KR20230016131A - 디스플레이 제작 시스템 및 그 구동 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 디스플레이 제작 시스템 및 디스플레이 제작 시스템의 구동 방법에 관한 것으로서, 영상을 표시하는 표시 패널을 구비하는 복수의 디스플레이 장치, 표시 패널을 구동하는 구동 전원 전압을 가변하여, 휘도에 대응하는 포화 전압을 산출하는 구동 전압 측정부 및 포화 전압에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하고 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 상기 표시 패널을 제어하는 프로세서를 포함한다.

Description

디스플레이 제작 시스템 및 그 구동 방법{DISPLAY MANUFACTURING SYSTEM AND DRIVING METHOD OF THE SAME}
본 발명은 디스플레이 제작 시스템 및 그 구동 방법에 관한 것이다.
정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결매체인 디스플레이 장치의 중요성이 부각되고 있다. 이에 부응하여 액정 디스플레이 장치(Liquid Crystal Display Device), 유기 발광 디스플레이 장치(Organic Light Emitting Display Device) 등과 같은 디스플레이 장치의 사용이 증가하고 있다.
종래에는 디스플레이 장치들의 수명 산포를 예측하고, 이를 보상하여 양질의 제품을 제작하는 다양한 기술이 존재한다.
한편, 디스플레이 장치가 고도화됨에 따라서 제작된 디스플레이 장치들의 제작 과정에서 빠르게 수명 산포를 예측하여 제작 시간을 단축시키고, 생산성을 증가시키는 기술이 필요한 실정이다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 디스플레이 장치의 제작 과정에서 구동 전원 전압의 측정을 통해서 수명 산포를 예측하고 이를 이용하여 제작된 디스플레이 장치들의 잔상을 보상하기 위함이다.
또한 본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 디스플레이 장치의 제작 과정에서 수명 산포를 예측하여 제작 시간을 단축시키고 생산성을 향상시키기 위함이다.
또한, 실시예가 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 실시 예의 기재로부터 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 예에 따른 영상을 표시하는 표시 패널을 구비하는 복수의 디스플레이 장치, 표시 패널을 구동하는 구동 전원 전압을 가변하여, 휘도에 대응하는 포화 전압을 산출하는 구동 전압 측정부 및 포화 전압에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하고 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 표시 패널을 제어하는 프로세서를 포함한다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 포화 전압은, 표시 패널의 발광 소자에 접속된 구동 전원 전압이 가변함에 따라 휘도의 변화량이 가변하는 시점에 대응하는 전압이다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 프로세서는, 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하는 복수의 파라미터를 미리 저장하는 메모리부 및 복수의 파라미터에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하는 연산부를 포함한다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 연산부는, 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 표시 패널의 전류 밀도의 중심 값과 대상 표시 패널의 전류 밀도에 기초하여 열화 가중치를 산출한다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 연상부는, 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 표시 패널의 휘도의 중심값과 대상 표시 패널의 휘도에 기초하여 열화 가중치를 산출한다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 메모리부는, 발광 소자의 구동 전압의 가변에 대응하는 밀도 전류를 미리 저장하고, 발광 소자의 구동 전압은 구동 전원 전압 보다 발광 소자의 문턱 전압만큼 큰 전압이다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 발광 소자의 구동 전압은, 발광 소자에 흐르는 전류와 표시 패널의 구동 트랜지스터에 흐르는 전류가 동일한 시점에 해당하는 전압이다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 연산부는, 미리 저장된 밀도 전류를 이용하여 포화 전압에 대응하는 밀도 전류를 산출한다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 영상은 제1색, 제2색, 및 제3색 중 적어도 하나를 이용하여 표시되며, 전류 밀도는, 제1색, 제2색, 및 제3색 중 어느 하나를 이용하여 영상을 표시하는 경우 산출된다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 표시 패널은 복수의 화소를 포함하고, 연산부는, 복수의 화소의 전류 밀도의 중심 값과 대상 화소에서 산출된 전류 밀도의 중심 값에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출한다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 복수의 디스플레이 장치, 구동 전압 측정부, 및 프로세서를 포함하는 디스플레이 제작 시스템의 구동 방법에 있어서, 복수의 디스플레이 장치에 포함된 표시 패널이 영상을 표시하는 단계, 구동 전압 측정부가 표시 패널을 구동하는 구동 전원 전압을 가변하여 휘도에 대응하는 포화 전압을 산출하는 단계 및 프로세서가 포화 전압에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하고 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 표시 패널을 제어하는 단계를 포함한다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 휘도에 대응하는 포화 전압을 산출하는 단계는, 구동 전압 측정부가 표시 패널의 발광 소자에 접속된 구동 전원 전압이 가변함에 따라 휘도의 변화량이 가변하는 시점에 대응하는 전압을 포화 전압으로 결정하는 단계를 포함한다.
또한 본 발명의 일 예에 따른 프로세서는, 메모리부 및 연산부를 포함하고, 프로세서가 포화 전압에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하는 단계는, 메모리부가 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하는 복수의 파라미터를 미리 저장하는 단계 및 연산부가 복수의 파라미터에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하는 단계를 포함한다.
본 발명에 따른 디스플레이 제작 시스템 및 그 구동 방법은 디스플레이 제작 과정에서 구동 전원 전압의 측정을 통해서 제작된 디스플레이 장치들의 수명 특성을 예측할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 디스플레이 제작 시스템 및 그 구동 방법은 디스플레이 장치들의 수명 산포를 이용하여 제작된 디스플레이 장치의 수명을 일정하게 하도록 제어할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 디스플레이 제작 시스템 및 그 구동 방법은 디스플레이 장치의 제작 과정에서 수명 산포를 예측하고 보상하여 제작 시간을 단축시키고 생산성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 제작 시스템을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 도 2의 디스플레이 장치에 구비된 화소의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 2의 디스플레이 장치에 구비된 화소부를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 1에 포함된 복수의 디스플레이 장치 각각의 발광 소자의 구동 전압을 판단하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 1에 포함된 복수의 디스플레이 장치 각각의 발광 소자의 포화 전압을 산출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 도 1에 포함된 복수의 디스플레이 장치 각각의 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 제작 시스템의 구동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 9는 도 1에 포함된 복수의 디스플레이 장치 각각의 열화 가중치를 산출하는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명의 다른 예에 따른 디스플레이 제작 시스템의 구동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 실시 예의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 발명의 개시가 완전하도록 하고, 실시 예가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 실시 예는 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 실시 예가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다. 본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 실시예를 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다.
도 1은 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 제작 시스템을 설명하기 위한 도면이다. 도 2는 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다. 이하 도 1 및 도 2를 참고하여 설명하기로 한다.
도 1을 참고하면, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 제작 시스템(1)은 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)), 휘도 측정부(20), 구동 전압 측정부(30), 및 프로세서(40)를 포함할 수 있다.
도 2를 참고하면 디스플레이 장치(10(1))가 도시되어 있으나, 복수의 디스플레이 장치(10(2)~10(N))는 디스플레이 장치(10(1))와 동일하므로 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 1 및 도 2를 참고하면 디스플레이 장치(10(1))는 타이밍 제어부(11), 데이터 구동부(12), 주사 구동부(13), 화소부(14), 및 발광 구동부(15)를 포함하는 표시 패널(PNL)을 구비할 수 있다.
일 예에서 표시 패널(PNL)은 타이밍 제어부(11), 데이터 구동부(12), 주사 구동부(13), 화소부(14), 및 발광 구동부(15) 중 적어도 일부의 구성을 포함할 수 있다.
타이밍 제어부(11)는 프로세서(40)로부터 외부 입력 신호를 수신할 수 있다. 외부 입력 신호는 수직 동기 신호(Vertical synchronization signal), 수평 동기 신호(Horizontal synchronization signal), 데이터 인에이블 신호(data enable signal), RGB 데이터, 데이터 제어 신호(Dcon) 등을 포함할 수 있다.
수직 동기 신호는 복수의 펄스들을 포함할 수 있고 각각의 펄스들이 발생하는 시점을 기준으로 이전 프레임 기간이 종료되고 현재 프레임 기간이 시작됨을 가리킬 수 있다. 수직 동기 신호는 인접한 펄스들 간의 간격이 1 프레임 기간에 해당할 수 있다. 수평 동기 신호는 복수의 펄스들을 포함할 수 있고 각각의 펄스들이 발생하는 시점을 기준으로 이전 수평 기간(Horizontal period)이 종료되고 새로운 수평 기간이 시작됨을 가리킬 수 있다.
데이터 인에이블 신호는 수평 기간에서 RGB 데이터가 공급됨을 가리킬 수 있다. RGB 데이터는 데이터 인에이블 신호에 대응하여 수평 기간들에서 화소행 단위로 공급될 수 있다. 한 프레임에 대응하는 RGB 데이터를 하나의 입력 이미지라고 할 수 있다. 데이터 제어 신호(Dcon)는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각의 열화 가중치 값(B, 도 8참고)에 대한 데이터를 포함할 수 있다.
구체적으로 본 발명의 일 예에 따른 데이터 제어 신호(Dcon)는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 제작 과정에서, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 구동 전압(Vel, 도 5 참고)에 기초하여 생산된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 간의 수명 특성(예를 들어 디스플레이 사용 시간에 따른 잔상 발생)을 보상하기 위한 데이터(또는, 열화 가중치(B))를 포함할 수 있다. 타이밍 제어부(11)는 데이터 제어 신호(Dcon)에 기초하여 데이터 구동부(12)를 제어하는 제어 신호를 출력할 수 있다.
이와 같은 데이터 제어 신호(Dcon)는 디스플레이 장치(10(1))의 제작 과정에서 프로세서(40)로부터 공급될 수 있다. 즉, 디스플레이 장치(10(1))가 정상적으로 영상을 구현하는 기간에는 데이터 제어 신호(Dcon)가 타이밍 제어부(11)로 공급되지 않는다. 일례로, 타이밍 제어부(11)는 제작 과정에서 프로세서(40)로부터 공급되는 데이터 제어 신호(Dcon)에 포함된 열화 가중치(B) 정보를 저장하고, 저장된 열화 가중치(B) 정보를 이용하여 데이터 등을 제어할 수 있다.
데이터 구동부(12)는 입력 이미지의 계조들에 대응하는 데이터 신호들(또는, 데이터 전압들)을 화소들(PXij)로 제공할 수 있다. 예를 들어, 데이터 구동부(12)는 클록 신호를 이용하여 계조들을 샘플링할 수 있다. 데이터 구동부(12)는 샘플링된 계조들에 대응하는 데이터 신호들을 데이터 라인(D1~Dn)에 인가할 수 있다. 이때, n은 0보다 큰 정수 일 수 있다.
데이터 구동부(12)는 타이밍 제어부(11)로부터 출력된 제어 신호에 대응하여 보정된 데이터 전압들을 화소들(PXij)로 제공할 수 있다. 이때, 보정된 데이터 전압들은 생산된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 구동 전압(Vel)을 측정하는 과정에서 데이터 구동부(12)에서 출력된 데이터 전압값에 열화 가중치(B)를 합산한 전압에 해당할 수 있다.
주사 구동부(13)는 타이밍 제어부(11)로부터 클록 신호, 주사 시작 신호등을 수신하여 주사 라인들(SL1~SLm)에 제공할 주사 신호들을 생성할 수 있다.
