KR20220153830A - 핀 밀림 검사 커넥터 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 핀 밀림 검사 커넥터는, 상기 제1 방향으로 전방부가 피검사 커넥터에 접속되고 상기 피검사 커넥터와 고정 결합 가능하게 마련된 제1 커넥터 조립체; 및 제1 방향으로 전방부가 상기 제1 커넥터 조립체의 후방부에 접속되고 상기 제1 커넥터 조립체에 대해 제1 방향 또는 그 역방향인 제2 방향으로 접속 간격이 가변적으로 조절되게 마련된 제2 커넥터 조립체;를 포함하고, 상기 제2 커넥터 조립체는 내부에 상기 피검사 커넥터에 구비되는 적어도 하나의 단자 핀과 연결 가능하게 마련된 적어도 하나의 검사 핀을 구비할 수 있다.

Description

핀 밀림 검사 커넥터{Test connector for inspecting a connector with pins pushed back}
본 발명은 각종 커넥터의 생산시 EOL(End of Line) 공정에서 사용될 수 있는 검사 커넥터에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는, 각종 커넥터 제품의 조립을 완료한 후에 최종적으로 제품의 이상 유무를 확인하기 위한 기능 검사에 사용될 수 있는 것으로서 조립된 커넥터의 핀(pin)들의 위치가 정위치보다 뒤로 밀려서 조립된 상태(불량)인지 여부를 검사하기 위한 핀 밀림 검사 커넥터에 관한 것이다.
일반적으로 자동차나 에어컨, 냉장고, 세탁기, 배터리 팩 등에는 다수의 부품이 설치되는데, 부품과 다른 부품을 연결하거나, 전원을 공급하기 위하여 복잡한 배선회로를 채용하고 있다. 배선회로는 상당히 복잡하기 때문에, 다수의 부품을 미리 설치한 후 배선회로를 형성하는 것이 효과적이며, 이를 위하여 다수의 케이블을 연결하여 구현한 케이블 커넥터를 많이 사용하고 있다.
케이블 커넥터는 전선 케이블들과 각 전선 케이블의 끝부분에 연결된 단자 핀들과, 단자 핀들을 삽입 및 고정시킬 수 있는 커넥터 하우징을 포함한다. 단자 핀의 개수나 커넥터 하우징의 크기는 적용할 제품에 따라 다양한 형태로 제조될 수 있다.
그런데 커넥터의 경우, 다수개의 단자 핀과 다수개의 케이블이 정확히 연결되거나, 케이블과 연결된 단자 핀들이 커넥터 하우징에 정확히 삽입되어야 하는데, 제조과정에서 어떠한 이유에 의하여 단자 핀들이 커넥터 하우징 속에 정확한 위치까지 삽입되지 못하는 경우가 있다. 이 경우, 커넥터를 통한 신호 전송 또는 전원 공급이 이루어지지 않음으로 해당 케이블 커넥터를 채용한 제품은 정상적으로 작동하지 못하게 될 수 있다.
이 때문에 케이블 커넥터는 조립된 후 기능 이상 유무, 다수의 단자 핀들과 커넥터 하우징의 조립 상태를 확인하는 최종 검사 공정을 거쳐서 정상 제품만 출하된다.
그런데 현재는 커넥터의 핀 조립 상태 불량 여부를 판별하기 위해 X-ray 촬영, Dino 검사(디지털 현미경 검사)등을 수행하고 있는데, 해당 공정으로 인해 검사시간 및 택트 타임(Tact Time)이 증가하여 생산성이 나빠지고 있어 개선이 요구되고 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 고려하여 창안된 것으로서, 피검사 커넥터의 핀 밀림 여부를 쉽게 판별할 수 있는 수단을 제공하여 기존의 X-ray 촬영 및 Dino 검사를 생략할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있으며, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 알게 될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허 청구 범위에 나타낸 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
본 발명에 따르면, 제1 방향으로 전방부가 피검사 커넥터에 접속되고 상기 피검사 커넥터와 고정 결합 가능하게 마련된 제1 커넥터 조립체; 및 제1 방향으로 전방부가 상기 제1 커넥터 조립체의 후방부에 접속되고 상기 제1 커넥터 조립체에 대해 제1 방향 또는 그 역방향인 제2 방향으로 접속 간격이 가변적으로 조절되게 마련된 제2 커넥터 조립체;를 포함하고, 상기 제2 커넥터 조립체는 내부에 상기 피검사 커넥터에 구비되는 적어도 하나의 단자 핀과 연결 가능하게 마련된 적어도 하나의 검사 핀을 구비한 핀 밀림 검사 커넥터가 제공될 수 있다.
