JP6763565B2 - フラックス塗布装置 - Google Patents

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Description

本発明は、電子部品が実装される基板にフラックスを塗布する技術に関する。
従来、プリント基板の表面に形成されたランドやスルーホール等の金属部品と、基板に実装される半導体素子やコンデンサ等の実装部品のリード線とを通電可能に接合する方法として、はんだ付けが広く用いられている。そして、はんだ付けの前工程として、フラックス液の塗布が行われる。フラックス液は、例えば、ロジン系やアクリル系樹脂と、アルコールや芳香族系の溶剤と、活性剤とを混合した液体である。プリント基板の金属部品と実装部品がはんだ付けによって接合される箇所にフラックス液がスプレー等によって予め均一に塗布されることによって、対象箇所に形成された酸化被膜が還元・除去される。その結果、クリーンな接合面が形成されるとともに、はんだと金属表面との濡れ性が向上し、接合が強固なものとなる。
フラックス液を塗布対象に均一に塗布するために、スプレーを用いてフラックス液を霧状にして噴射する方法が広く利用されている。一般にスプレーは、圧縮された液体をノズル先端の噴射口(オリフィス)から噴射し、液体を微小な粒子にすることで、霧状体を噴射する。
一方で、液体を霧状に噴射するためには、液体がノズル内に流入する圧力(噴射圧)が、所定の圧力以上でなければならない。そして、噴射口から噴射される霧状体の飛距離(到達距離)や広がり角度(スプレー角度)は、噴射圧に依存し、噴射圧が高いほど大きくなる。従って、一般的にスプレーを用いてフラックスを噴射する場合、噴射されるフラックス液の、到達距離、スプレー角度は、所定の値よりも小さくすることができない。
しかしながら、スプレーを用いてフラックスを基板のスルーホールに噴射して塗布する場合、スプレー距離が長すぎるためフラックスが塗布対象であるスルーホールを突き抜けて基板上の部品内部に侵入する可能性がある。また、スプレー角度が広すぎるため、広範囲に噴射されたフラックスが塗布対象ではない実装部品に意図せず付着する可能性がある。それらの場合、例えば、オーディオ製品の音量調整用ダイヤル等に使用されるロータリーエンコーダ等は、フラックスが部品内に侵入することで、動作不良が生じる虞がある。
そこで、スプレーを用いずにプリント基板のスルーホールの内部にも必要量のフラックスを均一に塗布する方法として、例えば、特許文献1のフラックス塗布装置を用いる方法がある。同文献に記載のフラックス塗布装置は、ノズルに貯留したフラックスを、上方に向けた開口部から噴流させ、噴流させたフラックスの液面と基板を接触させることによって、基板にフラックスを塗布する。
特開2005−262247号公報
特許文献1のフラックス塗布装置を用いる方法では、フラックスをノズルへ送る流路の途中部にポンプを設けて、フラックスを圧送することによりノズルからフラックスを噴流させている。このようにフラックスの流路にポンプを設けると、フラックスに脈動が生じ
るといった問題や、ポンプのインペラが固着するといった問題があった。
また、特許文献1のフラックス塗布装置を用いる方法では、ノズルから噴流した余剰フラックスがトレイで受け止められ、戻り配管を経てタンクへ戻される。このとき余剰フラックスをトレイからタンクへ自然落下させたのでは余剰フラックスがタンクへ戻るための時間がかかって次の噴流までの待ち時間が長くなってしまう。次の噴流までの待ち時間が長くなり過ぎると、製造工程における速度が低下する問題や、フラックスがトレイ内に滞留する時間が長くなり溶剤の揮発等によるフラックスの劣化が生じるといった問題がある。
そこで本発明は、フラックスを塗布する際に、ノズルから噴出した余剰のフラックスを速やかにタンクへ回収する技術の提供を課題とする。
本発明のフラックス塗布装置は、上述した課題を解決するため、
フラックスを噴出させて対象物に塗布するフラックス塗布装置であって、
前記フラックスを収容するメインタンクと、
前記メインタンクを正圧とした場合の気体圧で圧送される前記フラックスを通す送り管と、
前記送り管を介して送られた前記フラックスを噴出させるノズルと、
前記ノズルから噴出したフラックスを捕集するサブタンクと、
前記サブタンクと前記メインタンクとを連通し、前記メインタンクを負圧とした場合の気体圧で前記フラックスを前記メインタンクへ戻す戻り管と
を備えた。
上記構成により、サブタンクで捕集した余剰のフラックスが自然落下によってメインタンクに戻るのを待つのではなく、メインタンク内を負圧にしてフラックスを吸い出すことで、サブタンクからフラックスを速やかに回収することができる。また、これにより、素早く次の塗布に備えることができるので、製造工程のスピードアップに貢献できる。更に、フラックスのサブタンク内での滞留時間を短くすることができ、溶剤の揮発等によるフラックスの劣化を最小限に抑え、製造工程における信頼性を向上させることができる。
