JP6724668B2 - 半導体装置 - Google Patents

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Description

本明細書で開示する技術は、半導体装置に関する。
特許文献1に、半導体装置が記載されている。この半導体装置は、モールド樹脂内に半導体素子が封止されているとともに、モールド樹脂の表面に放熱板が露出しているパワーカードと、モールド樹脂から露出している放熱板にグリスを介して隣接配置されている冷却器とを備える。この種の半導体装置では、パワーカードの発熱と除熱が繰り返されたときに、パワーカードの熱変形に伴って、パワーカードと冷却器との間のグリスが押し出されたり引き込まれたりする。このようなグリスの挙動が生じると、グリスに空気が巻き込まれてしまい、冷却能力が低下するおそれがある。
上記の点に関して、特許文献1の半導体装置では、パワーカードの角を丸くすることによって、パワーカードの外縁付近にスペースを確保し、多くのグリスを保持し得る構成を採用している。
特開2005−310987号公報
しかしながら、特許文献1の半導体装置では、パワーカードの外縁付近で保持可能なグリスの量に上限がある。そのため、保持可能な量を超えたグリスが押し出される場合に、グリスがパワーカードと冷却器との間から押し出されるおそれがある。本明細書では、グリスがパワーカードと冷却器との間から押し出されることを防止し得る技術を開示する。
本明細書で開示される半導体装置は、モールド樹脂内に半導体素子が封止されているとともに、モールド樹脂の表面に放熱板が露出しているパワーカードと、モールド樹脂から露出している放熱板にグリスを介して隣接配置されている冷却器とを備える。モールド樹脂の表面は、放熱板の周囲において放熱板よりも冷却器側に突出して、放熱板上にグリスを保持する空間を画定している。この空間の放熱板に平行な断面積は、放熱板から前記冷却器に向かうに従って大きくなる。なお、パワーカードと冷却器の間には、必要に応じて絶縁板その他の部材が介在してもよい。
上記の半導体装置では、放熱板上に位置するグリスが、モールド樹脂によって取り囲まれているので、パワーカードが熱膨張したときでも、グリスが押し出されることを抑制することができる。また、放熱板上でグリスを保持する空間の断面積(即ち、放熱板上に位置するグリスの断面積)が、放熱板から冷却器に向かうに従って大きくなっているので、放熱板から冷却器へ効率よく放熱(熱伝達)することができる。
第1実施例の半導体装置の斜視図。 第1実施例のパワーカードの正面図。 図2中のIII−III線における断面図。 第1実施例の半導体装置の熱伝達経路を示す図。 比較例の半導体装置の熱伝達経路を示す図。 第2実施例の半導体装置の断面図。 第3実施例の半導体装置の断面図。 第4実施例の半導体装置の断面図。
(第1実施例)
図面を参照して実施例の半導体装置2を説明する。図1は、第1実施例の半導体装置2の斜視図である。半導体装置2は、複数のパワーカード10と複数の冷却器3が積層されたユニットである。なお、図1では、一つのパワーカードだけに符号10を付し、他のパワーカードには符号を省略している。同様に一つの冷却器だけに符号3を付し、他の冷却器には符号を省略している。また、半導体装置2の全体が見えるように、半導体装置2を収容するケース31は仮想線で描いてある。なお、パワーカード10と絶縁板6の間、及び、絶縁板6と冷却器3の間にはグリスが塗布されているが、図1ではグリスの図示は省略している。
一つのパワーカード10には4個の半導体素子が収容されている。4個の半導体素子は、具体的には、2個のトランジスタTa、Tbと、2個のダイオードDa、Dbである。パワーカード10の内部構造は後に詳しく説明する。冷却器3を通る冷媒により、半導体素子が冷却される。冷媒は液体であり、典型的には水である。
パワーカード10と冷却器3は、共に平板型であり、複数の側面のうち最大面積の平坦面が対向するように積層されている。パワーカード10と冷却器3は交互に積層されており、ユニットの積層方向の両端には冷却器3が位置している。パワーカード10と冷却器3の間には絶縁板6が挟まれている。
複数の冷却器3は、連結パイプ5a、5bで連結されている。積層方向の一端の冷却器3には、冷媒供給管4aと冷媒排出管4bが連結されている。冷媒供給管4aを通じて供給される冷媒は、連結パイプ5aを通じて全ての冷却器3に分配される。冷媒は各冷却器3を通る間に隣接するパワーカード10から熱を吸収する。各冷却器3を通った冷媒は連結パイプ5bを通り、冷媒排出管4bから排出される。
半導体装置2はケース31に収容される際、積層方向の一端側に板バネ32が挿入される。その板バネ32により、パワーカード10と絶縁板6と冷却器3との積層体には、積層方向の両側から荷重が加えられる。その荷重は、例えば3[kN]である。
パワーカード10を説明する。パワーカード10において、絶縁板6と対向する正面10aには、放熱板16a、16bが露出している。パワーカード10を正面からみた図を図2に示す。正面10aとは反対側の裏面10bには、別の放熱板17a、17bが露出している。裏面10bには別の絶縁板6が接しており、その絶縁板6には別の冷却器3が接している。パワーカード10は、両面の夫々が絶縁板6と接しており、各絶縁板6は冷却器3と接している。パワーカード10の上面(図中Z軸の正方向を向く面)からは3本の電極端子7a、7b、7cが伸びており、下面(図中Z軸の負方向を向く面)からは制御端子29が伸びている。
ここからは、図1、図2とともに図3を参照してパワーカード10の内部構造を説明する。図3は、図2のパワーカード10を図中の座標系のXY面に平行な平面であってトランジスタTaとTbを横切る平面(図2のIII―III線)でカットした断面図である。
4個の半導体素子(トランジスタTa、Tb、ダイオードDa、Db)は、モールド樹脂13に封止されている。モールド樹脂13は、射出成形により半導体素子を封止する。いずれの半導体素子も平坦なチップであり、その平坦面がモールド樹脂13の面(パワーカード10の面10a、10b)と平行になるように配置されている。なお、以下では、パワーカード10の面10a、10bをモールド樹脂13の面10a、10bと称する場合がある。
トランジスタTa(Tb)のチップの一方の平坦面にはコレクタ電極が露出しており、他方の平坦面にはエミッタ電極が露出している。トランジスタTa(Tb)のゲートは、チップの一方の平坦面の端に設けられている。トランジスタTaの一方の平坦面の電極はハンダ15により放熱板16aの裏面に接合している。放熱板16aのおもて面は、モールド樹脂13の表面に露出している。トランジスタTaの他方の平坦面の電極は、ハンダ15と導電部材(スペーサ14)を介して放熱板17aの裏面に接合している。放熱板17aのおもて面は、モールド樹脂13の表面に露出している。トランジスタTaの他方の平坦面の端にはゲートが位置しており、そのゲートはワイヤを介して制御端子(図示省略)に接続されている。トランジスタTbも同様の構造を有している。
放熱板16aは、電極端子7aの一部である。筐体内部で放熱板16aの側縁から延設部が伸びており、その延設部はモールド樹脂13の内部を通り、モールド樹脂13の上面(図中の座標系のZ軸正方向を向く面)から外部へ伸びている。即ち、トランジスタTaの電極を外部の他のデバイスと接続するための電極端子7aにおいて、モールド樹脂13の正面10aに露出している部位が放熱板16aに相当する。電極端子7aはトランジスタTaの電極と接しているので、トランジスタTaの内部の熱を伝えやすい。その電極端子7aの一部が放熱板16aとしてモールド樹脂13から露出しているので、放熱板16aにはトランジスタTaの内部の熱がよく伝わる。一方、冷却器3はアルミニウム(導電性の金属)で作られているので、放熱板16aと絶縁する必要がある。それゆえ、半導体装置2は、冷却器3と放熱板16a(パワーカード10)との間に絶縁板6を挟んでいる。絶縁板6は、薄くて絶縁性が高く、伝熱性も良いセラミックスで作られている。放熱板16a(電極端子7a)は、導電性と伝熱性に優れた銅で作られている。スペーサ14も、導電性と伝熱性に優れた銅で作られている。
ダイオードDa、Dbも平坦なチップであり、一方の平坦面にアノード電極が露出しており、他方の平坦面にカソード電極が露出している。ダイオードDaの一方の平坦面に露出している電極も、トランジスタTaと同様に、ハンダ15を介して放熱板16aの裏面に接続している。トランジスタTaの他方の面の電極はハンダ15とスペーサ14を介して放熱板17aの裏面(モールド樹脂13に対向する面)に接続している。ダイオードDaの他方の面の電極も、ハンダ15とスペーサ14を介して放熱板17aの裏面に接続している。即ち、トランジスタTaとダイオードDaは、放熱板16a(即ち電極端子7a)と放熱板17aの間で並列(逆並列)に接続されている。放熱板17aは、放熱板16aと同様に電極端子7cの一部である。
トランジスタTbとダイオードDbの組も、トランジスタTaとダイオードDaの組と同様の構造を有している。トランジスタTbとダイオードDbの一方の面の電極はハンダ15を介して放熱板16bの裏面に接続されており、他方の面の電極はハンダ15とスペーサ14を介して放熱板17bの裏面に接続している。トランジスタTbとダイオードDbも、モールド樹脂13の内部で並列(逆並列)に接続されている。放熱板16bは、放熱板16aと同様に、電極端子7bの一部である。放熱板17bは、放熱板16aに接続されているため、放熱板16aと同様に、電極端子7aの一部である。
モールド樹脂13の表面は、放熱板16aの周囲において放熱板16aよりも冷却器3側(X軸の正方向)に突出して、放熱板16aにグリス9aを保持する空間を画定している。グリス9aに接触するモールド樹脂13の側面は、グリス9aを保持する空間が放熱板16aから冷却器3に向かう(X軸の正方向)に従って広がるように傾斜している。即ち、グリス9aを保持する空間の放熱板16aに平行な断面積は、放熱板16aから冷却器3に向かう(X軸の正方向)に従って大きくなっている。放熱板16bの周囲のモールド樹脂13は、放熱板16aの周囲のモールド樹脂13と同様の構造を有している。これにより、グリス9aを保持する空間と同様に、グリス9bを保持する空間が画定されている。
同様に、モールド樹脂13の表面は、放熱板17aの周囲において放熱板17aよりも冷却器3側(X軸の負方向)に突出して、放熱板17aにグリス9cを保持する空間を画定している。グリス9cに接触するモールド樹脂13の側面は、グリス9cを保持する空間が放熱板17aから冷却器3に向かう(X軸の負方向)に従って広がるように傾斜している。即ち、グリス9cを保持する空間の放熱板17aに平行な断面積は、放熱板17aから冷却器3に向かう(X軸の負方向)に従って大きくなっている。放熱板17bの周囲のモールド樹脂13は、放熱板17aの周囲のモールド樹脂13と同様の構造を有している。これにより、グリス9cを保持する空間と同様に、グリス9dを保持する空間が画定されている。グリス9a〜9dは、放熱板16a、16b、17a、17bと絶縁板6とを隙間なく密着させることによって、放熱板16a、16b、17a、17bから絶縁板6への熱伝達を向上させている。
各絶縁板6は、グリス9eを介して冷却器3に隣接配置されている。グリス9eは、絶縁板6と冷却器3とを隙間なく密着させることによって、絶縁板6から冷却器3への熱伝達を向上させている。
パワーカード10(詳細にはトランジスタTa、Tb及びダイオードDa、Db)の発熱と除熱に伴う現象について説明する。パワーカード10が熱膨張すると、パワーカード10と絶縁板6との間からグリス9a〜9dを押し出そうとする力が発生する。しかしながら、グリス9a〜9dは、モールド樹脂13によって取り囲まれているので、押し出されることが抑制されている。
また、図4に示すように、トランジスタTaで発生した熱は、放熱板16a、17aを介して絶縁板6に伝達し、絶縁板6から冷却器3に伝達する。熱は、冷却器3に向かう方向だけではなく、放熱板16a、17aに平行な方向にも広がろうとする。ただし、モールド樹脂13の熱伝導率が、放熱板、グリス等の熱伝導率に比べて低いため、熱はモールド樹脂13を避けるように広がる。ここで、本実施例では、放熱板16a、17a上でグリス9a、9cを保持する空間の断面積(即ち、グリス9a、9cの断面積)が、熱が冷却器3に向かう方向に従って大きくなっている。そのため、熱は、グリス9a、9cの内部で放熱板16a、17aに平行な方向に広がりながら絶縁板6に向かうことができる。その結果、熱伝達がモールド樹脂13によって妨げられることが抑制され、放熱板16a、17aから冷却器3へ効率よく放熱(熱伝達)することができる。トランジスタTbで発生した熱についても同様の効果を奏することができる。即ち、放熱板16b、17b上でグリス9b、9dを保持する空間の断面積(即ち、グリス9b、9dの断面積)が、熱が冷却器3に向かう方向に従って大きくなっているので、放熱板16b、17bから冷却器3へ効率よく放熱することができる。
