JP6693144B2 - 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 - Google Patents

薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法に関し、特に、反射型ディスプレイ用途に適した薄膜トランジスタアレイに係る。
半導体自体を基板としたトランジスタや集積回路技術を基礎として、ガラス基板上にアモルファスシリコン(a-Si)やポリシリコン(poly-Si)の薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:TFT)アレイが製造され、液晶ディスプレイや電気泳動ディスプレイなどに応用されている。TFTとしては、例えば図11のようなものが用いられている。行方向に延びた複数のゲート配線と、列方向に延びた複数のソース配線の、交点近傍に形成された複数の薄膜トランジスタを有する薄膜トランジスタアレイであって、1行ごとに1本のゲート配線2’を有し、1列ごとに1本のソース配線4’を有する。ここでTFTはスイッチの役割を果たしており、ゲート配線2’に与えられた選択電圧によってTFTをオンにした時に、ソース配線4’に与えられた信号電圧をドレイン5に接続された画素電極7に書き込む。書き込まれた電圧は、画素電極7/ゲート絶縁膜3/キャパシタ電極10によって構成される蓄積キャパシタに保持される。キャパシタ電極10にはキャパシタ配線10’から電圧が印加される。
上部画素電極9は、層間絶縁膜8の開口8Hを介して画素電極7に接続され、画素電極7と同電位になっている。この薄膜トランジスタアレイと、透明な対向電極を有する別基板との間に液晶や電気泳動体のような表示媒体を挟むことにより、上部画素電極9と対向電極の間の表示媒体の状態を制御し、画像を表示できる。
ここで、TFTアレイの場合、ソースおよびドレインの働きは書き込む電圧の極性によって変わるため、動作の特徴でソースおよびドレインの名称を決められない。そこで、便宜的に一方をソース、他方をドレインと、呼び方を統一しておく。本発明では、配線に接続されている方をソース、画素電極に接続されている方をドレインと呼ぶ。
近年、有機半導体を印刷して薄膜トランジスタアレイを作れるようになっている(特許文献1)。印刷を用いることで、高温プロセスが不要となりフレキシブル基板を用いたフレキシブルな薄膜トランジスタアレイを実現できる。また、薄膜トランジスタアレイを安価に作製できる。
特許第5521270号公報
図11のように薄膜トランジスタでは、半導体層6がソース電極4およびドレイン電極5に接触し、かつソース電極4とドレイン電極5との間をつなぎ、このソース電極4とドレイン電極5との間をつなぐ部分はゲート絶縁膜3を介してゲート電極2と重なるように形成されている。ゲート電極2の電位で、半導体層6のうちソース電極4とドレイン電極5との間の部分(チャネル)を流れる電流を制御できる。半導体層6が、ゲート電極2と重ならない位置でソース電極4とドレイン電極5との間をつなぐことがないよう、高精細パターニングが必要である。半導体層6を真空成膜(蒸着またはスパッタ)し、フォトリソグラフィを用いて加工する場合、高精細パターニングは容易であった。しかし、印刷法や、金属マスクを介しての真空成膜では、フォトリソグラフィに比べて解像度が劣るため、薄膜トランジスタアレイを作製することは難しかった。
図12のように特許文献1では、半導体層6をストライプにすることができ、半導体層6を印刷で容易に形成できるようになった。しかしそれでも画素1列ごとに1本の半導体層6を形成する必要があり、画素サイズが小さい場合には高精細パターニングが必要となるため、薄膜トランジスタアレイの作製が難しかった。
本発明は、係る従来技術の状況に鑑みてなされたもので、低解像パターンであっても高精細画素に適用できる、薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法を提供することを課題とする。
上記課題を解決するための、本発明の一局面は、行方向に延びた複数のゲート配線と、列方向に延びた複数のソース配線との、交点近傍に形成された半導体層を有する複数の薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタのそれぞれに接続された画素電極とを含む薄膜トランジスタアレイであって、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタは、2本のゲート配線の各々と1本のソース配線に接続して形成され、一対の薄膜トランジスタの各チャネルは、平面視において一対の画素電極の中央部即ち2つの画素電極間に形成され、半導体層は、一対の薄膜トランジスタで共有するように形成され、かつ、半導体層は複数行に渡って同一の列に位置する他の一対の薄膜トランジスタとも共有するように形成され、一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視において、チャネル幅が行方向に延伸する第1のチャネルおよび第3のチャネルと、チャネル幅が列方向に延伸する第2のチャネルとからなるコの字形状であり、一対の薄膜トランジスタの各チャネルの第2のチャネルが、平面視において列方向の同一線上に並ぶ、薄膜トランジスタアレイである。
また、一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視においてソース配線を挟んで1個ずつ配置されていてもよい。
また、一対の薄膜トランジスタごとに、1本のキャパシタ配線を有し、各画素電極との間で蓄積容量を成してもよい。
また、1本のキャパシタ配線が、一対の薄膜トランジスタごとの、隣接する2本のゲート配線の間に配置されていてもよい。
また、一対の薄膜トランジスタの各チャネルの領域の列方向の寸法が1行のピッチの半分未満であり、各チャネルが列方向に2つ並んでいてもよい。
また、半導体層が、平面視において所定幅のストライプ形状であり、列方向の同一線上に並んだチャネルの一部が、平面視において半導体層の中央に位置してもよい。
また、基板上に、1行当り2本のゲート配線と、各々のゲート配線に接続されたゲート電極とを有し、その上にゲート絶縁膜を有し、その上に2列当り1本のソース配線と、ソース配線に接続された1行当たり2個のソース電極と、各々のソース電極からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極と、各々のドレイン電極に接続された画素電極とを有し、その上に2列当り1本の半導体層を有し、その上に各画素電極上に開口を有する層間絶縁膜を有し、その上に前記開口を介して画素電極に接続された上部画素電極を有してもよい。
本発明の他の局面は、基板上に、1行当り2本のゲート配線と、各々のゲート配線に接続されたゲート電極とを形成する工程と、その上にゲート絶縁膜を形成する工程と、その上に2列当り1本のソース配線と、ソース配線に接続された1行当たり2個のソース電極と、各々のソース電極からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極と、各々のドレイン電極に接続された画素電極とを形成する工程と、その上に2列当り1本の半導体層を形成する工程と、その上に各画素電極上に開口を有する層間絶縁膜を形成する工程と、その上に前記開口を介して画素電極に接続された上部画素電極を形成する工程とを含み、ソース配線と、ソース電極と、ドレイン電極と、画素電極とを形成する工程において、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視において、チャネル幅が行方向に延伸する第1のチャネルおよび第3のチャネルと、チャネル幅が列方向に延伸する第2のチャネルとからなるコの字形状に形成され、かつ、一対の薄膜トランジスタの各チャネルの第2のチャネルが、平面視において列方向の同一線上に並んで形成される、薄膜トランジスタアレイの製造方法である。