상기 제1 커넥터 조립체는 그 후단부에서 제1 방향으로 천공된 제1 체결공을 구비하고, 상기 제2 커넥터 조립체는 몸체를 통과하여 상기 제1 체결공에 소정 깊이까지 스크류 결합되는 길이 조절볼트를 포함할 수 있다.
상기 제2 커넥터 조립체는 제1 방향으로 천공 형성되고 내주연에 나사산이 형성된 제2 체결공을 구비하며, 상기 제2 체결공에 스크류 결합되고 상기 제1 커넥터 조립체의 후단부를 지지하도록 마련된 길이 고정볼트를 더 포함할 수 있다.
상기 길이 조절볼트는 2개를 한 쌍으로, 제2 커넥터 조립체의 좌측과 우측 가장자리에 하나씩 구비될 수 있다.
상기 길이 고정볼트는 2개를 한 쌍으로, 2개의 상기 길이 조절볼트 사이에 구비될 수 있다.
상기 적어도 하나의 검사 핀은, 상기 제2 커넥터 조립체와 일체로 상기 제1 커넥터 조립체에 대해 상기 제1 방향 또는 상기 제2 방향으로 이동하게 상기 제2 커넥터 조립체 내부에 고정되게 구성될 수 있다.
상기 제1 커넥터 조립체는, 상기 피검사 커넥터의 외측에 구비되는 걸림턱에 걸림 결합 가능하게 마련된 걸림쇠를 구비할 수 있다.
상기 제1 커넥터 조립체는, 중공 구조로 형성된 제1 메인 바디와 상기 제1 메인 바디의 양쪽 사이드에 일체로 형성된 제1 윙 바디를 구비한 제1 하우징과 상기 제1 윙 바디에서 상기 제1 방향으로 상기 제1 메인 바디보다 연장 형성된 가이드 핀을 구비할 수 있다.
상기 제1 커넥터 조립체는, 중공 구조로 형성된 제1 메인 바디와 상기 제1 메인 바디의 양쪽 사이드에 일체로 형성된 제1 윙 바디를 구비한 제1 하우징과 상기 제1 윙 바디에서 상기 제1 방향으로 상기 제1 메인 바디보다 연장 형성된 가이드 핀을 구비하고, 상기 길이 고정볼트는 그 선단부가 상기 제1 윙 바디에 위치되는 상기 가이드 핀의 후단을 지지하도록 마련될 수 있다.
상기 적어도 하나의 검사 핀은 복수 개의 검사 핀들이고, 상기 피검사 커넥터의 각 단자 핀과 일대일로 플러그-인 접속 가능하게 마련될 수 있다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 피검사 커넥터의 단자 핀과의 접촉 포인트를 가변적으로 조절할 수 있어 피검사 커넥터의 단자 핀 밀림 여부를 쉽게 판별할 수 있는 핀 밀림 검사 커넥터가 제공될 수 있다.
상기 핀 밀림 검사 커넥터를 사용함으로써 기존의 X-ray 촬영 및 Dino 검사를 생략할 수 있어 검사시간 및 택트 타임(Tact time)을 줄일 수 있고, 이에 따라 커넥터의 생산량이 증가할 수 있다.
본 발명의 효과가 상술한 효과들로 한정되는 것은 아니며, 언급되지 아니한 효과들은 본 명세서 및 첨부된 도면으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확히 이해될 수 있을 것이다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 후술되는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터로 검사할 수 있는 피검사 커넥터를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터를 나타낸 사진이다.
도 3은 도 2의 핀 밀림 검사 커넥터를 전방에서 바라본 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터와 피검사 커넥터의 체결예를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터의 주요 구성을 나타낸 개략적인 단면도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터의 접속 거리 조절예를 나타낸 도면들이다.
도 8 및 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 핀들과 피검사 커넥터의 단자 핀들의 접촉 포인트가 조절된 예를 설명하기 위한 참고도들이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 또한, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터로 검사할 수 있는 피검사 커넥터를 나타낸 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터를 나타낸 사진이다.
본 발명에 따른 핀 밀림 검사 커넥터(100)는 피검사 커넥터(200)에 직접 연결해서 피검사 커넥터(200)의 모든 단자 핀(P)들의 핀 밀림 여부를 검사하기 위한 검사 수단으로 사용될 수 있다.
여기서 피검사 커넥터(200)는, 도 1에 도시한 바와 같이, 복수의 케이블들과 일대일로 연결된 복수의 단자 핀(P)들을 구비하고 상기 복수의 단자 핀(P)들이 피검사 커넥터(200)의 하우징 내부에 삽입된 형태로 제작된 커넥터를 의미한다. 상기 피검사 커넥터(200)는 적용 제품의 특성에 맞게 단자 핀(P)의 개수 및 형상이 결정될 수 있고, 핀 밀림 검사 커넥터(100)는, 도 2와 같이, 상기 피검사 커넥터(200)에 대응하여 접속시킬 수 있게 마련될 수 있다.
예컨대 피검사 커넥터(200)는 전압이나 온도와 같은 여러 가지 데이터를 BMS에 전송할 목적으로 배터리 모듈(팩)에 채용되는 센싱 케이블 커넥터일 수 있다. 이에 대응하는 본 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터(100)는 상기 센싱 케이블 커넥터와 플러그-인 방식으로 접속될 수 있는 구조로 마련되고 상기 센싱 케이블 커넥터의 단자 핀(P)들과 동일한 개수의 검사 핀(30)들을 구비하도록 구성될 수 있다. 상기 센싱 케이블 커넥터의 단자 핀(P)이 암형이면, 검사 핀(30)이 수형으로 구현되고, 반대로 단자 핀(P)이 수형이면 검사 핀(30)은 암형으로 구현된다.
또한, 자세히 후술하겠으나, 상기 핀 밀림 검사 커넥터(100)는 상기 피검사 커넥터(200)에 체결 전 또는 체결 후에 검사 핀(30)과 단자 핀(P)의 접촉 포인트를 가변적으로 조절할 수 있게 구성됨으로써, 상기 피검사 커넥터(200)의 조립 후 최종 기능 검사시 단자 핀(P)의 위치가 정해진 위치보다 뒤로 밀려서 조립된 상태(불량품)인지 여부를 판별하는데 적용될 수 있다.
이하에서, 도 3 내지 도 7을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터(100)를 구성하는 주요 구성들을 자세히 설명한다. 핀 밀림 검사 커넥터(100)는 제1 커넥터 조립체(10), 제2 커넥터 조립체(20) 및 적어도 하나의 검사 핀(30)을 포함하고, 피검사 커넥터(200)에 접속 가능한 상보적인 커넥터 형태로 마련될 수 있다.
제1 커넥터 조립체(10)는, 도 4 및 도 5를 참조하면, 제1 하우징(11), 가이드 핀(12), 걸림쇠(13), 제1 체결공(14)을 포함하여 구성되고, 피검사 커넥터(200)에 접속되고 상기 피검사 커넥터(200)와 고정 결합 가능하게 마련될 수 있다.
상기 제1 하우징(11)은 중공 구조로 형성된 중앙 부분의 제1 메인 바디(11a), 상기 제1 메인 바디(11a)의 양쪽 사이드에 일체로 형성된 제1 윙 바디(11b)를 포함하며, 상기 제1 윙 바디(11b)에 가이드 핀(12)과 걸림쇠(13)가 하나씩 구비될 수 있다.
상기 가이드 핀(12)은 상기 제1 윙 바디(11b)에 고정 결합되고 상기 제1 윙 바디(11b)에서 제1 방향(+Y)으로 상기 제1 메인 바디(11a)보다 연장 형성되도록 구성되고, 상기 걸림쇠(13)는 대략 'ㄱ'형의 절곡 구조로 형성되고 절곡된 영역에 제1 방향(+Y)에 교차하는 방향으로 힌지축(13a)을 적용해 소정 각도 회전시킬 수 있게 구성될 수 있다.
피검사 커넥터(200)는 (도 1 참조) 상기 제1 하우징(11)의 가운데 부분 안으로 인입될 수 있는 접속부(210)와 상기 접속부(210)를 사이에 두고 양쪽 사이드에 구비되는 걸림턱(220)을 구비할 수 있다. 상기 접속부(210)의 내부에 단자 핀(P)들이 배치되며 상기 걸림턱(220)의 내부에는 상기 가이드 핀(12)이 삽입될 수 있는 가이드 홈(230)이 형성될 수 있다.
이러한 구성으로, 상기 제1 하우징(11)은 제1 방향(+Y)으로 제1 메인 바디(11a)의 전방부가 피검사 커넥터(200)에 접속 및 고정될 수 있다. 보다 구체적으로 말하면, (도 4 참조) 상기 제1 하우징(11)의 제1 메인 바디(11a) 안으로 피검사 커넥터(200)의 접속부(210)가 들어올 수 있고 상기 가이드 핀(12)은 피검사 커넥터(200)의 가이드 홈(230) 속에 삽입될 수 있다. 이때 가이드 핀(12)이 상기 피검사 커넥터(200)의 가이드 홈(230)에 끝까지 들어가면 피검사 커넥터(200)의 접속부(210)가 제1 하우징(11)에 더이상 들어가지 못하게 가이드 핀(12)의 길이와 피검사 커넥터(200)의 가이드 홈(230)의 깊이가 형성될 수 있다.
위와 같이, 제1 하우징(11)의 제1 메인 바디(11a)에 피검사 커넥터(200)의 접속부(210)가 인입되고, 가이드 핀(12)이 피검사 커넥터(200)의 가이드 홈(230)에 삽입된 상태에서 걸림쇠(13)를 상기 피검사 커넥터(200)의 걸림턱(220)에 결림 결합시키면 제1 커넥터 조립체(10)가 피검사 커넥터(200)에 대해 제1 방향(+Y) 또는 제2 방향(-Y)으로 움직이지 않게 된다.
또한, 제1 커넥터 조립체(10)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 그 후단부의 표면으로부터 소정 깊이까지 제1 방향(+Y)으로 형성된 제1 체결공(14)을 구비할 수 있다. 상기 제1 커넥터 조립체(10)의 후단부는 본 실시예에서 제1 하우징(11)의 양쪽 제1 윙 바디(11b)의 후단부를 의미한다. 상기 제1 체결공(14)의 내주연에 나사산이 마련되며, 이러한 제1 체결공(14)에 후술할 길이 조절볼트(22)의 봉 부분이 스크류 결합될 수 있다.
다시 도 4 및 도 5를 참조하면, 제2 커넥터 조립체(20)는 전방부가 상기 제1 커넥터 조립체(10)의 후방부에 제1 방향(+Y)으로 접속될 수 있다. 또한, 상기 제2 커넥터 조립체(20)는 상기 제1 커넥터 조립체(10)에 대한 접속 간격이 제1 방향(+Y) 또는 그 역방향인 제2 방향(-Y)으로 필요에 따라 가변적으로 조절될 수 있다.
이러한 제2 커넥터 조립체(20)는 제2 하우징(21), 검사 핀(30)들, 길이 조절볼트(22), 길이 고정볼트(25)를 포함할 수 있다.
상기 제2 하우징(21)은 제1 메인 바디(11a)에 부분적으로 삽입될 수 있게 마련된 제2 메인 바디(21a), 상기 제2 메인 바디(21a)의 양쪽 사이드에 일체로 형성된 제2 윙 바디(21b)를 포함할 수 있다.
검사 핀(30)들은 각각 도통 테스트를 위한 연장선(C)과 연결되고 상기 제2 메인 바디(21a)에 고정되게 조립된 상태로 제공될 수 있다.
각 검사 핀(30)들은 제2 메인 바디(21a) 내부에 마련되는 핀 홀더(27)에 억지 끼움 내지 스냅-핏 방식으로 고정될 수 있고, 그 선단부는 제2 메인 바디(21a)의 전방에 돌출되도록 구성될 수 있다. 또한, 상기 각 검사 핀(30)의 선단부는 핀 지지체(16)에 지지될 수 있다. 상기 핀 지지체(16)는 복수의 홀들을 구비한 판상체로서, 각 검사 핀(30)의 선단부가 각 홀에 삽입되도록 마련될 수 있다. 이러한 핀 지지체(16)는 별개 부품으로 제작되거나 제2 메인 바디(21a) 또는 제1 메인 바디(11a)에 일체로 제작될 수 있다.
이 같은 구성에 의하면, 제2 메인 바디(21a)의 핀 홀더와 핀 지지체(16)에 의해 검사 핀(30)들 간의 간격 즉, 연면 거리가 일정하게 유지될 수 있어 검사 핀(30)들이 대응하는 피검사 커넥터(200)의 단자 핀(P)들과 어긋나지 않게 연결될 수 있다.
길이 조절볼트(22)는 제2 커넥터 조립체(20)의 몸체를 통과하여 제1 커넥터 조립체(10)의 제1 체결공(14)에 소정 깊이까지 스크류 결합되는 구성으로서, 제1 커넥터 조립체(10)와 상기 제2 커넥터 조립체(20)의 접속 거리 내지 접속 간격을 가변적으로 조절할 수 있게 하는 수단으로 사용될 수 있다.
구체적으로, 본 실시예에서 상기 제2 커넥터 조립체(20)의 몸체는 제2 하우징(21)의 제2 윙 바디(21b)를 지칭한다. 도 5에 도시한 바와 같이, 제2 윙 바디(21b)는 통과공(23)을 구비한다. 상기 통과공(23)은 제1 윙 바디(11b)에 구비된 제1 체결공(14)과 제1 방향(+Y)으로 일치하는 위치에 형성됨으로써 길이 조절볼트(22)가 제2 윙 바디(21b)의 통과공(23)을 통해 제1 윙 바디(11b)의 제1 체결공(14)에 스크류 체결될 수 있다.
상기 길이 조절볼트(22)는 2개를 한 쌍으로, 제2 커넥터 조립체(20)의 좌측과 우측 가장자리에 하나씩 구비될 수 있다. 즉, 길이 조절볼트(22)는 좌측 사이드의 제2 윙 바디(21b)의 통과공(23)과, 우측 사이드의 제2 윙 바디(21b)의 통과공(23)에 하나씩 삽입 배치될 수 있다.
이때, 상기 통과공(23)의 내주연에는 나사산이 미형성되어 있어 길이 조절볼트(22)의 봉 부분은 상기 제1 윙 바디(11b)의 제1 체결공(14)에만 스크류 체결될 수 있다.
따라서 길이 조절볼트(22)를 시계 방향으로 계속 돌리면 길이 조절볼트(22)가 제1 방향(+Y)으로 전진하여 그 헤드 부분(H)이 제2 윙 바디(21b)의 표면에 접촉하게 되고, 도 6에 도시한 바와 같이, 최종적으로 상기 헤드 부분(H)에 의해 제2 윙 바디(21b)가 밀려 제1 윙 바디(11b)와 맞닿게 된다. 이처럼 제1 윙 바디(11b)와 제2 윙 바디(21b)가 맞닿게 된 때, 제1 커넥터 조립체(10)와 제2 커넥터 조립체(20) 간의 접속 간격이 '0mm'가 된다.
이 상태를 기준으로 길이 조절볼트(22)를 반시계 방향으로 조금씩 돌려주면 상기 길이 조절볼트(22)가 제1 체결공(14)에서 풀리면서 제2 방향(-Y)으로 조금씩 이동하게 된다. 이때, 길이 조절볼트(22)의 헤드 부분(H)이 제2 윙 바디(21b)의 표면으로부터 제2 방향(-Y)으로 떨어지게 됨으로 제1 커넥터 조립체(10)로부터 제2 커넥터 조립체(20)의 접속 간격을 늘릴 수 있게 된다.
최종적으로 길이 조절볼트(22)가 제1 윙 바디(11b)의 제1 체결공(14)에서 이탈하게 되면 제1 커넥터 조립체(10)와 제2 커넥터 조립체(20)는 약간의 힘으로도 완전히 분리할 수 있게 된다.
이와 같은 본 발명의 구성에 의하면, 제1 커넥터 조립체(10)와 제2 커넥터 조립체(20)의 접속 간격이 '0mm'인 상태에서 예컨대 검사 핀(30)들의 위치를 제2 방향(-Y)으로 1mm 또는 2mm 뒤로 이동시키고 싶을 때, 길이 조절볼트(22)를 제1 체결공(14)에서 조금씩 풀어 제1 커넥터 조립체(10)와 제2 커넥터 조립체(20)의 접속 간격을 1mm 또는 2mm가 되도록 조절할 수 있다.
한편, 길이 고정볼트(25)는 제2 커넥터 조립체(20)의 몸체에 제1 방향(+Y)으로 관통 형성된 제2 체결공(26)에 스크류 결합되고, 제1 커넥터 조립체(10)의 후단부를 지지하는 역할을 하는 구성으로서, 길이 조절볼트(22)로 늘려놓은 제1 커넥터 조립체(10)와 제2 커넥터 조립체(20) 사이의 접속 간격이 다시 줄어들지 않도록 하는 수단으로 사용될 수 있다.
상기 길이 고정볼트(25)는 2개를 한 쌍으로 2개의 길이 조절볼트(22) 사이에서 좌측 사이드의 제2 윙 바디(21b)에 천공 형성된 제2 체결공(26)과 우측 사이드의 제2 윙 바디(21b)에 천공 형성된 제2 체결공(26)에 하나씩 삽입 배치될 수 있다.
상기 제2 체결공(26)은 내주연에 나사산이 형성되어 있어 길이 고정볼트(25)와 스크류 결합되도록 이루어져 있다. 길이 고정볼트(25)는 상기 제2 체결공(26)을 통과하여 선단부가 제1 커넥터 조립체(10)의 후단부를 지지할 수 있다.
보다 정확히는, 제2 체결공(26)은 제1 방향(+Y)으로 제1 윙 바디(11b)에 위치되는 가이드 핀(12)의 후단과 일치하는 위치에 형성되고, 길이 고정볼트(25)는 상기 제2 체결공(26)에 스크류 결합되고 선단부가 제2 체결공(26)을 통과하여 상기 가이드 핀(12)의 후단을 지지하도록 마련될 수 있다.
예컨대, 도 6과 같은 상태에서 길이 조절볼트(22)를 제1 체결공(14)에서 풀어 제2 커넥터 조립체(20)를 제1 커넥터 조립체(10)에서 3mm 정도 뒤로 떨어뜨려 놓고 길이 고정볼트(25)를 그대로 두면, 약간의 충격에도 제1 커넥터 조립체(10)와 제2 커넥터 조립체(20)의 접속 간격이 다시 줄어들기 쉽다. 따라서 이때 길이 고정볼트(25)를 시계방향으로 돌려서 제1 방향(+Y)으로 전진시켜서, 도 7에 도시한 바와 같이, 제1 커넥터 조립체(10)의 후단부, 즉 가이드 핀(12)의 후단을 지지하도록 한다. 그러면 충격이 있더라도 길이 조절볼트(22)로 늘려놓은 제1 커넥터 조립체(10)와 제2 커넥터 조립체(20)의 접속 간격이 다시 줄어들지 않게 된다.
이상과 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 핀 밀림 검사 커넥터(100)는 피검사 커넥터(200)에 고정되는 제1 커넥터 조립체(10)와 상기 제1 커넥터 조립체(10)에 가변적으로 접속 간격을 조절하며 접속되는 제2 커넥터 조립체(20)를 포함하고 있다. 그리고 피검사 커넥터(200)의 단자 핀(P)들과 접속하게 될 검사 핀(30)들은 상기 제2 커넥터 조립체(20)와 일체로 제1 방향(+Y) 또는 제2 방향(-Y)으로 이동하게 구성되어 있다.
이러한 핀 밀림 검사 커넥터(100)의 사용예를 간략히 설명하면 다음과 같다.