화소부(14)는 화소(PXij)를 포함한다. 각각의 화소(PXij)는 대응하는 데이터 라인(D1~Dn) 및 주사 라인(SL1~SLm)에 연결될 수 있다. 이때, i 및 j는 0보다 큰 정 수 일 수 있다. 그리고 m은 0보다 큰 정수 일 수 있다.
발광 구동부(15)는 타이밍 제어부(11)로부터 클록 신호, 발광 중지 신호 등을 수신하여 발광 라인들(E1~Em)에 제공할 발광 제어 신호들을 생성할 수 있다. 이때, 각각의 화소(PXij)는 발광 라인들(E1~Em)에 연결된 트랜지스터를 더 포함하게 된다. 이러한 트랜지스터는 각 화소(PXij)의 데이터 기입 기간 동안 턴-오프되어 화소(PXij)의 발광을 중지할 수 있다.
휘도 측정부(20)는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 외부에 별도로 구비될 수 있다. 휘도 측정부(20)는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 구비된 화소부(14)를 구동하는 제2 구동 전원 전압(ELVSS, 도 3참고)이 가변함에 따라 표시 패널(PNL)에서 표시되는 영상의 휘도(LUM, Luminace, 도 6참고)를 측정할 수 있다.
구동 전압 측정부(30)는 가변하는 제2 구동 전원 전압(ELVSS)들을 측정할 수 있다. 구동 전압 측정부(30)는 휘도 측정부(20)에서 측정된 휘도(LUM)에 대응하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 구비된 발광 소자(LD, 도 3 참고)의 포화 전압(Vsat)들을 산출할 수 있다. 구동 전압 측정부(30)가 발광 소자(LD)의 포화 전압(Vsat)을 산출하는 과정은 이하, 도 6에서 구체적으로 설명하기로 한다.
프로세서(40)는 메모리부(400) 및 연산부(401)를 포함한다.
메모리부(400)는 구동 전압 측정부(30)에서 산출된 포화 전압(Vsat)을 이용하여 전류 밀도(CDT, 도 7 참고)를 산출하는 복수의 파라미터를 미리 저장할 수 있다. 메모리부(400)는 전류 밀도(CDT)를 이용하여 열화 가중치(B)를 산출하는 복수의 파라미터를 미리 저장할 수 있다.
연산부(401)는 메모리부(400)에 저장된 복수의 파라미터와 구동 전압 측정부(30)에서 산출된 포화 전압(Vsat)을 이용하여 전류 밀도(CDT)를 산출할 수 있다. 연산부(401)는 메모리부(400)에 저장된 복수의 파라미터와 전류 밀도(CDT)를 이용하여 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
프로세서(40)는 연산부(401)에서 산출된 열화 가중치(B)를 반영한 데이터 제어 신호(Dcon)를 타이밍 제어부(11)로 출력할 수 있다.
도 3은 도 2의 디스플레이 장치에 구비된 화소의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3에서는 설명의 편이를 위해서 i번째 수평 라인에 위치하며 제j 데이터 라인(DLj)과 접속된 화소를 도시하기로 한다.
도 3을 참조하면 본 발명의 디스플레이 장치(10(1))에 구비된 화소(PXij)는 발광 소자(EL), 트랜지스터들(T1 내지 T7) 및 스토리지 커패시터(Cst)를 구비할 수 있다. 본 발명의 화소(PXij)는 도 3에 도시된 구조에 한하지 않으며 다양한 구조를 가질 수 있다. 이하, 화소(PXij)는 도 3에 도시된 구조라 가정한다.
발광 소자(LD)의 제1 전극(애노드 도는 캐소드 전극)은 제4 노드(N4)에 접속되고 제2 전극(캐소드 전극 또는 애노드 전극)은 제2 구동 전원 전압(ELVSS)에 접속될 수 있다. 발광 소자(LD)는 제1 트랜지스터(T1)로부터 공급되는 전류량에 대응하여 소정의 휘도의 빛을 생성한다.
일 실시예에서, 발광 소자(LD)는 유기 발광층을 포함하는 유기 발광 다이오드 일 수 있다. 다른 실시예에서, 발광 소자(LD)는 무기 물질로 형성되는 무기 발광 소자 일 수 있다. 또는, 발광 소자(LD)는 무기 발광 소자들이 제2 구동 전원 전압 (ELVSS)과 제4 노드(N4) 사이에 병렬 및/또는 직렬로 연결된 형태를 가질 수 있다.
제1 트랜지스터(T1, 또는 구동 트랜지스터)의 제1 전극은 제2 노드(N2)에 접속되고 제2 전극은 제3 노드(N3)에 접속된다. 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 제1 노드(N1)에 접속된다. 제1 트랜지스터(T1)는 제1 노드(N1)의 전압에 대응하여 제1 구동 전원 전압(ELVDD)으로부터 발광 소자(LD)를 경유하여 제2 구동 전원 전압(ELVSS)으로 흐르는 구동 전류(ILD)를 제어할 수 있다. 제1 구동 전원 전압(ELVDD)은 제2 구동 전원 전압(ELVSS)보다 높은 전압으로 설정될 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 제j 데이터 라인(DLj)과 제2 노드(N2) 사이에 접속된다. 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극은 제i 주사 라인(SLi)에 접속된다. 제2 트랜지스터(T2)는 제i 주사 라인(SLi)으로 공급되는 주사 신호의 게이트 온 레벨에 의해 턴 온되어 제j 데이터 라인(DLj)과 제2 노드(N2)를 전기적으로 접속시킨다.
제3 트랜지스터(T3)는 발광 소자(LD)의 제1 전극(즉, 제4 노드(N4))과 초기화 전압(Vint)을 공급하는 전원선(PL) 사이에 접속된다. 제3 트랜지스터(T3)의 게이트 전극은 제i 주사 라인(SLi)에 접속된다. 제3 트랜지스터(T3)는 제i 주사 라인(SLi)으로 공급되는 주사 신호의 게이트 온 레벨에 의해 턴 온되어 초기화 전압(Vint)의 전압을 발광 소자(LD)의 제1 전극(즉, 제4 노드(N4))으로 공급할 수 있다.
제4 트랜지스터(T4)는 제1 노드(N1)와 전원선(PL) 사이에 접속된다. 제4 트랜지스터(T4)의 게이트 전극은 제i-1 주사 라인(SLi-1)에 접속된다. 제4 트랜지스터(T4)는 제i-1 주사 라인(SLi-1)으로 공급되는 주사 신호의 게이트 온 레벨에 의해 턴 온되어 초기화 전압(Vint)의 전압을 제1 노드(N1)로 공급한다.
제5 트랜지스터(T5)는 제1 구동 전원 전압(ELVDD)과 제2 노드(N2) 사이에 접속된다. 제5 트랜지스터(T5)의 게이트 전극은 i번째 발광 제어 라인(Ei)에 접속된다. 제5 트랜지스터(T5)는 i번째 발광 제어 라인(Ei)으로 공급되는 발광 제어 신호의 게이트 온 레벨에 의해 턴-온된다.
제6 트랜지스터(T6)는 제1 트랜지스터(T1)의 제2 전극(즉, 제3 노드(N3))과 발광 소자(LD)의 제1 전극(즉, 제4 노드(N4)) 사이에 접속된다. 제6 트랜지스터(T6)의 게이트 전극은 i번째 발광 제어 라인(Ei)에 접속된다. 제6 트랜지스터(T6)는 i번째 발광 제어 라인(Ei)으로 공급되는 발광 제어 신호의 게이트 온 레벨에 의해 턴-온된다. 따라서 제5 트랜지스터(T5)와 제6 트랜지스터(T6)는 동시에 제어될 수 있다.
제7 트랜지스터(T7)는 제1 트랜지스터(T1)의 제2 전극(즉, 제3 노드(N3))과 제1 노드(N1) 사이에 접속된다. 제7 트랜지스터(T7)의 게이트 전극은 제i 주사 라인(SLi)에 접속된다. 제7 트랜지스터(T7)의 제i 주사 라인(SLi)으로 공급되는 주사 신호의 게이트 온 레벨에 의해 턴-온되어 제1 트랜지스터(T1)의 제2 전극과 제1 노드(N1)를 전기적으로 접속시킨다. 제7 트랜지스터(T7)가 턴-온되면 제1 트랜지스터(T1)는 다이오드 형태로 접속된다.
스토리지 커패시터(Cst)는 제1 구동 전원 전압(ELVDD)과 제1 노드(N1) 사이에 접속될 수 있다.
도 4는 도 2의 디스플레이 장치에 구비된 화소부를 나타내는 도면이다.
도 4를 참고하면 화소부(14)는 복수의 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)을 포함한다. 도 4에서는 화소부(14)가 9개의 화소를 포함하는 것으로 도시하였지만 이에 한정되지 않는다.
복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 제작 과정에서 생산된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 수명 특성을 예측하고, 디스플레이 사용 시간에 따라 발생하는 잔상을 보상하기 위해서, 휘도 측정부(20)는 화소부(14)의 중심부의 휘도(LUM)를 측정하고, 중심부에 포함된 화소(PX22)에 구비된 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)을 측정할 수 있다. 이하, 도 4에서는 화소(PX22)를 화소부(14)의 중심부라 가정한다.
이하 도 4 내지 도 8에서는 화소부(14)에 포함된 한 개의 화소(PX22)(또는 중심 화소)만이 구동함을 가정한다. 예를 들어, 화소부(14)가 소면적에 해당하는 경우, 화소부(14)에 포함된 복수의 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)간의 간격이 좁으므로, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 포함된 한 개의 중심 화소(PX22)만을 부분 구동하여, 중심 화소(PX22)에 구비된 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)을 측정할 수 있다. 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)은 발광 소자(LD)의 제1 전극(제4 노드(N4))의 전압에 해당한다.
또한, 화소부(14)의 중심부에 해당하는 화소(PX22)에 구비된 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)을 측정하기 위해서 중심 화소(PX22)가 한 개의 색을 발광하는 경우를 가정한다. 중심 화소(PX22)가 한 개의 색 만을 발광하는 경우, 화소부(14)는 고휘도로 발광하게 되어 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 간의 구동 전압(Vel)을 비교할 수 있다.
예를 들어, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 포함된 중심 화소(PX22)들은 제1 색(빨간색), 제2 색(청색), 제3 색(녹색) 중 어느 하나의 색만을 발광시키는 것으로 가정한다. 휘도 측정부(20)는 한 개의 색 만을 발광하는 중심 화소(PX22)의 휘도(LUM)를 측정하고, 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)을 측정할 수 있다.
도 5는 도 1에 포함된 복수의 디스플레이 장치 각각의 발광 소자의 구동 전압을 판단하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3 내지 도 5를 참고하면, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 포함된 중심 화소(PX22)의 구동 전압(Vel)을 측정하기 위해서, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 발광 소자(LD)의 제1 전극(또는 제4 노드(N4))의 전압(또는 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel))은 서로 동일한 기준으로 측정될 수 있다.
예를 들어, 발광 소자(LD)의 제1 전극(또는 제4 노드(N4))의 전압은 임의적으로 변경될 수 있다. 구체적으로 발광 소자(LD)의 제1 전극(또는 제4 노드(N4))의 전압을 제1 구동 전원 전압(ELVDD)에서 제2 구동 전원 전압(ELVSS)으로 가변하는 경우, 발광 소자(LD)에 흐르는 구동 전류(ILD)는 감소할 수 있다(그래프 ①). 그리고 제1 트랜지스터(T1)에 흐르는 구동 전류(ILD)는 증가할 수 있다(그래프 ②).
이때, 발광 소자(LD)에 흐르는 구동 전류(ILD)와 제1 트랜지스터(T1)에 흐르는 구동 전류(ILD)가 동일한 시점에 대응되는 전압이 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)일 수 있다.
상술한 바와 같이, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 구비된 발광 소자(LD)에 흐르는 구동 전류(ILD)와 제1 트랜지스터(T1)에 흐르는 구동 전류(ILD)가 서로 동일한 시점에 대응하는 전압이 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 구비된 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)에 해당할 수 있다.
또한, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 구비된 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)을 고려하여 아래 도 6과 같이 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 구비된 발광 소자(LD)의 포화 전압(Vsat, 도 6참고)을 산출할 수 있다.
도 6은 도 1에 포함된 복수의 디스플레이 장치 각각의 발광 소자의 포화 전압을 산출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5 및 도 6을 참고하면, 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)이 고려된 제2 구동 전원 전압(ELVSS)의 변화에 따른 휘도(LUM)의 변화 그래프가 도시된다. 제2 구동 전원 전압(ELVSS)은 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)보다 발광 소자(LD)의 문턱 전압(VthLD)만큼 낮은 전압이다.
도 6을 참고하면, 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)이 증가함에 따라서 표시 패널(PNL)에서 표시하는 영상의 휘도(LUM)가 감소함을 알 수 있다. 즉, 도 5 및 도 6을 참고하면 제2 구동 전원 전압(ELVSS)이 변화함에 따라서, 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel) 및 표시 패널(PNL)에서 표시하는 영상의 휘도(LUM)가 가변함을 알 수 있다.
도 3 내지 도 6을 참고하면, 휘도 측정부(20)는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 포함된 표시 패널(PNL) 각각의 발광 소자(LD)의 제1 전극(제4 노드(N4))에 접속되어, 휘도(LUM)를 측정할 수 있다.
도 6을 참고하면 휘도 측정부(20)는 도 5와 같이 변화하는 제2 구동 전원 전압(ELVSS)에 대응하는 휘도(LUM)를 포함하는 데이터를 구동 전압 측정부(30)에 전송할 수 있다.
구동 전압 측정부(30)는 휘도(LUM)의 변화량을 측정할 수 있다. 이때, 구동 전압 측정부(30)는 휘도(LUM)의 변화량이 가변하는 시점에 대응하는 전압을 표시 패널(PNL)의 구동을 위한 포화 전압(Vsat)으로 산출할 수 있다.
구체적으로, 제2 구동 전원 전압(ELVSS)이 가변함에 따라서 표시 패널(PNL)에서 표시되는 영상의 휘도(LUM)는 변할 수 있다. 이때, 휘도(LUM)의 변화량이 가변하는 지점에 대응하는 전압을 포화 전압(Vsat)로 결정할 수 있다. 예를 들어, 제2 구동 전원 전압(ELVSS)을 가변하는 경우 영상의 휘도(LUM)는 대략 제1 기울기(③)로 서서히 하강하다가 특정 시점에 제1 기울기(③)보다 급격한 제2 기울기(④)로 하강한다. 이때, 구동 전압 측정부(30)는 제1 기울기(③)보다 급격한 제2 기울기(④)로 하강하는 시점에 해당하는 전압을 포화 전압(Vsat)으로 결정할 수 있다.
즉, 구동 전압 측정부(30)는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 포화 전압(Vsat)을 산출할 수 있다.
도 7은 도 1에 포함된 복수의 디스플레이 장치 각각의 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
프로세서(40)는 구동 전압 측정부(30)에서 산출한 포화 전압(Vsat)을 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 전류 밀도(CDT)를 산출할 수 있다.
도 7을 참고하면, 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)이 증가함에 따라서 전류 밀도(CDT)가 증가할 수 있다. 발광 소자(LD)의 구동 전압(Vel)에 따른 전류 밀도(CDT)는 실험적으로 측정되어 메모리부(400)에 미리 저장될 수 있다. 이때, 전류 밀도(CDT)는 이하 [수학식 1]과 같이 표현할 수 있다.
[수학식 1]
CDT(전류 밀도) = a * Vsat(포화 전압) + d (단, a, d는 상수)
구체적으로 설명하면, 프로세서(40)에 포함된 메모리부(400)는 전류 밀도(CDT)를 산출하는 복수의 파라미터(a, d)를 미리 저장할 수 있다. 프로세서(40)에 포함된 연산부(401)는 구동 전압 측정부(30)에서 산출한 포화 전압(Vsat)과 메모리부(400)에 저장된 복수의 파라미터(a, d)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 전류 밀도(CDT)(예를 들어, 제1 전류 밀도(Vd))를 산출할 수 있다.
또한, 도 7에는 도시되진 않았지만, 프로세서(40)는 산출된 전류 밀도(CDT, 또는 제1 전류 밀도(Vd))를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
구체적으로, 열화 가중치(B)는 이하 [수학식 2]와 같이 표현할 수 있다.
[수학식 2]
B(열화 가중치) = exp(S*
Figure pat00001
)
이때, S는 기울기 상수, T는 시간 상수, Th는 구동 시간, Acc는 가속 계수를 의미한다. istd는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 휘도(LUM)의 중심 값, i는 측정 대상 디스플레이 장치에 구비된 표시 패널(PNL)의 휘도(LUM), Vstd는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL)의 전류 밀도(CDT)의 중심 값, V는 측정 대상 디스플레이 장치에 구비된 표시 패널(PNL)의 전류 밀도(CDT)를 의미한다.
