JP6757369B2

JP6757369B2 - 導通検査治具および導通ピンの検査方法

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Publication number: JP6757369B2
Application number: JP2018128737A
Authority: JP
Inventors: 渡辺　昭一; 昭一渡辺; 恵吾関; 竹内　寛; 寛竹内
Original assignee: Yazaki Corp
Current assignee: Yazaki Corp
Priority date: 2018-07-06
Filing date: 2018-07-06
Publication date: 2020-09-16
Anticipated expiration: 2038-07-06
Also published as: JP2020008388A; US10877106B2; MX2019008168A; US20200011920A1

Description

本発明は導通検査治具および導通ピンの検査方法、特に導通ピンをコネクタに収容された端子に接触させて導通を検査する導通検査治具および導通検査治具が有する導通ピンの検査方法に関する。

従来、車両等に設置されるコネクタの端子の導通を検査する導通検査治具は、治具基板に固定されたコネクタセット部と、コネクタセット部に向かって進退可能な検査部とを有し、検査部には複数の導通ピンと、導通ピンを案内する導通ピン保護板（以下「ピンガードプレート」と称す）と、ピンガードプレートをコネクタセット部方向に付勢するスプリングとを具備している。そして、コネクタセット部にコネクタをセットして、検査部を移動させ、ピンガードプレートの前端面をコネクタの後端面に押し当てて、端子に導通ピンを接触させていた。
しかしながら、ピンガードプレートの前端面をコネクタの後端面に押し当てたのでは、ピンガードプレートの傾きによって確実な導通検査ができないことがあるため、この問題を解消した発明（導通検査治具の導通ピン保護構造）が開示されている（たとえば、特許文献１参照）。

特開２００９−１６３９５３号公報（第４−６頁、図１）

特許文献１に開示された発明（以下「従来技術」と称す場合がある）は、コネクタセット部にセットされたコネクタの後端面に平行になるセット部項端面を設け、検査部にはセット部後端面に平行な検査部板壁を設け、検査部板壁の前端面側にスプリングによって付勢されたピンガードプレートを配置して、導通ピンが検査部板壁およびピンガードプレートを貫通したものである。このため、導通検査時に、ピンガードプレートはセット部項端面と検査部板壁とに挟圧され、傾きが防止されることから、確実な導通検査ができるものである。
しかしながら、従来技術は、導通ピンの先端がピンガードプレートに形成された導通ピン孔に侵入しているため異物（作業者の指先等を含む）との衝突による損傷が防止されるものの、導通検査の前に導通ピンの曲がりの有無を検知することができないため、導通ピンの先端が導通ピン孔から曲がった（倒れた）状態で突出した場合には、誤検査やコネクタを傷付けるおそれがあるという問題があった。

本発明は、前記問題を解消するものであり、コネクタを傷付けるおそれがなく、確実に導通検査ができる導通検査治具および導通ピンの検査方法を提供することにある。

本発明に係る導通検査治具は、本体底部を具備する筒状の治具本体と、前記治具本体の開口部に形成され、検査対象のコネクタを案内する本体ガイド部と、前記本体底部と前記本体ガイド部との間に進退可能に配置されたピンガードプレートと、前記コネクタに設置された検査対象の端子に接触可能で、前記本体底部に固定された導通ピンとを有し、
前記ピンガードプレートに、前記検査対象の端子の配置と同じ配置の導通ピン孔が形成され、前記導通ピンの先端は前記導通ピン孔の外に位置し、前記ピンガードプレートが前記本体底部側に移動した際、前記導通ピンが前記導通ピン孔に侵入し、さらに前記導通ピンの先端が前記導通ピン孔から突出することを特徴とする。
また、本発明に係る導通ピンの検査方法は、本体底部を具備する筒状の治具本体と、前記治具本体の開口部に形成され、検査対象のコネクタを案内する本体ガイド部と、前記本体底部と前記本体ガイド部との間に進退可能に配置されたピンガードプレートと、前記コネクタに設置された検査対象の端子に接触可能で、前記本体底部に固定された導通ピンと、前記ピンガードプレートに形成され、前記検査対象の端子の配置と同じ配置の導通ピン孔とを有す導通検査治具における前記導通ピンを検査する導通ピンの検査方法であって、
前記導通ピンの先端を前記導通ピン孔の外に配置する第１ステップと、前記ピンガードプレートを前記本体底部側に移動する第２ステップと、前記導通ピンが前記導通ピン孔に侵入して前記導通ピンの先端が前記導通ピン孔から突出するか、または前記導通ピンが前記導通ピン孔に侵入しないで前記導通ピンの先端が前記導通ピン孔から突出しないかの何れであるかを検知する第３ステップとを有することを特徴とする。

