KR100586958B1 - 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템 - Google Patents

지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템에 관한 것이다.
본 발명은 지문의 특징을 추출하여 사용자 인증을 수행하는 지문 인증 시스템에 있어서, 손가락을 접촉하여 지문을 입력하는 터치 판넬(302); 상기 터치 판넬(302)에 입사광을 발생시키는 광원(308, 310); 광학적 광 영상을 취득하여 전기 신호로 변환하기 위한 지문 영상 취득부(212); 상기 광원(308, 310) 및 상기 지문 영상 취득부(212)와 연결된 센서바(316); 상기 광원(308, 310) 및 센서바(316)와 연결되어 있는 스테핑 모터(Stepping Motor)(312); 상기 스테핑 모터(312)의 회전각을 조절하기 위한 콘트롤러(400); 상기 영상 신호로부터 지문 데이터를 생성하는 영상 처리부(404); 정당한 사용자의 지문 데이터를 미리 저장하기 위한 메모리(408); 및 상기 영상 처리부(404)에서 생성한 지문 데이터와 상기 메모리(408)에 저장된 지문 데이터를 비교하기 위한 영상 비교부(406)를 포함하는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템을 제공한다.
본 발명에 의하면, 광학식 지문 인증 시스템에 있어서, 지문을 입력받는 지문 입력부의 지문 접촉면이 넓기 때문에 사용자로 하여금 지문 접촉면에 신경써서 지문을 위치한 후 접촉시키지 않아도 되는 효과가 있으며 좁은 지문 입력부에 손가락의 일부분만 갖다대서 발생하는 오인식률을 줄일 수 있는 장점이 있다.
지문 인증, 광원, 지문 입력부, 스테핑 모터

Description

지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템{Optical Finger-Print Certification System Having Wide Finger-Print Contact Area}
도 1a는 사람의 지문을 접촉면 하부에서 바라볼 경우의 도면,
도 1b는 사람의 지문을 접촉면 측면에서 바라본 경우의 도면,
도 2는 종래의 광학식 지문 인증 시스템을 개략적으로 나타낸 도면,
도 3a는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 일차 광원 및 이차 광원을 사용하는 접촉면이 넓은 지문 입력부를 측면에서 바라본 측면도,
도 3b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 일차 광원 및 이차 광원을 사용하는 접촉면이 넓은 지문 입력부를 위에서 바라본 평면도,
도 3c는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학 프리즘을 사용하는 접촉면이 넓은 지문 입력부를 측면에서 바라본 측면도이고,
도 3d는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학 프리즘을 사용하는 접촉면이 넓은 지문 입력부를 위에서 바라본 평면도,
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 지문의 접촉면이 넓은 지문 입력부를 구비한 지문 인증 시스템을 나타낸 도면,
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 접촉면이 넓은 지문 입력부를 구비한 지문 인증 시스템의 지문 인증 과정을 나타낸 순서도이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
100 : 융선 102 : 골
200 : 광학 프리즘 202 : 접촉면
204 : 출사면 206 : 수광면
208 : 광원 210 : 입사광
211 : 반사광 212 : 지문 영상 취득부
214 : 광학 렌즈 216 : 영상 센서
300 : 지문 입력부 302 : 터치 판넬
304 : 전도성 물질이 코팅된 필름 306 : 반사면
308 : 일차 광원 310 : 이차 광원
312 : 스테핑 모터 316 : 센서바
400 : 콘트롤러 402 : 광원 제어부
404 : 영상 처리부 406 : 영상 비교부
408 : 메모리
본 발명은 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템에 관한 것이다. 더욱 상세하게는 지문 인증 시스템의 지문을 갖다대는 접촉면에 있어서, 넓은 면적을 가지는 접촉면을 제공하여 사용자가 접촉면 내의 어느 위치에 지문을 갖다대더 라도 지문을 입력받아 사용자 인증을 수행하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템에 관한 것이다.