구체적으로 설명하면, 프로세서(40)에 포함된 메모리부(400)는 열화 가중치 (B)를 산출하는 복수의 파라미터(S, T, ACC)를 미리 저장할 수 있다.
프로세서(40)에 포함된 연산부(401)는 휘도 측정부(20)에서 측정한 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 휘도(LUM)의 중심값(istd)을 산출할 수 있다. 이때, 휘도(LUM)의 중심값(istd)은 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각에서 측정된 서로 다른 휘도(LUM)의 중간값에 해당한다.
프로세서(40)에 포함된 연산부(401)는 산출된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 전류 밀도(CDT)의 중심값(Vstd)을 산출할 수 있다. 이때, 전류 밀도(CDT)의 중심값(Vstd)은 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL)에서 각각 산출된 서로 다른 전류 밀도(CDT)의 중간값에 해당한다.
프로세서(40)에 포함된 연산부(401)는 휘도(LUM)의 중심 값(istd), 전류 밀도(CDT)의 중심 값(Vstd), 측정 대상 디스플레이 장치의 휘도(i), 측정 대상 디스플레이 장치의 전류 밀도(CDT), 구동 시간(Th)에 메모리부(400)에 저장된 복수의 파라미터(S, T, ACC)를 이용하여 측정 대상 디스플레이 장치에 구비된 표시 패널(PNL)의 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
상술한 바와 같이, 복수의 표시 패널(10(1)~10(N))의 제작 과정에서 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 구동 전압(Vel, 도 5 참고)을 측정하여, 생산된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 간의 잔상을 보정하기 위한 데이터(또는, 열화 가중치(B))를 산출할 수 있다. 프로세서(40)는 산출한 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각의 열화 가중치(B)를 포함하는 데이터 제어 신호(Dcon)를 생산된 측정 대상 디스플레이 장치로 공급하여, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 열화 보상을 수행하여 잔상을 보상할 수 있다. 이를 통해 품질이 균등한 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))를 제작할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 제작 시스템의 구동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
단계(S10)에서 가변하는 제2 구동 전원 전압(ELVSS)에 대응하여 표시 패널(PNL)의 휘도(LUM)를 측정하고, 포화 전압(Vsat)을 산출할 수 있다.
구체적으로, 휘도 측정부(20)는 가변하는 제2 구동 전원 전압(ELVSS)에 대응하여 표시 패널(PNL)의 중심부에 위치한 화소(PX22)에서 출력하는 영상의 휘도(LUM)를 측정할 수 있다. 구동 전압 측정부(30)는 휘도(LUM)의 변화량을 측정하여 포화 전압(Vsat)을 산출할 수 있다. 이때, 표시 패널(PNL)의 중심부에 위치한 화소(PX22)만 구동되고, 나머지 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX32, PX13, PX23, PX33)은 구동되지 않는다. 또한, 표시 패널(PNL)의 중심부에 위치한 화소(PX22)는 하나의 색만을 발광한다.
단계(S11)에서 프로세서(40)는 산출된 포화 전압(Vsat)에 기초하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각의 전류 밀도(CDT)를 산출할 수 있다.
구체적으로 프로세서(40)에 포함된 연산부(401)는 구동 전압 측정부(30)에서 산출한 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 포화 전압(Vsat)과 메모리부(400)에 저장된 복수의 파라미터(a, d)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 전류 밀도(CDT)를 산출할 수 있다.
단계(S12)에서 프로세서(40)는 산출된 전류 밀도(CDT)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각의 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
구체적으로, 산출된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 전류 밀도(CDT)와 메모리부(400)에 저장된 복수의 파라미터(S, T, ACC)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
단계(S13)에서 프로세서(40)는 열화 가중치(B)를 반영하여 측정 대상 표시 패널을 구동할 수 있다.
구체적으로 복수의 표시 패널(10(1)~10(N))의 제작 과정에서 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 구동 전압(Vel, 도 5 참고)을 측정하여, 생산된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 간의 잔상을 보정하기 위한 데이터(또는, 열화 가중치(B))를 산출할 수 있다. 프로세서(40)는 산출한 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각의 열화 가중치(B)를 포함하는 데이터 제어 신호(Dcon)를 측정 대상 디스플레이 장치로 공급하고 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 열화 보상을 수행하여 잔상을 보상할 수 있다.
도 9는 도 1에 포함된 복수의 디스플레이 장치 각각의 열화 가중치를 산출하는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 9를 참고하면 화소부(14)는 복수의 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)을 포함한다. 도 4에서는 화소부(14)가 9개의 화소를 포함하는 것으로 도시하였지만 이에 한정되지 않는다.
복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 제작 과정에서, 생산된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 표시 패널(PNL)의 면적이 대면적인 경우, 하나의 화소부(14)에 포함된 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33) 간에도 열화 가중치(B)가 서로 다를 수 있다.
즉, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각에 포함된 복수 개의 화소(PX11, PX21, PX32, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)를 모두 구동하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
또한, 이때, 한 개의 화소부(14)에 포함된 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33) 간의 열화 가중치(B)를 각각 산출하기 위해서 복수 개의 화소(PX11, PX21, PX32, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)가 모두 구동함을 가정한다.
또한, 화소부(14)에 포함된 복수 개의 화소(PX11, PX21, PX32, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)가 한 개의 색을 발광하는 경우를 가정한다. 예를 들어, 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 포함된 복수 개의 화소(PX11, PX21, PX32, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)들은 제1 색(빨간색), 제2 색(청색), 제3 색(녹색) 중 어느 하나의 색만을 발광시키는 것으로 가정한다. 이에 대한 설명은 도 4와 중복되므로 생략하기로 한다.
도 3 및 도 9를 참고하면, 휘도 측정부(20)는 디스플레이 제작 과정에서 생산된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 화소(PX22)에 구비된 발광 소자(LD)의 제1 전극(제4 노드(N4))에 접속되어, 제2 구동 전원 전압(ELVSS)이 가변함에 따라서 발광 소자(LD)로 흐르는 구동 전류(ILD)를 측정할 수 있다.
구동 전압 측정부(30)는 화소(PX22)의 휘도(LUM)의 변화량을 측정하고, 휘도(LUM)의 변화량이 가변하는 시점에 대응하는 전압을 표시 패널(PNL)의 구동을 위한 포화 전압(Vsat)으로 산출할 수 있다. 구체적인 설명은 도 6과 중복되므로 생략한다.
프로세서(40)는 구동 전압 측정부(30)에서 산출한 화소(PX22)의 포화 전압(Vsat)을 이용하여 제작된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각의 전류 밀도(CDT)를 산출할 수 있다.
즉, 프로세서(40)는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 중심부에 위치한 화소(PX22)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 전류 밀도(CDT)를 산출할 수 있다.
또한, 프로세서(40)는 산출된 전류 밀도(CDT)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
구체적으로 열화 가중치(B)는 이하 [수학식 3]과 같이 표현할 수 있다.
[수학식 3]
B(열화 가중치 값) = exp(S*
Figure pat00002
)
이때, S는 기울기 상수, T는 시간 상수, Th는 구동 시간, Acc는 가속 계수를 의미한다. istd는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 휘도(LUM)의 중심 값, i는 측정 대상 디스플레이 장치의 휘도(LUM), Vstd는 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))의 전류 밀도(CDT)의 중심 값, V는 측정 대상 디스플레이 장치의 전류 밀도(CDT), L은 화소 위치별 보상 파라미터를 의미한다.
프로세서(40)에 포함된 연산부(401)는 화소부(14)에 포함된 복수의 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)의 화소 위치별 보상 파라미터(L)를 산출할 수 있다.
구체적으로, 화소(PX11)의 위치별 보상 파라미터(L)는 화소(PX11)의 전류 밀도(CDT)/화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)로 산출될 수 있다. 화소(PX21)의 위치별 보상 파라미터(L)는 화소(PX21)의 전류 밀도(CDT)/화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)로 산출될 수 있다. 화소(PX31)의 위치별 보상 파라미터(L)는 화소(PX32)의 전류 밀도(CDT)/화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)로 산출될 수 있다. 화소(PX12)의 위치별 보상 파라미터(L)는 화소(PX12)의 전류 밀도(CDT)/화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)로 산출될 수 있다. 화소(PX32)의 위치별 보상 파라미터(L)는 화소(PX32)의 전류 밀도(CDT)/화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)로 산출될 수 있다. 화소(PX13)의 위치별 보상 파라미터(L)는 화소(PX13)의 전류 밀도(CDT)/화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)로 산출될 수 있다. 화소(PX23)의 위치별 보상 파라미터(L)는 화소(PX23)의 전류 밀도(CDT)/화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)로 산출될 수 있다. 화소(PX33)의 위치별 보상 파라미터(L)는 화소(PX33)의 전류 밀도(CDT)/화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)로 산출될 수 있다.
상술한 바와 같이 열화 가중치(B)를 산출하는 경우 화소부(14) 내의 복수의 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)의 위치별 보상 파라미터(L)를 고려하여 1 개의 디스플레이 장치 내에 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)의 위치별 열화 보상을 수행할 수 있다. 이를 통해 디스플레이 장치가 대면적인 경우, 열화 보상을 수행하고 수명이 균등한 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))를 제작할 수 있다.
도 10은 본 발명의 다른 예에 따른 디스플레이 제작 시스템의 구동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
단계(S20)에서 표시 패널(PNL)의 휘도(LUM)를 측정하고, 포화 전압(Vsat)을 산출할 수 있다.
구체적으로, 휘도 측정부(20)는 제2 구동 전원 전압(ELVSS)에 대응하여 표시 패널(PNL)의 중심부에 위치한 화소(PX22)에서 출력하는 영상의 휘도(LUM)를 측정할 수 있다. 구동 전압 측정부(30)는 휘도(LUM)의 변화량을 측정하여 포화 전압(Vsat)을 산출할 수 있다. 이때, 표시 패널(PNL)에 포함된 복수의 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33) 전체가 구동된다. 또한, 표시 패널(PNL)에 포함된 복수의 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33)은 하나의 색만을 발광한다.
단계(S11)에서 프로세서(40)는 산출된 포화 전압(Vsat)에 기초하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N)) 각각의 전류 밀도(CDT)를 산출할 수 있다.
구체적으로 프로세서(40)에 포함된 연산부(401)는 구동 전압 측정부(30)에서 산출한 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 포화 전압(Vsat)과 메모리부(400)에 저장된 복수의 파라미터(a, d)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 전류 밀도(CDT)를 산출할 수 있다.
단계(S12)에서 프로세서(40)는 표시 패널(PNL)에 포함된 화소들(PXij)의 위치별 보상 파라미터(L)를 산출할 수 있다.
구체적으로 프로세서(40)에 포함된 연산부(401)는 표시 패널(PNL)의 중심 화소(PX22)의 전류 밀도(CDT)에 기초하여, 표시 패널(PNL)에 포함된 복수의 화소들(PX11, PX21, PX31, PX12, PX22, PX32, PX13, PX23, PX33) 각각의 위치별 보상 파라미터(L)를 산출할 수 있다.
단계(S23)에서 위치별 보상 파라미터(L) 및 전류 밀도(CDT)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
구체적으로, 산출된 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 전류 밀도(CDT), 위치별 보상 파라미터(L)와 메모리부(400)에 저장된 복수의 파라미터(S, T, ACC)를 이용하여 복수의 디스플레이 장치(10(1)~10(N))에 구비된 표시 패널(PNL) 각각의 열화 가중치(B)를 산출할 수 있다.
단계(S24)에서 프로세서(40)는 열화 가중치(B)를 반영하여 대상 표시 패널을 구동할 수 있다.
구체적으로 프로세서(40)는 열화 가중치(B)를 포함하는 데이터 제어 신호(Dcon)를 측정 대상 디스플레이 장치로 공급하여 표시 패널(PNL)을 구동할 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 실시예들을 설명하였지만, 실시 예가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 실시 예가 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
1: 디스플레이 제작 시스템 20: 휘도 측정부
30: 구동 전압 측정부 40: 프로세서

Claims (13)

  1. 영상을 표시하는 표시 패널을 구비하는 복수의 디스플레이 장치;
    상기 표시 패널을 구동하는 구동 전원 전압을 가변하여, 휘도에 대응하는 포화 전압을 산출하는 구동 전압 측정부; 및
    상기 포화 전압에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하고 상기 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 상기 표시 패널을 제어하는 프로세서를 포함하는,
    디스플레이 제작 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 포화 전압은,
    상기 표시 패널의 발광 소자에 접속된 상기 구동 전원 전압이 가변함에 따라 상기 휘도의 변화량이 가변하는 시점에 대응하는 전압인,
    디스플레이 제작 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 프로세서는,
    상기 전류 밀도 및 상기 열화 가중치를 산출하는 복수의 파라미터를 미리 저장하는 메모리부; 및
    상기 복수의 파라미터에 기초하여 상기 전류 밀도 및 상기 열화 가중치를 산출하는 연산부를 포함하는,
    디스플레이 제작 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 연산부는,
    상기 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 상기 표시 패널의 상기 전류 밀도의 중심 값과 대상 표시 패널의 상기 전류 밀도에 기초하여 상기 열화 가중치를 산출하는,
    디스플레이 제작 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 연산부는,
    상기 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 상기 표시 패널의 상기 휘도의 중심값과 상기 대상 표시 패널의 상기 휘도에 기초하여 상기 열화 가중치를 산출하는,
    디스플레이 제작 시스템.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 메모리부는,
    상기 표시 패널의 발광 소자의 구동 전압의 가변에 대응하는 상기 밀도 전류를 미리 저장하고,
    상기 발광 소자의 구동 전압은 상기 구동 전원 전압 보다 상기 발광 소자의 문턱 전압만큼 큰 전압인,
    디스플레이 제작 시스템.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 발광 소자의 구동 전압은,
    상기 발광 소자에 흐르는 전류와 상기 표시 패널의 구동 트랜지스터에 흐르는 전류가 동일한 시점에 해당하는 전압인,
    디스플레이 제작 시스템.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 연산부는,
    상기 미리 저장된 밀도 전류를 이용하여 상기 포화 전압에 대응하는 상기 밀도 전류를 산출하는,
    디스플레이 제작 시스템.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 영상은 제1색, 제2색, 및 제3색 중 적어도 하나를 이용하여 표시되며,
    상기 전류 밀도는,
    상기 제1색, 상기 제2색, 및 상기 제3색 중 어느 하나를 이용하여 상기 영상을 표시하는 경우 산출되는,
    디스플레이 제작 시스템.
  10. 제3항에 있어서,
    상기 표시 패널은 복수의 화소를 포함하고,
    상기 연산부는,
    상기 복수의 화소의 상기 전류 밀도의 중심 값과 대상 화소에서 산출된 상기 전류 밀도의 중심 값에 기초하여 상기 전류 밀도 및 상기 열화 가중치를 산출하는,
    디스플레이 제작 시스템.
  11. 복수의 디스플레이 장치, 구동 전압 측정부, 및 프로세서를 포함하는 디스플레이 제작 시스템의 구동 방법에 있어서,
    상기 복수의 디스플레이 장치에 포함된 표시 패널이 영상을 표시하는 단계;
    상기 구동 전압 측정부가 상기 표시 패널을 구동하는 구동 전원 전압을 가변하여 휘도에 대응하는 포화 전압을 산출하는 단계; 및
    상기 프로세서가 상기 포화 전압에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하고 상기 복수의 디스플레이 장치 각각에 포함된 상기 표시 패널을 제어하는 단계를 포함하는,
    디스플레이 제작 시스템의 구동 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 휘도에 대응하는 포화 전압을 산출하는 단계는,
    상기 구동 전압 측정부가 상기 표시 패널의 발광 소자에 접속된 상기 구동 전원 전압이 가변함에 따라 상기 휘도의 변화량이 가변하는 시점에 대응하는 전압을 상기 포화 전압으로 결정하는 단계를 포함하는,
    디스플레이 제작 시스템의 구동 방법.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 프로세서는, 메모리부 및 연산부를 포함하고,
    상기 프로세서가 상기 포화 전압에 기초하여 전류 밀도 및 열화 가중치를 산출하는 단계는,
    상기 메모리부가 상기 전류 밀도 및 상기 열화 가중치를 산출하는 복수의 파라미터를 미리 저장하는 단계; 및
    상기 연산부가 상기 복수의 파라미터에 기초하여 상기 전류 밀도 및 상기 열화 가중치를 산출하는 단계를 포함하는,
    디스플레이 제작 시스템의 구동 방법.
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