JP6707407B2 - 炭化ケイ素粉末の製造方法 - Google Patents
炭化ケイ素粉末の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6707407B2 JP6707407B2 JP2016127746A JP2016127746A JP6707407B2 JP 6707407 B2 JP6707407 B2 JP 6707407B2 JP 2016127746 A JP2016127746 A JP 2016127746A JP 2016127746 A JP2016127746 A JP 2016127746A JP 6707407 B2 JP6707407 B2 JP 6707407B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chloride
- silicon carbide
- silica
- content
- chlorine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 69
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 140
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 62
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 60
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 58
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 52
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 claims description 30
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 claims description 30
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 30
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 24
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 23
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 23
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 16
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 claims description 9
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 9
- 229910001514 alkali metal chloride Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 5
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 37
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 24
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 19
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 15
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 12
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 9
- 238000002354 inductively-coupled plasma atomic emission spectroscopy Methods 0.000 description 8
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 7
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 6
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 6
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 5
- 235000019353 potassium silicate Nutrition 0.000 description 5
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 3
- 230000001603 reducing effect Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- KZBUYRJDOAKODT-UHFFFAOYSA-N Chlorine Chemical compound ClCl KZBUYRJDOAKODT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910021431 alpha silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K aluminium trichloride Chemical compound Cl[Al](Cl)Cl VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000008235 industrial water Substances 0.000 description 2
