JP6764557B2 - 圧電素子利用装置 - Google Patents
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Description
この発明の一実施形態では、前記上部電極は、前記可動膜の主面に対して法線方向から見た平面視において、前記可動膜よりも前記キャビティの内方に後退した周縁を有しており、前記上部配線は、前記平面視において、一端部が前記上部電極の上面に接続され、他端部が前記キャビティの天面部周縁の外側に引き出されている。
この発明の一実施形態では、前記可動膜形成層は、SiO2単膜からなる。
この発明の一実施形態では、前記可動膜形成層は、前記基板上に形成されたSi膜と、前記Si膜上に形成されSiO2膜と、前記SiO2膜上に形成されたSiN膜との積層膜からなる。
この発明の一実施形態では、前記上部電極は、Pt単膜からなる。
この発明の一実施形態では、前記上部電極は、前記圧電体膜上に形成されたIr02膜と、前記Ir02膜上に形成されたIr膜との積層膜からなる。
この発明の一実施形態では、前記下部電極は、前記可動膜側に形成されたTi膜と、前記Ti膜上に形成されたPt膜との積層膜からなる。
この発明の一実施形態は、基板上に可動膜形成領域を含む可動膜形成層を形成する工程と、前記可動膜形成層上に下部電極膜を形成した後、前記下部電極膜をパターニングして、下部電極を形成する工程と、前記可動膜形成層上に圧電体材料膜および上部電極膜を順に形成した後、前記上部電極膜および圧電体材料膜を順にパターニングして、上部電極および圧電体膜を形成することにより、前記下部電極と前記上部電極とそれらに挟まれた前記圧電体膜とを含む圧電素子を形成する工程と、前記可動膜形成層上に、前記圧電素子および前記下部電極を覆う水素バリア膜を形成する工程と、前記水素バリア膜に、前記上部電極の一部を露出させる第1コンタクト孔と、前記下部電極の一部を露出させる第2コンタクト孔を形成する工程と、前記水素バリア膜上に金製の配線膜を形成した後、前記配線膜をパターニングすることにより、前記第1コンタクト孔を介して前記上部電極に接続され、前記上部電極を駆動回路に接続するための金製の上部配線と、前記第2コンタクト孔を介して前記下部電極に接続され、前記下部電極を前記駆動回路に接続するための金製の下部配線とを形成する工程と、前記基板を下方からエッチングすることにより、前記可動膜形成領域に対向するキャビティを形成する工程とを含む、第2の圧電素子利用装置の製造方法を提供する。
図1Aは、この発明の第1実施形態に係るインクジェットプリントヘッドの主要部の構成を説明するための図解的な平面図である。図1Bは、インクジェットプリントヘッド1の主要部の図解的な平面図であって、保護基板が省略された平面図である。図2は、図1AのII-II線に沿う図解的な断面図である。図3は、図1AのIII-III線に沿った切断面のうちの一部を図解的に示す拡大断面図である。図4は、前記インクジェットプリントヘッドの下部電極のパターン例を示す図解的な平面図である。
インクジェットプリントヘッド1は、アクチュエータ基板2と、ノズル基板3と、保護基板4とを備えている。アクチュエータ基板2の表面には、可動膜形成層10が積層されている。アクチュエータ基板2には、インク流路(インク溜まり)5が形成されている。インク流路5は、この実施形態では、アクチュエータ基板2を貫通して形成されている。インク流路5は、図2に矢印で示すインク流通方向41に沿って細長く延びて形成されている。インク流路5は、インク流通方向41の上流側端部(図2では左端部)のインク流入部6と、インク流入部6に連通する圧力室7とから構成されている。図2において、インク流入部6と圧力室7との境界を二点鎖線で示すことにする。
可動膜10Aの表面には、圧電素子9が配置されている。圧電素子9は、可動膜形成層10上に形成された下部電極11と、下部電極11上に形成された圧電体膜12と、圧電体膜12上に形成された上部電極13とを備えている。言い換えれば、圧電素子9は、圧電体膜12を上部電極13および下部電極11で上下から挟むことにより構成されている。
圧電体膜12としては、たとえば、ゾルゲル法またはスパッタ法によって形成されたPZT(PbZrxTi1−xO3:チタン酸ジルコン酸鉛)膜を適用することができる。このような圧電体膜12は、金属酸化物結晶の焼結体からなる。圧電体膜12は、上部電極13と平面視で同形状に形成されている。圧電体膜12の厚さは、1μm程度である。可動膜10Aの全体の厚さは、圧電体膜12の厚さと同程度か、圧電体膜12の厚さの2/3程度とすることが好ましい。
水素バリア膜14上に、絶縁膜15が積層されている。絶縁膜15は、たとえば、SiO2、低水素のSiN等からなる。絶縁膜15の厚さは、500nm程度である。絶縁膜15上には、上部電極13を図示しない駆動回路(圧電素子駆動用LSI)に接続するための金製の上部配線17と、下部電極11を駆動回路に接続するための金製の下部配線18が形成されている。これらの配線17,18の厚さは、たとえば、1000nm(1μm)程度である。
アクチュエータ基板2には、複数のインク流路5(圧力室7)が互いに平行に延びてストライプ状に形成されている。複数のインク流路5毎に、圧電素子9が配置されている。インク供給用貫通孔22は、複数のインク流路5毎に設けられている。保護基板4の収容凹所52およびインク供給路53は、複数のインク流路5毎に設けられている。
図1A、図3および図6に示すように、保護基板4の対向面51には、複数の収容凹所52が、インク流通方向41と直交する方向に間隔をおいて平行に形成されている。複数の収容凹所52は、平面視において、複数の圧力室7に対向する位置に配置されている。各収容凹所52に対してインク流通方向41の上流側にインク供給路53が配置されている。各収容凹所52は、平面視において、対応する圧電素子9の上部電極13のパターンよりも少し大きな矩形状に形成されている。そして、各収容凹所52に、対応する圧電素子9が収容されている。
図5は、前記インクジェットプリントヘッドの絶縁膜のパターン例を示す図解的な平面図である。
まず、図7Aに示すように、アクチュエータ基板2の表面2aに可動膜形成層10が形成される。ただし、アクチュエータ基板2としては、最終的なアクチュエータ基板2の厚さより厚いものが用いられる。具体的には、アクチュエータ基板2の表面に酸化シリコン膜(たとえば、1.2μm厚)が形成される。可動膜形成層10が、シリコン膜と酸化シリコン膜と窒化シリコン膜との積層膜で構成される場合には、アクチュエータ基板2の表面にシリコン膜(たとえば0.4μm厚)が形成され、シリコン膜上に酸化シリコン膜(たとえば0.4μm厚)が形成され、酸化シリコン膜上に窒化シリコン膜(たとえば0.4μm厚)が形成される。
次に、レジストマスクが剥離される。そして、フォトグラフィによってインク供給用貫通孔22に対応した開口を有するレジストマスクが形成され、このレジストマスクをマスクとして、水素バリア膜14および可動膜形成層10がエッチングされる。これにより、図7Gに示すように、水素バリア膜14および可動膜形成層10に、インク供給用貫通孔22が形成される。
次に、図7Iに示すように、アクチュエータ基板2を薄くするための裏面研削が行われる。アクチュエータ基板2が裏面2bから研磨されることにより、アクチュエータ基板2が薄膜化される。たとえば、初期状態で670μm厚程度のアクチュエータ基板2が、300μm厚程度に薄型化されてもよい。次に、アクチュエータ基板2に対して、アクチュエータ基板2の裏面からエッチング(ドライエッチングまたはウェットエッチング)を行うことによって、インク流路5(インク流入部6および圧力室7)が形成される。
この後、図7Jに示すように、ノズル基板3がアクチュエータ基板2の裏面に張り合わされることにより、インクジェットプリントヘッド1が得られる。
図8Aは、この発明の第2実施形態に係るインクジェットプリントヘッドの主要部の構成を説明するための図解的な平面図である。図8Bは、インクジェットプリントヘッド1Aの主要部の図解的な平面図であって、保護基板が省略された平面図である。図9は、図8AのIX-IX線に沿う図解的な断面図である。図10は、図8AのX-X線に沿った切断面のうちの一部を図解的に示す拡大断面図である。図11は、前記インクジェットプリントヘッドの下部電極のパターン例を示す図解的な平面図である。図12は、前記インクジェットプリントヘッドの水素バリア膜のパターン例を示す図解的な平面図である。図13は、前記インクジェットプリントヘッドのアクチュエータ基板側から見た保護基板の主要部の底面図である。
