JP6692556B2 - 個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための測定装置 - Google Patents

個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための測定装置 Download PDF

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Description

本発明は、発光ダイオードの明るさの損失を識別し、続いてそれを補償することを可能にする、個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための測定装置に関する。これに関連して、明るさ強度の相対的な測定が行われる。本発明はさらに、個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するために相応して設定された方法、およびこの方法を実施する制御コマンドを含むコンピュータプログラム製品に関する。
特許文献1は、フォトダイオードの経時変化プロセスを検出するための測定装置を示す。
特許文献2は、一連の機能を達成するためのLED装置におけるインテリジェント照明制御を示している。
既知の方法では、発光ダイオードの絶対的な明るさは、それらの製造後ただちに測定され、記憶される。次に、発光ダイオードにおいて予想される経時変化プロセスに関して、発光特性の変化の絶対値から始めて、複数のこの種の一連の試験から結論を導き出すことが可能であると予想される。このため、対応するパラメータが、例えばテーブルに記憶され、変更不可能な形態で最終クライアントに提供される場合が多い。
このため、発光ダイオードの発光特性を測定する色センサが利用可能であるような方法で、1つの発光ダイオードまたは複数の発光ダイオードを検証することが既に知られている。これに関連して、CCDまたはCMOS技術に基づいたセンサが知られている。これらの従来使用されている構成部品は、比較的大型であり、したがって、コンパクトな構造と相容れない。加えて、それらは、試験対象の発光ダイオードの有色の発光特性を分析するように特定の波長範囲内で複雑なやり方で測定する。したがって、絶対値を正確に測定しなければならない場合が多く、加えて、例えば赤−青−緑カラースキームRGBを使用して、特定の色スペクトルを分析しなければならない場合が多いので、従来技術は相対的に複雑な色センサを提供している。しかしながら、実際には、これには相当複雑な技術が必要である。
概して、発光ダイオードの様々な構造および装置が知られているが、これらは経時変化プロセスの影響を受けやすい。これは、例えば、発光ダイオードの動作中に熱が発生し、それが次に発光ダイオードの対応する経時変化プロセスに結びつくか、または経時変化プロセスを激化させるという事実から生じ得る。この経時変化プロセスは、発光ダイオードが全体として光度を失っていることを自身に感じさせる。このため、発光ダイオードが第1の電流強度でアドレス指定され、それよりも長い経時変化プロセスにわたって同じ電流強度で再びアドレス指定される場合であれば、結果として第1のテストランにおける方が第2のテストランにおけるよりも光度が明るくなる。
本発明は特に、重要な安全要求事項が存在する自動車分野に関するので、これは本発明の場合には特に不利である。これらの安全要求事項は、とりわけ様々なDIN規格において規定され、製造業者側で遵守されなければならない。
このため、従来技術に関連して、相当複雑な技術によってしか補償することができない経時変化プロセスが発光ダイオードに生じることは、特に不利である。特に、これに関連して、構造上特に不適当であることに加えて、技術的にさらにもっと複雑になる色センサが使用されることは不利である。このように、色センサの製造は、それ自体既に技術的に複雑である。このため、既知の方法では、当業者は、発光ダイオードの経時変化プロセスを単に受け入れるのか、または技術的に複雑なやり方でこの経時変化プロセスを補償するのか、に関する選択肢を有する。
このような状況において、最終クライアントが、たとえ数年にわたる場合であっても、常に同じ発光特性を有する1つの発光ダイオードまたは複数の発光ダイオードを得ることができるようにする方法、および対応するシステム装置を提供することが、したがって望ましい。これに関連して、発光特性の変化が技術的に単純なやり方で、とりわけ、特に確実に検出可能であることが製造業者に求められている。
米国特許出願公開第2016/0003670号明細書 米国特許出願公開第2010/0327764号明細書
本発明の目的は、個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための測定装置を提案することである。さらに、個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための対応する方法を提案し、提案されている方法を実施する制御コマンドを含むコンピュータプログラム製品を提案することが本発明の目的である。
この目的は、請求項1に記載の特徴を有する、経時変化プロセスを検出するための測定装置によって実現される。さらなる有利な実施形態が、従属請求項に記載されている。
本発明の一態様に従って経時変化プロセスを検出するための測定装置のブロック図である。 本発明のさらなる一態様に従って経時変化プロセスを検出するための方法の概略的なフローチャートである。
