JP6728016B2 - 光量測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、測定対象波長領域内の被測定光についての予め規定された測定値を測定可能に構成された光量測定装置に関するものである。

プロジェクタ装置およびディスプレイ装置等の映像機器や照明機器などの「人工光源」を有する装置では、光源から出射された光が、意図した光量で意図した色合いとなっているかを検査する必要が生じることがある。このような検査に際しては、一例として、下記の特許文献に開示されている分光放射照度測定器（分光特性測定装置）などを利用して、光源から出射された光を被測定光とする測定処理が実行される。

この分光放射照度測定器（以下、単に「測定器」ともいう）は、基準白色反射板（以下、単に「反射板」ともいう）によって反射された被測定光の一部をポリクロメータに案内して分光測定を行い、その測定結果から、演算制御部が分光放射照度などの測定値を算出する構成が採用されている。この場合、この測定器は、ソーラーシミュレータの評価を行う際に各種の測定処理を実行することができるように構成された装置であって、その測定可能波長範囲が十分に広く、かつその波長分解能が十分に高くなっている。具体的には、この測定器のポリクロメータは、１０００個のセンサからなるセンサアレイを備えると共に、その測定可能波長範囲が３００〜１１００ｎｍに規定され、これにより、波長分解能が０．８ｎｍとなっている。

このような測定器を使用して人工光源から出射された被測定光についての光量や色合いを測定するには、被測定光を反射板に向けて照射する。この際には、反射板によって反射された被測定光がポリクロメータに案内されて分光測定が行なわれ、上記の測定可能波長範囲内の各波長毎の光量がそれぞれ測定される。次いで、上記の分光測定の測定結果（各波長毎の光量を特定可能な分光データ）に基づき、被測定光の総光量（各波長毎の光量の合計値）、被測定光の重心波長、および被測定光の波長幅（スペクトル幅：Root Mean Square）などを特定する。これにより、被測定光がどのような光量でどのような色合いになっているかを特定することが可能となる。

特開２０１１−２４２３１４号公報（第５−９頁、第１−１７図）

ところが、上記の特許文献に開示されている測定器には、以下のような解決すべき課題が存在する。すなわち、上記の特許文献に開示されている測定器では、ソーラーシミュレータの評価を目的とする測定処理を実行可能とするために、測定可能波長範囲が十分に広く、かつその波長分解能が十分に高くなるように構成されている。しかしながら、上記の測定器では、十分に広い測定可能波長範囲および十分に高い波長分解能を有するポリクロメータが高価であるため、その製造コストの低減が困難となっている。

この場合、例えば照明器具から出射される光を被測定光とする測定においては、一例として、３５０〜７５０ｎｍ程度の波長範囲（可視光波長範囲）内の光だけを対象とする測定処理を行うだけで被測定光を十分に評価できることがある。また、レーザプロジェクタのようなレーザ光源を備えた映像機器からの光（レーザ光）を被測定光とする測定においては、出力される光に波長のずれが生じている状態を考慮したとしても、一例として、６３５ｎｍ±２０ｎｍ程度の波長範囲（赤色レーザ光を対象とする測定対象波長範囲）、５２０ｎｍ±２０ｎｍ程度の波長範囲（緑色レーザ光を対象とする測定対象波長範囲）、および４５０ｎｍ±２０ｎｍ程度の波長範囲（青色レーザ光を対象とする測定対象波長範囲）の３つの波長範囲内の光だけを対象とする測定処理を行うだけで被測定光（赤色レーザ光、緑色レーザ光および青色レーザ光）を十分に評価することができる。

したがって、上記の例のような人工光源からの光を測定対象とする場合には、測定対象波長範囲の広さに応じて測定可能波長範囲が狭いポリクロメータを採用することにより、製造コストをある程度低減できる可能性がある。しかしながら、被測定光の光量（総光量）や色合いを高精度で特定する場合には、十分に高い波長分解能を有している必要がある。このため、測定可能波長範囲を狭くすることでセンサアレイを構成するセンサの数を減少させることができたとしても、十分な波長分解能を確保するためには、依然として多数のセンサを備えたセンサアレイを構成する必要があることから、その製造コストを十分に低減することができないという現状がある。

一方、ポリクロメータに代えて、モノクロメータを備えて測定器を構成することで製造コストを低減できる可能性がある。しかしながら、モノクロメータを備えた測定器では、十分に高い波長分解能で測定を行うのに長い時間を要することから、測定対象波長範囲内の被測定光の光量（総光量）や色合いを高精度で特定するのに要する時間が長くなるという問題が生じる。

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、製造コストの低減を図りつつ、測定対象波長領域内の被測定光についての波長幅などを短時間で高精度に測定し得る光量測定装置を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく、請求項１記載の光量測定装置は、測定対象波長領域内の被測定光を受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部を有するＮ個（Ｎは、３以上の自然数）の受光センサを備えた受光部と、前記各検出信号に基づいて前記被測定光についての予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、前記受光部は、いずれかの前記受光センサの前記被測定光についての分光感度に対する他のいずれかの前記受光センサの当該被測定光についての分光感度の比が前記測定対象波長領域内の各波長毎に相違するように前記光電変換部への当該被測定光の入射を制限する第１の光学フィルタを当該各受光センサがそれぞれ備えて当該各受光センサの分光感度特性が互いに相違するように構成され、前記処理部は、前記特定処理において、前記各受光センサからの前記検出信号の信号レベル値と、前記各受光センサ毎の前記分光感度特性に応じて予め規定された測定値演算用係数とに基づき、少なくとも前記被測定光の波長幅を前記予め規定された測定値として演算して特定する。

また、請求項２記載の光量測定装置は、請求項１記載の光量測定装置において、前記受光部は、前記分光感度特性が互いに相違するＭ個（Ｍは、４以上の自然数）の前記受光センサを備え、前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記各測定値演算用係数に基づき、前記被測定光の歪度を前記予め規定された測定値として演算して特定する。

また、請求項３記載の光量測定装置は、測定対象波長領域内の被測定光を受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部を有するＮ個（Ｎは、３以上の自然数）の受光センサを備えた受光部と、前記各検出信号に基づいて前記被測定光についての予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、前記受光部は、いずれかの前記受光センサの前記被測定光についての分光感度に対する他のいずれかの前記受光センサの当該被測定光についての分光感度の比が前記測定対象波長領域内の各波長毎に相違するように前記光電変換部への当該被測定光の入射を制限する第１の光学フィルタを当該各受光センサがそれぞれ備えて当該各受光センサの分光感度特性が互いに相違するように構成され、前記処理部は、前記特定処理において、前記各受光センサからの前記検出信号の信号レベル値と、前記予め規定された測定値および前記信号レベル値の関係を特定可能に予め作成された測定値特定用テーブルとに基づき、少なくとも前記被測定光の波長幅を当該予め規定された測定値として特定する。

また、請求項４記載の光量測定装置は、請求項３記載の光量測定装置において、前記受光部は、前記分光感度特性が互いに相違するＭ個（Ｍは、４以上の自然数）の前記受光センサを備え、前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記測定値特定用テーブルに基づき、前記被測定光の歪度を前記予め規定された測定値として特定する。

さらに、請求項５記載の光量測定装置は、測定対象波長領域内の被測定光を受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部を有する受光センサを備えた受光部と、前記検出信号に基づいて前記被測定光についての予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、前記受光センサは、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＮ種類（Ｎは、３以上の自然数）の制限状態のいずれかで制限する第１の光入射制限部を備え、前記第１の光入射制限部は、いずれかの前記制限状態における前記受光センサの前記被測定光についての分光感度に対する他のいずれかの前記制限状態における当該受光センサの当該被測定光についての分光感度の比が前記測定対象波長領域内の各波長毎に相違するように前記光電変換部への当該被測定光の入射を制限して当該受光センサの分光感度特性を当該各制限状態毎に相違させ、前記処理部は、前記特定処理において、前記第１の光入射制限部による前記各制限状態毎の前記受光センサからの前記検出信号の信号レベル値と、前記各制限状態毎の前記受光センサの前記分光感度特性に応じて予め規定された測定値演算用係数とに基づき、少なくとも前記被測定光の波長幅を前記予め規定された測定値として演算して特定する。

また、請求項６記載の光量測定装置は、請求項５記載の光量測定装置において、前記第１の光入射制限部は、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＭ種類（Ｍは、４以上の自然数）の前記制限状態のいずれかで制限可能に構成され、前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記各測定値演算用係数に基づき、前記被測定光の歪度を前記予め規定された測定値として演算して特定する。

また、請求項７記載の光量測定装置は、測定対象波長領域内の被測定光を受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部を有する受光センサを備えた受光部と、前記検出信号に基づいて前記被測定光についての予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、前記受光センサは、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＮ種類（Ｎは、３以上の自然数）の制限状態のいずれかで制限する第１の光入射制限部を備え、前記第１の光入射制限部は、いずれかの前記制限状態における前記受光センサの前記被測定光についての分光感度に対する他のいずれかの前記制限状態における当該受光センサの当該被測定光についての分光感度の比が前記測定対象波長領域内の各波長毎に相違するように前記光電変換部への当該被測定光の入射を制限して当該受光センサの分光感度特性を当該各制限状態毎に相違させ、前記処理部は、前記特定処理において、前記第１の光入射制限部による前記各制限状態毎の前記受光センサからの前記検出信号の信号レベル値と、前記予め規定された測定値および前記信号レベル値の関係を特定可能に予め作成された測定値特定用テーブルとに基づき、少なくとも前記被測定光の波長幅を当該予め規定された測定値として特定する。

また、請求項８記載の光量測定装置は、請求項７記載の光量測定装置において、前記第１の光入射制限部は、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＭ種類（Ｍは、４以上の自然数）の前記制限状態のいずれかで制限可能に構成され、前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記測定値特定用テーブルに基づき、前記被測定光の歪度を前記予め規定された測定値として特定する。

また、請求項９記載の光量測定装置は、請求項１から８のいずれかに記載の光量測定装置において、前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記各測定値演算用係数に基づき、前記被測定光の重心波長および光量を前記予め規定された測定値として特定すると共に、特定した前記重心波長、前記光量および前記波長幅と、前記被測定光についての等色関数とに基づき、当該被測定光の三刺激値を前記予め規定された測定値として特定する。

さらに、請求項１０記載の光量測定装置は、請求項１から９のいずれかに記載の光量測定装置において、互いに相違するＬ種類（Ｌは、３以上の自然数）の前記測定対象波長範囲内の前記被測定光についての前記予め規定された測定値を測定可能にＬ個の前記受光部を備え、前記各受光部は、前記測定対象波長範囲内の前記被測定光の前記光電変換部に対する入射を許容しつつ、当該測定対象波長範囲よりも短い波長の短波長側入射規制波長範囲、および当該測定対象波長範囲よりも長い波長の長波長側入射規制波長範囲の両入射規制波長範囲内の前記被測定光の当該光電変換部に対する入射を規制する第２の光学フィルタを備えて前記各受光センサが構成されている。

また、請求項１１記載の光量測定装置は、請求項１から９のいずれかに記載の光量測定装置において、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＬ種類（Ｌは、３以上の自然数）の制限状態のいずれかで制限する第２の光入射制限部を備えて互いに相違するＬ種類の前記測定対象波長範囲内の当該被測定光についての前記予め規定された測定値を測定可能に構成され、前記第２の光入射制限部は、前記各制限状態毎に、前記測定対象波長範囲内の前記被測定光の前記光電変換部に対する入射を許容しつつ、当該測定対象波長範囲よりも短い波長の短波長側入射規制波長範囲、および当該測定対象波長範囲よりも長い波長の長波長側入射規制波長範囲の両入射規制波長範囲内の前記被測定光の当該光電変換部に対する入射を規制可能に構成されている。

請求項１記載の光量測定装置では、Ｎ個の受光センサを備えた受光部、および予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部を備え、各受光センサが、第１の光学フィルタをそれぞれ備えて分光感度特性が互いに相違するように構成され、処理部が、特定処理において、各受光センサからの検出信号の信号レベル値と、各受光センサ毎の分光感度特性に応じて予め規定された測定値演算用係数とに基づき、少なくとも被測定光の波長幅を予め規定された測定値として演算して特定する。

したがって、請求項１記載の光量測定装置によれば、多数のセンサからなるセンサアレイを有するポリクロメータを備えた光量測定装置と比較して、被測定光を検出するための受光センサの数、および各受光センサから出力される検出信号を信号処理するための信号変換部の数が少数のため、光量測定装置の製造コストを充分に低減することができる。また、ポリクロメータを備えた光量測定装置において波長幅等の測定値の精度を向上させるには、測定対象波長領域内の検出波長の数、すなわち、センサアレイを構成するセンサの数を増加させる必要があり、これに起因して製造コストの高騰を招くのに対し、この光量測定装置によれば、各受光センサの分光感度特性に応じた正確な値を測定値演算用係数として規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、波長幅等の測定値を高精度に特定することができる。さらに、受光センサから順次出力される多数の検出信号の信号レベルを特定して測定対象波長領域内の各波長の光の光量をそれぞれ特定するモノクロメータを備えた光量測定装置とは異なり、少数の受光センサからの検出信号の信号レベル値に基づいて被測定光の波長幅等を特定することができるため、波長幅等の特定に要する時間を充分に短縮することができる。

請求項２記載の光量測定装置によれば、受光部が、分光感度特性が互いに相違するＭ個の受光センサを備えると共に、処理部が、特定処理において、各信号レベル値および各測定値演算用係数に基づき、被測定光の歪度を予め規定された測定値として演算して特定することにより、各受光センサの分光感度特性に応じた正確な値を測定値演算用係数として規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、歪度等の測定値を短時間で高精度に特定することができる。

請求項３記載の光量測定装置では、Ｎ個の受光センサを備えた受光部、および予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部を備え、各受光センサが、第１の光学フィルタをそれぞれ備えて分光感度特性が互いに相違するように構成され、処理部が、特定処理において、各受光センサからの検出信号の信号レベル値と、測定値および信号レベル値の関係を特定可能に予め作成された測定値特定用テーブルとに基づき、少なくとも被測定光の波長幅を予め規定された測定値として演算して特定する。

したがって、請求項３記載の光量測定装置によれば、多数のセンサからなるセンサアレイを有するポリクロメータを備えた光量測定装置と比較して、被測定光を検出するための受光センサの数、および各受光センサから出力される検出信号を信号処理するための信号変換部の数が少数のため、光量測定装置の製造コストを充分に低減することができる。また、ポリクロメータを備えた光量測定装置において波長幅等の測定値の精度を向上させるには、測定対象波長領域内の検出波長の数、すなわち、センサアレイを構成するセンサの数を増加させる必要があり、これに起因して製造コストの高騰を招くのに対し、この光量測定装置によれば、測定値特定用テーブルの参照値をきめ細かく、かつ正確に規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、波長幅等の測定値を高精度に特定することができる。さらに、受光センサから順次出力される多数の検出信号の信号レベルを特定して測定対象波長領域内の各波長の光の光量をそれぞれ特定するモノクロメータを備えた光量測定装置とは異なり、少数の受光センサからの検出信号の信号レベル値に基づいて被測定光の波長幅等を特定することができるため、波長幅等の特定に要する時間を充分に短縮することができる。

請求項４記載の光量測定装置によれば、受光部が、分光感度特性が互いに相違するＭ個の受光センサを備えると共に、処理部が、特定処理において、各信号レベル値および測定値特定用テーブルに基づき、被測定光の歪度を予め規定された測定値として演算して特定することにより、測定値特定用テーブルの参照値をきめ細かく、かつ正確に規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、歪度等の測定値を短時間で高精度に特定することができる。

請求項５記載の光量測定装置では、受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部、および光電変換部への被測定光の入射を予め規定されたＮ種類の制限状態のいずれかで制限する第１の光入射制限部を有する受光センサを備えた受光部と、予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、第１の光入射制限部が、各制限状態における受光センサの被測定光についての分光感度特性が相違するように光電変換部への被測定光の入射を制限し、処理部が、特定処理において、受光センサから各制限状態毎の検出信号の信号レベル値と、各制限状態毎の受光センサの分光感度特性に応じて予め規定された測定値演算用係数とに基づき、少なくとも被測定光の波長幅を予め規定された測定値として演算して特定する。

したがって、請求項５記載の光量測定装置によれば、多数のセンサからなるセンサアレイを有するポリクロメータを備えた光量測定装置と比較して、被測定光を検出するための受光センサの数、および各受光センサから出力される検出信号を信号処理するための信号変換部の数が少数のため、光量測定装置の製造コストを充分に低減することができる。また、ポリクロメータを備えた光量測定装置において波長幅等の測定値の精度を向上させるには、測定対象波長領域内の検出波長の数、すなわち、センサアレイを構成するセンサの数を増加させる必要があり、これに起因して製造コストの高騰を招くのに対し、この光量測定装置によれば、第１の光入射制限部による各制限状態に応じた正確な値を測定値演算用係数として規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、波長幅等の測定値を高精度に特定することができる。さらに、受光センサから順次出力される多数の検出信号の信号レベルを特定して測定対象波長領域内の各波長の光の光量をそれぞれ特定するモノクロメータを備えた光量測定装置とは異なり、少数の制限状態毎の検出信号の信号レベル値に基づいて被測定光の波長幅等を特定することができるため、波長幅等の特定に要する時間を充分に短縮することができる。

請求項６記載の光量測定装置によれば、第１の光入射制限部が、光電変換部への被測定光の入射を予め規定されたＭ種類の制限状態のいずれかで制限すると共に、処理部が、特定処理において、各信号レベル値および各測定値演算用係数に基づき、被測定光の歪度を予め規定された測定値として演算して特定することにより、各制限状態に応じた正確な値を測定値演算用係数として規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、歪度等の測定値を短時間で高精度に特定することができる。

請求項７記載の光量測定装置では、受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部、および光電変換部への被測定光の入射を予め規定されたＮ種類の制限状態のいずれかで制限する第１の光入射制限部を有する受光センサを備えた受光部と、予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、第１の光入射制限部が、各制限状態における受光センサの被測定光についての分光感度特性が相違するように光電変換部への被測定光の入射を制限し、処理部が、特定処理において、受光センサから各制限状態毎の検出信号の信号レベル値と、測定値および信号レベル値の関係を特定可能に予め作成された測定値特定用テーブルとに基づき、少なくとも被測定光の波長幅を予め規定された測定値として演算して特定する。

したがって、請求項７記載の光量測定装置によれば、多数のセンサからなるセンサアレイを有するポリクロメータを備えた光量測定装置と比較して、被測定光を検出するための受光センサの数、および各受光センサから出力される検出信号を信号処理するための信号変換部の数が少数のため、光量測定装置の製造コストを充分に低減することができる。また、ポリクロメータを備えた光量測定装置において波長幅等の測定値の精度を向上させるには、測定対象波長領域内の検出波長の数、すなわち、センサアレイを構成するセンサの数を増加させる必要があり、これに起因して製造コストの高騰を招くのに対し、この光量測定装置によれば、各制限状態毎に測定値特定用テーブルの参照値をきめ細かく、かつ正確に規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、波長幅等の測定値を高精度に特定することができる。さらに、受光センサから順次出力される多数の検出信号の信号レベルを特定して測定対象波長領域内の各波長の光の光量をそれぞれ特定するモノクロメータを備えた光量測定装置とは異なり、少数の制限状態毎の検出信号の信号レベル値に基づいて被測定光の波長幅等を特定することができるため、波長幅等の特定に要する時間を充分に短縮することができる。

請求項８記載の光量測定装置によれば、第１の光入射制限部が、光電変換部への被測定光の入射を予め規定されたＭ種類の制限状態のいずれかで制限すると共に、処理部が、特定処理において、各信号レベル値および測定値特定用テーブルに基づき、被測定光の歪度を予め規定された測定値として特定することにより、各制限状態毎に測定値特定用テーブルの参照値をきめ細かく、かつ正確に規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、歪度等の測定値を短時間で高精度に特定することができる。

請求項９記載の光量測定装置によれば、処理部が、特定処理において、各信号レベル値および各測定値演算用係数に基づき、被測定光の重心波長および光量を予め規定された測定値として特定すると共に、特定した重心波長、光量および波長幅と、被測定光についての等色関数とに基づき、被測定光の三刺激値を予め規定された測定値として特定することにより、波長が相違する複数種類の光の合成光を被測定光とする場合においても、色度計などの色味の測定装置を別途用意することなく、特定処理によって特定される重心波長、光量および波長幅などに基づき、実態に即した的確な三刺激値を短時間で高精度に演算して特定することができる。

請求項１０記載の光量測定装置では、互いに相違するＬ種類の測定対象波長範囲内の被測定光についての予め規定された測定値を測定可能にＬ個の受光部を備え、測定対象波長範囲内の被測定光の光電変換部に対する入射を許容しつつ、測定対象波長範囲よりも短い波長の短波長側入射規制波長範囲、および測定対象波長範囲よりも長い波長の長波長側入射規制波長範囲の両入射規制波長範囲内の被測定光の光電変換部に対する入射を規制する第２の光学フィルタを備えて各受光部の各受光センサが構成されている。

また、請求項１１記載の光量測定装置では、光電変換部への被測定光の入射を予め規定されたＬ種類の制限状態のいずれかで制限する第２の光入射制限部を備えて互いに相違するＬ種類の測定対象波長範囲内の被測定光についての予め規定された測定値を測定可能に構成され、第２の光入射制限部が、各制限状態毎に、測定対象波長範囲内の被測定光の光電変換部に対する入射を許容しつつ、測定対象波長範囲よりも短い波長の短波長側入射規制波長範囲、および測定対象波長範囲よりも長い波長の長波長側入射規制波長範囲の両入射規制波長範囲内の被測定光の光電変換部に対する入射を規制可能に構成されている。

したがって、請求項１０，１１記載の光量測定装置によれば、波長が相違するＬ種類の被測定光についての測定値を短時間で高精度に特定することができる。

光量測定装置１の構成を示す構成図である。 受光部２Ｒにおける受光センサ２０ａの光学フィルタ２１，２２ａによって付与される分光感度特性について説明するための説明図である。 受光部２Ｒ，２Ｇ，２Ｂによる測定対象の波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ、およびに受光部２Ｒ，２Ｇ，２Ｂおける受光センサ２０ａ〜２０ｄの分光感度特性について説明するための説明図である。 光量測定装置１Ａの構成を示す構成図である。 光量測定装置１Ｂの構成を示す構成図である。

以下、光量測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

図１に示す光量測定装置１は、「光量測定装置」に相当し、一例として、レーザプロジェクタ（光出力装置）から出射されるレーザ光を被測定光Ｌとする各種の測定処理を実行することができるように構成されている。

この場合、レーザプロジェクタは、赤色レーザ（赤色光源）からの赤色レーザ光の出射量、緑色レーザ（緑色光源）からの緑色レーザ光の出射量、および青色レーザ（青色光源）からの青色レーザ光の出射量を変化させることによって各種の画像（映像）をスクリーンに表示させる構成が採用されている。したがって、意図する色で意図する明るさの画像を表示させるためには、レーザプロジェクタの各レーザ（光源）から出射されているレーザ光（被測定光Ｌ）が意図する色合い（意図する波長）で、かつ意図する光量となっているかを確認する必要がある。

一方、光量測定装置１は、受光部２Ｒ，２Ｇ，２Ｂ、信号変換部３ｒ，３ｇ，３ｂ、操作部４、表示部５、処理部６および記憶部７を備え、被測定光Ｌの光量（光パワー）の測定に加え、被測定光Ｌの重心波長、被測定光Ｌの波長幅、被測定光Ｌの歪度、および被測定光Ｌの三刺激値などを測定可能に構成されている（「予め規定された測定値」として、光量、重心波長、波長幅、歪度および三刺激値を測定する構成の例）。なお、本例の光量測定装置１は、実際には、受光部２Ｒ，２Ｇ，２Ｂに対する被測定光Ｌの入射方向や入射量を規制するための光拡散部や、アパーチャおよび導光用の光ファイバなどを備えているが、これらの構成および機能については公知のため、図示および詳細な説明を省略する。

受光部２Ｒ，２Ｇ，２Ｂ（「受光部」の一例：以下、区別しないときには「受光部２」ともいう）は、受光センサ２０ａ〜２０ｄ（「Ｎ＝Ｍ＝４個の受光センサ」の構成の例：以下、区別しないときには「受光センサ２０」ともいう）をそれぞれ備えて構成されている。また、受光センサ２０ａは、光学フィルタ２１，２２ａおよび光電変換部２３ａを備え、受光センサ２０ｂは、光学フィルタ２１，２２ｂおよび光電変換部２３ｂを備え、受光センサ２０ｃは、光学フィルタ２１，２２ｃおよび光電変換部２３ｃを備え、受光センサ２０ｄは、光学フィルタ２１，２２ｄおよび光電変換部２３ｄを備えて構成されている。なお、本例の光量測定装置１では、１つの光学フィルタ２１を各受光センサ２０によって共用する構成が採用されているが、各受光センサ２０毎に別個独立させて光学フィルタ２１を配設する構成を採用することもできる。

この場合、本例の光量測定装置１では、後述するように、赤色レーザ光の検出を目的とする波長λｓｒ〜λｌｒまでの波長範囲Ｈｒ（図３参照）内の被測定光Ｌの検出が受光部２Ｒによって行なわれ、緑色レーザ光の検出を目的とする波長λｓｇ〜λｌｇまでの波長範囲Ｈｇ（図３参照）内の被測定光Ｌの検出が受光部２Ｇによって行なわれ、かつ青色レーザ光の検出を目的とする波長λｓｂ〜λｌｂまでの波長範囲Ｈｂ（図３参照）内の被測定光Ｌの検出が受光部２Ｂによって行なわれる構成が採用されている（波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂが「互いに相違するＬ＝３種類の測定対象波長範囲」で、かつ受光部２Ｒの各受光センサ２０、受光部２Ｇの各受光センサ２０、および受光部２Ｂの各受光センサ２０が「Ｌ＝３組の受光センサ」である例）。

また、本例の光量測定装置１では、各受光部２毎に各光学フィルタ２１の光学的特性、および光学フィルタ２２ａ〜２２ｄ（以下、区別しないときには「光学フィルタ２２」ともいう）の光学的特性を任意に異ならせることにより、各受光センサ２０が互いに相違する任意の分光感度特性を有するように構成されている。具体的には、図２に示すように、一例として、受光部２Ｒでは、光電変換部２３ａの受光面側に光学フィルタ２１（「第２の光学フィルタ」の一例）だけを配設したときに、波長範囲Ｈｒ（波長λｓｒ〜λｌｒ）内の被測定光Ｌの光電変換部２３ａへの入射が許容され、かつ波長範囲Ｈｒ（波長λｓｒ）よりも短い波長の波長範囲Ｈｓｒ（「短波長側入射規制波長範囲」の一例）内の被測定光Ｌ、および波長範囲Ｈｒ（波長λｌｒ）よりも長い波長の波長範囲Ｈｌｒ（「長波長側入射規制波長範囲」の一例）内の被測定光Ｌの光電変換部２３ａへの入射が規制されることで受光センサ２０ａが一点鎖線Ｌ２１ｒのような分光感度特性を有するように光学フィルタ２１が構成されている。

また、受光部２Ｒでは、光電変換部２３ａの受光面側に光学フィルタ２２ａ（「第１の光学フィルタ」の一例）だけを配設したときに、受光センサ２０ａが波長範囲Ｈｒ内の各波長毎に異なる破線Ｌ２２ｒのような分光感度特性を有するように光学フィルタ２２ａが構成されている。これにより、受光部２Ｒでは、受光センサ２０ａの分光感度特性が実線Ｌ１ｒで示すような特性（波長範囲Ｈｒ内における分光感度が波長に対して２次関数的に変化する特性）となっている。

さらに、本例の光量測定装置１では、受光センサ２０ａの分光感度特性と同様にして、受光センサ２０ｂ〜２０ｄの分光感度特性も「波長範囲Ｈｒ内における分光感度が波長に対して２次関数的に変化する特性」となっている。具体的には、図３に示すように、受光部２Ｒの受光センサ２０ｂは、光学フィルタ２１，２２ｂの組み合わせによって一点鎖線Ｌ２ｒのような分光感度特性を有するように構成され、受光センサ２０ｃは、光学フィルタ２１，２２ｃの組み合わせによって二点鎖線Ｌ３ｒのような分光感度特性を有するように構成され、かつ受光センサ２０ｄは、光学フィルタ２１，２２ｄの組み合わせによって破線Ｌ４ｒのような分光感度特性を有するように構成されている。

これにより、本例の光量測定装置１では、受光部２Ｒにおける受光センサ２０ａの分光感度に対する受光センサ２０ｂ〜２０ｄの分光感度の比、受光センサ２０ｂの分光感度に対する受光センサ２０ａ，２０ｃ，２０ｄの分光感度の比、受光センサ２０ｃの分光感度に対する受光センサ２０ａ，２０ｂ，２０ｄの分光感度の比、および受光センサ２０ｄの分光感度に対する受光センサ２０ｂ〜２０ｄの分光感度の比が、波長範囲Ｈｒ内の各波長の被測定光Ｌ毎に相違する状態となっている。

また、受光部２Ｇの受光センサ２０ａ〜２０ｄは、光学フィルタ２１，２２ａ〜２２ｄの組み合わせによって実線Ｌ１ｇ、一点鎖線Ｌ２ｇ、二点鎖線Ｌ３ｇおよび破線Ｌ４ｇのような分光感度特性（波長範囲Ｈｇ内における分光感度が波長に対して２次関数的に変化する特性）を有するようにそれぞれ構成されている。これにより、受光部２Ｇにおいても、受光センサ２０ａ〜２０ｄの分光感度の比が波長範囲Ｈｇ内の各波長毎に相違させられている。さらに、受光部２Ｂの受光センサ２０ａ〜２０ｄは、光学フィルタ２１，２２ａ〜２２ｄの組み合わせによって実線Ｌ１ｂ、一点鎖線Ｌ２ｂ、二点鎖線Ｌ３ｂおよび破線Ｌ４ｂのような分光感度特性（波長範囲Ｈｂ内における分光感度が波長に対して２次関数的に変化する特性）を有するようにそれぞれ構成されている。これにより、受光部２Ｂにおいても、受光センサ２０ａ〜２０ｄの分光感度の比が波長範囲Ｈｂ内の各波長毎に相違させられている。

光電変換部２３ａ〜２３ｄ（以下、区別しないときには「光電変換部２３」ともいう）は、図１に示すように、光学フィルタ２１，２２を透過した被測定光Ｌを受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号Ｓ１ｒ〜Ｓ４ｒ，Ｓ１ｇ〜Ｓ４ｇ，Ｓ１ｂ〜Ｓ４ｂ（一例として、被測定光Ｌの受光量に応じて値が大きくなる電流信号：「検出信号」の一例：以下、区別しないときには「検出信号Ｓｒ」、「検出信号Ｓｇ」および「検出信号Ｓｂ」ともいい、これらを区別しないときには「検出信号Ｓ」ともいう）を出力する。

信号変換部３ｒ，３ｇ，３ｂ（以下、区別しないときには「信号変換部３」ともいう）は、処理部６と相俟って「処理部」を構成し、Ｉ／Ｖ変換部およびＡ／Ｄ変換部を備えて検出信号Ｓを信号処理可能に構成されている。この場合、信号変換部３ｒは、受光部２Ｒの各受光センサ２０（各光電変換部２３）から出力される検出信号ＳｒをそれぞれＩ／Ｖ変換することで得られる電圧信号をＡ／Ｄ変換することによって検出信号データＤ１ｒ（「各受光センサからの検出信号の信号レベル値」を特定可能な情報の一例）を生成する。

また、信号変換部３ｇは、受光部２Ｇの各受光センサ２０（各光電変換部２３）から出力される検出信号ＳｇをそれぞれＩ／Ｖ変換することで得られる電圧信号をＡ／Ｄ変換することによって検出信号データＤ１ｇ（「各受光センサからの検出信号の信号レベル値」を特定可能な情報の他の一例）を生成する。さらに、信号変換部３ｂは、受光部２Ｂの各受光センサ２０（各光電変換部２３）から出力される検出信号ＳｂをそれぞれＩ／Ｖ変換することで得られる電圧信号をＡ／Ｄ変換することによって検出信号データＤ１ｂ（「各受光センサからの検出信号の信号レベル値」を特定可能な情報のさらに他の一例）を生成する。

操作部４は、後述する測定処理の条件の設定操作や、測定処理の開始／停止を指示する各種の操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を処理部６に出力する。表示部５は、処理部６の制御に従い、測定条件設定画面や測定結果表示画面など（いずれも図示せず）を表示する。

処理部６は、光量測定装置１を総括的に制御する。具体的には、処理部６は、操作部４の操作によって測定処理の開始を指示されたときに、各信号変換部３から出力される検出信号データＤ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ（以下、区別しないときには「検出信号データＤ１」ともいう）、および記憶部７に記憶されている係数データＤ２ｒ，Ｄ２ｇ，Ｄ２ｂ（以下、区別しないときには「係数データＤ２」ともいう）に基づき、被測定光Ｌの光量、重心波長、波長幅、歪度および三刺激値などを演算する（「各検出信号に基づいて被測定光についての予め規定された測定値を演算する」との処理の一例）。

なお、詳細な処理内容については後に説明するが、本例の光量測定装置１における処理部６は、検出信号データＤ１ｒおよび係数データＤ２ｒに基づいて波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌ（赤色レーザ光）についての上記の測定値を演算し、検出信号データＤ１ｇおよび係数データＤ２ｇに基づいて波長範囲Ｈｇ内の被測定光Ｌ（緑色レーザ光）についての上記の測定値を演算し、かつ検出信号データＤ１ｂおよび係数データＤ２ｂに基づいて波長範囲Ｈｂ内の被測定光Ｌ（青色レーザ光）についての上記の測定値を演算する。

記憶部７は、処理部６の動作プログラムや、上記の検出信号データＤ１および係数データＤ２、並びに処理部６によって生成される測定結果データＤ３などを記憶する。この場合、係数データＤ２は、「各受光センサ毎の分光感度特性に応じて予め規定された測定値演算用係数」が記録されたデータの一例であって、後述するように、処理部６が上記の各検出信号データＤ１の値に基づいて各測定値を演算する際に用いる係数が記録されている。具体的には、係数データＤ２ｒには、受光部２Ｒにおける各受光センサ２０の分光感度特性に応じて予め規定された係数が記録され、係数データＤ２ｇには、受光部２Ｇにおける各受光センサ２０の分光感度特性に応じて予め規定された係数が記録され、係数データＤ２ｂには、受光部２Ｂにおける各受光センサ２０の分光感度特性に応じて予め規定された係数が記録されている。なお、この「測定値演算用係数」を用いた各測定値の演算処理については、後に詳細に説明する。

次に、光量測定装置１を用いた被測定光Ｌについての測定処理について説明する。

レーザプロジェクタからのレーザ光を被測定光Ｌとする本例では、一例として、レーザプロジェクタによって各種の映像を投影するスクリーンの位置に光量測定装置１を設置する。この際には、レーザプロジェクタにおける各レーザからの被測定光Ｌ（赤色レーザ光、緑色レーザ光および青色レーザ光）が各受光部２に対して照射されるように、各受光部２の受光面をレーザプロジェクタに向けて光量測定装置１を設置する。次いで、レーザプロジェクタの電源を投入し、ホワイトバランス調整用の映像（一例として、投影領域の全域に亘って均一な白色の映像：以下、この映像を「調整用映像」ともいう）の投影を開始させる。

この際には、各受光部２の各受光センサ２０から被測定光Ｌの受光量に応じた検出信号Ｓがそれぞれ出力される。具体的には、受光部２Ｒの受光センサ２０ａ〜２０ｄからは、レーザプロジェクタから出射された被測定光Ｌのうちの波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌ（赤色レーザから出射された赤色レーザ光）の受光量に応じた検出信号Ｓ１ｒ〜Ｓ４ｒがそれぞれ出力される。また、受光部２Ｇの受光センサ２０ａ〜２０ｄからは、レーザプロジェクタから出射された被測定光Ｌのうちの波長範囲Ｈｇ内の被測定光Ｌ（緑色レーザから出射された緑色レーザ光）の受光量に応じた検出信号Ｓ１ｇ〜Ｓ４ｇがそれぞれ出力される。さらに、受光部２Ｂの受光センサ２０ａ〜２０ｄからは、レーザプロジェクタから出射された被測定光Ｌのうちの波長範囲Ｈｂ内の被測定光Ｌ（青色レーザから出射された青色レーザ光）の受光量に応じた検出信号Ｓ１ｂ〜Ｓ４ｂがそれぞれ出力される。

また、上記のように各受光センサ２０から検出信号Ｓが出力されることにより、その検出信号Ｓに対応する検出信号データＤ１が各信号変換部３によって生成されて出力される。この際に、信号変換部３ｒは、受光部２Ｒの各受光センサ２０から出力された検出信号Ｓ１ｒ〜Ｓ４ｒに基づいて検出信号データＤ１ｒを生成して出力し、信号変換部３ｇは、受光部２Ｇの各受光センサ２０から出力された検出信号Ｓ１ｇ〜Ｓ４ｇに基づいて検出信号データＤ１ｇを生成して出力し、かつ信号変換部３ｂは、受光部２Ｂの各受光センサ２０から出力された検出信号Ｓ１ｂ〜Ｓ４ｂに基づいて検出信号データＤ１ｂを生成して出力する。また、処理部６は、各信号変換部３から出力される上記の各検出信号データＤ１を記憶部７に記憶させる。

続いて、処理部６は、上記の各検出信号データＤ１の値（信号レベル値）、および記憶部７に記憶されている各係数データＤ２の値（係数）に基づいて測定値を演算して特定する「特定処理」を開始する。具体的には、本例の光量測定装置１では、前述したように、被測定光Ｌの光量（総光量：Ｐｔｏｔ）、被測定光Ｌの重心波長（λｇ）、被測定光Ｌの波長幅（σ＝√((λ^２)ｇ−(λｇ)^２)）、および被測定光Ｌの歪度（Ｓｋ＝((λ−λｇ)^３)ｇ／σ^３＝((λ^３)ｇ−３(λ^２)ｇ・λｇ＋２(λｇ)^３)／σ^３）を演算して特定する。

なお、「特定処理」についての理解を容易とするために、一例として、信号変換部３ｒからの検出信号データＤ１ｒ、および受光部２Ｒにおける各受光センサ２０の分光感度特性に応じて作成された係数データＤ２ｒに基づいて波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌについての測定値を演算して特定する手順について以下に説明するが、実際には、検出信号データＤ１ｇおよび係数データＤ２ｇに基づいて波長範囲Ｈｇ内の被測定光Ｌについての測定値を演算して特定する処理や、検出信号データＤ１ｂおよび係数データＤ２ｂに基づいて波長範囲Ｈｂ内の被測定光Ｌについての測定値を演算して特定する処理についても同様にして行なわれる。

この場合、受光部２Ｒに配設された「分光感度特性が互いに相違する受光センサ２０」の数を「ｎ」とすると共に、ｎ個のうちの１個目の受光センサ２０ａからの検出信号Ｓ１ｒを変換した検出信号データＤ１ｒの値を「Ｓ_１」とし、かつｎ個のうちの２個目〜ｎ個目の受光センサ２０ａからの検出信号Ｓｎｒを変換した検出信号データＤ１ｒの値をそれぞれ「Ｓ_２」〜「Ｓ_ｎ」としたときに、上記の各測定値における「λｇ」、「(λ^２)ｇ」および「(λ^３)ｇ」は、
Ｓ_１＝（ａ_１１（λ^ｎ−１）ｇ＋ａ_１２(λ^ｎ−２)ｇ＋・・・＋ａ_１ｎ）Ｐｔｏｔ
Ｓ_２＝（ａ_２１（λ^ｎ−１）ｇ＋ａ_２２(λ^ｎ−２)ｇ＋・・・＋ａ_２ｎ）Ｐｔｏｔ
・
・
Ｓ_ｎ＝（ａ_ｎ１（λ^ｎ−１）ｇ＋ａ_ｎ２(λ^ｎ−２)ｇ＋・・・＋ａ_ｎｎ）Ｐｔｏｔ
との連立方程式を解くことによって求めることができる。

なお、上記の式における「ａ_１１」〜「ａ_１ｎ」は、１個目の受光センサ２０の分光感度特性に応じて予め取得された「測定値演算用係数」であり、上記の式における「ａ_ｎ１」〜「ａ_ｎｎ」は、ｎ個目の受光センサ２０の分光感度特性に応じて予め取得された「測定値演算用係数」である。これらの「測定値演算用係数」は、各受光センサ２０の分光感度特性に応じて予め規定されて係数データＤ２ｒに記録されている。

したがって、上記の「ｎ」が「Ｎ＝Ｍ＝４」の本例では、受光部２Ｒの受光センサ２０ａからの検出信号Ｓ１ｒを変換した検出信号データＤ１ｒの値を「Ｓ_１」とし、受光部２Ｒの受光センサ２０ｂからの検出信号Ｓ２ｒを変換した検出信号データＤ１ｒの値を「Ｓ_２」とし、受光部２Ｒの受光センサ２０ｃからの検出信号Ｓ３ｒを変換した検出信号データＤ１ｒの値を「Ｓ_３」とし、かつ受光部２Ｒの受光センサ２０ｄからの検出信号Ｓ４ｒを変換した検出信号データＤ１ｒの値を「Ｓ_４」としたときに、
Ｓ_１＝（ａ_１１（λ^３）ｇ＋ａ_１２(λ^２)ｇ＋ａ_１３(λ)ｇ＋ａ_１４）Ｐｔｏｔ
Ｓ_２＝（ａ_２１（λ^３）ｇ＋ａ_２２(λ^２)ｇ＋ａ_２３(λ)ｇ＋ａ_２４）Ｐｔｏｔ
Ｓ_３＝（ａ_３１（λ^３）ｇ＋ａ_３２(λ^２)ｇ＋ａ_３３(λ)ｇ＋ａ_３４）Ｐｔｏｔ
Ｓ_４＝（ａ_４１（λ^３）ｇ＋ａ_４２(λ^２)ｇ＋ａ_４３(λ)ｇ＋ａ_４４）Ｐｔｏｔ
との連立方程式を解くことによって上記の各測定値における「λｇ」、「(λ^２)ｇ」および「(λ^３)ｇ」を求めることができる。

この場合、波長範囲Ｈｒ内の各波長のステップ幅を「Δλ」とし、かつ「波長：λ」における光量（光パワー）を「Ｐ(λ)」としたときに、上記の「Ｐｔｏｔ」、「λｇ」、「(λ^２)ｇ」および「（λ^３）ｇ」については、［数１］のように表すことができる。

すなわち、「Ｐｔｏｔ」は、「波長λに関する０次モーメント」であり、「λｇ」は、「波長λに関する１次モーメント」であり、「(λ^２)ｇ」は、「波長λに関する２次モーメント」であり、かつ「（λ^３）ｇ」は、「波長λに関する３次モーメント」である。

したがって、分光感度特性が互いに相違するＮ＝３個の受光センサ２０を備えて光量測定装置１を構成してその検出信号Ｓの信号レベル値に対応するＮ＝３個の連立方程式を解くことにより、「０次モーメント」の「Ｐｔｏｔ（光量）」、および「１次モーメント」の「λｇ（重心波長）」だけでなく、「（Ｎ−１）＝２次モーメント」の「(λ^２)ｇ」を利用して演算される「波長幅」を特定できるのが理解できる。

また、分光感度特性が互いに相違するＮ＝Ｍ＝４個の受光センサ２０を備えて光量測定装置１を構成してその検出信号Ｓの信号レベル値に対応するＮ＝Ｍ＝４個の連立方程式を解くことにより、「０次モーメント」の「Ｐｔｏｔ（光量）」、「１次モーメント」の「λｇ（重心波長）」、および「２次モーメント」の「(λ^２)ｇ」を利用して演算される「波長幅」だけでなく、「（Ｎ−１）＝（Ｍ−１）＝３次モーメント」の「（λ^３）ｇ」を利用して演算される「歪度」を特定できるのが理解できる。

さらに、本例の光量測定装置１の構成とは相違するが、分光感度特性が互いに相違するＮ＝Ｍ≧５個の受光センサ２０を備えて光量測定装置１を構成してその検出信号Ｓの信号レベル値に対応するＮ＝Ｍ≧５個の連立方程式を解くことにより、「０次モーメント」の「Ｐｔｏｔ（光量）」、「１次モーメント」の「λｇ（重心波長）」、「２次モーメント」の「(λ^２)ｇ」を利用して演算される「波長幅」、および「３次モーメント」の「（λ^３）ｇ」を利用して演算される「歪度」だけでなく、「（Ｎ−１）＝（Ｍ−１）≧４次モーメント」の「（λ^Ｎ−１）ｇ」＝「（λ^Ｍ−１）ｇ」を利用して演算される測定値を特定できるのが理解できる。

以上のように、検出信号データＤ１の値および各係数データＤ２の値に基づいてＮ＝Ｍ＝４個の連立方程式を解くことによって「Ｐｔｏｔ（光量）」、「λｇ（重心波長）」、「(λ^２)ｇ」および「（λ^３）ｇ」を特定すると共に、「Ｐｔｏｔ」、「λｇ」および「(λ^２)ｇ」を用いて波長幅を演算し、かつ「Ｐｔｏｔ」、「λｇ」、「(λ^２)ｇ」および「（λ^３）ｇ」を用いて歪度を演算する。

一方、被測定光Ｌを出射するレーザプロジェクタのなかには、出射光量の増加等を目的として、複数の赤色レーザ光源、複数の緑色レーザ光源、および複数の青色レーザ光源を備えたものが存在する。このようなレーザプロジェクタにおいては、製造誤差や経年劣化等に起因して、各赤色レーザ光源から出射される各赤色レーザ光の波長が僅かに相違する状態となったり、各緑色レーザ光源から出射される各緑色レーザ光の波長が僅かに相違する状態となったり、各青色レーザ光源から出射される各青色レーザ光の波長が僅かに相違する状態となったりすることがある。また、波長を意図的に異ならせた複数種類の赤色レーザ光、波長を意図的に異ならせた複数種類の緑色レーザ光、および波長を意図的に異ならせた複数種類の青色レーザ光を出射可能に構成されたレーザプロジェクタも存在する。

つまり、光量測定装置１による測定時には、光源の構成によっては、波長が異なる複数種類の赤色レーザ光からなる赤色光（以下、「合成赤色光」ともいう）、波長が異なる複数種類の緑色レーザ光からなる緑色光（以下、「合成緑色光」ともいう）、および波長が異なる複数種類の青色レーザ光からなる青色光（以下、「合成青色光」ともいう）を被測定光Ｌとする処理を実行する必要が生じることがある。また、レーザプロジェクタ等の「人工光源」の評価時には、出射される光の三刺激値を特定する必要が生じることがある。

この場合、「光の色味の測定」が可能な測定装置（レーザ光よりも波長幅が広い光を測定対象として各種の測定が可能に構成された測定装置）を本例の光量測定装置１とは別個に用意しておくことにより、その測定装置の測定結果に基づき、上記のような合成赤色光、合成緑色光および合成青色光からなる被測定光Ｌの三刺激値を容易に特定することができる可能性がある。しかしながら、そのような測定装置では、レーザ光のように波長幅が狭い光についての光量、重心波長および波長幅等の測定精度が光量測定装置１よりも低いため、光量、重心波長、歪度に加えて、三刺激値等の色味の測定を高精度で行うためには、光量測定装置１による測定処理と、他の測定装置による測定処理とを別個に行う必要が生じる。このため、重心波長、光量、波長幅および三刺激値等の特定に長時間を要し、また、複数の装置を用意しなくてはならない分だけ、測定処理コストが高騰する。

一方、レーザプロジェクタ等から出射される被測定光Ｌについての等色関数を用いて、光量測定装置１による上記の「特定処理」によって特定した重心波長や光量から三刺激値を演算して特定することができる可能性がある。しかしながら、例えば、赤色光として波長が異なる２種類の赤色レーザ光が出射されるレーザプロジェクタを対象とする三刺激値の特定に際しては、２種類の赤色レーザ光のうちのいずれのレーザ光に対応する等色関数を用いたとしても、２種類のうちの他の１種類の赤色レーザ光についての測定成分に関して実際の波長とは異なる波長に対応する等色関数に応じた値に変換されることとなる。この場合、各赤色レーザ光の波長の相違量が大きいときには、演算結果（三刺激値）に及ぶ影響が無視できないレベルとなる。

したがって、本例の光量測定装置１では、重心波長、光量および等色関数に加え、被測定光Ｌの波長幅（上記のような波長の相違を考慮した波長範囲の幅）を考慮して三刺激値を演算して特定することにより、色味の測定が可能な測定装置を別途用意することなく、合成赤色光、合成緑色光および合成青色光からなる被測定光Ｌの三刺激値について、実態に即した的確な値を特定することが可能となっている。

この光量測定装置１による三刺激値の特定に際しては、まず、一例として、合成赤色光、合成緑色光および合成青色光の測定成分に関し、上記の「特定処理」によって特定した重心波長、光量および波長幅の各値を用いてガウス型スペクトルとしてそれぞれ近似する。具体的には、例えば合成赤色光の測定成分については［数２］のように表す。なお、［数２］における「Ｐ_ｒ」は「合成赤色光の光量」であり、「波長λｇ_ｒ」は「合成赤色光の重心波長」であり、「σ_ｒ」は「合成赤色光の波長幅」である。

次いで、合成赤色光、合成緑色光および合成青色光についての等色関数ｘ(λ)，ｙ(λ)，ｚ(λ)に関し、合成赤色光の重心波長、合成緑色光の重心波長、および合成青色光の重心波長を基準とする値となるように２次関数によってそれぞれ近似する。具体的には、例えば合成赤色光の等色関数については［数３］のように表す。なお、［数３］における「ａ_ｘ,ｒ」、「ｂ_ｘ,ｒ」、「ｃ_ｘ,ｒ」などは、等色関数を重心波長まわりで近似するための予め規定された係数であり、係数データＤ２ｒ，Ｄ２ｇ，Ｄ２ｂに予め記録されている。また、等色関数の重心波長まわりの近似に関する理解を容易とするために２次関数によって近似する例を説明するが、必要に応じて、さらに次数の高い多項式で近似することができる。

続いて、上記［数２］のように近似した合成赤色光についてのパラメータ、合成緑色光についてのパラメータ、および合成青色光についてのパラメータと、上記［数３］のように近似した等色関数ｘ(λ)，ｙ(λ)，ｚ(λ)とを用いた下記［数４］の式を解くことによって三刺激値Ｘ_ｒｇｂ，Ｙ_ｒｇｂ，Ｚ_ｒｇｂを算出する。

これにより、波長が異なる複数種類の赤色レーザ光（合成赤色光）、波長が異なる複数種類の緑色レーザ光（合成緑色光）、および波長が異なる複数種類の青色レーザ光（合成青色光）からなる被測定光Ｌについて、実態に即した的確な三刺激値が特定される。なお、上記の例とは相違するが、赤色光としての単一波長の赤色レーザ光、緑色光としての単一波長の緑色レーザ光、および青色光としての単一波長の青色レーザ光を被測定光Ｌとする処理時においても、上記の例示と同様にして波長幅を考慮して三刺激値を特定することにより、各レーザ光の波長幅がやや広いときや、各レーザ光の重心波長に揺らぎが生じているときに、実態に即した的確な三刺激値が特定される。これにより、「特定処理」が完了する。

この後、処理部６は、特定した各測定値（光量、重心波長、波長幅、歪度および三刺激値）を記録して測定結果データＤ３を生成し、生成した測定結果データＤ３を記憶部７に記憶させると共に、各測定値を表示部５に表示させる。これにより、被測定光Ｌについての一連の測定処理が完了する。

なお、詳細な説明を省略するが、上記の「特定処理」において特定した光量、重心波長、波長幅、歪度および三刺激値などについては、被測定光Ｌを出射した装置の評価に用いられる。また、例えば、出願人が特願２０１６−１０４７４２の明細書において開示している調整用情報の生成処理によって、上記の三刺激値に基づいて調整用情報を生成することにより、各光源からの光の出射量を任意の色および任意の明るさが認識されるように調整することが可能となる。

このように、この光量測定装置１では、Ｎ個（本例では、Ｎ＝４個）の受光センサ２０を備えた受光部２、および「予め規定された測定値」を特定する「特定処理」を実行する処理部６を備え、各受光センサ２０が、光学フィルタ２２をそれぞれ備えて分光感度特性が互いに相違するように構成され、処理部６が、「特定処理」において、各受光センサ２０からの検出信号Ｓの「信号レベル値（検出信号データＤ１の値）」と、各受光センサ２０毎の分光感度特性に応じて予め規定された「測定値演算用係数（係数データＤ２の値）」とに基づき、少なくとも被測定光Ｌの波長幅を「予め規定された測定値」として演算して特定する。

したがって、この光量測定装置１によれば、多数のセンサからなるセンサアレイを有するポリクロメータを備えた光量測定装置と比較して、被測定光Ｌを検出するための受光センサ２０の数、および各受光センサ２０から出力される検出信号Ｓを信号処理するための信号変換部３の数が少数のため、光量測定装置１の製造コストを充分に低減することができる。また、ポリクロメータを備えた光量測定装置において波長幅等の測定値の精度を向上させるには、「測定対象波長領域」内の検出波長の数、すなわち、センサアレイを構成するセンサの数を増加させる必要があり、これに起因して製造コストの高騰を招くのに対し、この光量測定装置１によれば、各受光センサ２０の分光感度特性に応じた正確な値を係数データＤ２の値として規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、波長幅等の測定値を高精度に特定することができる。さらに、受光センサから順次出力される多数の検出信号の信号レベルを特定して測定対象波長領域内の各波長の光の光量をそれぞれ特定するモノクロメータを備えた光量測定装置とは異なり、少数の受光センサ２０（本例ではＮ＝４個の受光センサ２０）からの検出信号Ｓに対応する検出信号データＤ１の値に基づいて被測定光Ｌの波長幅等を特定することができるため、波長幅等の特定に要する時間を充分に短縮することができる。

また、この光量測定装置１によれば、受光部２が、分光感度特性が互いに相違するＭ個（本例では、Ｍ＝Ｎ＝４個）の受光センサ２０を備えると共に、処理部６が、「特定処理」において、各「信号レベル値」および各「測定値演算用係数」に基づき、被測定光Ｌの歪度を「予め規定された測定値」として演算して特定することにより、各受光センサ２０の分光感度特性に応じた正確な値を係数データＤ２の値として規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、歪度等の測定値を短時間で高精度に特定することができる。

さらに、この光量測定装置１によれば、処理部６が、「特定処理」において、「信号レベル値」および「測定値演算用係数」に基づき、被測定光Ｌの重心波長および光量を「予め規定された測定値」として特定すると共に、特定した重心波長、光量および波長幅と、被測定光Ｌについての「等色関数」とに基づき、被測定光Ｌの三刺激値を「予め規定された測定値」として特定することにより、波長が相違する複数種類の光の合成光を「被測定光」とする場合においても、色度計などの色味の測定装置を別途用意することなく、「特定処理」によって特定される重心波長、光量および波長幅などに基づき、実態に即した的確な三刺激値を短時間で高精度に演算して特定することができる。

さらに、この光量測定装置１によれば、互いに相違するＬ種類（本例では、Ｌ＝３種類）の波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ内の被測定光Ｌについての「予め規定された測定値」を測定可能にＬ個の受光部２を備え、波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ内の被測定光Ｌの光電変換部２３に対する入射を許容しつつ、波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂよりも短い波長の波長範囲Ｈｓｒ，Ｈｓｇ，Ｈｓｂ、および波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂよりも長い波長の波長範囲Ｈｌｒ，Ｈｌｇ，Ｈｌｂの両入射規制波長範囲内の被測定光Ｌの光電変換部２３に対する入射を規制する光学フィルタ２１を備えて各受光部２の各受光センサ２０を構成したことにより、波長が相違するＬ種類の被測定光Ｌについての測定値を短時間で高精度に特定することができる。

なお、「光量測定装置」の構成は、上記の光量測定装置１の構成に限定されない。例えば、「特定処理」において、検出信号データＤ１の値と係数データＤ２の値とに基づいて演算によって「予め規定された測定値」を特定する例について説明したが、このような構成に代えて、「特定処理」において、演算処理によらず、検出信号データＤ１の値と「予め規定された測定値」との関係を特定可能に予め作成された「測定値特定用テーブル」を使用して「予め規定された測定値」を特定する構成を採用することもできる。なお、上記の例の光量測定装置１と同様の構成要素については、同一の符号を使用して説明し、重複する説明を省略する。

前述した光量測定装置１による「特定処理」に際して「測定値特定用テーブル」を使用して測定値を特定するには、処理の開始に先立ち、「測定値特定用テーブル」のテーブルデータＤ４を作成して記憶部７に記憶させる。この場合、一例として、テーブルデータＤ４には、波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌ（赤色レーザから出射される赤色レーザ光）についての測定値を特定するための「測定値特定用テーブル」、波長範囲Ｈｇ内の被測定光Ｌ（緑色レーザから出射される緑色レーザ光）についての測定値を特定するための「測定値特定用テーブル」、および波長範囲Ｈｂ内の被測定光Ｌ（青色レーザから出射される青色レーザ光）についての測定値を特定するための「測定値特定用テーブル」が記録されている。

具体的には、例えば波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌについての測定値を特定するための「測定値特定用テーブル」としては、被測定光Ｌの測定によって信号変換部３ｒから出力される検出信号データＤ１ｒの値（受光センサ２０ａ〜２０ｄからの検出信号Ｓ１ｒ〜Ｓ４ｒに対応する値）と波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌの光量との関係を特定可能な「光量特定用テーブル」、検出信号データＤ１ｒの値と波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌの重心波長との関係を特定可能な「重心波長特定用テーブル」、検出信号データＤ１ｒの値と波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌの波長幅との関係を特定可能な「波長幅特定用テーブル」、および検出信号データＤ１ｒの値と波長範囲Ｈｒ内の被測定光Ｌの歪度との関係を特定可能な「歪度特定用テーブル」が記録されている。

この場合、このテーブルデータＤ４については、一例として、被測定光Ｌの光量（総光量：Ｐｔｏｔ）、重心波長（λｇ）、波長幅（σ）およびの歪度（Ｓｋ）を演算して特定する構成についての説明において例示した演算方法によって、信号変換部３から出力され得る各種の「信号レベル値（検出信号データＤ１の値）」についての光量（Ｐｔｏｔ）、重心波長（λｇ）、波長幅（σ）およびの歪度（Ｓｋ）をそれぞれ演算して各「測定値特定用テーブル」を作成することによって予め作成しておくことができる。また、そのような演算方法によらず、各種光学シミュレータを使用して各「測定値特定用テーブル」を作成することによって予め作成しておくこともできる。なお、本例の構成とは相違するが、「歪度」の測定が不要なときには、Ｎ＝３個の「受光センサ」を備えて各「受光部」を構成すると共に、「信号レベル値」と「歪度」との関係を特定可能な上記の「歪度特定用テーブル」を不要とすることもできる。

次いで、前述した測定処理時と同様にして、レーザプロジェクタによって各種の映像を投影するスクリーンの位置に光量測定装置１を設置する。この際には、各受光部２の各受光センサ２０から被測定光Ｌの受光量に応じた検出信号Ｓがそれぞれ出力され、これに応じて、各信号変換部３から検出信号データＤ１がそれぞれ出力される。また、処理部６は、信号変換部３から出力される各検出信号データＤ１を記憶部７に記憶させると共に、「特定処理」を開始して、検出信号データＤ１の値と、記憶部７に記憶されているテーブルデータＤ４とに基づき、被測定光Ｌの光量（Ｐｔｏｔ）、被測定光Ｌの重心波長（λｇ）、被測定光Ｌの波長幅（σ）、および被測定光Ｌの歪度（Ｓｋ）を特定する。

次いで、詳細な説明を省略するが、前述した方法と同様にして、特定した光量、重心波長および波長幅と等色関数とに基づき、三刺激値を演算して特定する。これにより、「特定処理」が完了する。この後、処理部６は、特定した各測定値（光量、重心波長、波長幅、歪度および三刺激値）を記録して測定結果データＤ３を生成し、生成した測定結果データＤ３を記憶部７に記憶させると共に、各測定値を表示部５に表示させる。以上により、被測定光Ｌについての一連の測定処理が完了する。

このように、この光量測定装置１では、Ｎ個（本例では、Ｎ＝４個）の受光センサ２０を備えた受光部２、および「予め規定された測定値」を特定する「特定処理」を実行する処理部６を備え、各受光センサ２０が、光学フィルタ２２をそれぞれ備えて分光感度特性が互いに相違するように構成され、処理部６が、「特定処理」において、各受光センサ２０からの検出信号Ｓの「信号レベル値（検出信号データＤ１の値）」と、「予め規定された測定値」および「信号レベル値」の関係を特定可能に予め作成されたテーブルデータＤ４とに基づき、少なくとも被測定光Ｌの波長幅を「予め規定された測定値」として演算して特定する。

したがって、この光量測定装置１によれば、演算によって波長幅等を特定する構成と同様にして、多数のセンサからなるセンサアレイを有するポリクロメータを備えた光量測定装置と比較して、被測定光Ｌを検出するための受光センサ２０の数、および各受光センサ２０から出力される検出信号Ｓを信号処理するための信号変換部３の数が少数のため、光量測定装置１の製造コストを充分に低減することができる。また、ポリクロメータを備えた光量測定装置において波長幅等の測定値の精度を向上させるには、「測定対象波長領域」内の検出波長の数、すなわち、センサアレイを構成するセンサの数を増加させる必要があり、これに起因して製造コストの高騰を招くのに対し、この光量測定装置１によれば、テーブルデータＤ４の参照値をきめ細かく、かつ正確に規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、波長幅等の測定値を高精度に特定することができる。さらに、受光センサから順次出力される多数の検出信号の信号レベルを特定して測定対象波長領域内の各波長の光の光量をそれぞれ特定するモノクロメータを備えた光量測定装置とは異なり、少数の受光センサ２０（本例ではＮ＝４個の受光センサ２０）からの検出信号Ｓに対応する検出信号データＤ１の値に基づいて被測定光Ｌの波長幅等を特定することができるため、波長幅等の特定に要する時間を充分に短縮することができる。

また、この光量測定装置１によれば、受光部２が、分光感度特性が互いに相違するＭ個（本例では、Ｍ＝Ｎ＝４個）の受光センサ２０を備えると共に、処理部６が、「特定処理」において、各「信号レベル値」およびテーブルデータＤ４に基づき、被測定光Ｌの歪度を「予め規定された測定値」として演算して特定することにより、演算によって歪度等を特定する構成と同様にして、テーブルデータＤ４の参照値をきめ細かく、かつ正確に規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、歪度等の測定値を短時間で高精度に特定することができる。

さらに、この光量測定装置１によれば、処理部６が、「特定処理」において、「信号レベル値」およびテーブルデータＤ４に基づき、被測定光Ｌの重心波長および光量を「予め規定された測定値」として特定すると共に、特定した重心波長、光量および波長幅と、被測定光Ｌについての「等色関数」とに基づき、被測定光Ｌの三刺激値を「予め規定された測定値」として特定することにより、波長が相違する複数種類の光の合成光を「被測定光」とする場合においても、色度計などの色味の測定装置を別途用意することなく、「特定処理」によって特定される重心波長、光量および波長幅などに基づき、実態に即した的確な三刺激値を短時間で高精度に演算して特定することができる。

一方、Ｎ＝Ｍ＝４個の受光センサ２０を有する受光部２を備えた光量測定装置１の構成を例に挙げて説明したが、このような構成に代えて、１個の「受光部」につき１個の「受光センサ」を備えて「光量測定装置」を構成することもできる。具体的には、例えば、図４に示す光量測定装置１Ａは、「光量測定装置」の他の一例であって、光量測定装置１における受光部２Ｒ，２Ｇ，２Ｂに代えて受光部２Ｒａ，２Ｇａ，２Ｂａ（以下、これらを区別しないときには、「受光部２ａ」ともいう）を備えて構成されている。なお、前述した光量測定装置１の構成要素と同様の機能を有する構成要素については、同一の符号を付して重複する説明を省略する。

この場合、一例として、受光部２Ｒａでは、光学フィルタ２１と、１個の光電変換部２３と、光入射制限部３２（「第１の光入射制限部」の一例）とを備えて受光センサ２０が構成されている。また、光入射制限部３２は、前述した光量測定装置１における受光部２の光学フィルタ２２ａ〜２２ｄと同じ機能の光学フィルタ２２ａ〜２２ｄを備えている。

この受光部２Ｒａでは、光学フィルタ２１と光電変換部２３との間に光学フィルタ２２ａを位置させて光学フィルタ２１，２２ａによって光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を制限する状態（「Ｎ＝Ｍ＝４種類の制限状態」のうちの１つ）、光学フィルタ２１と光電変換部２３との間に光学フィルタ２２ｂを位置させて光学フィルタ２１，２２ｂによって光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を制限する状態（「Ｎ＝Ｍ＝４種類の制限状態」のうちの他の１つ）、光学フィルタ２１と光電変換部２３との間に光学フィルタ２２ｃを位置させて光学フィルタ２１，２２ｃによって光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を制限する状態（「Ｎ＝Ｍ＝４種類の制限状態」のうちのさらに他の１つ）、光学フィルタ２１と光電変換部２３との間に光学フィルタ２２ｄを位置させて光学フィルタ２１，２２ｄによって光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を制限する状態（「Ｎ＝Ｍ＝４種類の制限状態」のうちのさらに他の１つ）の４種類の制限状態に切り替えることができるように構成されている。

これにより、この受光部２Ｒａでは、受光部２における受光センサ２０ａから出力される検出信号Ｓ１ｒ、受光部２における受光センサ２０ｂから出力される検出信号Ｓ２ｒ、受光部２における受光センサ２０ｃから出力される検出信号Ｓ３ｒ、および受光部２における受光センサ２０ｄから出力される検出信号Ｓ４ｒと同じ検出信号Ｓ１ｒ〜Ｓ４ｒを光入射制限部３２の上記の各制限状態に応じて信号変換部３ｒに順次出力することが可能となっている。なお、詳細な説明を省略するが、受光部２Ｇａ，２Ｂａにおいても、上記の受光部２Ｒａと同様の構成が採用されることにより、受光部２Ｇ，２Ｂから出力される検出信号Ｓ１ｇ〜Ｓ４ｇ，Ｓ１ｂ〜Ｓ４ｂと同じ検出信号Ｓ１ｇ〜Ｓ４ｇ，Ｓ１ｂ〜Ｓ４ｂを光入射制限部３２の上記の各制限状態に応じて信号変換部３ｇ，３ｂに順次出力することが可能となっている。

したがって、この光量測定装置１Ａにおいても、各検出信号Ｓに対応する検出信号データＤ１の値と、係数データＤ２の値（またはテーブルデータＤ４の値）とに基づき、被測定光Ｌについての各種の測定値を高精度に求めることが可能となっている。

このように、この光量測定装置１Ａでは、受光量に応じた検出信号Ｓを出力する光電変換部２３、および光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を予め規定されたＮ種類（本例では、Ｎ＝４種類）の制限状態のいずれかで制限する光入射制限部３２を有する受光センサ２０を備えた受光部２ａと、「予め規定された測定値」を特定する「特定処理」を実行する処理部６とを備え、光入射制限部３２が、各制限状態における受光センサ２０の被測定光Ｌについての分光感度特性が相違するように光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を制限し、処理部６が、「特定処理」において、受光センサ２０から各制限状態毎の検出信号Ｓの「信号レベル値（検出信号データＤ１の値）」と、各制限状態毎の受光センサ２０の分光感度特性に応じて予め規定された「測定値演算用係数（係数データＤ２の値）」とに基づき、少なくとも被測定光Ｌの波長幅を「予め規定された測定値」として演算して特定する。

したがって、この光量測定装置１Ａによれば、多数のセンサからなるセンサアレイを有するポリクロメータを備えた光量測定装置と比較して、被測定光Ｌを検出するための受光センサ２０の数、および各受光センサ２０から出力される検出信号Ｓを信号処理するための信号変換部３の数が少数のため、光量測定装置１Ａの製造コストを充分に低減することができる。また、ポリクロメータを備えた光量測定装置において波長幅等の測定値の精度を向上させるには、「測定対象波長領域」内の検出波長の数、すなわち、センサアレイを構成するセンサの数を増加させる必要があり、これに起因して製造コストの高騰を招くのに対し、この光量測定装置１Ａによれば、光入射制限部３２による各制限状態に応じた正確な値を係数データＤ２の値として規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、波長幅等の測定値を高精度に特定することができる。さらに、受光センサから順次出力される多数の検出信号の信号レベルを特定して測定対象波長領域内の各波長の光の光量をそれぞれ特定するモノクロメータを備えた光量測定装置とは異なり、少数の制限状態（本例ではＮ＝４種類の制限状態）毎の検出信号Ｓに対応する検出信号データＤ１の値に基づいて被測定光Ｌの波長幅等を特定することができるため、波長幅等の特定に要する時間を充分に短縮することができる。

また、この光量測定装置１Ａによれば、光入射制限部３２が、光電変換部２３への被測定光Ｌの入射をＭ種類（本例では、Ｎ−Ｍ＝４種類）の制限状態のいずれかで制限すると共に、処理部６が、「特定処理」において、各「信号レベル値」および各「測定値演算用係数」に基づき、被測定光Ｌの歪度を「予め規定された測定値」として演算して特定することにより、各制限状態に応じた正確な値を係数データＤ２の値として規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、歪度等の測定値を短時間で高精度に特定することができる。

さらに、この光量測定装置１Ａによれば、処理部６が、「特定処理」において、「信号レベル値」および「測定値演算用係数」に基づき、被測定光Ｌの重心波長および光量を「予め規定された測定値」として特定すると共に、特定した重心波長、光量および波長幅と、被測定光Ｌについての「等色関数」とに基づき、被測定光Ｌの三刺激値を「予め規定された測定値」として特定することにより、波長が相違する複数種類の光の合成光を「被測定光」とする場合においても、色度計などの色味の測定装置を別途用意することなく、「特定処理」によって特定される重心波長、光量および波長幅などに基づき、実態に即した的確な三刺激値を短時間で高精度に演算して特定することができる。

さらに、この光量測定装置１Ａでは、処理部６が、「特定処理」において、受光センサ２０から出力された各制限状態毎の検出信号Ｓの「信号レベル値」と、測定値および「信号レベル値」の関係を特定可能に予め作成されたテーブルデータＤ４とに基づき、少なくとも被測定光Ｌの波長幅を「予め規定された測定値」として演算して特定することにより、演算によって波長幅等を特定する構成と同様にして、多数のセンサからなるセンサアレイを有するポリクロメータを備えた光量測定装置と比較して、被測定光Ｌを検出するための受光センサ２０の数、および各受光センサ２０から出力される検出信号Ｓを信号処理するための信号変換部３の数が少数のため、光量測定装置１Ａの製造コストを充分に低減することができる。また、ポリクロメータを備えた光量測定装置において波長幅等の測定値の精度を向上させるには、「測定対象波長領域」内の検出波長の数、すなわち、センサアレイを構成するセンサの数を増加させる必要があり、これに起因して製造コストの高騰を招くのに対し、この光量測定装置１Ａによれば、各制限状態毎にテーブルデータＤ４の参照値をきめ細かく、かつ正確に規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、波長幅等の測定値を高精度に特定することができる。さらに、受光センサから順次出力される多数の検出信号の信号レベルを特定して測定対象波長領域内の各波長の光の光量をそれぞれ特定するモノクロメータを備えた光量測定装置とは異なり、少数の制限状態（本例ではＮ＝４種類の制限状態）毎の検出信号Ｓに対応する検出信号データＤ１の値に基づいて被測定光Ｌの波長幅等を特定することができるため、波長幅等の特定に要する時間を充分に短縮することができる。

また、この光量測定装置１Ａによれば、光入射制限部３２が、光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を予め規定されたＭ種類（この例では４種類）の制限状態のいずれかで制限すると共に、処理部６が、「特定処理」において、各「信号レベル値」およびテーブルデータＤ４に基づき、被測定光Ｌの歪度を「予め規定された測定値」として特定することにより、演算によって歪度等を特定する構成と同様にして、各制限状態毎にテーブルデータＤ４の参照値をきめ細かく、かつ正確に規定しておくことで、製造コストの高騰を招くことなく、歪度等の測定値を短時間で高精度に特定することができる。

この場合、「第１の光入射制限部」の構成は、上記の光量測定装置１Ａ（受光部２ａ）における光入射制限部３２のような構成に限定されない。具体的には、上記の光入射制限部３２は、Ｎ＝Ｍ＝４個の光学フィルタ２２（「第１の光学フィルタ」と同じ機能の光学フィルタ）を備えてこれらを順次切り替えて使用することでＮ＝Ｍ＝４種類の「制限状態」のいずれかで光電変換部２３に対する被測定光Ｌの入射を規制する構成を採用しているが、このような構成に代えて、外力（物理的な力）や電気信号の入力に応じて「光電変換部」に対する各波長毎の「被測定光」の入射量を変化させることが可能な「フィルタ特性可変型の光学フィルタ」を「光電変換部」の入射面側に配設することにより、Ｎ種類（Ｍ種類）の制限状態のいずれかで「光電変換部」に対する「被測定光」の入射を制限可能な「受光センサ」を備えて「光量測定装置（受光部）」を構成することができる（図示せず）。

また、Ｎ＝Ｍ＝４個の受光センサ２０を備えた光量測定装置１や、Ｎ＝Ｍ＝４種類の制限状態に移行可能な受光センサ２０を備えた光量測定装置１Ａの構成を例に挙げて説明したが、Ｎ＝３個の「受光センサ」を備えた構成、または、Ｎ＝３種類の「制限状態」に移行可能な構成や、Ｎ＝Ｍ≧５個の「受光センサ」を備えた構成、またはＮ＝Ｍ≧５種類の「制限状態」に移行可能な構成を採用することもできる。

この場合、Ｎ＝３個の「受光センサ」を備えて「光量測定装置」を構成したり、Ｎ＝３種類の「制限状態」に移行可能な構成を採用したりすることにより、Ｎ種類の「検出信号の信号レベル値」に基づき、光量および重心波長に加えて、「（Ｎ−１）＝２次モーメント」の「(λ^２)ｇ」を利用して演算される波長幅を特定することができる。また、Ｎ＝Ｍ≧５個の「受光センサ」を備えて「光量測定装置」を構成したり、Ｎ＝Ｍ≧５種類の「制限状態」に移行可能な構成を採用したりすることにより、それらの「検出信号の信号レベル値」に基づき、前述したようにＮ＝Ｍ＝４個の受光センサ２０を備えた光量測定装置１やＮ＝Ｍ＝４種類の制限状態に移行可能な光量測定装置１Ａにおいて特定することができた光量、重心波長、波長幅および歪度に加えて、「λ」に関する「４次モーメント」、「５次モーメント」・・・を利用して演算される各種の「測定値」を特定することができる。

さらに、Ｌ＝３種類の波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ内の被測定光Ｌについての各種測定値を測定可能にＬ＝３個の受光部２（２ａ）を備えた光量測定装置１（１Ａ）の構成を例に挙げて説明したが、このような構成に代えて、１個の「受光部」によってＬ種類の「測定対象波長範囲」内の「被測定光」についての「予め規定された測定値」を測定する構成を採用することもできる。具体的には、例えば、図５に示す光量測定装置１Ｂは、「光量測定装置」のさらに他の一例であって、光量測定装置１における受光部２Ｒ，２Ｇ，２Ｂや、光量測定装置１Ａにおける受光部２Ｒａ，２Ｇａ，２Ｂａに代えて、１個の受光部２によって波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，ＨｂのＬ＝３種類の「測定対象波長範囲」内の被測定光Ｌを対象とする測定を実行することができるように構成されている。なお、前述した光量測定装置１，１Ａの構成要素と同様の機能を有する構成要素については、同一の符号を付して重複する説明を省略する。

この場合、この光量測定装置１Ｂにおける受光部２は、一例として、光入射制限部３１（「第２の光入射制限部」の一例）と、光学フィルタ２２ａ〜２２ｄと、光電変換部２３ａ〜２３ｄとを備えて構成された受光センサ２０ａ〜２０ｄを備えている。また、光入射制限部３１は、前述した光量測定装置１における受光部２Ｒの光学フィルタ２１（以下、「光学フィルタ２１ｒ」ともいう）、受光部２Ｇの光学フィルタ２１（以下、「光学フィルタ２１ｇ」ともいう）、および受光部２Ｂの光学フィルタ２１（以下、「光学フィルタ２１ｂ」ともいう）と同じ機能のＬ＝３個の光学フィルタ２１（光学フィルタ２１ｒ，２１ｇ，２１ｂ）を備えている。

この受光部２では、各光学フィルタ２２（各光電変換部２３）の光入射面側に光学フィルタ２１ｒを位置させて光学フィルタ２１ｒ，２２によって各光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を制限する状態（「Ｌ＝３種類の制限状態」のうちの１つ）、各光学フィルタ２２（各光電変換部２３）の光入射面側に光学フィルタ２１ｇを位置させて光学フィルタ２１ｇ，２２によって各光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を制限する状態（「Ｌ＝３種類の制限状態」のうちの他の１つ）、および各光学フィルタ２２（各光電変換部２３）の光入射面側に光学フィルタ２１ｂを位置させて光学フィルタ２１ｂ，２２によって各光電変換部２３への被測定光Ｌの入射を制限する状態（「Ｌ＝３種類の制限状態」のうちのさらに他の１つ）の３種類の制限状態に切り替えることができるように構成されている。

これにより、この光量測定装置１Ｂ（受光部２）では、各光学フィルタ２２（各光電変換部２３）の光入射面側に光学フィルタ２１ｒを位置させた状態において、光量測定装置１の受光部２Ｒにおける各受光センサ２０ａ〜２０ｄから出力される検出信号Ｓ１ｒ〜Ｓ４ｒと同じ検出信号Ｓ１ｒ〜Ｓ４ｒを受光部２から出力させ、各光学フィルタ２２（各光電変換部２３）の光入射面側に光学フィルタ２１ｇを位置させた状態において、光量測定装置１の受光部２Ｇにおける各受光センサ２０ａ〜２０ｄから出力される検出信号Ｓ１ｇ〜Ｓ４ｇと同じ検出信号Ｓ１ｇ〜Ｓ４ｇを受光部２から出力させ、かつ各光学フィルタ２２（各光電変換部２３）の光入射面側に光学フィルタ２１ｂを位置させた状態において、光量測定装置１の受光部２Ｂにおける各受光センサ２０ａ〜２０ｄから出力される検出信号Ｓ１ｂ〜Ｓ４ｂと同じ検出信号Ｓ１ｂ〜Ｓ４ｂを受光部２から出力させることが可能となっている。

したがって、この光量測定装置１Ｂにおいても、各検出信号Ｓに対応する検出信号データＤ１の値と、係数データＤ２の値（またはテーブルデータＤ４の値）とに基づき、波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ内の被測定光Ｌについての各種の測定値を高精度に求めることが可能となっている。

このように、この光量測定装置１Ｂでは、各受光センサ２０への被測定光Ｌの入射を予め規定されたＬ種類（本例では、Ｌ＝３種類）の制限状態のいずれかで制限する光入射制限部３１を備えて互いに相違するＬ＝３種類の波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ内の被測定光Ｌについての「予め規定された測定値」を測定可能に構成され、光入射制限部３１が、各制限状態毎に、波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ内の被測定光Ｌの光電変換部２３に対する入射を許容しつつ、波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂよりも短い波長の波長範囲Ｈｓｒ，Ｈｓｇ，Ｈｓｂ、および波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂよりも長い波長の波長範囲Ｈｌｒ，Ｈｌｇ，Ｈｌｂの両入射規制波長範囲内の被測定光Ｌの光電変換部２３に対する入射を規制する。したがって、この光量測定装置１Ｂによれば、前述した光量測定装置１，１Ａと同様にして、波長が相違するＬ種類の被測定光Ｌについての測定値を短時間で高精度に特定することができる。

さらに、Ｌ＝３種類の波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ内の被測定光Ｌについての各種測定値を測定可能にＬ＝３個の受光部２（２ａ）を備えた光量測定装置１（１Ａ）の構成や、Ｌ＝３種類の波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ内の被測定光Ｌについての各種測定値を測定可能にＬ＝３種類の制限状態に移行可能な受光部２を備えた光量測定装置１Ｂの構成を例に挙げて説明したが、Ｌ＝２種類の「測定対象波長範囲」内の被測定光についての各種測定値を測定可能にＬ＝２個の「受光部」を備えた構成、または、Ｌ＝２種類の「測定対象波長範囲」内の被測定光についての各種測定値を測定可能にＬ＝２種類の制限状態に移行可能な構成や、Ｌ≧４種類の「測定対象波長範囲」内の被測定光についての各種測定値を測定可能にＬ≧４個の「受光部」を備えた構成、または、Ｌ≧４種類の「測定対象波長範囲」内の被測定光についての各種測定値を測定可能にＬ≧４種類の制限状態に移行可能な構成を採用することもできる。また、例えば照明器具等からの光を被測定光Ｌとして測定するときには、１種類の「測定対象波長範囲」内の被測定光についての各種測定値を測定可能に１個の「受光部」を備えた構成や、「測定対象波長範囲」を切り替えるための制限状態の移行を行わない構成を採用することもできる。

さらに、図示および詳細な説明を省略するが、上記の光量測定装置１Ｂにおける受光部２の光入射制限部３１（光学フィルタ２１ｒ，２１ｇ，２１ｂ）と、前述した光量測定装置１Ａにおける受光部２ａの各光入射制限部３２および各光電変換部２３とを組み合わせて「受光部」を構成することもできる。また、受光センサ２０ａ〜２０ｄ（２０）からの検出信号Ｓ（電流信号）を各信号変換部３においてＩ／Ｖ変換した電圧信号の値（検出信号データＤ１の値）を「受光センサからの検出信号の信号レベル値」の一例として使用する例について説明したが、そのような値に代えて、検出信号Ｓ（電流信号）の信号レベルそのものを「信号レベル値」として使用する構成を採用することもできる。

１，１Ａ，１Ｂ 光量測定装置
２Ｒ，２Ｒａ，２Ｇ，２Ｇａ，２Ｂ，２Ｂａ 受光部
３ｒ，３ｇ，３ｂ 信号変換部
６ 処理部
７ 記憶部
２０ａ〜２０ｄ 受光センサ
２１，２２ａ〜２２ｄ 光学フィルタ
２３ａ〜２３ｄ 光電変換部
３１，３２ 光入射制限部
Ｄ１ｒ，Ｄ１ｇ，Ｄ１ｂ 検出信号データ
Ｄ２ｒ，Ｄ２ｇ，Ｄ２ｂ 係数データ
Ｄ３ 測定結果データ
Ｄ４ テーブルデータ
Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ，Ｈｓｒ，Ｈｓｇ，Ｈｓｂ，Ｈｌｒ，Ｈｌｇ，Ｈｌｂ 波長範囲
Ｌ 被測定光
Ｓ１ｒ〜Ｓ４ｒ，Ｓ１ｇ〜Ｓ４ｇ，Ｓ１ｂ〜Ｓ４ｂ 検出信号

Claims (11)

1. 測定対象波長領域内の被測定光を受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部を有するＮ個（Ｎは、３以上の自然数）の受光センサを備えた受光部と、
   前記各検出信号に基づいて前記被測定光についての予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、
   前記受光部は、いずれかの前記受光センサの前記被測定光についての分光感度に対する他のいずれかの前記受光センサの当該被測定光についての分光感度の比が前記測定対象波長領域内の各波長毎に相違するように前記光電変換部への当該被測定光の入射を制限する第１の光学フィルタを当該各受光センサがそれぞれ備えて当該各受光センサの分光感度特性が互いに相違するように構成され、
   前記処理部は、前記特定処理において、前記各受光センサからの前記検出信号の信号レベル値と、前記各受光センサ毎の前記分光感度特性に応じて予め規定された測定値演算用係数とに基づき、少なくとも前記被測定光の波長幅を前記予め規定された測定値として演算して特定する光量測定装置。
2. 前記受光部は、前記分光感度特性が互いに相違するＭ個（Ｍは、４以上の自然数）の前記受光センサを備え、
   前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記各測定値演算用係数に基づき、前記被測定光の歪度を前記予め規定された測定値として演算して特定する請求項１記載の光量測定装置。
3. 測定対象波長領域内の被測定光を受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部を有するＮ個（Ｎは、３以上の自然数）の受光センサを備えた受光部と、
   前記各検出信号に基づいて前記被測定光についての予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、
   前記受光部は、いずれかの前記受光センサの前記被測定光についての分光感度に対する他のいずれかの前記受光センサの当該被測定光についての分光感度の比が前記測定対象波長領域内の各波長毎に相違するように前記光電変換部への当該被測定光の入射を制限する第１の光学フィルタを当該各受光センサがそれぞれ備えて当該各受光センサの分光感度特性が互いに相違するように構成され、
   前記処理部は、前記特定処理において、前記各受光センサからの前記検出信号の信号レベル値と、前記予め規定された測定値および前記信号レベル値の関係を特定可能に予め作成された測定値特定用テーブルとに基づき、少なくとも前記被測定光の波長幅を当該予め規定された測定値として特定する光量測定装置。
4. 前記受光部は、前記分光感度特性が互いに相違するＭ個（Ｍは、４以上の自然数）の前記受光センサを備え、
   前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記測定値特定用テーブルに基づき、前記被測定光の歪度を前記予め規定された測定値として特定する請求項３記載の光量測定装置。
5. 測定対象波長領域内の被測定光を受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部を有する受光センサを備えた受光部と、
   前記検出信号に基づいて前記被測定光についての予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、
   前記受光センサは、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＮ種類（Ｎは、３以上の自然数）の制限状態のいずれかで制限する第１の光入射制限部を備え、
   前記第１の光入射制限部は、いずれかの前記制限状態における前記受光センサの前記被測定光についての分光感度に対する他のいずれかの前記制限状態における当該受光センサの当該被測定光についての分光感度の比が前記測定対象波長領域内の各波長毎に相違するように前記光電変換部への当該被測定光の入射を制限して当該受光センサの分光感度特性を当該各制限状態毎に相違させ、
   前記処理部は、前記特定処理において、前記第１の光入射制限部による前記各制限状態毎の前記受光センサからの前記検出信号の信号レベル値と、前記各制限状態毎の前記受光センサの前記分光感度特性に応じて予め規定された測定値演算用係数とに基づき、少なくとも前記被測定光の波長幅を前記予め規定された測定値として演算して特定する光量測定装置。
6. 前記第１の光入射制限部は、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＭ種類（Ｍは、４以上の自然数）の前記制限状態のいずれかで制限可能に構成され、
   前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記各測定値演算用係数に基づき、前記被測定光の歪度を前記予め規定された測定値として演算して特定する請求項５記載の光量測定装置。
7. 測定対象波長領域内の被測定光を受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号を出力する光電変換部を有する受光センサを備えた受光部と、
   前記検出信号に基づいて前記被測定光についての予め規定された測定値を特定する特定処理を実行する処理部とを備え、
   前記受光センサは、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＮ種類（Ｎは、３以上の自然数）の制限状態のいずれかで制限する第１の光入射制限部を備え、
   前記第１の光入射制限部は、いずれかの前記制限状態における前記受光センサの前記被測定光についての分光感度に対する他のいずれかの前記制限状態における当該受光センサの当該被測定光についての分光感度の比が前記測定対象波長領域内の各波長毎に相違するように前記光電変換部への当該被測定光の入射を制限して当該受光センサの分光感度特性を当該各制限状態毎に相違させ、
   前記処理部は、前記特定処理において、前記第１の光入射制限部による前記各制限状態毎の前記受光センサからの前記検出信号の信号レベル値と、前記予め規定された測定値および前記信号レベル値の関係を特定可能に予め作成された測定値特定用テーブルとに基づき、少なくとも前記被測定光の波長幅を当該予め規定された測定値として特定する光量測定装置。
8. 前記第１の光入射制限部は、前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＭ種類（Ｍは、４以上の自然数）の前記制限状態のいずれかで制限可能に構成され、
   前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記測定値特定用テーブルに基づき、前記被測定光の歪度を前記予め規定された測定値として特定する請求項７記載の光量測定装置。
9. 前記処理部は、前記特定処理において、前記各信号レベル値および前記各測定値演算用係数に基づき、前記被測定光の重心波長および光量を前記予め規定された測定値として特定すると共に、特定した前記重心波長、前記光量および前記波長幅と、前記被測定光についての等色関数とに基づき、当該被測定光の三刺激値を前記予め規定された測定値として特定する請求項１から８のいずれかに記載の光量測定装置。
10. 互いに相違するＬ種類（Ｌは、３以上の自然数）の前記測定対象波長範囲内の前記被測定光についての前記予め規定された測定値を測定可能にＬ個の前記受光部を備え、
    前記各受光部は、前記測定対象波長範囲内の前記被測定光の前記光電変換部に対する入射を許容しつつ、当該測定対象波長範囲よりも短い波長の短波長側入射規制波長範囲、および当該測定対象波長範囲よりも長い波長の長波長側入射規制波長範囲の両入射規制波長範囲内の前記被測定光の当該光電変換部に対する入射を規制する第２の光学フィルタを備えて前記各受光センサが構成されている請求項１から９のいずれかに記載の光量測定装置。
11. 前記光電変換部への前記被測定光の入射を予め規定されたＬ種類（Ｌは、３以上の自然数）の制限状態のいずれかで制限する第２の光入射制限部を備えて互いに相違するＬ種類の前記測定対象波長範囲内の当該被測定光についての前記予め規定された測定値を測定可能に構成され、
    前記第２の光入射制限部は、前記各制限状態毎に、前記測定対象波長範囲内の前記被測定光の前記光電変換部に対する入射を許容しつつ、当該測定対象波長範囲よりも短い波長の短波長側入射規制波長範囲、および当該測定対象波長範囲よりも長い波長の長波長側入射規制波長範囲の両入射規制波長範囲内の前記被測定光の当該光電変換部に対する入射を規制可能に構成されている請求項１から９のいずれかに記載の光量測定装置。

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