本発明に係る導通検査治具は、導通検査の前、導通ピンの先端はピンガードプレートに形成された導通ピン孔の外に位置し、曲がりのない健全な姿勢の導通ピンのみが導通ピン孔に侵入可能で、曲がりのある不健全な姿勢の導通ピンは導通ピン孔に侵入不可能であるから、コネクタを傷付けることがなくなると共に、正確な導通検査が可能になる。
また、本発明に係る導通ピンの検査方法は、導通ピンが導通ピン孔に侵入するか否かを検知する第３ステップを有するから、コネクタを傷付けることがなくなり、正確な導通検査が可能になる。

本発明の実施の形態１に係る導通検査治具を模式的に説明するものであって、図１の（ａ）は全体を示す斜視図、図１の（ｂ）は検査対象とするコネクタを示す一部を断面にした側面図である。本発明の実施の形態１に係る導通検査治具を模式的に説明するものであって、図２の（ａ）は一部（治具本体）を示す正面図、図２の（ｂ）は一部（治具本体）を示す側面視の断面図である。本発明の実施の形態１に係る導通検査治具における動作を模式的に説明するものであって、図３の（ａ）は導通検査の開始前における一部（治具本体）を示す側面視の断面図、図３の（ｂ）は導通検査の開始初期における一部（治具本体）を示す側面視の断面図、図３の（ｃ）は導通検査の途中における一部（治具本体）を示す側面視の断面図である。本発明の実施の形態１に係る導通検査治具における動作を模式的に説明するものであって、図４の（ａ）は作用効果を説明するための導通検査の開始前における一部（治具本体）を示す側面視の断面図、図４の（ｂ）は作用効果を説明するための導通検査の開始初期における一部（治具本体）を示す側面視の断面図である。本発明の実施の形態２に係る導通ピンの検査方法に説明するフローチャートである。

以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態１に係る導通検査治具および本発明の実施の形態２に係る導通検査方法について説明する。なお、各図面は模式的に描かれているため、各部材の形状や大きさ、あるいは部材間の位置関係は図示された形態に限定されるものではない。

［実施の形態１］
図１および図２は本発明の実施の形態１に係る導通検査治具を模式的に説明するものであって、図１の（ａ）は全体を示す斜視図、図１の（ｂ）は検査対象とするコネクタを示す一部を断面にした側面図、図２の（ａ）は一部（治具本体）を示す正面図、図２の（ｂ）は一部（治具本体）を示す側面視の断面図である。

（全体構成）
図１の（ａ）において、導通検査治具１００は、治具本体１０と、治具本体１０に連結されたケーブル１２０と、ケーブル１２０に連結された接続コネクタ１３０と、治具本体１０を吊り下げるための吊り下げワイヤ１４０とを有している。
接続コネクタ１３０は検査対象であるコネクタ（図示しない）の導通を検査する導通検査装置（図示しない）に接続されるものである。なお、吊り下げワイヤ１４０は、治具本体１０に近い位置と接続コネクタ１３０に近い位置とにおいてケーブル１２０に縛着されて、製造ライン等の直上または製造ライン等の近くに、旋回手段（ホイスト等）、減量手段（バランサ等）あるいは伸縮手段（スプリング等）を介して吊り下げられる。

（コネクタ）
図１の（ｂ）において、検査対象であるコネクタ１は、略矩形状のコネクタ後部２の端面（以下「コネクタ後端面３」と称す）に凹溝が形成され、その一部が案内ピン挿入部４を構成している。また、コネクタ後部２には複数の端子孔５が形成され、端子孔５内に端子６が収容されている。このとき、端子６はコネクタ後端面３から突出していない。さらに、コネクタ後部２の外周にはコネクタフランジ７が設けられている。なお、端子６には、導通検査の対象であるものと、導通検査の対象でないものとがある。

（治具本体）
図２の（ａ）および（ｂ）において、治具本体１０は本体底部１９を具備する筒状であって本体開口部１１に、検査対象であるコネクタ１が挿入される本体ガイド部１２が形成されている。本体ガイド部１２は本体開口部１１に近い範囲が僅かに拡大したラッパ状を呈し、コネクタ１の挿入を容易にしている。なお、本体底部１９は治具本体１０と一体に形成されても、別体として形成された後、治具本体１０に設置されてもよい。
そして、治具本体１０は、図示しない後端が本体底部１９に固定された案内ピン２０を有している。なお、案内ピン２０の先端２１はコネクタ後端面３に形成された案内ピン挿入部４に侵入可能で、４本の案内ピン２０は、案内ピン挿入部４と同様に正面視において非対称な略方形に配置されている。

また、治具本体１０には、本体ガイド部１２と本体底部１９との間に本体ムービング部１３が形成され、本体ムービング部１３に、案内ピン２０に案内されて進退可能なピンガードプレート３０が配置され、さらに、ピンガードプレート３０を本体ガイド部１２に向かって付勢するスプリング４０が本体スプリング穴１４内に配置されている。このとき、案内ピン２０は、ピンガードプレート３０に形成された案内ピン孔３２を貫通している。
そして、案内ピン２０は略方形配置された４本であるから、ピンガードプレート３０はどの方向に対しても傾き難い姿勢で案内されている。そして、スプリング４０は押し込みロッド４１を介してピンガードプレート３０を付勢している。なお、本発明は付勢手段を必須とするものではなく、また、コイル状のスプリング４０に限定するものではない。したがって、スプリング４０を撤去しても、たとえば、エアーシリンダーやトグル機構等に変更してもよい。さらに、案内ピン２０は必須でないから、撤去してもよい。

さらに、ピンガードプレート３０には、端子６のうちの検査対象になっている端子６(端子孔５)の配置と同じ配置の導通ピン孔３５が形成されている。導通ピン５０の先端５１または導通ピン５０の側面が端子６に接触可能で、導通ピン５０の後端または中間が本体底部１９に固定されている。なお、導通ピン５０はケーブル１２０に接続されている。
そして、導通検査前（コネクタ１が本体ガイド部１２に挿入される前）、導通ピン５０の先端５１は導通ピン孔３５の外に位置している（導通ピン孔３５から本体底部１９の方向に抜き出されている）。
したがって、曲がりのない健全な姿勢の導通ピン５０の先端５１は導通ピン孔３５に侵入可能で、反対に曲がりのある不健全な姿勢の導通ピン５０の先端５１は導通ピン孔３５に侵入不可能になっている。
なお、導通ピン孔３５の内径は、導通ピン５０の曲がり（倒れに同じ）を許容する値であって、コネクタ１の品質および導通検査の精度に問題のない範囲に設定されている。

（動作）
図３および図４は本発明の実施の形態１に係る導通検査治具における動作を模式的に説明するものであって、図３の（ａ）は導通検査の開始前における一部（治具本体）を示す側面視の断面図、図３の（ｂ）は導通検査の開始初期における一部（治具本体）を示す側面視の断面図、図３の（ｃ）は導通検査の途中における一部（治具本体）を示す側面視の断面図、図４の（ａ）は作用効果を説明するための導通検査の開始前における一部（治具本体）を示す側面視の断面図、図４の（ｂ）は作用効果を説明するための導通検査の開始初期における一部（治具本体）を示す側面視の断面図である。