図示省略しているが、ダイオードDa、Dbを通過し、XY平面に平行な面で切断すると、図3のトランジスタTa、TbがダイオードDa、Dbに置換された断面が生じる。従って、ダイオードDa、Dbで発生した熱についても、放熱板16a、16b、17a、17bから冷却器3へ効率よく放熱することができる。
図5を参照して、比較例の半導体装置102の熱伝達経路について説明する。比較例では、モールド樹脂113の構造が第1実施例のモールド樹脂13とは異なる。具体的には、放熱板16a上のグリス9fに接触するモールド樹脂13の側面は傾斜していない(即ちX軸方向に平行である)。即ち、グリス9fを保持する空間の放熱板16aに平行な断面積は一定である。同様に、放熱板16b、17a、17b上のグリス9g〜9iに接触するモールド樹脂13の側面も傾斜していない。これにより、熱は、グリス9f〜9iの内部で放熱板16a、16b、17a、17bに平行な方向に広がりながら絶縁板6に向かう。その結果、熱伝達がモールド樹脂13によって妨げられ、放熱板16a、16b、17a、17bから冷却器3へ効率よく放熱することができない。換言すると、本実施例では、比較例に比して、放熱板16a、16b、17a、17bから冷却器3へ効率よく放熱することができる。
(第2実施例)
第2実施例の半導体装置202では、モールド樹脂213の構造が、第1実施例のモールド樹脂13とは異なる。具体的には、モールド樹脂213は、絶縁板6に接触する角が丸く形成されている。これにより、半導体装置2の積層方向に荷重がかけられた状態で、モールド樹脂213の角を介して絶縁板6に局所的な応力がかかりにくくなり、絶縁板6が破損しにくくなっている。特に絶縁板6が脆いセラミック等で形成されている場合に、絶縁板6の破損を効果的に抑制することができる。本実施例でも、グリス9a〜9dは、モールド樹脂13によって取り囲まれているので、押し出されることが抑制されている。また、グリス9a〜9dを保持する空間の断面積(即ち、グリス9a〜9dの断面積)が、熱が冷却器3に向かう方向に従って大きくなっているので、放熱板16a、16b、17a、17bから冷却器3へ効率よく放熱することができる。
(第3実施例)
第3実施例の半導体装置302は、1組のトランジスタTa及びダイオードDaを備える1in1の半導体装置である。図7は、トランジスタTaを横切る平面で切断した断面図である。図7に示される各部材は、第1実施例の図3の右半分に示される各部材と同様の構造を有している。本実施例でも、グリス9a、9cは、モールド樹脂13によって取り囲まれているので、押し出されることが抑制されている。また、グリス9a、9cを保持する空間の断面積(即ち、グリス9a、9cの断面積)が、熱が冷却器3に向かう方向に従って大きくなっているので、放熱板16a、17aから冷却器3へ効率よく放熱することができる。
(第4実施例)
第4実施例の半導体装置402は、モールド樹脂313の片面のみから放熱板17a、17bが露出している片面モールドパッケージ方式の半導体装置である。図8は、トランジスタTa、Tbを横切る平面で切断した断面図である。半導体装置402では、第1実施例の半導体装置2とは異なり、トランジスタTa、Tb及びダイオードDa、Db上にリードプレート18が積層されている。リードプレート18は、1つの側面を除いてモールド樹脂313で封止されている。また、半導体装置402では、スペーサ14が挿入されていない。
放熱板17a、17bが露出している側では、第1実施例と同様に、モールド樹脂313の表面は、放熱板17a、17bの周囲において放熱板17a、17bよりも冷却器3側に突出して、放熱板17a、17b上にグリス9c、9dを保持する空間を画定している。そして、グリス9c、9dを保持する空間の放熱板17a、17bに平行な断面積は、トランジスタTa、Tbで発生した熱が冷却器3に向かう方向に従って大きくなっている。冷却器3は、グリス9c、9dを介して、放熱板17a、17bに圧接されている。本実施例でも、第1実施例と同様に、グリス9c、9dが、押し出されることが抑制される。また、放熱板16a、17aから冷却器3へ効率よく放熱することができる。