第2実施形態に係るインクジェットプリントヘッド1Aは、第1実施形態に係るインクジェットプリントヘッド1に比べて、下部電極11、圧電体膜12および上部電極13のパターンが異なっている点と、絶縁体膜が設けられていない点とが異なっている。以下、これらの点について説明する。
図9および図12を参照して、下部電極11の延長部11B上および圧電素子9上には、水素バリア膜14が形成されている。水素バリア膜14は、たとえば、Al2O3(アルミナ)からなる。第2実施形態では、水素バリア膜14上に絶縁膜は形成されていない。水素バリア膜14上には、上部電極13を図示しない駆動回路(圧電素子駆動用LSI)に接続するための金製の上部配線17と、下部電極11を駆動回路に接続するための金製の下部配線18が形成されている。
まず、図14Aに示すように、アクチュエータ基板2の表面2aに可動膜形成層10が形成される。ただし、アクチュエータ基板2としては、最終的なアクチュエータ基板2の厚さより厚いものが用いられる。具体的には、アクチュエータ基板2の表面に酸化シリコン膜(たとえば、1.2μm厚)が形成される。可動膜形成層10が、シリコン膜と酸化シリコン膜と窒化シリコン膜との積層膜で構成される場合には、アクチュエータ基板2の表面にシリコン膜(たとえば0.4μm厚)が形成され、シリコン膜上に酸化シリコン膜(たとえば0.4μm厚)が形成され、酸化シリコン膜上に窒化シリコン膜(たとえば0.4μm厚)が形成される。
次に、図14Eに示すように、コンタクト孔33,34内を含む水素バリア膜14上に、スパッタ法によって、上部配線17および下部配線18を構成する配線膜(Au膜)が形成される。この後、フォトリソグラフィおよびエッチングにより、配線膜がパターニングされることにより、上部配線17および下部配線18が同時に形成される。上部配線17および下部配線18を、ダンプ形成法を用いて形成してもよい。
次に、図14Gに示すように、保護基板4の対向面51に接着剤50が塗布され、インク供給路53とインク供給用貫通孔22とが一致するように、アクチュエータ基板2に保護基板4が固定される。
この後、図14Iに示すように、ノズル基板3がアクチュエータ基板2の裏面に張り合わされることにより、インクジェットプリントヘッド1Aが得られる。
また、前述の第1および第2実施形態では、圧電体膜の材料としてPZTを例示したが、そのほかにも、チタン酸鉛(PbPO3)、ニオブ酸カリウム(KNbO3)、ニオブ酸ノチウム(LiNbO3)、タンタル酸リチウム(LiTaO3)などに代表される金属酸化物からなる圧電材料が適用されてもよい。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
2 アクチュエータ基板
2a 表面
2b 裏面
3 ノズル基板
3a 凹部
3b インク吐出通路
3c 吐出口
4 保護基板
5 インク室
6 インク流入部
7 圧力室(キャビティ)
9 圧電素子
10 可動膜形成層
10A 可動膜
11 下部電極
11A 主電極部
11B 延長部
12 圧電体膜
12A 能動部
12B 非能動部
13 上部電極
13A 主電極部
13B 延長部
14 水素バリア膜
15 絶縁膜
17 上部配線
18 下部配線
18A 基部
18B リード部
22 インク供給路
23 貫通孔(下部電極)
33 コンタクト孔
34 コンタクト孔
37 開口
41 インク流通方向
50 接着剤
51 対向面
52 収容凹所
55 インク供給路
Claims (9)
- キャビティと、前記キャビティ上に配置されかつ前記キャビティの天面部を区画する可動膜を含む可動膜形成層と、前記可動膜上に形成された圧電素子とを含み、前記圧電素子は、前記可動膜上に形成された下部電極と、前記下部電極上に形成された圧電体膜と、前記圧電体膜上に形成された上部電極とを含み、前記下部電極は、前記圧電素子を構成している主電極部と、前記主電極部から前記可動膜形成層の表面に沿う方向に引き出された延長部とを含む、圧電体膜利用装置であって、
