に基づいて、払出個数を賞球払出装置９に指示するための指令信号データを作成する。

次いで、普通図柄管理処理が行われる（ステップＳ７）。普通図柄管理処理においては、普通電動役物１６を開動作させるか否かを判定する普通図柄判定処理（前述の普通図柄抽選と同等の処理）が実行される。より詳しくはステップＳ４のタイマ割込内乱数管理処理によって更新された普通当り判定用乱数カウンタから取得された普通図柄判定用乱数の値を普通当り数値と対比する。

そして、普通電動役物１６の開動作が判定された場合には、普通電動役物１６の開動作に向けた処理が実行されるとともに、その後、普通電動役物１６の開動作を実現するための処理が実行される（Ｓ８：普通電動役物管理処理）。
普通電動役物管理処理の終了後には、次いで、第１特別図柄管理処理が行われる（ステップＳ９）。この第１特別図柄管理処理においては、第１特別図柄始動口８への入賞に伴う一連の抽選処理が実行される。

ステップＳ９の第１特別図柄管理処理の終了後、次いで、第２特別図柄管理処理が行われる（ステップＳ１０）。この第２特別図柄管理処理においては、第２特別図柄始動口１５への入賞に伴う一連の抽選処理が実行される。
次いで、第１または第２特別図柄管理処理に含まれる大当り判定用乱数判定処理において大当りであると判定された場合には、その後、第２特別入賞口３１の開放動作（特別入賞口開閉役物２３，３２の開動作）に向けた処理が実行され、その後第２特別入賞口３１の開放動作を実現するための処理が実行される（Ｓ１１：特別電動役物管理処理）。

次いで、右打ち報知情報管理処理が行われる（ステップＳ１２）。この右打ち報知情報管理処理においては、たとえば、第１および第２特別入賞口２２，３１や開動作される場合や、普通電動役物１６が開動作させられる場合（開放延長状態中）など、右打ち遊技が有利な状況において右打ち指示報知を行う「右打ち報知演出」を出現させるための処理を行う。右打ち指示とは、具体的には、主制御基板５０は、遊技領域Ｓの右流下領域Ｓｂを狙う旨を遊技者に指示する演出動作であり、たとえば液晶表示ユニット６に「右打ち」を遊技者に促す画像を表示させたり、スピーカ５８から右打ちメッセージ音声を発生させたりする。右打ち報知演出が行われる場合には、この右打ち報知情報管理処理において、演出制御指令信号として、右打ち報知演出の実行指示する「右打ち指示コマンド」が主制御基板５０から演出制御基板５１に送信され、この制御指令信号を受けて、演出制御基板５１が、画像や音声による右打ち報知の実行制御を行う。

次いで、主制御基板５０にて管理する所定のランプ（遊技ランプ５９等）に点灯動作や消灯動作を行わせるランプ管理処理が実行される（ステップＳ１３）。
次いで、それぞれソレノイドからなる、第１特別入賞口開閉役物駆動機構２４、第２特別入賞口開閉役物駆動機構３３、普通電動役物駆動機構２９、可動片駆動ソレノイド等を管理するソレノイド管理処理が実行される（ステップＳ１４）。

次いで、ＣＰＵ５０Ａを割込み許可状態に戻した後（ステップＳ１５）、タイマ割込処理を終える。これにより、タイマ割込処理のルーチンを脱し、無限ループのメイン処理（システムリセット処理）が実行される。このメイン処理においては、電圧異常の監視とタイマ割込処理の有無の監視との確認が行われる。
図１１は、エラー管理処理（Ｓ５）の流れを示すフローチャートである。図１２は、図１１に示す不正信号検出処理（Ｓ２１）の流れを示すフローチャートである。図１３は、エラー管理処理（Ｓ５）の流れを示すタイミングチャートである。

図１１に示すように、エラー管理処理では、まず、電波センサ２８１、振動センサ３００または磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検知があるか否かを検出する不正信号検出処理が行われる（ステップＳ２１）。以下、磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７、電波センサ２８１および振動センサ３００をまとめて「センサ類」ということがある。