個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための測定装置が提供され、この測定装置は、複数の発光ダイオードと、発光ダイオードのそれぞれの個々の明るさ強度調整のために設定された制御ユニットと、設けられている少なくとも1つの発光ダイオードの明るさを測定するために設定された少なくとも1つのフォトダイオードと、を有し、制御ユニットが、各発光ダイオードの明るさ強度の相対的な変化を第1の測定および第2の時間オフセット測定に応じて検出するように設定されている。
本発明は、明るさ強度の変化を結果的にもたらす経時変化プロセスを検出すること、および補償することの両方ができるという利点を有する。この目的のために、個々の発光ダイオードが設けられるが、それらは、典型的にはRGB発光ダイオードの形態をしている。しかしながら、本発明はこれに限定されるのではなく、むしろ、任意の所望の数の監視対象の発光ダイオードに関する。このため、複数の発光ダイオードに含まれる発光ダイオードの数は、3つまたは4つの発光ダイオードが好ましい場合がある。しかしながら、さらに、様々な発光ダイオードを直列に接続すること、したがって、一連の発光ダイオード全体を監視することもまた可能である。このため、複数の発光ダイオードが3つまたは4つの発光ダイオードを備え、この数の倍数が直列の接続を介して存在し得ることが本発明の一態様である。
さらに、複数の発光ダイオードの個々の発光ダイオードをアドレス指定する制御ユニットが設けられる。典型的には、これは、特定の電流強度または電圧が個々の発光ダイオードそれぞれに印加される中で、したがって特定の明るさ強度もまた暗黙的に設定される中で行われる。冒頭で先に述べたように、発光ダイオードでは、印加される電圧がどの時点においても常にほぼ同じ明るさを生じないことは、特に不利である。このため、制御ユニットは概して、個々の発光ダイオードもまた明るさが増加するように、それらをアドレス指定することができる。したがって、発光ダイオードに経時変化プロセスが発生した場合、同じ明るさが常に生じるように、印加電圧は、この時間にわたって増加させなければならない。
このため、制御ユニットは、各発光ダイオードの個々の明るさ強度を調整するように設定される。個別に明るさ強度を調整することは、個々の発光ダイオードを個別にアドレス指定することもまた実際に可能であることに基づいている。したがって、各発光ダイオードの実際の明るさを個別に設定することもまた可能である。特定の色値が実現されるように、制御ユニットを用いて、個々の発光ダイオードの混合比を設定することがさらに可能である。したがって、例えば、赤色光発光ダイオード、緑色光発光ダイオードおよび青色光発光ダイオードは、特定の色値が設定されるように強度を設定することができる。しかしながら、このような状況において個々の発光ダイオードが光度を失った場合、これによりこの同じ混合比が乱れることになる。
本発明によれば、フォトダイオードが使用されることが特に有利である。従来技術に対して、これは特に、フォトダイオードを特に簡単な技術的方法で設けることが可能であり、また、読み出しの技術的複雑度が低いという利点を有する。従来技術では色センサがこのように使用されているが、本発明によれば、特に意外なことに、これ以外の場合には特に不利なフォトダイオードにおけるエラー公差がごくわずかであることが分かる。これは、従来の方法で測定された絶対値に依存せず、むしろ2つの測定が時間オフセットを伴って行われ、フォトダイオードを介して、2つの測定結果間の相対的差異だけが確定されることになるからである。したがって、本発明によれば、この場合、特に単純なフォトダイオードが使用可能であることが特に有利である。フォトダイオードは、色センサほど正確には測定しない場合が多く、また必ずしも実際に色スペクトルを測定するわけではないので、当業者は概してこれを推奨されない。このため、比較的費用対効果の高い測定センサを提供することができ、その測定公差が明るさ強度測定の結果に不利な影響を及ぼすことはない。したがって、フォトダイオードの形態で測定デバイスを使用することができ、確実に、かつ、低い技術的複雑度で動作させることができる。
少なくとも1つの発光ダイオードの明るさ強度を測定するために、フォトダイオードまたは少なくとも1つのフォトダイオードが、測定対象の発光ダイオードに対して光学的な照準線(optical line of sight)が可能であるように配置される。あるいは、フォトダイオードと発光ダイオードとの間に照準線が存在せず、むしろフォトダイオードを単に反射された受動光を測定するような方向に向けることもまた可能である。このような状況においては、当業者は、フォトダイオードが光源を較正することを可能にするさらなる配置について承知している。このような状況においては、フォトダイオードが発光ダイオードに物理的に近接して位置することが特に有利である。やはりこのような状況においては、本方法または提案されている測定配置は相対値のみに基づくので、公差が特に有利に許容される。したがって、フォトダイオードと発光ダイオードとの間の物理的距離を特別に画定する必要はなく、むしろ、フォトダイオードが測定の間に発光ダイオードに対して同じ位置に、または同じ距離で常に配置されていれば、有利である。
さらに、フォトダイオードを用いて、厳密に1つの発光ダイオードの明るさ強度を測定すること、あるいは、1つのフォトダイオードを用いて複数の発光ダイオードを較正することが可能である。したがって、1つまたは複数の発光ダイオードに対して、対応する発光特性または明るさ強度を較正することができるように、フォトダイオードを配置することができる。特に、フォトダイオードが広帯域で、またはマルチバンドで測定できるような方法で、フォトダイオードを構成することが可能である。したがって、単一のフォトダイオードを使用して赤色光、緑色光および青色光の任意の所望のサブセットが測定可能であることが特に有利である。これは、様々な発光ダイオードの個々のスペクトルを測定可能であるようにフォトダイオードを構成するような方法で行うことができる。したがって、単一のフォトダイオードであっても、それぞれが特有の波長を放射する任意の所望の数の、好ましくは3つまたは4つの発光ダイオードを較正するには十分である。さらに、個々の発光ダイオードごとに個々の特別なフォトダイオードを設けることもまた可能である。これに関連して、フォトダイオードは、この同じフォトダイオードが較正することになる発光ダイオードに物理的に近接させて配置することができる。
さらに、1つの発光ダイオードに対して複数のフォトダイオードを実際に設けるような方法で、フォトダイオードを冗長に配置することもまた可能である。このようにして、フォトダイオードの故障を回避することができる。さらに、個々のフォトダイオードの測定値を平均して、結果として特に信頼度の高い平均値を得ることが可能である。
経時変化プロセスの結果、少なくとも1つの発光ダイオードの明るさ強度の第1の測定、および時間オフセットの第2の測定が行われる。これは、測定間隔を常に繰り返す必要がある場合もあるが、第1の測定の開始時間に応じて、第2の測定は、所定の期間の後にのみ行ってもまたよい。このような状況においては、測定時間を静的に記憶するか、または相対的な測定間隔を決定することができ、その後に第1の測定に応じて第2の測定が行われる。発光ダイオード使用量に応じて、測定間隔、または時間オフセットを設定することがさらに可能である。したがって、特に頻繁にまたは特に長期間にわたって使用される発光ダイオードをより頻繁に較正し、このような状況において少なくとも1つの過去の測定点に関する明るさ強度の変化を決定することが有利である。したがって、本発明は、第1の測定および第2の、時間オフセット測定に決して限定されるものではなく、むしろ複数の測定を行うことができ、前の第2の、時間オフセット測定が今度は第1の測定となり、このように、さらなる第2の測定のための相対的な開始時間を形成する。したがって、任意の所望の数の時間オフセット測定が可能であり、これに関して、明るさ強度の相対的な変化を本発明に従って決定することができる。これに関連して、発光ダイオードの基礎となるアプリケーションシナリオを満たすように、任意の所望の時間オフセットを設定することが可能である。
したがって、第1の測定では、少なくとも1つの発光ダイオードの明るさ強度が測定され、第2の、時間オフセット測定では、以前に測定された1つまたは複数の発光ダイオードの第2の明るさ強度が測定される。ここから、明るさ強度の相対的な変化を決定することができる。これは、例えば、2つの明るさ強度の減算を伴う場合がある。これに関連して、本発明によれば、絶対値を基礎として得るのではなく、むしろさらなる随意の方法ステップに従って、またはさらなる随意の構造的特徴を用いて、存在する差異が補償されるように、明るさ強度の相対的な変化だけが用いられることに特に留意されたい。
したがって、本発明によれば、特に、このような状況において歪められた結果を予想することなく、絶対的明るさ強度測定の不正確さを容認することができるという利点がある。たとえフォトダイオードに欠陥があったとしても、第1の測定においても第2の測定においても同じエラーが生じることになる。したがって、明るさ強度の変化は、やはり正しく決定することができ、それに応じて、明るさ強度の変化を補償することもまた可能である。例えば、明るさ強度の相対的な変化が、光度が特定のパーセンテージ分だけ下がったことを示す場合、制御ユニットは、同じ明るさ強度が再び設定されるように、この同じパーセンテージ分だけ印加電圧を増加させることもまた可能である。これに関連して、当業者であれば、印加電圧と明るさ強度の変化との間にある線形関係がどの程度であるかを認識するであろう。したがって当業者であれば、明るさ強度の変化を補償するためには、今どの程度発光ダイオードを制御しなければならないかもまた認識するであろう。したがって、経時変化プロセスを検出および補償するための、またはそれらを修正するための対応する方法とともに、測定装置が提案されている。
本発明の1つの態様では、検出された明るさ強度の変化を実質的に補償するために、制御ユニットが設定される。これは、少なくとも人間のユーザが発光ダイオードの変化した光度特性を検出できないように、明るさ強度の変化を補償することができるという利点を有する。したがって、第2の測定の直後に、明るさ強度の変化は、個々の発光ダイオードのもとの光度が再び設定されるように補償することができる。これに関連して、明るさ強度の変化が完全に補償されることが特に好ましいが、これはひいては、技術的に非常に複雑になる可能性がある。したがって、本発明によれば、明るさ強度の変化が実質的に補償されることが特に好ましい。しかしながら、最終クライアント、例えば自動車の運転者は、何年も使用した後であっても、光度の差異、または個々の発光ダイオードの混合比の差異に気づかない。
本発明のさらなる一態様では、少なくとも1つの発光ダイオードは、第1の測定の明るさ強度が設定されるように制御される。これは、第1の測定を基準点として記憶することができ、次いで第2の、時間オフセット測定後に、もとの光度または明るさ強度を再び設定することができるという利点を有する。したがって、発光ダイオードの製造時に発生可能であったように、発光ダイオードの全ライフサイクルにわたって、常に明るさ強度値を確実に設定することができる。このような状況においては、明るさ強度測定は、印加電圧または印加電流に応じてもまた行うことができることに留意されたい。したがって、経時変化プロセスに起因する明るさ強度の変化を実際にも確定するためには、第1の測定および第2の測定で、常に同じパラメータで発光ダイオードを動作させなければならない。したがって、パルス幅変調を用いて1つまたは複数の発光ダイオードを減光することが可能である。したがって、発光ダイオードを第1の測定の間に100%で動作させた場合、第2の測定の間にもまた、発光ダイオードを100%で動作させなければならない。対照的に、発光ダイオードを第1の測定プロセスの間に50%まで減光した場合、第2の測定の間にもまた、発光ダイオードを相応して減光しなければならない。この状況において、発光ダイオードを減光するためにパルス幅変調が実行可能であることが当業者には既に知られている。
