JP6731460B2 - プロジェクタを制御する方法及び関連する電子デバイス - Google Patents
プロジェクタを制御する方法及び関連する電子デバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP6731460B2 JP6731460B2 JP2018192213A JP2018192213A JP6731460B2 JP 6731460 B2 JP6731460 B2 JP 6731460B2 JP 2018192213 A JP2018192213 A JP 2018192213A JP 2018192213 A JP2018192213 A JP 2018192213A JP 6731460 B2 JP6731460 B2 JP 6731460B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cover glass
- laser module
- projector
- controller
- module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B43/00—Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2513—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/14—Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B17/00—Details of cameras or camera bodies; Accessories therefor
- G03B17/48—Details of cameras or camera bodies; Accessories therefor adapted for combination with other photographic or optical apparatus
- G03B17/54—Details of cameras or camera bodies; Accessories therefor adapted for combination with other photographic or optical apparatus with projector
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B21/00—Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
- G03B21/14—Details
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B21/00—Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
- G03B21/14—Details
- G03B21/20—Lamp housings
- G03B21/2006—Lamp housings characterised by the light source
- G03B21/2033—LED or laser light sources
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B21/00—Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
- G03B21/14—Details
- G03B21/20—Lamp housings
- G03B21/2086—Security or safety means in lamp houses
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N9/00—Details of colour television systems
- H04N9/12—Picture reproducers
- H04N9/31—Projection devices for colour picture display, e.g. using electronic spatial light modulators [ESLM]
- H04N9/3191—Testing thereof
- H04N9/3194—Testing thereof including sensor feedback
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Projection Apparatus (AREA)
- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
Description
本発明はプロジェクタに関連し、特にプロジェクタの安全システムに関連する。
3D画像を取得するために、電子デバイスは、プロジェクタを利用して特定のパターンを周辺領域に投影し、カメラを利用して特定のパターンを有する画像をキャプチャーしてもよく、キャプチャーされた画像は、画像の深度情報を取得するためにプロセッサにより分析される。
Claims (6)
- プロジェクタと、前記プロジェクタに結合されるコントローラとを有する電子デバイスであって:
前記プロジェクタは:
レーザー・ビームを生成するレーザー・モジュール;及び
カバー・ガラスを有するレンズ・モジュールであって、前記レーザー・モジュールからの前記レーザー・ビームは、投影画像を生成するために前記レンズ・モジュールを通過する、レンズ・モジュール;
を有し、前記コントローラは、前記カバー・ガラスが破損しているか否かを判断して判断結果を生成し、前記判断結果に従って前記レーザー・モジュールのパワーを制御し、前記パワーを制御する場合において、前記コントローラは、前記判断結果がカバー・ガラスは破損していないことを示している場合に、カメラでキャプチャーした前記投影画像における特定のパターンのサイズを閾値と比較することにより分析して分析結果を生成し、前記分析結果に応じて前記カバー・ガラスが亀裂/傷/窪みを有するか否かを判断する、電子デバイス。 - 前記判断結果がカバー・ガラスは破損していることを示している場合、前記コントローラは前記レーザー・モジュールのパワーを下げる、請求項1に記載の電子デバイス。
- 前記判断結果がカバー・ガラスは破損していることを示している場合、前記コントローラは前記レーザー・モジュールをターン・オフにする、請求項1に記載の電子デバイス。
- レーザー・モジュールと、カバー・ガラスを有するレンズ・モジュールとを有するプロジェクタを制御する方法であって:
前記レーザー・モジュールを利用してレーザー・ビームを生成するステップであって、前記レーザー・ビームは、投影画像を生成するために前記レンズ・モジュールを通過する、ステップ;
前記カバー・ガラスが破損しているか否かを判断して判断結果を生成するステップ;及び
前記判断結果に従って前記レーザー・モジュールのパワーを制御するステップ;
を有し、前記カバー・ガラスが破損しているか否かを判断して判断結果を生成する前記ステップは、前記判断結果がカバー・ガラスは破損していないことを示している場合に、カメラでキャプチャーした前記投影画像における特定のパターンのサイズを閾値と比較することにより分析して分析結果を生成し、前記分析結果に応じて前記カバー・ガラスが亀裂/傷/窪みを有するか否かを判断するステップを含む、方法。 - 前記判断結果に従って前記レーザー・モジュールのパワーを制御するステップは:
前記判断結果がカバー・ガラスは破損していることを示している場合に、前記レーザー・モジュールのパワーを下げるステップを含む、請求項4に記載の方法。 - 前記判断結果に従って前記レーザー・モジュールのパワーを制御するステップは:
前記判断結果がカバー・ガラスは破損していることを示している場合に、前記レーザー・モジュールをターン・オフにするステップを含む、請求項4に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201762574762P | 2017-10-20 | 2017-10-20 | |
US62/574,762 | 2017-10-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019079039A JP2019079039A (ja) | 2019-05-23 |
JP6731460B2 true JP6731460B2 (ja) | 2020-07-29 |
Family
ID=63798896
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018192213A Active JP6731460B2 (ja) | 2017-10-20 | 2018-10-11 | プロジェクタを制御する方法及び関連する電子デバイス |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10466576B2 (ja) |
EP (1) | EP3474072A1 (ja) |
JP (1) | JP6731460B2 (ja) |
KR (1) | KR102158114B1 (ja) |
CN (1) | CN109696793B (ja) |
TW (1) | TWI677748B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019165885A1 (zh) * | 2018-02-27 | 2019-09-06 | Oppo广东移动通信有限公司 | 激光投射模组及其破裂的检测方法、深度相机和电子装置 |
US11126823B2 (en) * | 2019-11-27 | 2021-09-21 | Himax Technologies Limited | Optical film stack, changeable light source device, and face sensing module |
CN113916148B (zh) * | 2021-11-09 | 2023-05-16 | 浙江师范大学 | 一种硅酸盐玻璃压痕裂纹深度的检测方法 |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3684089A (en) | 1970-09-21 | 1972-08-15 | Brockway Glass Co Inc | Container wall thickness detection |
JP2000292307A (ja) * | 1999-04-07 | 2000-10-20 | Menicon Co Ltd | 光透過体の外観検査装置 |
JP2001147413A (ja) * | 1999-11-19 | 2001-05-29 | Sharp Corp | 液晶表示パネルの検査方法およびその装置 |
US20020162966A1 (en) * | 2001-05-02 | 2002-11-07 | Yoder Lorinda L. | Method and apparatus for detecting surface defects in a plastic container |
JP2003085660A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Asahi Glass Co Ltd | ウインドガラス破損検知装置及びウインドガラスの破損を検知する方法 |
JP4000507B2 (ja) * | 2001-10-04 | 2007-10-31 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置の製造方法 |
JP4204331B2 (ja) * | 2002-01-11 | 2009-01-07 | 株式会社オーク製作所 | 投影露光装置 |
JP2004184802A (ja) | 2002-12-05 | 2004-07-02 | Sony Corp | スクリーン、表示装置および投影制御方法 |
JPWO2006137548A1 (ja) * | 2005-06-24 | 2009-01-22 | パナソニック株式会社 | 画像投射装置及び背面投写型ディスプレイ装置 |
TWI315852B (en) * | 2005-08-05 | 2009-10-11 | Nat Chi Nan Cuniversity | A fingerprint acquisition apparatus and method therefor |
JP2007071785A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Victor Co Of Japan Ltd | プロジェクタの検査方法 |
JP2009134217A (ja) * | 2007-12-03 | 2009-06-18 | Seiko Epson Corp | プロジェクタ |
JP4951540B2 (ja) * | 2008-01-23 | 2012-06-13 | ペンタックスリコーイメージング株式会社 | ダスト検出装置およびデジタルカメラ |
US8130433B2 (en) | 2009-04-29 | 2012-03-06 | Corning Incorporated | Spinning optics for speckle mitigation in laser projection systems |
TW201128288A (en) | 2010-02-10 | 2011-08-16 | Cheng Uei Prec Ind Co Ltd | The projector |
US8593565B2 (en) * | 2011-03-25 | 2013-11-26 | Gary S. Shuster | Simulated large aperture lens |
CN202183820U (zh) * | 2011-04-29 | 2012-04-04 | 奥林巴斯映像株式会社 | 电子摄影装置 |
CN102955217B (zh) * | 2011-08-24 | 2016-01-20 | 奇景光电股份有限公司 | 光学镜片模组 |
KR102029505B1 (ko) | 2011-08-29 | 2019-10-07 | 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 | 복합 판유리에 디스플레이 화상을 생성하기 위한 장치 |
CN103034027B (zh) * | 2011-09-30 | 2015-03-11 | 中强光电股份有限公司 | 投影机及其光源控制方法 |
JP5696026B2 (ja) * | 2011-11-25 | 2015-04-08 | 株式会社 日立産業制御ソリューションズ | 撮像装置、撮像方法および監視システム |
ES2626454T3 (es) | 2012-09-28 | 2017-07-25 | Nihon Yamamura Glass Co., Ltd | Dispositivo de inspección de espesor de pared |
CN202886823U (zh) * | 2012-11-22 | 2013-04-17 | 天津开发区华普惠诚网络科技有限公司 | Lcd投影机照明系统 |
KR102066935B1 (ko) * | 2013-02-06 | 2020-01-16 | 한화테크윈 주식회사 | 감시 카메라 |
CN104423126A (zh) * | 2013-09-09 | 2015-03-18 | 福华电子股份有限公司 | 自由空间动态绕射式图像投影装置 |
EP3121649B1 (en) | 2014-03-18 | 2019-12-18 | Ricoh Company, Ltd. | Light source device and image projection device having light source device |
US10084999B2 (en) * | 2014-09-30 | 2018-09-25 | Nec Display Solutions, Ltd. | Illuminating device, wheel deterioration detecting method and projector |
JP2016168834A (ja) * | 2015-03-12 | 2016-09-23 | 株式会社オーディオテクニカ | 筆記補助線投影装置 |
JP6309691B2 (ja) | 2015-03-31 | 2018-04-11 | 浜松ホトニクス株式会社 | 投影表示装置 |
US9967535B2 (en) * | 2015-04-17 | 2018-05-08 | Light Labs Inc. | Methods and apparatus for reducing noise in images |
JP2017003922A (ja) * | 2015-06-15 | 2017-01-05 | 船井電機株式会社 | 光学素子及びプロジェクタ |
JP2017120364A (ja) * | 2015-12-28 | 2017-07-06 | 奇景光電股▲ふん▼有限公司 | プロジェクタ、プロジェクタを有する電子機器及び関連する製造方法 |
CN107102505B (zh) * | 2017-04-27 | 2020-04-03 | 苏州佳世达光电有限公司 | 一种投影机光源系统、控制方法和投影机装置 |
-
2018
- 2018-09-27 US US16/145,058 patent/US10466576B2/en active Active
- 2018-10-02 TW TW107134808A patent/TWI677748B/zh active
- 2018-10-08 CN CN201811167319.8A patent/CN109696793B/zh active Active
- 2018-10-09 EP EP18199299.1A patent/EP3474072A1/en not_active Withdrawn
- 2018-10-11 JP JP2018192213A patent/JP6731460B2/ja active Active
- 2018-10-18 KR KR1020180124516A patent/KR102158114B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201917484A (zh) | 2019-05-01 |
KR20190044525A (ko) | 2019-04-30 |
US20190121226A1 (en) | 2019-04-25 |
US10466576B2 (en) | 2019-11-05 |
CN109696793B (zh) | 2021-01-05 |
TWI677748B (zh) | 2019-11-21 |
JP2019079039A (ja) | 2019-05-23 |
KR102158114B1 (ko) | 2020-09-22 |
CN109696793A (zh) | 2019-04-30 |
EP3474072A1 (en) | 2019-04-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6731460B2 (ja) | プロジェクタを制御する方法及び関連する電子デバイス | |
TWI534716B (zh) | 手指指紋讀取系統 | |
KR20160059406A (ko) | 가상 이미지를 출력하기 위한 웨어러블 장치 및 방법 | |
KR102306539B1 (ko) | 홍채를 촬영하기 위하여 이용되는 광을 조사하는 방법 및 디바이스 | |
KR20150075906A (ko) | 시선 추적 장치 및 방법 | |
JP2017097574A (ja) | 情報処理装置、生体認証方法および生体認証プログラム | |
CN111357008B (zh) | 生物计量成像系统以及用于控制该系统的方法 | |
TWI661232B (zh) | 泛光照射器與點陣投影器的整合結構 | |
CN112668388A (zh) | 包含取代光电二极管的光圈以获得增加的光通过量的光学感测系统和装置 | |
CN108475324B (zh) | 非接触摩擦纹脊捕获装置 | |
KR101002072B1 (ko) | 펄스 구동 방식의 투영 영상 터치 장치 | |
CN106990859B (zh) | 光学触控系统、光学触控装置及其触控检测方法 | |
EP3724815B1 (en) | Anti-spoofing face id sensing based on retro-reflection | |
WO2020253132A1 (zh) | 电子装置 | |
CN215869390U (zh) | 光学感测系统和电子设备 | |
KR100586958B1 (ko) | 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템 | |
KR20210078114A (ko) | 광원 구동 제어장치 및 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181011 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191017 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191211 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200121 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200227 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200414 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200507 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20200507 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20200518 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20200519 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200616 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200706 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6731460 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |