KR102115711B1 - 개별 발광 다이오드에서 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치 - Google Patents

개별 발광 다이오드에서 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 발광 다이오드의 휘도(brightness)를 식별하고, 그 이후에 보상할 수 있게 하는, 개별 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치에 관한 것이다. 이러한 맥락에서, 휘도 세기의 상대적인 측정이 이뤄진다. 본 발명은 또한 개별 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 상응하는 설치 방법 및 이 방법을 구현하는 제어 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품에 관한 것이다.

Description

개별 발광 다이오드에서 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치
본 발명은 발광 다이오드의 휘도(brightness)를 식별하고, 그 이후에 보상할 수 있게 하는, 개별 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치에 관한 것이다. 이러한 맥락에서, 휘도 세기의 상대적인 측정이 이뤄진다. 본 발명은 또한 개별 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 상응하는 설치(set up) 방법 및 이 방법을 구현하는 제어 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품에 관한 것이다.
US 2016/0003670 A1은 광다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치를 보여준다.
US 2010/0327764 A1은 일련의 기능을 달성하기 위한 LED 장치의 지능형 조명 제어를 보여준다.
공지된 방법에서, 발광 다이오드의 절대 휘도는 발광 다이오드가 제조되자 마자 측정되고 저장된다. 이어서, 발광 다이오드에서 예상되는 노화 과정에 관해서, 발광 특성의 변화의 절대값으로부터 시작하여 이러한 유형의 복수의 테스트 시리즈로부터 결론을 도출할 수 있을 것으로 예상된다. 따라서, 대응하는 파라미터는 예를 들어 표에 저장되며 종종 변경불가능한 형태로 최종 고객에게 공급된다.
따라서 발광 다이오드의 발광 특성을 측정하는 컬러 센서를 사용할 수 있는 방식으로 발광 다이오드 또는 다수의 발광 다이오드를 검증하는 것이 이미 공지되어 있다. 이러한 맥락에서, CCD 또는 CMOS 기술 기반 센서가 공지되어 있다. 이 통상적으로 사용되는 부품들은 상대적으로 크기 때문에 소형 구조와 상충된다. 또한, 그들은 테스트할 발광 다이오드의 색상 발광 특성을 분석하기 위해 특정 파장 범위내에서 복잡한 방식으로 측정한다. 종래 기술은 따라서, 종종 절대값이 정확하게 측정되어야하고 게다가 특정 컬러 스펙트럼이 예를 들어 적색-청색-녹색 체계 RGB를 사용하여 분석되어야 하기 때문에, 상대적으로 복잡한 컬러 센서를 제공한다. 그러나, 이것은 실제로 상당한 기술적 복잡성을 포함한다.
일반적으로, 발광 다이오드의 상이한 구조 및 배치가 공지되어 있지만, 이들은 노화 과정을 겪게 된다. 이것은 예를 들어 발광 다이오드의 작동 도중에 열의 발달이 존재한다는 사실로부터 발생하여, 결국 발광 다이오드의 대응하는 노화 과정으로 이어지거나 심화시킨다. 이 노화 과정은 발광 다이오드가 전체적으로 광도(luminosity)를 잃어버리는 것을 감지하게 한다. 따라서, 발광 다이오드가 제1 전류 세기로 다뤄지고 긴 노화 과정에 걸쳐 동일한 전류 세기로 다시 다뤄질 경우, 이것은 제2 시운전보다 제1 시운전에서 더 밝은 광도를 초래한다.
이는 본 발명이 특히 상당한 안전 요건이 존재하는 자동차 분야와 관련되어 있기 때문에 이 경우 특히 바람직하지 않다. 이 안전 요건은 다른 것들 중에서 다양한 DIN 표준에 명시되어 있으며 제조업체에서 준수해야 한다.
따라서, 종래 기술과 관련하여, 상당한 기술적 복잡성으로만 보상될 수 있는 발광 다이오드에서 노화 과정이 발생하는 것은 특히 바람직하지 않다. 특히, 이 이 맥락에서 특히 구조에 적합하지 않고 또한 높은 기술적 복잡성을 초래하는 컬러 센서가 사용되는 것은 바람직하지 않다. 따라서, 컬러 센서 제조는 그 자체가 이미 기술적으로 복잡하다. 따라서, 공지된 방법에서, 당업자는 발광 다이오드의 노화 과정을 단순히 수용하거나 이 노화 과정을 기술적으로 복잡한 방식으로 보상할지에 대한 선택권을 갖는다.
이 맥락에서, 수년에 걸쳐 동일한 발광 특성을 일정하게 갖는 발광 다이오드 또는 다수의 발광 다이오드를 최종 소비자가 얻을 수 있게 하는 대응하는 시스템 장치 및 방법을 제공하는 것이 바람직하다. 이 맥락에서, 발광 특성의 변화가 기술적으로 단순한 방식으로 특히 신뢰할 수 있게 검출될 수 있는 것이 제조업체에 대한 요구사항이다.
따라서 본 발명의 목적은 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치를 제안하는 것이다. 또한, 본 발명의 목적은 개별 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 대응하는 방법 및 제안된 방법을 구현하는 제어 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품을 제안하는 것이다.
이 목적은 청구항 제1항의 특징구성을 갖는 노화 과정 검출용 측정 장치에 의해 달성된다. 추가 바람직한 실시예는 종속항에 개시되어 있다.
따라서, 개별 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치가 제안되는데, 다수의 발광 다이오드, 각각의 발광 다이오드의 개별 휘도 세기 조절을 위해 설치되는 제어 유닛, 제공되는 적어도 하나의 발광 다이오드의 휘도를 측정하기 위해 설치되는 적어도 하나의 광다이오드를 갖고, 제어 유닛은 제1 측정 및 제2 시간-오프셋 측정의 함수로서 각각의 발광 다이오드의 휘도 세기의 상대적인 변화를 검출하도록 설치된다.
본 발명은 휘도 세기의 변화를 초래하는 노화 과정이 검출 및 보상되는 장점을 갖는다. 이 목적을 위해, 일반적으로 RGB 발광 다이오드 형태인 개별 발광 다이오드가 제공된다. 그러나, 본 발명은 여기에 국한되지 않고, 원하는 수의 발광 다이오드가 관찰되도록(monitor) 하는 것과 관계가 있다. 따라서, 다수의 발광 다이오드에 포함되는 다수의 발광 다이오드의 수는 바람직하게는 3개 또는 4개의 발광 다이오드이다. 또한, 그러나, 이는 직렬로 연결되는 상이한 발광 다이오드에 대해서, 및 따라서 관찰될 전체 일련의 발광 다이오드에 대해서도 가능하다. 따라서 다수의 발광 다이오드가 3 또는 4개의 발광 다이오드를 포함하고 이 수의 배수가 직렬 연결에 의해 존재할 수 있다는 것이 본 발명의 양태이다.
또한 다수의 발광 다이오드의 개별 발광 다이오드를 다루는 제어 유닛이 제공된다. 전형적으로, 이는 특정 전류 세기 또는 전압이 각각의 개별 발광 다이오드에 인가되고 따라서 특정 휘도 세기가 암시적으로 설정된다는 점에서 발생한다. 전술된 바와 같이, 발광 다이오드에서, 인가된 전압은 모든 시점에서 동일한 휘도를 일정하게 유발하지는 않는다는 것이 특히 바람직하지 않다. 따라서, 제어 유닛은 일반적으로 휘도를 증가시키는 방식으로 개별 발광 다이오드를 다룰 수 있다. 따라서, 노화 과정이 발광 다이오드에서 발생할 경우, 인가된 전압은 동일한 휘도가 일정하게 발생하는 방식으로 이 시간동안 증가되어야 한다.
따라서, 제어 유닛은 각각의 발광 다이오드의 개별 휘도 세기를 조절하도록 설치된다. 개별적으로 조절하는 휘도 세기는 실제로 개별 발광 다이오드를 개별적으로 다룰 수 있다. 따라서, 제어 유닛에 의해, 특정 컬러 값이 달성되는 방식으로 개별 발광 다이오드의 혼합 비율을 설정하는 것도 가능하다. 따라서, 예를 들어 적색광 발광 다이오드, 녹색광 발광 다이오드 및 청색광 발광 다이오드는 특정 컬러 값이 설정되는 방식으로 세기가 설정될 수 있다. 그러나, 개별 발광 다이오드가 이 맥락에서 광도를 잃으면, 이는 동일한 혼합 비율의 붕괴를 초래한다.
본 발명에 따르면, 광다이오드가 사용되는 것이 특히 바람직하다. 종래 기술과 관련하여, 이는 광다이오드가 특히 단순한 방식으로 제공될 수 있고 판독의 기술적 복잡성이 낮다는 장점을 갖는다. 따라서 컬러 센서가 종래 기술에 사용되고 있지만, 본 발명에 따르면 특히 놀랍게도 광다이오드에서의 특히 다른 불리한 오차는 무시할만하다는 것이 발견되었다. 이는 종래의 방법으로 측정된 절대값에 대한 의존성이 없기 때문에, 두 측정이 시간 오프셋으로 이뤄지고, 광다이오드를 통해 단지 두 측정 사이의 상대적인 차이만 규명된다(established). 따라서, 본 발명에 따르면, 이 경우 특히 단순한 광다이오드가 사용될 수 있다는 점에서 특히 바람직하다. 광다이오드가 종종 컬러 센서보다 덜 정확하게 측정하고 컬러 스펙트럼을 반드시 실제로 측정하지도 않기 때문에 당업자는 일반적으로 이를 단념하게 된다. 따라서, 상대적으로 비용 효율이 높은 측정 센서가 제공될 수 있으며, 그 측정 공차는 휘도 세기 측정의 결과에 불리한 영향을 미치지 않는다. 따라서, 광다이오드 형태의 측정 장치가 사용될 수 있으며, 신뢰할 수 있고 낮은 기술적 복잡성으로 작동될 수 있다.
적어도 하나의 발광 다이오드의 휘도 세기 측정을 위해, 광다이오드 또는 적어도 하나의 광다이오드는 측정하고자 하는 발광 다이오드에 관해 광학 가시선(optical line of sight)이 가능하도록 배치된다. 대안적으로, 광다이오드와 발광 다이오드 사이에 가시선이 없도록 할수도 있지만, 반사된 수동 광(passive light)을 단순히 측정함으로써 광다이오드가 배양되도록 할 수도 있다. 이 맥락에서, 당업자는 광다이오드가 광원을 교정(calibrate)할 수 있도록 하는 추가 장치를 알고 있다. 이 맥락에서, 광다이오드가 발광 다이오드에 물리적으로 근접하게 배치되는 것이 특히 바람직하다. 이 맥락에서, 이 방법 또는 제안된 측정 장치는 단지 상대값을 기반으로 하기 때문에 공차(tolerance)가 특히 바람직하게 허용된다. 따라서, 광다이오드와 발광 다이오드 사이의 물리적 거리는 구체적으로 규정될 필요가 없으며, 광다이오드가 측정 중에 발광 다이오드에 대해 일정하게 동일한 위치 또는 거리에 배치될 경우가 바람직하다.