지문 인증 시스템은 지문 입력부에 입력된 지문과 지문 인증 시스템에 미리 저장된 사용자의 지문을 비교하여 사용자 인증을 수행하는 인증 시스템으로서 도어나 금고의 잠금장치, 출입관리, 근태관리, 컴퓨터 액세스 제어 등 다양하게 활용되고 있다. 이러한 지문 인증을 수행하기 위하여 지문을 받아들이는 지문 입력 시스템은 크게 광학식과 비광학식으로 대별된다.
광학식 지문 입력 시스템으로는 프리즘(Prism)을 이용한 지문 입력 시스템, 홀로그램을 이용한 지문 입력 시스템 등이 있다. 프리즘을 이용한 지문 입력 시스템은 광원으로부터 프리즘에 입사된 빛의 전반사를 이용하여 지문을 획득하여 사용자 인증을 수행하며, 홀로그램을 이용한 지문 입력 시스템은 평판 위에 놓인 손가락의 지문에서 반사되어져 나온 이미지를 홀로그램 막에 투영하여 이미지를 획득하여 사용자 인증을 수행한다.
비광학식 지문 입력 시스템은 센서 어레이(Sensor Array)를 이용한 지문 입력 시스템, 초음파(Ultrasonic Wave)를 이용한 지문 입력 시스템, 전기장(Electric-Field)을 이용한 지문 입력 시스템 등이 있다. 센서 어레이를 이용한 지문 입력 시스템은 접촉 표면에 놓여지는 손가락의 압력과 체온에 따른 센서 어레이의 전하량의 변화를 검출하여 지문을 센싱하는 방법이고, 전기장을 이용한 지문 입력 시스템은 센서 어레이의 센서를 전기장 센서를 사용하여 지문 이미지를 획득하는 방법이다. 마지막으로 초음파를 이용한 지문 입력 시스템은 접촉 표면에 놓인 손가락에 초음파를 투사하여 반사되는 초음파를 전기적 신호로 변환하여 지문을 인식하는 방법이다.
그러나 일반적으로 종래의 지문 인증 시스템은 지문이 접촉하는 접촉면에 대해서 땀과 오염 물질과 관련한 내구성을 고려하여 광학식 지문 인증 시스템을 보편적으로 사용하고 있으며, 접촉면은 손가락 하나 정도 접촉할 수 있는 정도의 면적으로 이루어져 있다.
도 1a는 사람의 지문을 접촉면 하부에서 바라볼 경우의 도면이고 도 1b는 사람의 지문을 접촉면 측면에서 바라본 경우의 도면이다.
지문은 지두(指頭)를 물체 표면에 눌러 찍음으로써 물체 표면에 남는 무늬를 말한다. 융선(100)이라는 것은 땀샘의 출구 부분이 주위보다 융기하고 또한 이것이 서로 연락하여 밭고랑 모양으로 되어 있는 부분을 의미한다. 골(102)은 융선(100)과 융선(100) 사이에 계곡과 같이 파인 부분을 의미한다.
지문은 평생 불변이며 만인이 같지 않다는 점을 이용하여 개인 식별에 이용하고 있다. 통상 지문을 접촉면에 대보면 융선(100) 부분만이 접촉면에 닿게 되어 물체 표면에 무늬를 남기게 되며 이 무늬를 이용하여 개인 식별 또는 인증에 활용하고 있다.
도 2는 종래의 광학식 지문 인증 시스템을 개략적으로 나타낸 도면이다.
종래의 광학식 지문 인증 시스템은 광원(208), 광학 프리즘(200) 및 지문 영상 취득부(212)를 포함한다. 광학 프리즘(200)은 접촉면(Contacting Surface)(202), 수광면(Light Receiving Surface)(206) 및 출사면(Viewing Surface)(204)을 포함한다. 접촉면(202)은 지문의 영상 처리를 위해서 지문이 놓여지는 면이다. 수광면(206)은 광원(208)에서 발생한 입사광(210)이 광학 프리즘(200)으로 입사하는 면이며 출사면(204)은 접촉면(202)에 접촉한 지문에 반사된 입사광(210)이 지문 영상 취득부(212)로 들어가는 면이다.