図３の（ａ）において、導通検査前、前記のように導通ピン５０の先端５１は、ピンガードプレート３０に形成された導通ピン孔３５の外に位置している。すなわち、先端５１はピンガードプレート３０の後面３９よりも本体底部１９側に位置している。
図３の（ｂ）において、導通検査が開始され、本体ガイド部１２にコネクタ１が挿入され、コネクタ１のコネクタ後端面３がピンガードプレート３０の前面３１に当接して、ピンガードプレート３０を本体底部１９側に押して移動させることによって、曲がりのない健全な姿勢の導通ピン５０については、先端５１が導通ピン孔３５に侵入している。
図３の（ｃ）において、コネクタ１のコネクタ後端面３がピンガードプレートの前面３１を本体底部１９側にさらに押すことによって、導通ピン５０が導通ピン孔３５を貫通し、先端５１が前面３１から突出している。このとき、先端５１はコネクタ１の端子孔５に侵入して、先端５１または導通ピン５０の側面が端子６に接触する。

（作用効果）
図４の（ａ）において、導通検査前、導通ピン５０の先端５１が曲がって倒れた不健全な姿勢の場合を示している。
図４の（ｂ）において、導通検査が開始され、コネクタ１のコネクタ後端面３がピンガードプレート３０の前面３１に当接して、ピンガードプレート３０を本体底部１９側に押している。そうすると、導通ピン５０の先端５１はピンガードプレート３０の後面３９に当接して、導通ピン孔３５に侵入不可能になっている。
すなわち、曲がった不健全な姿勢の導通ピン５０は、ピンガードプレート３０の後面３９によって阻止されて導通ピン孔３５に侵入不可能であるから、導通検査の実施不可能が知らされる。したがって、健全な姿勢の導通ピン５０のみによって導通検査が実施されるから、コネクタ後端面３が曲がった不健全な姿勢の導通ピン５０によって傷付けられたり、誤検査が実施されたりすることが防止される。
なお、導通ピン５０の先端５１が僅かに曲がって倒れていても、導通ピン孔３５に侵入して、先端５１が導通ピン孔３５から突出する場合は、コネクタ後端面３を傷付けることはなく、導通検査に問題はない。

さらに、以上のように、治具本体１０は吊り下げられるものであって、従来技術のような治具基板を有しないため、導通検査をする場所の制約がなくなるから、たとえば車の製造ライン等の一部において導通検査をすることが可能になり、機動性が向上する。
また、作業者が一方の手でコネクタ１を保持し、他方の手で治具本体１０を保持し、コネクタ後部２を本体ガイド部１２に挿入するだけで導通検査をすることができるから、作業が簡素で迅速になる。このとき、案内ピン２０は非対称に配置されているから、コネクタ１の誤挿入が防止されている。
さらに、従来技術のような案内手段やレバー機構を有しないから、治具の構造が簡素かつ軽量で治具コストが安価になる。
なお、導通検査時以外の時は、導通ピン５０の先端５１はピンガードプレート３０と本体底部１９との間にあって、ピンガードプレート３０の表面から突出していないから、仮に、ピンガードプレート３０に異物（作業者の指等を含む）が衝突したとしても、導通ピン５０の損傷が防止されている。

［実施の形態２］
図５は本発明の実施の形態２に係る導通ピンの検査方法に説明するフローチャートである。なお、かかる導通ピンの検査方法は実施の形態１において説明した導通検査治具１００における導通ピン５０を検査するものであるから、実施の形態１と同じ内容については一部説明を省略する。
図５において、かかる導通ピンの検査方法は、導通ピン５０の先端５１を導通ピン孔３５の外に配置する第1ステップ（Ｓ１）と、ピンガードプレート３０を本体底部１９側に移動する第２ステップ（Ｓ２）と、導通ピン５０が導通ピン孔３５に侵入して導通ピン５０の先端５１が導通ピン孔３５から突出するか、または導通ピン５０が導通ピン孔３５に侵入しないで導通ピン５０の先端５１が導通ピン孔３５から突出しないかの何れであるかを検知する第３ステップ（Ｓ３）とを有する。

（作用効果）
したがって、実施の形態１と同様に、曲がった不健全な姿勢の導通ピン５０は、ピンガードプレート３０の後面３９によって阻止されて導通ピン孔３５に侵入不可能であることが検知され、導通検査の実施不可能が知らされる。このため、導通ピン５０の姿勢の健全性が検知されるから、曲がった不健全は姿勢の導通ピン５０を使用することによってコネクタ後端面３が傷付けられたり、誤検査が実施されたりすることが防止される。
なお、第３ステップにおける検知の要領は限定するものではなく、電気的手段、画像処理手段、荷重検出手段、あるいは作業者による目視や力加減による判断等、何れであってもよい。

以上、本発明を実施の形態１および実施の形態２をもとに説明した。この実施の形態１および実施の形態２は例示であり、それらの各構成要素およびその組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。

本発明は以上であるから、様々な形態のコネクタに収容された端子の導通を検査する導通検査治具として広く利用することができる。

１：コネクタ
２：コネクタ後部
３：コネクタ後端面
４：案内ピン挿入部
５：端子孔
６：端子
７：コネクタフランジ
１０：治具本体
１１：本体開口部
１２：本体ガイド部
１３：本体ムービング部
１４：本体スプリング穴
１９：本体底部
２０：案内ピン
２１：先端
３０：ピンガードプレート
３２：案内ピン孔
３５：導通ピン孔
３９：後面
４０：スプリング
４１：押し込みロッド
５０：導通ピン
５１：先端
１００：導通検査治具
１２０：ケーブル
１３０：接続コネクタ
１４０：吊り下げワイヤ

Claims

本体底部を具備する筒状の治具本体と、
前記治具本体の開口部に形成され、検査対象のコネクタを案内する本体ガイド部と、
前記本体底部と前記本体ガイド部との間に進退可能に配置されたピンガードプレートと、
前記コネクタに設置された検査対象の端子に接触可能で、前記本体底部に固定された導通ピンとを有し、
前記ピンガードプレートに、前記検査対象の端子の配置と同じ配置の導通ピン孔が形成され、
前記導通ピンの先端は前記導通ピン孔の外に位置し、前記ピンガードプレートが前記本体底部側に移動した際、前記導通ピンが前記導通ピン孔に侵入し、さらに前記導通ピンの先端が前記導通ピン孔から突出することを特徴とする導通検査治具。
後端が前記本体底部に固定され、前記ピンガードプレートを案内する案内ピンを有することを特徴とする請求項１記載の導通検査治具。
前記ピンガードプレートを前記ガイド部に向かって付勢する付勢手段を有することを特徴とする請求項１または２記載の導通検査治具。
本体底部を具備する筒状の治具本体と、前記治具本体の開口部に形成され、検査対象のコネクタを案内する本体ガイド部と、前記本体底部と前記本体ガイド部との間に進退可能に配置されたピンガードプレートと、前記コネクタに設置された検査対象の端子に接触可能で、前記本体底部に固定された導通ピンと、前記ピンガードプレートに形成され、前記検査対象の端子の配置と同じ配置の導通ピン孔とを有す導通検査治具における前記導通ピンを検査する導通ピンの検査方法であって、
前記導通ピンの先端を前記導通ピン孔の外に配置する第１ステップと、
前記ピンガードプレートを前記本体底部側に移動する第２ステップと、
前記導通ピンが前記導通ピン孔に侵入して前記導通ピンの先端が前記導通ピン孔から突出するか、または前記導通ピンが前記導通ピン孔に侵入しないで前記導通ピンの先端が前記導通ピン孔から突出しないかの何れであるかを検知する第３ステップとを有することを特徴とする導通ピンの検査方法。