不正信号検出処理においては、図１２に示すように、ＣＰＵ５０Ａは、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮの各ビットの情報を読み込む（ステップＳＳ４２）。また、ＣＰＵ５０Ａは、異常を検知したセンサの種別毎に異なるエラー判定時間をＲＡＭ５０Ｂから取得する（ステップＳ４３）。このとき取得したエラー判定時間は、たとえば、電波エラー（電波センサ２８１により検知したエラー）のエラー判定時間が８ｍｓｅｃであり、振動エラー（振動センサ３００により検知したエラー）のエラー判定時間が１０００ｍｓｅｃであり、磁気エラー（磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７により検知したエラー）のエラー判定時間が１００ｍｓｅｃとしてである。

異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビットに、オン状態の検知信号が入力された場合（ステップＳ４４でＹＥＳ）には、ＣＰＵ５０Ａは異常を検知し、加算カウンタからなるエラーカウンタをカウント開始させる。
異常検知以降、ＣＰＵ５０Ａは、当該異常検知から所定のエラー判定時間が経過したか否かを監視する（ステップＳ４５〜Ｓ４７）。そして、エラー判定時間が経過したとき（ステップＳ４６でＹＥＳ）には当該エラーのエラータイマをセットする（ステップＳ４８）。その後、図１２の不正検出処理はリターンされ、図１１のステップＳ２２に移行する。

また、ステップＳ４４において、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビットに入力された検知信号の全てがオフ状態である場合（ステップＳ４４でＮＯ）には、ＣＰＵ５０Ａは、エラーカウンタの値をクリアする（ステップＳ５０）。その後、図１２の不正検出処理はリターンされ、図１１のステップＳ２２に移行する。
図１１に戻って、ＣＰＵ５０Ａは、磁気エラー用のエラータイマの値が零以外である場合（ステップＳ２２でＮＯ）には、磁気エラーのエラー報知実行中として、磁気エラー情報をエラー情報としてセットする（ステップＳ２３）。ＣＰＵ５０Ａは、電波エラー用のエラータイマの値が零以外である場合（ステップＳ２４でＮＯ）には、磁気エラーのエラー報知実行中として、磁気エラー情報をエラー情報としてセットする（ステップＳ２５）。ＣＰＵ５０Ａは、振動エラー用のエラータイマの値が零以外である場合（ステップＳ２６でＮＯ）には、磁気エラーのエラー報知実行中として、磁気エラー情報をエラー情報としてセットする（ステップＳ２７）。

また、ＣＰＵ５０Ａは、前回のエラーフラグを取得して、エラーフラグのエラー情報を、今回のエラー情報に更新する（ステップＳ２８，Ｓ２９）。そして、前回のエラーフラグと今回のエラーフラグとを比較し（ステップＳ３０）、エラーフラグのエラー情報に変更があった場合（ステップＳ３１でＹＥＳ）には、ＣＰＵ５０Ａは、対応する制御指令信号を演出インターフェイス基板５４（図７参照）に送信すると共に、外部端子基板５３（図７参照）にその旨の信号を送信する。演出インターフェイス基板５４に送られた制御指令信号に基づき、ランプユニット１１１やスピーカ１１０、液晶表示ユニット６において異常発生報知が行われる。その後、図１１のエラー管理処理は、リターンされ、図１０のステップＳ６に移行する。

以下、エラーの種別毎に分けて説明する。
オン状態となったセンサ類が磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７である場合、ＣＰＵ５０Ａは、当該磁気センサのオン状態を一定時間（１００ｍｓｅｃ）検出すると、磁気エラーの発生であると判定する。そして、当該磁気センサがオフ状態に戻った後一定時間（３０ｓｅｃ）経過すると、当該磁気エラーから復帰する。

また、オン状態となったセンサ類が電波センサ２８１である場合、ＣＰＵ５０Ａは、当該電波センサのオン状態を一定時間（８ｍｓｅｃ）検出すると、電波エラーの発生であると判定する。そして、当該電波センサがオフ状態に戻った後一定時間（３０ｓｅｃ）経過すると、当該電波エラーから復帰する。
また、オン状態となったセンサ類が振動センサ３００である場合、ＣＰＵ５０Ａは、当該振動センサのオン状態を一定時間（１０００ｍｓｅｃ）検出すると、振動エラーの発生であると判定する。そして、当該振動センサがオフ状態に戻った後一定時間（３０ｓｅｃ）経過すると、当該振動エラーから復帰する。