또한, 광다이오드에 의해 정확히 하나의 발광 다이오드의 휘도 세기를 측정하거나, 그렇지 않으면 하나의 광다이오드에 의해 다수의 발광 다이오드를 교정할 수 있다. 따라서, 발광 다이오드는 대응하는 발광 특성 또는 휘도 세기가 교정될 수 있는 하나 이상의 발광 다이오드에 대한 방식으로 배치될 수 있다. 특히, 광대역 또는 다중-대역 방식으로 측정할 수 있는 방식으로 광다이오드를 구성할 수 있다. 따라서, 적색, 녹색 및 청색 광의 원하는 서브세트를 단일 광다이오드를 사용하여 측정가능하다는 것이 특히 바람직하다. 이는 상이한 발광 다이오드의 개별 스팩트럼을 측정할 수 있도록 광다이오드가 구성되는 방식으로 발생할 수 있다. 따라서, 단일 광다이오드가 임의의 원하는 수의 발광 다이오드를 교정하는데 충분하더라도, 바람직하게는 3개 또는 4개이며, 각각 특정 파장을 방출한다. 또한, 각각의 개별 발광 다이오드에 대해 개별적인 특수 광다이오드를 제공하는 것도 또한 가능하다. 이 맥락에서, 광다이오드는 이 동일한 광다이오드가 교정해야 하는 발광 다이오드에 물리적으로 근접하게 배치될 수 있다.
또한, 하나의 발광 다이오드에 대해 다수의 광다이오드가 실제로 제공되는 방식으로 광다이오드를 중복되게 배치하는 것도 가능하다. 이 방식에서, 광다이오드의 고장을 피할 수 있다. 또한, 개별 광다이오드의 측정 값을 평균하여, 특히 신뢰할 수 있는 평균 값을 얻을 수 있다.
노화 과정의 결과로서, 적어도 하나의 발광 다이오드의 휘도 세기의 1차 측정 및 시간-오프셋 2차 측정이 이뤄진다. 이것은 항상 반복되는 측정 간격을 포함할 수 있지만, 2차 측정은 1차 측정의 시작 시간에 따라 사전결정된 시간 간격 이후에만 이뤄질 수 있다. 이러한 맥락에서, 측정 시간은 정적으로 저장되거나, 상대 측정 간격이 결정될 수 있고, 그 후 1차 측정의 함수로서 2차 측정이 이뤄진다. 또한 발광 다이오드 사용의 함수로서, 측정 간격, 또는 시간 오프셋을 설정하는 것이 가능하다. 이는 따라서 특히 빈번하게 사용되거나 특히 긴 시간 동안 더욱 빈번하게 교정되고, 이러한 맥락에서 적어도 하나의 과거의 측정 지점에 대해 휘도 세기의 변화가 결정되도록 하는 발광 다이오드에 대해 더욱 바람직하다. 따라서, 본 발명은 1차 측정 및 2차의, 시간-오프셋 측정에 어떤 식으로든 제한되지 않으며, 오히려 다수의 측정이 이뤄질 수 있으며, 선행하는 2차의 시간-오프셋 측정은 결국 1차 측정이 되고 다른 2차 측정에 대한 상대적 시작 시간을 형성한다. 따라서 원하는 수의 시간-오프셋 측정이 가능하며, 이에 대해 휘도 세기의 상대적 변화가 본 발명에 따라 결정될 수 있다. 이러한 맥락에서, 발광 다이오드의 기본적인 적용 시나리오를 충족시키도록 원하는 시간-오프셋을 설정하는 것이 가능하다.
따라서, 1차 측정시 적어도 하나의 발광 다이오드의 휘도 세기가 측정되고, 2차의, 시간-오프셋 측정시,앞서 측정된 발광 다이오드 또는 발광 다이오드들의 휘도 세기가 측정된다. 이로부터, 휘도 세기의 상대적 변화가 결정될 수 있다. 이는 예를 들어 두 휘도 세기의 감산을 포함할 수 있다. 이러한 맥락에서, 본 발명에 따르면, 절대값이 기본으로 취해지는 것이 아니라, 오히려 휘도 세기으 상대적인 변화만 사용되어, 이 차이가 추가의 선택적인 방법 단계에 의해 또는 추가의 선택적인 구조적 특징을 사용하여 보상된다.
따라서, 본 발명에 따르면 이러한 맥락에서 왜곡된 결과를 기대하지 않고, 절대 휘도 세기의 측정시 부정확도 수용될 수 있다는 장점이 특히 있다. 광다이오드에 흠이 있다 하더라도, 2차 측정에서와 동일한 오차가 1차 측정에서 발생할 수 있다. 따라서, 휘도 세기의 변화는 여전히 정확하게 결정될 수 있고, 따라서 휘도 세기의 변화는 또한 보상될 수 있다. 예를 들어 휘도 세기의 상대적인 변화는 광도가 특정 백분율만큼 떨어졌다는 것을 나타내는 경우, 제어 유닛은 인가된 전압을 이 동일한 백분율만큼 증가시킬 수 있으며, 이러한 방식으로 동일한 휘도 세기가 다시 설정된다. 이러한 맥락에서, 당업자는 인가된 전압과 휘도 세기 변화 사이의 선형 관계가 있는 정도를 이해할 것이다. 당업자는 휘도 세기의 변화를 보상하기 위해 발광 다이오드를 제어해야하는 정도도 이해할 것이다. 따라서, 노화 과정을 검출 및 보상하거나, 이를 수정하기 위한 대응 방법과 함께 측정 장치가 제안되고 있다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 제어 유닛은 검출된 휘도 세기의 변화를 실질적으로 보상하도록 설치된다. 이는 휘도 세기의 변화가 적어도 인간 사용자가 발광 다이오드의 어떤 변화된 광도 특성도 검출할 수 없는 방식으로 보상될 수 있다는 장점을 갖는다. 따라서, 2차 측정 직후, 휘도 세기의 변화는 개별 발광 다이오드의 원래 광도가 다시 설정되는 방식으로 보상될 수 있다. 이러한 맥락에서, 휘도 세기의 변화가 완전히 보상되는 것이 특히 바람직하지만, 이는 결국 기술적으로 매우 복잡할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따르면, 휘도 세기의 변화가 실질적으로 보상되는 것이 특히 바람직하다. 그러나, 최종 소비자, 예를 들어 자동차 운전자는 수년간 사용한 후에도 개별 발광 다이오드의 광도 또는 혼합 비율의 차이를 알아채지 못한다.
본 발명의 추가 양태에서, 적어도 하나의 발광 다이오드는 1차 측정의 휘도 세기가 설정죄는 방식으로 제어된다. 이는 1차 측정이 기준점으로서 저장될 수 있고, 이어서, 2차의 시간-오프셋 측정 이후, 원래 광도 또는 휘도 세기가 다시 설정될 수 있다는 장점을 갖는다. 따라서 발광 다이오드의 전체 수명 주기에 걸쳐, 휘도 세기 값은 발광 다이오드의 제조시 생성될 수 있기 때문에 반드시 일정하게 설정될 수 있다. 이러한 맥락에서, 휘도 세기 측정은 인가된 전압 또는 인가된 전류의 함수로서 취해질 수 있다는 것을 알아야 한다. 따라서, 발광 다이오드는 노화 과정으로 인한 휘도 세기의 변화를 실제로 확립하기 위해 1차 측정 및 2차 측정에 대한 동일한 파라미터로 일정하게 동작되어야 한다. 따라서, 펄스-폭 변조를 사용하여 발광 다이오드 또는 발광 다이오드들을 흐려지게 하는 것이 가능하다. 따라서, 발광 다이오드가 1차 측정에 대해 100%로 작동할 경우, 2차 측정에 대해서도 100%로 작동해야 한다. 대조적으로, 발광 다이오드가 1차 측정 과정에 대해 50% 흐릿해질 경우, 2차 측정에 대해서도 상응하게 흐릿해져야 한다. 발광 다이오드를 흐릿하게 하기 위한 펄스-폭 변조의 가능성은 이러한 맥락의 당업자에게 이미 공지되어 있다.
본 발명의 추가 양태에서, 다수의 발광 다이오드 및 적어도 하나의 광다이오드가 하우징안에 배치된다. 이는 측정될 발광 다이오드의 휘도 세기만 검출되는 방식으로 광 다이오드가 차폐될 수 있다는 장점을 갖는다. 따라서, 본 발명에 따르면, 광다이오드상에서 작용하고 측정 결과를 왜곡할 수 있는 추가 광 소스의 존재 가능성이 배제된다. 이는 특히 발광 다이오드에서 하우징이 항상 제공될 필요가 있고, 따라서 광다이오드 또는 광다이오드들이 이미-존재하는 하우징안에 도입될 수 있기 때문에 유리하다. 따라서, 발광 다이오드 및 광다이오드는 한 작업 단계에서 하우징 안에 배치될 수 있다.
본 발명의 추가 양태에서, 다수의 발광 다이오드 및 적어도 하나의 광다이오드가 단일 피스로 형성된다. 이는 발광 다이오드 및 광다이오드가 서로에 대해 파과되지 않고는 분리될 수 없도록 배치된다는 장점을 갖는다. 이는 바람직하게는 발광 다이오드 및 광다이오드가 공유 하우징안에 배치되고, 발광 다이오드 및 광다이오드를 갖는 하우징이 하나의 유닛(unit)을 형성하는 방식으로 구현된다. 이러한 맥락에서, 반드시 발광 다이오드 및 광다이오드가 서로 접촉하는 방식으로 배치될 필요는 없다. 오히려, 제안된 측정 장치는 단일-피스 유닛으로서 배달될 수 있는 방식으로 하우징 안에 포장될 수 있다.
본 발명의 추가 양태에서, 제어 유닛은 마이크로 컨트롤러, 유한 상태 기계(finite state machine), 아날로그 제어 회로 및/또는 전자 부품의 형태이다. 이는 제어 유닛이 다수의 구조를 사용하여 제조되고, 특히 기존의 제어 유닛이 재사용될 수 있다는 장점을 갖는다. 이러한 맥락에서, 당업자는 제어 유닛이 또한 추가 부품, 예를 들어 발광 다이오드 드라이버를 가질 수 있다는 것을 이해할 것이다.
본 발명의 추가 양태에서, 다수의 발광 다이오드는 적색 발광 다이오드, 녹색 발광 다이오드 및 청색 발광 다이오드의 형태이다. 이는 기존의 제어 방법 및 특히 기존의 발광 다이오드 장치가 여전히 본 발명에 따라 사용된다는 장점을 갖는다. 따라서, 제안된 발광 다이오드를 통해, 어떤 원하는 컬러 값, 다시 말해서 파장은 혼합 비율울 사용하여 설정될 수 있다. 따라서, 기존의 발광 다이오드조차도 단지 광다이오드가 이러한 목적으로 제공되어야 하는 방식으로 창의적인 방식으로 개조될 수 있다. 따라서, 제안된 측정 장치 또는 제안된 방법은 또한 다수의 발광 다이오드 및 제어 유닛이 제공되는 방식으로 기존의 발광 다이오드를 개조하는데 적합하다. 추가 방법 단계에서, 광다이오드 또는 광다이오드들이 제공되고 제어 유닛은 측정 장치에 관한 독립 청구항의 특징부에 따라 구성된다.
본 발명의 추가 양태에서, 다수의 발광 다이오드는 적색 발광 다이오드, 녹색 발광 다이오드, 청색 발광 다이오드 및 백색 발광 다이오드의 형태이다. 이는 기존의 발광 다이오드조차도 재사용될 수 있고 특히 제안된 측정 장치 또는 제안된 방법이 발광 다이오드의 구성에 적용될 수 있다는 장점을 갖는다.
본 발명의 추가 양태에서, 광다이오드는 광-대역으로 구성된다. 이는 광다이오드에 의해, 상이한 파장의 제안된 발광 다이오드 각각에 대해 휘도 세기 측정이 이뤄지는 방식으로, 다수의 컬러 스펙트럼이 측정될 수 있다는 장점을 갖는다. 따라서, 예를 들어 단지 하나의 개별 광다이오드가 제공되어야 하고, 컬러 스펙트럼, 예를 들어 적색, 녹색 및 청색을 개별적으로 측정할 수 있다는 장점이 발생한다. 그러나, CCD 센서 또는 CMOS 센서의 사용은 이러한 맥락에서 생략된다. 오히려, 하나의 개별 광다이오드가 제공되어, 개별 발광 다이오드를 개별적으로 교정할 수 있다.
본 발명의 추가 양태에서, 광다이오드는 녹색 발광 다이오드 및 청색 발광 다이오드 각각에 대해 제공된다. 이는 특히 온도에 민감한 발광 다이오드가 그 자체의 광다이오드를 사용하여 관찰된다는 장점을 갖는다. 이러한 맥락에서, 놀랍게도 적색 발광 다이오드는 녹색 또는 청색 발광 다이오드보다 적은 열을 발생시키기 때문에, 적색 발광 다이오드가 다른 발광 다이오드보다 노화 과정을 덜 겪는다는 것이 발견되었다. 따라서 본 발명에 따르면, 3개 또는 4개의 발광 다이오드가 설치되더라도 단지 2개 또는 3개의 광다이오드가 제공되는 것이 특히 바람직하다. 따라서, 적색 발광 다이오드는 실제로 열 발달이 적기 때문에, 항상 관찰되지 않게 유지될 수 있고, 따라서 해당 광다이오드는 생략될 수 있다. 이는 결국 낮은 기술적 복잡성으로 추가로 제조될 수 있는 특히 견고한 측정 시스템이 되도록 한다. 또한, 제안된 측정 장치는 효율적으로 작동될 수 있으며, 이는 특히 다양한 측정 장치가 직렬로 연결되는 경우 유리하다.
본 발명의 추가 양태에서, 개별 광 다이오드가 각각의 발광 다이오드에 대해 제공되고, 그 휘도 세기가 측정된다. 이는 각각의 발광 다이오드에 대해 휘도 세기의 대응하는 변화가 특히 신롸할 수 있게 측정될 수 있는 장점을 갖는다. 다수의 발광 다이오드가 예를 들어 3개의 발광 다이오드를 갖는 경우, 3개의 광다이오드가 제공되고, 실제로는 4개의 발광 다이오드의 경우 4개의 광다이오드가 제공된다. 결과적으로, 개별 조명의 휘도 세기의 변화는 특히 정확하게 규명될 수 있다.
본 발명의 추가 양태에서, 휘도 세기의 변화는 사용자 입력의 함수로서 검출된다. 이는 특정 컬러의 스펙트럼을 선호하는 사용자가 예를 들어 자신의 차량의 내부 조명으로서 이것을 설정할 수 있는 장점을 갖는다. 이 컬러 스펙트럼과 해당 발광 다이오드의 동작은 특히 빈번하게 발생하기 때문에, 추가 발광 다이오드보다 더욱 집중적이거나 더욱 급속한 노화 과정이 존재한다. 예를 들어, 사용자가 일반적으로 자신의 차량의 적색 내부 조명을 선택할 경우, 특히 적색 발광 다이오드는 증가한 마모 또는 증가한 노화 과정을 겪는다, 따라서 적색 발광 다이오드에 대해 1차 측정 및 2차 측정을 특히 빈번하게 취하는 것이 가능하다. 따라서, 휘도 세기의 변화는 더욱 빈번하게 검출되고 따라서 보상될 수 있다.
그러나, 특정 발광 다이오드가 다뤄지는 않는 것을 제공하는 사용자 입력이 존재할 경우, 이 발광 다이오드는 검출되고 보상될 휘도 세기의 변화를 가질 필요가 없다. 이러한 맥락에서, 그러나, 자연적인 노화 과정이 발생할 수 있기 때문에, 적어도 때때로 휘도 세기의 변화를 결정하는 것이 유리한 것으로 나타난다. 따라서, 측정, 검출 및 보상은 상이한 발광 다이오드에서 상이한 빈도로 수행된다. 결과적으로, 기술적인 복잡성이 결국 줄어든다.
상기 목적은 다수의 발광 다이오드를 제공하는 단계 및 각각의 발광 다이오드의 휘도 세기를 개별적으로 조절하기 위해 설치된 제어 유닛을 제공하는 단계를 갖는 개별 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 방법에 의해 달성되는데, 적어도 하나의 발광 다이오드의 휘도 세기를 측정하기 위해 설치된 적어도 하나의 광다이오드가 제공되고, 제어 유닛은 1차 측정 및 2차의 시간-오프셋 측정의 함수로서 각각의 발광 다이오드의 휘도 세기의 상대적 변화를 검출한다.
본 발명의 추가 양태에서, 검출된 휘도 세기의 변화는 실질적으로 보상된다. 이는 휘도 세기의 변화가 단순히 검출되는 것이 아니라 실제로 보상된다는 장점을 갖는다. 휘도 세기의 변화는 전체적으로 또는 적어도 인간 사용자가 컬러의 편차를 인지하지 않는 방식으로 보상된다.
상기 목적은 제안된 방법을 구현하거나 제안된 측정 장치를 작동하는 제어 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품에 의해 달성된다. 이 방법은 따라서 소프트웨어로서 또는 하드웨어 안에 제공될 수 있다.
이러한 맥락에서, 제안된 측정 장치는 방법 단계로서 동일하게 구현될 수 있는 구조적 특징을 갖는 것이 특히 유리하다. 또한 제안된 방법 단계는 측정 장치의 구조적 특징으로서 재현될 수 있다. 이러한 맥락에서, 컴퓨터 프로그램 제품이 개별 방법 단계를 구현하거나 측정 장치를 작동하거나 적어도 개별 부품을 작동하는데 적합하다. 전체적으로, 제공된 기능성은 따라서 측정 장치에 의해 방법 단계로서 구현될 수 있다.
추가의 바람직한 실시예는 첨부 도면에 의해 더욱 상세하게 설명된다.
본 발명은 휘도 세기의 변화를 초래하는 노화 과정이 검출 및 보상되는 장점을 갖는다.
본 발명은 휘도 세기의 변화가 단순히 검출되는 것이 아니라 실제로 보상된다는 장점을 갖는다.
도1은 본 발명의 일 양태에 따르는 노화 과정 검출을 위한 측정 장치의 블록도이다.
도2는 본 발명의 추가 양태에 따르는 노화 과정 검출을 위한 방법의 개략적인 흐름도이다.
도1은 제안된 소형 발광 다이오드 장치의 평면도이며, 발광 다이오드(LED)는 좌측에 배치되어 있다. 이 경우, 이들은 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B) 발광 다이오드(LED)이다. MLED 컨트롤러, 즉, 제어 유닛(CTRL)은 우측에 배치되어 있다. 또한, 각각의 발광 다이오드에 인접하여, 광다이오드(FD)가 대응하는 발광 다이오드의 휘도 세기를 측정할 수 있는 방식으로 광다이오드가 배치된다. 이러한 맥락에서, 광다이오드는 제어 유닛에 통신가능하게 결합된다. 제어 유닛에서, 제어 유닛이 제안된 측정을 트리거하고 대응하는 측정 값을 수신하게 하는 로직이 구현된다. 1차 측정 및 2차 측정으로부터, 제어 유닛은 따라서 휘도 세기의 상대적인 변화를 결정할 수 있다.
도1에 도시된 바와 같이, 모든 필요한 부품은 하우징 내에 설치된다. 따라서, 제어 유닛 및 발광 다이오드는 동일한 하우징내에 위치할 수 있다. 이 하우징은 일부는 불투명하게 구성되는 방식으로 구성되며, 투명하거나 반-투명한 윈두 영역이 제공된다. 이 윈도우 영역에 의해, 하우징의 외부로부터 개별 발광 다이오드의 설정된 휘도 세기를 감지하는 것이 가능하다. 이는 발광 다이오드가 특정 혼합 비율로 다뤄져서 사전결정된 컬러 값이 설정되는 방식으로 나타날 수 있다. 따라서, LED의 동작은 컬러 색에 의해 나타난다. 특히 패키지로도 알려진 칩 하우징이 하우징으로서 적합하다.
이러한 맥락에서, 윈도우 영역은 일반적으로, 발광 다이오드의 생성된 광의 특정 백분율이 하우징에 다시 반사되는 방식으로, 완전히 투명하지는 않다. 이러한 맥락에서, 본 발명에 따르면, 광다이오드는 단지 휘도 세기의 상대적인 변화만을 결정하고 따라서 단지 개별 발광 다이오드의 휘도 세기 측정만을 취하는 것이 아니라, 오히려 모든 관련된 시스템 부품, 예를 들어 반사 윈도우 영역을 포함하는 것도 고려된다는 면에서 특히 유리하다. 종래의 방법에서, 이는 종래 기술의 절대 세기 값이 일반적으로 사용되기 때문에, 측정 결과의 왜곡을 유도할 것이다. 따라서, 이 경우에서, 단지 휘도 세기 변화의 상대적인 값이 다시 사용되기 때문에, 치수 기입, 즉 하우징의 치수는 상쇄된다. 종래의 방법에서, 제1 다수의 발광 다이오드의 하우징이 제1 다수의 발광 다이오드의 하우징과 상이하게 구성된다는 점에서, 절대 측정 값은 단순하게 왜곡될 수 있다. 종래의 방법에서 단지 고정된(static) 값이 사용되기 때문에, 윈도우 영역 및 하우징 치수와 같은 추가 시스템 부품의 특정 구성에 유연하게 반응하지 않는다.
본 발명에 따르면, 휘도 세기의 변화는 항상 동일한 조건하에서 측정되기 때문에, 어떤 왜곡도 이러한 맥락에서 발생하지 않는다. 따라서, 이 동일한 변화는 신뢰할 수 있게 보상된다. 발광 다이오드는 안전제안된 측정 장치 또는 제안된 방법은 따라서 제안된 측정 장치 또는 제안된 방법은, 발광 다이오드가 안전 관련성이 있고 특히 자율 주행중에 기계-기반 방식으로 판독될 수 있기 때문에, 자동차 적용 시나리오에 특히 적합하다. 따라서 휘도 세기의 편차를 검출 및 보상하는 것이 절대적으로 필요하다. 따라서, 본 발명에 따르면, 제안된 측정 방법 및 측정 장치는 특히 신뢰할 수 있게 작동하고 특히 높은 컬러 충실도의 발광 다이오드를 제공하거나 작동시키는 장점이 있다.
도2는 개별 발광 다이오드의 노화 과정을 검출하기 위한 방법의 개략적인 흐름도이고, 다수의 발광 다이오드를 제공하는 단계(100), 각각의 발광 다이오드의 휘도 세기를 개별적으로 조절하기 위해 설치된 제어 유닛을 제공하는 단계(101)를 갖고, 적어도 하나의 발광 다이오드의 휘도 세기를 측정하기 위해 설치된 적어도 하나의 광다이오드가 제공되는 단계(102), 1차 측정(103) 및 2차의-시간 오프셋 측정(104)의 함수로서 각각의 발광 다이오드의 휘도 세기의 상대적 변화를 제어 유닛이 검출하는 단계(105)를 갖는다. 추가의, 선택적인 방법 단계(106)에서, 휘도 세기의 변화는 전체적으로 또는 적어도 대략적으로 보상된다.
이 방법을 구현하거나 제안된 측정 장치를 작동하는 제어 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램 제품은 여기에 도시되어 있지 않다. 일반적으로, 이 방법은 소프트웨어로서, 또는 하드웨어안에 제공될 수 있다.

Claims (13)

  1. - 적색 발광 다이오드(R), 녹색 발광 다이오드(G), 및 청색 발광 다이오드(B)를 포함하는, 다수의 발광 다이오드(LED),
    - 발광 다이오드(LED) 각각의 휘도 세기를 개별적으로 조절하도록 배치되는 제어 유닛(CTRL)을 포함하고,
    적색 발광 다이오드(R)에 해당하지 않는 하나의 발광 다이오드(LED)의 휘도 세기를 측정하기 위해 각각 배치되는 적어도 두 개의 광다이오드(FD)가 제공되어, 적색 발광 다이오드(R)가 관찰될 수 없도록 하고, 제어 유닛은 1차 측정 및 2차의 시간-오프셋 측정의 함수로서 각각의 발광 다이오드(led)의 휘도 세기의 상대적인 변화를 검출하도록 설치되며, 녹색 발광 다이오드(G) 및 청색 발광 다이오드(B)에 대해 각각 별도의 광다이오드(FD)가 제공되는 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    제어 유닛(CTRL)은 검출된 휘도 세기의 변화를 보상하도록 배치되는 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    적어도 하나의 발광 다이오드(LED)는 1차 측정의 휘도 세기가 설정되는 방식으로 제어되는 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    다수의 발광 다이오드(LED) 및 적어도 하나의 광다이오드(FD)는 하우징안에 배치되는 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    다수의 발광 다이오드(LED) 및 적어도 하나의 광다이오드(FD)는 단일 피스안에 형성되는 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    제어 유닛(CTRL)은 마이크로 컨트롤러, 유한 상태 기계(finite state machine), 아날로그 제어 회로 및/또는 전자 부품의 형태인 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    다수의 발광 다이오드(LED)는 적색 발광 다이오드(R), 녹색 발광 다이오드(G), 청색 발광 다이오드(B) 및 백색 발광 다이오드의 형태인 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    광다이오드(FD)는 광-대역으로 구성되는 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    휘도 세기의 변화는 사용자 입력의 함수로서 검출되는 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 측정 장치.
  10. - 적색 발광 다이오드(R), 녹색 발광 다이오드(G), 및 청색 발광 다이오드(B)를 포함하는, 다수의 발광 다이오드를 제공하는 단계(100);
    - 각각의 발광 다이오드(LED)의 휘도 세기를 개별적으로 조절하기 위해 배치되는 제어 유닛(CTROL)을 제공하는 단계(101)를 갖고,
    - 적색 발광 다이오드(R)에 해당하지 않는 하나의 발광 다이오드(LED)의 휘도 세기를 측정하기 위해 각각 배치되는 적어도 두 개의 광다이오드(FD)가 제공되어(102), 적색 발광 다이오드(R)가 관찰될 수 없도록 하고, 제어 유닛(CTRL)은 1차 측정(103) 및 2차의, 시간-오프셋 측정(104)의 함수로서 각각의 발광 다이오드(LED)의 휘도 세기의 상대적 변화를 검출하고(105), 녹색 발광 다이오드(G) 및 청색 발광 다이오드(B)에 대해 각각 별도의 광다이오드(FD)가 제공되는 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    검출된 휘도 세기의 변화는 보상되는(106) 것을 특징으로 하는
    개별 발광 다이오드(LED)의 노화 과정을 검출하기 위한 방법.
  12. 제10항 또는 제11항에 따르는 방법을 구현하는 제어 명령을 포함하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체.
  13. 삭제
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016014652A1 (de) 2016-12-08 2018-06-14 Inova Semiconductors Gmbh Messanordnung zur Erfassung von Alterungsprozessen einzelner Leuchtdioden
JP7397764B2 (ja) 2020-06-17 2023-12-13 Ｊｒ東日本ビルテック株式会社 自動点滅器の切替制御装置およびその方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004296841A (ja) 2003-03-27 2004-10-21 Seiko Epson Corp 投射型表示装置、照明装置、及び表示装置用半導体光源の素子特性測定方法
US20100327764A1 (en) 2008-09-05 2010-12-30 Knapp David J Intelligent illumination device
JP2011037057A (ja) 2009-08-07 2011-02-24 Toshiba Tec Corp インクジェットヘッドの製造方法
US20110057571A1 (en) 2008-05-09 2011-03-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for controlling the color point of an led light source

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6127783A (en) * 1998-12-18 2000-10-03 Philips Electronics North America Corp. LED luminaire with electronically adjusted color balance
US6448550B1 (en) * 2000-04-27 2002-09-10 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for measuring spectral content of LED light source and control thereof
JP2002195882A (ja) * 2000-12-27 2002-07-10 Toshiba Corp 発光体検査装置
US6507159B2 (en) * 2001-03-29 2003-01-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Controlling method and system for RGB based LED luminary
DE10239449B4 (de) * 2002-02-06 2013-10-24 Ulrich Kuipers Verfahren und Vorrichtung zur Realisierung von LED-Leuchten mit Farb- und Helligkeitseinstellung und dem dazugehörigen Bedienelement
ES2675880T3 (es) * 2002-03-13 2018-07-13 Dolby Laboratories Licensing Corporation Compensación de falla de elemento emisor de luz en un monitor
US6777883B2 (en) * 2002-04-10 2004-08-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Integrated LED drive electronics on silicon-on-insulator integrated circuits
US6998594B2 (en) * 2002-06-25 2006-02-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method for maintaining light characteristics from a multi-chip LED package
JP2005140847A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Tamron Co Ltd Ｌｅｄ光源プロジェクタ光学系及びｌｅｄ光源プロジェクタ
TWI245435B (en) * 2004-10-28 2005-12-11 Premier Image Technology Corp LED control apparatus and method
US7551158B2 (en) * 2005-12-13 2009-06-23 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Display device and method for providing optical feedback
JP2007317849A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Sharp Corp バックライト装置およびバックライト制御方法
EP1879169A1 (en) * 2006-07-14 2008-01-16 Barco N.V. Aging compensation for display boards comprising light emitting elements
KR20080024323A (ko) * 2006-09-13 2008-03-18 삼성전자주식회사 액정표시장치 및 액정표시장치의 구동방법
KR101283246B1 (ko) * 2006-10-25 2013-07-11 엘지이노텍 주식회사 멀티센서가 구비된 백라이트 유닛
US7315139B1 (en) * 2006-11-30 2008-01-01 Avago Technologis Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd Light source having more than three LEDs in which the color points are maintained using a three channel color sensor
DE102007018224A1 (de) * 2007-04-16 2008-10-23 Schott Ag LED-Leuchte mit stabilisiertem Lichtstrom und stabilisierter Lichtfarbe
JP5146871B2 (ja) * 2007-07-13 2013-02-20 Ｎｅｃディスプレイソリューションズ株式会社 照明装置及び照明装置の制御方法
DE102008034524B4 (de) * 2008-07-24 2019-12-05 Tridonic Gmbh & Co Kg Notlichteinheit
US8179787B2 (en) * 2009-01-27 2012-05-15 Smsc Holding S.A.R.L. Fault tolerant network utilizing bi-directional point-to-point communications links between nodes
US8390562B2 (en) * 2009-03-24 2013-03-05 Apple Inc. Aging based white point control in backlights
WO2011037057A1 (ja) * 2009-09-28 2011-03-31 日本電気株式会社 光源装置およびそれを用いた投射型表示装置
DE102009053911A1 (de) * 2009-11-19 2011-05-26 GM Global Technology Operations LLC, ( n. d. Ges. d. Staates Delaware ), Detroit Leuchtvorrichtung zur Beleuchtung eines Fahrzeug-Innenraums
JP2012004190A (ja) * 2010-06-14 2012-01-05 Toshiba Corp Ｌｅｄ駆動装置
US9167656B2 (en) * 2012-05-04 2015-10-20 Abl Ip Holding Llc Lifetime correction for aging of LEDs in tunable-white LED lighting devices
JP6150390B2 (ja) * 2013-08-06 2017-06-21 パナソニック株式会社 Ｌｅｄ劣化測定装置およびｌｅｄ点灯装置
WO2015156175A1 (ja) * 2014-04-08 2015-10-15 シャープ株式会社 Ｌｅｄ駆動回路及びバックライト装置
US9335210B2 (en) * 2014-07-01 2016-05-10 Osram Sylvania Inc. Techniques for lumen maintenance and color shift compensation
JP2016218238A (ja) * 2015-05-20 2016-12-22 三菱電機株式会社 Ｌｅｄ表示装置および映像表示装置
DE102016014652A1 (de) 2016-12-08 2018-06-14 Inova Semiconductors Gmbh Messanordnung zur Erfassung von Alterungsprozessen einzelner Leuchtdioden

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004296841A (ja) 2003-03-27 2004-10-21 Seiko Epson Corp 投射型表示装置、照明装置、及び表示装置用半導体光源の素子特性測定方法
US20110057571A1 (en) 2008-05-09 2011-03-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for controlling the color point of an led light source
US20100327764A1 (en) 2008-09-05 2010-12-30 Knapp David J Intelligent illumination device
JP2011037057A (ja) 2009-08-07 2011-02-24 Toshiba Tec Corp インクジェットヘッドの製造方法

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