JP6744791B2 - 表示装置、表示装置の補正方法、表示装置の製造方法、および表示装置の表示方法 - Google Patents

表示装置、表示装置の補正方法、表示装置の製造方法、および表示装置の表示方法 Download PDF

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Description

本開示は、表示装置、表示装置の補正方法、表示装置の製造方法、および表示装置の表示方法に関する。
電流駆動型の発光素子を用いた表示装置として、有機ＥＬディスプレイが知られている。この有機ＥＬディスプレイは、視野角特性が良好で、消費電力が少ないという利点を有するため、注目されている。
有機ＥＬディスプレイでは、通常、画素を構成する有機ＥＬ素子がマトリクス状に配置される。特に、アクティブマトリクス型の有機ＥＬディスプレイでは、次の走査（選択）まで有機ＥＬ素子を発光させることが可能であるため、デューティ比が上がってもディスプレイの輝度減少を招くようなことはない。従って、低電圧で駆動できるので、低消費電力化が可能となる。しかしながら、アクティブマトリクス型の有機ＥＬディスプレイでは、駆動トランジスタや有機ＥＬ素子の特性のばらつきに起因して、同じ輝度信号を与えても、各画素において有機ＥＬ素子の輝度が異なり、いわゆる輝度ムラが発生するという欠点がある。
従来の有機ＥＬディスプレイにおける輝度ムラの補正方法としては、予めメモリに格納された補正データを用いて輝度信号を補正することで画素ごとの特性の不均一を補償する方法が提案されている。
例えば、特許文献１には、有機ＥＬ素子と駆動トランジスタとを含む複数の画素を有する表示パネルにおいて、代表電流−電圧特性、各分割領域の輝度−電流特性、および各画素の輝度−電圧特性を求め、これらより求められた各画素の電流−電圧特性が代表電流−電圧特性となるような補正データを各画素について求める有機ＥＬ表示装置の製造方法が開示されている。これによれば、高精度な補正データが取得されるので、表示パネル面内の輝度不均一性を改善し寿命による輝度劣化のばらつきを抑制できる。
国際公開第２０１１／１１８１２４号
しかしながら、特許文献１に開示された有機ＥＬ表示装置では、予め算出された画素ごとの補正データ（ゲインおよびオフセット）は、制御回路のメモリに格納される。このため、高精度な補正データを確保しつつ表示パネルの解像度を上げていくと、補正データ量が膨大化し、また、輝度信号などのデータ転送レートが圧迫化されるという課題が発生する。特に、小型高精細化が要求されるタブレット端末などでは、上記課題が深刻となる。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、補正の精度を確保しつつ補正データ容量および転送レートが低減された表示装置、表示装置の補正方法、表示装置の製造方法、および表示装置の表示方法を提供することを目的とする。
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る表示装置の補正方法は、輝度信号に応じて発光する発光素子を有する画素がマトリクス状に配置された表示装置の輝度ムラを補正する表示装置の補正方法であって、前記画素に対応した複数の補正データ成分で構成され、前記輝度信号を補正するための第１補正データを予め取得する取得ステップと、前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成し、当該再構成された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する変換ステップと、前記第２補正データを用いて、前記輝度信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る表示装置の製造方法は、輝度信号に応じて発光する発光素子を有する画素がマトリクス状に配置された表示装置の製造方法であって、複数の前記画素が配置された表示パネルを形成する表示パネル形成ステップと、前記画素に対応した複数の補正データ成分で構成され、前記輝度信号を補正するための第１補正データを予め取得する取得ステップと、前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成し、当該再構成された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する変換ステップと、前記変換ステップの後、前記第２補正データを、前記表示装置が有するメモリに保存する保存ステップを含むことを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る表示装置の表示方法は、輝度信号に応じて発光する発光素子を有する画素がマトリクス状に配置された表示装置の表示方法であって、前記画素に対応した複数の補正データ成分で構成され、前記輝度信号を補正するための第１補正データを予め取得する取得ステップと、および、前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成し、当該再構成された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する変換ステップ、により取得された前記第２補正データを用いて、前記輝度信号を補正する補正ステップと、前記補正ステップで補正された前記輝度信号を前記画素に供給し、当該輝度信号に応じて前記発光素子を発光させることにより前記表示装置を表示する表示ステップを含むことを特徴とする。
また、本発明の一態様に係る表示装置は、輝度信号に応じて発光する発光素子を有する画素がマトリクス状に配置された表示装置であって、前記画素に対応した複数の補正データ成分で構成され、前記輝度信号を補正するための第１補正データを、各画素に対応した補正データ成分の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成し、当該再構成された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する変換部と、前記第２補正データを用いて、前記輝度信号を補正する補正部とを備えることを特徴とする。
本発明に係る表示装置、表示装置の補正方法、表示装置の製造方法、または表示装置の表示方法によれば、補正データ成分の誤差成分を周辺画素へ伝搬させてビット削減された補正データを用いて輝度信号が補正されるので、補正の精度を確保しつつ補正データ容量および転送レートを低減することが可能となる。
実施の形態１に係る表示装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態１に係る画素の回路構成の一例および周辺回路との接続を示す図である。 実施の形態１に係る表示装置が備える制御部の構成を示すブロック図である。 従来の表示装置が備える制御部の構成を示すブロック図である。 実施の形態１に係る表示装置と従来の表示装置との補正処理およびその結果を比較する図である。 実施の形態１に係る表示装置の補正方法を説明する動作フローチャートである。 第１補正データを取得するための測定システムのブロック図である。 製造工程において第２補正データを取得する情報処理装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態２に係る表示装置の製造方法を説明する動作フローチャートである。 第２補正データを用いて表示装置を表示する制御部の構成を示すブロック図である。 実施の形態３に係る表示装置の表示方法を説明する動作フローチャートである。 実施の形態１〜３のいずれかに係る表示装置を内蔵したタブレット端末の外観図である。
以下、表示装置およびその補正方法の実施の形態について、図面を用いて説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本開示における好ましい一具体例を示すものである。したがって、以下の実施の形態で示される、数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置および接続形態、工程、並びに、工程の順序などは、一例であって本発明を限定する主旨ではない。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明における最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。
なお、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。また、各図において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。
（実施の形態１）
［１．１ 表示装置の構成］
図１は、実施の形態１に係る表示装置１の構成を示すブロック図である。同図における表示装置１は、制御部１０と、データ線駆動回路２０と、走査線駆動回路３０と、表示部４０とを備える。制御部１０はメモリ１１を有する。なお、メモリ１１は、表示装置１内であって制御部１０の外部に配置されていてもよい。
制御部１０は、メモリ１１、データ線駆動回路２０および走査線駆動回路３０の制御を行う。メモリ１１には、例えば、表示装置１の製造工程の完了時において、処理後の補正データ（後述する第２補正データ）が保存される。
制御部１０は、表示動作時には、メモリ１１に書き込まれた第２補正データを読み出し、外部から入力された映像信号（輝度信号）を、第２補正データに基づいて補正して、データ線駆動回路２０へと出力する。
また、制御部１０は、例えば、製造工程において処理前の補正データ（後述する第１補正データ）を生成する場合には、例えば、外部の情報処理装置と通信することにより、当該情報処理装置の指示に従ってデータ線駆動回路２０および走査線駆動回路３０を駆動する。
また、制御部１０は、例えば、製造工程において処理前の補正データ（第１補正データ）を変換処理し、処理後の補正データ（第２補正データ）を生成し、当該処理後の補正データをメモリ１１に格納する。
表示部４０は、マトリクス状に配置された複数の画素４００を備え、外部から表示装置１へ入力された映像信号（輝度信号）に基づいて画像を表示する。
図２は、実施の形態１に係る画素４００の回路構成の一例および周辺回路との接続を示す図である。同図における画素４００は、走査線４１２と、データ線４１１と、電源線４２１と、選択トランジスタ４０３と、駆動トランジスタ４０２と、有機ＥＬ素子４０１と、保持容量素子４０４と、共通電極４２２とを備える。また、周辺回路は、データ線駆動回路２０と、走査線駆動回路３０とを備える。
走査線駆動回路３０は、走査線４１２に接続されており、画素４００の選択トランジスタ４０３の導通および非導通を制御する。
データ線駆動回路２０は、データ線４１１に接続されており、第２補正データを用いて補正された輝度信号であるデータ電圧を出力して、駆動トランジスタ４０２に流れる信号電流を決定する機能を有する。
選択トランジスタ４０３は、ゲート端子が走査線４１２に接続されており、データ線４１１のデータ電圧を駆動トランジスタ４０２のゲート端子に供給するタイミングを制御する。
駆動トランジスタ４０２は、ゲート端子が選択トランジスタ４０３を介してデータ線４１１に接続され、ソース端子が有機ＥＬ素子４０１のアノード端子に接続され、ドレイン端子が電源線４２１に接続されている。これにより、駆動トランジスタ４０２は、ゲート端子に供給されたデータ電圧を、当該データ電圧に対応した信号電流に変換し、変換された信号電流を有機ＥＬ素子４０１に供給する。
有機ＥＬ素子４０１は、発光素子として機能し、有機ＥＬ素子４０１のカソード端子は、共通電極４２２に接続されている。
保持容量素子４０４は、電源線４２１と駆動トランジスタ４０２のゲート端子との間に接続されている。保持容量素子４０４は、例えば、選択トランジスタ４０３がオフ状態となった後も、直前のゲート電圧を維持し、継続して駆動トランジスタ４０２から有機ＥＬ素子４０１へ駆動電流を供給させることが可能である。
なお、図１および図２には記載されていないが、電源線４２１は電源に接続されている。また、共通電極４２２も電源に接続されている。
データ線駆動回路２０から供給されたデータ電圧は、選択トランジスタ４０３を介して駆動トランジスタ４０２のゲート端子へと印加される。駆動トランジスタ４０２は、そのデータ電圧に応じた電流を、ソース−ドレイン端子間に流す。この電流が、有機ＥＬ素子４０１へと流れることにより、その電流に応じた発光輝度で、有機ＥＬ素子４０１が発光する。
なお、図２に示された画素４００の回路構成において、各回路素子を接続する経路の間に別の回路素子および配線などが挿入されていてもよい。
［１．２ 制御部の構成］
図３は、実施の形態１に係る表示装置１が備える制御部１０の構成を示すブロック図である。同図に示された制御部１０は、メモリ１１と、変換部１２と、補正部１３とを備える。
変換部１２は、画素ごとの補正データ成分を有する処理前の補正データ（第１補正データ）について、各画素に対応した補正データ成分を量子化する際に発生する誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成し、当該再構成された各画素の補正データ成分をビット削減した第２補正データへと変換する。
補正部１３は、上記第２補正データを用いて、輝度信号を補正する。輝度信号とは、画素の有する発光素子を発光させるために、当該画素に印加される電気信号である。より具体的には、本実施の形態では、輝度信号とは、画素４００が有する有機ＥＬ素子４０１を発光させるために、データ線駆動回路２０から駆動トランジスタ４０２のゲートに印加されるデータ電圧のことである。
ここで、処理前の補正データ（第１補正データ）について説明する。第１補正データとは、例えば、外部から表示装置１に送信される映像信号に基づいて表示部４０の各画素４００が発光する際の輝度ムラを低減させるためのデータである。より具体的には、補正データは、例えば、画素４００に対応させてゲイン補正値およびオフセット補正値という２つの補正パラメータで構成されている。なお、上記補正データは、画素４００に対応していなくてもよく、複数の隣接画素の集合体である画素グループごとに対応していてもよい。
図４は、従来の表示装置が備える制御部５００の構成を示すブロック図である。同図に示された従来の制御部５００は、メモリ５１２と、輝度信号補正部５３１とを備える。従来の表示装置では、制御部５００は、第１補正データを予めメモリ５１２に保存する。また、制御部５００は、映像信号を変換して画素ごとの輝度信号（補正前輝度信号）を生成する。輝度信号補正部５３１は、メモリ５１２から第１補正データを読み出し、上記補正前輝度信号に対して、第１補正データのゲイン補正値を乗算（または除算）し、第１補正データのオフセット補正値を加算（または減算）することで、補正前輝度信号を補正する。制御部５００は、このようにして得られた補正後の輝度信号を、所定のタイミングでデータ線駆動回路へと出力する。これにより、表示部における輝度ムラが低減される。
上記従来の表示装置では、表示部の解像度を上げていくにつれ、メモリ５１２に格納すべき補正データ量は膨大化し、また、輝度信号などのデータ転送レートは上昇して圧迫化されるという課題が発生する。特に、小型高精細化が要求されるタブレット端末では、大容量のメモリを確保することが困難であり、コストアップにも繋がる。
これに対して、本実施の形態に係る表示装置１では、上述した第１補正データ（処理前の補正データ）により輝度信号が補正されるのではなく、処理前の補正データ（第１補正データ）を軽量処理することで取得された処理後の補正データ（第２補正データ）により輝度信号が補正される。以下、本実施の形態に係る表示装置１において、第１補正データから第２補正データを生成するための構成について説明する。
変換部１２は、閾値決定部１２１と、ビット削減部１２２とを備え、第１補正データを構成する各画素の補正データ成分の誤差成分を、当該各画素の周辺画素へ伝搬させて第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を再構成し、当該再構成された第１補正データの補正データ成分をビット削減して第２補正データへと変換する。
閾値決定部１２１は、第１補正データを構成する複数の補正データ成分の分布に基づいて、後続するビット削減部１２２でビット削減する際に使用される閾値を決定する。
ビット削減部１２２は、閾値決定部１２１で決定された閾値に基づいて、第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を量子化し、その際の誤差成分を、当該各画素の周辺画素へ伝搬させて第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を再構成し、当該再構成された第１補正データの補正データ成分をビット削減して第２補正データを生成する。より具体的には、ビット削減部１２２は、上記閾値に基づいて、第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を、当該補正データ成分のビット数よりも小さなビット数を有する補正データ成分へとビット削減する。
なお、ビット削減部１２２は、閾値決定部１２１で決定された閾値に基づいて、上記再構成された第１補正データの補正データ成分を２値化（“０”または“１”と）してもよい。この場合には、補正データを最軽量化することが可能となる。
第１補正データを構成する各画素の補正データ成分の誤差成分を、当該各画素の周辺画素へ伝搬させて第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を再構成する量子化手法としては、例えば、誤差拡散法が用いられる。その他、上記手法として、ランダムディザ法およびパタンディザ法などに代表されるディザ法などが適用される。ビット削減部１２２における処理として誤差拡散法を用いることにより、輝度信号の補正精度を確保することが可能となる。
メモリ１１は、変換部１２により第１補正データが変換されて生成された第２補正データを保存する。第２補正データは、第１補正データがビット削減されたものであるため、第１補正データに比べて容量が小さい。表示部４０の解像度が上がるにつれ、変換部１２により軽量化された第２補正データを格納するメモリ１１の容量低減化の効果が顕著となる。記録媒体として過度な大容量および長寿命を必要としないという観点から、メモリ１１としては、例えば、フラッシュメモリなどの不揮発性メモリを適用することが可能である。
補正部１３は、データ展開部１３２と、輝度信号補正部１３１とを備える。
データ展開部１３２は、例えば、ＤＲＡＭなどの揮発性の第１メモリと演算回路とで構成される。データ展開部１３２は、メモリ１１から第２補正データを読み出して第１メモリに一時保存する。ここで、第１メモリ内（または外部）に設けられた、ＳＲＡＭに例示される第２メモリには、閾値決定部１２１で決定された閾値データおよび第１補正データが量子化された離散値の少なくとも一方が保存されている。演算回路は、第１メモリに確保された第２補正データを、第２メモリに保存された閾値データおよび上記離散値の少なくとも一方を用いて、メモリ１１に保存された第２補正データのビット数よりも大きいビット数を有する補正データ（離散値）へと展開してもよい。つまり、補正部１３は、第２補正データを、上記閾値データおよび上記離散値の少なくとも一方を用いて、第２補正データよりも高ビットのデータへと展開し、第１補正データに対してビット圧縮された補正データを用いて輝度信号を補正する。なお、本実施の形態に係る制御部１０では、データ展開部１３２は、必須の構成要素ではない。
ただし、ビット削減部１２２における第１補正データのビット削減率が高いほど、第２補正データの補正精度は低下するため、当該ビット削減率が高い場合には、データ展開部１３２が設けられることが好ましい。
輝度信号補正部１３１は、データ展開部１３２で展開された第２補正データを用いて、画素４００に対応した輝度信号を補正する。以下、輝度信号補正部１３１における輝度信号の補正処理の一例を示す。
輝度信号補正部１３１は、第２補正データ（ゲイン補正値、オフセット補正値）のうち、補正前輝度信号に対応するデータ電圧にゲイン補正値を乗算（または除算）し、当該乗算値にオフセット補正値を加算（または減算）して、データ線駆動回路２０に出力する。これにより、輝度補正の精度を確保しつつ補正データ容量および転送レートを低減することが可能となる。
ここで、変換部１２の具体的処理について、図５を用いて詳細に説明する。
図５は、実施の形態１に係る表示装置１と従来の表示装置との補正処理およびその結果を比較する図である。同図の左側に示された表示画像は、表示部全体を同一輝度で発光させようとした場合であって補正無しの輝度信号で表示部を表示した場合の画像の一例である。これに対して、図５の右上部に示された表示画像は、本実施の形態に係る表示装置１の制御部１０により処理された補正後の輝度信号で表示部を表示した場合の画像である。また、図５の右下部に示された表示画像は、従来の表示装置の制御部５００により処理された補正後の輝度信号で表示部を表示した場合の画像である。
また、図５における、本実施の形態に係る表示装置１による表示画像は、変換部１２が誤差拡散処理およびビット削減処理により生成した第２補正データを用いて補正されたものである。図５に記載された第１補正データは、例えば、画素ごとのゲイン補正値（補正データ成分）がマトリクス状に表されている。本実施の形態に係る表示装置１では、この第１補正データを誤差拡散させる。以下、図５に示された誤差拡散中の補正データを用いて説明する。なお、説明の便宜上、図５には、誤差拡散中の補正データは、４×４の補正データ成分で構成されたものとして表されており、補正データ成分を（行、列）で表している。例えば、左上の補正データ成分を（１、１）と表し、右下の補正データ成分を（４、４）と表す。
まず、誤差拡散処理の前段階として、閾値決定部１２１は、第１補正データの各補正データ成分の分布状態から、閾値（＝１．０１２）、切下値（＝０．８９３）、および切上値（＝１．１３０）を決定する。ここで、切下値および切上値のそれぞれは、第１補正データ（の補正データ成分）が量子化された離散値である。
次に、ビット削減部１２２は、第１補正データの補正データ成分（１、１）と閾値とを比較し（０．９９９＜１．０１２）、誤差拡散処理後の補正データ成分（１、１）を、上記離散値である切下値（０．８９３）に置き換える。そして、補正データ成分（１、１）の２値化データを“０”とすることで補正データ成分（１、１）を量子化する。次に、ビット削減部１２２は、補正データ成分（１、１）における処理前データ（０．９９９）と処理後データ（０．８９３）との差分（誤差成分）（０．１０６）を所定の重み付けで配分した配分値（０．０４６＝０．１０６×７／１６）が、第１補正データの補正データ成分（１、２）に加算された値（１．０５２＝１．００５８＋０．０４６）と閾値とを比較する（１．０５２＞１．０１２）。この結果より、誤差拡散処理後の補正データ成分（１、２）を、上記離散値である切上値（１．１３０）に置き換える。そして、補正データ成分（１、２）の２値化データを“１”とすることで補正データ成分（１、２）を量子化する。次に、ビット削減部１２２は、補正データ成分（１、２）における処理前データ（１．００５８）と処理後データ（１．１３０）との差分（−０．１２４）を所定の重み付けで配分した配分値（−０．０５４＝−０．１２４×７／１６）が、第１補正データの補正データ成分（１、３）に加算された値（０．９７１４）と閾値とを比較する（０．９７１４＜１．０１２）。この結果より、誤差拡散処理後の補正データ成分（１、３）を、上記離散値である切下値（０．８９３）に置き換え、その２値化データを“０”とすることで補正データ成分（１、３）を量子化する。以下、図５の誤差拡散中の補正データには、補正データ成分（１、２）を周辺画素の補正データ成分（２、１）、（２、２）、および（２、３）に拡散させた段階までのデータが表されている。以下、同様にして、全ての補正データ成分について誤差拡散処理を行うことにより、図５に表されたような２値化（量子化）された第２補正データが生成される。なお、図５の誤差拡散処理中の補正データでは、補正データ成分（１、４）、（２、４）、および（３、１）〜（４、４）は、拡散処理前の値が表されている。