以上のエラー管理処理をまとめたのが図１３である。
図１３に示すように、異常の検出後、遊技機１の状態は、Ａ状態→Ｂ状態→Ｃ状態と順に遷移する。これらＡ状態、Ｂ状態およびＣ状態は、次に述べるような状態である。
Ａ状態：センサ類はオン状態であるが、エラーカウンタの値が判定時間未満であるため、エラーは未だ発生していない状態。
Ｂ状態：エラーは発生しているが、エラーを未だ報知していない状態。この状態では、エラータイマを３０ｓｅｃにセットし続けている。
Ｃ状態：センサ類はオフ状態であるが、エラータイマが零になるまでエラーを報知している状態。

ところで、通例、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮには８ビットが割り当てられている。具体的には、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮは、磁気センサの検知信号入力のためだけでなく、振動センサ３００の信号入力および電波センサ２８１の検知信号入力にも用いられる。つまり、磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検知の有無、振動センサ３００の検知の有無および電波センサ２８１の検知の有無という異常検知処理全体を、１つの入力ポート（異常検知用入力ポート５０ＰＩＮ）で判断している。１つの入力ポートの処理は共通のプログラムで処理するため、結果として、異常検知処理の全体が、共通のプログラムで処理できる。この実施形態に係る異常検知用入力ポート５０ＰＩＮでは、振動センサ３００の検知信号入力用および電波センサ２８１の検知信号入力用にそれぞれ１ビットずつ使用されており、そのため、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのうち磁気センサ用として使用できるのは６ビットに止まる。

一方、磁石ゴトの発生をより一層効果的に防止するたは、遊技盤２の広範囲に磁気センサを配置することが望ましく、この場合、多数の磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７を遊技盤２に搭載する必要がある。この実施形態に係る遊技機１では、遊技盤２に搭載される磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の個数を、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮにおいて磁気センサ用に割り当てられてられたビットの数（６つ）よりも多い数（この実施形態では７つ）としている。

この場合、磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７に一対一対応で異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビットを設けるとすると、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮに信号出力を入力できない磁気センサが生じ、もう一つ他に、磁気センサ用の入力ポート（異常検知用の入力ポート）を設ける必要が生じる。使用されるプログラムは入力ポートごとに異なるため、異常検知用の入力ポートを複数設ける場合には、異常検知全体を共通のプログラムで処理することはできず、その結果、制御処理が煩雑化するおそれがある。

これに対し、この実施形態によれば、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６が異常検知用入力ポート５０ＰＩＮに論理ＯＲ出力可能に接続されており、そのため、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６の検知信号の出力が束ねられ、１つの信号出力として異常検知用入力ポート５０ＰＩＮに入力される。したがって、磁気センサの個数が増えても、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮに入力される信号出力の数を６個に（磁気センサ用に割り当てられてられたビットの数と同数、あるいはそれ以下に）維持できる。これにより、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮに入力される異常検知用の信号数を８ビットに抑えつつ（主制御基板５０への負荷を増大させることなく）、磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の搭載数を増加できる遊技機１を提供できる。

この場合、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６のいずれか一方が静磁界を検知すると、検知信号が異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビット「６」に与えられる。逆に言えば、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮのビット「６」に検知信号が入力される場合、その検知信号が第５および第６の磁気センサ２７５，２７６のいずれの検知に基づく信号なのかを、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮ側から判別できない。

遊技機１の製造時には、各磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７を作動チェックするための作動検査が行われる。この作動検査は、各磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検出の良否を個別に検出する必要がある。具体的には、この作動検査では、検査用磁石（図示しない）を遊技盤２正面側から、各磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の配置位置近傍に順に当てがうことにより行う。

しかしながら、多数の磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７を遊技機１に搭載する場合には磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７が密集して配置されるが、この場合、磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検知範囲が互いに重なることがある。互いに検知範囲が重なる磁気センサが、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮに論理ＯＲ出力可能に接続されている場合、検査用磁石（図示しない）をいずれの磁気センサで検知しているのかを判別できない。

これに対し、この実施形態では、論理ＯＲ出力可能な接続の対象となる磁気センサを、左流下領域Ｓａに配置された第５の磁気センサ２７５および右流下領域Ｓｂに配置された第６の磁気センサ２７６としている。前述のように、第５の磁気センサ２７５の配置位置と第６の磁気センサ２７６の配置位置との間は十分に離間しているため、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６の検知範囲が互いに重複することはない。換言すると、論理ＯＲ出力可能な接続の対象となる磁気センサ２７５，２７６は、検知範囲が重複していない磁気センサである。これにより、論理ＯＲ出力可能な接続となる磁気センサ２７５，２７６の検知範囲が重複しないので、当該磁気センサ２７５，２７６により検査用磁石（図示しない）の磁界を検出したときに、磁界検知した磁気センサが、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６であるかの判断を作業者が迷うことはない。これにより、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６のいずれにおいても、作動チェックを良好に行うことができ、これにより、精度の高い作動検査を容易に実現できる。

また、全ての磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検出信号が中継基板５６を介して主制御基板５０に入力（中継）される。全ての磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検出信号を中継する中継基板５６において、第５の磁気センサ２７５と第６の磁気センサ２７６とが互いに論理ＯＲ出力可能に接続されているので、互いに離間する位置に配置されている第５および第６の磁気センサ２７５，２７６の信号出力を、良好に論理ＯＲ出力させることができる。

以上、この発明の一実施形態について説明したが、この発明は他の形態で実施することもできる。
たとえば、論理ＯＲ出力可能な接続の対象が、第５および第６の磁気センサ２７５，２７６であるとして説明したが、互いに検知範囲が重複しない磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の組合せであれば、その他の組合せを採用できる。

また、図６で示すような楕円形の検知範囲が重なっていないことを「磁気センサ同士の検知範囲が重複しないこと」の一例として挙げて説明したが、「磁気センサ同士の検知範囲が重複しないこと」はこれに限らない。例えば、図６を参照すると、磁気センサ２２７の検知範囲内に第２可変入賞装置１７が位置している。一方で、磁気センサ２７６の検知範囲内に第２特別図柄始動口１５が位置しており、第２可変入賞装置１７（つまり、アタッカー）は検知範囲内には位置していない。このように、互いに異なる遊技手段を検知範囲に含む磁気センサ同士を論理ＯＲ出力する回路構成（論理ＯＲ出力可能な接続の対象）とするようにしてもよい。

また、図６を参照すると、磁気センサは、当該センサの左右方向から楕円形状の２つの検知範囲を形成している。「磁気センサ同士の検知範囲が重複しないこと」とは、左右方向から楕円形状の２つの検知範囲のうち、少なくとも1つの検知範囲が重なっていなければよく、少なくとも1つの検知範囲が重なっていない磁気センサ同士を論理ＯＲ出力する回路構成（論理ＯＲ出力可能な接続の対象）とするようにしてもよい。

また、設置方向が異なる磁気センサ同士を論理ＯＲする回路構成（論理ＯＲ出力可能な接続の対象）とするようにしてもよい。具体的には、磁気センサ２７７（縦向き）と磁気センサ２２７（横向き）とであってもよいし、図示しないが、遊技盤２の前後方向に斜め向きに設置されているものであってもよい。

また、前述の説明では、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮには、磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検知信号の他に、他の異常検知センサの検知信号として、電波センサ２８１の検知信号および振動センサ３００の検知信号が入力されるとして説明したが、電波センサ２８１の検知信号および振動センサ３００の検知信号の一方のみが入力されるようになっていてもよい。

また、これらの検知出力に併せて／これらの検知出力に代えて、それ以外の、他のセンサの検知出力が、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮに入力されるようになっていてもよい。
また、異常検知用入力ポート５０ＰＩＮに、磁気センサ２２７，２７２，２２８，２７４〜２７７の検知出力のみが入力され、他の異常検知センサの検知出力が入力されないようになっていてもよい。

また、前述の実施形態では、論理ＯＲ出力可能な接続の対象が合計２つの磁気センサ（第５および第６の磁気センサ２７５，２７６）であるとして説明したが、３つ以上の磁気センサを論理ＯＲ出力可能に接続してもよい。この場合、互いに論理ＯＲ出力可能に接続されている３つ以上の磁気センサのうちの少なくとも１つの磁気センサから検知信号が出力されることに基づいて、エラーと判定される。

また、本実施形態では、複数の磁気センサをＯＲ論理出力可能な回路構成とする例を示したが、これに限らず、電波センサ、振動センサ等のその他のセンサ（検知手段）を、ＯＲ論理出力可能な回路構成（論理ＯＲ出力可能な接続の対象）とするようにしてもよい。
また、磁気センサと電波センサとの組合せのように、互いに種別の異なるセンサの組合せを、ＯＲ論理出力可能な回路構成（論理ＯＲ出力可能な接続の対象）とするようにしてもよい。これにより、検知信号を受ける制御基板側の信号入力を削減できること言うまでもない。

制御基板（たとえば主制御基板５０）は、磁気センサからの検知信号に基づいて、エラー報知を行うが好適である。
例えば、液晶表示により「磁気センサエラー」等の表示を行い、遊技者やホール従業員に磁気センサが異常を検知している旨を伝える。ここで、２つ以上の所定の磁気センサのエラー報知態様としては、複数の磁気センサのうちいずれの磁気センサからの検知信号であっても、共通のエラー報知を行うようにしてもい。

その際のエラー報知態様としては、液晶上に「磁気センサエラー」と表示し、どの磁気センサがエラー検知したのかわからない報知態様であってもよいし、例えば、図６の磁気センサ２７５と磁気センサ２７６が論理ＯＲ出力する回路構成の場合には、「磁気センサ２７５or磁気センサ２７６が磁気センサエラー」のように、それぞれを特定する形でエラー報知を行うようにしてもよい。
また、このような検出手段のエラーの報知は、液晶上に表示するだけに限らず、ランプ、音により行うようにしてもよい。

また、論理ＯＲ出力可能な接続の対象となる検知信号の種類としては、異常検知用のものに限られず、始動口入賞信号、その他入賞口入賞信号、アタッカー入賞信号等、遊技において必要な入力信号であってもよい。
また、前述の実施形態では、論理ＯＲ出力可能に接続された検知手段を１組設ける場合を例に挙げたが、論理ＯＲ出力可能に接続された検知手段が複数組設けられていてもよい。

また、異常検知処理については、タイマ割込み処理にて行うとしたが、メイン処理において行うようにしてもよい。
また、前述の説明では、遊技機１がいわゆる１種２種混合タイプである場合を例に挙げて説明したが、これ以外のタイプの弾球遊技機（たとえばいわゆる２種タイプの弾球遊技機）にも、本発明を適用可能である。

また、遊技盤２の盤面における役物装置や、役物、入賞口の配置レイアウトは一例に過ぎず、遊技の内容や盤面デザイン等に応じて適宜変更可能である。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。

１：遊技機
２：遊技盤
７：センターユニット
５６：中継基板
２２７：第１の磁気センサ（検知手段）
２７２：第２の磁気センサ（検知手段）
２２８：第３の磁気センサ（検知手段）
２７４：第４の磁気センサ（検知手段）
２７５：第５の磁気センサ（検知手段）
２７６：第６の磁気センサ（検知手段）
２７７：第７の磁気センサ（検知手段）

Claims (1)

1. 検知範囲の磁気を検知する磁気センサからなる、不正検知のための複数の検知手段と、
   各検知手段から出力された検知信号を受信可能な入力ポートを有する制御手段と、を備え、
   前記複数の検知手段は、第１の検知手段と、前記検知範囲が互いに重複しないように配置された複数の第２の検知手段と、を含み、
   前記入力ポートには、複数のビットが割り当てられており、
   前記複数の第２の検知手段の検知信号を、論理ＯＲ出力により前記制御手段の一つの前記ビットに入力させ、かつ、前記第１の検知手段の検知信号を、前記入力ポートにおいて前記第１の検知手段に一対一対応で設けられたビットに入力させることを特徴とする遊技機。

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