- KWGKDLIKAYFUFQ-UHFFFAOYSA-M lithium chloride Chemical compound [Li+].[Cl-] KWGKDLIKAYFUFQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 description 2
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 description 2
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 2
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L Calcium chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Ca+2] UXVMQQNJUSDDNG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 235000010724 Wisteria floribunda Nutrition 0.000 description 1
- HJPOKQICBCJGHE-UHFFFAOYSA-J [C+4].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-] Chemical compound [C+4].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-] HJPOKQICBCJGHE-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021383 artificial graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 239000001110 calcium chloride Substances 0.000 description 1
- 229910001628 calcium chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical class 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 238000003763 carbonization Methods 0.000 description 1
- 238000005660 chlorination reaction Methods 0.000 description 1
- 125000001309 chloro group Chemical group Cl* 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000571 coke Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000007580 dry-mixing Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000012770 industrial material Substances 0.000 description 1
- -1 intervenes Chemical compound 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 1
- 229910021382 natural graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000002006 petroleum coke Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Description
本発明は、炭化ケイ素粉末の製造方法に関し、具体的には、パワー半導体などの電子材料の原料に適用可能な高純度の炭化ケイ素粉末を得る製造方法に関する。
炭化ケイ素（ＳｉＣ）は研磨・研削材、セラミックス焼結体及び導電性材料等の工業用材料として従来から幅広く使用されている。特に、最近では、省エネルギー志向の強まりや脱原発による自然再生エネルギーの活用への期待等の社会的背景により、パワー半導体等に用いられる単結晶材料として、高純度の炭化ケイ素が求められている。
炭化ケイ素を工業的に量産する技術としては、ケイ素（Ｓｉ）を含むケイ酸質原料（例えば硅砂）と炭素（Ｃ）を含む炭素質原料（例えば石油コークス）を原料とし、アチソン炉において１６００℃以上で加熱することで、直接還元反応によって炭化ケイ素を製造する方法が知られている。この従来から行なわれているアチソン炉による製造では、原料中の不純物含有量が高く、不純物の制御が難しいため、高純度の炭化ケイ素を製造することはできなかった。
そこで、炭化ケイ素粉末の不純物を除去する技術として、酸で除去する技術や塩化ナトリウムなどのアルカリ金属の塩化物を添加する技術が知られている。酸で除去する技術は、フッ酸と硝酸を一定の割合で混合した混酸に、炭化ケイ素粉末を浸漬させることで、酸に不純物を溶解して除去する技術である（例えば、特許文献１参照）。不純物を酸に溶解させるため、不純物が酸に接触する必要がある。このため、本技術は、炭化ケイ素の粒子表面に存在する不純物を除去することはできるが、粒子内部に取りこまれた不純物を除去することはできず、十分に純化することができない。
一方、塩化ナトリウムなどの塩化物を添加する技術は、塩化物から発生する塩素ガスにより、炭化ケイ素の原料であるシリカやカーボンに含まれる不純物元素の塩化物を生成させ、この塩化物を揮散させることで、炭化ケイ素中の不純物量を低減する技術である（例えば、非特許文献１参照）。本技術において、塩化物の添加量は、原料中の不純物量に応じて決定される。純度の高い炭化ケイ素を得るには、大量の塩化物が必要であり、その結果大量の塩素ガスを発生させ、作業環境的に問題があるため、塩化物の添加量が限定的となり、純度の低減に限界があった。