以上のように、ビット削減部１２２は、誤差拡散処理を適用することにより、閾値決定部１２１で決定された閾値に基づいて、第１補正データを構成する各画素の補正データ成分（１、１）〜（４、４）を量子化し、その際の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を再構成し、当該再構成された第１補正データの補正データ成分をビット削減して第２補正データを生成する。上記例では、ビット削減部１２２は、上記閾値に基づいて、第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を、２値化によりビット削減している。
次に、データ展開部１３２は、２値化（量子化）された第２補正データを読み出して第１メモリに一時保存し、当該第２補正データを、閾値（＝１．０１２）ならびに切下値（＝０．８９３）および切上値（＝１．１３０）を用いて、第２補正データのビット数よりも大きいビット数を有する補正データ（離散値）へと展開する。より具体的には、図５の第２補正データ（展開後）に示されたように、データ展開部１３２は、第２補正データ成分（１、１）である“０”を、閾値（＝１．０１２）および切下値（＝０．８９３）を用いて、切下値（＝０．８９３）へと展開する。また、第２補正データ成分（１、２）である“１”を、閾値（＝１．０１２）および切上値（＝１．１３０）を用いて、切上値（＝１．１３０）へと展開する。
なお、本実施の形態では、第２補正データを１ビット（“０”または“１”）にビット削減する例を示したが、これに限られない。第２補正データを２ビット以上にビット削減する場合には、データ展開部１３２は、閾値データまたは第１補正データの補正データ成分が量子化された離散値のいずれかのみを用いて、第２補正データのビット数よりも大きいビット数を有する補正データ（離散値）へと展開してもよい。
例えば、第２補正データが３ビットの場合、閾値が０．９１０、０．９４４、０．９７８、１．０１２、１．０４５、１．０７９、および１．１１３であり、第１補正データが量子化された離散値（２ビットの場合の切上値および切下値に対応）が、０．８９３（“０”）、０．９２７（“１”）、０．９６１（“２”）、０．９９５（“３”）、１．０２８（“４”）、１．０６２（“５”）、１．０９６（“６”）、１．１３０（“７”）であるとする。この場合、データ展開部１３２は、“０”〜“７”へ量子化された第２補正データの各補正データ成分を読み出して第１メモリに一時保存し、当該第２補正データの各補正データ成分を、上記７つの閾値のみを用いて、第２補正データのビット数よりも大きいビット数（４ビット以上）を有する補正データ成分（離散値）へと展開することが可能である。例えば、第２補正データの補正データ成分（１、１）が“２”の場合、展開された補正データ成分（１、１）は、閾値０．９４４と閾値０．９７８との間の離散値と判断され、０．９６１（“２”）が算出される。また、第２補正データの補正データ成分（１、２）が“０”の場合、展開された補正データ成分（１、２）は、閾値０．９１０よりも小さい離散値をとり、０．９１０−（０．９４４−０．９１０）／２（０．９１０から閾値間隔の半分を減算する）により、０．８９３（“０”）が算出される。
また、データ展開部１３２は、“０”〜“７”へ量子化された第２補正データの各補正データ成分を読み出して第１メモリに一時保存し、当該第２補正データの各補正データ成分を、上記７つの離散値のみを用いて、第２補正データのビット数よりも大きいビット数（４ビット以上）を有する補正データ成分（離散値）へと展開することが可能である。例えば、第２補正データの補正データ成分（１、１）が“１”の場合、展開された補正データ成分（１、１）は、２番目に大きい０．９２７（“１”）と算出される。また、第２補正データの補正データ成分（１、２）が“５”の場合、展開された補正データ成分（１、２）は、６番目に大きい１．０６２（“５”）と算出される。
また、データ展開部１３２は、“０”〜“７”へ量子化された第２補正データの各補正データ成分を読み出して第１メモリに一時保存し、当該第２補正データの各補正データ成分を、上記７つの離散値のうちの最大値および最小値のみを用いて、第２補正データのビット数よりも大きいビット数（４ビット以上）を有する補正データ（離散値）へと展開することが可能である。例えば、上記最大値および上記最小値と第２補正データのビット数（３ビット）とを用いて、上記７つの離散値を算出することが可能である。これにより、例えば、第２補正データの補正データ成分（１、１）が“１”の場合、展開された補正データ成分（１、１）は、２番目に大きい０．９２７（“１”）と算出される。また、第２補正データの補正データ成分（１、２）が“５”の場合、展開された補正データ成分（１、２）は、６番目に大きい１．０６２（“５”）と算出される。なお、上記最大値および上記最小値と第２補正データのビット数（３ビット）とを用いて、上記７つの離散値を算出する場合、７つの離散値を均等割で算出するほか、重み付けを施した配列やランダム配列などとすることも可能となる。
図５より、本実施の形態の制御部１０および従来の制御部５００により補正された輝度信号により表示された表示画像は、いずれも、補正無しの輝度信号による表示画像と比較して、輝度ムラが大幅に低減されていることが判る。ただし、本実施の形態の制御部１０による表示画像と従来の制御部５００による表示画像とは、補正データのビット数が異なっている。つまり、本実施の形態の制御部１０によりビット削減された第２補正データの方が、従来の制御部５００で用いられる第１補正データよりもデータ容量が小さい。よって、本実施の形態に係る表示装置１によれば、表示部の画素数が増加しても、輝度補正の精度を確保しつつ補正データ容量および転送レートを低減することが可能となる。
なお、本実施の形態に係る表示装置１において、変換部１２および補正部１３は、集積回路であるＩＣ、ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）として実現されてもよい。また、集積回路化の手法は、専用回路または汎用プロセッサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサを利用しても良い。さらには、半導体技術の進歩または派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。また、変換部１２および補正部１３は、上記エンコード処理およびデコード処理を実行させるプログラムとして実現したり、当該プログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な非一時的な記録媒体、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ（登録商標） Ｄｉｓｃ）、半導体メモリとして実現したりすることもできる。そして、そのようなプログラムは、ＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体およびインターネット等の伝送媒体を介して流通させることができるのは言うまでもない。
［１．３ 表示装置の補正方法］
次に、本実施の形態に係る表示装置１の補正方法について説明する。
図６は、実施の形態１に係る表示装置１の補正方法を説明する動作フローチャートである。図６には、表示装置１の有する制御部１０が、第２補正データにより輝度信号を補正するまでの工程が示されている。以下、図６に従って、補正工程を説明していく。
まず、制御部１０は、有機ＥＬ素子４０１を所定の輝度で発光させるための輝度信号を補正するための第１補正データ（処理前の補正データ）を予め取得する（Ｓ１０：取得ステップ）。第１補正データ（処理前の補正データ）は、既に説明したように、例えば、画素４００に対応したゲイン補正値およびオフセット補正値という２つの補正パラメータで構成されている。
ここで、第１補正パラメータの取得方法について、例示する。
図７は、第１補正データを取得するための測定システムのブロック図である。同図に示された測定システムは、情報処理装置２と、撮像装置３と、表示部４０と、制御部１０とを備える。
情報処理装置２は、演算部２０１と、記憶部２０２と、通信部２０３とを備え、第１補正パラメータを生成するまでの工程を制御する機能を有する。情報処理装置２としては、例えば、パーソナルコンピュータが適用される。
撮像装置３は、通信部２０３からの制御信号により、表示部４０を撮像し、撮像された画像データを通信部２０３へ出力する。撮像装置３としては、例えば、ＣＣＤカメラや輝度計が適用される。
情報処理装置２は、表示装置１の制御部１０および撮像装置３へ通信部２０３を介して制御信号を出力し、制御部１０および撮像装置３から測定データを取得して当該測定データを記憶部２０２に格納し、格納された測定データをもとに演算部２０１で演算して各種特性値やパラメータを算出する。なお、制御部１０は、表示装置１に内蔵されない制御回路を使用してもよい。
具体的には、情報処理装置２は、測定画素へ与える電圧値の制御を行う。制御部１０は、上記電圧値を測定画素に印加し、当該測定画素を発光させる。撮像装置３は、発光した測定画素の輝度値を測定する。情報処理装置２は、電圧値と測定輝度値とを受信する。情報処理装置２は、測定画素へ与える電圧値を変化させて、同様の制御を行い、異なる電圧値と当該電圧値に対する測定輝度値とを受信する。情報処理装置２がこれを繰り返すことにより、演算部２０１は、測定画素ごとの電圧−輝度特性を算出し、当該電圧−輝度特性と基準となる電圧−輝度特性とを比較して、測定画素ごとの補正パラメータ（ゲイン補正値およびオフセット補正値）を算出する。
制御部１０は、演算部２０１で算出された上記補正パラメータを第１補正データとして、通信部２０３を介して受信する。
以上の工程により、制御部１０は、輝度信号を補正するための第１補正データを予め取得する。
次に、制御部１０は、第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分を量子化し、その際の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成する（Ｓ２０）。
次に、制御部１０は、再構成された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する（Ｓ３０）。ステップＳ２０およびＳ３０は、制御部１０の変換部１２が行う変換ステップである。
次に、制御部１０は、第２補正データを、表示装置１が有するメモリ１１に予め保存する（Ｓ４０：保存ステップ）。
次に、制御部１０は、メモリ１１から第２補正データを読み出し、ステップＳ３０でビット削減の基準値とした閾値を用いて、第２補正データのビット数よりも大きいビット数を有する補正データへと展開する（Ｓ５０）。
なお、ステップＳ５０における上記展開処理は、必須の工程ではない。ただし、ステップＳ３０における第１補正データのビット削減率が高いほど、第２補正データの補正精度は低下するため、当該ビット削減率が高い場合には、上記展開処理を行うことが好ましい。
次に、制御部１０は、上記第２補正データを用いて、輝度信号を補正する（Ｓ６０：補正ステップ）。
以上の本実施の形態に係る表示装置１の補正方法によれば、第１補正データ（処理前の補正データ）により輝度信号が補正されるのではなく、上記ステップＳ２０およびＳ３０での処理がなされた第２補正データにより輝度信号が補正される。また、メモリ１１には、第１補正データが変換されて生成された第２補正データが保存される。第２補正データは、第１補正データがビット削減されたものであるため、第１補正データに比べて容量が小さい。これにより、表示部４０の解像度が上がるにつれ、軽量化された第２補正データを格納するメモリ１１の容量低減化の効果が顕著となる。よって、輝度補正の精度を確保しつつ補正データ容量および転送レートを低減することが可能となる。
なお、ステップＳ２０において、第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成する手法として、誤差拡散法を用いてもよい。誤差拡散法を用いることにより、輝度信号の補正精度を確保することが可能となる。なお、誤差拡散法のほか、例えば、ランダムディザ法およびパタンディザ法などに代表されるディザ法などを適用してもよい。
また、第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成する際に、第１補正データを構成する補正データ成分の分布状態により決定された閾値に基づいて、補正データ成分を量子化し、その際の誤差成分により補正データ成分を再構成してもよい。
また、ステップＳ３０において、第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成された各画素の補正データ成分を、２値化処理によりビット削減してもよい。この場合には、第２補正データを最軽量化することが可能となる。
（実施の形態２）
実施の形態１では、第１補正データを取得し、当該第１補正データから第２補正データを生成し、当該第２補正データで輝度信号を補正するまでの表示装置１の補正方法について説明した。これに対して、本実施の形態では、上記第１補正データから第２補正データを生成し、当該第２補正データを表示装置１のメモリ１１に格納するまでの表示装置１の製造方法について説明する。つまり、本実施の形態に係る表示装置１の製造方法は、実施の形態１に係る表示装置１の補正方法が、輝度信号を第２補正データで補正するまでの工程を含むのに対して、第２補正データをメモリ１１に格納するまでの工程を含む点が異なる。以下、実施の形態１に係る表示装置１およびその補正方法と同じ構成については説明を省略し、異なる点を中心に説明をする。
［２．１ 製造工程における情報処理装置の構成］
図８は、製造工程において第２補正データを取得する情報処理装置２Ａの構成を示すブロック図である。同図に示された情報処理装置２Ａは、表示装置１の製造工程において使用されるものであり、変換部１２Ａを備える。
変換部１２Ａは、閾値決定部１２１Ａと、ビット削減部１２２Ａとを備え、第１補正データを構成する各画素の補正データ成分の誤差成分を、当該各画素の周辺画素へ伝搬させて第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を再構成し、当該再構成された第１補正データの補正データ成分をビット削減して第２補正データへと変換する。
閾値決定部１２１Ａは、第１補正データを構成する複数の補正データ成分の分布に基づいて、後続するビット削減部１２２Ａでビット削減する際に使用される閾値を決定する。
ビット削減部１２２Ａは、閾値決定部１２１Ａで決定された閾値に基づいて、第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を量子化し、その際の誤差成分を、当該各画素の周辺画素へ伝搬させて第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を再構成し、当該再構成された第１補正データの補正データ成分をビット削減して第２補正データを生成する。より具体的には、ビット削減部１２２Ａは、上記閾値に基づいて、第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を、当該補正データ成分のビット数よりも小さなビット数を有する補正データ成分へとビット削減する。
なお、ビット削減部１２２Ａは、閾値決定部１２１Ａで決定された閾値に基づいて、上記再構成された第１補正データの補正データ成分を２値化（“０”または“１”と）してもよい。この場合には、補正データを最軽量化することが可能となる。
第１補正データを構成する各画素の補正データ成分の誤差成分を、当該各画素の周辺画素へ伝搬させて第１補正データを構成する各画素の補正データ成分を再構成する量子化手法としては、例えば、誤差拡散法が用いられる。その他、上記手法として、ランダムディザ法およびパタンディザ法などに代表されるディザ法などが適用される。ビット削減部１２２における処理として誤差拡散法を用いることにより、輝度信号の補正精度を確保することが可能となる。
なお、第１補正データは、実施の形態１の図７に示された情報処理装置２により取得されてもよい。このとき、実施の形態１に係る情報処理装置２と、本実施の形態に係る情報処理装置２Ａとが、同じ装置であって双方の機能を兼ね備えていてもよい。つまり、本実施の形態に係る情報処理装置２Ａは、変換部１２Ａのほか、演算部２０１と、記憶部２０２と、通信部２０３とを備えていてもよい。また、第１補正データは、予め情報処理装置２Ａに与えられていてもよい。
［２．２ 表示装置の製造方法］
図９は、実施の形態２に係る表示装置１の製造方法を説明する動作フローチャートである。図９には、表示装置１の有する表示パネルを形成する工程から、第２補正データをメモリに格納する工程までが示されている。以下、図９に従って、製造工程を説明していく。
まず、表示装置１を構成する表示パネルを形成する（Ｓ１００：表示パネル形成ステップ）。以下、表示パネルの形成工程を例示する。例えば、ＴＦＴなどの回路素子を含む基板上に、絶縁性の有機材料からなる平坦化膜を形成し、その後、当該平坦化膜上に陽極を形成する。次に、陽極上に、例えば、正孔注入層を形成する。次に、正孔注入層の上に、発光層を形成する。次に、発光層の上に、電子注入層を形成する。続いて、電子注入層が形成された基板上に、陰極を形成する。これらの工程により、発光素子としての機能をもつ有機ＥＬ素子が形成される。さらに、陰極の上に、薄膜封止層を形成する。次に、薄膜封止層の表面に、封止用樹脂層を塗布する。その後、塗布された封止用樹脂層上に、カラーフィルタを形成する。次に、カラーフィルタの上に、接着層及び透明基板を配置する。なお、薄膜封止層、封止用樹脂層、接着層及び透明基板は、保護層に相当する。最後に、透明基板を上面側から下方に加圧しつつ熱またはエネルギー線を付加して封止用樹脂層を硬化し、透明基板、接着層及びカラーフィルタと薄膜封止層とを接着する。上記形成工程により、表示パネルが形成される。
次に、情報処理装置２Ａは、有機ＥＬ素子４０１を所定の輝度で発光させるための輝度信号を補正するための第１補正データ（処理前の補正データ）を予め取得する（Ｓ１１０：取得ステップ）。第１補正データ（処理前の補正データ）は、既に説明したように、例えば、画素４００に対応したゲイン補正値およびオフセット補正値という２つの補正パラメータで構成されている。第１補正パラメータの取得方法については、実施の形態１の図７で説明した情報処理装置２により取得されてもよいし、また、例えば、同一バッチで製造された表示パネルの第１補正パラメータを流用してもよい。
次に、情報処理装置２Ａは、第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分を量子化し、その際の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成する（Ｓ１２０）。
次に、情報処理装置２Ａは、再構成された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する（Ｓ１３０）。ステップＳ１２０およびＳ１３０は、情報処理装置２Ａの変換部１２Ａが行う変換ステップである。
次に、情報処理装置２Ａは、第２補正データを、表示装置１が有するメモリ１１に予め保存する（Ｓ１４０：保存ステップ）。
以上の本実施の形態に係る表示装置１の補正方法によれば、第１補正データ（処理前の補正データ）がメモリ１１に保存されるのではなく、上記ステップＳ１２０およびＳ１３０での処理がなされた第２補正データがメモリ１１に保存される。第２補正データは、第１補正データがビット削減されたものであるため、第１補正データに比べて容量が小さい。これにより、表示部４０の解像度が上がるにつれ、軽量化された第２補正データを格納するメモリ１１の容量低減化の効果が顕著となる。よって、輝度補正の精度を確保しつつ補正データ容量および転送レートを低減することが可能となる。
なお、ステップＳ１２０において、第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成する手法として、誤差拡散法を用いてもよい。誤差拡散法を用いることにより、輝度信号の補正精度を確保することが可能となる。なお、誤差拡散法のほか、例えば、ランダムディザ法およびパタンディザ法などに代表されるディザ法などを適用してもよい。
また、第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成する際に、第１補正データを構成する補正データ成分の分布状態により決定された閾値に基づいて、補正データ成分を量子化し、その際の誤差成分により補正データ成分を再構成してもよい。
また、ステップＳ１３０において、第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成された各画素の補正データ成分を、２値化処理によりビット削減してもよい。この場合には、第２補正データを最軽量化することが可能となる。
また、情報処理装置２Ａは、表示装置１を構成する制御部１０が内蔵していてもよく、製造工程において、制御部１０が第２補正データを取得しメモリ１１に格納してもよい。
（実施の形態３）
実施の形態１では、第１補正データを取得し、当該第１補正データから第２補正データを生成し、当該第２補正データで輝度信号を補正するまでの表示装置１の補正方法について説明した。これに対して、本実施の形態では、上記第２補正データを読み出し、当該第２補正データにより輝度信号を補正し、当該補正された輝度信号により画素表示させるまでの表示装置１の表示方法について説明する。つまり、本実施の形態に係る表示装置１の製造方法は、実施の形態２に係る表示装置１の製造方法が、第２補正データをメモリ１１に格納するまでの工程を含むのに対して、格納された第２補正データを読み出す工程から画素表示する工程までを含む点が異なる。以下、実施の形態１に係る表示装置１およびその補正方法と同じ構成については説明を省略し、異なる点を中心に説明をする。
［３．１ 制御部の構成］
図１０は、第２補正データを用いて表示装置１を表示する制御部１０の構成を示すブロック図である。同図に示された制御部１０は、メモリ１１と、補正部１３とを備える。
補正部１３は、上記第２補正データを用いて、輝度信号を補正する。輝度信号とは、画素の有する発光素子を発光させるために、当該画素に印加される電気信号である。より具体的には、本実施の形態では、輝度信号とは、画素４００が有する有機ＥＬ素子４０１を発光させるために、データ線駆動回路２０から駆動トランジスタ４０２のゲートに印加されるデータ電圧のことである。
ここで、本実施の形態に係る表示方法では、上述した第１補正データ（処理前の補正データ）により輝度信号が補正されるのではなく、処理前の補正データ（第１補正データ）を軽量処理することで取得された処理後の補正データ（第２補正データ）により輝度信号が補正される。第２補正データは、第１補正データがビット削減されたものであるため、第１補正データに比べて容量が小さい。
これにより、表示部４０の解像度が上がるにつれ、第１補正データよりも軽量化された第２補正データを格納するメモリ１１の容量低減化の効果が顕著となる。記録媒体として過度な大容量および長寿命を必要としないという観点から、メモリ１１としては、例えば、フラッシュメモリなどの不揮発性メモリを適用することが可能である。
補正部１３は、データ展開部１３２と、輝度信号補正部１３１とを備える。
データ展開部１３２は、例えば、ＤＲＡＭなどの揮発性の第１メモリと演算回路とで構成される。データ展開部１３２は、メモリ１１から第２補正データを読み出して第１メモリに一時保存する。ここで、第１メモリ内（または外部）に設けられた、ＳＲＡＭに例示される第２メモリには、閾値決定部１２１で決定された閾値データおよび第１補正データが量子化された離散値の少なくとも一方が保存されている。演算回路は、第１メモリに確保された第２補正データを、第２メモリに保存された閾値データおよび上記離散値の少なくとも一方を用いて、メモリ１１に保存された第２補正データのビット数よりも大きいビット数を有する補正データ（離散値）へと展開してもよい。つまり、補正部１３は、第２補正データを、上記閾値データおよび上記離散値の少なくとも一方を用いて、第２補正データよりも高ビットのデータへと展開し、第１補正データに対してビット圧縮された補正データを用いて輝度信号を補正する。なお、本実施の形態に係る制御部１０では、データ展開部１３２は、必須の構成要素ではない。
ただし、第１補正データのビット削減率が高いほど、第２補正データの補正精度は低下するため、当該ビット削減率が高い場合には、データ展開部１３２が設けられることが好ましい。
輝度信号補正部１３１は、データ展開部１３２で展開された第２補正データを用いて、画素４００に対応した輝度信号を補正する。以下、輝度信号補正部１３１における輝度信号の補正処理の一例を示す。
輝度信号補正部１３１は、第２補正データ（ゲイン補正値、オフセット補正値）のうち、補正前輝度信号に対応するデータ電圧にゲイン補正値を乗算（または除算）し、当該乗算値にオフセット補正値を加算（または減算）して、データ線駆動回路２０に出力する。これにより、輝度補正の精度を確保しつつ補正データ容量および転送レートを低減することが可能となる。
［３．２ 表示装置の表示方法］
図１１は、実施の形態３に係る表示装置１の表示方法を説明する動作フローチャートである。図１１には、表示装置１の有する制御部１０が、第２補正データを読み出す工程から輝度信号を補正して画素表示する工程までが示されている。以下、図１１に従って、補正工程を説明していく。
まず、制御部１０は、メモリ１１から第２補正データを読み出し、ビット削減の基準値とした閾値および第１補正データが量子化された離散値の少なくとも一方を用いて、第２補正データのビット数よりも大きいビット数を有する補正データへと展開する（Ｓ２５０）。
なお、ステップＳ２５０における上記展開処理は、必須の工程ではない。ただし、第１補正データのビット削減率が高いほど、第２補正データの補正精度は低下するため、当該ビット削減率が高い場合には、上記展開処理を行うことが好ましい。
次に、制御部１０は、上記第２補正データを用いて、輝度信号を補正する（Ｓ２６０：補正ステップ）。
最後に、制御部１０は、上記補正ステップで補正された輝度信号を各画素４００に供給し、当該輝度信号に応じて有機ＥＬ素子４０１を発光させることにより表示装置１を表示する（Ｓ２７０：表示ステップ）。
以上の本実施の形態に係る表示装置１の表示方法によれば、第１補正データ（処理前の補正データ）により輝度信号が補正されるのではなく、ビット削減された第２補正データにより輝度信号が補正される。また、メモリ１１には、第１補正データが変換されて生成された第２補正データが保存されている。第２補正データは、第１補正データがビット削減されたものであるため、第１補正データに比べて容量が小さい。これにより、表示部４０の解像度が上がるにつれ、軽量化された第２補正データを格納するメモリ１１の容量低減化の効果が顕著となる。よって、輝度補正の精度を確保しつつ補正データ容量および転送レートを低減することが可能となる。
（その他の実施の形態）
以上、実施の形態１〜３について述べてきたが、上記実施の形態に係る表示装置１、表示装置１の補正方法、表示装置１の製造方法、および表示装置の表示方法は、上記実施の形態に限定されるものではない。上述した実施の形態に対して本発明の主旨を逸脱しない範囲で当業者が思いつく各種変形を施して得られる変形例や、本発明に係る表示装置１を内蔵した各種機器も本発明に含まれる。
例えば、実施の形態１〜３に係る表示装置１、表示装置１の補正方法、表示装置１の製造方法、および表示装置の表示方法は、図１２に示されたようなタブレット端末に適用される。本発明に係る表示装置、表示装置１の補正方法、表示装置１の製造方法、および表示装置の表示方法により、輝度ムラが抑制されたディスプレイを備えた低コストの小型高精細なタブレット端末が実現される。
なお、上記実施の形態では、外部映像信号に基づいて生成された輝度信号により、表示部４０に画像が表示される場合を例示したが、これに限られない。画素を発光させるための輝度信号は、外部映像信号により生成されるだけでなく、静止画または動画を表示するための各種信号により生成される。
また、第１補正データは、表示装置１の製造時に生成されることに限定されない。また、第２補正データは、表示装置１の製造時にメモリ１１に保存されることに限定されない。表示装置１の製造後であって、表示動作中または非表示動作中であっても、第１補正データを更新し、当該更新された第１補正データに基づいて第２補正データが更新保存されてもよい。
また、各画素が有する発光素子は、有機ＥＬ素子に限られず、電流駆動型または電圧駆動型の無機材料からなる発光素子であってもよい。
本発明は、特に有機ＥＬ素子を用いた表示装置を内蔵する有機ＥＬフラットパネルディスプレイに有用であり、画質の均一性が要求される小型高精細なディスプレイの表示装置およびその補正方法として用いるのに最適である。
１ 表示装置
２、２Ａ 情報処理装置
３ 撮像装置
１０、５００ 制御部
１１、５１２ メモリ
１２、１２Ａ 変換部
１３ 補正部
２０ データ線駆動回路
３０ 走査線駆動回路
４０ 表示部
１２１、１２１Ａ 閾値決定部
１２２、１２２Ａ ビット削減部
１３１、５３１ 輝度信号補正部
１３２ データ展開部
２０１ 演算部
２０２ 記憶部
２０３ 通信部
４００ 画素
４０１ 有機ＥＬ素子
４０２ 駆動トランジスタ
４０３ 選択トランジスタ
４０４ 保持容量素子
４１１ データ線
４１２ 走査線
４２１ 電源線
４２２ 共通電極

Claims (16)

  1. 輝度信号に応じて発光する発光素子を有する画素がマトリクス状に配置された表示装置の輝度ムラを補正する表示装置の補正方法であって、
    前記画素に対応した複数の補正データ成分で構成され、前記輝度信号を補正するための第１補正データを予め取得する取得ステップと、
    前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分に対して誤差拡散処理を行い、当該誤差拡散処理された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する変換ステップと、
    前記第２補正データを用いて、前記輝度信号を補正する補正ステップとを含み、
    前記誤差拡散処理は、ビット削減処理の前段階としてビット削減後の補正データに対応付けて設定された切下値および切上値をあらかじめ設定しておき、前記第１補正データの対象画素についての補正データ成分と前記切下値または前記切上値との差分値を前記誤差成分として取得し、当該誤差成分を所定の重み付けで前記対象画素の周辺画素に配分することである
    表示装置の補正方法。
  2. さらに、
    前記変換ステップの後、前記第２補正データを、前記表示装置が有するメモリに予め保存する保存ステップを含み、
    前記補正ステップでは、前記メモリに保存された前記第２補正データを読み出し、当該第２補正データを用いて、前記輝度信号を補正する
    請求項１に記載の表示装置の補正方法。
  3. 前記変換ステップでは、前記第１補正データを構成する前記複数の補正データ成分を誤差拡散させ、当該誤差拡散した前記複数の補正データ成分をビット削減して第２補正データへと変換する
    請求項１または２に記載の表示装置の補正方法。
  4. 前記変換ステップでは、前記第１補正データを構成する前記複数の補正データ成分を、予め算出された閾値データに基づいて周辺画素へ伝搬させ、
    前記補正ステップでは、前記第２補正データを構成する複数の補正データ成分のそれぞれを、前記閾値データおよび前記第１補正データが量子化された離散値の少なくとも一方を用いて、前記第２補正データよりも高ビットのデータへと展開し、当該展開された前記第２補正データを用いて前記輝度信号を補正する
    請求項３に記載の表示装置の補正方法。
  5. 前記変換ステップでは、前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成された各画素の補正データ成分を２値化して前記第２補正データへと変換する
    請求項１〜４のいずれか１項に記載の表示装置の補正方法。
  6. 輝度信号に応じて発光する発光素子を有する画素がマトリクス状に配置された表示装置の製造方法であって、
    複数の前記画素が配置された表示パネルを形成する表示パネル形成ステップと、
    前記画素に対応した複数の補正データ成分で構成され、前記輝度信号を補正するための第１補正データを予め取得する取得ステップと、
    前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分に対して誤差拡散処理を行い、当該誤差拡散処理された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する変換ステップと、
    前記変換ステップの後、前記第２補正データを、前記表示装置が有するメモリに保存する保存ステップを含み、
    前記誤差拡散処理は、ビット削減処理の前段階としてビット削減後の補正データに対応付けて設定された切下値および切上値をあらかじめ設定しておき、前記第１補正データの対象画素についての補正データ成分と前記切下値または前記切上値との差分値を前記誤差成分として取得し、当該誤差成分を所定の重み付けで前記対象画素の周辺画素に配分することである
    表示装置の製造方法。
  7. 前記変換ステップでは、前記第１補正データを構成する前記複数の補正データ成分を誤差拡散させ、当該誤差拡散した前記複数の補正データ成分をビット削減して第２補正データへと変換する
    請求項６に記載の表示装置の製造方法。
  8. 前記変換ステップでは、前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成された各画素の補正データ成分を２値化して前記第２補正データへと変換する
    請求項６または７に記載の表示装置の製造方法。
  9. 輝度信号に応じて発光する発光素子を有する画素がマトリクス状に配置された表示装置の表示方法であって、
    前記画素に対応した複数の補正データ成分で構成され、前記輝度信号を補正するための第１補正データを予め取得する取得ステップと、および、前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分の誤差成分に対して誤差拡散処理を行い、当該誤差拡散処理された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する変換ステップ、により取得された前記第２補正データを用いて、前記輝度信号を補正する補正ステップと、
    前記補正ステップで補正された前記輝度信号を前記画素に供給し、当該輝度信号に応じて前記発光素子を発光させることにより前記表示装置を表示する表示ステップを含み、
    前記誤差拡散処理は、ビット削減処理の前段階としてビット削減後の補正データに対応付けて設定された切下値および切上値をあらかじめ設定しておき、前記第１補正データの対象画素についての補正データ成分と前記切下値または前記切上値との差分値を前記誤差成分として取得し、当該誤差成分を所定の重み付けで前記対象画素の周辺画素に配分することである
    表示装置の表示方法。
  10. 前記変換ステップでは、前記第１補正データを構成する前記複数の補正データ成分を誤差拡散させ、当該誤差拡散した前記複数の補正データ成分をビット削減して第２補正データへと変換する
    請求項９に記載の表示装置の表示方法。
  11. 前記変換ステップでは、前記第１補正データを構成する前記複数の補正データ成分を、予め算出された閾値データに基づいて周辺画素へ伝搬させ、
    前記補正ステップでは、前記第２補正データを構成する複数の補正データ成分のそれぞれを、前記閾値データおよび前記第１補正データが量子化された離散値の少なくとも一方を用いて、前記第２補正データよりも高ビットのデータへと展開し、当該展開された前記第２補正データを用いて前記輝度信号を補正する
    請求項１０に記載の表示装置の表示方法。
  12. 前記変換ステップでは、前記第１補正データについて各画素に対応した補正データ成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成された各画素の補正データ成分を２値化して前記第２補正データへと変換する
    請求項９〜１１のいずれか１項に記載の表示装置の表示方法。
  13. 輝度信号に応じて発光する発光素子を有する画素がマトリクス状に配置された表示装置であって、
    前記画素に対応した複数の補正データ成分で構成され、前記輝度信号を補正するための第１補正データを、各画素に対応した補正データ成分の誤差成分に対して誤差拡散処理を行い、当該誤差拡散処理された各画素の補正データ成分をビット削減することにより第２補正データへと変換する変換部と、
    前記第２補正データを用いて、前記輝度信号を補正する補正部とを備え、
    前記誤差拡散処理は、ビット削減処理の前段階としてビット削減後の補正データに対応付けて設定された切下値および切上値をあらかじめ設定しておき、前記第１補正データの対象画素についての補正データ成分と前記切下値または前記切上値との差分値を前記誤差成分として取得し、当該誤差成分を所定の重み付けで前記対象画素の周辺画素に配分することである
    表示装置。
  14. さらに、
    前記第２補正データを保存するメモリを備え、
    前記補正部は、前記メモリに保存された前記第２補正データを読み出し、当該第２補正データを用いて、前記輝度信号を補正する
    請求項１３に記載の表示装置。
  15. 前記変換部は、前記第１補正データを誤差拡散させ、当該誤差拡散した各画素の補正データ成分をビット削減する
    請求項１３または１４に記載の表示装置。
  16. 前記変換部は、前記第１補正データについて、各画素に対応した補正データ成分を量子化する際に発生する誤差成分を当該各画素の周辺画素へ伝搬させて再構成された各画素の補正データ成分を２値化する
    請求項１３〜１５のいずれか１項に記載の表示装置。
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