JP5939833B2 - 自動分析装置 - Google Patents

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Description

本発明は、血液や尿などの試料の定性・定量分析を行う自動分析装置に関する。
自動分析装置では、様々な方法により血液や尿などの試料（以下、検体と称する）の定性・定量分析を行っており、例えば、検体と試薬の混合反応液における透過光量、或いは、光散乱光量を測定することにより、検体の定性・定量分析を行うものが知られている。
このような自動分析装置として、例えば、特許文献１（特開２００９−２００５９号公報）には、試料と試薬を反応分析させる反応容器を透過する光束の吸光度の増加変動に伴い増大する反応容器ブランク値を、分析項目毎に異なるブランク基準値を定めた複数の判定基準と比べて、反応容器の測定への使用可否判定を行う技術が開示されている。
特開２００９−２００５９号広報
しかしながら、検体の定性・定量分析を行う自動分析装置の分析精度には、反応容器以外にも種々の要因が関係しており、上記従来技術のように反応容器の使用可否判定を行うのみでは、分析精度を十分に保つことが困難であった。
本発明は上記に鑑みてなされたものであり、分析精度の低下を抑制することができる自動分析装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、測定対象試料と試薬との混合液を収容して反応槽に配置される反応容器に前記反応槽に設けられた多波長光投光窓を介して多波長光を照射する多波長光源と、前記反応容器及び収容物を透過する透過光量を前記反応槽に設けられた透過光受光窓を介して検出する透過光量検出手段とを備えた透過光量測定部と、前記反応容器に前記反応槽に設けられた単波長光投光窓を介して単波長光を照射する単波長光源と、前記単波長光の照射により前記反応容器及び収容物から生じる光散乱光を前記反応槽に設けられた光散乱光受光窓を介して検出する光散乱光量検出手段とを備えた光散乱光量測定部と、前記透過光量検出手段の透過光量検出結果および前記光散乱光量検出手段の光散乱光量検出結果を記憶する記憶部と、予め定めた基準溶液を収容した前記反応容器に対して透過光量の検出および光散乱光量の検出を行うセルブランク測定の測定結果に基づいて、前記単波長光源、前記多波長光源、及び前記反応容器の劣化状態を判定する劣化判定処理を行う判定部と、前記劣化判定処理の対象となるセルブランク測定よりも前の予め定めた基準時に行ったセルブランク測定の結果であって前記記憶部に記憶した測定結果と、劣化判定処理の対象となるセルブランク測定での測定結果との差を演算する演算部とを備え、前記判定部は、前記演算部の演算結果に基づいて劣化判定処理を行うものとする。
本発明によれば、分析精度の低下を抑制することができる。
一実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。 コンピュータの詳細を示す機能ブロック図である。 透過光量測定部を概略的に示す拡大図である。 光散乱光量測定部を概略的に示す拡大図である。 劣化判定処理を示すフローチャートである。 劣化判定結果を示す図である。 セルチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理を示す処理フローである。 劣化判定結果を示す図である。 劣化判定結果を示す図である。 ランプチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理を示す処理フローである。 劣化判定結果を示す図である。 ＬＥＤチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理を示す処理フローである。 劣化判定結果を示す図である。
本発明の一実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
図１は、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図であり、図２は、コンピュータの詳細を示す機能ブロック図である。また、図３及び図４は、それぞれ、透過光量測定部および光散乱光量測定部を概略的に示す拡大図である。
図１において、自動分析装置は、サンプルディスク５、第１及び第２試薬ディスク１３Ａ，１３Ｂ、反応ディスク１、検体分注機構７、試薬分注機構１２Ａ，１２Ｂ、及び、コンピュータ１８を含むその他の機能部とから概略構成されている。
サンプルディスク５には、血液や尿などの分析対象試料（以下、検体と称する）が収容された複数の検体容器６が周方向に並べて配置されている。サンプルディスク５は、図示しない回転駆動機構によって周方向に回転駆動されることにより、検体容器６を所定の位置に移動させる。
第１及び第２試薬ディスク１３Ａ，１３Ｂは、それぞれ、試薬保冷庫９Ａ，９Ｂを備えており、自動分析装置における分析処理の各処理項目に用いる試薬が収容された複数の試薬ボトル１０Ａ，１０Ｂが周方向に並べて配置されている。第１及び第２試薬ディスク１３Ａ，１３Ｂは、図示しない回転駆動機構によって周方向に回転駆動されることにより、試薬ボトル１０Ａ，１０Ｂを所定の位置に移動させる。また、第１及び第２試薬ディスク１３Ａ，１３Ｂには、各試薬ボトル１０Ａ，１０Ｂに設けられた試薬識別情報を読み取る読取装置３４Ａ，３４Ｂが配置されており、読み取った試薬識別情報は、第１及び第２試薬ディスク１３Ａ，１３Ｂ上のポジション情報とともにインタフェース１９を介してコンピュータ１８に送られ、測定日時などと関連付けられてメモリ１１に記憶される。試薬識別情報は、例えば、バーコードで表されており、読取装置３４Ａ，３４Ｂはバーコード読取装置である。
反応ディスク１は、恒温維持装置４によって所定の温度に制御された恒温槽（反応槽）３を備えており、検体と試薬の混合反応液が収容される複数の反応容器（反応セル）２が周方向に並べて配置されている。反応ディスク１は、図示しない回転駆動機構によって周方向に回転駆動されることにより、反応容器２を所定の位置に移動させる。
検体分注機構７は、検体容器６に収容された検体を反応容器２に分注するものであり、試薬分注機構１２Ａ，１２Ｂは、試薬ボトル１０Ａ，１０Ｂ収容された試薬を反応容器２に分注するものである。反応容器２に分注された検体と試薬の混合反応液は、試薬分注機構１２Ａ，１２Ｂにおけるそれぞれの分注位置に設けられた攪拌機構３３Ａ，３３Ｂにより攪拌される。
サンプルディスク１および検体分注機構７の動作は、サンプル分注制御部２０によって制御される。第１及び第２試薬ディスク１３Ａ，１３Ｂ、試薬分注機構１２Ａ，１２Ｂ、攪拌機構３３Ａ，３３Ｂの動作は、試薬分注制御部２１により制御される。サンプル分注制御部２０と試薬分注制御部２１は、インタフェース１９を介して接続されたコンピュータ１９により制御される。
反応ディスク１には、反応容器２に収容された検体と試薬の混合反応液に対して透過光量検出処理（後に詳述）を行う透過光量測定部４１と、混合反応液に対して光散乱光量検出処理（後に詳述）を行う光散乱光量測定部４０とが設けられている。
図３に示すように、透過光量測定部４１は、測定対象試料（検体）と試薬との混合反応液を収容する反応容器２に多波長光を照射する多波長光源４４（例えば、ハロゲン光源）と、反応容器２及び収容物である混合反応液を透過する透過光の透過光量を検出する透過光量検出器４５とを備えている。また、透過光量測定部４１は、ベース部材４１ａと、ベース部材４１ａに固定されて多波長光源４４を配置するベースとなる光源ベース４４ａと、ベース部材４１ａに固定されて透過光量検出器４５を配置するベースとなる検出器ベース４５ａとを有している。
透過光量測定部４１において、多波長光源４４と透過光量検出器４５の間には、反応ディスク１の周方向に延在するように恒温槽３が配置されている。恒温層３における多波長光源４４と透過光量検出器４５を結ぶ直線上の位置には、多波長光源４４から反応容器２への多波長光を透過する投光窓３４４と、反応容器２から透過光量検出器４５への透過光を透過する受光窓３４５とが設けられており、恒温槽３内を反応ディスク１の周方向に駆動される反応容器２が多波長光源４４と透過光量検出器４５の間を通るときに、透過光量が検出される。透過光量検出器４５で検出された透過光量（検出結果）はＡ／Ｄ変換器１６によりディジタル変換され、インタフェース１９を介してコンピュータ１８に送られる。
図４に示すように、光散乱光量測定部４０は、測定対象試料（検体）と試薬との混合反応液を収容する反応容器２に単波長光を照射する単波長光源１４（例えば、ＬＥＤ光源：Light Emitting Diode 光源）と、単波長光の照射により反応容器２及び収容物である混合反応液から生じる光散乱光の光散乱光量を検出する光散乱光検出器１５とを備えている。また、光散乱光量測定部４０は、ベース部材４０１ａと、ベース部材４０ａに固定されて単波長光源１４を配置するベースとなる光源ベース１４ａと、ベース部材４０ａに固定されて透過光量検出器１５を配置するベースとなる検出器ベース１５ａとを有している。測定対象試料にて散乱した光の強度は、光軸を中心とする円周上に配置した２個以上の光散乱検出器１５にて測定する。実施例では、光軸上に配置した光散乱検出器１５の他、光軸を中心とする円周上に配置された４つの光散乱検出器１５が配置されている。なお、図４では、４つの光散乱検出器のうち、２つのみが示されている。４つの光散乱検出器は光軸に対して、同じ傾き角度で配置される。傾き角度は０〜３０度の範囲となるよう配置される。光散乱検出器１５と光源１４は測定対象試料を隔てて配置される。後述する劣化処理判定では、光軸上に配置した光散乱検出器１５を用いるが、必ずしもこれに限定されるものではなく、光軸を中心とする円周上に配置された光散乱検出器により劣化処理判定を行ってもよい。傾き角度が０度に近い角度の場合には、同様に劣化処理判定が可能であるためである。
光散乱光量測定部４０において、単波長光源１４と光散乱光量検出器１５の間には、反応ディスク１の周方向に延在するように恒温槽３が配置されている。恒温層３における単波長光源１４と光散乱光量検出器１５を結ぶ直線上の位置には、単波長光源１４から反応容器２への単波長光を透過する投光窓３１４と、反応容器２から光散乱光量検出器１５への光散乱光を透過する受光窓３１５とが設けられており、恒温槽３内を反応ディスク１の周方向に駆動される反応容器２が単波長光源１４と光散乱光量検出器１５の間を通るときに、光散乱光量が検出される。光散乱光量検出器１５で検出された光散乱光量（検出結果）はＡ／Ｄ変換器１６によりディジタル変換され、インタフェース１９を介してコンピュータ１８に送られる。
測定の終了した試料（混合反応液）が収容された反応容器２は洗浄位置で洗浄機構１７により洗浄処理される。
また、自動分析装置には、入力装置としてのキーボード２４、表示装置としてのＣＲＴディスプレイ２５、印刷出力装置としてのプリンタ２２、ＦＤなどの外部出力メディアに記録する記録媒体ドライブ２３、記憶装置（記憶部）としてのメモリ１１がインタフェース１９を介してコンピュータ１８を含む各機能部と接続されている。メモリ１１は、ハードディスクなどの記憶装置であり、分析結果のほか、オペレータ毎に設定されたパスワードや、画面の表示レベル、分析パラメータ、分析依頼項目内容、キャリブレーション結果などの情報が記憶されている。また、メモリ１１には、後述するセルブランク測定の結果として、過去の基準時点での測定結果や劣化判定処理の実行時の測定結果等が測定日時などと関連付けられて記憶されているほか、劣化判定処理で用いる各種閾値などの値も記憶されている。
コンピュータ１８は、自動分析装置全体の動作を制御する制御手段としての機能を有しており、さらに、透過光量検出処理や光散乱光量検出処理、及び、それぞれの検出処理に係るセルブランク測定などの測定制御を行う測定制御部１８ａと、メモリ１１に記憶された過去の基準時点のセルブランク測定の測定結果と劣化判定処理実行時のセルブランク測定の測定結果との差の演算を行う演算部１８ｂと、セルブランク測定の測定結果や、演算部１８ｂでの演算結果に基づいて、単波長光源１４や多波長光源４４、反応容器２などの劣化状態を判定する劣化判定処理を行う判定部１８ｃとを有している。
測定制御部１８ａは、オペレータによるキーボード２４等からの指令入力に基づいて、測定対象の検体に対して透過光量検出処理や光散乱光量検出処理を行うことにより、その検体の定性・定量分析を行うとともに、後述するセルブランク測定を行い、さらにセルブランク測定の結果に基づいた劣化判定処理によって自動分析装置の状態を判定する。オペレータは、劣化判定処理の結果に基づいて自動分析装置のメンテナンスを行うことにより、分析条件の低下の抑制および分析結果の信頼性の向上を図っている。
ここで、本実施の形態の自動分析装置における測定制御部による透過光量検出処理、光散乱光量検出処理、セルブランク測定、劣化判定処理、及び、劣化判定処理の結果に基づいたメンテナンスをサポートするメンテナンスサポート処理について説明する。
（１）透過光量検出処理
透過光量検出処理は、透過光量測定部４１において、多波長光源４４と透過光量検出器４５を結ぶ直線上の位置（測定位置）を反応容器２が通過する瞬間に、多波長光源４４から反応容器２を透過して透過光量検出器４５に到達する透過光量を検出する処理である。透過光量検出器４５で検出された透過光量（検出結果）はＡ／Ｄ変換器１６によりディジタル変換され、インタフェース１９を介してコンピュータ１８に送られ、測定日時などと関連付けられてメモリ（記憶部）１１に記憶される。
検体容器２に収容された検体中の定量対象の生化学成分に特異的に反応する試薬を混合して反応させると、混合反応液中の対象成分量に応じた反応が生じる。したがって、この反応液にある特定の波長を持つ光を透過させて得られる単一又は複数の波長における透過光量から、ランバート・ベール(Lambert-Beer)の法則に基づいて対象成分量を割り出すことができる。つまり、混合反応液に光を透過させた場合に反応液中の定量対象成分の濃度が高いほど透過光量が減衰することを利用し、予め用意した透過光量と定量対象成分濃度の関係式に、測定した透過光量を当てはめることで検体中の対象の生化学成分を定量する。
このような定量に用いる反応は、定量対象となる生化学成分の種類によって異なるものが用いられる。
定量対象が検体中の基質である場合には、その基質に特異的に反応する酵素を含む試薬を用いて呈色反応を生じさせ、定量対象の量に応じて呈色の度合いが増加することで透過光量が減少することを利用して、定量対象となる生化学成分（基質）の定量を行う。
定量対象が検体中の抗原である場合には、その抗原に特異的に反応する抗体を含む試薬を用いて凝集反応を生じさせ、定量対象の量に応じて凝集の度合いが増加することで透過光量が減少することを利用して、定量対象となる生化学成分（抗原）の定量を行う。また、定量対象が検体中の抗体である場合には、その抗体に特異的に反応する抗原を含む試薬を用いて凝集反応を生じさせることで定量をおこなう。なお、例えば定量対象が抗原である場合に、抗体をラテックス粒子の表面に感作（結合）させた試薬を用いると、抗原と抗体の反応に応じてラテックスが凝集するため、抗原と抗体だけの凝集塊よりも大きな凝集塊が生じ、したがって透過光量の変化が増幅され、より正確な検出結果を得ることができる。
コンピュータ１８の測定制御部１８ａは、メモリ（記憶部）１１に記憶した透過光量を用いて反応容器２に収容された混合反応液の吸光度を演算し、この吸光度を用いて定量対象となる生化学成分の定量を行う。このように、本実施の形態において、透過光量測定部４１と測定制御部１８ａとは、透過光度計（吸光光度計）としての機能を構成している。
（２）光散乱光量検出処理
光散乱光量検出処理は、光散乱光量測定部４０において、単波長光源１４と光散乱光量検出器１５を結ぶ直線上の位置（測定位置）を反応容器２が通過する瞬間に、単波長光源１４からの照射光により反応容器２及び混合反応液から生じる光散乱光量を光散乱光量検出器１５で検出する処理である。光散乱光量検出器１５で検出された光散乱光量（検出結果）はＡ／Ｄ変換器１６によりディジタル変換され、インタフェース１９を介してコンピュータ１８に送られ、測定日時などと関連付けられてメモリ（記憶部）１１に記憶される。
この光散乱光量検出処理では、透過光量検出処理と同様に、検体容器２に収容された検体中の定量対象の生化学成分に特異的に反応する試薬を混合して反応させ、その反応液中に生じた凝集塊に光が当たることで散乱される光の光散乱光量を測定し、その光散乱光量から対象成分量を算出する。
コンピュータ１８の測定制御部１８ａは、メモリ（記憶部）１１に記憶した光散乱光量を用いて反応容器２に収容された混合反応液の光散乱光度を演算し、この光散乱光度を用いて定量対象となる生化学成分の定量を行う。このように、本実施の形態において、光散乱光量測定部４０と測定制御部１８ａとは、光散乱光度計としての機能を構成している。
（３）セルブランク測定
セルブランク測定は、予め定めた基準溶液（例えば、純水）を収容した反応容器２に対して透過光量の検出（透過光量検出処理）および光散乱光量の検出（光散乱光量検出処理）を行うものである。透過光量検出処理のセルブランク測定の測定結果（透過光量）および光散乱光量検出処理の測定結果（光散乱光量）は、コンピュータ１８に送られ、測定日時などと関連付けられてメモリ（記憶部）１１に記憶される。セルブランク測定は単波長光源の光軸上に配置された光散乱検出器により測定される。
（４）劣化判定処理
劣化判定処理は、セルブランク測定の測定結果に基づいて、単波長光源１４、多波長光源４４、及び反応容器２の劣化状態を判定するものである。この劣化判定処理について図面を参照しつつ説明する。図５は、本実施の形態における劣化判定処理を示すフローチャートである。また、図６は、劣化判定結果を示す図である。
劣化の要因としては以下の事項が想定され、図５のフローチャートにより、基準値と比較することで、想定される劣化要因を特定することができる。
１．光散乱光量測定部４１および透過光量測定部４０の投光窓（３１４、３４４）または受光窓（３１５、３４５）の汚れ、もしくは何れかの測定部の投光窓（３１４、３４４）または受光窓（３１５、３４５）の汚れ
２．反応槽の汚れ
３．反応容器の汚れ
４．単波長光源１４と多波長光源４４の不良、もしくは何れかの光源の不良
なお、上記１．について、本明細書においては、便宜上、投光窓と受光窓の汚れ、と表現する場合があるが、この表現には、投光窓と受光窓の両方の他、投光窓と受光窓のいずれか一方の汚れの場合も含まれる。
オペレータによる劣化判定処理の開始指示の入力がなされ、又は、予め設定した劣化判定処理の開始時間になると、測定制御部１８ａは、セルブランク測定を行う（ステップＳ１００）。続いて、透過光量検出処理のセルブランク測定の測定結果ＣＢａ１と基準時点での測定結果ＣＢａ０との差を演算し、演算結果が予め定めた閾値ＴＨｃａよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ１１０）。さらに、光散乱光量検出処理のセルブランク測定の測定結果ＣＢｓ１と基準時点での測定結果ＣＢｓ０との差を演算し、演算結果が予め定めた閾値ＴＨｃｓよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ１１０）。ステップＳ１１０での判定結果がＹＥＳの場合は、図６の劣化判定結果に従い、セルチェックアラーム、ランプチェックアラーム、又はＬＥＤチェックアラームを発報し（ステップＳ１１１）、処理を終了する。一方、ステップＳ１１０での判定結果がＮＯの場合は、異常なしの情報を発報し（ステップＳ１２０）、処理を終了する。
透過光量測定部の投光窓または受光窓、もしくは両方の窓が汚れている場合には、透過光量が減少するため、ＣＢａ１が減少する。また、反応槽が汚れている場合、反応容器が汚れている場合、または多波長光源の不良の場合にも、ＣＢａ１が減少する。このため、ＣＢａ０−ＣＢａ１＞ＴＨｃａの条件を満たすことになる。また、同じように、散乱光量測定部の投光窓または受光窓、もしくは両方の窓が汚れている場合には、散乱光量が減少するため、ＣＢｓ１が減少する。また、反応槽が汚れている場合、反応容器が汚れている場合、または単波長光源の不良の場合にも、ＣＢｓ１が減少する。このため、ＣＢｓ０−ＣＢｓ１＞ＴＨｃｓの条件を満たすことになる。ＣＢａ０−ＣＢａ１＞ＴＨｃａの条件とＣＢｓ０−ＣＢｓ１＞ＴＨｃｓの条件の両方を満たす場合には、セルチェックアラームが発報される。
セルチェックアラームは、主に反応容器（反応セル）２に関する汚れや劣化が疑われる場合のアラームであり、以下のような場合が想定される。
１．光散乱光量測定部４０および透過光量測定部４１の投光窓３１４，３４４または受光窓３１５，３４５の汚れ
２．恒温槽（反応槽）３の汚れ
３．反応容器（反応セル）２の汚れ
４．単波長光源１４と多波長光源４４の不良
光散乱光量測定部４０および透過光量測定部４１の投光窓３１４，３４４と受光窓３１５，３４５のどちらかもしくは両方が汚れている場合には透過光量（もしくは吸光度）および光散乱光量が減少する。また、反応槽水の汚れでも同様な現象が起こる。単波長光源１４と多波長光源４５の両方が劣化し光量低下が生じる場合にも透過光量（もしくは吸光度）および光散乱光量が減少する。しかしながら単波長光源１４としてＬＥＤを用いた場合は、多波長光源４４としてハロゲン光源を用いた場合に較べて１０倍以上長寿命であるため、単波長光源１４と多波長光源４４が同時に劣化する可能性は低いと考えられる。よって、光散乱光量測定部４０および透過光量測定部４１の投光窓３１４，３４４と受光窓３１５，３４５の汚れや反応槽水の汚れが原因では無い場合には、単波長光源１４としてＬＥＤを用いた場合は長寿命であるという点から考えると、反応容器２の汚れがセルチェックアラームの原因である可能性が高い。
一方、ＣＢａ０−ＣＢａ１＞ＴＨｃａの条件とＣＢｓ０−ＣＢｓ１≦ＴＨｃｓの条件の両方を満たす場合には、ランプチェックアラームが発報される。この場合、前述の想定される異常のうち、光散乱光量測定に固有の光散乱光量測定部４０の投光窓と受光窓の汚れ、や単波長光源の不良が、想定される異常原因から除かれ、さらに透過光量測定と共通の反応槽の汚れや反応容器の汚れも、想定される異常原因から除かれる。
ランプチェックアラームは、透過光量測定部４１に関する汚れや不良が疑われる場合のアラームであり、以下のような場合が想定される。
１．透過光量測定部４１の投光窓３４４と受光窓３４５の汚れ
２．多波長光源４４の不良
また、ＣＢａ０−ＣＢａ１≦ＴＨｃａの条件とＣＢｓ０−ＣＢｓ１＞ＴＨｃｓの条件の両方を満たす場合には、ＬＥＤチェックアラームが発報される。この場合、先の説明と同様に、透過光量測定に固有の異常原因と、光散乱光量測定と共通の異常原因が、想定される異常原因から除かれる。
ＬＥＤチェックアラームは、光散乱光量測定部４０に関する汚れや不良が疑われる場合のアラームであり、以下のような場合が想定される。
１．光散乱光量測定部４０の投光窓３１４と受光窓３１５の汚れ
２．単波長光源１４の不良
（５）メンテナンスサポート処理
劣化判定処理において、何れかのチェックアラームが発報された場合の処理手順を図７〜図１３を参照しつつ説明する。
（５−１）セルチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理
図７は、セルチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理を示す処理フローである。また、図８は、劣化判定結果を示す図である。
測定制御部１８ａは、セルチェックアラームが発報されると、ＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に、光散乱光量測定部４０および透過光量測定部４１の投光窓３１４，３４４と受光窓３１５，３４５、及び恒温槽（反応槽）３の洗浄の実施をオペレータに促す表示を行う（ステップＳ２００）。続いて、洗浄が終了したかどうかをオペレータに確認し（ステップＳ２１０）、判定結果がＮＯの場合、すなわち、オペレータが洗浄を行わない旨をキーボード２４等により入力した場合は、処理を終了する。
また、ステップＳ２００の判定結果がＹＥＳの場合、すなわち、オペレータが洗浄を実施してその旨をキーボード２４等により入力した場合は、セルブランク測定を行う（ステップＳ２２０）。続いて、透過光量検出処理のセルブランク測定の測定結果ＣＢａ２と基準時点での測定結果ＣＢａ０との差を演算し、演算結果が予め定めた閾値ＴＨｃａよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ２３０）。さらに、光散乱光量検出処理のセルブランク測定の測定結果ＣＢｓ２と基準時点での測定結果ＣＢｓ０との差を演算し、演算結果が予め定めた閾値ＴＨｃｓよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ２３０）。ステップＳ２３０での判定結果がＮＯである場合は、光散乱光量測定部４０および透過光量測定部４１の投光窓３１４，３４４と受光窓３１５，３４５、若しくは、恒温槽（反応槽）３の汚れがセルチェックアラームの原因であったことをＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に表示し（ステップＳ２４１）、処理を終了する。
また、ステップＳ２３０での判定結果がＹＥＳの場合は、図８の劣化判定結果に従い、劣化原因を特定し（Ｓ２３１）、その劣化原因をＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に表示し、処理を終了する。
既に、光散乱光量測定部および透過光量測定部の投光窓と受光窓と、反応槽の洗浄が終了しているため、これらの汚れが異常原因から除かれた図８のいずれかの劣化原因を特定することができる。
さらに、ＣＢａ０−ＣＢａ２＞ＴＨｃａの条件とＣＢｓ０−ＣＢｓ２＞ＴＨｃｓの条件の両方を満たす場合には、想定される原因が、反応容器の汚れと、単波長光源と多波長光源の不良となり、いずれが原因か判別できない。そのため、この両方の条件を満たす場合には、反応容器の交換を促す表示を行い、オペレータに反応容器を交換させ、さらに再度セルブランクを測定することで、これらの原因を切り分けることができる。
ＣＢａ０−ＣＢａ２＞ＴＨｃａの条件とＣＢｓ０−ＣＢｓ２＞ＴＨｃｓの条件の両方を満たす場合には、ＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に、反応容器２の交換を促す表示を行う（ステップＳ２３２）。続いて、反応容器２の交換が終了したかどうかをオペレータに確認し（ステップＳ２５０）、判定結果がＮＯの場合、すなわち、オペレータが反応容器の交換を行わない旨をキーボード２４等により入力した場合は、処理を終了する。
また、ステップＳ２５０での判定結果がＹＥＳの場合、すなわち、オペレータが反応容器２の交換を実施してその旨をキーボード２４等により入力した場合は、セルブランク測定を行う（ステップＳ２６０）。続いて、透過光量検出処理のセルブランク測定の測定結果ＣＢａ３と基準時点での測定結果ＣＢａ０との差を演算し、測定結果が予め定めた閾値ＴＨｃａよりも大きいかどうかを判定し、さらに、光散乱光量検出処理のセルブランク測定の測定結果ＣＢｓ３と基準時点での測定結果ＣＢｓ０との差を演算し、演算結果が予め定めた閾値ＴＨｃｓよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ２７０）。
ステップＳ２７０での判定結果がＮＯの場合は、反応容器２の汚れがセルチェックアラームの原因であったことをＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に表示し（ステップＳ２８１）、処理を終了する。
また、ステップＳ２７０での判定結果がＹＥＳの場合は、図９の劣化判定結果に従い、劣化原因を特定し（Ｓ２７１）、その劣化原因をＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に表示し、処理を終了する。但し、既に図８において、多波長光源不良と単波長光源のいずれかの不良については、判別済みであるため、多波長光源と単波長光源の両方の不良の可能性が極めて高い。そのため、ステップＳ２７０については、透過光量検出処理のセルブランク測定と光散乱光量検出処理のセルブランク測定のいずれかの測定を実行すれば、反応容器２の汚れか光源側の不良かの判別は可能であるため、両方の測定に替え、いずれかの測定でも構わない。
（５−２）ランプチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理
図１０は、ランプチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理を示す処理フローである。また、図１１は、劣化判定結果を示す図である。
測定制御部１８ａは、ランプチェックアラームが発報されると、ＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に、透過光量測定部４１の投光窓３４４と受光窓３４５の洗浄の実施をオペレータに促す表示を行う（ステップＳ３００）。続いて、洗浄が終了したかどうかをオペレータに確認し（ステップＳ３１０）、判定結果がＮＯの場合、すなわち、オペレータが洗浄を行わない旨をキーボード２４等により入力した場合は、処理を終了する。
また、ステップＳ３１０での判定結果がＹＥＳの場合、すなわち、オペレータが洗浄を実施してその旨をキーボード２４等により入力した場合は、セルブランク測定を行う（ステップＳ３２０）。続いて、透過光量検出処理のセルブランク測定の測定結果ＣＢａ４と基準時点での測定結果ＣＢａ０との差を演算し、演算結果が予め定めた閾値ＴＨｃａよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ３３０）。ステップＳ３３０での判定結果がＮＯである場合は、透過光量測定部４１の投光窓３４４と受光窓３４５の汚れがランプチェックアラームの原因であったことをＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に表示し（ステップＳ３３２）、処理を終了する。
また、ステップＳ３３０での判定結果がＹＥＳの場合は、多波長光源４４の不良がランプチェックアラームの原因である可能性が高いと判定してＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５表示し（ステップＳ３３１）、処理を終了する。
（５−３）ＬＥＤチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理
図１２は、ＬＥＤチェックアラームに対応するメンテナンスサポート処理を示す処理フローである。また、図１３は、劣化判定結果を示す図である。
測定制御部１８ａは、ＬＥＤチェックアラームが発報されると、ＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に、光散乱光量測定部４０の投光窓３１４と受光窓３１５の洗浄の実施をオペレータに促す表示を行う（ステップＳ４００）。続いて、洗浄が終了したかどうかをオペレータに確認し（ステップＳ４１０）、判定結果がＮＯの場合、すなわち、オペレータが洗浄を行わない旨をキーボード２４等により入力した場合は、処理を終了する。
また、ステップＳ４１０での判定結果がＹＥＳの場合、すなわち、オペレータが洗浄を実施してその旨をキーボード２４等により入力した場合は、セルブランク測定を行う（ステップＳ４２０）。続いて、光散乱光量検出処理のセルブランク測定の測定結果ＣＢｓ５と基準時点での測定結果ＣＢｓ０との差を演算し、演算結果が予め定めた閾値ＴＨｃｓよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ４３０）。ステップＳ４３０での判定結果がＮＯである場合は、光散乱光量測定部４０の投光窓３１４と受光窓３１５の汚れがＬＥＤチェックアラームの原因であったことをＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５に表示し（ステップＳ４３２）、処理を終了する。
また、ステップＳ４３０での判定結果がＹＥＳの場合は、単波長光源１４の不良がＬＥＤチェックアラームの原因である可能性が高いと判定してＣＲＴディスプレイ（表示装置）２５表示し（ステップＳ４３１）、処理を終了する。
以上のように構成した本実施の形態の効果を説明する。
自動分析装置では、様々な方法により血液や尿などの試料（以下、検体と称する）の定性・定量分析を行っており、例えば、検体と試薬の混合反応液における透過光量、或いは、光散乱光量を測定することにより、検体の定性・定量分析を行っている。このような従来技術における自動分析装置においては、試料と試薬を反応分析させる反応容器を透過する光束の吸光度の増加変動に伴い増大する反応容器ブランク値を、分析項目毎に異なるブランク基準値を定めた複数の判定基準と比べて、反応容器の測定への使用可否判定を行っていた。しかしながら、検体の定性・定量分析を行う自動分析装置の分析精度には、反応容器以外にも種々の要因が関係しており、上記従来技術のように反応容器の使用可否判定を行うのみでは、分析精度を十分に保つことが困難であった。
これに対し、本実施の形態においては、透過光量測定部４１および光散乱光量測定部４０におけるセルブランク測定の測定結果に基づいて、単波長光源１４、多波長光源４４、及び反応容器２の劣化状態を判定するように構成したので、反応容器以外にも種々の要因を推定することができ、よって、分析精度の低下を抑制することができる。
１ 反応ディスク
２ 反応容器（反応セル）
３ 恒温槽（反応槽）
５ サンプルディスク５
７ 検体分注機構
９Ａ,９Ｂ 試薬保冷庫
１０Ａ,１０Ｂ 試薬ボトル
１１ メモリ
１２Ａ，１２Ｂ 試薬分注機構
１３Ａ 第１試薬ディスク
１３Ｂ 第２試薬ディスク
１４ 単波長光源
１４ａ 光源ベース
１５ 光散乱光量検出器
１５ａ 検出器ベース
１６ Ａ／Ｄ変換器
１８ コンピュータ
１８ａ 測定制御部
１８ｂ 演算部
１８ｃ 判定部
１９ インタフェース
２０ サンプル分注制御部
２１ 試薬分注制御部
２２ プリンタ
２３ 記録媒体ドライブ
２４ キーボード
２５ ＣＲＴディスプレイ
３３Ａ,３３Ｂ 攪拌機構
３４Ａ,３４Ｂ 読取装置
４０ 光散乱光量測定部
４０ａ ベース部材
４１ 透過光量測定部
４１ａ ベース部材
４４ 多波長光源
４４ａ 光源ベース
４５ 透過光量検出器
４５a 検出器ベース
３１４，３１５ 投光窓
３４４，３４５ 受光窓

Claims (4)

  1. 測定対象試料と試薬との混合液を収容して反応槽に配置される反応容器に前記反応槽に設けられた多波長光投光窓を介して多波長光を照射する多波長光源と、前記反応容器及び収容物を透過する透過光量を前記反応槽に設けられた透過光受光窓を介して検出する透過光量検出手段とを備えた透過光量測定部と、
    前記反応容器に前記反応槽に設けられた単波長光投光窓を介して単波長光を照射する単波長光源と、前記単波長光の照射により前記反応容器及び収容物から生じる光散乱光を前記反応槽に設けられた光散乱光受光窓を介して検出する光散乱光量検出手段とを備えた光散乱光量測定部と、
    前記透過光量検出手段の透過光量検出結果および前記光散乱光量検出手段の光散乱光量検出結果を記憶する記憶部と、
    予め定めた基準溶液を収容した前記反応容器に対して透過光量の検出および光散乱光量の検出を行うセルブランク測定の測定結果に基づいて、前記単波長光源、前記多波長光源、及び前記反応容器の劣化状態を判定する劣化判定処理を行う判定部と、
    前記劣化判定処理の対象となるセルブランク測定よりも前の予め定めた基準時に行ったセルブランク測定の結果であって前記記憶部に記憶した測定結果と、劣化判定処理の対象となるセルブランク測定での測定結果との差を演算する演算部とを備え、
    前記判定部は、前記演算部の演算結果に基づいて劣化判定処理を行うことを特徴とする自動分析装置。
  2. 請求項１記載の自動分析装置において、
    前記判定部は、前記劣化判定処理において前記透過光量測定部に関する前記演算結果が予め定めた閾値よりも大きく、かつ、前記光散乱光量測定部に関する前記演算結果が予め定めた閾値よりも大きい場合には、前記反応容器の劣化が疑われると判定し、前記反応容器に関する異常の発生をオペレータに報知するセルチェックアラームを発信してオペレータによる前記多波長光投光窓、前記透過光受光窓、前記単波長光投光窓、及び前記光散乱光受光窓の洗浄を促し、
    前記洗浄の後に実施したセルブランク測定での測定結果と、前記劣化判定処理の対象となるセルブランク測定よりも前の予め定めた基準時に行ったセルブランク測定の結果であって前記記憶部に記憶した測定結果との差に基づいて、前記単波長光源、前記多波長光源、及び前記反応容器の劣化状態をさらに判定するメンテナンスサポート処理を実施することを特徴とする自動分析装置。
  3. 請求項１記載の自動分析装置において、
    前記判定部は、前記劣化判定処理において前記透過光量測定部に関する前記演算結果が予め定めた閾値以下であり、かつ、前記光散乱光量測定部に関する前記演算結果が予め定めた閾値よりも大きい場合には、前記単波長光源の劣化が疑われると判定し、前記単波長光源に関する異常の発生をオペレータに報知する単波長光源チェックアラームを発信してオペレータによる前記単波長光投光窓および前記光散乱光受光窓の洗浄を促し、
    前記洗浄の後に実施したセルブランク測定での測定結果と、前記劣化判定処理の対象となるセルブランク測定よりも前の予め定めた基準時に行ったセルブランク測定の結果であって前記記憶部に記憶した測定結果との差に基づいて、前記単波長光源の劣化状態をさらに判定するメンテナンスサポート処理を実施することを特徴とする自動分析装置。
  4. 請求項１記載の自動分析装置において、
    前記判定部は、前記劣化判定処理において前記透過光量測定部に関する前記演算結果が予め定めた閾値よりも小さく、かつ、前記光散乱光量測定部に関する前記演算結果が予め定めた閾値以下の場合には、前記多波長光源の劣化が疑われると判定し、前記多波長光源に関する異常の発生をオペレータに報知する多波長光源チェックアラームを発信してオペレータによる前記多波長光投光窓および前記透過光受光窓の洗浄を促し、
    前記洗浄の後に実施したセルブランク測定での測定結果と、前記劣化判定処理の対象となるセルブランク測定よりも前の予め定めた基準時に行ったセルブランク測定の結果であって前記記憶部に記憶した測定結果との差に基づいて、前記多波長光源の劣化状態をさらに判定するメンテナンスサポート処理を実施することを特徴とする自動分析装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6249729B2 (ja) * 2013-11-15 2017-12-20 キヤノン株式会社 光学的測定装置、記録装置、処理方法およびプログラム
JP6503261B2 (ja) * 2015-08-05 2019-04-17 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
WO2017117011A1 (en) * 2015-12-31 2017-07-06 Gen-Probe Incorporated Systems and methods for analyzing a sample and for monitoring the performance of an optical signal detector
JP6658091B2 (ja) * 2016-02-29 2020-03-04 株式会社島津製作所 分析測定装置システム
US10900909B2 (en) 2016-05-31 2021-01-26 Indian Institute Of Technology, Guwahati Transmittance based system/kit for point-of-care quantification of biomarkers sample and use thereof
US10753870B2 (en) * 2016-09-14 2020-08-25 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analysis apparatus including a reaction container holding part having a surface that reflects light emitted from a light source
US11156625B2 (en) * 2017-03-07 2021-10-26 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analysis device
CN107389575A (zh) * 2017-08-01 2017-11-24 华南农业大学 一种试剂变质自动检测方法及系统
EP3734288B1 (en) * 2017-12-26 2023-11-08 Hitachi High-Tech Corporation Automated analyzer and automated analysis method
US10255780B1 (en) * 2018-05-29 2019-04-09 David Wittenberg System and method for detecting and mapping progression of a fire event
IT201800010364A1 (it) * 2018-11-15 2020-05-15 Chemitec S R L Metodo e sistema per l’analisi spettrofotometrica di un campione

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1582434A (en) * 1976-05-13 1981-01-07 Secr Social Service Brit Analytical apparatus and methods incorporating cuvette cleaning and cleanliness testing
JPS57119240A (en) * 1981-01-19 1982-07-24 Toshiba Corp Turbidity measuring device
JP2001091518A (ja) * 1999-09-20 2001-04-06 Hitachi Ltd 自動分析装置
DE19948587A1 (de) * 1999-10-08 2001-04-12 Dade Behring Marburg Gmbh Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit
JP2002296284A (ja) * 2001-04-02 2002-10-09 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2004251802A (ja) * 2003-02-21 2004-09-09 Toshiba Corp 自動分析装置
JP2009020059A (ja) 2007-07-13 2009-01-29 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置、および自動分析装置の分析方法
JP2009031202A (ja) * 2007-07-30 2009-02-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
ATE545014T1 (de) * 2009-04-30 2012-02-15 Hoffmann La Roche Verfahren zur detektion von verunreinigungen einer optischen messküvette
JP5379044B2 (ja) * 2010-02-25 2013-12-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US20130302212A1 (en) * 2011-01-21 2013-11-14 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer

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