JP6693144B2 - 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 - Google Patents
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Description
本発明の第1の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図1に、製造工程を図2A〜図2Bに示す。図1の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図1の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図1の(c)は線A−Bでの断面図である。図2A〜図2Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線A−Bでの断面図である。
本発明の第2の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図3に、製造工程を図4A〜図4Bに示す。図3の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図3の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図3の(c)は線C−Dでの断面図である。図4A〜図4Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線C−Dでの断面図である。
本発明の第3の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図5に、製造工程を図6A〜図6Bに示す。図5の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図5の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図5の(c)は線E−Fでの断面図である。図6A〜図6Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線E−Fでの断面図である。
本発明の第4の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図7に、製造工程を図8A〜図8Bに示す。図7の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図7の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図7の(c)は線G−Hでの断面図である。図8A〜図8Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線G−Hでの断面図である。
本発明の第5の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図9に、製造工程を図10A〜図10Bに示す。図9の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図9の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図9の(c)は線I−Jでの断面図である。図10A〜図10Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線I−Jでの断面図である。
本発明の実施例1について、図1、図2A〜図2Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図2Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図2Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することによってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図2Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図2Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図1の(a)の状態である。
本発明の実施例2について、図3、図4A〜図4Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図4Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図4Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することによってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図4Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図4Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図3の(a)の状態である。
本発明の参考例3について、図5、図6A〜図6Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図6Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図6Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することによってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図6Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図6Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図5の(a)の状態である。
本発明の参考例4について、図7、図8A〜図8Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図8Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図8Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することによってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図8Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図8Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図7、(a)の状態である。
本発明の参考例5について、図9、図10A〜図10Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図10Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図10Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することに
よってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図10Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図10Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図9の(a)の状態である。
2 ゲート電極
2L ゲート電極(左)
2R ゲート電極(右)
2’ ゲート配線
2’L ゲート配線(左)
2’R ゲート配線(右)
3 ゲート絶縁膜
4 ソース電極
4L ソース電極(左)
4R ソース電極(右)
4’ ソース配線
5 ドレイン電極
5L ドレイン電極(左)
5R ドレイン電極(右)
6 半導体層
6’ 保護層
7 画素電極
7L 画素電極(左)
7R 画素電極(右)
8 層間絶縁膜
8H 層間絶縁膜の開口
9 上部画素電極
10 キャパシタ電極
10L キャパシタ電極(左)
10R キャパシタ電極(右)
10’ キャパシタ配線
Claims (9)
- 行方向に延びた複数のゲート配線と、列方向に延びた複数のソース配線との、交点近傍に形成された半導体層を有する複数の薄膜トランジスタと、前記薄膜トランジスタのそれぞれに接続された画素電極とを含む薄膜トランジスタアレイであって、
1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタは、2本の前記ゲート配線の各々と1本の前記ソース配線に接続して形成され、
前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルは、平面視において一対の前記画素電極間に形成され、
前記半導体層は、前記一対の薄膜トランジスタで共有するように形成され、かつ、前記半導体層は複数行に渡って同一の列に位置する他の前記一対の薄膜トランジスタとも共有するように形成され、
前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視において、チャネル幅が行方向に延伸する第1のチャネルおよび第3のチャネルと、チャネル幅が列方向に延伸する第2のチャネルとからなるコの字形状であり、
前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルの前記第2のチャネルが、平面視において列方向の同一線上に並ぶ、薄膜トランジスタアレイ。 - 前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視において前記ソース配線を挟んでそれぞれ配置されている、請求項1に記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 前記一対の薄膜トランジスタごとに、1本のキャパシタ配線を有し、各前記画素電極との間で蓄積容量を成す、請求項1または2に記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 前記1本のキャパシタ配線が、前記一対の薄膜トランジスタごとの、前記隣接する2本のゲート配線の間に配置されている、請求項3に記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルの領域の列方向の寸法が1行のピッチの半分未満であり、各チャネルが列方向に並んでいる、請求項1〜4のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 前記半導体層が、平面視において所定幅のストライプ形状であり、かつ、列方向の同一線上に並んだ前記チャネルの一部が、平面視において前記半導体層の中央に位置する、請求項1〜5のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 基板上に、1行当り2本の前記ゲート配線と、各々の前記ゲート配線に接続されたゲート電極とを有し、
その上にゲート絶縁膜を有し、
その上に2列当り1本の前記ソース配線と、前記ソース配線に接続された1行当り2個のソース電極と、各々の前記ソース電極からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極と、各々の前記ドレイン電極に接続された前記画素電極とを有し、
その上に2列当り1本の前記半導体層を有し、
その上に各前記画素電極上に開口を有する層間絶縁膜を有し、
その上に前記開口を介して各前記画素電極に接続された上部画素電極を有する、請求項1〜6のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタアレイ。 - 基板上に、1行当り2本のゲート配線と、各々の前記ゲート配線に接続されたゲート電極とを形成する工程と、
その上にゲート絶縁膜を形成する工程と、
その上に2列当り1本のソース配線と、前記ソース配線に接続された1行当り2個のソース電極と、各々の前記ソース電極からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極と、各々の前記ドレイン電極に接続された画素電極とを形成する工程と、
その上に2列当り1本の半導体層を形成する工程と、
その上に各前記画素電極上に開口を有する層間絶縁膜を形成する工程と、
その上に前記開口を介して各前記画素電極に接続された上部画素電極を形成する工程とを含み、
前記ソース配線と、前記ソース電極と、前記ドレイン電極と、前記画素電極とを形成する工程において、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視において、チャネル幅が行方向に延伸する第1のチャネルおよび第3のチャネルと、チャネル幅が列方向に延伸する第2のチャネルとからなるコの字形状に形成され、かつ、前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルの前記第2のチャネルが、平面視において列方向の同一線上に並んで形成される、薄膜トランジスタアレイの製造方法。 - 前記1行当り2本のゲート配線と、各々の前記ゲート配線に接続されたゲート電極とを形成する工程において、1行当り1本のキャパシタ配線と、前記キャパシタ配線に接続された2個のキャパシタ電極を同時に形成する、請求項8に記載の薄膜トランジスタアレイの製造方法。
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