JP6700645B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6700645B2 JP6700645B2 JP2019504417A JP2019504417A JP6700645B2 JP 6700645 B2 JP6700645 B2 JP 6700645B2 JP 2019504417 A JP2019504417 A JP 2019504417A JP 2019504417 A JP2019504417 A JP 2019504417A JP 6700645 B2 JP6700645 B2 JP 6700645B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- measurement
- automatic analyzer
- reagent
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00722—Communications; Identification
- G01N35/00732—Identification of carriers, materials or components in automatic analysers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/025—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
- G01N35/00613—Quality control
- G01N35/00663—Quality control of consumables
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
- G01N35/00693—Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00722—Communications; Identification
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
- G01N35/1002—Reagent dispensers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00594—Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
- G01N35/00613—Quality control
- G01N35/00663—Quality control of consumables
- G01N2035/00673—Quality control of consumables of reagents
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00722—Communications; Identification
- G01N2035/00891—Displaying information to the operator
- G01N2035/009—Displaying information to the operator alarms, e.g. audible
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00722—Communications; Identification
- G01N2035/00891—Displaying information to the operator
- G01N2035/0091—GUI [graphical user interfaces]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/04—Details of the conveyor system
- G01N2035/0439—Rotary sample carriers, i.e. carousels
- G01N2035/0453—Multiple carousels working in parallel
Description
図1は、本実施の形態に係る複合型自動分析装置の基本構成を示す。ここでは、自動分析装置の一態様として、生化学分析と、血液凝固分析(血液凝固線溶マーカー、血液凝固時間測定)を行う複合型の自動分析装置の例について説明する。本例において、自動分析装置は、生化学分析・血液凝固線溶マーカー分析を行う吸光光度計、散乱光度計、血液凝固時間測定を行う散乱光度計、電解質分析を行うISEユニットを備えている。
メンテナンスボタン203は、あらかじめ設定された各メンテナンス項目の期限情報と、前回のメンテナンス実施からの経過時間とを管理し、これらの情報に基づいて、メンテナンスの実施を促すように、メンテナンスボタンを黄色(注意レベル)または赤色(警告レベル)に表示する。図3は、本実施の形態に係る自動分析装置のメンテナンス画面の一例を示す。図3(a)では、すべてのメンテナンスを表示するモード301が設定されている。この時、ISEに関するメンテナンスであるISEプライムは前回の実施から時間が経過し、メンテナンスが必要な状態である。この場合、メンテナンスリストではNo.7のISEプライムの項目が着色されて、ユーザーにメンテナンスの実施を推奨する。このとき、例えば、図2(b)にて上述したようにISEユニットをマスクしている状態では、ISEユニットは使用しないため、本ユニットに係わるメンテナンスを実施する必要がない。すなわち、このような状態であるにもかかわらず、図2(b)のメンテナンスボタン203を着色してメンテナンスの実行を推奨してしまうと、オペレーターにとって不必要な準備等の作業が発生することになる。そこで、図3(b)のように、マスクしたユニットで実施するメンテナンスの推奨を表示しないモード302を選択することによって、ユーザーが不必要なメンテナンスを実施することがないよう、メンテナンスリストのNo.7のISEプライムの項目を着色せずに、推奨を解除する。このとき、図2(b)のワークフロー表示領域201においても、メンテナンスボタン203は、ISEプライムの項目に起因して着色されることはない。図3(a)、(b)では、ラジオボタンによって選択した例を示しているが、タブによる切り替えや、プルタブによる選択など、その他の選択方法についても適用可能である。ここで、図4は、本実施の形態に係る自動分析装置のユニットマスク時の表示設定画面の一例を示す。本図に示すように、図3のメンテナンス画面とは別の画面にて、マスクしたユニットに関するメンテナンスやキャリブレーション、QC等の情報の表示の要否を設定しておくこともできる。図4では、各項目についてそれぞれ表示の要否を設定する画面の一例を示しているが、全ての項目について統一した表示形式を一括で選択するように設定する画面とすることもできる。
図2における試薬・消耗品準備ボタン205で、現在装置上に設置されている試薬・消耗品のデータベースに基づき、現在残量が0の分析項目が存在する場合には、試薬・消耗品準備ボタンを色またはマークで識別して表示する。同様にしてあらかじめ設定された注意レベルに対し、現在の残量が注意レベルの残量よりも少ない分析項目が存在する場合には、試薬・消耗品準備ボタン205を警告表示とは異なる色または異なるマークで識別して表示する。通常、測定依頼件数は項目毎に異なるため、試薬注意レベルは測定項目毎に個別に設定できることが望ましい。
図8は、本実施の形態に係る自動分析装置のキャリブ・QC画面の一例を示す図である。図2に示したキャリブ・QCボタン206は、キャリブレーションの実施状況、コントロールの測定状況を示すボタンであり、キャリブ・QCボタン206をクリックすることで、本図に示す画面を表示する。
10…反応ディスク
10a、10b、10c…分注(吐出)位置
11…反応セル
12…恒温槽
20…サンプルディスク(検体ディスク)
20a…分注(吸引)位置
21…検体容器
22…サンプル分注機構
23…サンプルバーコード読み取り装置(サンプルバーコードリーダー)
24…検体識別子
30…試薬ディスク
30−1…第1試薬ディスク
30−2…第2試薬ディスク
30−1a、30−2a…分注(吸引)位置
31…試薬ボトル
31−1…第1試薬ボトル
31−2…第2試薬ボトル
32…試薬バーコード読み取り装置(試薬バーコードリーダー)
32−1…第1試薬バーコード読み取り装置
32−2…第2試薬バーコード読み取り装置
33…試薬分注機構
34…反応セル洗浄機構
40…吸光光度計
41…光源(吸光光度計用)
45…散乱光度計
46…光源(散乱光度計用)
50…凝固時間検出部
51…測定チャンネル
52…反応容器(ディスポーザブル反応容器)
53…反応容器収納部
54…サンプル分注ステーション
55…反応容器移送機構
56…昇温機能付き試薬分注機構
57…反応容器廃棄部
60…ISEユニット
61…ISE希釈槽
62…Na電極
63…K電極
64…C1電極
65…比較電極
70…コンピューター
71…インターフェイス
72…A/D変換器(吸光光度計用)
73…A/D変換器(光散乱光度計用)
74…A/D変換器(凝固時間ユニット用)
75…A/D変換器(ISEユニット用)
76…制御用コンピューター
77…メモリー
78…操作画面
79…キーボード
Claims (17)
- 検体を収容する検体容器を保持するサンプルディスクと、試薬を収容する試薬容器を保持する試薬ディスクと、それぞれが異なる種類の分析を行う少なくとも2つ以上の異なる測定ユニットと、前記測定ユニットを制御する制御部と、を備えた自動分析装置において、
当該2つ以上の測定ユニットの操作のフローを示すワークフローエリアと、それぞれの測定ユニットの使用可否状況を表示するオーバービューエリアを表示する表示部を備え、
前記オーバービューエリアは、前記それぞれの測定ユニットの使用要否を選択可能なユニット使用要否選択部を有し、
前記制御部は、
前記ユニット使用要否選択部において、当該2つ以上の測定ユニットのうちの少なくとも1つの測定ユニットの使用が選択されなかった場合には、
当該使用が選択されなかった測定ユニットについての測定準備に関する操作情報を、前記ワークフローエリアの表示に反映しないように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 検体を収容する検体容器を保持するサンプルディスクと、試薬を収容する試薬容器を保持する試薬ディスクと、それぞれが異なる種類の分析を行う少なくとも2つ以上の異なる測定ユニットと、前記測定ユニットを制御する制御部と、を備えた自動分析装置において、
当該2つ以上の測定ユニットの操作のフローを示すワークフローエリアと、それぞれの測定ユニットの使用可否状況を表示するオーバービューエリアを表示する表示部を備え、
前記オーバービューエリアは、前記それぞれの測定ユニットの使用要否を選択可能なユニット使用要否選択部を有し、
前記制御部は、
前記ユニット使用要否選択部において、当該2つ以上の測定ユニットのうちの少なくとも1つの測定ユニットの使用が選択された場合には、
当該使用が選択された測定ユニットについての測定準備に関する操作情報のみを、前記ワークフローエリアの表示に反映するように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1又は2に記載された自動分析装置であって、
前記ワークフローエリアは、
当該測定ユニットについての測定準備に関する操作情報として、メンテナンス、試薬及び消耗品、キャリブレーション及びコントロールの測定、のそれぞれについて、より詳細な情報を確認するためのボタンを少なくとも1つ以上有することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3に記載された自動分析装置であって、
前記制御部は、
当該ボタンに、対応する測定準備の要否に関する情報に基づいて、色、またはマークによる識別情報を表示するように、前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1又は2に記載された自動分析装置であって、
前記表示部は、
前記ユニット使用要否選択部において設定された情報に基づいて、前記ワークフローエリアの表示を変更するか否かを設定可能な設定部を表示することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項5に記載された自動分析装置であって、
当該ワークフローエリアに示される測定ユニットの操作のフローは、当該測定ユニットについての測定準備に関する操作情報として、メンテナンス、試薬及び消耗品、キャリブレーション及びコントロールの測定、の少なくとも2つ以上を含み、
前記設定部は、前記ユニット使用要否選択部において設定された情報に基づいて、当該2つ以上の操作情報うちのそれぞれ、またはすべてについて、前記ワークフローエリアの表示を変更するか否かを設定可能であることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3に記載された自動分析装置であって、
当該ワークフローエリアにおける、試薬及び消耗品についてのより詳細な情報を確認するためのボタンが選択された場合、
前記制御部は、
前記試薬ディスクに保持される試薬容器の配置情報を示す試薬オーバービュー画面を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3に記載された自動分析装置であって、
当該ワークフローエリアにおける、試薬及び消耗品についてのより詳細な情報を確認するためのボタンが選択された場合、
前記制御部は、
前記試薬ディスクに保持される試薬容器の交換情報を印字可能な印字画面を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項7に記載された自動分析装置であって、
前記ユニット使用要否選択部において、当該2つ以上の測定ユニットのうちの少なくとも1つの測定ユニットの使用が選択されなかった場合には、
当該使用が選択されなかった測定ユニットについての試薬容器の配置情報を、前記試薬オーバービュー画面に表示しないように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項8に記載された自動分析装置であって、
前記ユニット使用要否選択部において、当該2つ以上の測定ユニットのうちの少なくとも1つの測定ユニットの使用が選択されなかった場合には、
当該使用が選択されなかった測定ユニットについての試薬容器の交換情報を、前記印字画面に表示しないように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3に記載された自動分析装置であって、
当該ワークフローエリアにおける、メンテナンスについてのより詳細な情報を確認するためのボタンが選択された場合、
前記制御部は、
各メンテナンス項目について、あらかじめ設定された周期の情報と、前回のメンテナンス実施からの経過時間の情報と、に基づいて実施を推奨する画面であるメンテナンス画面を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項11に記載された自動分析装置であって、
前記ユニット使用要否選択部において、当該2つ以上の測定ユニットのうちの少なくとも1つの測定ユニットの使用が選択されなかった場合には、
当該使用が選択されなかった測定ユニットについてのメンテナンスに関する情報を、前記メンテナンス画面に表示しないように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項3に記載された自動分析装置であって、
当該ワークフローエリアにおける、キャリブレーション及びコントロールの測定についてのより詳細な情報を確認するためのボタンが選択された場合、
前記制御部は、
キャリブレーションの実施状況と、コントロールの測定状況に関する情報に基づいて、キャリブレーションの実施または/及びコントロールの測定を推奨する画面であるキャリブレーション・コントロール画面を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項13に記載された自動分析装置であって、
前記ユニット使用要否選択部において、当該2つ以上の測定ユニットのうちの少なくとも1つの測定ユニットの使用が選択されなかった場合には、
当該使用が選択されなかった測定ユニットについてのキャリブレーション及びコントロールの測定の推奨を、前記キャリブレーション・コントロール画面に表示しないように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1又は2に記載された自動分析装置であって、
前記表示部は、
前記ワークフローエリアと、前記オーバービューエリアとを、同一画面上に表示することを特徴とする自動分析装置。 - 検体を収容する検体容器を保持するサンプルディスクと、試薬を収容する試薬容器を保持する試薬ディスクと、それぞれが異なる種類の分析を行う少なくとも2つ以上の異なる測定ユニットと、前記測定ユニットを制御する制御部と、を備えた自動分析装置において、
前記サンプルディスクと、前記試薬ディスクとは、当該2つ以上の測定ユニットにおいて共通に使用され、
当該2つ以上の測定ユニットの操作のフローを示すワークフローエリアと、それぞれの測定ユニットの使用可否状況を表示するオーバービューエリアを表示する表示部を備え、
前記オーバービューエリアは、外部からの入力情報に基づいて、前記それぞれの測定ユニットの使用要否を選択可能なユニット使用要否選択部を有し、
前記制御部は、
前記ユニット使用要否選択部において、当該2つ以上の測定ユニットのうちの少なくとも1つの測定ユニットの使用が選択されなかった場合には、
当該使用が選択されなかった測定ユニットについての測定準備に関する操作情報を、前記ワークフローエリアの表示に反映しないように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。 - 検体を収容する検体容器を保持するサンプルディスクと、試薬を収容する試薬容器を保持する試薬ディスクと、それぞれが異なる種類の分析を行う少なくとも2つ以上の異なる測定ユニットと、前記測定ユニットを制御する制御部と、を備えた自動分析装置において、
前記サンプルディスクと、前記試薬ディスクとは、当該2つ以上の測定ユニットにおいて共通に使用され、
当該2つ以上の測定ユニットの操作のフローを示すワークフローエリアと、それぞれの測定ユニットの使用可否状況を表示するオーバービューエリアを表示する表示部を備え、
前記オーバービューエリアは、外部からの入力情報に基づいて、前記それぞれの測定ユニットの使用要否を選択可能なユニット使用要否選択部を有し、
前記制御部は、
前記ユニット使用要否選択部において、当該2つ以上の測定ユニットのうちの少なくとも1つの測定ユニットの使用が選択された場合には、
当該使用が選択された測定ユニットについての測定準備に関する操作情報のみを、前記ワークフローエリアの表示に反映するように前記表示部を制御することを特徴とする自動分析装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017042328 | 2017-03-07 | ||
JP2017042328 | 2017-03-07 | ||
PCT/JP2018/005244 WO2018163745A1 (ja) | 2017-03-07 | 2018-02-15 | 自動分析装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020079085A Division JP6873295B2 (ja) | 2017-03-07 | 2020-04-28 | 自動分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2018163745A1 JPWO2018163745A1 (ja) | 2019-11-14 |
JP6700645B2 true JP6700645B2 (ja) | 2020-05-27 |
Family
ID=63448574
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019504417A Active JP6700645B2 (ja) | 2017-03-07 | 2018-02-15 | 自動分析装置 |
JP2020079085A Active JP6873295B2 (ja) | 2017-03-07 | 2020-04-28 | 自動分析装置 |
JP2021071026A Active JP7068527B2 (ja) | 2017-03-07 | 2021-04-20 | 自動分析装置 |
JP2022074668A Active JP7315749B2 (ja) | 2017-03-07 | 2022-04-28 | 自動分析装置 |
Family Applications After (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020079085A Active JP6873295B2 (ja) | 2017-03-07 | 2020-04-28 | 自動分析装置 |
JP2021071026A Active JP7068527B2 (ja) | 2017-03-07 | 2021-04-20 | 自動分析装置 |
JP2022074668A Active JP7315749B2 (ja) | 2017-03-07 | 2022-04-28 | 自動分析装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US11156625B2 (ja) |
EP (2) | EP4246148A3 (ja) |
JP (4) | JP6700645B2 (ja) |
CN (2) | CN111579806A (ja) |
WO (1) | WO2018163745A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113039438A (zh) * | 2018-12-06 | 2021-06-25 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
US20220147038A1 (en) * | 2019-04-24 | 2022-05-12 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analysis device and maintenance guide method in automatic analysis device |
WO2021026374A1 (en) * | 2019-08-06 | 2021-02-11 | Leica Biosystems Imaging, Inc. | Graphical user interface for slide-scanner control |
JP7395392B2 (ja) * | 2020-03-13 | 2023-12-11 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置及び分析方法 |
CN114527041A (zh) * | 2020-10-30 | 2022-05-24 | 深圳市瑞图生物技术有限公司 | 一种显示控制方法及装置、精子质量分析系统和存储介质 |
WO2023190216A1 (ja) * | 2022-03-31 | 2023-10-05 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
CN114660310B (zh) * | 2022-05-24 | 2022-10-28 | 深圳市帝迈生物技术有限公司 | 样本分析系统的自动定标方法 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1038889A (ja) * | 1996-07-22 | 1998-02-13 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
JP4217237B2 (ja) | 1997-04-10 | 2009-01-28 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置およびその支援システム |
DE69837230T2 (de) | 1997-04-10 | 2007-12-20 | Hitachi, Ltd. | Automatische Analysevorrichtung |
JP2000227434A (ja) | 1999-02-04 | 2000-08-15 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
JP2001013151A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Mitsubishi Chemicals Corp | 血液の検査装置 |
JP3990945B2 (ja) * | 2002-06-28 | 2007-10-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP3990944B2 (ja) | 2002-06-28 | 2007-10-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
WO2004086841A1 (ja) | 2003-03-24 | 2004-10-07 | Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. | 部品実装システム用メンテナンス作業支援システムおよびそれを含む部品実装システム |
JP4241434B2 (ja) * | 2004-03-01 | 2009-03-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析システム |
CA2603209A1 (en) | 2005-04-01 | 2006-10-12 | Mitsubishi Kagaku Iatron, Inc. | Biosample multiple autoanalyzer, method of autoanalysis and reaction cuvette |
JP4619892B2 (ja) * | 2005-08-04 | 2011-01-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
WO2007086140A1 (ja) * | 2006-01-30 | 2007-08-02 | Shimadzu Corporation | 分析装置稼働状況表示システム |
JP4851267B2 (ja) | 2006-08-18 | 2012-01-11 | シスメックス株式会社 | 試料分析装置 |
JP4926812B2 (ja) * | 2007-02-01 | 2012-05-09 | シスメックス株式会社 | 血球分析装置および体液分析方法 |
JP4866808B2 (ja) * | 2007-07-31 | 2012-02-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP5203141B2 (ja) * | 2008-10-31 | 2013-06-05 | シスメックス株式会社 | 検体分析装置、検体分析装置における試薬情報の表示方法およびコンピュータプログラム |
JP5500861B2 (ja) * | 2009-04-20 | 2014-05-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP5753792B2 (ja) * | 2009-12-03 | 2015-07-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JP5606875B2 (ja) * | 2010-10-29 | 2014-10-15 | シスメックス株式会社 | 検体処理装置及びコンピュータプログラム |
JP5535047B2 (ja) | 2010-11-18 | 2014-07-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
WO2012120755A1 (ja) | 2011-03-04 | 2012-09-13 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 分析装置 |
CN103998939B (zh) * | 2011-12-22 | 2016-05-11 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
JP5939833B2 (ja) * | 2012-02-24 | 2016-06-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
CN208705339U (zh) * | 2015-08-27 | 2019-04-05 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
CN109416319B (zh) * | 2016-07-19 | 2021-07-13 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置及自动分析方法 |
US11340243B2 (en) * | 2017-03-14 | 2022-05-24 | Hitachi High-Tech Corporation | Automated analysis system |
-
2018
- 2018-02-15 CN CN202010543349.5A patent/CN111579806A/zh active Pending
- 2018-02-15 JP JP2019504417A patent/JP6700645B2/ja active Active
- 2018-02-15 US US16/479,687 patent/US11156625B2/en active Active
- 2018-02-15 CN CN201880014466.3A patent/CN110366683B/zh active Active
- 2018-02-15 EP EP23183471.4A patent/EP4246148A3/en active Pending
- 2018-02-15 EP EP18763403.5A patent/EP3594688B1/en active Active
- 2018-02-15 WO PCT/JP2018/005244 patent/WO2018163745A1/ja unknown
-
2020
- 2020-04-28 JP JP2020079085A patent/JP6873295B2/ja active Active
-
2021
- 2021-04-20 JP JP2021071026A patent/JP7068527B2/ja active Active
- 2021-09-22 US US17/481,427 patent/US11747355B2/en active Active
-
2022
- 2022-04-28 JP JP2022074668A patent/JP7315749B2/ja active Active
-
2023
- 2023-07-14 US US18/221,980 patent/US20230408537A1/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7315749B2 (ja) | 2023-07-26 |
EP3594688A1 (en) | 2020-01-15 |
US20220003794A1 (en) | 2022-01-06 |
US11747355B2 (en) | 2023-09-05 |
US11156625B2 (en) | 2021-10-26 |
JP6873295B2 (ja) | 2021-05-19 |
EP4246148A2 (en) | 2023-09-20 |
US20200241024A1 (en) | 2020-07-30 |
EP3594688A4 (en) | 2020-12-23 |
US20230408537A1 (en) | 2023-12-21 |
EP4246148A3 (en) | 2023-12-06 |
EP3594688B1 (en) | 2023-08-16 |
JP7068527B2 (ja) | 2022-05-16 |
JPWO2018163745A1 (ja) | 2019-11-14 |
JP2022093567A (ja) | 2022-06-23 |
CN110366683B (zh) | 2020-06-23 |
CN110366683A (zh) | 2019-10-22 |
CN111579806A (zh) | 2020-08-25 |
WO2018163745A1 (ja) | 2018-09-13 |
JP2020160072A (ja) | 2020-10-01 |
JP2021105619A (ja) | 2021-07-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6700645B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP6653375B2 (ja) | 自動分析装置 | |
US20220074959A1 (en) | Automatic analyzer | |
JP3990944B2 (ja) | 自動分析装置 | |
WO2015186446A1 (ja) | 自動分析装置 | |
CN110892270B (zh) | 自动分析装置 | |
JP5264851B2 (ja) | 自動分析装置及び試薬管理方法 | |
JP7219760B2 (ja) | 自動分析装置 | |
US20220011330A1 (en) | Automated Analysis Device, and Analysis Method | |
WO2019021645A1 (ja) | 自動分析装置および画像処理方法 | |
JP6965440B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP7329596B2 (ja) | 自動分析装置 | |
JP2010223735A (ja) | 自動分析装置および分析システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190718 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190718 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200128 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200310 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200331 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200428 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6700645 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |