JP6757077B2 - 光学自由曲面を有するビームシェイパ、及び、この種のビームシェイパを有するレーザ光学系 - Google Patents

光学自由曲面を有するビームシェイパ、及び、この種のビームシェイパを有するレーザ光学系 Download PDF

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Description

本発明は、矩形ビーム密度プロファイルを生成するために、光軸に垂直に移動可能な光学自由曲面を有するビームシェイパに関する。矩形ビーム密度プロファイルは、光軸の周りで光軸に垂直な矩形断面内で均質なビーム密度を有する。矩形断面の外側では、矩形ビーム密度プロファイルは、ビーム密度が全くないか、または無視できるほど低い。
光軸に垂直な入口平面における分布が入力ビーム密度分布によって決定されるコリメートされた入力ビームの束が、光軸に垂直な出口平面における分布が出力ビーム密度分布によって決定されるコリメートされた出力ビームの束に変換されるビームシェイパは、従来から知られている。例えば、入力ビーム密度分布が回転対称ガウスプロファイルによって決定され、出力ビーム密度分布がトップハットプロファイルによって決定されるビームシェイパが知られている。
さらに、部分表面を有する2つの光学素子を光軸に垂直なx方向に沿って移動させることで、焦点距離がz方向に位置する光軸に沿って変化し、かつ、前記部分表面が自由曲面として形成されている様々な集束光学システムが従来から知られている。互いに垂直でかつz光軸に垂直なx,y方向に沿ってのび、z光軸の方向に距離εだけ離れた2つの等しく成形された部分表面は(以下の数1参照)、焦点距離の変化をもたるすことが知られている。
x軸に沿ってΔxだけ変位した場合の焦点距離は、以下の数2である。
ここで、nは、材料の屈折率であって両光学素子で同じであり、光学素子間の自由ビーム通過は空気中で生じる。
本発明は、回転対称ガウスプロファイルに対応する入力ビーム密度分布を有するコリメートされた入力ビームが、出力ビーム密度が受光平面において矩形ビーム密度プロファイルに従う出力ビームに変換され、そのプロファイルが少なくとも一次元に沿って可変であるビームシェイパを提供するという目的に基づく。特に、本発明は、特に短い全長を可能にするこの種のビームシェイパを提供するという目的に基づく。さらに、本発明は、異なるビーム密度および/または異なる作業距離に対する調整が特に容易であり、改善された加工品質を有するレーザ材料加工用のレーザ光学系を提供するという目的に基づく。
本発明によるビームシェイパに関する目的は、請求項1の特徴を有するビームシェイパによって達成される。レーザ光学系に関する目的は、請求項5の特徴を有するレーザ光学系によって達成される。
本発明の有利な実施形態は、従属請求項の主題である。
ビームシェイパは、少なくとも1つの第1の光学素子と、光軸に沿って第1の光学素子の後に配置された第2の光学素子とを有する。第1および第2の光学素子は、光軸に垂直に設けられた少なくとも1つの変位軸に沿って互いに対して変位可能である。
第1および第2の光学素子はそれぞれ、少なくとも1つの光学的に機能する自由曲面を有する。各自由曲面は、高さプロファイルによって記述することができ、これは、自由曲面の基準点に対する光軸の方向の距離として自由曲面の各点に高さの差を割り当てる。好ましくは、基準点は、自由曲面の中心に位置するように選択される。
第2の光学素子に対する第1の光学素子の各変位に対して、ビームシェイパの光学効果は、ビーム経路における各入射入力ビームに対してもたらされる変化の全体から生じる。所定の自由曲面を有する光学素子では、ビームシェイパの光学効果は、幾何光学の限界内で原則的に任意の精度でビーム計算によって決定することができる。自由曲面を有する光学素子のビーム計算方法は、従来から知られている。
自由曲面の高さプロファイルは、多項式展開によって記述することができ、当該多項式展開は、有限個の多項式次数においてゼロとは異なる多項式係数を有し、3より大きい多項式次数に割り当てられた少なくとも1つの多項式係数は、ゼロとは異なる。
そのような多項式展開の多項式係数は、ビーム密度分布が、焦点距離でビームシェイパの出口側に設けられた受光平面において矩形ビーム密度プロファイルに従うように、光学素子の各自由曲面に対して選択され、焦点距離および矩形ビーム密度プロファイルの範囲は、第2の光学素子に対する第1の光学素子の変位に応じて可変である。
本発明のさらなる実施形態では、それぞれの場合において、第1および第2の光学素子の自由曲面は、光軸に沿って互いに対向して配置され、これらの自由曲面の高さプロファイルは、光軸を中心とする180度の回転に対して反対称(逆対称)に形成される。
この実施形態は、第1および第2の光学素子が同様に作成され、互いに対して光軸の周りに180度だけ回転した状態でビームシェイパ内に取り付けられることができるという利点を提供する。これは、ビームシェイパの製造コストを低減する。
本発明の別の実施形態では、光学素子はシリカガラスからなる。シリカガラスは、特に温度変化に耐性があり、熱膨張係数が低い。したがって、この実施形態は、高レーザパワーでのレーザビームのビーム整形に特に適している。さらに、この実施形態の好ましい変形例では、光学損失およびそれらの熱への変換を低減するために、光学素子の光学的に機能する表面に、反射防止コーティングが設けられる。
以下、本発明の実施形態について図面を用いてより詳細に説明する。図面は、以下の通りである。
図1は、零点位置に自由曲面を有する2つの光学素子を概略的に示す。 図2は、自由曲面の表面プロファイルを概略的に示す。 図3は、自由曲面を有する互いに変位した2つの光学素子を概略的に示す。 図4A、図4Bは、異なる変位位置における2つの自由曲面を有するビームシェイパのビーム経路を概略的に示す。 図5は、ビームシェイパを通るビームに対する、入口平面内の入口点の、受光平面内の受光点への割り当てを概略的に示す。 図6は、ビームシェイパを有するレーザ光学系を概略的に示す。
すべての図において、互いに対応する部分には同じ参照符号が付されている。
図1は、屈折率n>1を有する光学的に密な材料からなる第1の光学素子1および第2の光学素子2を有するビームシェイパFを示す。光学素子1,2は、自由曲面1.1,2.1を有し、これらの自由曲面は、z光軸に沿って互いに対向して配置されている。光学素子1,2は、z光軸に垂直な第1の水平なx軸に沿って互いに変位可能であり、z光軸と第1のx軸の双方に垂直な第2のy軸に沿って互いに不動に配置される。しかしながら、光学素子1,2が第2のy軸に沿ってさらに変位可能である本発明の例示的な実施形態も可能である。
z光軸に垂直に変位可能な光学素子の配置のための機械的装置は、従来から知られている。例えば、光学素子1,2は、詳細には示されていない、スピンドルスクリューを介してx方向に互いに対して変位可能なマウント内に取り付けることができる。光学素子1,2がx方向に互いに対しておよびz光軸に対して変位可能である解決策が知られている。しかし、第1の光学素子1がz光軸に対して不動に配置され、他方の光学素子2がz光軸に対して変位可能であり、したがって第1の光学素子1に対してx方向にも変位可能であることも可能である。
各光学素子1,2は、z光軸に垂直な平面1.2,2.2と反対側に自由曲面1.1,2.1を有する。しかし、自由曲面1.1,1.2の反対側の表面が平坦にされない本発明の実施形態も可能である。さらに、光学素子の平坦面1.2,2.2が互いに対向して配置され、自由曲面1.1,2.1が互いに離れる方向に向いて配置される実施形態が可能である。
自由曲面1.1,2.1は、相補的に作られ、そして、零点位置において次々に設けられ、z光軸に沿ってオフセットεだけ離されており、第1の自由曲面1.1は、以下の数3の関数z(1)として記述され、第2の自由曲面2.1は、以下の数4の関数z(2)として記述される。
図2は、それぞれの基準点1.1.1,2.1.1で中心高さに対しての自由曲面1.1, 2.1の高さプロファイルΔz(x,y)(以下の数5参照)を概略的に示し、基準点は、自由曲面1.1,2.1においてz光軸の通過点x=0、y=0として定義される。したがって、高さプロファイルΔz(x,y)は、z光軸に垂直なデカルト座標x,yの関数として、z光軸に沿った自由曲面1.1,2.1の高さの変化を記述し、この高さ変化は、基準点x=0,y=0に対して与えられる。
光学素子1,2は、x,y平面において円形断面を有する。しかしながら、異なる断面形状を有する例示的な実施形態も可能である。
本発明の好ましい実施形態では、自由曲面1.1,2.1が以下の数6の通り反対称に形成される。
そして、光学素子1、2は、同じ設計を有するが、自由曲面1.1,2.1が互いに対向するようにz光軸の周りに180°回転されて配置されており、したがって、自由曲面1.1,2.1の相補的な対を形成する。
自由曲面1.1,2.1の高さプロファイルは、デカルト座標の形式においてz光軸に対する横方向距離x、yに依存する多項式展開(数7参照)によって記述することができる。
さらに、他の座標系、例えば極座標の多項式展開が可能である。デカルト座標の多項式展開から別の座標系の多項式展開への変換は、従来から知られている。