本発明のさらなる一態様では、複数の発光ダイオードおよび少なくとも1つのフォトダイオードが、ハウジング内に配置されている。これは、測定対象の発光ダイオードの明るさ強度だけが検出可能であるように、フォトダイオードを遮蔽することができるという利点を有する。したがって、本発明によれば、さらなる光源がフォトダイオードに作用し得る可能性、したがって、測定結果を歪める可能性が除外される。発光ダイオードではハウジングを常に設ける必要があり、したがって、1つまたは複数のフォトダイオードをこの既存のハウジングに導入することができるので、これは特に有利である。したがって、発光ダイオードおよびフォトダイオードは、1つの作業ステップでハウジング内に配置することができる。
本発明のさらなる一態様では、複数の発光ダイオードおよび少なくとも1つのフォトダイオードが、単一ピース内に形成されている。これは、発光ダイオードおよびフォトダイオードが互いに対して、それらを破壊せずに分離できないように配置されているという利点を有する。これは、発光ダイオードおよびフォトダイオードが共有のハウジングに配置されるような方法で、発光ダイオードおよびフォトダイオードを有するハウジングが1つのユニットを形成するように実施されることが好ましい。このような状況においては、発光ダイオードおよびフォトダイオードを互いに対して接触しているように配置することは、必ずしも必要ではない。むしろ、提案されている測定装置は、単一ピースのユニットとして提供可能であるように、ハウジング内に詰め込むことができる。
本発明のさらなる一態様では、制御ユニットは、マイクロコントローラ、有限状態機械、アナログ制御回路および/または電子部品の形態をしている。これは、複数の構造を用いて制御ユニットを製造することができ、特に、既存の制御ユニットを再利用することができるという利点を有する。これに関連して、当業者であれば、制御ユニットがさらなる構成部品、例えば、発光ダイオードドライバもまた有し得ることを認識するであろう。
本発明のさらなる一態様では、複数の発光ダイオードは、赤色発光ダイオード、緑色発光ダイオードおよび青色発光ダイオードの形態をしている。これは、既存の制御方法、特に既存の発光ダイオード装置が、やはり本発明に従って使用可能であるという利点を有する。このため、提案されている発光ダイオードを介して、任意の所望の色値、言いかえれば波長を、混合比を用いて設定することができる。したがって、既存の発光ダイオードであっても、この目的のために単にフォトダイオードさえ設ければよいように、本発明の方法で後付けすることができる。したがって、提案されている測定装置または提案されている方法は、複数の発光ダイオードおよび制御ユニットが設けられるように、既存の発光ダイオードを後付けするのにもまた適している。さらなる方法ステップにおいて、複数または1つのフォトダイオードが提供され、制御ユニットは、測定装置に関する独立請求項の特徴部分に従って適合される。
本発明のさらなる一態様では、複数の発光ダイオードは、赤色発光ダイオード、緑色発光ダイオード、青色発光ダイオードおよび白色発光ダイオードの形態をしている。これは、既存の発光ダイオードであっても再利用することができ、特に、提案されている測定装置または提案されている方法を任意の構造の発光ダイオードに適合させることができるという利点を有する。
本発明のさらなる一態様では、フォトダイオードは、広帯域であるように構成されている。これは、フォトダイオードを用いて、波長の異なる提案されている発光ダイオードのそれぞれについて明るさ強度測定を行うことができるように、複数の色スペクトルを測定することができるという利点を有する。したがって、例えば、個々のフォトダイオードを1つだけ設ければよく、その後、例えば赤、緑および青の色スペクトルを別々に測定することができるという利点もまた生じる。しかしながら、このような状況においては、CCDセンサまたはCMOSセンサの使用は省略される。むしろ、個々の発光ダイオードを別々に較正することができる個々のフォトダイオードが設けられるべきである。
本発明のさらなる一態様では、緑色発光ダイオードおよび青色発光ダイオードのそれぞれに対してフォトダイオードが設けられる。これは、自身のフォトダイオードを使用して、まさに温度の影響を特に受けやすい発光ダイオードが監視されるという利点を有する。これに関連して、意外なことに、赤色発光ダイオードは、発生する熱が緑色または青色発光ダイオードよりも少ないので、赤色発光ダイオードは他の発光ダイオードよりも経時変化プロセスの影響を受けにくいことが分かった。したがって、本発明によれば、たとえ3つまたは4つの発光ダイオードが設置されている場合でも、2つのフォトダイオードまたは3つのフォトダイオードのみを設けることが特に有利である。したがって、赤色発光ダイオードは実際に熱の発生が少ないので、常に監視されない状態を維持することができ、したがって、対応するフォトダイオードを省略することができる。ひいては、これにより、低い技術的複雑度で追加的に製造可能な、特に強固な測定システムが得られる。さらに、提案されている測定装置を効率的に動作させることができ、これは、特に様々な測定装置が直列に接続されている場合には、有利である。
本発明のさらなる一態様では、それぞれの発光ダイオードごとに別個のフォトダイオードを設け、その明るさ強度を測定する。これは、それぞれの発光ダイオードごとに、明るさ強度の対応する変化を特に確実に測定することが可能であるという利点を有する。複数の発光ダイオードが例えば、3つの発光ダイオードを有する場合であれば、3つのフォトダイオードもまた設けられ、4つの発光ダイオードの場合には、実際4つのフォトダイオードもまた設けられる。その結果、個々の光の明るさ強度の変化を特に正確に確定することができる。
本発明のさらなる一態様では、明るさ強度の変化はユーザ入力に応じて検出される。これは、特定の色スペクトルを好むユーザが、これを例えば自分の車の内部照明として、設定することもまた可能であるという利点を有する。この色スペクトル、したがって対応する発光ダイオードの動作もまた特に頻繁に発生するので、ここでは経時変化プロセスが他の発光ダイオードにおけるよりも集中的であるか、急速である。例えば、ユーザが概して、自分の車の内部照明に赤色を選択する場合、特に赤色発光ダイオードの摩耗が増大するか、または経時変化プロセスが進行する。このため、赤色発光ダイオードについて、第1の測定および第2の測定を特に頻繁に行うことが可能である。したがって、明るさ強度の変化をより頻繁に検出し、それに応じて補償することができる。
しかしながら、特定の発光ダイオードが決してアドレス指定されないようにするユーザ入力が存在する場合、この発光ダイオードもその明るさ強度の変化を検出させ、補償させる必要はない。しかしながら、このような状況においては、自然な経時変化プロセスもまた生じ得るので、少なくとも時折、明るさ強度の変化を決定することが有利であると思われる。したがって、測定、検出および補償を実行する頻度は、発光ダイオードによって様々である。その結果、ひいては技術的複雑度が軽減される。
目的は、個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための方法によっても実現される。この方法は、複数の発光ダイオードを設けるステップと、発光ダイオードのそれぞれの明るさ強度を個別に調整するために設定された制御ユニットを設けるステップと、を有するとともに、少なくとも1つの発光ダイオードの明るさ強度を測定するために設定された少なくとも1つのフォトダイオードが設けられ、制御ユニットが各発光ダイオードの明るさ強度の相対的な変化を第1の測定および第2の、時間オフセット測定に応じて検出する。
本発明のさらなる一態様では、検出された明るさ強度の変化は、実質的に補償される。これは、明るさ強度の変化が単に検出されるだけでなく、実際に補償もされるという利点を有する。実質的にとは、明るさ強度の変化が完全に補償されるか、または少なくとも人間のユーザが色の偏差を知覚しないように補償されることを意味する。
この目的は、提案されている方法を実施するか、または提案されている測定装置を動作させる制御コマンドを含むコンピュータプログラム製品によってもまた実現される。したがって、この方法は、ソフトウェアとして、またはハードウェア内で提供することができる。
このような状況においては、提案されている測定装置が、方法ステップとしても同様に実施することが可能な構造的特徴を有することが特に有利である。さらに、提案されている方法ステップは、測定装置の構造的特徴として再現することもまた可能である。このような状況においては、コンピュータプログラム製品は、個々の方法ステップを実施したり、または測定装置を動作させたり、もしくは少なくとも個々の構成部品を動作させたりするのに適している。全体的に見て、提供されている機能は、方法ステップとして測定装置によって、このように実施することもまた可能である。
添付の図面を介してさらなる有利な実施形態をより詳細に説明する。
図1は、提案されているコンパクトな発光ダイオード装置の平面図であり、発光ダイオードLEDが左側に配置されている。この場合では、これらは、赤色R、緑色G、および青色B発光ダイオードLEDである。MLEDコントローラ、言いかえれば、制御ユニットCTRLが、右側に配置されている。さらに、各発光ダイオードに近接して、フォトダイオードFDが配置され、フォトダイオードが対応する発光ダイオードの明るさ強度を測定することができるようになっている。このような状況においては、フォトダイオードは、制御ユニットに通信可能に結合されている。制御ユニットでは、制御ユニットに提案されている測定をトリガさせ、対応する測定値を受信させるロジックが実装されている。第1の測定および第2の測定から、制御ユニットは、このように、明るさ強度の相対的な変化を決定することができる。
この図1でわかるように、必要な構成部品はすべてハウジング内に設置されている。したがって、制御ユニットおよび発光ダイオードが同じハウジング内に位置することができる。ハウジングは、部分的に不透明に構成され、透明または半透明の窓領域が設けられているように構成されている。これらの窓領域によって、ハウジングの外側から個々の発光ダイオードの設定された明るさ強度を知覚することが可能である。これは、所定の色値が設定されるように、発光ダイオードを特定の混合比でアドレス指定することで明示することができる。したがって、LEDの動作は有色光を介して明示される。特に、パッケージとしても知られているチップハウジングが、ハウジングとして適している。
このような状況においては、窓領域は通常、発光ダイオードの発生した光のうちの特定のパーセンテージが反射して、再びハウジング内に戻るように、完全には透明ではない。これに関連して、本発明によれば、フォトダイオードが単に明るさ強度の相対的な変化を決定し、したがって個々の発光ダイオードの明るさ強度測定を単に行うのではなく、むしろ、例えば、反射する窓領域までも含めた、関与するすべてのシステム構成要素を考慮に入れていることが、ひいては特に有利である。従来の方法では、このようにすれば測定結果の歪みが生じてしまう。従来技術では、絶対強度値が通常用いられるからである。このため、この場合では、ここでもまた明るさ強度の変化の相対値のみが用いられるので、ハウジングの大きさ、言いかえればハウジングの寸法が相殺される。従来の方法では、絶対測定値は、単に第1の複数の発光ダイオードのハウジングの構成が第2の複数の発光ダイオードのハウジングとは異なっているという点だけで、歪められる可能性がある。従来の方法では、静的な値だけを使用するので、これらは、窓領域およびハウジング寸法など、さらなるシステム構成要素の特定の構成に柔軟に反応しない。
本発明によれば、明るさ強度の変化が同じ条件の下で常に測定されるので、このような状況において歪みは生じない。したがって、この同じ変化もまた、確実に補償される。このように、提案されている測定装置または提案されている方法は、発光ダイオードは安全性に適し、特に自律走行中に機械ベースで読み取ることができるので、自動車用途のシナリオに特に適している。したがって、明るさ強度の偏差を検出し、補償することが無条件に必要である。このため、本発明によれば、提案されている測定方法および測定装置が、特に確実に機能し、特に、色忠実度の高い発光ダイオードを提供するか、または動作させるという利点が生じる。
図2は、個々の発光ダイオードの経時変化プロセスを検出するための方法の概略的なフローチャートであり、この方法は、複数の発光ダイオードを設けるステップ100と、発光ダイオードのそれぞれの明るさ強度を個別に調整するために設定された制御ユニットを設けるステップ101と、を有するとともに、少なくとも1つの発光ダイオードの明るさ強度を測定するために設定された少なくとも1つのフォトダイオードが提供102され、制御ユニットが各発光ダイオードの明るさ強度の相対的な変化を、第1の測定103および第2の、時間オフセット測定104に応じて検出105する。さらなる随意の方法ステップ106において、明るさ強度の変化が完全に、または少なくともほぼ完全に補償される。
本方法を実施する制御コマンドを含むか、または提案されている測定装置を動作させるコンピュータプログラム製品は、ここには示されていない。概して、本方法は、ソフトウェアとして、またはハードウェア内で提供することができる。

Claims (11)

  1. 個々の発光ダイオード(LED)の経時変化プロセスを検出するための測定装置であって、
    赤色発光ダイオード(R)、緑色発光ダイオード(G)および青色発光ダイオード(B)を備える複数の発光ダイオード(LED)と、
    前記発光ダイオード(LED)のそれぞれの明るさ強度を個別に調整するように配置された制御ユニット(CTRL)と、を備える測定装置において、
    前記赤色発光ダイオード(R)に対応しない個々の1つの発光ダイオード(LED)の明るさ強度を測定するようにそれぞれ配置され、前記赤色発光ダイオード(R)が監視可能とならないようにされる少なくとも2つのフォトダイオード(FD)が提供され、前記制御ユニット(CTRL)が、前記赤色発光ダイオード(R)を除く各発光ダイオード(LED)の明るさ強度の相対的な変化を第1の測定および第2の、時間オフセット測定に応じて検出するように設定されており、前記少なくとも2つのフォトダイオード(FD)が、前記緑色発光ダイオード(G)用の第1のフォトダイオード(FD)と、前記青色発光ダイオード(B)用の第2のフォトダイオード(FD)とを含み、前記赤色発光ダイオード(R)にはフォトダイオードが設けられていないことを特徴とする測定装置。
  2. 前記制御ユニット(CTRL)が、検出された前記明るさ強度の相対的な変化を実質的に補償するように配置されていることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
  3. 記個々の1つの発光ダイオード(LED)が、前記第1の測定の明るさ強度が設定されるように制御されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の測定装置。
  4. 前記複数の発光ダイオード(LED)および前記少なくとも2つのフォトダイオード(FD)が、ハウジング内に配置されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の測定装置。
  5. 前記複数の発光ダイオード(LED)および前記少なくとも2つのフォトダイオード(FD)が、単一ピース内に形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の測定装置。
  6. 前記制御ユニット(CTRL)が、マイクロコントローラ、有限状態機械、アナログ制御回路および/または電子部品の形態をしていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の測定装置。
  7. 前記複数の発光ダイオード(LED)が、赤色発光ダイオード(R)、緑色発光ダイオード(G)、青色発光ダイオード(B)および白色発光ダイオードの形態をしていることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の測定装置。
  8. 前記明るさ強度の相対的な変化がユーザ入力に応じて検出されることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の測定装置。
  9. 個々の発光ダイオード(LED)の経時変化プロセスを検出するための方法であって、
    赤色発光ダイオード(R)、緑色発光ダイオード(G)および青色発光ダイオード(B)を備える複数の発光ダイオード(LED)を設けるステップ(100)と、
    前記発光ダイオード(LED)のそれぞれの明るさ強度を個別に調整するように配置された制御ユニット(CTRL)を設けるステップ(101)と、を含む方法において、
    前記赤色発光ダイオード(R)に対応しない個々の1つの発光ダイオード(LED)の明るさ強度を測定するようにそれぞれ配置され、前記赤色発光ダイオード(R)が監視されないようにされる少なくとも2つのフォトダイオード(FD)が提供(102)され、前記制御ユニット(CTRL)が、前記赤色発光ダイオード(R)を除く各発光ダイオード(LED)の明るさ強度の相対的な変化を第1の測定(103)および第2の、時間オフセット測定(104)に応じて検出(105)し、前記少なくとも2つのフォトダイオード(FD)が、前記緑色発光ダイオード(G)用の第1のフォトダイオード(FD)と、前記青色発光ダイオード(B)用の第2のフォトダイオード(FD)とを含み、前記赤色発光ダイオード(R)にはフォトダイオードが設けられていないことを特徴とする方法。
  10. 出された前記明るさ強度の相対的な変化が実質的に補償(106)されることを特徴とする請求項に記載の方法。
  11. 請求項または請求項10に記載の方法を実施する制御コマンドを含むコンピュータプログラム。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016014652A1 (de) 2016-12-08 2018-06-14 Inova Semiconductors Gmbh Messanordnung zur Erfassung von Alterungsprozessen einzelner Leuchtdioden
JP7397764B2 (ja) * 2020-06-17 2023-12-13 Jr東日本ビルテック株式会社 自動点滅器の切替制御装置およびその方法

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6127783A (en) * 1998-12-18 2000-10-03 Philips Electronics North America Corp. LED luminaire with electronically adjusted color balance
US6448550B1 (en) * 2000-04-27 2002-09-10 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for measuring spectral content of LED light source and control thereof
JP2002195882A (ja) * 2000-12-27 2002-07-10 Toshiba Corp 発光体検査装置
US6507159B2 (en) * 2001-03-29 2003-01-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Controlling method and system for RGB based LED luminary
DE10239449B4 (de) * 2002-02-06 2013-10-24 Ulrich Kuipers Verfahren und Vorrichtung zur Realisierung von LED-Leuchten mit Farb- und Helligkeitseinstellung und dem dazugehörigen Bedienelement
JP4348457B2 (ja) * 2002-03-13 2009-10-21 ドルビー ラボラトリーズ ライセンシング コーポレイション 高ダイナミックレンジのディスプレイ、ディスプレイコントローラ及び画像表示方法
US6777883B2 (en) * 2002-04-10 2004-08-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Integrated LED drive electronics on silicon-on-insulator integrated circuits
US6998594B2 (en) * 2002-06-25 2006-02-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method for maintaining light characteristics from a multi-chip LED package
JP2004296841A (ja) * 2003-03-27 2004-10-21 Seiko Epson Corp 投射型表示装置、照明装置、及び表示装置用半導体光源の素子特性測定方法
JP2005140847A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Tamron Co Ltd Led光源プロジェクタ光学系及びled光源プロジェクタ
TWI245435B (en) * 2004-10-28 2005-12-11 Premier Image Technology Corp LED control apparatus and method
US7551158B2 (en) * 2005-12-13 2009-06-23 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Display device and method for providing optical feedback
JP2007317849A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Sharp Corp バックライト装置およびバックライト制御方法
EP1879169A1 (en) * 2006-07-14 2008-01-16 Barco N.V. Aging compensation for display boards comprising light emitting elements
KR20080024323A (ko) * 2006-09-13 2008-03-18 삼성전자주식회사 액정표시장치 및 액정표시장치의 구동방법
KR101283246B1 (ko) * 2006-10-25 2013-07-11 엘지이노텍 주식회사 멀티센서가 구비된 백라이트 유닛
US7315139B1 (en) * 2006-11-30 2008-01-01 Avago Technologis Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd Light source having more than three LEDs in which the color points are maintained using a three channel color sensor
DE102007018224A1 (de) * 2007-04-16 2008-10-23 Schott Ag LED-Leuchte mit stabilisiertem Lichtstrom und stabilisierter Lichtfarbe
JP5146871B2 (ja) * 2007-07-13 2013-02-20 Necディスプレイソリューションズ株式会社 照明装置及び照明装置の制御方法
RU2010150342A (ru) 2008-05-09 2012-06-20 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl) Устройство и способ управления цветовой точкой светодиодного источника света
DE102008034524B4 (de) * 2008-07-24 2019-12-05 Tridonic Gmbh & Co Kg Notlichteinheit
US8179787B2 (en) * 2009-01-27 2012-05-15 Smsc Holding S.A.R.L. Fault tolerant network utilizing bi-directional point-to-point communications links between nodes
US9509525B2 (en) * 2008-09-05 2016-11-29 Ketra, Inc. Intelligent illumination device
US8390562B2 (en) * 2009-03-24 2013-03-05 Apple Inc. Aging based white point control in backlights
JP2011037057A (ja) * 2009-08-07 2011-02-24 Toshiba Tec Corp インクジェットヘッドの製造方法
CN102549492B (zh) * 2009-09-28 2014-12-24 日本电气株式会社 光源装置以及使用该光源装置的投射型显示装置
DE102009053911A1 (de) 2009-11-19 2011-05-26 GM Global Technology Operations LLC, ( n. d. Ges. d. Staates Delaware ), Detroit Leuchtvorrichtung zur Beleuchtung eines Fahrzeug-Innenraums
JP2012004190A (ja) * 2010-06-14 2012-01-05 Toshiba Corp Led駆動装置
US9167656B2 (en) * 2012-05-04 2015-10-20 Abl Ip Holding Llc Lifetime correction for aging of LEDs in tunable-white LED lighting devices
JP6150390B2 (ja) * 2013-08-06 2017-06-21 パナソニック株式会社 Led劣化測定装置およびled点灯装置
JP6262335B2 (ja) * 2014-04-08 2018-01-17 シャープ株式会社 Led駆動回路
US9335210B2 (en) * 2014-07-01 2016-05-10 Osram Sylvania Inc. Techniques for lumen maintenance and color shift compensation
JP2016218238A (ja) * 2015-05-20 2016-12-22 三菱電機株式会社 Led表示装置および映像表示装置
DE102016014652A1 (de) 2016-12-08 2018-06-14 Inova Semiconductors Gmbh Messanordnung zur Erfassung von Alterungsprozessen einzelner Leuchtdioden

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Bergen et al. Measurement Issues with LED Signal Applications

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