예컨대, 피검사 커넥터(200)에서 각 단자 핀(P)의 핀 밀림이 2mm 이상인 것을 불량품 기준으로 정하고 검사를 한다면, 핀 밀림 검사 커넥터(100)의 접속 간격을 '0mm'로 세팅한다. (제1 커넥터 조립체(10)와 제2 커넥터 조립체(20)의 접속 간격이 '0mm'일 때, 핀 밀림이 없는 단자 핀(P)과 검사 핀(30)의 접속 길이가 2mm 인 것을 전제로 함) 그 다음, 핀 밀림 검사 커넥터(100)를 피검사 커넥터(200)에 연결하고 도통 테스트를 수행한다.
이 경우, 도 8을 참조하면, ④번 단자 핀(P)과 이에 대응하는 검사 핀(30)은 접촉되지 않음으로 이들을 통해서는 전류가 흐르지 않는다. 따라서 상기 ④번 단자 핀(P)이 2mm 이상 뒤로 밀려 조립된 상태임을 검출할 수 있다.
다른 예로서 피검사 커넥터(200)에서 각 단자 핀(P)의 핀 밀림이 1mm 이상인 것을 불량품 기준으로 정하고 검사를 한다면, 핀 밀림 검사 커넥터(100)의 접속 간격을 1mm 늘려놓고 핀 밀림 검사 커넥터(100)를 피검사 커넥터(200)에 연결한 후 도통 테스트를 수행한다.
이 경우, 도 9를 참조하면, ③번 단자 핀(P)과 ④번 단자 핀(P)이 각각 대응하는 검사 핀(30)과 접촉되지 않음으로 이들을 통해서 전류가 흐르지 않는다. 따라서 ③번 단자 핀(P)과 ④번 단자 핀(P)이 각각 1mm 이상 뒤로 밀려 조립된 상태임을 검출할 수 있다.
또 다른 예로서, 초기에 접속 간격을 '0mm'로 세팅한 핀 밀림 검사 커넥터(100)를 피검사 커넥터(200)에 연결한 후, 순차적으로 접속 간격을 0.5mm씩 늘리면서 도통 테스트를 수행한다. 이 경우, 핀 밀림이 0.5mm이하, 0.5mm~1.0mm, 1.0mm~1.5mm, 1.5mm~2.0mm, 2mm이상인 단자 핀(P)들을 각각 검출해 낼 수 있다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 핀 밀림 검사 커넥터(100)의 구성과 작용에 따르면, 피검사 커넥터(200)의 단자 핀(P)과의 접촉 포인트를 가변적으로 조절할 수 있어 기존의 X-ray 촬영이나 Dino 검사를 하지 않아도 피검사 커넥터(200)의 단자 핀(P) 밀림 여부를 쉽게 판별할 수 있다.
이상, 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.
한편, 본 명세서에서는. 상, 하, 좌, 우 등과 같이 방향을 나타내는 용어가 사용되었으나, 이러한 용어는 설명의 편의를 위한 것일 뿐, 관측자의 보는 위치나 대상의 놓여져 있는 위치 등에 따라 다르게 표현될 수 있음은 본 발명의 당업자에게 자명하다.
100 : 핀 밀림 검사 커넥터 10 : 제1 커넥터 조립체
11 : 제1 하우징 11a: 제1 메인 바디
11b: 제1 윙 바디 12 : 가이드 핀
13 : 걸림쇠 14 : 제1 체결공
16 : 핀 지지체 20 : 제2 커넥터 조립체
21 : 제2 하우징 21a: 제2 메인 바디
21b: 제2 윙 바디 22 : 길이 조절볼트
23 : 통과공 25 : 길이 고정볼트
26 : 제2 체결공 30 : 검사 핀
200 : 피검사 커넥터 210 : 접속부
220 : 걸림턱 230 : 가이드 홈
P : 단자 핀

Claims (10)

  1. 제1 방향으로 전방부가 피검사 커넥터에 접속되고 상기 피검사 커넥터와 고정 결합 가능하게 마련된 제1 커넥터 조립체; 및
    상기 제1 방향으로 전방부가 상기 제1 커넥터 조립체의 후방부에 접속되고 상기 제1 커넥터 조립체에 대해 상기 제1 방향 또는 그 역방향인 제2 방향으로 접속 간격이 가변적으로 조절되게 마련된 제2 커넥터 조립체;를 포함하고,
    상기 제2 커넥터 조립체는 내부에 상기 피검사 커넥터에 구비되는 적어도 하나의 단자 핀과 연결 가능하게 마련된 적어도 하나의 검사 핀을 구비하는 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 커넥터 조립체는 그 후단부에서 상기 제1 방향으로 천공된 제1 체결공을 구비하고, 상기 제2 커넥터 조립체는 몸체를 통과하여 상기 제1 체결공에 소정 깊이까지 스크류 결합되는 길이 조절볼트를 포함하는 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제2 커넥터 조립체는 상기 제1 방향으로 천공 형성되고 내주연에 나사산이 형성된 제2 체결공을 구비하며, 상기 제2 체결공에 스크류 결합되고 상기 제1 커넥터 조립체의 후단부를 지지하도록 마련된 길이 고정볼트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 길이 조절볼트는 2개를 한 쌍으로, 제2 커넥터 조립체의 좌측과 우측 가장자리에 하나씩 구비된 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 길이 고정볼트는 2개를 한 쌍으로, 2개의 상기 길이 조절볼트 사이에 구비된 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 검사 핀은, 상기 제2 커넥터 조립체와 일체로 상기 제1 커넥터 조립체에 대해 상기 제1 방향 또는 상기 제2 방향으로 이동하게 상기 제2 커넥터 조립체 내부에 고정된 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제1 커넥터 조립체는, 상기 피검사 커넥터의 외측에 구비되는 걸림턱에 걸림 결합 가능하게 마련된 걸림쇠를 구비하는 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 커넥터 조립체는,
    중공 구조로 형성된 제1 메인 바디와 상기 제1 메인 바디의 양쪽 사이드에 일체로 형성된 제1 윙 바디를 구비한 제1 하우징과 상기 제1 윙 바디에서 상기 제1 방향으로 상기 제1 메인 바디보다 연장 형성된 가이드 핀을 구비하는 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  9. 제3항에 있어서,
    상기 제1 커넥터 조립체는, 중공 구조로 형성된 제1 메인 바디와 상기 제1 메인 바디의 양쪽 사이드에 일체로 형성된 제1 윙 바디를 구비한 제1 하우징과 상기 제1 윙 바디에서 상기 제1 방향으로 상기 제1 메인 바디보다 연장 형성된 가이드 핀을 구비하고,
    상기 길이 고정볼트는 그 선단부가 상기 제1 윙 바디에 위치되는 상기 가이드 핀의 후단을 지지하도록 마련된 것을 특징으로 하는 핀 밀림 검사 커넥터.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 검사 핀은 복수 개의 검사 핀들이고, 상기 피검사 커넥터의 각 단자 핀과 일대일로 플러그-인 접속 가능하게 마련된 것을 특징으로 핀 밀림 검사 커넥터.
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Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3504606A1 (de) * 1985-02-11 1986-08-14 Helmuth 4952 Porta Westfalica Kahl Einrichtung zum pruefen von kabeln, die mit steckern versehen sind
JP4921348B2 (ja) * 2007-12-28 2012-04-25 矢崎総業株式会社 導通検査具の導通ピン保護構造
KR20150110170A (ko) * 2014-03-24 2015-10-02 양기선 커넥터 검사용 지그
KR101757834B1 (ko) * 2016-11-15 2017-07-14 이광우 전력선 통신 기반의 원격 검침용 계측장치
KR101890230B1 (ko) * 2017-02-20 2018-08-22 주식회사 경신 커넥터의 단자 검사장치
JP6757369B2 (ja) * 2018-07-06 2020-09-16 矢崎総業株式会社 導通検査治具および導通ピンの検査方法
ES2929982T3 (es) * 2018-08-09 2022-12-05 Draexlmaier Lisa Gmbh Reconocimiento táctil de una posición de componentes de una pieza de vehículo
KR102526197B1 (ko) 2019-11-19 2023-04-27 아주대학교산학협력단 Cotl1을 유효성분으로 포함하는 골질환 진단, 예방 또는 치료용 조성물

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