JP7163102B2 - 光測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、一対の受光センサにおける光電変換部からそれぞれ出力される検出信号に基づいて検出信号の信号レベルを特定可能なデータを生成すると共に、生成したデータに基づいて被測定光についての予め規定された光学的パラメータを測定可能に構成された光測定装置に関するものである。

この種の光測定装置として、出願人は、赤色光源から発せられる赤色光、緑色光源から発せられる緑色光、および青色光源から発せられる青色光を被測定光として、これらの光量をそれぞれ測定可能な光量測定装置（「光学的パラメータ」としての「光量」を測定可能な「光測定装置」）の発明を下記の特許文献に開示している。

出願人が開示している光量測定装置は、赤色光の受光部、緑色光の受光部、および青色光の受光部の３つの受光部を備えると共に、各受光部が、光学フィルタおよび光電変換部を有する受光センサをそれぞれ一対備えて構成されている。また、出願人が開示している光量測定装置は、各受光センサの光電変換部から出力される検出信号をＩ／Ｖ変換処理するＩ／Ｖ変換部と、Ｉ／Ｖ変換部の出力信号をＡ／Ｄ変換処理するＡ／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変換部から出力されるデータ（光電変換部から出力される検出信号の信号レベルを特定可能なデータ）に基づいて被測定光の光量を演算する（測定する）処理部とを備えている。

この場合、出願人が開示している光量測定装置では、各受光部の一対の受光センサが、一方の受光センサの測定対象波長範囲内の分光感度と、他方の受光センサの測定対象波長範囲内の分光感度との比を測定対象波長範囲内の各波長の被測定光毎に相違させるための光学フィルタ（波長が長い被測定光ほど透過量が減少する光学フィルタ、および波長が短い被測定光ほど透過量が減少する光学フィルタ）をそれぞれ備えて構成されている。また、出願人が開示している光量測定装置では、上記の一対の受光センサの一方における光電変換部から出力される検出信号をＩ／Ｖ変換処理するＩ／Ｖ変換部と、一対の受光センサの他方における光電変換部から出力される検出信号をＩ／Ｖ変換処理するＩ／Ｖ変換部とを別個に備えると共に、両Ｉ／Ｖ変換部に対して、その出力信号を順次Ａ／Ｄ変換処理するＡ／Ｄ変換部が切替えスイッチを介して接続されている。

これにより、出願人が開示している光量測定装置では、一対の受光センサ（光電変換部）の検出信号の信号レベルを特定可能なデータが各受光部毎にＡ／Ｄ変換部からそれぞれ出力されると共に、各Ａ／Ｄ変換部から出力されるデータに基づき、赤色光の光量、緑色光の光量、および青色光の光量がそれぞれ演算（測定）される。

特開２０１６－１６６７９７号公報（第９－２５頁、第１－５図）

ところが、出願人が上記特許文献に開示している光量測定装置には、以下の改善すべき課題がある。具体的には、出願人が開示している光量測定装置では、各受光部の受光センサ（光電変換部）から出力される検出信号をＩ／Ｖ変換部によってＩ／Ｖ変換処理した後にＡ／Ｄ変換部によってＡ／Ｄ変換処理したデータに基づいて被測定光の光量を演算する（測定する）構成が採用されている。

また、この光量測定装置では、一対の受光センサにおける光学フィルタの光学特性を各受光部毎（被測定光の測定対象波長範囲毎）に最適化する（各受光部毎に光学特性が相違する光学センサを採用する）ことにより、両受光センサの分光感度、すなわち、一対の受光センサにおける光電変換部に対する被測定光の入射量が各受光部毎に同程度となるように構成されている。しかしながら、例えば、前述の測定対象波長範囲内の分光感度の比を測定対象波長範囲内の各波長の被測定光毎に相違させるための光学フィルタを赤色光の受光部、緑色光の受光部、および青色光の受光部において共用したとき（各受光部において同じ光学フィルタを採用したとき）には、各受光部のうちのいずれかにおいて、両受光センサの光電変換部に対する被測定光の入射量が大きく相違する状態となる。

一方、この種の装置において受光センサ（光電変換部）の検出信号をＩ／Ｖ変換処理可能なＩ／Ｖ変換部（Ｉ／Ｖ変換素子）として、一対の受光センサ（光電変換部）の検出信号を並行して処理可能な「２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子）」が存在する。また、「２チャンネルＩ／Ｖ変換部」のなかには、両チャネル毎の利得の設定値が共通のもの（利得を別個に設定することができないもの）がある。この場合、利得の設定値が共通の「２チャンネルＩ／Ｖ変換部」を採用し、かつ各受光部において同じ光学フィルタを採用したときには、両受光センサの光電変換部に対する被測定光の入射量が大きく相違する状態となっている受光部において、両受光センサ（光電変換部）についての異なる信号レベルの検出信号が同様にＩ／Ｖ変換処理される結果、一方の受光センサについての信号のＳＮ比と、他方の受光センサについての信号のＳＮ比とが大きく相違する状態となる。

また、出願人が開示している光量測定装置とは異なるが、各受光部毎の両受光センサ（光電変換部）と、１つのＩ／Ｖ変換部とを切り替えスイッチを介して接続することにより、両受光センサ（光電変換部）の検出信号を１つのＩ／Ｖ変換部によって順次Ｉ／Ｖ変換処理する構成を採用することもできる。この場合、１つのＩ／Ｖ変換部によって両受光センサ（光電変換部）の検出信号をＩ／Ｖ変換処理する構成を採用し、かつ各受光部において同じ光学フィルタを採用したときにも、両受光センサの光電変換部に対する被測定光の入射量が大きく相違する状態となっている受光部において、両受光センサ（光電変換部）についての異なる信号レベルの検出信号が同様にＩ／Ｖ変換処理される結果、一方の受光センサについての信号のＳＮ比と、他方の受光センサについての信号のＳＮ比とが大きく相違する状態となる。

上記の例のように、両受光センサ（光電変換部）についての信号のＳＮ比が大きく相違した状態では、被測定光の波長や光量の演算を高精度で行うのが困難となる。このため、出願人が開示している光量測定装置では、高精度な測定結果を得ることができる状態とするために、採用可能な光学フィルタやＩ／Ｖ変換部（測定結果を得るためのデータを生成するための要素：データ生成部）の自由度が低下している現状がある。このため、この点を改善するのが好ましい。

なお、赤色光、緑色光および青色光の３種類の被測定光についての測定を行う光測定装置において本願発明が解決しようとする課題について説明したが、任意の色の単色光についての光学的パラメータを測定する光測定装置や、可視光範囲等の波長範囲が広い被測定光の光学的パラメータを測定する光測定装置などにおいても、一対の受光センサに対する被測定光の入射量が大きく相違する状態で、両受光センサについての異なる信号レベルの検出信号を同様にＩ／Ｖ変換処理する構成においては、上記の説明事項と同様の課題が生じることとなる。

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、測定精度を低下させることなく、採用し得る構成部品の自由度を十分に高めることが可能な光測定装置を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく、請求項１記載の光測定装置は、被測定光の入射量に応じた第１の検出信号を出力する第１の光電変換部を有する第１の受光センサ、および前記被測定光の入射量に応じた第２の検出信号を出力する第２の光電変換部を有する第２の受光センサを備えると共に、前記第１の受光センサの測定対象波長範囲内の分光感度と前記第２の受光センサの当該測定対象波長範囲内の分光感度との比が当該測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光毎に相違するように構成された受光部と、前記被測定光の通過が可能な第１の光通過孔が形成されて前記第１の光電変換部に対する当該被測定光の入射量を制限する第１の入射量制限部、および前記被測定光の通過が可能な第２の光通過孔が形成されて前記第２の光電変換部に対する当該被測定光の入射量を制限する第２の入射量制限部と、前記第１の検出信号に基づいて当該第１の検出信号の信号レベルを特定可能な第１のデータを生成すると共に、前記第２の検出信号に基づいて当該第２の検出信号の信号レベルを特定可能な第２のデータを生成するデータ生成部と、前記第１のデータに基づいて特定した前記第１の検出信号の信号レベル、および前記第２のデータに基づいて特定した前記第２の検出信号の信号レベルに基づいて前記被測定光についての予め規定された光学的パラメータを演算する処理部とを備え、前記第１の入射量制限部および前記第２の入射量制限部は、前記測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光の前記第１の光電変換部に対する入射量と前記第２の光電変換部に対する入射量との差が予め規定された光量範囲内の光量となるように前記第１の光通過孔の第１の開口面積と前記第２の光通過孔の第２の開口面積とが相違させられている。

また、請求項２記載の光測定装置は、請求項１記載の光測定装置において、前記第１の受光センサおよび前記第２の受光センサに対する前記被測定光の入射方向および当該被測定光の入射量を均一化するための拡散光学系を備え、前記第１の入射量制限部は、前記拡散光学系において前記第１の受光センサへの前記被測定光を出射する第１の出射部に設けられ、前記第２の入射量制限部は、前記拡散光学系において前記第２の受光センサへの前記被測定光を出射する第２の出射部に設けられている。

また、請求項３記載の光測定装置は、請求項１または２記載の光測定装置において、前記処理部は、前記被測定光についての前記予め規定された光学的パラメータとして、前記第１のデータに基づいて特定した前記第１の検出信号の信号レベルおよび前記第２のデータに基づいて特定した前記第２の検出信号の信号レベルのいずれか一方に対する他方の比に基づいて前記被測定光の波長を演算すると共に、演算した波長と、前記いずれか一方とに基づいて前記被測定光の放射量を演算する。

請求項１記載の光測定装置では、被測定光の通過が可能な第１の光通過孔が形成されて第１の受光センサにおける第１の光電変換部に対する被測定光の入射量を制限する第１の入射量制限部、および被測定光の通過が可能な第２の光通過孔が形成されて第２の受光センサにおける第２の光電変換部に対する被測定光の入射量を制限する第２の入射量制限部を備え、第１の入射量制限部および第２の入射量制限部が、測定対象波長範囲内の各波長の被測定光の第１の光電変換部に対する入射量と第２の光電変換部に対する入射量との差が予め規定された光量範囲内の光量となるように第１の光通過孔の第１の開口面積と第２の光通過孔の第２の開口面積とが相違させられている。

したがって、請求項１記載の測定装置によれば、測定対象波長範囲内の各波長の被測定光の透過率が大きく異なる光学フィルタを採用したとしても、第１の光通過孔の通過時および第２の光通過孔の通過時に第１の光電変換部および第２の光電変換部に入射する被測定光の光量が好適に調整されるため、任意の光学特定を有する光学フィルタを採用して光測定装置を構成することができる。また、第１の受光センサ（第１の光電変換部）の第１の検出信号、および第２の受光センサ（第２の光電変換部）の第２の検出信号を同じ処理条件でＩ／Ｖ変換するＩ／Ｖ変換部（利得の調整値が共通の２チャンネルＩ／Ｖ変換部等）を備えてデータ生成部を構成しても、両検出信号の信号レベルが同程度となっていることで、第１の検出信号のＳＮ比（Ａ／Ｄ変換処理されて生成される検出信号データのＳＮ比）、および第２の検出信号のＳＮ比（Ａ／Ｄ変換処理されて生成される検出信号データのＳＮ比）を同程度の状態とすることができる。したがって、両検出信号（両検出信号データ）に基づいて被測定光についての高精度な波長や放射量を演算（測定）することができるため、測定精度を低下させることなく、採用し得る構成部品（光電変換部やＩ／Ｖ変換部等）の自由度を十分に高めることができるため、必要とされる光学特性や部品コストに応じて任意の部品を選択して製造することができる。

請求項２記載の光測定装置では、第１の受光センサおよび第２の受光センサに対する被測定光の入射方向および被測定光の入射量を均一化するための拡散光学系において第１の受光センサへの被測定光を出射する第１の出射部に第１の入射量制限部が設けられると共に、拡散光学系において第２の受光センサへの被測定光を出射する第２の出射部に第２の入射量制限部が設けられている。

したがって、請求項２記載の光測定装置によれば、拡散光学系を備えた光測定装置において必須の出射部を第１の光通過孔および第２の光通過孔として第１の開口面積および第２の開口面積を異ならせることで、出射部を第１の入射量制限部および第２の入射量制限部として機能させることができるため、拡散光学系の出射部とは別個に第１の入射量制限部および第２の入射量制限部を設けた構成と比較して、第１の光電変換部および第２の光電変換部に対する被測定光の入射量を調整するための光学部品の数を少数化することができる結果、製造コストの低減を図ることができると共に、光測定装置を十分に小形化することができる。

請求項３記載の光測定装置では、処理部が、被測定光についての予め規定された光学的パラメータとして、第１のデータに基づいて特定した第１の検出信号の信号レベルおよび第２のデータに基づいて特定した第２の検出信号の信号レベルのいずれか一方に対する他方の比に基づいて被測定光の波長を演算すると共に、演算した波長と、いずれか一方とに基づいて被測定光の放射量を演算する。したがって、請求項３記載の測定装置によれば、両受光センサ（両光電変換部）から出力される両検出信号のＳＮ比が大きく相違する場合に高精度な測定結果を得るのが困難な波長および放射量について、十分に高精度な測定結果を演算（測定）することができる。

光測定装置１の構成を示す構成図である。 拡散光学系２からの被測定光Ｌの出射量、光電変換部２３ａ，２３ｂへの被測定光Ｌの入射量、および受光センサ２０ａ，２０ｂの分光感度特性と、拡散光学系２（出射孔１４ｒａ，１４ｒｂ，１４ｇａ，１４ｇｂ，１４ｂａ，１４ｂｂ）との関係について説明するための説明図である。 光測定装置１Ａ～１Ｃの構成を示す構成図である。

以下、光測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

図１に示す光測定装置１は、「光測定装置」の一例であって、拡散光学系２、受光部３Ｒ，３Ｇ，３Ｂ、Ｉ／Ｖ変換部４ｒ，４ｇ，４ｂ、Ａ／Ｄ変換部５ｒ，５ｇ，５ｂ、操作部６、表示部７、処理部８および記憶部９を備え、被測定光Ｌについての「予め規定された光学的パラメータ」の一例である「波長（重心波長）」や「放射量」、およびそれらに基づいて演算される各種パラメータを測定可能に構成されている。この場合、被測定光Ｌは、「被測定光」の一例であって、本例では、視聴覚機器（プロジェクタ）や照明器具などの赤色光源から発せられる赤色光、緑色光源から発せられる緑色光、および青色光源から発せられる青色光の３種類の被測定光Ｌを対象とする測定処理を行うものとする。

一方、拡散光学系２は、「拡散光学系」の一例であって、本例の光測定装置１では、拡散光学系２が「積分球」で構成されている。この拡散光学系２は、入射部１１に開口された入射孔１２から入射した被測定光Ｌを拡散させることにより、受光部３Ｒにおける後述の受光センサ２０ａ，２０ｂ、受光部３Ｇにおける後述の受光センサ２０ａ，２０ｂ、および受光部３Ｂにおける後述の受光センサ２０ａ，２０ｂに対する被測定光Ｌの入射方向および入射量を均一化可能に構成されている。また、本例の光測定装置１では、図１に示すように、受光部３Ｒに対して被測定光Ｌを出射する出射部１３ｒに出射孔１４ｒａ，１４ｒｂが形成され、受光部３Ｇに対して被測定光Ｌを出射する出射部１３ｇに出射孔１４ｇａ，１４ｇｂが形成され、かつ受光部３Ｂに対して被測定光Ｌを出射する出射部１３ｂに出射孔１４ｂａ，１４ｂｂが形成されている。

この場合、本例の光測定装置１（拡散光学系２）では、出射部１３ｒ，１３ｇ，１３ｂ（以下、これらを区別しないときには「出射部１３」ともいう）における上記の出射孔１４ｒａ，１４ｇａ，１４ｂａ（以下、これらを区別しないときには「出射孔１４ａ」ともいう）の形成部位が「第１の出射部」および「第１の入射量制限部」に相当し、これら各出射孔１４ａが「第１の光通過孔」に相当する。また、本例の光測定装置１（拡散光学系２）では、各出射部１３における上記の出射孔１４ｒｂ，１４ｇｂ，１４ｂｂ（以下、これらを区別しないときには「出射孔１４ｂ」ともいう）の形成部位が「第２の出射部」および「第２の入射量制限部」に相当し、これら各出射孔１４ｂが「第２の光通過孔」に相当する。なお、本例の光測定装置１（拡散光学系２）では、各出射孔１４ａ，１４ｂの開口面積（開口径：孔径）が各受光部３Ｒ，３Ｇ，３Ｂ毎に最適化されているが、この点については、後に詳細に説明する。

受光部３Ｒ，３Ｇ，３Ｂは、それぞれが「受光部」に相当し、上記したように、赤色光、緑色光および青色光の３種類を被測定光Ｌとする測定処理を実行可能な本例の光測定装置１では、赤色光を受光する受光部３Ｒ、緑色光を受光する受光部３Ｇ、および青色光を受光する受光部３Ｂの３つを備えて構成されている。また、受光部３Ｒは、受光センサ２０ａ，２０ｂおよび光学フィルタ２１ｒを備えて構成され、受光部３Ｇは、受光センサ２０ａ，２０ｂおよび光学フィルタ２１ｇを備えて構成され、受光部３Ｂは、受光センサ２０ａ，２０ｂおよび光学フィルタ２１ｂを備えて構成されている。以下、これら受光部３Ｒ，３Ｇ，３Ｂを区別しないときには「受光部３」ともいう。

この場合、光学フィルタ２１ｒ，２１ｇ，２１ｂは、各受光部３毎に予め規定された「測定対象波長範囲」内の波長の被測定光Ｌの受光センサ２０ａ，２０ｂに対する入射を許容しつつ、「測定対象波長範囲」よりも短い波長の光や、「測定対象波長範囲」よりも長い波長の光の受光センサ２０ａ，２０ｂに対する入射を規制するように構成されている。具体的には、光学フィルタ２１ｒは、一例として、図２に示す波長λｒｓから波長λｒｌまでの波長範囲Ｈｒ（「測定対象波長範囲」の一例）内の波長の被測定光Ｌ（赤色光）の受光センサ２０ａ，２０ｂに対する入射を許容しつつ、その他の波長の光の受光センサ２０ａ，２０ｂに対する入射を規制する。

また、光学フィルタ２１ｇは、一例として、波長λｇｓから波長λｇｌまでの波長範囲Ｈｇ（「測定対象波長範囲」の他の一例）内の波長の被測定光Ｌ（緑色光）の受光センサ２０ａ，２０ｂに対する入射を許容しつつ、その他の波長の光の受光センサ２０ａ，２０ｂに対する入射を規制する。さらに、光学フィルタ２１ｂは、一例として、波長λｂｓから波長λｂｌまでの波長範囲Ｈｂ（「測定対象波長範囲」のさらに他の一例）内の波長の被測定光Ｌ（青色光）の受光センサ２０ａ，２０ｂに対する入射を許容しつつ、その他の波長の光の受光センサ２０ａ，２０ｂに対する入射を規制する。なお、以下の説明において光学フィルタ２１ｒ，２１ｇ，２１ｂを区別しないときには「光学フィルタ２１」ともいう。

受光センサ２０ａは、「第１の受光センサ」の一例であって、光学フィルタ２２ａおよび光電変換部２３ａを備えて構成されている。なお、本例の光測定装置１では、受光センサ２０ａの光電変換部２３ａが「第１の光電変換部」に相当し、この光電変換部２３ａから被測定光Ｌの入射量に応じて出力される検出信号Ｓｉａが「第１の検出信号」に相当する。また、受光センサ２０ｂは、「第２の受光センサ」の一例であって、光学フィルタ２２ｂおよび光電変換部２３ｂを備えて構成されている。なお、本例の光測定装置１では、受光センサ２０ｂの光電変換部２３ｂが「第２の光電変換部」に相当し、この光電変換部２３ｂから被測定光Ｌの入射量に応じて出力される検出信号Ｓｉｂが「第２の検出信号」に相当する。

この場合、本例の光測定装置１では、一例として、受光部３Ｒの受光センサ２０ａにおける光学フィルタ２２ａ、受光部３Ｇの受光センサ２０ａにおける光学フィルタ２２ａ、および受光部３Ｂの受光センサ２０ａにおける光学フィルタ２２ａが、同じ光学フィルタ（各波長毎の被測定光Ｌの透過率が互いに等しい光学フィルタ）でそれぞれ構成されている。具体的には、各受光部３の受光センサ２０ａを構成する光学フィルタ２２ａは、図２に実線Ｌ２ａで示すように、上記の波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ（以下、区別しないときには「波長範囲Ｈ」ともいう）を含む波長範囲内の波長の光に関する受光センサ２０ａの分光感度特性が「長い波長の光ほど高感度」との条件（すなわち、「長い波長の光ほど光電変換部２３ａへの光の入射量が多くなる」との条件）を満たすように、「長い波長の光ほど透過率が高い」との光学特性を備えたフィルタで構成されている。

なお、同図では、光学フィルタ２１や光学フィルタ２２ａ，２２ｂが存在しない場合の受光センサ２０ａ，２０ｂの分光感度特性（すなわち、拡散光学系２から出射された被測定光Ｌのすべてが光電変換部２３ａ，２３ｂに入射した場合の光電変換部２３ａや光電変換部２３ｂへの被測定光Ｌの入射量）を実線Ｌ１で示している。また、同図では、光学フィルタ２１が存在せず、光学フィルタ２２ａだけが存在する場合の受光センサ２０ａの分光感度特性（すなわち、拡散光学系２から出射された被測定光Ｌが光学フィルタ２２ａだけを通過して光電変換部２３ａに入射した場合の光電変換部２３ａへの被測定光Ｌの入射量）を実線Ｌ２ａで示している。

また、本例の光測定装置１では、一例として、受光部３Ｒの受光センサ２０ｂにおける光学フィルタ２２ｂ、受光部３Ｇの受光センサ２０ｂにおける光学フィルタ２２ｂ、および受光部３Ｂの受光センサ２０ｂにおける光学フィルタ２２ｂが、同じ光学フィルタ（各波長毎の被測定光Ｌの透過率が互いに等しい光学フィルタ）でそれぞれ構成されている。具体的には、各受光部３の受光センサ２０ｂを構成する光学フィルタ２２ｂは、図２に実線Ｌ２ｂで示すように、上記の各波長範囲Ｈを含む波長範囲内の波長の光に関する受光センサ２０ｂの分光感度特性が「短い波長の光ほど高感度」との条件（すなわち、「短い波長の光ほど光電変換部２３ｂへの光の入射量が多くなる」との条件）を満たすように、「短い波長の光ほど透過率が高い」との光学特性を備えたフィルタで構成されている。

なお、同図では、光学フィルタ２１が存在せず、光学フィルタ２２ｂだけが存在する場合の受光センサ２０ｂの分光感度特性（すなわち、拡散光学系２から出射された被測定光Ｌが光学フィルタ２２ｂだけを通過して光電変換部２３ｂに入射した場合の光電変換部２３ｂへの被測定光Ｌの入射量）を実線Ｌ２ｂで示している。

このような光学フィルタ２２ａ，２２ｂを備えた本例の光測定装置１の各受光部３では、受光センサ２０ａの測定対象波長範囲（波長範囲Ｈ）内の分光感度と、受光センサ２０ｂの測定対象波長範囲（波長範囲Ｈ）内の分光感度との比が、測定対象波長範囲内の各波長の被測定光Ｌ毎にそれぞれ相違する状態となっている。

光電変換部２３ａは、光学フィルタ２１，２２ａを透過した被測定光Ｌを受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号Ｓｉａを出力し、光電変換部２３ｂは、光学フィルタ２１，２２ｂを透過した被測定光Ｌを受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号Ｓｉｂを出力する。なお、本例では、一例として、同じ製品で構成された光電変換部２３ａ，２３ｂが採用されて両受光センサ２０ａ，２０ｂがそれぞれ構成されている。これにより、受光センサ２０ａに対する被測定光Ｌの入射量と、受光センサ２０ｂに対する被測定光Ｌの入射量とが等しいときには、同じ信号レベルの検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂが受光センサ２０ａ，２０ｂからそれぞれ出力される。

各Ｉ／Ｖ変換部４ｒ，４ｇ，４ｂ（以下、区別しないときには「Ｉ／Ｖ変換部４」ともいう）は、Ａ／Ｄ変換部５ｒ，５ｇ，５ｂ（以下、区別しないときには「Ａ／Ｄ変換部５」ともいう）と相俟って「データ生成部」を構成し、Ｉ／Ｖ変換部４ｒが受光部３Ｒの光電変換部２３ａ，２３ｂ（受光センサ２０ａ，２０ｂ）から出力される検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂをＩ／Ｖ変換して検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを出力し、Ｉ／Ｖ変換部４ｇが受光部３Ｇの光電変換部２３ａ，２３ｂ（受光センサ２０ａ，２０ｂ）から出力される検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂをＩ／Ｖ変換して検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを出力し、かつＩ／Ｖ変換部４ｂが受光部３Ｂの光電変換部２３ａ，２３ｂ（受光センサ２０ａ，２０ｂ）から出力される検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂをＩ／Ｖ変換して検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを出力する。

この場合、本例の光測定装置１では、上記の各Ｉ／Ｖ変換部４が、両受光センサ２０ａ，２０ｂからの検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂを並行してＩ／Ｖ変換処理可能な「２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子）」で構成されている。このＩ／Ｖ変換部４は、両チャンネルについて共通の利得が設定された状態で動作する「２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子）」で構成されている。これにより、本例の光測定装置１では、受光センサ２０ａ，２０ｂからの検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂが、同様の変換条件で変換されて検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂが出力される。

Ａ／Ｄ変換部５ｒは、Ｉ／Ｖ変換部４ｒから出力される検出信号Ｓｖａを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤａ（「第１の検出信号の信号レベルを特定可能な第１のデータ」の一例）を生成すると共に、Ｉ／Ｖ変換部４ｒから出力される検出信号Ｓｖｂを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤｂ（「第２の検出信号の信号レベルを特定可能な第２のデータ」の一例）を生成し、生成した検出信号データＤａ，Ｄｂを処理部８に出力する。

Ａ／Ｄ変換部５ｇは、Ｉ／Ｖ変換部４ｇから出力される検出信号Ｓｖａを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤａ（「第１の検出信号の信号レベルを特定可能な第１のデータ」の他の一例）を生成すると共に、Ｉ／Ｖ変換部４ｇから出力される検出信号Ｓｖｂを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤｂ（「第２の検出信号の信号レベルを特定可能な第２のデータ」の他の一例）を生成し、生成した検出信号データＤａ，Ｄｂを処理部８に出力する。

Ａ／Ｄ変換部５ｂは、Ｉ／Ｖ変換部４ｂから出力される検出信号Ｓｖａを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤａ（「第１の検出信号の信号レベルを特定可能な第１のデータ」のさらに他の一例）を生成すると共に、Ｉ／Ｖ変換部４ｂから出力される検出信号Ｓｖｂを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して検出信号データＤｂ（「第２の検出信号の信号レベルを特定可能な第２のデータ」のさらに他の一例）を生成し、生成した検出信号データＤａ，Ｄｂを処理部８に出力する。

操作部６は、後述する測定処理の条件の設定操作や、測定処理の開始／停止を指示する各種の操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を処理部８に出力する。表示部７は、処理部８の制御に従い、測定条件設定画面や測定結果表示画面など（いずれも図示せず）を表示する。

処理部８は、光測定装置１を総括的に制御する。具体的には、処理部８は、「処理部」に相当し、操作部６の操作によって測定処理の開始を指示されたときに、各Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号データＤａ，Ｄｂを記憶部９に記憶させる。また、処理部８は、Ａ／Ｄ変換部５ｒから出力された検出信号データＤａ，Ｄｂに基づき、受光部３Ｒに入射している被測定光Ｌ（赤色光）の波長および放射量を測定する。さらに、処理部８は、Ａ／Ｄ変換部５ｇから出力された検出信号データＤａ，Ｄｂに基づき、受光部３Ｇに入射している被測定光Ｌ（緑色光）の波長および放射量を測定する。また、処理部８は、Ａ／Ｄ変換部５ｂから出力された検出信号データＤａ，Ｄｂに基づき、受光部３Ｂに入射している被測定光Ｌ（青色光）の波長および放射量を測定する。

この場合、本例の光測定装置１では、処理部８が、一例として、記憶部９に記憶させた検出信号データＤａ，Ｄｂに基づき、各受光部３の光電変換部２３ａ，２３ｂから出力された検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベルをそれぞれ特定すると共に、特定した検出信号Ｓｉａの信号レベルおよび検出信号Ｓｉｂの信号レベルの比（両信号レベルのいずれか一方に対する他方の比）に基づき、受光部３に入射している被測定光Ｌ（赤色光、緑色光および青色光）の波長をそれぞれ演算（測定）する。また、処理部８は、演算した波長と、上記の特定した両信号レベルのいずれか予め規定された一方とに基づいて被測定光Ｌの放射量を演算（測定）する。

記憶部９は、処理部８の動作プログラムや、各Ａ／Ｄ変換部５から出力された検出信号データＤａ，Ｄｂなどを記憶する。

次に、光測定装置１による被測定光Ｌの波長や放射量の測定処理について、貼付図面を参照して説明する。

この光測定装置１による測定処理に際しては、まず、拡散光学系２の入射部１１における入射孔１２に対して被測定光Ｌ（赤色光、緑色光および青色光など）が入射するように光測定装置１を設置する。この際には、入射孔１２から入射した被測定光Ｌが拡散光学系２内において拡散されて、各出射部１３の各出射孔１４ａ，１４ｂから各受光部３に向けて被測定光Ｌが出射される。

この場合、本例の光測定装置１では、前述したように、各受光部３の受光センサ２０ａに同じ光学フィルタ（各波長毎の被測定光Ｌの透過率が互いに等しい光学フィルタ）で構成された光学フィルタ２２ａが配設されると共に、各受光部３の受光センサ２０ｂに同じ光学フィルタ（各波長毎の被測定光Ｌの透過率が互いに等しい光学フィルタ）で構成された光学フィルタ２２ｂが配設されている。また、本例の光測定装置１では、拡散光学系２から受光センサ２０ａ，２０ｂに対して同量の被測定光Ｌが出射されたときに、一例として、各受光部３のうちの受光部３Ｇの測定対象波長範囲である波長範囲Ｈｇ内の受光センサ２０ａ，２０ｂの分光感度特性が同程度の感度となるように（すなわち、波長範囲Ｈｇ内の各波長の被測定光Ｌの光電変換部２３ａ，２３ｂに対する入射量が同程度となるように）両光学フィルタ２２ａ，２２ｂの光学特性が規定されている。つまり、本例の光測定装置１において採用されている光学フィルタ２２ａ，２２ｂでは、波長範囲Ｈｇ内の各波長の被測定光Ｌの透過量が同程度となっている。

したがって、拡散光学系２（積分球）の出射部１３に設けた出射孔１４ａの開口面積（第１の開口面積）、および出射孔１４ｂの開口面積（第２の開口面積）を等しい面積としたとき（すなわち、受光センサ２０ａ，２０ｂに対する拡散光学系２からの被測定光Ｌの出射量を同量としたとき）には、図２に実線Ｌ２ａ，Ｌ２ｂで示すように、波長範囲Ｈｇを測定対象波長範囲とする受光部３Ｇにおいては、両受光センサ２０ａ，２０ｂの分光感度特性が同程度となり、光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量（すなわち、光電変換部２３ａ，２３ｂから出力される検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベル）が同程度となる。

このため、受光部３Ｇにおいては、受光センサ２０ａについてのＳＮ比（光学フィルタ２１，２２ａを透過して光電変換部２３ａに入射した被測定光Ｌの入射量に応じた本来的な信号成分と、外乱の影響等で検出信号Ｓｉａに混入したノイズ成分との比）と、受光センサ２０ｂについてのＳＮ比（光学フィルタ２１，２２ｂを透過して光電変換部２３ｂに入射した被測定光Ｌの入射量に応じた本来的な信号成分と、外乱の影響等で検出信号Ｓｉｂに混入したノイズ成分との比）とが同程度となる。

しかしながら、本例の光測定装置１では、前述したように、「長い波長の光ほど光電変換部２３ａへの光の入射量が多くなる」との条件）を満たす光学特性の光学フィルタ２２ａ、および「短い波長の光ほど光電変換部２３ｂへの光の入射量が多くなる」との条件）を満たす光学特性の光学フィルタ２２ｂを採用して受光センサ２０ａ，２０ｂを構成している。

この結果、本例の光測定装置１において採用されている光学フィルタ２２ａ，２２ｂでは、波長範囲Ｈｒ内の各波長の被測定光Ｌの光学フィルタ２２ａの透過量が、波長範囲Ｈｒ内の各波長の被測定光Ｌの光学フィルタ２２ｂの透過量よりも多く（波長範囲Ｈｒ内の各波長の被測定光Ｌの光学フィルタ２２ｂの透過量が、波長範囲Ｈｒ内の各波長の被測定光Ｌの光学フィルタ２２ａの透過量よりも少なく）なっている。また、本例の光測定装置１において採用されている光学フィルタ２２ａ，２２ｂでは、波長範囲Ｈｂ内の各波長の被測定光Ｌの光学フィルタ２２ａの透過量が、波長範囲Ｈｂ内の各波長の被測定光Ｌの光学フィルタ２２ｂの透過量よりも少なく（波長範囲Ｈｂ内の各波長の被測定光Ｌの光学フィルタ２２ｂの透過量が、波長範囲Ｈｂ内の各波長の被測定光Ｌの光学フィルタ２２ａの透過量よりも多く）なっている。

したがって、出射孔１４ａ，１４ｂの開口面積（第１の開口面積および第２の開口面積）を等しい面積としたとき（拡散光学系２からの被測定光Ｌの出射量を同量としたとき）に、波長範囲Ｈｒを測定対象波長範囲とする受光部３Ｒにおいては、光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量が光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量よりも多くなり（光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量が光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量よりも少なくなり）、両受光センサ２０ａの分光感度特性が受光センサ２０ｂの分光感度特性よりも高くなる（両受光センサ２０ｂの分光感度特性が受光センサ２０ａの分光感度特性よりも低くなる）結果、検出信号Ｓｉａの信号レベルが検出信号Ｓｉｂの信号レベルよりも高くなる（検出信号Ｓｉｂの信号レベルが検出信号Ｓｉａの信号レベルよりも低くなる）。このため、受光部３Ｒにおいては、受光センサ２０ａについてのＳＮ比と、の受光センサ２０ａについてのＳＮ比とが異なる状態となってしまう。

また、出射孔１４ａ，１４ｂの開口面積（第１の開口面積および第２の開口面積）を等しい面積としたとき（拡散光学系２からの被測定光Ｌの出射量を同量としたとき）に、波長範囲Ｈｂを測定対象波長範囲とする受光部３Ｂにおいては、光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量が光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量よりも少なくなり（光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量が光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量よりも多くなり）、両受光センサ２０ａの分光感度特性が受光センサ２０ｂの分光感度特性よりも低くなる（両受光センサ２０ｂの分光感度特性が受光センサ２０ａの分光感度特性よりも高くなる）結果、検出信号Ｓｉａの信号レベルが検出信号Ｓｉｂの信号レベルよりも低くなる（検出信号Ｓｉｂの信号レベルが検出信号Ｓｉａの信号レベルよりも高くなる）。このため、受光部３Ｂにおいても、受光センサ２０ａについてのＳＮ比と、の受光センサ２０ａについてのＳＮ比とが異なる状態となってしまう。

そこで、本例の光測定装置１では、受光部３Ｒ，３Ｂにおける受光センサ２０ａ，２０ｂについてのＳＮ比が異なる状態となるのを回避すべく、拡散光学系２の「出射部」に設けた「第１の入射量制限部」における「第１の光通過孔（出射孔１４ａ）」の「第１の開口面積」、および「第２の入射量制限部」における「第２の光通過孔（出射孔１４ｂ）」の「第２の開口面積」が最適化されて、受光センサ２０ａ，２０ｂに対する被測定光Ｌの入射量が調整されている。

具体的には、前述したように、波長範囲Ｈｇ内の各波長の被測定光Ｌの透過量が同程度の光学特性となっている光学フィルタ２２ａ，２２ｂを備えた本例の光測定装置１では、波長範囲Ｈｇを測定対象波長範囲とする受光部３Ｇについては、拡散光学系２から受光センサ２０ａへの被測定光Ｌの出射量、および拡散光学系２から受光センサ２０ｂへの被測定光Ｌの出射量が同量の状態において、光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量（すなわち、光電変換部２３ａ，２３ｂから出力される検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベル）が同程度となる。したがって、受光部３Ｇに対して被測定光Ｌを出射する出射部１３ｇでは、開口面積が等しくなるように出射孔１４ｇａ，１４ｇｂが開口されている。この場合、一例として、出射孔１４ｇａ，１４ｇｂを丸孔で形成する場合には、両出射孔１４ｇａ，１４ｇｂの開口径を同径とすることにより、光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を同程度とすることができる。

また、前述したように、波長範囲Ｈｒ内の各波長の被測定光Ｌの受光センサ２０ａの透過量が、波長範囲Ｈｒ内の各波長の被測定光Ｌの受光センサ２０ｂの透過量よりも多くなる光学特性を有する光学フィルタ２２ａ，２２ｂを備えた本例の光測定装置１では、波長範囲Ｈｒを測定対象波長範囲とする受光部３Ｒについては、拡散光学系２から受光センサ２０ａへの被測定光Ｌの出射量が、拡散光学系２から受光センサ２０ｂへの被測定光Ｌの出射量よりも少ない状態（拡散光学系２から受光センサ２０ｂへの被測定光Ｌの出射量が、拡散光学系２から受光センサ２０ａへの被測定光Ｌの出射量よりも多い状態）において、光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量（すなわち、光電変換部２３ａ，２３ｂから出力される検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベル）が同程度となる。

したがって、受光部３Ｒに対して被測定光Ｌを出射する出射部１３ｒでは、出射孔１４ｒａの開口面積が出射孔１４ｒｂの開口面積よりも小さくなるように、（出射孔１４ｒｂの開口面積が出射孔１４ｒａの開口面積よりも大きくなるように）出射孔１４ｒａ，１４ｒｂが開口されている（「測定対象波長範囲内の各波長の被測定光の第１の光電変換部に対する入射量と第２の光電変換部に対する入射量との差が予め規定された光量範囲内の光量となるように第１の光通過孔の第１の開口面積と第２の光通過孔の開口面積とが相違させられている」との構成の一例）。この場合、一例として、出射孔１４ｒａ，１４ｒｂを丸孔で形成する場合には、出射孔１４ｒａの開口径を出射孔１４ｒｂの開口径よりも小径とする（出射孔１４ｒｂの開口径を出射孔１４ｒａの開口径よりも大径とする）ことにより、光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を同程度とすることができる。

なお、本例の光測定装置１では、一例として、出射孔１４ｒｂからの被測定光Ｌの出射量（実線Ｌ１で示す量）よりも出射孔１４ｒａからの被測定光Ｌの出射量（一点鎖線Ｌ３ａで示す量）が少量となるように、出射孔１４ｒａの開口面積（開口径）が出射孔１４ｒｂの開口面積（開口径）よりも小さくなっている。これにより、本例の光測定装置１では、拡散光学系２の出射孔１４ｒａから出射されて光学フィルタ２１ｒおよび受光部３Ｒの受光センサ２０ａにおける光学フィルタ２２ａを透過して光電変換部２３ａに入射する被測定光Ｌの入射量（波長範囲Ｈｒ内の波長の光電変換部２３ａへの入射量：一点鎖線Ｌ４ａで示す量）と、拡散光学系２の出射孔１４ｒｂから出射されて光学フィルタ２１ｒおよび受光部３Ｒの受光センサ２０ｂにおける光学フィルタ２２ｂを透過して光電変換部２３ｂに入射する被測定光Ｌの入射量（波長範囲Ｈｒ内の波長の光電変換部２３ｂへの入射量：実線Ｌ２ｂで示す量）とが同程度となっている。

さらに、前述したように、波長範囲Ｈｂ内の各波長の被測定光Ｌの受光センサ２０ａの透過量が、波長範囲Ｈｂ内の各波長の被測定光Ｌの受光センサ２０ｂの透過量よりも少なくなる光学特性を有する光学フィルタ２２ａ，２２ｂを備えた本例の光測定装置１では、波長範囲Ｈｂを測定対象波長範囲とする受光部３Ｂについては、拡散光学系２から受光センサ２０ａへの被測定光Ｌの出射量が、拡散光学系２から受光センサ２０ｂへの被測定光Ｌの出射量よりも多い状態（拡散光学系２から受光センサ２０ｂへの被測定光Ｌの出射量が、拡散光学系２から受光センサ２０ａへの被測定光Ｌの出射量よりも少ない状態）において、光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量（すなわち、光電変換部２３ａ，２３ｂから出力される検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベル）が同程度となる。

したがって、受光部３Ｂに対して被測定光Ｌを出射する出射部１３ｂでは、出射孔１４ｂａの開口面積が出射孔１４ｂｂの開口面積よりも大きくなるように、（出射孔１４ｂｂの開口面積が出射孔１４ｂａの開口面積よりも小さくなるように）出射孔１４ｂａ，１４ｂｂが開口されている（「測定対象波長範囲内の各波長の被測定光の第１の光電変換部に対する入射量と第２の光電変換部に対する入射量との差が予め規定された光量範囲内の光量となるように第１の光通過孔の第１の開口面積と第２の光通過孔の開口面積とが相違させられている」との構成の他の一例）。この場合、一例として、出射孔１４ｂａ，１４ｂｂを丸孔で形成する場合には、出射孔１４ｂａの開口径を出射孔１４ｂｂの開口径よりも大径とする（出射孔１４ｂｂの開口径を出射孔１４ｂａの開口径よりも小径とする）ことにより、光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を同程度とすることができる。

なお、本例の光測定装置１では、一例として、出射孔１４ｂａからの被測定光Ｌの出射量（実線Ｌ１で示す量）よりも出射孔１４ｂｂからの被測定光Ｌの出射量（二点鎖線Ｌ３ｂで示す量）が少量となるように、出射孔１４ｂｂの開口面積（開口径）が出射孔１４ｂａの開口面積（開口径）よりも小さくなっている。これにより、本例の光測定装置１では、拡散光学系２の出射孔１４ｂａから出射されて光学フィルタ２１ｂおよび受光部３Ｂの受光センサ２０ａにおける光学フィルタ２２ａを透過して光電変換部２３ａに入射する被測定光Ｌの入射量（波長範囲Ｈｂ内の波長の光電変換部２３ａへの入射量：実線Ｌ２ａで示す量）と、拡散光学系２の出射孔１４ｂｂから出射されて光学フィルタ２１ｂおよび受光部３Ｂの受光センサ２０ｂにおける光学フィルタ２２ｂを透過して光電変換部２３ｂに入射する被測定光Ｌの入射量（波長範囲Ｈｂ内の波長の光電変換部２３ｂへの入射量：二点鎖線Ｌ４ｂで示す量）とが同程度となっている。

この場合、出射孔１４ａの開口面積（開口径）および出射孔１４ｂの開口面積（開口径）については、光学フィルタ２２ａ，２２ｂの光学特性に応じて、光電変換部２３ａへの被測定光Ｌの入射量と光電変換部２３ｂへの被測定光Ｌの入射量との差が「予め規定された光量範囲内の光量」となるように規定されている。具体的には、一例として、光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量、および光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量のうちの多い一方の１／２の量（光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量、および光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量のうちの少ない一方の２倍の量）を「予め規定された光量範囲」とし、光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量と光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量との差がこの光量範囲内となるように両出射孔１４ａ，１４ｂの開口面積（開口径）が相違させられている。

また、本例の光測定装置１では、上記のような条件を満たすだけでなく、各受光部３毎に、受光センサ２０ａ，２０ｂの分光感度が測定波長範囲内で反転するように出射孔１４ａの開口面積（開口径）および出射孔１４ｂの開口面積（開口径）を規定して拡散光学系２から受光センサ２０ａ，２０ｂへの被測定光Ｌの出射量を相違させている。

具体的には、本例の光測定装置１では、測定対象波長範囲において最も短い波長の被測定光Ｌの光電変換部２３ａへの入射量が光電変換部２３ｂへの入射量よりも少ないときに、測定対象波長範囲において最も長い波長の被測定光Ｌの光電変換部２３ａへの入射量が光電変換部２３ｂへの入射量よりも多くなるように、出射孔１４ａの開口面積（開口径）および出射孔１４ｂの開口面積（開口径）が規定されている。これにより、図２に一点鎖線Ｌ４ａおよび実線Ｌ２ｂで示すように、波長範囲Ｈｒを測定対象波長範囲とする受光部３Ｒでは、波長λｒｓの被測定光Ｌが受光センサ２０ａ，２０ｂに入射したとき、および波長λｒｌが受光センサ２０ａ，２０ｂに入射したときのいずれにおいても、光電変換部２３ａ，２３ｂへの被測定光Ｌの入射量が同程度となり、その検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベルが同程度となる。

また、本例の光測定装置１では、測定対象波長範囲において最も短い波長の被測定光Ｌの光電変換部２３ａへの入射量が光電変換部２３ｂへの入射量よりも多いときに、測定対象波長範囲において最も長い波長の被測定光Ｌの光電変換部２３ａへの入射量が光電変換部２３ｂへの入射量よりも少なくなるように、出射孔１４ａの開口面積（開口径）および出射孔１４ｂの開口面積（開口径）が規定されている。これにより、図２に実線Ｌ２ａおよび二点鎖線Ｌ４ｂで示すように、波長範囲Ｈｂを測定対象波長範囲とする受光部３Ｂでは、波長λｂｓの被測定光Ｌが受光センサ２０ａ，２０ｂに入射したとき、および波長λｂｌが受光センサ２０ａ，２０ｂに入射したときのいずれにおいても、光電変換部２３ａ，２３ｂへの被測定光Ｌの入射量が同程度となり、その検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベルが同程度となる。

したがって、本例の光測定装置１では、受光部３Ｒ，３Ｇ，３Ｂのすべてにおいて、測定対象波長範囲（波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ）の最も短い波長の被測定光Ｌが入射したとき、および測定対象波長範囲（波長範囲Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ）の最も長い波長の被測定光Ｌが入射したときのいずれの状態においても、検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂのＳＮ比が同程度となる。

一方、上記のように拡散光学系２の各出射部１３から出射された被測定光Ｌが入射している各受光部３の受光センサ２０ａでは、光学フィルタ２１，２２ａを透過した被測定光Ｌが光電変換部２３ａによって受光され、その受光量に応じた電流値の検出信号Ｓｉａが光電変換部２３ａから出力される。また、各受光部３の受光センサ２０ｂでは、光学フィルタ２１を透過した被測定光Ｌが光電変換部２３ｂによって受光され、その受光量に応じた電流値の検出信号Ｓｉｂが光電変換部２３ｂから出力される。さらに、各Ｉ／Ｖ変換部４が受光センサ２０ａ，２０ｂ（光電変換部２３ａ，２３ｂ）から出力された検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂをＩ／Ｖ変換処理して検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを出力すると共に、各Ａ／Ｄ変換部５が検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを所定の周期でＡ／Ｄ変換処理して各受光部３毎の検出信号データＤａ，Ｄｂをそれぞれ出力する。また、処理部８は、各Ａ／Ｄ変換部５から出力された検出信号データＤａ，Ｄｂを記憶部９に記憶させる。

この場合、本例の光測定装置１では、上記したように、各受光部３の受光センサ２０ａ，２０ｂにおける光学フィルタ２２ａ，２２ｂの光学特性等に応じて拡散光学系２の各出射部１３における出射孔１４ａ，１４ｂの開口面積（開口径）が最適化され、各受光部３毎の光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量が同程度となっている（両受光センサ２０ａ，２０ｂの波長範囲Ｈ内における分光感度特性が同様となっている）。これにより、各受光部３の受光センサ２０ａ，２０ｂ（光電変換部２３ａ，２３ｂ）から出力される検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂのＳＮ比が同程度となっている。

また、本例の光測定装置１では、前述したように、各Ｉ／Ｖ変換部４が、共通の利得が設定された状態で動作する「２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子）」で構成されている。したがって、ＳＮ比が同程度の検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂｖが同様の変換条件下でＩ／Ｖ変換処理された検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂについても、そのＳＮ比が同程度となっている。これにより、この検出信号Ｓｖａ，ＳｖｂをＡ／Ｄ変換処理した検出信号データＤａ，ＤｂについてもそのＳＮ比が同程度となっている。

この状態で、操作部６の操作によって測定処理の開始が指示されたときに、処理部８は、各受光部３毎の検出信号データＤａの値（Ａ／Ｄ変換部５によるサンプリング値：「第１の検出信号の信号レベル」に対応する値の一例）、および検出信号データＤｂの値（Ａ／Ｄ変換部５によるサンプリング値：「第２の検出信号の信号レベル」に対応する値の一例）のいずれか予め規定された一方に対する他方の比（一例として、検出信号データＤａの値に対する検出信号データＤｂの値の比：検出信号データＤｂの値／検出信号データＤａの値）を演算し、演算した比に基づいて、各受光部３の受光センサ２０ａ，２０ｂに入射した被測定光Ｌの波長（赤色光、緑色光および青色光のそれぞれの波長）を特定（演算）する。

この場合、この光測定装置１では、各受光部３における両受光センサ２０ａ，２０ｂの光学フィルタ２２ａ，２２ｂが前述したような光学特性を有して光電変換部２３ａ，２３ｂへの光の入射量が制限される構成が採用されている。このため、受光部３に入射している被測定光Ｌの波長が長いときほど、受光センサ２０ａの感度が高くなって検出信号Ｓｉａの信号レベルが高くなり、かつ受光センサ２０ｂの感度が低くなって検出信号Ｓｉｂの信号レベルが低くなると共に、被測定光Ｌの波長が短いときほど、受光センサ２０ａの感度が低くなって検出信号Ｓｉａの信号レベルが低くなり、かつ受光センサ２０ｂの感度が高くなって検出信号Ｓｉｂの信号レベルが高くなる。

したがって、処理部８は、検出信号データＤａに基づいて特定した検出信号Ｓｉａの信号レベルと検出信号データＤｂに基づいて特定した検出信号Ｓｉｂの信号レベルとの比（すなわち、検出信号データＤａの値と検出信号データＤｂの値との比）の大きさに基づき、被測定光Ｌの波長を特定（演算）する。次いで、処理部８は、被測定光Ｌの放射量をそれぞれ測定する。具体的には、処理部８は、直前に演算した被測定光Ｌの波長と、検出信号Ｓｉａの信号レベル（検出信号データＤａの値）および検出信号Ｓｉｂの信号レベル（検出信号データＤｂの値）のいずれか一方と、その値から放射量を演算可能に予め規定された放射量算出用の係数（または、テーブル）とに基づき、被測定光Ｌ（赤色光）の放射量を演算する。この後、処理部８は、演算した（測定した）波長および放射量を測定結果として記憶部９に記憶させると共に、各受光部３毎（赤色光、緑色光および青色光毎）に表示部７に表示させ、被測定光Ｌについての一連の測定処理が完了する。

このように、この光測定装置１では、被測定光Ｌの通過が可能な出射孔１４ａが形成されて受光センサ２０ａにおける光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量を制限する「第１の入射量制限部」、および被測定光Ｌの通過が可能な出射孔１４ｂが形成されて受光センサ２０ｂにおける光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を制限する「第２の入射量制限部」を備え、「第１の入射量制限部」および「第２の入射量制限部」が、「測定波長範囲（波長範囲Ｈ）」内の各波長の被測定光Ｌの光電変換部２３ａに対する入射量と光電変換部２３ｂに対する入射量との差が「予め規定された光量範囲」内の光量となるように出射孔１４ａの「第１の開口面積」と出射孔１４ｂの「第２の開口面積」とが相違させられている。

したがって、この測定装置によれば、測定対象波長範囲（波長範囲Ｈ）内の各波長の被測定光Ｌの透過率が大きく異なる光学フィルタ２２ａ，２２ｂを採用したとしても出射孔１４ａの通過時および出射孔１４ｂの通過時に両光電変換部２３ａ，２３ｂに入射する被測定光Ｌの光量が好適に調整されるため、任意の光学特定を有する「光学フィルタ」を採用して光測定装置１を構成することができる。また、受光センサ２０ａ，２０ｂ（両光電変換部２３ａ，２３ｂ）の検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂを同じ処理条件でＩ／Ｖ変換するＩ／Ｖ変換部４（利得の調整値が共通の２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子））を備えて「データ生成部」を構成しても、両検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂの信号レベルが同程度となっていることで、検出信号Ｓｖａ，ＳｖｂのＳＮ比（および、その後にＡ／Ｄ変換部５によって生成される検出信号データＤａ，ＤｂのＳＮ比）を同程度の状態とすることができる。したがって、検出信号データＤａ，Ｄｂに基づいて被測定光Ｌについての高精度な波長や放射量を演算（測定）することができるため、測定精度を低下させることなく、採用し得る構成部品（光電変換部２３ａ，２３ｂやＩ／Ｖ変換部４）の自由度を十分に高めることができるため、必要とされる光学特性や部品コストに応じて任意の部品を選択して製造することができる。

また、この光測定装置１では、受光センサ２０ａ，２０ｂに対する被測定光Ｌの入射方向および被測定光Ｌの入射量を均一化するための拡散光学系２において受光センサ２０ａへの被測定光Ｌを出射する「第１の出射部（出射部１３）」に「第１の入射量制限部」が設けられて出射孔１４ａが形成されると共に、拡散光学系２において受光センサ２０ｂへの被測定光Ｌを出射する「第２の出射部（出射部１３）」に「第２の入射量制限部」が設けられて出射孔１４ｂが形成されている。

したがって、この光測定装置１によれば、「拡散光学系」を備えた「光測定装置」において必須の「出射部」（本例では、拡散光学系２の各出射部１３）において、その「出射孔（本例では、出射孔１４ａ，１４ｂ）」を「第１の光通過孔」および「第２の光通過孔」として開口面積（「第１の開口面積」および「第２の開口面積」）を異ならせることで「出射部」を「第１の入射量制限部」および「第２の入射量制限部」として機能させることができるため、「拡散光学系」の「出射部」とは別個に「第１の入射量制限部」および「第２の入射量制限部」を設けた構成と比較して、光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を調整するための光学部品の数を少数化することができる結果、製造コストの低減を図ることができると共に、光測定装置１を十分に小形化することができる。

さらに、この光測定装置１では、処理部８が、被測定光Ｌについての「予め規定された光学的パラメータ」として、検出信号データＤａに基づいて特定した検出信号Ｓｉａの信号レベルおよび検出信号データＤｂに基づいて特定した検出信号Ｓｉｂの信号レベルのいずれか一方に対する他方の比に基づいて被測定光Ｌの波長を演算すると共に、演算した波長と、いずれか一方とに基づいて被測定光Ｌの放射量を演算する。したがって、この光測定装置１によれば、両受光センサ２０ａ，２０ｂ（両光電変換部２３ａ，２３ｂ）から出力される検出信号Ｓｉａ，ＳｉｂのＳＮ比が大きく相違する場合に高精度な測定結果を得るのが困難な波長および放射量について、十分に高精度な測定結果を演算（測定）することができる。

なお、「光測定装置」の構成は、上記の光測定装置１の構成の例に限定されない。例えば、「拡散光学系」の一例である拡散光学系２の各出射部１３（「第１の入射量制限部」および「第２の入射量制限部」）に設けた出射孔１４ａ，１４ｂを「第１の光通過孔」および「第２の光通過孔」として、その開口面積（開口径）を相違させることで光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を調整する構成の光測定装置１を例に挙げて説明したが、このような構成に代えて（または、このような構成に加えて）、図３の左図に示す光測定装置１Ａのように、「拡散光学系」の各「出射部」（図示せず）とは別個に「拡散光学系」と受光部３ａ（「受光部」の他の一例）との間に入射量制限部３０（「第１の入射量制限部」および「第２の入射量制限部」の他の一例）を配設し、この入射量制限部３０に設けた光通過孔３１ａ，３１ｂ（「第１の光通過孔」および「第２の光通過孔」の他の一例）の開口面積（開口径）を相違させることで光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を調整する構成を採用することもできる。なお、この光測定装置１Ａ、および後に説明する光測定装置１Ｂ，１Ｃにおいて光測定装置１の各構成要素と同様の機能を有する構成要素については、同一の符号を付して重複する説明を省略する。

また、「拡散光学系」の「出射部」、および／または「拡散光学系」と受光部３との間に「第１の入射量制限部」や「第２の入射量制限部」を配設する構成に代えて（または、そのような構成に加えて）、「第１の受光センサ」および「第２の受光センサ」内に「第１の入射量制限部」や「第２の入射量制限部」を配設する構成を採用することもできる（図示せず）。

具体的には、例えば、図３中央図に示す光測定装置１Ｂの受光部３ｂ（「受光部」のさらに他の一例）における受光センサ２０ａ，２０ｂのように、測定対象波長範囲を制限するための光学フィルタ２１、および測定対象波長範囲内の各波長の被測定光について第１の光電変換部の検出信号の信号レベル、および第２の光電変換部の検出信号の信号レベルのいずれか一方に対する他方の比を生じさせるための光学フィルタ２２ａ，２２ｂの双方を備えている場合には、この光学フィルタ２１と光学フィルタ２２ａ，２２ｂとの間に入射量制限部３０を配設し、この入射量制限部３０に設けた光通過孔３１ａ，３１ｂの開口面積（開口径）を相違させることで光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を調整する構成を採用することもできる。

また、例えば、図３右図に示す光測定装置１Ｃの受光部３ｃ（「受光部」のさらに他の一例）における受光センサ２０ａ，２０ｂのように、光学フィルタ２１、および光学フィルタ２２ａ，２２ｂの少なくとも一方（受光部３ｃでは、双方）を備えている場合には、これら光学フィルタ２１，２２ａ，２２ｂよりも光電変換部２３ａ，２３ｂの側（光学フィルタの出射面側（光電変換部の側）：光電変換部２３ａ，２３ｂにおける入射面側）に入射量制限部３０を配設し、この入射量制限部３０に設けた光通過孔３１ａ，３１ｂの開口面積（開口径）を相違させることで光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を調整する構成を採用することもできる。

さらに、「拡散光学系」としての「積分球」で構成された拡散光学系２を備えた光測定装置１を例に挙げて説明したが、「拡散光学系」は「積分球」等の「反射型拡散光学系」に限定されず、例えば、拡散板（透過時に光を拡散させる光学部品）などの「透過型拡散光学系」を「拡散光学系」として備えて構成することもできる（図示せず）。

また、「拡散光学系」に代えて（または、拡散光学系に加えて）、光ファイバー、プリズムおよび回折格子などの「分散光学系」を備えて「第１の受光センサ」や「第２の受光センサ」への被測定光Ｌの入射方向および入射量を均一化する構成を採用することもできる（図示せず）。

この場合、一例として、「分散光学系」としての「分岐型光ファイバー（例えば、２分岐光ファイバー）」を採用する場合には、「第１の受光センサ」に向けて光を導光するファイバーを「第１の光通過孔」として機能させ、「第２の受光センサ」に向けて光を導光するファイバーを「第２の光通過孔」として機能させて両ファイバーの口径を相違させることで「第１の光電変換部」および「第２の光電変換部」に対する「被測定光」の入射量を調整する構成を採用することもできる（図示せず）。また、「第１の受光センサ」に向けて光を導光するファイバーの口径、および「第２の受光センサ」に向けて光を導光するファイバーの口径が等しい「分岐型光ファイバー」を採用し、両ファイバーと「第１の受光センサ」および「第２の受光センサ」との間に前述の入射量制限部３０のような「第１の入射量制限部」および「第２の入射量制限部」を配設して「第１の光電変換部」および「第２の光電変換部」に対する「被測定光」の入射量を調整する構成を採用することもできる（図示せず）。

さらに、「被測定光」の光源と「光測定装置」の測定光軸とを好適な測定が可能な状態に位置決めできる場合には、「拡散光学系」や「分散光学系」を備えずに「光測定装置」を構成することもできる。

また、「第１の受光センサ」としての受光センサ２０ａの分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなるように「第１の光電変換部」としての光電変換部２３ａに対する被測定光Ｌの入射量を制限する光学フィルタ２２ａ、および「第２の受光センサ」としての受光センサ２０ｂの分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように「第２の光電変換部」としての光電変換部２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を制限する光学フィルタ２２ｂを備えた構成を例に挙げて説明したが、「第１の受光センサ」の分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように「第１の光電変換部」に対する「被測定光」の入射量を制限する光学フィルタ、および「第２の受光センサ」の分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなるように「第２の光電変換部」に対する「被測定光」の入射量を制限する光学フィルタを備えて構成することもできる（図示せず）。

また、測定波長範囲内の感度の変化率が互いに異なることを条件として、「第１の受光センサ」の分光感度特性および「第２の受光センサ」の分光感度特性の双方が長い波長の光ほど感度が高くなるように「第１の光電変換部」および「第２の光電変換部」に対する「被測定光」の入射量をそれぞれ制限する光学フィルタを備えて構成したり（図示せず）、「第１の受光センサ」の分光感度特性および「第２の受光センサ」の分光感度特性の双方が短い波長の光ほど感度が高くなるように「第１の光電変換部」および「第２の光電変換部」に対する「被測定光」の入射量をそれぞれ制限する光学フィルタを備えて構成したり（図示せず）することもできる。

さらに、「第１の受光センサ」および「第２の受光センサ」のいずれか一方に上記の光学フィルタ２２ａ，２２ｂのような光学フィルタ（測定対象波長範囲内の各波長毎に受光センサ（光電変換部）の感度を異ならせるための光学フィルタ）を設け、他方にそのような光学フィルタを設けない構成を採用することもできる。なお、両「受光センサ」の一方だけに上記のような光学フィルタを設けた場合においても、その一方の「受光センサ」に設けた光学フィルタの存在により、「被測定光」の「第１の光電変換部」に対する入射量、および「第２の光電変換部」に対する入射量が測定対象波長範囲内の各波長毎に相違する状態となるため、両「受光センサ」に上記のような光学フィルタを設けた構成と同様にして、「被測定光」の波長（重心波長）や放射量を好適に演算（測定）することができる。

この場合、両「受光センサ」の一方だけに上記のような光学フィルタを設けた構成において、「第１の入射量制限部」における「第１の光通過孔」の「第１の開口面積（丸孔の場合には開口径）」、および「第２の入射量制限部」における「第２の光通過孔」の「第２の開口面積（丸孔の場合には開口径）」を一致させたときには、光学フィルタの存在による「被測定光」の減衰が生じない分だけ、光学フィルタを設けない「受光センサ」の「光電変換部」に対する「被測定光」の入射量が、光学フィルタを設けた「受光センサ」の「光電変換部」に対する「被測定光」の入射量より多くなる。この結果、両「受光センサ（光電変換部）」のＳＮ比が大きく相違する状態となる。

したがって、両「受光センサ」の一方だけに上記のような光学フィルタを設けた構成においては、光学フィルタを設けない「受光センサ」の「光電変換部」に対する「被測定光」の入射量を制限する「入射量制限部（第１の入射量制限部および第２の入射量制限部のいずれか一方）」における「光通過孔（第１の光通過孔および第２の光通過孔のいずれか一方）」の開口面積（丸孔の場合には開口径）が、光学フィルタを設けた「受光センサ」の「光電変換部」に対する「被測定光」の入射量を制限する「入射量制限部（第１の入射量制限部および第２の入射量制限部の他方）」における「光通過孔（第１の光通過孔および第２の光通過孔の他方）」の開口面積（丸孔の場合には開口径）よりも小さくなるように、両「入射量制限部」を構成するのが好ましい。

また、両チャンネルについて共通の利得が設定された状態で動作する「２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子）」で構成されたＩ／Ｖ変換部４を備えた例について説明したが、両チャンネルについて別個の利得を設定した状態で動作させることができるものの、調整値を大きく異ならせることができない「２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子）」、すなわち、「光電変換部」への「被測定光」の入射量の相違の影響をＩ／Ｖ変換処理時の利得の調整で軽減するのが困難な「２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子）」を採用した構成においても、「第１の入射量制限部」における「第１の光通過孔」の「第１の開口面積（丸孔の場合には開口径）」、および「第２の入射量制限部」における「第２の光通過孔」の「第２の開口面積（丸孔の場合には開口径）」を一致させた場合には、前述したような課題が生じるため、そのような「２チャンネルＩ／Ｖ変換部（２チャンネルＩ／Ｖ変換素子）」を採用した構成においても、「第１の開口面積」および「第２の開口面積」を相違させて、「第１の光電変換部」への「被測定光」の入射量、および「第２の光電変換部」への「被測定光」の入射量を同程度にするのが好ましい。

さらに、「第１の受光センサ」および「第２の受光センサ」毎に別個の「Ｉ／Ｖ変換部」を設ける構成において、両「Ｉ／Ｖ変換部」についての利得の調整値を大きく異ならせることができないときには、前述したような課題が生じるため、「第１の開口面積」および「第２の開口面積」を相違させて、「第１の光電変換部」への「被測定光」の入射量、および「第２の光電変換部」への「被測定光」の入射量を同程度にするのが好ましい。

また、「第１の入射量制限部」に設ける「第１の光通過孔」の開口面積、および「第２の入射量制限部」に設ける「第２の光通過孔」の開口面積を異ならせることで光電変換部２３ａ，２３ｂに対する被測定光Ｌの入射量を同程度とする構成を例に挙げて説明したが、このような構成に代えて（または、このような構成に加えて）、「第１の受光センサ」および「第２の受光センサ」の少なくとも一方に「減光フィルタ」を付加することで、「第１の光電変換部」に対する「被測定光」の入射量と「第２の光電変換部」に対する「被測定光」の入射量を同程度とする構成を採用することもできる（図示せず）。

加えて、赤色光、緑色光および青色光の３種類の被測定光Ｌを「被測定光」として波長や放射量などの「光学的パラメータ」を測定する構成を例に挙げて説明したが、１台の「光測定装置」によって並行して測定可能な「被測定光」の種類数（「測定対象波長範囲の数」）は「３」に限定されず、２種類の「被測定光」（２つの「測定対象波長範囲」）を並行して測定可能な構成や、４種類以上の「被測定光」（４つ以上の「測定対象波長範囲」）を並行して測定可能な構成を採用することもできる。また、１台の「光測定装置」によって１種類の「被測定光」（１つの「測定対象波長範囲」）を測定可能な構成を採用することもできる。さらに、「放射量」に代えて「測光量」を「光学的パラメータ」として測定可能に構成することもできる。

１，１Ａ～１Ｃ 光測定装置
２ 拡散光学系
３Ｒ，３Ｇ，３Ｂ，３ａ～３ｃ 受光部
４，４ｒ，４ｇ，４ｂ Ｉ／Ｖ変換部
５，５ｒ，５ｇ，５ｂ Ａ／Ｄ変換部
８ 処理部
９ 記憶部
１１ 入射部
１２ 入射孔
１３ｒ，１３ｇ，１３ｂ 出射部
１４ｒａ，１４ｒｂ，１４ｇａ，１４ｇｂ，１４ｂａ，１４ｂｂ 出射孔
２０ａ，２０ｂ 受光センサ
２１ｒ，２１ｇ，２１ｂ，２２ａ，２２ｂ 光学フィルタ
２３ａ，２３ｂ 光電変換部
３０ 入射量制限部
３１ａ，３１ｂ 光通過孔
Ｄａ，Ｄｂ 検出信号データ
Ｈｒ，Ｈｇ，Ｈｂ 波長範囲
Ｌ 被測定光
Ｓｉａ，Ｓｉｂ，Ｓｖａ，Ｓｖｂ 検出信号

Claims (3)

1. 被測定光の入射量に応じた第１の検出信号を出力する第１の光電変換部を有する第１の受光センサ、および前記被測定光の入射量に応じた第２の検出信号を出力する第２の光電変換部を有する第２の受光センサを備えると共に、前記第１の受光センサの測定対象波長範囲内の分光感度と前記第２の受光センサの当該測定対象波長範囲内の分光感度との比が当該測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光毎に相違するように構成された受光部と、
   前記被測定光の通過が可能な第１の光通過孔が形成されて前記第１の光電変換部に対する当該被測定光の入射量を制限する第１の入射量制限部、および前記被測定光の通過が可能な第２の光通過孔が形成されて前記第２の光電変換部に対する当該被測定光の入射量を制限する第２の入射量制限部と、
   前記第１の検出信号に基づいて当該第１の検出信号の信号レベルを特定可能な第１のデータを生成すると共に、前記第２の検出信号に基づいて当該第２の検出信号の信号レベルを特定可能な第２のデータを生成するデータ生成部と、
   前記第１のデータに基づいて特定した前記第１の検出信号の信号レベル、および前記第２のデータに基づいて特定した前記第２の検出信号の信号レベルに基づいて前記被測定光についての予め規定された光学的パラメータを演算する処理部とを備え、
   前記第１の入射量制限部および前記第２の入射量制限部は、前記測定対象波長範囲内の各波長の前記被測定光の前記第１の光電変換部に対する入射量と前記第２の光電変換部に対する入射量との差が予め規定された光量範囲内の光量となるように前記第１の光通過孔の第１の開口面積と前記第２の光通過孔の第２の開口面積とが相違させられている光測定装置。
2. 前記第１の受光センサおよび前記第２の受光センサに対する前記被測定光の入射方向および当該被測定光の入射量を均一化するための拡散光学系を備え、
   前記第１の入射量制限部は、前記拡散光学系において前記第１の受光センサへの前記被測定光を出射する第１の出射部に設けられ、
   前記第２の入射量制限部は、前記拡散光学系において前記第２の受光センサへの前記被測定光を出射する第２の出射部に設けられている請求項１記載の光測定装置。
3. 前記処理部は、前記被測定光についての前記予め規定された光学的パラメータとして、前記第１のデータに基づいて特定した前記第１の検出信号の信号レベルおよび前記第２のデータに基づいて特定した前記第２の検出信号の信号レベルのいずれか一方に対する他方の比に基づいて前記被測定光の波長を演算すると共に、演算した波長と、前記いずれか一方とに基づいて前記被測定光の放射量を演算する請求項１または２記載の光測定装置。

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