また、1行当り2本のゲート配線と、各々のゲート配線に接続されたゲート電極とを形成する工程において、1行当り1本のキャパシタ配線と、キャパシタ配線に接続された2個のキャパシタ電極を同時に形成してもよい。
本発明によれば、低解像度パターンを用いても高精細の薄膜トランジスタアレイを提供できる。
本発明の第1の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを示す平面図(a):半導体まで、平面図(b):上部画素電極まで、およびA−Bの断面図(c) 第1の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 第1の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 本発明の第2の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを示す平面図(a):半導体まで、平面図(b):上部画素電極まで、およびC−Dの断面図(c) 第2の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 第2の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 本発明の第3の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを示す平面図(a):半導体まで、平面図(b):上部画素電極まで、およびE−Fの断面図(c) 第3の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 第3の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 本発明の第4の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ示す平面図(a):半導体まで、平面図(b):上部画素電極まで、およびG−Hの断面図(c) 第4の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 第4の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 本発明の第5の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ示す平面図(a):半導体まで、平面図(b):上部画素電極まで、およびI−Jの断面図(c) 第5の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 第5の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を示す平面図および断面図 従来技術に係る薄膜トランジスタアレイを示す平面図(a):半導体まで、平面図(b):上部画素電極まで、およびK−Lの断面図(c) 従来技術に係る薄膜トランジスタアレイを示す平面図(a):半導体まで、平面図(b):上部画素電極まで、およびM−Nの断面図(c)
本発明の実施の形態について、以下に図面を使用して詳細に説明する。なお、以下に使用する図面では、説明を判り易くするために縮尺は正確には描かれていない。
(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図1に、製造工程を図2A〜図2Bに示す。図1の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図1の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図1の(c)は線A−Bでの断面図である。図2A〜図2Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線A−Bでの断面図である。
図1の(a)や図2Aの(a)〜(d)に示すように、本実施形態に係る薄膜トランジスタアレイは、行方向(平面図において紙面左右方向、以下同じ)に延びた複数のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、列方向(平面図において紙面上下方向、以下同じ)に延びた複数のソース配線4’の、交点近傍にマトリクス状に配置して形成された半導体層を有する複数の薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタのそれぞれに接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する薄膜トランジスタアレイであって、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタは、2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の各々と1本のソース配線4’に接続して形成され、一対の薄膜トランジスタの各チャネルは、平面視において一対の画素電極の中央部即ち2つの画素電極間付近に配置して形成され、半導体層6は一対の薄膜トランジスタで共有するように形成され、かつ、半導体層6は複数行に渡って同一の列に位置する他の一対の薄膜トランジスタとも共有して形成される。ここでゲート配線2’はゲート電極2(2Lおよび2R)に通電するための部分、ゲート電極2はチャネルに電圧を印加する部分であり、一部が兼ねられている(図2Aの(a)の斜線部)。またソース配線4’はソース電極4(4Lおよび4R)に通電するための部分、ソース電極4はチャネルに接続する部分であり、一部が兼ねられている(図2Aの(c)の斜線部)。さらにドレイン電極5(5Lおよび5R)はチャネルに接続する部分、画素電極7(7Lおよび7R)は画素電位となる部分であり、明確に区別はできないが、便宜上図2Aの(c)では破線を境界として区別している。
また、さらに行方向に並んで配置された薄膜トランジスタは1本のキャパシタ配線10’を有し、キャパシタ配線10’に接続されたキャパシタ電極10(10Lおよび10R)は各画素電極7(7Lおよび7R)との間で蓄積容量を成している。キャパシタ配線10’は、1行2列の2画素ごとに有する2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の間に配置されている。キャパシタ配線10’はキャパシタ電極10に通電する部分、キャパシタ電極10(10Lおよび10R)は画素電極7(7Lおよび7R)との間で蓄積容量をなす部分であり、図2Aの(a)でキャパシタ電極10(10Lおよび10R)はキャパシタ配線10’を兼ねている。
図1の(a)および図2Aの(d)に示すように、各チャネルは、平面視においてソース配線4’の左右に、ソース配線4’を挟んで1個ずつ配置されており、各チャネルの領域の列方向の寸法が1行のピッチの半分未満であり、各チャネルが列方向に2つ並んでいる。チャネルが、平面視において、チャネル幅が行方向に延伸する第1のチャネルおよび第3のチャネルと、チャネル幅が列方向に延伸する第2のチャネルとからなるコの字形状であり、コの字形状のうちの列方向に延伸する縦チャネル部分(第2のチャネル)が同一線上に並んでいる。しかも、半導体層6が所定幅のストライプ形状であり、コの字形状のうちの縦チャネル部分(第2のチャネル)が、平面視において半導体層6の中央に位置する。
具体的には、図1の(c)に示すように、基板1上に、1行当り2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、各々のゲート配線2’に接続されたゲート電極2(2Lおよび2R)と、1行当り1本のキャパシタ配線10’と、そのキャパシタ配線10’に接続された2個のキャパシタ電極10(10Lおよび10R)とを有する。これらの上にゲート絶縁膜3を有し、ゲート絶縁膜3の上に2列当り1本のソース配線4’と、そのソース配線4’に接続された1行当たり2個のソース電極4(4Lおよび4R)と、各々のソース電極4からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極5(5Lおよび5R)と、各々のドレイン電極5に接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する。その上に一対の薄膜トランジスタ当り1本の半導体層6を有する。一対の薄膜トランジスタの半導体層6はつながっており、さらに半導体層6は上下の行の一対の薄膜トランジスタともつながっている。各々の半導体層6は、電気的にソース電極4によって分離され、独立したチャネルになっている。
図1の(a)の一対の薄膜トランジスタアレイでは、2つのコの字形チャネルの縦チャネル部分が、平面視において同一線上に並んでおり、それが半導体層6の中央にあることにより、半導体層6が細くなってもトランジスタとしての機能を保ち、かつアライメント余裕が大きくなる。また、キャパシタ配線10’が2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の間にあることにより、チャネル間以外の部分でキャパシタ配線10’の幅を広くすることができ、またゲート配線2’を直線的にすることができて好ましい。
そして図1の(a)の薄膜トランジスタアレイの上に、各画素電極7上に開口8Hを有する層間絶縁膜8を有し、その上に開口8Hを介して画素電極7に接続された上部画素電極9を有する(図1の(b)や図2Bの(e)〜(g))。なお、半導体層6と層間絶縁膜8との間には、半導体層6を覆う保護層6’をさらに有することが望ましいが、半導体層6が層間絶縁膜8の溶剤等から悪影響を受けない場合には保護層6’は不要である。
第1の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を図2A〜図2Bに示す。初めに、絶縁基板1上に、ゲート電極2、それに接続されたゲート配線2’、キャパシタ電極10、それに接続されたキャパシタ配線10’を形成する(図2Aの(a))。絶縁基板1としては、ガラス等の無機物や、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリイミド(PI)、ポリエーテルイミド(PEI)等の有機物を用いることができる。ゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、キャパシタ配線10’の材料としては、Ag、Cu、Au、Pt等の金属が好適であるが、カーボンやITO等を使用することもできる。真空成膜しフォトリソグラフィ+エッチングで加工してもよいし、印刷法を用いてもよい。印刷法としては、オフセット印刷、凸版印刷、凹版印刷、スクリーン印刷、インクジェット印刷等が使用可能であるが、オフセット印刷が好適であり、特に反転オフセット印刷やグラビアオフセット印刷が好適である。
次に、ゲート絶縁膜3を形成する(図2Aの(b))。ゲート絶縁膜3は、ほぼ全面に形成するが、ゲート接続部やキャパシタ接続部上には形成しない。ゲート絶縁膜3の材料としては、SiO、SiN等の無機絶縁膜や、ポリビニルフェノール、エポキシ等の有機絶縁膜を用いることができる。その形成は、スパッタや、液剤の塗布および焼成で行うことができる。あるいは、感光性樹脂をゲート絶縁膜3として使用してもよい。
さらに、ソース電極4、それに接続されたソース配線4’、ドレイン電極5、それに接続された画素電極7を形成する(図2Aの(c))。ソース電極4およびドレイン電極5は、ゲート絶縁膜3を介して、ゲート電極2と重なっている。また、画素電極7は、ゲート絶縁膜3を介して、キャパシタ電極10と重なっている。ソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、画素電極7の材料としては、Ag、Cu、Au、Pt等の金属が好適であるが、カーボンやITO等を使用することもできる。真空成膜しフォトリソグラフィ+エッチングで加工してもよいし、印刷法を用いてもよい。印刷法としては、オフセット印刷、凸版印刷、凹版印刷、スクリーン印刷、インクジェット印刷等が使用可能であるが、オフセット印刷が好適であり、特に反転オフセット印刷やグラビアオフセット印刷が好適である。
次に、ソース電極4とドレイン電極5との間を含む領域に、半導体層6を形成し(図2Aの(d))、必要なら、さらに、半導体層6を覆うように保護層6’を形成する(図2Bの(e))。半導体層6としては、シリコン半導体、酸化物半導体、有機半導体等を用いることができる。その形成は、真空成膜(CVDやスパッタ)とフォトリソグラフィやメタルマスクとの組合せ、または印刷法で行うことができるが、特に印刷またはマスク成膜で行うと、本発明を有効に生かすことができる。印刷法としては、フレキソ印刷、スクリーン印刷等が好適である。保護層6’としては、SiOやSiN、またはフッ素系樹脂を用いることができる。その形成には、CVDやスパッタと、フォトリソグラフィやメタルマスクとの組合せ、または印刷法を用いることができる。印刷法としては、スクリーン印刷、フレキソ印刷等が好適である。
そして、画素電極7上に開口8Hを有する層間絶縁膜8を形成する(図2Bの(f))。層間絶縁膜8としては、エポキシ、アクリル等の有機絶縁膜が好適である。層間絶縁膜8は、スクリーン印刷等の印刷法で形成できるが、感光性樹脂を用いてもよい。
さらに、上部画素電極9を形成する(図2Bの(g))。上部画素電極9は、層間絶縁膜8の開口8Hを介して、画素電極7に接続されている。上部画素電極9としては、Agインクやカーボンインク等が好適である。スクリーン印刷、グラビアオフセット印刷等の印刷法で形成できる。
なお、ソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成する工程と、半導体層6を形成する工程の順序は、逆でもよい。
(第2の実施形態)
本発明の第2の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図3に、製造工程を図4A〜図4Bに示す。図3の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図3の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図3の(c)は線C−Dでの断面図である。図4A〜図4Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線C−Dでの断面図である。
図3の(a)や図4Aの(a)〜(d)に示すように、本実施形態に係る薄膜トランジスタアレイは、行方向に延びた複数のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、列方向に延びた複数のソース配線4’の、交点近傍にマトリクス状に配置して形成された半導体層を有する複数の薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタのそれぞれに接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する薄膜トランジスタアレイであって、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタは、2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の各々と1本のソース配線4’に接続して形成され、一対の薄膜トランジスタの各チャネルは、平面視において一対の画素電極の中央部即ち2つの画素電極間付近に配置して形成され、半導体層6は一対の薄膜トランジスタで共有するように形成され、かつ、半導体層6は複数行に渡って同一の列に位置する他の一対の薄膜トランジスタとも共有して形成される。ここでゲート配線2’はゲート電極2(2Lおよび2R)に通電するための部分、ゲート電極2はチャネルに電圧を印加する部分であり、一部が兼ねられている(図4Aの(a)の斜線部)。またソース配線4’はソース電極4(4Lおよび4R)に通電するための部分、ソース電極4はチャネルに接続する部分であり、一部が兼ねられている(図4Aの(c)の斜線部)。さらにドレイン電極5(5Lおよび5R)はチャネルに接続する部分、画素電極7(7Lおよび7R)は画素電位となる部分であり、明確に区別はできないが、便宜上図4Aの(c)では破線部を境界として区別している。
図3の(a)および図4Aの(d)に示すように、各チャネルは、平面視においてソース配線4’の左右に、ソース配線4’を挟んで1個ずつ配置されており、各チャネルの領域の列方向の寸法が1行のピッチの半分未満であり、各チャネルが列方向に2つ並んでいる。チャネルが、平面視においてコの字形状であり、コの字形状のうちの列方向に延伸する縦チャネル部分が同一線上に並んでいる。しかも、半導体層6が所定幅のストライプ形状であり、コの字形状のうちの縦チャネル部分が、平面視において半導体層6の中央に位置する。
具体的には、図3の(c)に示すように、基板1上に、1行当り2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、各々のゲート配線2’に接続されたゲート電極2(2Lおよび2R)とを有する。これらの上にゲート絶縁膜3を有し、ゲート絶縁膜3の上に2列当り1本のソース配線4’と、そのソース配線4’に接続された1行当たり2個のソース電極4(4Lおよび4R)と、各々のソース電極4からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極5(5Lおよび5R)と、各々のドレイン電極5に接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する。その上に一対の薄膜トランジスタ当り1本の半導体層6を有する。一対の薄膜トランジスタの半導体層6はつながっており、さらに半導体層6は上下の行の一対の薄膜トランジスタともつながっている。各々の半導体層6は、電気的にソース電極4によって分離され、独立したチャネルになっている。
図3の(a)の一対の薄膜トランジスタアレイでは、2つのコの字形チャネルの縦チャネル部分が、平面視おいて同一線上に並んでおり、それが半導体層6の中央にあることにより、半導体層6が細くなってもトランジスタとしての機能を保ち、かつアライメント余裕が大きくなる。
そして図3の(a)の薄膜トランジスタアレイの上に、各画素電極7上に開口8Hを有する層間絶縁膜8を有し、その上に前記開口8Hを介して画素電極7に接続された上部画素電極9を有する(図3の(b)や図4Bの(e)〜(g))。なお、半導体層6と層間絶縁膜8との間には、半導体層6を覆う保護層6’をさらに有することが望ましいが、半導体層6が層間絶縁膜8の溶剤等から悪影響を受けない場合には保護層6’は不要である。
第2の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を図4A〜図4Bに示す。キャパシタ電極10とキャパシタ配線10’を有しないこと以外は、第1の実施形態と同様なので、説明を省略する。
(第3の実施形態)
本発明の第3の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図5に、製造工程を図6A〜図6Bに示す。図5の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図5の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図5の(c)は線E−Fでの断面図である。図6A〜図6Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線E−Fでの断面図である。
図5の(a)や図6Aの(a)〜(d)に示すように、本実施形態に係る薄膜トランジスタアレイは、行方向に延びた複数のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、列方向に延びた複数のソース配線4’の、交点近傍にマトリクス状に配置して形成された半導体層を有する複数の薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタのそれぞれに接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する薄膜トランジスタアレイであって、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタは、2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の各々と1本のソース配線4’に接続して形成され、一対の薄膜トランジスタの各チャネルは、平面視において一対の画素電極の中央部即ち2つの画素電極間付近に配置して形成され、半導体層6は一対の薄膜トランジスタで共有するように形成され、かつ、半導体層6は複数行に渡って同一の列に位置する他の一対の薄膜トランジスタとも共有して形成される。ここでゲート配線2’はゲート電極2(2Lおよび2R)に通電するための部分、ゲート電極2はチャネルに電圧を印加する部分であり、一部が兼ねられている(図6Aの(a)の斜線部)。またソース配線4’はソース電極4(4Lおよび4R)に通電するための部分、ソース電極4はチャネルに接続する部分であり、一部が兼ねられている(図6Aの(c)の斜線部)。さらにドレイン電極5(5Lおよび5R)はチャネルに接続する部分、画素電極7は画素電位となる部分であり、明確に区別はできないが、便宜上図6Aの(c)では破線を境界として区別している。
また、さらに行方向に並んで配置された薄膜トランジスタは1本のキャパシタ配線10’を有し、キャパシタ配線10’に接続されたキャパシタ電極10(10Lおよび10R)は各画素電極7(7Lおよび7R)との間で蓄積容量を成している。キャパシタ配線10’は、1行2列の2画素ごとに有する2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の間に配置されている。キャパシタ配線10’はキャパシタ電極10に通電する部分、キャパシタ電極10(10Lおよび10R)は画素電極7(7Lおよび7R)との間で蓄積容量をなす部分であり、図6Aの(a)でキャパシタ電極10(10Lおよび10R)はキャパシタ配線10’を兼ねている。
図5の(a)および図6Aの(d)に示すように、各チャネルは、平面視においてソース配線4’の左右に、ソース配線4’を挟んで1個ずつ配置されており、各チャネルの領域の列方向の寸法が1行のピッチの半分未満であり、各チャネルが列方向に2つ並んでいる。チャネルが、平面視においてコの字形状であるが、コの字形状のうちの列方向に延伸する縦チャネル部分が同一線上には並んでいない。半導体層6が所定幅のストライプ形状であるが、コの字形状のうちの縦チャネル部分が、平面視において半導体層6の中央から少し外れて位置している。
具体的には、図5の(c)に示すように、基板1上に、1行当り2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、各々のゲート配線2’に接続されたゲート電極2(2Lおよび2R)と、1行当り1本のキャパシタ配線10’と、そのキャパシタ配線10’に接続された2個のキャパシタ電極10(10Lおよび10R)とを有する。これらの上にゲート絶縁膜3を有し、ゲート絶縁膜3の上に2列当り1本のソース配線4’と、そのソース配線4’に接続された1行当たり2個のソース電極4(4Lおよび4R)と、各々のソース電極4からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極5(5Lおよび5R)と、各々のドレイン電極5に接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する。その上に一対の薄膜トランジスタ当り1本の半導体層6を有する。一対の薄膜トランジスタの半導体層6はつながっており、さらに半導体層6は上下の行の一対の薄膜トランジスタともつながっている。各々の半導体層6は、電気的にソース電極4によって分離され、独立したチャネルになっている。
図5の(a)の一対の薄膜トランジスタアレイでは、2つのコの字形チャネルの縦チャネル部分が、平面視において同一線上に並んでおらず、それが半導体層6の中央から少し外れていることにより、半導体層6をあまり細くできないが、トランジスタとしての機能に問題はない。また、キャパシタ配線10’が2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の間にあることにより、チャネル間以外の部分でキャパシタ配線10’の幅を広くすることができ、またゲート配線2’を直線的にすることができて好ましい。
そして図5の(a)の薄膜トランジスタアレイの上に、各画素電極7上に開口8Hを有する層間絶縁膜8を有し、その上に開口8Hを介して画素電極7に接続された上部画素電極9を有する(図5の(b)や図6Bの(e)〜(g))。なお、半導体層6と層間絶縁膜8との間には、半導体層6を覆う保護層6’をさらに有することが望ましいが、半導体層6が層間絶縁膜8の溶剤等から悪影響を受けない場合には保護層6’は不要である。
第3の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を図6A〜図6Bに示す。電極形状が異なること以外は、第1の実施形態と同様なので、説明を省略する。
(第4の実施形態)
本発明の第4の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図7に、製造工程を図8A〜図8Bに示す。図7の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図7の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図7の(c)は線G−Hでの断面図である。図8A〜図8Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線G−Hでの断面図である。
図7の(a)や図8Aの(a)〜(d)に示すように、本実施形態に係る薄膜トランジスタアレイは、行方向に延びた複数のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、列方向に延びた複数のソース配線4’の、交点近傍にマトリクス状に配置して形成された半導体層を有する複数の薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタのそれぞれに接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する薄膜トランジスタアレイであって、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタは、2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の各々と1本のソース配線4’に接続して形成され、一対の薄膜トランジスタの各チャネルは、平面視において一対の画素電極の中央部即ち2つの画素電極間付近に配置して形成され、半導体層6は一対の薄膜トランジスタで共有するように形成され、かつ、半導体層6は複数行に渡って同一の列に位置する他の一対の薄膜トランジスタとも共有して形成される。ここでゲート配線2’はゲート電極2(2Lおよび2R)に通電するための部分、ゲート電極2はチャネルに電圧を印加する部分であり、一部が兼ねられている(図8Aの(a)の斜線部)。またソース配線4’はソース電極4(4Lおよび4R)に通電するための部分、ソース電極4はチャネルに接続する部分であり、一部が兼ねられている(図8Aの(c)の斜線部)。さらにドレイン電極5(5Lおよび5R)はチャネルに接続する部分、画素電極7(7Lおよび7R)は画素電位となる部分であり、明確に区別はできないが、便宜上図8Aの(c)では破線部を境界として区別している。
図7の(a)および図8Aの(d)に示すように、各チャネルは、平面視においてソース配線4’の左右に、ソース配線4’を挟んで1個ずつ配置されているが、各チャネルの領域の列方向の寸法が1行のピッチの半分以上であり、各チャネルが列方向に2つ並んでいない。チャネルが、平面視においてコの字形状であるが、コの字形状のうちの列方向に延伸する縦チャネル部分が同一線上に並んでいない。半導体層6が所定幅のストライプ形状であるが、コの字形状のうちの縦チャネル部分が、平面視において半導体層6の中央に位置しない。
具体的には、図7の(c)に示すように、基板1上に、1行当り2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、各々のゲート配線2’に接続されたゲート電極2(2Lおよび2R)とを有する。これらの上にゲート絶縁膜3を有し、ゲート絶縁膜3の上に2列当り1本のソース配線4’と、そのソース配線4’に接続された1行当たり2個のソース電極4(4Lおよび4R)と、各々のソース電極4からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極5(5Lおよび5R)と、各々のドレイン電極5に接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する。その上に一対の薄膜トランジスタ当り1本の半導体層6を有する。一対の薄膜トランジスタの半導体層6はつながっており、さらに半導体層6は上下の行の一対の薄膜トランジスタともつながっている。各々の半導体層6は、電気的にソース電極4によって分離され、独立したチャネルになっている。
図7の(a)の一対の薄膜トランジスタアレイでは、2つのコの字形チャネルの縦チャネル部分が、平面視において同一線上に並んでおらず、それが半導体層6の中央にないことにより、半導体層6をあまり細くできないが、トランジスタとしての機能に問題はない。
そして図7の(a)の薄膜トランジスタアレイの上に、各画素電極7上に開口8Hを有する層間絶縁膜8を有し、その上に開口8Hを介して画素電極7に接続された上部画素電極9を有する(図7の(b)や図8Bの(e)〜(g))。なお、半導体層6と層間絶縁膜8との間には、半導体層6を覆う保護層6’をさらに有することが望ましいが、半導体層6が層間絶縁膜8の溶剤等から悪影響を受けない場合には保護層6’は不要である。
第4の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を図8A〜図8Bに示す。電極形状が異なること以外は、第1の実施形態と同様なので、説明を省略する。
(第5の実施形態)
本発明の第5の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイを図9に、製造工程を図10A〜図10Bに示す。図9の(a)は薄膜トランジスタアレイの2行2列の4画素分の平面図(半導体層6形成までの途中図)、図9の(b)は1行2列の2画素分の平面図(上部画素電極9形成までの完成図)、図9の(c)は線I−Jでの断面図である。図10A〜図10Bは、各工程後の1行2列の2画素分の平面図および線I−Jでの断面図である。
図9の(a)や図10Aの(a)〜(d)に示すように、本実施形態に係る薄膜トランジスタアレイは、行方向に延びた複数のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、列方向に延びた複数のソース配線4’の、交点近傍にマトリクス状に配置して形成された半導体層を有する複数の薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタのそれぞれに接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する薄膜トランジスタアレイであって、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタは、2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の各々と1本のソース配線4’に接続して形成され、一対の薄膜トランジスタの各チャネルは、平面視において一対の画素電極の中央部即ち2つの画素電極間付近に配置して形成され、半導体層6は一対の薄膜トランジスタで共有するように形成されであり、かつ、半導体層6は複数行に渡って同一の列に位置する他の一対の薄膜トランジスタとも共有して形成される。ここでゲート配線2’はゲート電極2に通電するための部分、ゲート電極2はチャネルに電圧を印加する部分であり、一部が兼ねられている(図10Aの(a)の斜線部)。またソース配線4’はソース電極4(4Lおよび4R)に通電するための部分、ソース電極4はチャネルに接続する部分であり、一部が兼ねられている(図10Aの(c)の斜線部)。さらにドレイン電極5(5Lおよび5R)はチャネルに接続する部分、画素電極7(7Lおよび7R)は画素電位となる部分であり、明確に区別はできないが、便宜上図10Aの(c)では破線を境界として区別している。
また、さらに行方向に並んで配置された薄膜トランジスタは1本のキャパシタ配線10’を有し、キャパシタ配線10’に接続されたキャパシタ電極10(10Lおよび10R)は各画素電極7(7Lおよび7R)との間で蓄積容量を成している。キャパシタ配線10’は、前記1行2列の2画素ごとに有する2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の間に配置されている。キャパシタ配線10’はキャパシタ電極10に通電する部分、キャパシタ電極10(10Lおよび10R)は画素電極7(7Lおよび7R)との間で蓄積容量をなす部分であり、図10Aの(a)でキャパシタ電極10(10Lおよび10R)はキャパシタ配線10’を兼ねている。
図9の(a)および図10Aの(d)に示すように、各チャネルは、平面視においてソース配線4’の左右に、ソース配線4’を挟んで1個ずつ配置されており、各チャネルの領域の列方向の寸法が隣接する2本のゲート配線間の距離の半分未満であるが、各チャネルが列方向に2つ並んでいない。チャネルが、平面視においてコの字形状であるが、コの字形状のうちの列方向に延伸する縦チャネル部分が同一線上には並んでいない。半導体層6が所定幅のストライプ形状であるが、コの字形状のうちの縦チャネル部分が、平面視において半導体層6の中央から少し外れて位置している。
具体的には、図9の(c)に示すように、基板1上に、1行当り2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)と、各々のゲート配線2’に接続されたゲート電極2(2Lおよび2R)と、1行当り1本のキャパシタ配線10’と、そのキャパシタ配線10’に接続された2個のキャパシタ電極10(10Lおよび10R)とを有する。これらの上にゲート絶縁膜3を有し、ゲート絶縁膜3の上に2列当り1本のソース配線4’と、そのソース配線4’に接続された1行当たり2個のソース電極4(4Lおよび4R)と、各々のソース電極4からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極5(5Lおよび5R)と、各々のドレイン電極5に接続された画素電極7(7Lおよび7R)とを有する。その上に一対の薄膜トランジスタ当り1本の半導体層6を有する。一対の薄膜トランジスタの半導体層6はつながっており、さらに半導体層6は上下の行の一対の薄膜トランジスタともつながっている。各々の半導体層6は、電気的にソース電極4によって分離され、独立したチャネルになっている。
図9の(a)の一対の薄膜トランジスタアレイでは、2つのコの字形チャネルの縦チャネル部分が、平面視において同一線上に並んでおらず、それが半導体層6の中央から少し外れていることにより、半導体層6をあまり細くできないが、トランジスタとしての機能に問題はない。また、キャパシタ配線10’が2本のゲート配線2’(2’Lおよび2’R)の間にあることにより、チャネル間以外の部分でキャパシタ配線10’の幅を広くすることができ、またゲート配線2’を直線的にすることができて好ましい。
そして図9の(a)の薄膜トランジスタアレイの上に、各画素電極7上に開口8Hを有する層間絶縁膜8を有し、その上に開口8Hを介して画素電極7に接続された上部画素電極9を有する(図9の(b)や図10Bの(e)〜(g))。なお、半導体層6と層間絶縁膜8との間には、半導体層6を覆う保護層6’をさらに有することが望ましいが、半導体層6が層間絶縁膜8の溶剤等から悪影響を受けない場合には保護層6’は不要である。
第5の実施形態に係る薄膜トランジスタアレイの製造工程を図10A〜図10Bに示す。電極形状が異なること以外は、第1の実施形態と同様なので、説明を省略する。
本発明によれば、画素2列ごとに1本の低解像度の半導体層を用いても高精細の薄膜トランジスタアレイを提供できる。画素ピッチが200μm以下の場合や、さらには画素ピッチが150μm以下の場合に、本発明は特に有用である。一方、画素ピッチが85μm未満では、人間の目で別の点として認識することができず、高精細化する意味が薄れる。
また、ソース配線数が半分になることで、必要なソースドライバの数を半分に減らすことができる。ただし、ゲート配線数が倍になり、必要なゲートドライバの数は倍になる。また本発明の基本単位である横2画素の画像データを、縦2画素に並べ替えた駆動を行う必要がある。
(実施例1)
本発明の実施例1について、図1、図2A〜図2Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図2Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図2Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することによってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図2Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図2Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図1の(a)の状態である。
次に、フッ素化樹脂をスクリーン印刷、100℃焼成することにより、保護層6’を形成した(図2Bの(e))。保護層6’は、100μm幅、254μmピッチとした。そして、感光性アクリル樹脂を2μmスピンコートした後、露光および現像によって層間絶縁膜8を形成した(図2Bの(f))。さらに、銀インクをグラビアオフセット印刷、焼成して上部画素電極9を形成(図2Bの(g))することにより、図1の(b)、(c)の薄膜トランジスタアレイを作製した。
こうして作製した薄膜トランジスタアレイと、透明電極を有するPET基板との間に電気泳動体を挟むことにより、高精細の反射型電気泳動ディスプレイが得られた。
(実施例2)
本発明の実施例2について、図3、図4A〜図4Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図4Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図4Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することによってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図4Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図4Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図3の(a)の状態である。
次に、フッ素化樹脂をスクリーン印刷、100℃焼成することにより、保護層6’を形成した(図4Bの(e))。保護層6’は、100μm幅、254μmピッチとした。そして、感光性アクリル樹脂を2μmスピンコートした後、露光および現像によって層間絶縁膜8を形成した(図4Bの(f))。さらに、銀インクをグラビアオフセット印刷、焼成して上部画素電極9を形成(図4Bの(g))することにより、図3の(b)、(c)の薄膜トランジスタアレイを作製した。
こうして作製した薄膜トランジスタアレイと、透明電極を有するPET基板との間にポリマー分散液晶を挟むことにより、高精細の反射型液晶ディスプレイが得られた。
参考例3)
本発明の参考例3について、図5、図6A〜図6Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図6Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図6Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することによってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図6Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図6Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図5の(a)の状態である。
次に、フッ素化樹脂をスクリーン印刷、100℃焼成することにより、保護層6’を形成した(図6Bの(e))。保護層6’は、100μm幅、254μmピッチとした。そして、感光性アクリル樹脂を2μmスピンコートした後、露光および現像によって層間絶縁膜8を形成した(図6Bの(f))。さらに、銀インクをグラビアオフセット印刷、焼成して上部画素電極9を形成(図6Bの(g))することにより、図5の(b)、(c)の薄膜トランジスタアレイを作製した。
こうして作製した薄膜トランジスタアレイと、透明電極を有するPET基板との間にポリマー分散液晶を挟むことにより、高精細の反射型液晶ディスプレイが得られた。
参考例4)
本発明の参考例4について、図7、図8A〜図8Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図8Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図8Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することによってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図8Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図8Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図7、(a)の状態である。
次に、フッ素化樹脂をスクリーン印刷、100℃焼成することにより、保護層6’を形成した(図8Bの(e))。保護層6’は、100μm幅、254μmピッチとした。そして、感光性アクリル樹脂を2μmスピンコートした後、露光および現像によって層間絶縁膜8を形成した(図8Bの(f))。さらに、銀インクをグラビアオフセット印刷、焼成して上部画素電極9を形成(図8Bの(g))することにより、図7の(b)、(c)の薄膜トランジスタアレイを作製した。
こうして作製した薄膜トランジスタアレイと、透明電極を有するPET基板との間にポリマー分散液晶を挟むことにより、高精細の反射型液晶ディスプレイが得られた。
参考例5)
本発明の参考例5について、図9、図10A〜図10Bを用いて説明する。1画素のサイズは127μm角である。まず初めに、絶縁基板1であるPEN上に、蒸着によってAlを50nm成膜し、フォトリソおよびウェットエッチによってゲート電極2、ゲート配線2’、キャパシタ電極10、およびキャパシタ配線10’を形成した(図10Aの(a))。次に、アクリル樹脂をダイコートした後、焼成によって1μm厚のゲート絶縁膜3を形成した(図10Aの(b))。さらに、Agインクを反転オフセット印刷することに
よってソース電極4、ソース配線4’、ドレイン電極5、および画素電極7を形成した(図10Aの(c))。そして、ポリチオフェン溶液をフレキソ印刷、100℃焼成することにより、半導体層6を形成した(図10Aの(d))。半導体層6は、60μm幅、254μmピッチとした。この段階で、薄膜トランジスタアレイは図9の(a)の状態である。
次に、フッ素化樹脂をスクリーン印刷、100℃焼成することにより、保護層6’を形成した(図10Bの(e))。保護層6’は、100μm幅、254μmピッチとした。そして、感光性アクリル樹脂を2μmスピンコートした後、露光および現像によって層間絶縁膜8を形成した(図10Bの(f))。さらに、銀インクをグラビアオフセット印刷、焼成して上部画素電極9を形成(図10Bの(g))することにより、図9の(b)、(c)の薄膜トランジスタアレイを作製した。
こうして作製した薄膜トランジスタアレイと、透明電極を有するPET基板との間に電気泳動体を挟むことにより、高精細の反射型電気泳動ディスプレイが得られた。
以上の説明から理解できるように、本発明には、以下の効果がある。画素2列ごとに1本の低解像度の半導体層を用いても高精細の薄膜トランジスタアレイを提供できる。また、ソース配線が半分になることで、必要なソースドライバの数を半分に減らすことができる。
本発明は、液晶表示装置、電子ペーパー等の薄膜トランジスタアレイに適用可能である。
1 絶縁基板
2 ゲート電極
2L ゲート電極(左)
2R ゲート電極(右)
2’ ゲート配線
2’L ゲート配線(左)
2’R ゲート配線(右)
3 ゲート絶縁膜
4 ソース電極
4L ソース電極(左)
4R ソース電極(右)
4’ ソース配線
5 ドレイン電極
5L ドレイン電極(左)
5R ドレイン電極(右)
6 半導体層
6’ 保護層
7 画素電極
7L 画素電極(左)
7R 画素電極(右)
8 層間絶縁膜
8H 層間絶縁膜の開口
9 上部画素電極
10 キャパシタ電極
10L キャパシタ電極(左)
10R キャパシタ電極(右)
10’ キャパシタ配線

Claims (9)

  1. 行方向に延びた複数のゲート配線と、列方向に延びた複数のソース配線との、交点近傍に形成された半導体層を有する複数の薄膜トランジスタと、前記薄膜トランジスタのそれぞれに接続された画素電極とを含む薄膜トランジスタアレイであって、
    1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタは、2本の前記ゲート配線の各々と1本の前記ソース配線に接続して形成され、
    前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルは、平面視において一対の前記画素電極間に形成され、
    前記半導体層は、前記一対の薄膜トランジスタで共有するように形成され、かつ、前記半導体層は複数行に渡って同一の列に位置する他の前記一対の薄膜トランジスタとも共有するように形成され
    前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視において、チャネル幅が行方向に延伸する第1のチャネルおよび第3のチャネルと、チャネル幅が列方向に延伸する第2のチャネルとからなるコの字形状であり、
    前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルの前記第2のチャネルが、平面視において列方向の同一線上に並ぶ、薄膜トランジスタアレイ。
  2. 前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視において前記ソース配線を挟んでそれぞれ配置されている、請求項1に記載の薄膜トランジスタアレイ。
  3. 前記一対の薄膜トランジスタごとに、1本のキャパシタ配線を有し、各前記画素電極との間で蓄積容量を成す、請求項1または2に記載の薄膜トランジスタアレイ。
  4. 前記1本のキャパシタ配線が、前記一対の薄膜トランジスタごとの、前記隣接する2本のゲート配線の間に配置されている、請求項3に記載の薄膜トランジスタアレイ。
  5. 前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルの領域の列方向の寸法が1行のピッチの半分未満であり、各チャネルが列方向に並んでいる、請求項1〜4のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタアレイ。
  6. 前記半導体層が、平面視において所定幅のストライプ形状であり、かつ、列方向の同一線上に並んだ前記チャネルの一部が、平面視において前記半導体層の中央に位置する、請求項1〜5のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタアレイ。
  7. 基板上に、1行当り2本の前記ゲート配線と、各々の前記ゲート配線に接続されたゲート電極とを有し、
    その上にゲート絶縁膜を有し、
    その上に2列当り1本の前記ソース配線と、前記ソース配線に接続された1行当り2個のソース電極と、各々の前記ソース電極からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極と、各々の前記ドレイン電極に接続された前記画素電極とを有し、
    その上に2列当り1本の前記半導体層を有し、
    その上に各前記画素電極上に開口を有する層間絶縁膜を有し、
    その上に前記開口を介して各前記画素電極に接続された上部画素電極を有する、請求項1〜のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタアレイ。
  8. 基板上に、1行当り2本のゲート配線と、各々の前記ゲート配線に接続されたゲート電極とを形成する工程と、
    その上にゲート絶縁膜を形成する工程と、
    その上に2列当り1本のソース配線と、前記ソース配線に接続された1行当り2個のソース電極と、各々の前記ソース電極からチャネル部を隔てて配置されたドレイン電極と、各々の前記ドレイン電極に接続された画素電極とを形成する工程と、
    その上に2列当り1本の半導体層を形成する工程と、
    その上に各前記画素電極上に開口を有する層間絶縁膜を形成する工程と、
    その上に前記開口を介して各前記画素電極に接続された上部画素電極を形成する工程とを含み、
    前記ソース配線と、前記ソース電極と、前記ドレイン電極と、前記画素電極とを形成する工程において、1行2列の2画素をなす一対の薄膜トランジスタの各チャネルが、平面視において、チャネル幅が行方向に延伸する第1のチャネルおよび第3のチャネルと、チャネル幅が列方向に延伸する第2のチャネルとからなるコの字形状に形成され、かつ、前記一対の薄膜トランジスタの各チャネルの前記第2のチャネルが、平面視において列方向の同一線上に並んで形成される、薄膜トランジスタアレイの製造方法。
  9. 前記1行当り2本のゲート配線と、各々の前記ゲート配線に接続されたゲート電極とを形成する工程において、1行当り1本のキャパシタ配線と、前記キャパシタ配線に接続された2個のキャパシタ電極を同時に形成する、請求項に記載の薄膜トランジスタアレイの製造方法。
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