本発明によれば、フラックスを塗布する際に、ノズルから噴出した余剰のフラックスを速やかにタンクへ回収する技術を提供することができる。
図1は、実施形態1に係るフラックス塗布装置の構成を示す図である。 図2は、制御装置の機能ブロックを示す図である。 図3は、制御装置のハードウェア構成を示す図である。 図4は、塗布を開始させる処理の説明図である。 図5は、塗布の終了を検出してフラックスの回収を開始させる処理の説明図である。 図6は、フラックスの回収を終了させる処理の説明図である。 図7は、実施形態2に係るフラックス塗布装置の構成を示す図である。 図8は、実施形態2に係る制御装置が加圧を開始させる処理の説明図である。 図9は、実施形態3に係る制御装置が加圧を開始させる処理の説明図である。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。以下の実施形態の構成は例示であり、本発明は実施形態の構成に限定されない。
〈実施形態1〉
〈装置構成〉
図1は、本実施形態に係るフラックス塗布装置100の構成を示す図である。図1のように、フラックス塗布装置100は、ノズル10、メインタンク20、送り配管31、戻り配管32、開閉弁33、配管35、サブタンク40、加減圧装置50、制御装置60、基台70を備えている。
ノズル10は、筒状の部材であり、フラックスを吐出する開口(不図示)を有した先端部を上方へ向けて基台70上に立設されている。また、ノズル10の後端部には送り配管31が接続されている。
サブタンク40は、フラックスを回収する開口を上方へ向けて設けられ、平面(図1のX−Y面)視において、外径が円形状であり、その中央にノズル10が設けられている。また、サブタンク40の上部には、外周部から中央部に向かって下方へ傾斜したすり鉢状の蓋部121が設けられ、この蓋部121の中央部にフラックスを捕集する開口122が設けられている。
基台70は、不図示の移動手段に、垂直方向(図1のZ軸方向)の移動や、水平方向(X−Y方向の移動が可能に保持されてもよい。
メインタンク20は、フラックスを収容するタンクであり、このフラックスを収容する内空が垂直方向に長手の円筒形状であり、上部に加減圧配管36が接続され、下部に配管35が接続されている。この他、メインタンク20は、フラックスの充填口(不図示)などを有するが、フラックスを塗布する際、前記配管35及び加減圧配管36以外は密閉される。
配管35は、一端がメインタンク20と接続され、他端が送り配管31及び戻り配管32と接続されている。換言すると、配管35はメインタンク20と反対側の端部で送り配管31と戻り配管32とに分岐している。
送り配管31の途中部には、チェック弁36が設けられており、当該チェック弁36は、フラックスがメインタンク20から圧送されノズル10へ供給される際に開かれ、フラックスがノズル10側へ圧送されていない場合には閉じて、フラックスがノズル10側からメインタンク20側へ逆流するのを防止する。
また、戻り配管32の途中部には、開閉弁33が設けられており、当該開閉弁33は、フラックスをサブタンク40から、戻り配管32及び配管35を介してメインタンク20へ戻す際に開かれ、フラックスをメインタンク20から、配管35及び送り配管31を介してノズル10へ送る際に閉じられる。開閉弁33は、例えば、制御装置60の制御によって開閉を行う駆動部を備えた電磁弁である。なお、開閉弁33は、電磁弁ではなく、フラックスがメインタンク20から圧送されノズル10へ供給される際にフラックスの圧力によって閉じられ、フラックスがノズル10側からメインタンク20側へ回収される際に開かれる逆止弁であってもよい。
このように、配管35及び送り配管31は、フラックスをメインタンク20からノズル10へ供給するための送り管30Aの一形態である。また、戻り配管32及び配管35は、フラックスをサブタンク40からメインタンク20へ戻すための戻り管30Bの一形態
である。
加減圧配管36は、一端がメインタンク20に接続され、他端が加減圧装置50に接続されている。加減圧装置50は、加減圧配管36を介して、メインタンク20へ気体を送ることで、メインタンク20内を加圧する。また、加減圧装置50は、加減圧配管36を介して、メインタンク20から気体を吸い出すことで、メインタンク20内を減圧する。また、加減圧装置50は、メインタンク20内を加圧も減圧もしない状態、即ち、周囲環境と同じ圧力とすることもできる。例えば、メインタンク20内と外部とを連通させることで、メインタンク20内の圧力を大気圧とする。本実施形態では、この加減圧に用いる気体として空気を用いた例を説明するが、空気に限定されるものではなく、窒素等、他の気体を用いても良い。
加減圧装置50は、例えば、圧縮機や送風機、シリンジポンプ等の空気を送り出す装置(送風装置)を備え、この送風装置を動作させてメインタンク20へ空気を送ることで加圧を行う。このとき加減圧装置50は、送風装置の動作を調整することや、送り出す空気の流路に設けた圧力調整弁(不図示)を調整することでメインタンク20内に所定の気体圧をかけることができる。この加圧により、加減圧装置50は、例えば、メインタンク20内の圧力を4〜100kPaとする。
また、加減圧装置50は、例えば、真空エジェクタや、真空ポンプ、真空ブロア、シリンジポンプ等の空気を吸い出す装置(真空発生器)を備え、この真空発生器を動作させてメインタンク20から空気を吸いだすことで減圧を行う。このとき加減圧装置50は、真空発生器の動作を調整することでメインタンク20内を所定の負圧とすることができる。例えば、加減圧装置50は、メインタンク20内の圧力を−80〜−300kPaとする。なお、これらの圧力の数値は、絶対値で定めることもできるが、本実施形態では、絶対値ではなく、大気圧を基準とした相対値で定めている。
なお、本実施形態では、加減圧装置50とメインタンク20とを加減圧配管36で接続し、加圧を行う経路と減圧を行う経路を一つとして、装置の簡素化を図った。但し、必ずしもこれに限定されるものではなく、加減圧装置50とメインタンク20との間に、加圧を行う配管と減圧を行う配管をそれぞれ接続してもよい。
制御装置60は、開閉弁33や加減圧装置50と電気的に接続され、開閉弁33の開閉や、加減圧装置50による加圧及び減圧を制御する。
図2は、制御装置60の機能ブロックを示す図である。制御装置60は、図2に示すように、加圧制御部61、減圧制御部62、塗布時間検出部63、捕集量推定部64を有している。
加圧制御部61は、加減圧装置50に対して制御信号を送信することで、メインタンク20内を所定の気体圧(正圧)とするように加圧を開始させることや、加圧を停止させること等の制御を行う。
減圧制御部62は、加減圧装置50に対して制御信号を送信することで、メインタンク20内を所定の負圧とするように減圧を開始させることや、減圧を停止させ、メインタンク20内を大気圧とすること等の制御を行う。
塗布時間検出部63は、フラックスを噴出させた時間(以下、噴出時間とも称す)、即ちフラックスの噴出を開始してから終了するまでの時間を噴出時間として検出する。例えば、加減圧装置50による加圧の開始時刻から終了時刻までの時間を検出する。
捕集量推定部64は、噴出時間に基づいて、サブタンク内に捕集されたフラックス量を推定し、この推定したフラックス量に基づいてメインタンク内を負圧とする時間(以下、負圧発生時間と称する)を設定する。減圧制御部62は、メインタンク20内を所定の負圧とするように減圧を開始させ、この減圧を開始してからの経過時間が負圧発生時間に達した時に減圧を停止させる。
捕集量推定部64は、例えば負圧発生時間を式1から求める。
負圧発生時間T=k×噴出時間t+α ・・・(式1)
式1において、係数kは、ノズル10の噴射口の径や、メインタンク20にかけられる圧力(正圧)、フラックスの粘度などに基づいて設定されるフラックスの流量に関する値である。また、定数αは、フラックスの流路の長さや径、メインタンク20の内容量などに基づいて設定される一度の回収で定常的に必要となる回収時間に関する値である。本実施形態では、係数kを0.13、定数αを1.79とした。
負圧発生時間T=0.13×噴出時間t+1.79
従って、噴出時間tが60秒であれば、負圧発生時間Tは9.59秒となる。
図3は、制御装置60のハードウェア構成を示す図である。制御装置60は、図3に示すように、例えば、CPU601にバスを介して接続されたメモリ602,入力装置603,及び出力装置604を含む。
メモリ602は、主記憶装置と補助記憶装置とを含む。主記憶装置は、CPU601の作業領域,プログラムやデータの記憶領域,通信データのバッファ領域として使用される。主記憶装置は、例えば、Random Access Memory(RAM),或いはRAMとRead Only Memory(ROM)との組み合わせで形成される。
補助記憶装置は、CPU601によって実行されるプログラム,及びプログラムの実行に際して使用されるデータを記憶する。補助記憶装置は、例えば、ハードディスクドライブ(HDD),Solid State Drive(SSD),フラッシュメモリ,Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory(EEPROM)などである。また、補助記憶装置は、制御装置60に対して着脱自在な可搬性記憶媒体を含む。
入力装置603は、制御装置60に設定情報やデータを入力するために使用される。入力装置603は、例えば、ボタン、キー、タッチパネル、ジャンパ、可変抵抗器などを含み得る。
出力装置604は、情報やデータを出力する。出力装置604は、例えばディスプレイ装置、記憶メディアへの書き込み装置、スピーカ、インジケータ、警告灯等である。
これらの構成は、必要に応じて、一部の構成の省略や、構成の追加を行うことができる。例えば、情報の出力が不要な場合、出力装置604を省略しても良い。また、他の装置と通信し、他の装置から設定情報等の入力を行う場合や、動作状況等の情報を他の装置へ送信する場合には、通信インターフェイスを追加しても良い。
CPU601は、本実施形態において処理装置に相当する。CPU601は、MPU(Micro Processor Unit)、マイクロプロセッサ、プロセッサとも呼ばれる。CPU601は、単一のプロセッサに限定される訳ではなく、マルチプロセッサ構成であってもよい。また、単一のソケットで接続される単一のCPUがマルチコア構成を有していても良い。上記各部の少なくとも一部の処理は、CPU以外のプロセッサ、例えば、Digital Signal
Processor(DSP)、Graphics Processing Unit(GPU)、数値演算プロセッサ、ベクトルプロセッサ、画像処理プロセッサ等の専用プロセッサで行われても良い。また、上記各部の少なくとも一部の処理は、集積回路(IC)、その他のデジタル回路であっても良い。また、上記各部の少なくとも一部にアナログ回路が含まれても良い。集積回路は、LSI,Application Specific Integrated Circuit(ASIC),プログラマブルロジックデバイス
(PLD)を含む。PLDは、例えば、Field-Programmable Gate Array(FPGA)を含む。
上記各部は、プロセッサと集積回路との組み合わせであっても良い。組み合わせは、例えば、MCU(Micro Controller Unit),SoC(System-on-a-chip),システムLSI
,チップセットなどと呼ばれる。
CPU601は、メモリ602に記憶されたプログラムを主記憶装置にロードして実行する。メモリ602には、オペレーティングシステムやファームウェアといったプログラムがインストールされている。
CPU601は、プログラムを実行することによって、前記加圧制御部61、減圧制御部62、塗布時間検出部63、捕集量推定部64として機能する。
〈フラックスの塗布及び回収方法〉
次に本実施形態のフラックス塗布装置100によるフラックスの塗布及び回収の方法について説明する。
フラックス塗布装置100のノズル10は、フラックスを塗布する対象物であるプリント基板90の下方に配置される。そして、メインタンク20内が加圧され、フラックスがノズル10へ圧送されると、フラックスがノズル先端から上方に向けて噴出される。
このときフラックスは、噴き出す圧力によって、ノズル先端よりも高い位置に達し、その後、下方へ落下する。即ち、ノズル10から噴出したフラックスが、ノズル先端から上方へ盛り上がるように噴流を形成するので、このフラックスの噴流を対象物に接触させることで、対象物にフラックスを塗布する。なお、ノズル10から噴出し、対象物に塗布されなかったフラックス(以下、余剰フラックスとも称す)は、下方へ落下してサブタンク40に捕集される。例えば、ノズル10の上部へ噴出した後、余剰フラックスは、ノズル10の外壁に沿って下降し、開口122からサブタンク40内へ収容される。また、ノズル10の上部へ噴出した後、ノズル10の周囲へ飛散した余剰フラックスは、サブタンク40の蓋部121上に落下し、蓋部121の傾斜に沿って中央の開口122へ向かって流れ、開口122からサブタンク40内へ収容される。
そして、プリント基板90が不図示の搬送装置により所定の搬送方向Fへ搬送されると共に、ノズル10が不図示の移動手段によってX軸、Y軸、Z軸方向に移動されて、所定の塗布位置に位置決めされ、上記塗布が繰り返される。なお、ノズル10の移動手段については、公知の技術のため、詳細な説明は省略する。
一つのプリント基板90における塗布が完了した場合、次のプリント基板が搬送されて、当該プリント基板の塗布を開始する位置へノズル10が移動されるまでの間に、前記サブタンク40に捕集されたフラックスをメインタンク20へ回収する。
図4は、制御装置60が、塗布を開始させる処理の説明図、図5は、塗布の終了を検出してフラックスの回収を開始させる処理の説明図、図6は、フラックスの回収を終了させる処理の説明図である。
制御装置60は、移動手段からノズル10が所定の塗布位置に達したことを通知された
場合に、図4の処理を実行し、メインタンク20を加圧する際の圧力の設定をメモリ602から読み出し(ステップS10)、この圧力で加圧を行うように加減圧装置50に制御信号を送信して加圧を開始させる(ステップS20)。
次に、制御装置60は、図5の処理を実行し、塗布が終了したか否かを判定し(ステップS30)、塗布が終了したと判定した場合に(ステップS30,Yes)、加減圧装置50に加圧を停止させる(ステップS40)。この塗布完了の判定は、例えば、塗布を開始してからの経過時間が所定時間に達した場合や、移動手段からノズル10が最後の塗布位置に達したことを通知された場合など、塗布を行ったことにより所定の動作状態に達したことを検出した場合に塗布を完了したと判定する。なお、ステップS30で塗布が終了していないと判定した場合(ステップS30,No)、図5の処理を一旦終了させ、周期的に図5の処理を実行して塗布の終了を監視する。
ステップS40で加圧を停止させた後、制御装置60は、この加圧を行っていた時間(期間)、即ち噴出時間を取得する(ステップS50)。この噴出時間は、例えば、加減圧装置50に加圧を開始させた時刻と加圧を停止させた時刻から算出される。
制御装置60は、この噴出時間に基づいて、サブタンク40内に捕集されたフラックス量を推定し、推定したフラックス量に基づいてメインタンク20内を負圧とする負圧発生時間を設定し(ステップS60)、加減圧装置50に減圧を開始させる(ステップS70)。即ち、メインタンク20内を負圧とし、サブタンク40内のフラックスを戻り配管32及び配管35を介してメインタンク20へ回収する。
この減圧を開始させた後、制御装置60は、図6の処理を実行し、先ず、減圧を開始してからの経過時間TxがS60で設定した負圧発生時間Tに達したか否か、即ち回収が終了したか否かを判定する(ステップS80)。この経過時間Txが、負圧発生時間Tに達していない(回収が終了していない)と判定した場合(ステップS80、No)、図6の処理を終了し、図6の処理を周期的に実行して回収の終了を監視する。
そして、ステップS80で、経過時間Txが、負圧発生時間Tに達した(回収が終了した)と判定した場合(ステップS80、Yes)、加減圧装置50に減圧を停止させる旨の制御信号を送信して減圧を停止させ、メインタンク20内を大気圧としてフラックスの回収を終了させる(ステップS90)。なお、減圧を停止させただけではメインタンク20内が、負圧に維持される場合、バキュームブレーカ等を用い、メインタンク20内とメインタンク外とを連通させて、大気圧に戻すようにしてもよい。
〈効果〉
上記のように、本実施形態のフラックス塗布装置によれば、メインタンクを加圧又は減圧することで、フラックスの圧送又は回収を行うので、フラックスの流路にポンプを設ける必要がないため、フラックスの脈動やインペラの固着といった問題が防止される。
また、本実施形態のフラックス塗布装置によれば、サブタンク40で捕集した余剰フラックスが自然落下によってメインタンク20に戻るのを待つのではなく、メインタンク20内を負圧にして余剰フラックスを吸い出すことで、サブタンク40から余剰フラックスを速やかに回収することができる。これにより素早く次の塗布に備えることができるため、製造工程のスピードアップに貢献できる。また、余剰フラックスのサブタンク内での滞留時間を短くすることができ、溶剤の揮発等によるフラックスの劣化を最小限に抑え、製造工程における信頼性を向上させることができる。
更に、本実施形態のフラックス塗布装置は、余剰フラックスを回収するに当たり、ノズ
ル10からフラックスを噴出させていた時間(噴出時間)に基づいて、サブタンク40内に捕集されたフラックス量を推定し、該推定したフラックス量に基づいて負圧の作用時間を制御する。例えば、余剰フラックを回収する場合に、メインタンク20内をいつまでも負圧にしていると回収タンク内からエアーを吸い込み、最終的には負圧発生器へフラックスが逆流してしまう。そこで、本実施形態では、サブタンク40のフラックス残量に基づいて最適な負圧の作用時間を設定でき、サブタンク40のフラックス量を最小限としつつ、メインタンク20への空気の巻き込みを防止することができる。なお、メインタンク20への空気の巻き込みを防止する場合、センサ等を設けて空気を巻き込む前に負圧を停止させる方法も考えられるが、この場合、フラックスの泡等で誤動作する懸念がある。これに対し、本実施形態のフラックス塗布装置では、メインタンク20を負圧にする時間を噴出時間に基づいて設定するので、センサを設ける必要がなく、簡易な構成で、精度良く必要量だけフラックスを回収することができる。
〈実施形態2〉
前述のフラックス塗布装置100は、メインタンク20内を加圧することによって、フラックスを圧送するので、メインタンク20内に収容されているフラックスの量が多く、空き容量が少ない場合と、フラックスの量が少なく、空き容量が多い場合とでは、圧送するフラックスが所定の流量に達するまでの時間が異なることになる。これは、メインタンク内の空き容量が多いと、この空間を圧縮するまでに時間がかかるために、圧送するフラックスが所定の流量に達するまでの時間が長くなるのに対し、メインタンク内の空き容量が少ないと、この空間を圧縮するまでの時間が短いために、圧送するフラックスが所定の流量に達するまでの時間も短いためである。そこで、本実施形態2のフラックス塗布装置200は、メインタンク20内のフラックスの液面高さに基づいてフラックスの圧送開始時の圧力を調整する構成としている。
図7は、実施形態2に係るフラックス塗布装置の構成を示す図である。本実施形態2は、前述の実施形態1と比べて、フラックスの圧送開始時の圧力を調整する構成が異なっており、その他の構成は、同じであるため、同一の要素には同符号を付す等して再度の説明を省略する。
図7に示すように、本実施形態2のフラックス塗布装置200は、配管35の途中部に圧力センサ37を備え、配管35内のフラックスにかかる圧力(液圧)を測定している。メインタンク20内が密閉されずに、大気圧となっている場合、配管35内の液圧は、メインタンク20内に収容されているフラックスの液面(上面)の高さLに比例する。即ち、配管35内の液圧が高ければ、液面の高さLが高く、メインタンク20内の空き容量が少ないと推定でき、配管35内の液圧が低ければ、液面の高さLが低く、メインタンク20内の空き容量が多いと推定できる。
そこで、制御装置60の加圧制御部61は、メインタンク20内を加圧も減圧もしていない(大気圧)時の配管35内の液圧Peに基づいて、メインタンク20を加圧する際の初期圧を求める。この配管35内の液圧Peと初期圧との関係は、予め関係式やデータテーブルを作成してメモリ602に記憶させておき、加圧制御部61は、この関係式やデータテーブルに基づいて配管35内の液圧Peと対応する初期圧を求める。例えば、式2に基づいて初期圧Psを求める。
初期圧Ps=係数h÷液圧Pe×係数w ・・・(式2)
必要な初期圧Psは、メインタンク20や配管の寸法形状や、ノズル10までの高さ、配管の流路抵抗等の様々な要因によって変わるため、実際に加圧を開始してから、規定の噴出量になるまでの時間を観測して、適宜係数h、係数wを決めればよい。
具体的には、メインタンクの内容量が、内径φ70mm×高さ200mmであり、メイ
ンタンク内を加圧も減圧もしていない(大気圧)時の液面高さLが140mmのときの配管35内の液圧Peが、1.51kpa、液面高さLが110mmのときの配管35内の液圧Peが、1.28kpaとなる場合に、係数hを2.7、係数wを2.8とし、以下のように初期圧Psを求める。
2.7÷1.51×2.8=5.0kPa(液圧1.15kPa時)
2.7÷1.28×2.8=5.9kPa(液圧1.28kPa時)
このように、液圧が低いほど初期圧Psは高くなる。
メインタンク内を加圧も減圧もしていない(大気圧)時の液圧は、液面高さLにほぼ比例する。つまり液圧が低いということはメインタンクの液面高さLが低く、空き容量が大きいということであるので、初期圧Psを高く設定して、メインタンク内の空間を早く圧縮することで、圧送するフラックスが所定の流量に達するまでの時間を、液面高さLが高く、空き容量が小さいときと同等にすることができる。このようにして、メインタンク20内に貯留されている液面高さLに関係なく、フラックスが所定の流量に達するまでの時間を一定にすることができる。
図8は、本実施形態2に係る制御装置60が加圧を開始させる処理の説明図である。制御装置60は、移動手段からノズル10が所定の塗布位置に達したことを通知された場合に、図8の処理を実行する。
まず、制御装置60は、圧力センサ37から配管35内の液圧Peを取得する(ステップS10)。なお、このときメインタンク20内は加圧も減圧もされていない状態(大気圧)である。この液圧Peに基づいて初期圧Psを求める(ステップS12)。次に、メインタンク20を加圧する通常の圧力Pnの設定をメモリ602から読み出す(ステップS14)。
次に、制御装置60は、この初期圧Psで加圧を行うように加減圧装置50に制御信号を送信して加圧を開始させる(ステップS16)。この初期圧によって、メインタンク20内の空気が圧縮された後、制御装置60は、加圧開始から所定時間tsが経過したかを計測し、経過していなければ初期圧Psでの加圧を続け、経過していれば次のステップに進む(ステップS18)。なお、所定時間tsは加圧を開始してから所定の噴出量に達するまでの時間を実際に計測した結果から、たとえばTs=1秒などの値を予め設定しておくことができる。次のステップでは、ステップS14で読み出した通常の圧力Pnで加圧を行うように加減圧装置50を制御する(ステップS20A)。ひとたびメインタンク内が加圧され、フラックスの噴出が始まると、以降は初期圧Psより低い圧力でも十分に、所定の流量のフラックスを噴出させ続けることができる。そこで、フラックスの噴出が所定の流量に達した後は、加圧力を初期圧より低いPnに制御して、所定量の噴出量を維持するようにする。なお、Pnは実際のフラックスの噴出量を観測し、噴出量が所定の値となるように、たとえばPn=4kPaなどの値を予め設定しておくことができる。
以上の制御により、液面高さLが低い時には初期圧Psを高め、液面高さLが高い時には初期圧Psを低くして、液面高さLが変化した場合でも加圧を開始してから噴出量が所定値に達するまでの時間が一定となるように補正する。なお、図8のように加圧を開始した後の処理は、前述の図5、図6と同じである。
本実施形態2によれば、圧送開始時におけるメインタンク内の液面高さLに応じて初期圧Psを制御することで、液面高さLが低いときでも所定流量に達するまでの時間を短くすることができ、製造工程のスピードアップが図られる。
また、初期圧Psを制御することで、液面高さLが変化した場合でも、加圧を開始してから噴出量が所定値に達するまでの時間が一定となるので、加圧時間から噴射時間tを正確に求めることができ、噴出時間tに基づいて算出された負圧発生時間Tにより、精度良く必要量のフラックスを回収できる。
〈変形例〉
以上の説明ではPnは一定の値としていたが、たとえばメインタンク20の液面高さLに応じてPnを可変するようにしてもよい。液面高さLが変化すると、液面からノズルまでの落差(水頭)が変化するため、同じ圧力Pnで加圧していても噴出量が変化することがある。そこで、液面高さLに応じてPnを調整し、噴出量を一定に保つようにする。具体的には初期圧Psと同じように、Pnもメインタンク内を加圧も減圧もしていない(大気圧)時の液圧に応じて、テーブルもしくは式に基づいて可変するようにすればよい。この場合テーブルに保存しておく値や式の係数も、初期圧Psと同様に、複数の液圧値に対する実際の噴出量の観測結果から、あらかじめ求めて設定しておくことができる。制御装置60は、図8のステップS14でPnを読み出す際、ステップS10で求めた液圧Peに基づくPnをテーブルや式に基づいて読み出せばよい。
以上の制御により、液面高さLが低い時には定常時の圧力Pnを高め、液面高さLが高い時には圧力Pnを低くして、液面高さLが変化した場合でも加圧を開始してから噴出量が所定値に達するまでの時間が一定となるように補正する。
〈実施形態3〉
前述の実施形態2では、液圧Peに応じて初期圧Psを調整する構成としたが、本実施形態3は、液圧Peが目標の圧力値になるまで所定の初期圧Psで加圧を行う構成とした。なお、その他の構成は、前述の実施形態2と同じであるため、同一の要素に同符号を付す等して再度の説明を省略する。
前述のように、メインタンク20内の空き容量が多いと、加減圧装置50による加圧を開始した際、空いた空間に存在する空気を圧縮するのに時間がかかり、フラックスが所定の流量に達するまでの時間が長くなるので、本実施形態3の制御装置60は、高い初期圧Psで加圧を開始させて、空いた空間の圧縮にかかる時間を短縮させる。このとき、メインタンク20内の空き容量が多いと、フラックスが所定の流量に達するまでの時間が大きく短縮されるのに対し、メインタンク20内の空き容量が少ないと、フラックスが所定の流量に達するまでの時間の短縮は小さい。このため、高い初期圧Psで加圧を開始させると、メインタンク20内の空き容量が異なってもフラックスが所定の流量に達するまでの時間の差異を少なくできる。ここで、初期圧Psは、定常時の圧力Pnよりも高い圧力値であれば良く、要求仕様に応じて任意に設定して良い。例えば、初期圧Psは、加圧を開始してからフラックスが規定の流量になるまでの時間を圧力値毎に観測し、空き容量が多い場合と少ない場合とで、この時間の差異が無視できる程度に小さくなる圧力値に決定しても良い。
図9は、実施形態3に係る制御装置60が加圧を開始させる処理の説明図である。まず、制御装置60は、メインタンク20を加圧する通常の圧力Pnの設定をメモリ602から読み出す(ステップS14)。
次に、制御装置60は、所定の初期圧Ps(例えば、15kPa)で加圧を行うように加減圧装置50に制御信号を送信して加圧を開始させる(ステップS16A)。また、制御装置60は、圧力センサ37から配管35内の液圧Peを取得する(ステップS17)。次に、制御装置60は、液圧Peが目標値(例えば、6kPa)に達したか否かを判定する(ステップS18A)。初期圧Psでメインタンク20内の空いた空間が圧縮され、加減圧装置50による加圧力がフラックスに伝わると、配管35内の液圧Peが高まることになるので、この液圧Peが目標値(閾値)に達したか否かによって、空いた空間が充分に圧縮されたことを判別できる。ここで、制御装置60は、液圧Peが目標値(閾値)に達していないと判定した場合(ステップS18A、No)、ステップS17に戻って、初
期圧Psでの加圧を継続し、液圧Peが目標値(閾値)に達したと判定した場合には(ステップS18A、Yes)、次のステップに進む(ステップS18)。
そして、制御装置60は、ステップS14で読み出した通常の圧力Pn(例えば、5kPa)で加圧を行うように加減圧装置50を制御する(ステップS20A)。なお、通常の圧力Pnで加圧を開始した後の処理は、前述の図5、図6と同じである。
以上のように、本実施形態3によれば、高い初期圧Psで加圧を開始させ、メインタンク20内の空いた空間の空気を速やかに圧縮させることで、メインタンク20内の空き容量が大きい場合、即ち、液面高さLが低い場合でも、フラックスが所定流量に達するまでの時間を短くすることができ、製造工程のスピードアップに寄与する。
また、高い初期圧Psで加圧を開始することで、液面高さLが変化した場合でも、加圧を開始してから噴出量が所定値に達するまでの時間が略一定となるので、加圧時間から噴射時間tを正確に求めることができ、噴出時間tに基づいて算出された負圧発生時間Tにより、精度良く必要量のフラックスを回収できる。
〈変形例〉
上記実施形態3のステップS20Aでは、圧力Pnを一定の値としていたが、例えば、液圧Peが、定常時の目標値(例えば、5kPa)となるように加減圧装置50による圧力Pnを調整しても良い。これにより、メインタンク20内の液面高さLが変化した場合でも加圧を開始してから噴出量が所定値に達するまでの時間が一定となるように制御できる。
また、実施形態2の変形例と同様に、液面高さLに応じて圧力Pnを調整し、噴出量を一定に保つようにしても良い。具体的には、メインタンク20内を加圧も減圧もしていない(大気圧)時の液圧Peに応じて、テーブルもしくは式に基づいて圧力Pnを可変するように制御すればよい。この場合テーブルに保存しておく値や式の係数も、前述の変形例と同様に、複数の液圧値に対する実際の噴出量の観測結果から、予め求めて設定しておくことができる。例えば、制御装置60は、図9の処理を開始した際、先ず、図8のステップS10と同様に、メインタンク20内が加圧も減圧もされていない状態(大気圧)で圧力センサ37から配管35内の液圧Peを取得し、ステップS14で圧力Pnを読み出す際、ステップ10で求めた液圧Peに基づく圧力Pnをテーブルや式に基づいて読み出せばよい。
以上、本発明の実施の形態を説明したが、これらはあくまで例示にすぎず、本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲の趣旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の知識に基づく種々の変更が可能である。
10 ノズル
20 メインタンク
31 送り配管
32 戻り配管
33 開閉弁
35 配管
36 チェック弁
36 加減圧配管
37 圧力センサ
40 サブタンク
50 加減圧装置
60 制御装置
61 加圧制御部
62 減圧制御部
63 塗布時間検出部
64 捕集量推定部
70 基台
90 プリント基板
100,200 フラックス塗布装置
121 蓋部
122 開口

Claims (2)

  1. フラックスを噴出させて対象物に塗布するフラックス塗布装置であって、
    前記フラックスを収容するメインタンクと、
    前記メインタンクを正圧とした場合の気体圧で圧送される前記フラックスを通す送り管と、
    前記送り管を介して送られた前記フラックスを噴出させるノズルと、
    前記ノズルから噴出したフラックスを捕集するサブタンクと、
    前記サブタンクと前記メインタンクとを連通し、前記メインタンクを負圧とした場合の気体圧で前記フラックスを前記メインタンクへ戻す戻り管と
    を備えたフラックス塗布装置。
  2. 前記サブタンクに捕集された前記フラックスをメインタンクに回収する際、前記ノズルから前記フラックスを噴出させた時間に基づいて、前記サブタンク内に捕集されたフラックス量を推定し、該推定したフラックス量に基づいて前記メインタンク内を負圧とする時間を設定する制御部を備えた請求項1に記載のフラックス塗布装置。
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