以上、いくつかの具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。以下に、本明細書の開示内容から把握される技術的事項を列記する。なお、以下に記載する技術的事項は、それぞれが独立した技術的事項であり、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものである。例えば、各実施例では、半導体装置が備える全ての放熱板の周囲でモールド樹脂の表面が突出しているが、変形例では、少なくとも1個の放熱板の周囲でモールド樹脂の表面が突出していればよい。また、各実施例では、絶縁板6は省略可能であり、放熱板がグリスのみを介して冷却器3に隣接配置されていてもよい。また、グリスに接触するモールド樹脂の側面の形状は、各実施例の形状に限られず、例えば、階段状に形成されていてもよい。一般的に言うと、グリスを保持する空間の放熱板に平行な断面積が、放熱板から冷却器に向かうに従って大きくなるように、モールド樹脂の側面が形成されていればよい。
2、102、202、302、402:半導体装置
3:冷却器
4a:冷媒供給管
4b:冷媒排出管
5a:連結パイプ
5b:連結パイプ
6:絶縁板
7a〜7c:電極端子
9a〜9i:グリス
10:パワーカード
10a、10b:面
13、113、213、313:モールド樹脂
14:スペーサ
15:ハンダ
16a、16b、17a、17b:放熱板
18:リードプレート
31:ケース
32:板バネ
Da、Db:ダイオード
Ta、Tb:トランジスタ

Claims (1)

  1. モールド樹脂内に半導体素子が封止されているとともに、前記モールド樹脂の表面に放熱板が露出しているパワーカードと、
    前記モールド樹脂から露出している前記放熱板にグリスを介して隣接配置されている冷却器と、を備え、
    前記モールド樹脂の前記表面は、前記放熱板の周囲において前記放熱板よりも前記冷却器側に突出して、前記放熱板上に前記グリスを保持する空間を画定しており、
    前記空間の前記放熱板に平行な断面積は、前記放熱板から前記冷却器に向かうに従って大きくなる、半導体装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4158738B2 (ja) * 2004-04-20 2008-10-01 株式会社デンソー 半導体モジュール実装構造、カード状半導体モジュール及びカード状半導体モジュール密着用受熱部材
JP5574170B2 (ja) * 2010-06-17 2014-08-20 株式会社デンソー 半導体モジュール実装構造
JP2013062282A (ja) * 2011-09-12 2013-04-04 Toyota Motor Corp 半導体装置
WO2014041936A1 (ja) * 2012-09-13 2014-03-20 富士電機株式会社 半導体装置、半導体装置に対する放熱部材の取り付け方法及び半導体装置の製造方法
JP2016054221A (ja) * 2014-09-03 2016-04-14 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP2016092222A (ja) * 2014-11-05 2016-05-23 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP2016092226A (ja) * 2014-11-05 2016-05-23 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP6409690B2 (ja) * 2014-11-20 2018-10-24 株式会社デンソー 冷却モジュール
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