一方、近年において、パワー半導体の高性能化に伴い、炭化ケイ素粉末の更なる高純度化が要求されている。そこで、更に高純度の炭化ケイ素を製造する方法として、シリカとカーボンの混合物を含む固形分と、アルカリ金属またはアルカリ土類金属の塩化物を含む水溶液を混合し、得られた混合物に対して固液分離を行い、得られた固形分（シリカとカーボンの混合物、及びアルカリ金属またはアルカリ土類金属の塩化物を含むもの）を加熱するといった製造方法が提案されている（例えば、特許文献２参照）。この製造方法によると、従来よりも高純度の炭化ケイ素粉末が得られる。
日本学術振興会高温セラミックス材料第１２４委員会編、「ＳｉＣ系セラミックス新材料 最近の展開」、（株）内田老鶴圃、２００１年２月２８日、ｐ１２１
しかしながら、特許文献２に記載の製造方法では、シリカより吸着能が高いカーボンが介在し、塩化物を均一に存在させることができず、その結果、塩化物の添加量を増やさざるを得ず、上記問題の解決には至らなかった。塩化物の代わりに塩酸を添加した場合も同様である。
そこで、本発明の目的は、アルカリ金属の塩化物又は塩酸の添加により炭化ケイ素粉末の不純物を除去する工程を含む炭化ケイ素粉末の製造方法において、塩化物又は塩酸の添加量が少量であっても、不純物を効率良く除去でき、高純度の炭化ケイ素粉末を製造可能な製造方法を提供することにある。
本発明の炭化ケイ素粉末の製造方法は、不純物を含み空隙率が１０〜５０％のアモルファスの多孔質シリカのみを、アルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸に浸漬して塩化物含有アモルファスシリカを得る第１工程、及び
前記第１工程において得られた塩化物含有アモルファスシリカと、炭素質原料とを混合し、加熱する第２工程、を含み、
前記第１工程において、アモルファスの多孔質シリカ中の塩素が下記式（１）で表される塩素含有量以上且つ前記塩素含有量の１．５倍以下となるように前記アルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸に浸漬することを特徴とする。
前記第１工程において得られた塩化物含有アモルファスシリカと、炭素質原料とを混合し、加熱する第２工程、を含み、
前記第１工程において、アモルファスの多孔質シリカ中の塩素が下記式（１）で表される塩素含有量以上且つ前記塩素含有量の１．５倍以下となるように前記アルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸に浸漬することを特徴とする。
［ただし、Ｃは、前記アモルファスの多孔質シリカ中における、第３周期〜第４周期であり、かつ２（２Ａ族）〜１３（３Ｂ）族の金属不純物元素であって、含有量が多い順に上位所定順位までの元素それぞれの含有量（ｍｇ／ｋｇ）を示し、ｋは、前記各金属不純物元素の塩化物中における金属不純物元素に対する塩素の質量比を示し、Σは、前記金属不純物元素の各ｋＣの値を加算することを示す。］
ここで、第３周期、第４周期、２（２Ａ族）、１３（３Ｂ）族は、長周期型周期表における周期、族である。
ここで、第３周期、第４周期、２（２Ａ族）、１３（３Ｂ）族は、長周期型周期表における周期、族である。
本発明の炭化ケイ素粉末の製造方法においては、所定の空隙率のアモルファスの多孔質シリカを用いるため、その内部の空隙に塩化物又は塩酸を含浸させることができ、原料中に均一に塩化物又は塩酸を分散させることができる。そのため、微量の塩化物又は塩酸でも効果的に不純物を除去することができる。また、塩化物又は塩酸が微量であることから、それらに起因する多量の白煙を抑えることができ、環境にも配慮した焼成が可能となる。さらに、カーボン含有シリカに塩化ナトリウムを混合するといった特開２０１４−１２５４０７号公報に記載の発明とは異なり、シリカより吸着能が高いカーボンが介在しないため、塩化物又は塩酸がシリカ粒子に均一に存在するようになり、上記公報に記載の発明よりもさらに少量で効果を発揮する。
本発明の炭化ケイ素粉末の製造方法は、空隙率が１０〜５０％のアモルファスの多孔質シリカを、アルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸に浸漬して塩化物含有アモルファスシリカを得る第１工程、及び前記塩化物含有アモルファスシリカと、炭素質原料とを混合し、加熱する第２工程、を含み、前記第１工程において、アモルファスの多孔質シリカ中の塩素が下記式（１）で表される塩素含有量以上となるように前記アルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸に浸漬することを特徴とする。
式（１）中、Ｃは、前記アモルファスの多孔質シリカ中における、第３周期〜第４周期であり、かつ２（２Ａ族）〜１３（３Ｂ）族の金属不純物元素であって、含有量が多い順に上位所定順位までの元素それぞれの含有量（ｍｇ／ｋｇ）を示し、ｋは、前記各金属不純物元素の塩化物中における金属不純物元素に対する塩素の質量比を示し、Σは、前記金属不純物元素の各ｋＣの値を加算することを示す。
以下に、本発明の製造方法の各工程について説明する。
以下に、本発明の製造方法の各工程について説明する。
［第１工程］
第１工程においては、空隙率が１０〜５０％のアモルファスの多孔質シリカ（以下、単に「多孔質シリカ」とも呼ぶ。）をアルカリ金属の塩化物水溶液（以下、単に「塩化物水溶液」とも呼ぶ。）又は塩酸に浸漬して塩化物含有アモルファスシリカを得る。まず、本工程で用いる各成分について説明する。
第１工程においては、空隙率が１０〜５０％のアモルファスの多孔質シリカ（以下、単に「多孔質シリカ」とも呼ぶ。）をアルカリ金属の塩化物水溶液（以下、単に「塩化物水溶液」とも呼ぶ。）又は塩酸に浸漬して塩化物含有アモルファスシリカを得る。まず、本工程で用いる各成分について説明する。
（アモルファスの多孔質シリカ）
アモルファスの多孔質シリカは、空隙率が１０〜５０％のものを用いる。空隙率が１０〜５０％のものを用いることで、当該空隙に十分な量の塩化物水溶液又は塩酸を含浸させることができ、原料中に塩化物などを均一に分散させることができる。ひいては、塩化物水溶液などが微量であっても不純物を十分に除去することができる。多孔質シリカの空隙率が１０％未満では含浸させられる塩化物水溶液又は塩酸の量が少なくなり、結果として炭化ケイ素の不純物除去効果が得られなくなる。５０％を超えると塩化物水溶液の量が多くなり、所定量以上の塩化物水溶液などが含浸されてしまい、作業環境の悪化を招く。当該空隙率は、１２．５〜４０％が好ましく、１５〜３５％がより好ましい。
アモルファスの多孔質シリカは、空隙率が１０〜５０％のものを用いる。空隙率が１０〜５０％のものを用いることで、当該空隙に十分な量の塩化物水溶液又は塩酸を含浸させることができ、原料中に塩化物などを均一に分散させることができる。ひいては、塩化物水溶液などが微量であっても不純物を十分に除去することができる。多孔質シリカの空隙率が１０％未満では含浸させられる塩化物水溶液又は塩酸の量が少なくなり、結果として炭化ケイ素の不純物除去効果が得られなくなる。５０％を超えると塩化物水溶液の量が多くなり、所定量以上の塩化物水溶液などが含浸されてしまい、作業環境の悪化を招く。当該空隙率は、１２．５〜４０％が好ましく、１５〜３５％がより好ましい。
多孔質シリカのＢＥＴ比表面積は４００〜５００００ｃｍ２／ｇが好ましく、６００〜２５０００ｃｍ２／ｇであることがより好ましい。当該ＢＥＴ比表面積が４００〜５００００ｃｍ２／ｇであると、多孔質シリカ内部の空隙が微細であるため、塩化物水溶液などを多孔質シリカ内部に効果的かつ均一に含浸させることができる。
（アルカリ金属の塩化物の水溶液又は塩酸）
アルカリ金属の塩化物としては、塩化リチウム、塩化ナトリウム、塩化カリウム、が挙げられ、中でも、塩化ナトリウム、塩化カリウムを用いることが好ましい。これら塩化物水溶液又は塩酸に多孔質シリカを浸漬すると、当該多孔質シリカの空隙に塩化物水溶液又は塩酸が含浸する。
アルカリ金属の塩化物としては、塩化リチウム、塩化ナトリウム、塩化カリウム、が挙げられ、中でも、塩化ナトリウム、塩化カリウムを用いることが好ましい。これら塩化物水溶液又は塩酸に多孔質シリカを浸漬すると、当該多孔質シリカの空隙に塩化物水溶液又は塩酸が含浸する。
以上の塩化物水溶液又は塩酸は、多孔質シリカの塩素が上記式（１）により算出した塩素含有量となるように濃度や浸漬時間などの条件を調整する。このように塩化物水溶液又は塩酸を多孔質シリカに付与することにより、不純物を除去するに必要十分な量の塩化物（塩素イオン）をアモルファスの多孔質シリカの空隙に含浸させることができる。
上記式（１）中、Ｃは多孔質シリカ中における、第３周期〜第４周期であり、かつ２（２Ａ族）〜１３（３Ｂ）族の金属不純物元素であって、含有量が多い順に上位所定順位までの元素それぞれの含有量（ｍｇ／ｋｇ）である。当該金属不純物元素は、Ｍｇ、Ａｌ、Ｃａ、Ｓｃ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、又はＧａである。
上記含有量が多い順に上位所定順位までの元素それぞれの含有量（ｍｇ／ｋｇ）において、所定順位としては、１０番目までとすることが好ましく、８番目までとすることがより好ましく、５番目までとすることがさらに好ましい。
原料として用いる多孔質シリカ中における金属不純物元素及びその含有量が既知であれば、含有量が多い順に上位所定順位の各元素とその含有量に基づきそれぞれの含有濃度をＣを求めることができる。一方、当該金属不純物元素及びその含有量が未知の場合は、多孔質シリカをフッ酸と硝酸の混酸で溶解させた後、ＩＣＰ−ＡＥＳ分析法により測定し、含有量が多い順に上位所定順位の各元素とその含有量に基づきそれぞれの含有濃度Ｃを求めることができる。
ｋは、各金属不純物元素を除去するに必要な塩素含有量を算出するための係数であり、前記各金属不純物元素の塩化物中における金属不純物元素に対する塩素の質量比を示す。つまり、多孔質シリカ中における所定の金属不純物元素の含有量（ｍｇ／ｋｇ）を表すＣにｋを乗ずることで、多孔質シリカ中の金属不純物元素を除去するに必要十分な塩素含有量（ｍｇ／ｋｇ）が算出される。
具体的には、ｋは、（塩素の原子量×金属不純物元素の塩化物１分子中の塩素原子数）／金属不純物元素の原子量の式で算出される。例えば、塩化アルミニウムの場合、ｋ＝３５．４５×３／２６．９８＝３．９４であり、塩化カルシウムの場合、ｋ＝３５．４５×２／４０．０８＝１．７７である。
本発明においては、多孔質シリカ中の塩素が下記式（１）で表される塩素含有量以上となるようにアルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸に浸漬するのであるが、当該多孔質シリカ中の塩素の上限は、式（１）により算出した塩素含有量の１．５倍が好ましく、１．２倍がより好ましい。１．５倍の塩素含有量を超えると、発生する塩素が増えるため環境負荷の問題が生じることがある。
本発明においては、以上のような多孔質シリカと、上記のようにして濃度が調整された塩化物水溶液又は塩酸とを準備した後、当該多孔質シリカを塩化物水溶液又は塩酸に浸漬して塩化物含有アモルファスシリカを得る。多孔質シリカを塩化物水溶液又は塩酸に浸漬する際の浸漬時間としては、１〜３時間とすることが好ましく、アルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸の温度は常温（例えば、２０℃）以上あればよい。
（炭素質原料）
炭素質原料としては、例えば、天然黒鉛、人工黒鉛等の結晶質カーボンや、カーボンブラック、コークス、活性炭等のアモルファスカーボンが挙げられる。これらは１種を単独で又は２種以上を組み合わせて使用される。炭素質原料の平均粒径は、焼成時の環境や原料の状態（結晶質、非晶質）、および前述の多孔質シリカとの反応性によって適宜選ばれる。
炭素質原料としては、例えば、天然黒鉛、人工黒鉛等の結晶質カーボンや、カーボンブラック、コークス、活性炭等のアモルファスカーボンが挙げられる。これらは１種を単独で又は２種以上を組み合わせて使用される。炭素質原料の平均粒径は、焼成時の環境や原料の状態（結晶質、非晶質）、および前述の多孔質シリカとの反応性によって適宜選ばれる。
［第２工程］
第２工程においては、前記塩化物含有アモルファスシリカと前記炭素質原料とを混合して、炭化ケイ素製造用の原料を調製する。この際、原料の混合方法は任意であり、湿式混合と乾式混合のいずれも採用することができる。混合の際の塩化物含有アモルファスシリカと炭素質原料の混合モル比（Ｃ／Ｓｉ）は、焼成時の環境、炭化ケイ素製造用原料の粒径や反応性を考慮して、最適なものを選択する。ここでいう「最適」とは、焼成によって得られる炭化ケイ素の収量を向上させ、また、残存する未反応の塩化物含有アモルファスシリカや炭素質原料の残存量を小さくすることを意味する。
第２工程においては、前記塩化物含有アモルファスシリカと前記炭素質原料とを混合して、炭化ケイ素製造用の原料を調製する。この際、原料の混合方法は任意であり、湿式混合と乾式混合のいずれも採用することができる。混合の際の塩化物含有アモルファスシリカと炭素質原料の混合モル比（Ｃ／Ｓｉ）は、焼成時の環境、炭化ケイ素製造用原料の粒径や反応性を考慮して、最適なものを選択する。ここでいう「最適」とは、焼成によって得られる炭化ケイ素の収量を向上させ、また、残存する未反応の塩化物含有アモルファスシリカや炭素質原料の残存量を小さくすることを意味する。
得られた混合粉末（炭化ケイ素製造用の原料）をアチソン炉内に投入し、２，５００℃以上で焼成することによって、塊状の炭化ケイ素を得ることができる。
焼成雰囲気は、還元雰囲気であることが好ましい。還元性が弱い雰囲気下で焼成すると、炭化ケイ素の収率が低くなるからである。
アチソン炉を用いることで、下記反応式（１）で示される反応が生じ、炭化ケイ素からなる塊状物が得られる。
ＳｉＯ２＋３Ｃ → ＳｉＣ＋２ＣＯ 反応式（１）
ＳｉＯ２＋３Ｃ → ＳｉＣ＋２ＣＯ 反応式（１）
アチソン炉内の発熱体を発熱させると発熱体の近傍の原料から炭化ケイ素が生成し、外側へと成長していく。アチソン炉の中心部と外側とで炭化ケイ素の態様が異なり、中心部ほどα−ＳｉＣが多く、外側ほどβ−ＳｉＣが多い。本発明においては、当該中心部のα−ＳｉＣの割合を大きくすることができる。
アチソン炉内の発熱体の種類は、電気を通すことができるものである限りにおいて、特に限定されるものではなく、例えば、黒鉛粉、カーボンロッド等が挙げられる。
発熱体を構成する物質の形態は、特に限定されず、例えば、粉状、塊状等が挙げられる。アチソン炉内において、発熱体は炭化ケイ素製造用原料の中心部付近に配置されることが好ましいが、成長するインゴットの形状に合わせて適宜配置することができる。例えば、発熱体は、アチソン炉の通電方向の両端に設けられた電極芯を結ぶように全体として棒状の形状になるように設けられる。ここでの棒状の形状とは、例えば、円柱状、角柱状等が挙げられる。発熱体の電気抵抗は、電源の能力に応じて決定される。
通電後、炉内に炭化ケイ素からなる塊状物が生成する。次いで、炉内が常温になるまで空冷を行った後、得られた炭化ケイ素からなる塊状物を粉砕する。粉砕方法は、扱いが容易なものであれば特に限定されるものではなく、例えば、粉砕機としてボールミル、ディスクグラインダー等を用いて粉砕する方法が挙げられる。
最後に、所望の粒径に応じたふるいを用いて分級する。例えば、目開き２０００μｍ、１００μｍのふるいを用いることで、粒径１００〜２０００μｍの範囲に分級することができる。
最後に、所望の粒径に応じたふるいを用いて分級する。例えば、目開き２０００μｍ、１００μｍのふるいを用いることで、粒径１００〜２０００μｍの範囲に分級することができる。
以下に、実施例により本発明をさらに具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
［実施例１］
水ガラス（水ガラス３号 富士化学株式会社製（ＳｉＯ２／Ｎａ２Ｏ（モル比）＝３．２））３００ｋｇを１２．５ｖｏｌ％の硫酸（濃硫酸（９８％） 辰巳産業株式会社製）１３００Ｌに滴下し、アモルファスシリカを得た。このアモルファスシリカをさらに１２．５ｖｏｌ％の硫酸７２０Ｌに６時間浸漬し、金属元素不純物を除去した後、工業用水３０００Ｌで水洗した後、乾燥機にて８０時間乾燥を行い、高純度のアモルファスの多孔質シリカを４０ｋｇ合成した。この多孔質シリカの空隙率は１５％、ＢＥＴ比表面積は７１０ｃｍ２／ｇ、化学成分は表１の通りであった。この多孔質シリカの不純物量と本発明に係る式（１）より、多孔質シリカ１ｋｇ中に塩素含有量が７．６ｍｇとなるように２．０質量％の塩化ナトリウム水溶液（塩化ナトリウム：工業用、純度９９．５％ マナック株式会社製）に１時間浸漬した。浸漬後、乾燥機にて８０時間乾燥して、塩化物含有アモルファスシリカを合成した。
水ガラス（水ガラス３号 富士化学株式会社製（ＳｉＯ２／Ｎａ２Ｏ（モル比）＝３．２））３００ｋｇを１２．５ｖｏｌ％の硫酸（濃硫酸（９８％） 辰巳産業株式会社製）１３００Ｌに滴下し、アモルファスシリカを得た。このアモルファスシリカをさらに１２．５ｖｏｌ％の硫酸７２０Ｌに６時間浸漬し、金属元素不純物を除去した後、工業用水３０００Ｌで水洗した後、乾燥機にて８０時間乾燥を行い、高純度のアモルファスの多孔質シリカを４０ｋｇ合成した。この多孔質シリカの空隙率は１５％、ＢＥＴ比表面積は７１０ｃｍ２／ｇ、化学成分は表１の通りであった。この多孔質シリカの不純物量と本発明に係る式（１）より、多孔質シリカ１ｋｇ中に塩素含有量が７．６ｍｇとなるように２．０質量％の塩化ナトリウム水溶液（塩化ナトリウム：工業用、純度９９．５％ マナック株式会社製）に１時間浸漬した。浸漬後、乾燥機にて８０時間乾燥して、塩化物含有アモルファスシリカを合成した。
上記塩化物含有アモルファスシリカとアモルファスカーボン（シーストＶ 東海カーボン株式会社製）を質量割合で２／１となるように混合した原料と発熱体用黒鉛をアチソン炉に充填し、１５００℃〜２５００℃で２４時間通電して、塊状の炭化ケイ素を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物を左部位、中央部位、右部位ごとに回収してトップグラインダーで２ｍｍ以下までそれぞれ粉砕し、部位ごとの炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
［実施例２］
実施例１で用いた多孔質シリカの不純物量と本発明に係る式（１）より、実施例１のアモルファスシリカ１ｋｇ中に塩素含有量が７．６ｍｇとなるように塩酸（工業用（３５ｗｔ％）東亜合成株式会社）の５質量％水溶液に１時間浸漬した。浸漬後、乾燥機にて８０時間乾燥して、塩化物含有アモルファスシリカを合成した。
実施例１で用いた多孔質シリカの不純物量と本発明に係る式（１）より、実施例１のアモルファスシリカ１ｋｇ中に塩素含有量が７．６ｍｇとなるように塩酸（工業用（３５ｗｔ％）東亜合成株式会社）の５質量％水溶液に１時間浸漬した。浸漬後、乾燥機にて８０時間乾燥して、塩化物含有アモルファスシリカを合成した。
上記塩化物含有アモルファスシリカを用いて、実施例１同様の方法で、高純度炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
［実施例３］
空隙率が３５％、ＢＥＴ比表面積が５ｍ２／ｇの市販アモルファスシリカ（小野田化学工業社製）を、アモルファスシリカの不純物量と本発明に係る式（１）より、アモルファスシリカ１ｋｇ中に塩素含有量が９００ｍgとなるように２５質量％の塩化ナトリウム水溶液に１時間浸漬した。浸漬後、１２０℃で乾燥機にて８０時間乾燥させて、塩化物含有アモルファスシリカを得た。本実験で使用した市販アモルファスシリカの不純物量が上位５元素の含有濃度について表２に示す。
空隙率が３５％、ＢＥＴ比表面積が５ｍ２／ｇの市販アモルファスシリカ（小野田化学工業社製）を、アモルファスシリカの不純物量と本発明に係る式（１）より、アモルファスシリカ１ｋｇ中に塩素含有量が９００ｍgとなるように２５質量％の塩化ナトリウム水溶液に１時間浸漬した。浸漬後、１２０℃で乾燥機にて８０時間乾燥させて、塩化物含有アモルファスシリカを得た。本実験で使用した市販アモルファスシリカの不純物量が上位５元素の含有濃度について表２に示す。
この塩化物含有アモルファスシリカとアモルファスカーボンを質量割合で２／１となるように混合した原料と発熱体用黒鉛をアチソン炉に充填し、１５００℃〜２５００℃で２４時間通電して、塊状の炭化ケイ素を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物を左部位、中央部位、右部位ごとに回収してトップグラインダーで2ｍｍ以下まで粉砕し、炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
［比較例１］
実施例１で合成したアモルファスシリカ（塩化物を含まない）と、アモルファスカーボンを質量割合で２／１となるように混合した原料と、発熱体用黒鉛をアチソン炉に充填し、１５００℃〜２５００℃で２４時間通電して、塊状の炭化ケイ素を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物をトップグラインダーで２ｍｍ以下ケイ素粉砕し、炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
実施例１で合成したアモルファスシリカ（塩化物を含まない）と、アモルファスカーボンを質量割合で２／１となるように混合した原料と、発熱体用黒鉛をアチソン炉に充填し、１５００℃〜２５００℃で２４時間通電して、塊状の炭化ケイ素を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物をトップグラインダーで２ｍｍ以下ケイ素粉砕し、炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
［比較例２］
市販の天然シリカ粉（ＫＣＬＡ−２ 共立マテリアル社製）を１０質量％の塩化ナトリウム水溶液（塩化ナトリウム：工業用、純度９９．５％ マナック株式会社製）に１時間浸漬させた後、１２０℃で乾燥機にて８０時間乾燥させた。なお、市販天然シリカの不純物濃度は表３の通りであった。得られた天然シリカを分析した結果、シリカ１ｋｇに対し、塩素が７．６ｍｇしか含まれず、本発明に係る式（１）より算出された目標量である塩素３１．６ｍｇを含有させることができなかった。この天然シリカとアモルファスカーボンを質量割合で２／１となるように混合した原料と発熱体用黒鉛をアチソン炉に充填し、１５００℃〜２５００℃で２４時間通電して、塊状の炭化ケイ素を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物を左部位、中央部位、右部位ごとに回収してトップグラインダーで２ｍｍ以下までそれぞれ粉砕し、部位ごとの炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
市販の天然シリカ粉（ＫＣＬＡ−２ 共立マテリアル社製）を１０質量％の塩化ナトリウム水溶液（塩化ナトリウム：工業用、純度９９．５％ マナック株式会社製）に１時間浸漬させた後、１２０℃で乾燥機にて８０時間乾燥させた。なお、市販天然シリカの不純物濃度は表３の通りであった。得られた天然シリカを分析した結果、シリカ１ｋｇに対し、塩素が７．６ｍｇしか含まれず、本発明に係る式（１）より算出された目標量である塩素３１．６ｍｇを含有させることができなかった。この天然シリカとアモルファスカーボンを質量割合で２／１となるように混合した原料と発熱体用黒鉛をアチソン炉に充填し、１５００℃〜２５００℃で２４時間通電して、塊状の炭化ケイ素を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物を左部位、中央部位、右部位ごとに回収してトップグラインダーで２ｍｍ以下までそれぞれ粉砕し、部位ごとの炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
［比較例３］
実施例１のアモルファスシリカ１ｋｇ中に塩素含有量が５．０ｍｇとなるように塩酸の５質量％水溶液に１時間浸漬した。浸漬後、乾燥機にて８０時間乾燥して、塩化物含有アモルファスシリカを合成した。この塩化物含有アモルファスシリカを使って、比較例２と同様の方法で、炭化ケイ素の塊状物を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物を左部位、中央部位、右部位ごとに回収してトップグラインダーで２ｍｍ以下までそれぞれ粉砕し、部位ごとの炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
実施例１のアモルファスシリカ１ｋｇ中に塩素含有量が５．０ｍｇとなるように塩酸の５質量％水溶液に１時間浸漬した。浸漬後、乾燥機にて８０時間乾燥して、塩化物含有アモルファスシリカを合成した。この塩化物含有アモルファスシリカを使って、比較例２と同様の方法で、炭化ケイ素の塊状物を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物を左部位、中央部位、右部位ごとに回収してトップグラインダーで２ｍｍ以下までそれぞれ粉砕し、部位ごとの炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
［比較例４］
水ガラス１４０ｋｇにアモルファスカーボンを２７ｋｇ加えて混合し、カーボン含有水ガラスを得た。得られたカーボン含有水ガラス１６７ｋｇを硫酸濃度１２．５ｖｏｌ％の硫酸１３００Ｌに滴下し、カーボン含有アモルファスシリカを合成した。このカーボン含有アモルファスシリカをさらに１２．５ｖｏｌ％の硫酸７２０Ｌに６時間浸漬し、金属元素不純物を除去した後、工業用水３０００Ｌで水洗した後、乾燥機にて８０時間乾燥を行い、高純度のカーボン含有アモルファスシリカを４９．５ｋｇ合成した。なお、得られたカーボン含有アモルファスシリカの不純物量は表４の通りであった。不純物量と本発明に係る式（１）より、カーボン含有アモルファスシリカ１ｋｇ中に塩素含有量が３５．２ｍｇとなるように１０質量％の塩化ナトリウム水溶液に１時間浸漬した。浸漬後、乾燥機にて８０時間乾燥して、塩化物およびカーボン含有アモルファスシリカを合成した。
水ガラス１４０ｋｇにアモルファスカーボンを２７ｋｇ加えて混合し、カーボン含有水ガラスを得た。得られたカーボン含有水ガラス１６７ｋｇを硫酸濃度１２．５ｖｏｌ％の硫酸１３００Ｌに滴下し、カーボン含有アモルファスシリカを合成した。このカーボン含有アモルファスシリカをさらに１２．５ｖｏｌ％の硫酸７２０Ｌに６時間浸漬し、金属元素不純物を除去した後、工業用水３０００Ｌで水洗した後、乾燥機にて８０時間乾燥を行い、高純度のカーボン含有アモルファスシリカを４９．５ｋｇ合成した。なお、得られたカーボン含有アモルファスシリカの不純物量は表４の通りであった。不純物量と本発明に係る式（１）より、カーボン含有アモルファスシリカ１ｋｇ中に塩素含有量が３５．２ｍｇとなるように１０質量％の塩化ナトリウム水溶液に１時間浸漬した。浸漬後、乾燥機にて８０時間乾燥して、塩化物およびカーボン含有アモルファスシリカを合成した。
上記塩化物およびカーボン含有アモルファスシリカと発熱体用黒鉛をアチソン炉に充填し、１５００℃〜２５００℃で２４時間通電して、塊状の炭化ケイ素を得た。得られた炭化ケイ素の塊状物を左部位、中央部位、右部位ごとに回収してトップグラインダーで２ｍｍ以下までそれぞれ粉砕し、部位ごとの炭化ケイ素粉末を得た。得られた炭化ケイ素粉末の不純物の含有率を、「ＪＩＳ Ｒ １６１６」に記載された加圧酸分析法によるＩＣＰ−ＡＥＳ分析により測定した。その結果を表５に示す。
実施例１〜３の炭化ケイ素粉末は、比較例１、２と比較して、不純物元素の含有量が少ないことが分かる。また、塩化物量が少ない多孔質シリカを用いた比較例３の炭化ケイ素粉末は、実施例１〜３と比較して不純物元素の含有量が多いことが分かる。さらに、比較例４は、カーボン含有シリカに塩化ナトリウムを混合するといった特開２０１４−１２５４０７号公報に記載の発明に係る炭化ケイ素粉末であるが、実施例１〜３は、当該比較例４よりも高純度な炭化ケイ素粉末を製造可能であることが分かる。
Claims (1)
- 不純物を含み空隙率が１０〜５０％のアモルファスの多孔質シリカのみを、アルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸に浸漬して塩化物含有アモルファスシリカを得る第１工程、及び
前記第１工程において得られた塩化物含有アモルファスシリカと、炭素質原料とを混合し、加熱する第２工程、を含み、
前記第１工程において、アモルファスの多孔質シリカ中の塩素が下記式（１）で表される塩素含有量以上且つ前記塩素含有量の１．５倍以下となるように前記アルカリ金属の塩化物水溶液又は塩酸に浸漬することを特徴とする炭化ケイ素粉末の製造方法。
［ただし、Ｃは、前記アモルファスの多孔質シリカ中における、第３周期〜第４周期であり、かつ２（２Ａ族）〜１３（３Ｂ）族の金属不純物元素であって、含有量が多い順に上位所定順位までの元素それぞれの含有量（ｍｇ／ｋｇ）を示し、ｋは、前記各金属不純物元素の塩化物中における金属不純物元素に対する塩素の質量比を示し、Σは、前記金属不純物元素の各ｋＣの値を加算することを示す。］
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016127746A JP6707407B6 (ja) | 2016-06-28 | 2016-06-28 | 炭化ケイ素粉末の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016127746A JP6707407B6 (ja) | 2016-06-28 | 2016-06-28 | 炭化ケイ素粉末の製造方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018002502A JP2018002502A (ja) | 2018-01-11 |
| JP6707407B2 true JP6707407B2 (ja) | 2020-06-10 |
| JP6707407B6 JP6707407B6 (ja) | 2020-07-08 |
Family
ID=60945890