광원(208)은 하나 이상의 발광 다이오드를 포함하여 이루어지며 수광면(206)에 인접하여 입사광(Incident Light)(210)을 발생시킨다. 일반적으로 손가락을 광학 프리즘(200)의 영상면(202)에 갖다대면 광원(208)에서 발생된 입사광(210)은 영상면(202)에 부딪혀 지문이 접촉하지 않은 부분에서는 투과되고 지문이 접촉한 부분에서는 출사면(204)으로 반사된다. 영상면(202)에서 반사된 입사광(210)은 광학 프리즘(200)의 출사면(204)을 통과하여 출사면(204)에 인접한 지문 영상 취득부(212)로 들어간다.
지문 영상 취득부(212)는 하나 또는 둘 이상의 광학 렌즈(214)와 광학적 광 영상을 취득하여 전기 신호로 변환하는 영상 센서(216)를 포함하여 이루어져 있다. 영상 센서(216)는 CCD(Charge Coupled Device) 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)칩 중 어느 하나로 구성된다. 영상 센서(216)에서 변환된 전기 신호는 영상 센서(216)와 연결된 전자 장치(미도시)에 포함된 소프트웨어에 의해 처리되어 사전에 저장된 지문 데이터와 대조될 수 있는 형태로 변환되거나 새로운 지문 데이터로 저장된다.
종래의 광학식 지문 인증 장치는 손가락 하나 정도 접촉할 수 있는 지문 접촉면을 가지고 있었다. 그렇기 때문에 사용자가 지문 인증을 수행하기 위해서는 지 문 접촉면에 지문을 정확히 위치하여 접촉해야 하는 단점이 있었다.
또한 사용자의 부주의에 의해서 지문 접촉면에 손가락을 대더라도 지문 접촉면이 좁기 때문에 지문 접촉면을 벗어나서 지문의 일부만 유효하게 접촉하게 되는 경우가 빈번히 발생하였다. 이와 같은 경우에는 지문의 일부분만이 영상 센서(216)에 포착되어 사전에 저장된 지문과 비교하기 때문에 지문 인증이 실패하는 문제점이 있었다.
상기한 문제점을 해결하기 위해 본 발명은, 광학식 지문 인증 시스템에 있어서, 사용자가 좁은 지문 접촉면에 신경써서 지문을 위치한 후 접촉시키지 않아도 되는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템을 제공함을 그 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 지문의 특징을 추출하여 사용자 인증을 수행하는 지문 인증 시스템에 있어서, 손가락을 접촉하여 지문을 입력하는 터치 판넬(302); 상기 터치 판넬(302)에 입사광을 발생시키는 광원(308, 310); 광학적 광 영상을 취득하여 전기 신호로 변환하기 위한 지문 영상 취득부(212); 상기 광원(308, 310) 및 상기 지문 영상 취득부(212)와 연결된 센서바(316); 상기 광원(308, 310) 및 센서바(316)와 연결되어 있는 스테핑 모터(Stepping Motor)(312); 상기 스테핑 모터(312)의 회전각을 조절하기 위한 콘트롤러(400); 상기 영상 신호로부터 지문 데이터를 생성하는 영상 처리부(404); 정당한 사용자의 지문 데이터를 미리 저장하기 위한 메모리(408); 및 상기 영상 처리부(404)에서 생성한 지문 데이터와 상기 메모리(408)에 저장된 지문 데이터를 비교하기 위한 영상 비교부(406)를 포함하는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템을 제공한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
도 3a는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 일차 광원 및 이차 광원을 사용하는 접촉면이 넓은 지문 입력부를 측면에서 바라본 측면도이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 일차 광원 및 이차 광원을 사용하는 지문의 접촉면이 넓은 지문 입력부(300)는 터치 판넬(302), 일차 광원(308), 이차 광원(310), 스테핑 모터(312), 지문 영상 취득부(212), 센서바(316)를 포함한다.
터치 판넬(302)은 전도성 물질이 코팅된 필름(304), 반사면(306)을 포함한다. 터치 판넬(302)은 전도성 물질이 코팅된 필름(304)과 반사면(306) 사이에 일정한 전압이 인가된 상태로 존재한다. 사람이 손이나 터치펜으로 전도성 물질이 코팅된 필름(304)에 접촉하게 되면 접촉 위치에 따라서 전도성 물질이 코팅된 필름(304)과 반사면(306) 각각에 저항의 변화가 생기게 된다. 이때 저항값이 변한 전도성 물질이 코팅된 필름(304)과 반사면(306)의 위치 정보를 콘트롤러(미도시)가 계산하여 터치 판넬(302)에 접촉한 손가락의 위치를 알아내게 된다.
광원은 다수의 발광 다이오드(LED : Light Emitting Diode)를 배열하여 사용하고 있고, 반사면(306)으로부터 3 ㎝ 내지 10 ㎝사이에 이격되어 위치하고 있으며 반사면(306)에 전달되는 입사광(210)을 발생시킨다. 도면에서 광원은 일차 광원(308)과 이차 광원(310)으로 구분되어 있으며 각각 스테핑 모터(312)에 연결되어 있다.
스테핑 모터(Stepping Motor)(312)는 콘트롤러에서 전송하는 입력 펄스 신호에 따라 회전하게 되어 주로 정밀 기계와 전자 장치의 위치를 제어하는 데 사용되는 부품으로서 도면에서는 일차 광원(308), 이차 광원(310)과 각각 연결되어 입사광의 발생 각도를 제어하는 역할을 한다. 터치 판넬(302)에 손가락을 갖다대면 손가락이 위치한 부분을 콘트롤러가 계산하고 계산된 결과에 따라서 일차 광원(308) 및 이차 광원(310) 각각에 연결된 스테핑 모터(312)를 회전시켜 광원의 입사광(210) 조사(照射) 각도를 조절하게 된다. 이 후 광원(308, 310)에서는 손가락을 갖다댄 터치 판넬(302)의 반사면(306) 위치로 입사광(210)을 발생시킨다.
지문 영상 취득부(212)는 하나 또는 둘 이상의 광학 렌즈(214), 영상 센서(216)를 포함한다. 영상 센서(216)는 CCD(Charge Coupled Device) 또는 CMOS(Complemetary Metal Oxide Semiconductor)칩 중 어느 하나로 구성되며 광학 렌즈에 포착된 광을 전기적 신호로 변환한다. 영상 센서(216)에 채집된 전기 신호는 지문 인증 소프트웨어를 포함하는 전자 장치(미도시)에 의해 사전에 메모리(미 도시)에 저장된 다른 지문 영상과 대조되거나 새로운 지문 영상 데이터로 저장된다.
센서바(316)는 일차 광원(308), 이차 광원(310), 지문 영상 취득부(212)와 연결되어 있다. 터치 판넬(302)에 손가락이 위치한 지점을 콘트롤러가 계산하면 스테핑 모터(312)는 계산한 결과에 따라서 센서바를 손가락이 위치한 지점으로 이동시킨다.
도 3b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 일차 광원 및 이차 광원을 사용하는 접촉면이 넓은 지문 입력부를 위에서 바라본 평면도이다.
사람이 손이나 터치펜으로 터치 판넬(302)에 접촉하게 되면 접촉 위치에 따라서 전도성 물질이 코팅된 필름(304)과 반사면(306) 각각에 저항의 변화가 생기게 된다.
지문 입력부(300)와 연결된 콘트롤러가 터치 판넬(302)의 저항 변화를 감지하면, 콘트롤러는 도면에 도시된 X 축 방향으로 광원(308,310)의 조사 각도를 결정한다. 또한 콘트롤러는 광원(308,310)이 부착된 센서바(316)를 Y 축 방향으로 이동시키게 된다. 따라서 터치 판넬에 접촉한 지문 영상이 지문 영상 취득부(212)로 채집된다.
도 3c는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학 프리즘을 사용하는 접촉면이 넓은 지문 입력부를 측면에서 바라본 측면도이고, 도 3d는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학 프리즘을 사용하는 접촉면이 넓은 지문 입력부를 위에서 바라본 평면도이다.
본 발명의 또다른 실시 예로 광학 프리즘(200)을 사용하는 지문의 접촉면이 넓은 지문 입력부(300)는 터치 판넬(302), 일차 광원(308), 광학 프리즘(200), 지문 영상 취득부(212) 및 센서바(316)를 포함한다.
사람이 손을 터치 판넬(302)에 접촉하게 되면 지문 입력부(300)와 연결된 콘트롤러가 터치 판넬(302)의 저항 변화를 감지한다. 콘트롤러는 도면에 도시된 X 축 및 Y축 방향으로 센서바(316)를 이동시키고, 광학 프리즘(200)을 포함하는 지문 영상 취득부(212)의 일차 광원(308)에서 광원이 광학 프리즘(200)으로 조사되어 터치 판넬(302)에 접촉한 지문의 지문 영상을 채집하도록 한다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 지문의 접촉면이 넓은 지문 입력부를 구비한 지문 인증 시스템을 나타낸 도면이다.
본 발명에 따른 지문 인증 시스템은 도 3a 또는 도 3c에 도시한 지문 입력부(300), 센서바(316), 콘트롤러(400), 광원 제어부(402), 영상 처리부(404), 영상 비교부(406), 메모리(408)를 포함하여 구성된다. 도 4에서는 도 3a의 지문입력부(300)를 구비한 지문 인증 시스템을 예로 후술한다.
콘트롤러(400)는 지문 입력부(300)에 접촉된 손가락의 위치를 파악하여 위치 정보를 계산하고, 계산된 결과에 따라서 스테핑 모터(312)의 회전각을 조절하여 일차 광원(308) 및 이차 광원(310)의 입사광(210) 발생 각도를 조절한다. 또한 손가락이 위치한 지점의 X축 및 Y축의 좌표 정보를 포함하는 위치 정보를 토대로 스테핑 모터(312)를 회전시켜 센서바(316)를 손가락이 터치 판넬(302)에 접촉한 지점으로 이동시킨다.
광원 제어부(402)는 지문 입력부(300)에 접촉한 손가락이 위치한 반사면(306)으로 일차 광원(308) 및 이차 광원(310)의 입사광(210)의 세기를 조절한다.
일차 광원(308) 및 이차 광원(310)에서 발생된 입사광(210)은 터치 판넬(302)의 손가락이 접촉된 위치의 반사면(306)에 부딪혀 투과 또는 반사된다. 반사된 반사광(211)은 지문 영상 취득부(212)로 입사된다. 지문 영상 취득부(212)로 입사된 반사광(211)은 영상 센서(216)에서 전기적 신호 형태로 변형되게 된다.
지문 영상 취득부(212)의 영상 센서(216)에서 전기적 신호 형태로 변형된 반사광(211)을 이용하여 영상 처리부(404)에서 지문 영상을 형성하게 된다. 지문 인증 시스템이 처리할 수 있는 지문의 영상을 형성하는 방법에는 흡수식과 산란식이 있다.
흡수식이라고 알려진 지문의 영상을 형성하는 방법은 후술하는 바와 같다. 지문의 융선(100)과 접촉하고 있는 반사면(306)에 입사되는 입사광(210)은 실질적으로 융선(100)에 의해 흡수된다. 그러나 지문의 골(102)이 위치한 반사면(306)에 입사되는 입사광(210)은 반사면(306)으로부터 반사되어 지문 영상 취득부(212)로 들어간다. 지문 영상 취득부(212)에서는 흡수된 반사광(211)을 취하고 반사된 반사광(211)은 취하지 않는다. 따라서 흡수식으로 지문 영상을 형성하는 지문 인증 시스템에서는 지문의 영상이 골(102)에서는 밝고 융선(100)에서는 상대적으로 어둡게 나타난다.
산란식이라고 알려진 지문의 영상을 형성하는 방법은 후술하는 바와 같다. 입사광(210)이 반사면(306)에 입사되어 지문의 융선(100)이 반사면(306)과 접촉한 부분에서는 반사면(306) 내부로 산란되고 지문의 골(102)이 있는 부분에서는 입사광(210)은 거의 모두 반사면(306)을 통과한다. 지문 영상 취득부(212)는 반사면(306)에 반사된 반사광(211)을 취하고 반사면을 통과한 입사광(210)은 취하지 않는다. 따라서 산란식 지문 인증 시스템에 있어서 지문의 영상은 골(102)에서 어둡고 융선(100)에서 상대적으로 밝게 형성된다.
메모리(408)에는 지문 인증을 수행하기 전에 사전에 지문 인증 대상이 될 수 있는 사용자에 대한 지문을 채집하고 영상화하여 영상화된 지문에 대한 콘트라스트 레벨이나 지문의 융선폭을 포함하는 지문 데이터로 저장되어 있다.
영상 비교부(406)는 메모리(408)에 저장된 지문 데이터와 영상 처리부(404)에서 처리된 지문 입력부(300)에서 입력받은 지문 영상의 콘트라스트 레벨 데이터나 융선폭 데이터 등을 포함하는 지문 데이터를 계산하여 지문 영상을 비교하게 된다.
예를 들어, 사전에 지문 인증 시스템의 메모리(408)에 지문 인증 대상이 되는 사용자의 지문 데이터를 저장해 두었다가 지문 입력부(300)에 접촉한 사용자의 지문을 영상 처리부(404)에서 지문 융선폭 데이터를 포함하는 지문 데이터로 변환한 후 메모리(408)에 저장된 지문 데이터와 동일한 지를 영상 비교부(406)에서 비교하게 된다. 지문에 대한 콘트라스트 레벨 데이터나 융선폭 데이터를 포함하는 데이터를 생성, 추출, 비교하는 지문 인증 알고리즘은 당업자에게 주지된 소프트웨어 기술에 의해 용이하게 구현되어 지문 인증을 수행하게 된다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 접촉면이 넓은 지문 입력부를 구비한 지문 인증 시스템의 지문 인증 과정을 나타낸 순서도이다.
단계 S500에서는 사전에 지문 인증 시스템을 사용하여 지문 인증을 수행받고자 하는 사람의 지문 융선폭 데이터, 지문의 콘트라스트 레벨 데이터를 취합하여 메모리(408)에 저장한다.
지문 인증을 수행하고자 하는 사람은 지문 인증 시스템의 지문 입력부(300)에 지문을 갖다 댄다(S502).
단계 S502에서 터치 판넬(302)에 접촉한 지문의 위치 정보를 콘트롤러(400)가 계산하고 콘트롤러(400)가 계산한 지문의 위치 정보를 전달받은 스테핑 모터(312)는 일차 광원(308) 및 이차 광원(310)의 입사광 조사(照射) 각도를 조절한 후 광원 제어부(402)는 터치 판넬(302)에 접촉한 지문 위치로 입사광(210)을 발생시킨다(S504).
일차 광원(308) 및 이차 광원(310)을 통해 발생된 입사광(210)은 지문이 위치한 반사면(306)에 부딪혀 산란 또는 반사되어 지문 영상 취득부(212)로 들어가게 된다. 지문 영상 취득부(212)로 들어간 산란 또는 반사된 반사광(211)은 영상 센서(216)에 의해서 전기적 신호로 변환되고 영상 처리부(404)에 의해서 지문의 융선폭, 지문의 콘트라스트 레벨을 포함하는 데이터로 이루어진 지문 영상을 형성하게 된다(S506).
단계 S508에서 형성된 지문 영상은 영상 비교부(406)로 전송되고 영상 비교부(406)에서는 메모리(408)에 사전에 저장된 지문의 융선폭 데이터, 지문의 콘트라 스트 레벨을 포함하는 지문 데이터와 영상 처리부(404)에 형성된 지문 영상을 비교하게 된다(S508).
영상 비교부(406)에서 지문 입력부(300)에 접촉한 지문과 메모리(408)에 저장된 지문 데이터가 동일한 경우에는 지문 인증 성공 신호를 생성한다. 그렇지않고 지문 입력부(300)에 접촉한 지문과 메모리(408)에 저장된 지문 데이터가 동일하지 않은 경우에는 지문 인증 실패 신호를 생성하여 사용자가 지문 입력부(300)에 지문을 재접촉하도록 유도한다(S510).
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 광학식 지문 인증 시스템에 있어서, 지문을 입력받는 지문 입력부의 지문 접촉면이 넓기 때문에 사용자로 하여금 지문 접촉면에 정확히 갖다대는 데 신경쓰지 않아도 되는 사용상의 편리성이 있는 한편, 좁은 지문 입력부에 손가락의 일부분만 갖다대게 되어 지문의 일부만 인 식되어 발생하는 오인식률을 줄일 수 있는 장점이 있다.

Claims (11)

  1. 지문의 특징을 추출하여 사용자 인증을 수행하는 지문 인증 시스템에 있어서,
    손가락을 접촉하여 지문을 입력하는 터치 판넬(302);
    상기 터치 판넬(302)에 입사광을 발생시키는 광원(308, 310);
    광학적 광 영상을 취득하여 전기 신호로 변환하기 위한 지문 영상 취득부(212);
    상기 광원(308, 310) 및 상기 지문 영상 취득부(212)와 연결된 센서바(316);
    상기 광원(308, 310) 및 센서바(316)와 연결되어 있으며, 상기 광원의 입사광 조사 각도를 조절하며, 상기 터치 판넬에 상기 손가락이 위치한 지점으로 상기 센서바를 이동시키는 스테핑 모터(Stepping Motor)(312);
    상기 스테핑 모터(312)의 회전각을 조절하기 위한 콘트롤러(400);
    상기 영상 신호로부터 지문 데이터를 생성하는 영상 처리부(404);
    정당한 사용자의 지문 데이터를 미리 저장하기 위한 메모리(408); 및
    상기 영상 처리부(404)에서 생성한 지문 데이터와 상기 메모리(408)에 저장된 지문 데이터를 비교하기 위한 영상 비교부(406)
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치 판넬(302)은 전도성 물질이 코팅된 필름(304)과 반사면(306)을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 스테핑 모터(312)와 연결된 상기 광원(308, 310)은 하나 또는 둘인 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 콘트롤러(400)는 상기 터치 판넬(302)에 접촉한 지문의 위치 정보를 계산하여 상기 스테핑 모터(312)의 회전각을 조절하여 상기 광원(308, 310)의 입사광 발생 각도를 조절하는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 콘트롤러(400)는 상기 터치 판넬(302)에 접촉한 지문의 위치 정보를 계산하여 상기 스테핑 모터(312)의 회전각을 조절하여 센서바(316)를 이동시키는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 지문 영상 취득부(212)는 광학 렌즈(214), 영상 센서(216)를 포함하는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 영상 센서(216)는 CCD(Charge Coupled Device), CMOS(Complemetary Metal Oxide Semiconductor)칩 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 지문 데이터는 융선 폭, 지문 영상의 콘트라스트 레벨을 포함하는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 메모리(408)는 HDD(Hard Disk Drive), 플래쉬 메모리(Flash Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)중 어느 하나인 것 을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 콘트롤러(400)와 상기 영상 처리부(404)는 MPU(Microprocessor Unit)로 구성되는 것을 특징으로 하는 지문의 접촉면이 넓은 광학식 지문 인증 시스템.
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