本発明によれば、多項式次数M,Nのうちの少なくとも1つは、3より大きいものとして選択される。
図1に示す配置では、零点位置において、したがって、水平オフセットΔx=0において、基準点1.1.1,2.1.1は、x軸およびy軸に沿って一致して位置し、z光軸に沿ってオフセットεだけ互いに離れている。この零点位置では、z光軸に対してコリメートされ、ガウスプロファイルに従って分布された入力ビームESは、ビームシェイパFを通過するときにビーム方向に偏向され、その結果、ビームシェイパFの出口側で受光平面Bにおいて受光される出力ビームASは、図4Aに概略的に示されるように、矩形ビーム密度プロファイルに従って分布される。この実施形態の場合、矩形ビーム密度プロファイルは、一般性を失うことなく正方形である。
図3に概略的に示されるように、本発明のビームシェイパFにおける光学素子1,2は、z光軸に垂直なx軸に沿って互いに対してシフト可能であり、したがって零点位置から移動可能である。第1の光学素子1の第1のオフセットΔxの変位は、以下の数8の関数z(1)(x,y)に従って第1の自由曲面1.1を生成する。
第2の光学素子2の第2のオフセットΔxの変位は、以下の数9の関数z(2) (x,y)に従って第2の自由曲面2.1を生成する。
光学効果については、この場合、自由曲面1.1,2.1間の相対変位Δx=Δx−Δxだけが重要である、というのも、両光学素子1,2の同様の変位だけがz光軸のオフセットをもたらすからである。
ガウス入力ビーム密度分布が変化しない場合の相対変位Δxは、潜在的に各出力ビームASの位置および方向を変化させる。特に、相対変位Δxは、零点位置Δx=0に対する受光平面Bと対向するようにz光軸に沿ってシフトされた受光平面B'において矩形ビーム密度分布が生じるという効果を有する。さらに、相対変位Δxは、シフトされた受光平面B'において、零点位置に対して寸法が変化し、したがってビーム密度も変化した矩形ビーム密度分布を形成するという効果を有することができる。
相対変位Δxに依存する受光平面B'の位置、および、矩形ビーム密度分布の寸法は、異なる変位Δx≠0に対して図4Bに概略的に示される。
所望の光学効果が相対変位Δxの関数として達成されるように自由曲面1.2,2.1についての高さプロファイルΔz(x,y)を決定する問題は、入口平面内の入口点x,yを有する複数のビームSにおいて、対応する受光点x',y'が、所望の光学効果またはビーム整形に対応する仮想受光平面B,B'に対して確立され得るように定式化され得る。ビームSの所望の経路が達成される高さプロファイルΔz(x,y)に対する補間点は、様々な相対変位Δxに対してビーム計算によって入口点x,yおよび割り当てられた受光点x',y'の設定から決定することができる。
高さプロファイルΔz(x,y)に対しての補間点の数値決定のための方法、およびそこから導出される、高さプロファイルΔz(x,y)自体の数値決定のための方法は、当該技術分野で周知である。特に、高さプロファイルΔz(x,y)の近似を表す、所定の多項式次数M,Nについての多項式展開Δz(ハット)(x,y)の係数cm,nを決定できる方法は周知である。
例えば、相対変位Δx=0で、入口点x,yが入口平面内のガウス回転対称ビーム密度に従って分布していると、受光点x',y'は、受光平面Bに割り当てられ、図5に概略的に示されるように、光軸(z)を中心とする正方形断面内で実質的に均一に分布する。
同様に、相対変位Δx>0で、入口点x,yが入口平面内でガウス状に分布していると、受光点x',y'は、同じく均一に分布するが、距離が短縮されて受光平面B'に割り当てられ、この受光平面B'がビームシェイパFに近づくにつれて受光点x',y'の密度が増加する。零点位置から取られる相対変位Δxの光学効果が図4Bに概略的に示される。この光学効果は、相対変位Δx>0の増加と共に増加しかつ相対変位Δxから決定される各受光平面B'における矩形断面内で均一なビーム密度にも対応する。
このような光学効果を有するビームシェイパFによって、例えば、ガウス状に分布した概してほぼ回転対称なビーム密度を有する、レーザ源から出てくるレーザビームを、光軸(z)を中心とした矩形または正方形の断面を有する均一に分布したビーム密度に変換することが可能である。このような均一なビーム密度分布は、ガウスビーム密度分布よりも多くの利点を有し、特に、レーザによる材料加工、例えば、均一で、境界がシャープな材料除去に対して有利である。
図6は、レーザ光源11およびビームシェイパFを有するレーザ光学系10を概略的に示す。レーザ光源11は、z光軸に対してコリメートされ、z光軸に対して回転対称なガウスビーム密度プロファイルを有するレーザ光を放射するように設置されている。
第1および第2の光学素子1,2を有する本発明のビームシェイパFは、z光軸に沿って下流側に位置される。ワークピース12の加工表面12.1,12.2,12.3は、光学素子1,2の相対変位Δxに相互に依存する受光平面B,B'に配置される。この場合、第1の処理表面12.1は、光学素子1,2がシフトされていない(Δx=0)場合の零点位置の受光平面Bにある。第2の処理表面12.2は、正の相対変位Δx>0の場合の受光平面B'内にある。第3の処理表面12.3は、負の相対変位Δx<0の場合の受光平面B'内にある。
したがって、相対変位Δxを調整することによって、レーザ光学系10とワークピース11との間の異なる作業距離に対して、常に均一または均質なビーム密度分布を達成することができる。
これに加えて、またはこれに代えて、光学素子間の相対変位Δxを調整することによって、均一なビーム密度分布の矩形断面の広がりを変化させることができ、同時に、ワークピース12の処理表面12.1,12.2,12.3を、z光軸に沿った移動によって、対応する受光平面B,B'と整合させることも可能である。これにより、断面が矩形の均質なビーム密度分布のビーム密度を変化させることができる。したがって、例えば、特に簡単な方法でアブレーションレーザ加工する場合に、除去速度または除去深さを変更することが可能である。
1,2 第1,第2の光学素子
1.1, 2.1 自由曲面
1.2, 2.2 平坦面
1.1.1,2.1.1 基準点
10 レーザ光学系
11 レーザ源
12 ワークピース
12.1, 12.2, 12.3 第1,第2,第3の作業表面
AS 出力ビーム
B 受光平面
ES 入力ビーム
F ビームシェイパ
S ビーム
x 第1の軸
Δx 相対変位
y 第2の軸
z 光軸
Δz(x,y) 高さプロファイル
,y 入口点
x',y' 出口点

Claims (5)

  1. 光軸(z)に沿って互いに前後に配置される第1の光学素子(1)および第2の光学素子(2)を少なくとも有するビームシェイパ(F)であって、
    前記光学素子(1,2)は、それぞれ、少なくとも1つの光学的に機能する自由曲面(1.1,2.1)を有し、
    前記光学素子(1,2)は、前記光軸(z)に垂直な少なくとも1つの軸(x)に沿って互いに対して相対変位(Δx)で変位可能に配置され、
    光学的に機能する前記自由曲面(1.1,2.1)は、有限個の多項式次数においてゼロとは異なる多項式係数を有する多項式展開として記述される高さプロファイル(Δz(x,y))を有し、
    3より大きい多項式次数に割り当てられた少なくとも1つの多項式係数がゼロとは異なり、
    少なくとも2つの前記自由曲面(1.1,2.1)の前記高さプロファイル(Δz(x,y))は、ガウスビーム密度プロファイルを有し前記光軸(z)を中心に回転対称に分布する入力ビーム(ES)が、受光平面(B,B')において矩形断面内に制限され、前記光軸(z)を中心に前記矩形断面に渡って均一に分布する出力ビーム(AS)に回折されるように選択され、
    前記受光平面(B,B')の距離および制限された前記矩形断面の範囲が、少なくとも2つの前記光学素子(1,2)の前記相対変位(Δx)によって互いに関連して変更される、
    ことを特徴とするビームシェイパ(F)。
  2. 制限された前記矩形断面は正方形である、ことを特徴とする請求項1に記載のビームシェイパ(F)。
  3. 前記第1および第2の自由曲面(1.1,2.1)の前記高さプロファイル(Δz(x,y))は、前記光軸(z)を中心とする180度の回転に対して反対称に形成され、かつ、互いに対向して配置されている、ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のビームシェイパ(F)。
  4. 前記光学素子(1,2)がシリカガラスからなる、ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のビームシェイパ(F)。
  5. レーザ光源(11)と、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の光軸(z)に沿って下流に位置するビームシェイパ(F)とを備え、前記レーザ光源(11)は、前記光軸(z)を中心に回転対称なガウスビーム密度プロファイルを有するコリメートされたレーザ光を放射するように設置されている、ことを特徴とするレーザ光学系(10)。
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