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016127746A Active JP6707407B6 (ja) | 2016-06-28 | 2016-06-28 | 炭化ケイ素粉末の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6707407B6 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109607540B (zh) * | 2019-01-31 | 2021-08-10 | 兰溪致德新能源材料有限公司 | 利用溶胶凝胶法制备纳米碳化硅的工艺 |
| CN115893418A (zh) * | 2023-01-04 | 2023-04-04 | 烟台先进材料与绿色制造山东省实验室 | 一种小分子有机酸水热改性碳化硅粉体的方法、改性碳化硅粉体、改性碳化硅浆料和应用 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010181801A (ja) * | 2009-02-09 | 2010-08-19 | Hitachi Maxell Ltd | コーティング組成物、それを用いた反射防止フィルム及び反射防止フィルムの製造方法 |
| JP6037823B2 (ja) * | 2012-12-27 | 2016-12-07 | 太平洋セメント株式会社 | 高純度の炭化ケイ素の製造方法 |
| JP6277887B2 (ja) * | 2013-12-20 | 2018-02-14 | カシオ計算機株式会社 | 描画装置 |
| JP2016055583A (ja) * | 2014-09-12 | 2016-04-21 | 東レフィルム加工株式会社 | 導電性積層体およびそれを用いたタッチパネル |
-
2016
- 2016-06-28 JP JP2016127746A patent/JP6707407B6/ja active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2018002502A (ja) | 2018-01-11 |
| JP6707407B6 (ja) | 2020-07-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6230106B2 (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| JP5999715B2 (ja) | 炭化珪素粉末の製造方法 | |
| WO2008075789A1 (ja) | 熱電変換材料、その製造方法および熱電変換素子 | |
| JP2019182737A (ja) | 六方晶窒化ホウ素粉末およびその製造方法 | |
| JP6707407B2 (ja) | 炭化ケイ素粉末の製造方法 | |
| KR102172862B1 (ko) | 무연탄을 이용한 고순도 흑연 성형품의 제조방법 | |
| JP6809912B2 (ja) | 炭化珪素粉末、その製造方法、及び炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| US20240190711A1 (en) | Silica material and method of manufacture and silicon derived therefrom | |
| JP2013163620A (ja) | 高純度黒鉛粉末の製造方法 | |
| US20210057734A1 (en) | Lithium-Ion Battery Anode Material Based on Spherical Natural Graphite Containing Silicates | |
| KR20150043590A (ko) | 플러렌의 제조방법 | |
| JP2013112544A (ja) | 高純度炭化珪素ウィスカー、及びその製造方法 | |
| JP5797086B2 (ja) | 高純度炭化珪素粉末の製造方法 | |
| JP6792412B2 (ja) | 炭化珪素粉末の製造方法 | |
| JP6337389B2 (ja) | 炭化珪素粉粒体の製造方法 | |
| RU2424341C2 (ru) | Шихта для выплавки чистого металлического кремния | |
| JP6749230B2 (ja) | 炭化珪素の製造方法 | |
| JP6802719B2 (ja) | 炭化珪素粉末 | |
| JP2015086100A (ja) | 炭化珪素の製造方法 | |
| JP6527430B2 (ja) | 炭化珪素の製造方法 | |
| JP7483192B2 (ja) | 複合粒子およびその製造方法 | |
| JP5033948B2 (ja) | 窒化アルミニウム粉末の製造方法ならびに窒化アルミニウム焼結体の製造方法 | |
| JP2004039372A (ja) | 窒素とホウ素を含有し導電性を有するダイヤモンド粒状体及びこれを用いた流動床電極 | |
| KR970001524B1 (ko) | 탄화규소(SiC) 분말의 제조방법 | |
| JPH06279021A (ja) | 二ホウ化チタン微粉末の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190301 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191017 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191112 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200107 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200508 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200520 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6707407 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |