JP6468095B2 - 半導体装置 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体装置に関する。特に、半導体素子を収容したパワーカードがグリスを挟んで冷却部材に接しているとともにパワーカードと冷却部材の積層方向に荷重が加えられている半導体装置に関する。
上記したタイプの半導体装置は、半導体素子に対する冷却性能が高く、例えば電気自動車の駆動系のインバータに用いられている。そのような半導体装置の一例が特許文献1に開示されている。
特許文献1の半導体装置では、微視的な隙間を埋めるために、パワーカードと冷却器(冷却部材)がグリスを挟んで積層されている。パワーカードと冷却器は、いずれも平板型であり、幅広面の法線が水平方向を向く姿勢で保持されている。パワーカードと冷却器の間からグリスが垂れ落ちることを防止するために、パワーカードの表面の下方に、水平方向に伸びる突条が設けられている。なお、一般に、パワーカードと冷却部材の間からグリスが流出することを「グリスが抜ける」と表現することがある。本明細書でもそのような表現を用いる。
特開2014−075537号公報
パワーカードと冷却部材の間からグリスが抜ける原因は重力だけではない。グリスの層が薄いほど、パワーカードに対する冷却能力が高まる。それゆえ、パワーカードと冷却部材の積層体にはその積層方向に荷重が加えられ、グリスが薄く延ばされる。グリスの厚みは、例えば、100ミクロン以下であることが好ましい。グリスが薄く延ばされると、半導体素子の発熱によるパワーカードの膨張によりグリスがパワーカードと冷却部材の隙間から抜ける虞が生じる。
本明細書は、パワーカードと冷却部材の間からグリスが抜けることを防止するための技術を提供する。
本明細書が開示する技術は、樹脂製のパッケージに半導体素子を収容したパワーカードが冷却部材に接しているとともにパワーカードと冷却部材の積層方向に荷重が加えられている半導体装置に関する。本明細書が開示する半導体装置は、パッケージの冷却部材と対向する面に表面が露出している放熱板と、グリスと、パワーカードと冷却部材の間に挟まれている放熱シートとを備えている。放熱板は、上記の表面がパッケージの対向する面から窪んでいる。グリスは、放熱板の当該窪みに収容されている。そして、放熱シートは、積層方向から見たときに放熱板の外縁を囲むパッケージの表面と重なるように放熱板を覆っており、冷却部材より弾性率が低い。
冷却部材とパワーカードの間からグリスを抜けることを防止するために、パワーカードの冷却部材と対向する面に窪みを設け、冷却部材と窪みの間の空間にグリスを収容することが考えられる。ここで、当該窪みは、放熱板の膨張により容積が減少する。窪みの容積が減少した場合、冷却部材と窪みの間の空間の容積も減少するので、容積が減少することにより余るグリスが窪みの外へと抜ける虞がある。
本明細書が開示する半導体装置によれば、放熱シートが、放熱板の表面、即ち、放熱板の表面に設けられている窪みを覆っている。また、放熱シートが、積層方向から見たときに放熱板の外側を囲むパッケージの表面と重なっており、積層方向に荷重が加えられている。よって、窪みに収容されているグリスは、窪みと放熱シートの間の空間に閉じ込められる。ここで、半導体素子の発熱により放熱板が膨張し窪みの容積が減少した場合、放熱シートは容積が減少することにより余るグリスにより押圧される。放熱シートは、冷却部材より低い弾性率を有するので、余るグリスに押圧されることで、窪みの容積減少を補うように変形する。即ち、放熱板の膨張により窪みの容積が減少しても、放熱シートが変形することにより、窪みと放熱シートの間の空間の容積の減少が抑えられる。従って、窪みと放熱シートの間の空間にグリスが留まりやすくなる。グリスが窪みに留まりやすくなり、パワーカードと冷却部材の間からグリスが抜けることが防止される。
本明細書が開示する技術の詳細とさらなる改良は以下の「発明を実施するための形態」にて説明する。
実施例の半導体装置の斜視図である。 図1の座標系におけるXY平面でカットした半導体装置の断面図である。 パワーカードの正面図である。 パワーカードの裏面図である。
図面を参照して実施例の半導体装置を説明する。図1は、第1実施例の半導体装置2の斜視図である。半導体装置2は、複数のパワーカード10と複数の冷却器3が積層されたユニットである。なお、図1では、一つのパワーカードだけに符号10を付し、他のパワーカードには符号を省略している。同様に一つの冷却器だけに符号3を付し、他の冷却器には符号を省略している。また、半導体装置2の全体が見えるように、半導体装置2を収容するケース31は仮想線で描いてある。1個のパワーカード10は、2個の冷却器3に挟まれる。パワーカード10と一方の冷却器3との間には絶縁板6aが挟まれており、パワーカード10と他方の冷却器3との間には絶縁板6bが挟まれている。パワーカード10と絶縁板6a、6bの間には、グリスが塗布されるとともに、放熱シートが挟まれる。絶縁板6a、6bと冷却器3の間にはグリスが塗布される。図1ではグリスと放熱シートの図示は省略している。また、図1は、理解し易いように、1個のパワーカード10と絶縁板6a、6bを半導体装置2から抜き出して描いてある。
一つのパワーカード10には4個の半導体素子が収容されている。4個の半導体素子は、具体的には、2個のトランジスタTa、Tbと、2個のダイオードDa、Dbである。冷却器3を通る冷媒により、半導体素子が冷却される。冷媒は液体であり、典型的には水である。
パワーカード10と冷却器3は、共に平板型であり、複数の側面のうち最大面積の平坦面が対向するように積層されている。パワーカード10と冷却器3は交互に積層されており、ユニットの積層方向の両端には冷却器が位置している。複数の冷却器3は、連結パイプ5a、5bで連結されている。ユニットの積層方向の一端に位置する冷却器3には、冷媒供給管4aと冷媒排出管4bが連結されている。冷媒供給管4aを通じて供給される冷媒は、連結パイプ5aを通じて全ての冷却器3に分配される。冷媒は各冷却器3を通る間に隣接するパワーカード10から熱を吸収する。各冷却器3を通った冷媒は連結パイプ5bを通り、冷媒排出管4bから排出される。
半導体装置2はケース31に収容される際、ユニットの積層方向の他端側に板バネ32が挿入される。その板バネ32により、パワーカード10と絶縁板6a、6bと冷却器3の積層されたユニットには、積層方向の両側から荷重が加えられる。その荷重は、例えば3[kN]である。後述するように、絶縁板とパワーカードの間にはグリスが塗布され、さらに放熱シートが挟まれている。3[kN]という高い荷重は、グリスの層を薄く引き延ばし、パワーカード10から冷却器3への伝熱効率を高める。パワーカード10は、直接的には絶縁板6a、6bに熱を奪われる。それゆえ、絶縁板6a、6bは冷却部材に相当する。半導体装置2は、半導体素子(各素子Ta、Tb、Da、Db)を収容したパワーカード10にグリスと放熱シートを挟んで絶縁板6a、6b(冷却部材)が接しているとともに、パワーカード10と冷却器3の間のグリスの層を薄くするように積層方向に荷重が加えられているデバイスである。
パワーカード10を説明する。パワーカード10において、絶縁板6aと対向する一方の平坦面10aには、放熱板16a、16bが露出している。平坦面10aとは反対側の平坦面10bには、別の放熱板17(図1では不図示)が露出している。平坦面10bにはグリスを挟んで絶縁板6bが接している。パワーカード10の上面(図中Z軸の正方向を向く面)からは3本の電極端子7a、7b、7cが伸びており、下面(図中Z軸方向の負方向を向く面)からは制御端子29が伸びている。
図2を参照してパワーカード10と冷却器3との間の構造について説明する。図2は、図1のパワーカード10を図中の座標系のXY面に平行な平面であってトランジスタTaとTbを横切る平面でカットした断面図である。
先に、パワーカード10の内部構造を説明する。4個の半導体素子(トランジスタTa、Tb、ダイオードDa、Db)は、樹脂製のパッケージ13に収容されている。パッケージ13は、射出成形により形成され、半導体素子を封止する。なお、以下では、パワーカード10の平坦面10a、10bをパッケージ13の平坦面10a、10bと称する場合がある。
いずれの半導体素子も平坦なチップである。トランジスタTa(Tb)のチップの一方の平坦面にはコレクタ電極が露出しており、他方の平坦面にはエミッタ電極が露出している。トランジスタTaの一方の平坦面の電極はハンダ15により放熱板16aの裏面に接合している。放熱板16aの表面は、パッケージ13の平坦面10aに露出している。トランジスタTaの他方の平坦面の電極は、導電性のスペーサ14を介してハンダ15により放熱板17の裏面に接合している。放熱板17の表面は、パッケージ13の平坦面10bに露出している。なお、トランジスタTa(Tb)のゲート電極は、チップの一方の平坦面の端に設けられている。また、トランジスタTbの各電極もトランジスタTaと同様に、ハンダ15とスペーサ14を利用して放熱板16bと放熱板17に接合している。
放熱板16aは、電極端子7aの一部である。トランジスタTaの電極を外部の他のデバイスと接続するための電極端子7aにおいて、パッケージ13の平坦面10aに露出している部位が放熱板16aに相当する。電極端子7aはトランジスタTaの電極と接しているので、トランジスタTaの内部の熱を伝えやすい。一方、冷却器3はアルミニウム(導電性の金属)で作られているので、放熱板16aと絶縁する必要がある。それゆえ、半導体装置2は、冷却器3と放熱板16a(パワーカード10)との間に絶縁板6aを挟んでいる。絶縁板6a、6bは、薄くて絶縁性が高く、伝熱性も良いセラミックスで作られている。放熱板16a(電極端子7a)及びスペーサ14は、導電性と伝熱性に優れた銅で作られている。放熱板16b、放熱板17も同様である。
放熱板16b、17も夫々、放熱板16aと同様に、電極端子7b、7cの一部である。また、ダイオードDa、Dbも、トランジスタTa、Tbと同様に、平坦なチップである。ダイオードDa、Dbの平坦面に露出している電極は、トランジスタTa、Tbと同様に、放熱板16a、16b、17に接続している。
放熱板16aのパッケージ13の平坦面10aに露出している表面は、パッケージ13の平坦面10aから窪んでいる。放熱板16aの表面は、表面粗さを小さくし塗布するグリスが当該表面によく馴染むように、研磨される。研磨の際、放熱板16aの表面は、パッケージ13の平坦面10aから窪んでいる形状となる。この窪んでいる部位を、以下、窪み22aと称する。即ち、窪み22aは、放熱板16aの表面を研磨する際に形成される窪みである。なお、窪みの深さは、概ね100マイクロメートル以下である。
放熱板16b、17の表面も、放熱板16aと同様にパッケージ13の平坦面10a、10bから窪んでいる。以下、放熱板16b、17の表面の当該窪みの夫々を、窪み22b、23と称する。
放熱板16aの表面には、グリス9が塗布されている。上述したように、放熱板16aの表面には、窪み22aがある。放熱板16aの表面にグリス9が塗布されることにより、グリス9は窪み22aに収容される。同様に、放熱板16b、17の表面にもグリス9が塗布されており、放熱板16b、17の窪み22b、23にもグリス9が収容されている。
パワーカード10の平坦面10aと絶縁板6aの間には、放熱シート20aが挟まれている。放熱シート20aは、流動性を有する放熱材を絶縁板6aに塗布した後に硬化することで形成されるシートであり、柔軟性を有するゴム状のシートである。放熱シート20aは絶縁板6aに付着する。放熱シート20aが付着した絶縁板6aをパワーカード10に積層することにより、パワーカード10の平坦面10aと絶縁板6aの間に放熱シート20aが挟まれる。同様に、パワーカード10の平坦面10bと絶縁板6bの間にも、放熱シート20bが挟まれている。放熱シート20bは、パワーカード10の平坦面10bの側に位置する絶縁板6bに付着している。
絶縁板6aと冷却器3の間には、グリス9が塗布されている。同様に、絶縁板6bと冷却器3の間にも、グリス9が塗布されている。
上述したように、放熱シート20a、20bは、流動性を有する放熱材を硬化させることにより形成されるシートであり、流動性が失われた固形の放熱材である。一方、グリス9は、流動性を有する放熱材である。また、絶縁板6a、6bは、セラミックで製作された板であり、柔軟性の低い部材である。一方、放熱シート20a、20bは、柔軟性の高い部材であり、その弾性率は、絶縁板6a、6bより低い。さらに、放熱シート20a、20bの弾性率は、樹脂製であるパワーカード10のパッケージ13の弾性率よりも低い。
パワーカード10の平坦面10aと冷却器3の間は、パワーカード10、放熱シート20a、絶縁板6a、グリス9、冷却器3の順に積層されている。パワーカード10の平坦面10aに露出している放熱板16a、16bの表面の窪み22a、22bと放熱シート20aの間の空間には、グリス9が収容されている。また、パワーカード10の平坦面10bと冷却器3の間は、パワーカード10、放熱シート20b、絶縁板6b、グリス9、冷却器3の順に積層されている。そして、パワーカード10の平坦面10bに露出している放熱板17の表面の窪み23と放熱シート20bの間の空間にも、グリス9が収容されている。
図3、図4を参照して、放熱シートの構成についてさらに説明する。図3は、パワーカード10をX軸の正方向から見た図であり、図4は、パワーカード10をX軸の負方向から見た図である。図3、図4の夫々では、絶縁板6a、6bを仮想線で表している。図3に示すように、放熱シート20aは、パッケージ13の平坦面10aに露出している放熱板16a、16bの全面を覆っている。別言すれば、積層方向(即ち、X軸方向)から見たときに、放熱板16a(16b)の外縁を囲むパッケージ13の表面と重なるように放熱板16a(16b)を覆っている。放熱シート20aのY軸方向における幅W2は、Y軸方向に並ぶ放熱板16a、16bにおける放熱板16aのY軸正方向における端辺から放熱板16bのY軸負方向における端辺までの幅W1より大きい。放熱シート20aのZ軸方向における幅L2は、放熱板16a(16b)のZ軸方向における幅L1より大きい。これにより、窪み22a(22b)は、放熱シート20aにより全体が覆われる。また、上述したように、半導体装置2は、積層方向(即ち、X軸方向)に板バネ32により荷重が加えられている。窪み22a(22b)と放熱シート20aの間の空間は、窪み22a(22b)の外縁を囲むパッケージ13の表面にこの荷重により当接する放熱シート20aにより閉ざされる。即ち、放熱シート20aは、窪み22a(22b)と放熱シート20aの間の空間を封止するいわゆるシール材としての機能を有する。グリス9は、この閉ざされた空間に収容される。
図4に示すように、放熱シート20bは、パッケージ13の平坦面10bに露出している放熱板17の全面を覆っている。放熱シート20bのY軸方向における幅W4は、放熱板17のY軸方向における幅W3より大きい。放熱シート20bのZ軸方向における幅L4は、放熱板17のZ軸方向における幅L3より大きい。窪み22aと同様に、放熱板17の窪み23も、放熱シート20bにより全体が覆われる。そして、窪み23と放熱シート20bの間の空間も、放熱シート20bと積層方向の荷重により閉ざされ、当該空間にグリス9が収容される。
本実施例の効果について説明する。以下、放熱板16aと放熱シート20aの間を例にとって説明する。パワーカードがグリスを挟んで冷却部材に接しているとともにパワーカードと冷却部材の積層方向に荷重が加えられている半導体装置において、当該荷重によりグリスは薄く引き延ばされる。グリスが薄く延ばされると、発熱するパワーカードの膨張によりグリスがパワーカードと冷却部材の隙間から抜ける虞が生じる。本実施例の構成によれば、グリス9は、放熱板16aの窪み22aと放熱シート20aの間の空間に閉じ込められる。トランジスタTaの発熱により放熱板16aが膨張し窪み22aの容積が減少した場合、放熱シート20aは容積が減少することにより余るグリスにより押圧される。放熱シート20aは、冷却部材(絶縁板6a)より低い弾性率を有するので、余るグリスに押圧されることで、窪み22aの容積減少を補うように変形する。即ち、放熱板16aの膨張により窪み22aの容積が減少しても、放熱シート20aが変形することにより、窪み22aと放熱シート20aの間の空間の容積の減少が抑えられる。従って、窪み22aと放熱シート20aの間の空間にグリス9が留まりやすくなる。グリス9が窪み22aに留まりやすくなり、パワーカード10と絶縁板6aの間からグリス9が抜けることが防止される。
また、上述したように、窪み22aは、放熱板16aの表面を研磨する際に形成される窪みである。本実施例の構成によれば、放熱板16aの研磨加工の際に形成される窪み22aを利用することで、窪みを形成する工程を追加することなく、簡易にパワーカード10と絶縁板6aの間からグリス9が抜けることを防止することができる。
放熱板16bと放熱シート20aの間、放熱板17と放熱シート20bの間でも上述と同様の効果が得られる。
実施例で説明した技術に関する留意点を述べる。図では、理解を助けるため、グリスの層の厚み、放熱シートの厚み、窪みの深さ、などを強調して描いることに留意されたい。
図2に示したように、冷却器3の内部は単純な空洞である。冷却器3の内部空間には、絶縁板6a、6bと接する側板の裏面に接するフィンを設けてもよい。
絶縁板6a、6bと、絶縁板6a、6bと冷却器3の間に挟まれているグリス9は無くてもよい。この場合、冷却器3が「冷却部材」の一例である。
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
2:半導体装置
3:冷却器
4a:冷媒供給管
4b:冷媒排出管
5a、5b:連結パイプ
6a、6b:絶縁板
7a、7b、7c:電極端子
9:グリス
10:パワーカード
10a、10b:平坦面
13:パッケージ
14:スペーサ
15:ハンダ
16a、16b、17:放熱板
20a、20b:放熱シート
22a、22b、23:窪み
29:制御端子
31:ケース
32:板バネ
Da、Db:ダイオード
Ta、Tb:トランジスタ

Claims (1)

  1. 樹脂製のパッケージに半導体素子を収容したパワーカードが冷却部材に接しているとともに前記パワーカードと前記冷却部材の積層方向に荷重が加えられている半導体装置であって、
    前記パッケージの前記冷却部材と対向する面に表面が露出している放熱板であって、当該表面が前記パッケージの前記対向する面から窪んでおり、当該窪みは、研磨された前記表面の一部である、放熱板と、
    前記放熱板の前記窪みに収容されているグリスと、
    前記パワーカードと前記冷却部材の間に挟まれており、前記積層方向から見たときに前記放熱板の外縁を囲む前記パッケージの表面と重なるように前記放熱板を覆っている放熱シートであって、前記冷却部材より弾性率が低い放熱シートと、
    を備える半導体装置。
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