前記上部電極および上記圧電体膜の側面全域と、前記上部電極の上面の少なくとも一部と、前記下部電極の上面の少なくとも一部とを覆う水素バリア膜と、
前記水素バリア膜上に形成された絶縁膜と、
前記絶縁膜上に形成され、前記上部電極を駆動回路に接続するための金製の上部配線と、
前記絶縁膜上に形成され、前記下部電極を前記駆動回路に接続するための金製の下部配線とを含み、
前記水素バリア膜および前記絶縁膜に、前記上部電極の一部を露出させる第1コンタクト孔と、前記延長部の一部を露出させる第2コンタクト孔が、それぞれ前記水素バリア膜および前記絶縁膜を連続して貫通するように形成されており、
前記上部配線は前記第1コンタクト孔を介して前記上部電極の上面に接続されており、
前記下部配線は前記第2コンタクト孔を介して前記延長部の上面に接続されており、
前記上部電極は、前記可動膜の主面に対して法線方向から見た平面視において、前記可動膜よりも前記キャビティの内方に後退した周縁を有しており、
前記上部配線は、前記平面視において、一端部が前記上部電極の上面に接続され、他端部が前記キャビティの天面部周縁の外側に引き出されており、
前記延長部は、前記主電極部から前記可動膜形成層の表面に沿う方向に引き出され、前記可動膜の主面に対して法線方向から見た平面視において、前記キャビティの天面部周縁を跨いで前記キャビティの外方に延びており、
前記下部配線は、前記延長部のうち、前記キャビティの天面部周縁よりも外側にある外側電極領域の上面に電気的に接続されており、
前記キャビティと連通するインク流入部を有し、前記下部配線は、前記延長部のうち、前記インク流入部よりもさらに外側にある外側電極領域の上面に電気的に接続されている、圧電素子利用装置。 - 前記可動膜の主面に対して法線方向から見た平面視において、前記キャビティの天面部が所定の一方向に長い矩形状であり、
前記上部電極は、前記平面視において、前記キャビティの天面部の短手方向の幅より短い幅と、前記キャビティの天面部の長手方向の長さより短い長さとを有する前記一方向に長い矩形状であり、前記上部電極の両端縁および両側縁が前記キャビティの天面部の両端縁および両側縁よりも前記キャビティの内方にそれぞれ後退しており、
前記圧電体膜および前記主電極部は、それぞれ、前記平面視において、前記上部電極と同じパターンの形状を有しており、
前記延長部は、前記主電極部の周縁から前記キャビティの天面部の周縁を跨いで、当該天面部周縁の外方に延びており、
前記上部配線は、前記平面視において、前記上部電極の一端部の上面から、前記キャビティの天面部の対応する一端部を跨いで外側に延びており、
前記下部配線は、前記平面視において、前記キャビティの天面部の他端部の外側に配置された基部と、前記基部から前記キャビティの天面部の一側部に沿って延びた後、前記上部配線と平行に延びたリード部を含む、請求項1に記載の圧電素子利用装置。 - 前記可動膜形成層は、SiO2単膜からなる、請求項1または2に記載の圧電素子利用装置。
- 前記可動膜形成層は、基板上に形成されたSi膜と、前記Si膜上に形成されたSiO2膜と、前記SiO2膜上に形成されたSiN膜との積層膜からなる、請求項1または2に記載の圧電素子利用装置。
- 前記圧電体膜は、PZT膜からなる、請求項1〜4のいずれか一項に記載の圧電素子利用装置。
- 前記上部電極は、Pt単膜からなる、請求項1〜5のいずれか一項に記載の圧電素子利用装置。
- 前記上部電極は、前記圧電体膜上に形成されたIrO2膜と、前記IrO2膜上に形成されたIr膜との積層膜からなる、請求項1〜5のいずれか一項に記載の圧電素子利用装置。
- 前記下部電極は、前記可動膜側に形成されたTi膜と、前記Ti膜上に形成されたPt膜との積層膜からなる、請求項1〜7のいずれか一項に記載の圧電素子利用装置。
- 前記可動膜の主面に対して法線方向から見た平面視において、前記キャビティの周縁の内側領域に前記絶縁膜の開口部が形成されており、前記第1コンタクト孔は前記開口部以外の領域に形成されている、請求項1〜8のいずれか一項に記載の圧電素子利用装置。
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