KR20210078474A

KR20210078474A - 분광 복사계를 모니터링하기 위한 방법 및 디바이스

Info

Publication number: KR20210078474A
Application number: KR1020217007824A
Authority: KR
Inventors: 마티아스 회흐; 레토 해링; 플로리안 쉐브; 마틴 망스틸; 토르스텐 코프
Original assignee: 인스트루먼트 시스템즈 옵티쉐 메스테크닉 게엠베하
Priority date: 2018-08-16
Filing date: 2019-08-09
Publication date: 2021-06-28
Also published as: DE102018120006A1; US11598668B2; CN112840182A; US20210270670A1; WO2020035418A1; EP3837513A1

Abstract

본 발명은, 특히 발광 테스트 물체들(1)을 측정하기 위한 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법에 관한 것으로서, 여기에서 테스트 물체들(1)의 스펙트럼 데이터는 광학적 시스템에 의해 캡처되고, 여기에서 테스트 물체들의 라디오메트릭(radiometric), 포토메트릭(photometric) 및/또는 컬러메트릭(colorimetric) 수량들이 스펙트럼 데이터로부터 확인된다. 본 발명에 의해 다루어 지는 문제는 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법을 지정하는 것이며, 여기에서 이것은 분광 복사계(4)의 연속적인 재교정이 아니라 가장 중요한 교정이 필요할 때를 모니터링하는 것이다. 본 발명은, 정의된 스펙트럼을 갖는, 광학적 시스템 내로 통합된 기준 광원(5)에 의해 검출되는 분광 복사계(4)의 스펙트럼 감도의 변화, 파장 스케일의 변화, 및/또는 광 스루풋의 변화에 의해 이러한 문제를 해결한다. 선택적으로, 광학적 시스템 내에 통합된 적어도 하나의 검출기가 추가로 기준 광원(5)의 안정성을 모니터링할 수 있다. 또한, 본 발명의 방법을 수행하기 위한 디바이스에 관한 것이다.

Description

분광 복사계를 모니터링하기 위한 방법 및 디바이스

본 발명은, 예를 들어, 발광 테스트 물체들의 스펙트럼 데이터가 광학적 시스템에 의해 획득되는 분광 복사계(spectroradiometer)를 모니터링하기 위한 방법에 관한 것이다. 테스트 물체들의 라디오메트릭(radiometric), 포토메트릭(photometric) 및/또는 컬러메트릭(colorimetric) 변수들이 스펙트럼 데이터로부터 결정된다.

본 발명은 또한 방법을 수행하기 위한 디바이스에 관한 것이다.

전자기 스펙트럼의 가시 및 비가시 영역들에서, 광 측정 기술의 다수의 임무들은, 실제로, 예를 들어, 단순한 포토다이오드 검출기들의 경우에서와 같이, 파워 값뿐만 아니라 파장들에 따라 분해되는 파워 분포(스펙트럼)를 획득하기 위하여 분광계를 사용하여 수행된다.

예를 들어, 이러한 종류의 분광계들은 (예를 들어, LED들의 제조에서) 발광 테스트 물체들을 측정하기 위해 사용된다. 테스트 물체들의 스펙트럼 데이터는 광학적 측정 시스템을 사용하여 획득된다. 그런 다음, 테스트 물체들의 라디오메트릭, 포토메트릭, 및/또는 컬러메트릭 변수들이 이러한 스펙트럼 데이터로부터 획득될 수 있다.

분광 복사계들을 사용할 때의 문제점은, 다른 더 단순한 검출기들에 비하여 그것의 더 복잡한 광학부 덕분에, 그들의 감도가 더 빠르게 변화할 수 있다는 점이다. 교정된 측정 시스템에 대하여, 이는, 이것이 특정 시간 이후에 규격에서 벗어나 측정할 것임을 의미한다.

무효 교정("디캘리브레이션(decalibration)")에 대한 원인이 되는 가장 중요한 영향을 주는 변수들은 온도, 및 노화로 인한 변화이다. 관련 변화들은 3개의 카테고리들로 나뉠 수 있다: 파장 스케일의 변화, 광 스루풋의 변화, 및 스펙트럼 감도의 변화, 예를 들어, 적색 감도에 비한 청색 감도의 감소.

기준 광원을 정기적으로 교정하기 위하여, 분광 복사계를 사용하는, 알려진 스펙트럼 속성들을 갖는 "LED 표준들"으로 알려진 것을 측정하는 것이 종래 기술로부터 알려져 있다. 실험실 동작에서, 표준 LED는 일반적으로 측정 이전에 또는 예를 들어, 매일 측정되며, 분광 복사계가 정확하게 측정하고 있다는 것을 보장하기 위하여 측정 결과들과 LED의 알려진 기준 값들의 비교가 수행된다. 제조 라인들에서, 예로서 이상에서 기술된 바와 같이, 생산 라인의 측정 디바이스들은, 필요한 경우, 규격에서 벗어난 분광 복사계를 라인으로부터 제거하는 것을 가능하게 하기 위하여, 예를 들어 매주 LED 표준과 비교된다. 추가적인 알려진 접근 방식은, 구조적으로 측정 물체들과 동일한 부분이 품질 실험실에서 측정되고 참조 값들을 가지고 제공되는 "골든 샘플(Golden Sample)"로서 알려진 것이다. 제조 라인에서, 측정 물체들과 구조적으로 동일한 부분이 측정되며, 판독 값들이 기준 값들에 따라 정정된다. 평균을 달성하기 위하여 복수의 이러한 구조적으로 동일한 부분들을 사용하는 것이 가능하다.

예를 들어, 분광 복사계의 포토다이오드와 같은 제 2 독립 측정 시스템이 통합된다는 것이 추가로 알려져 있다(CN 101 784 428 참조). 이는 통합 감도들의 자가-진단을 가능하게 한다. 그러나, 이는 스펙트럼 오류들(예를 들어, 파장 시프트 또는 스펙트럼-종속 감도 변화들)에 대한 진단을 가능하게 하지 않는다.

본 발명의 목적은, 가장 중요한 것이 분광 복사계의 지속적인 재교정이 아니라 교정이 필요한 시기에 관하여 모니터링하는 것인, 분광 복사계를 모니터링하기 위한 방법을 명시하는 것이다.

이러한 목적은, 분광 복사계의 스펙트럼 감도의 변화, 파장 스케일의 변화, 및/또는 광 스루풋의 변화가, 상기 기준 스펙트럼에 기초하여 광학적 시스템 내에 통합되고 알려진 스펙트럼을 갖는 기준 광원의 측정에 의해 검출된다는 점에 있어서, 처음에 언급된 유형의 방법으로부터 진행되는 본 발명에 의해 달성된다.

선택적으로, 광학적 시스템 내에 통합된 (고 안정) 검출기가 추가로 제공되며, 이러한 검출기는 기준 광원의 안정성을 모니터링하기 위해 사용된다. 이러한 경우에 있어서, 포토다이오드가 고 안정 검출기로서 사용될 수 있다.

광학적 시스템 내로 알려진 스펙트럼을 갖는 기준 광원(예를 들어, LED)을 통합하는 것은 측정 디바이스들의 교정의 편차 및 그에 따라서 이의 유효성이 식별되는 것을 가능하게 한다. 기준 스펙트럼의 변화들은, 예를 들어, 기준 광원의 스펙트럼이, 교정의 유효성이 확실한 기준 시점(예를 들어, 재교정 다음)에 기록되고 저장된다는 점에서 검출될 수 있다. 분광 복사계의 사용의 다음 코스에서, 저장된 스펙트럼에 대한 편차들이 결정된다. 고 안정 검출기 또는 복수의 검출기들(예를 들어, 하나 이상의 포토다이오드들)의 추가적인 통합의 결과로서, 분광계를 모니터링하기 위해 사용되는 발광 다이오드(기준 광원)의 안정성이 모니터링되며, 따라서 2-단계 모니터링 개념이 달성된다.

통합된 기준 광원을 사용하는 것은 측정 시스템의 교정을 체크(지금까지 수동으로 체크)하는 동안 기술 및 시간 지출을 감소시킨다. 결과적으로, 생산 라인의 정지 시간이 감소되며, 생산성이 증가된다. 추가로, 체크를 수행할 때 인간 오류가 방지된다.

고 안정 검출기에 의한 기준 광원의 추가적인 모니터링은, 예를 들어, 기준 광원으로서 사용되는 LED의 신뢰성을 증가시키며, 다음 재교정까지 사용 기간을 증가시킨다.

이상에서 이미 설명한 바와 같이, 방법은 생산 라인들에서 사용하도록 의도되며, 여기에서 품질 보증을 위한 측정 시스템이 현재 이미 존재하며 상기 시스템들의 설명 수동 체크가 수행된다. 이는, 예를 들어, LED들이 품질 체크를 겪고 상이한 빈(bin)들 내에 정렬되는, LED 분배기들로서 알려진 것인 LED들의 생산에 적용된다. 추가적인 예는 (예를 들어, 모바일 전화기들에 대한) 디스플레이들의 생산이며, 여기에서 측정 시스템은 디스플레이들을 밸런싱하기 위해(예를 들어, 감마 커브, 색영역 결정, 등을 밸런싱하기 위해) 사용된다. 그러나, 엄격한 사양들을 준수해야 하는 다른 측정 시스템들에서의 사용이 생각될 수 있다. 특히, 온도 변동들과 같은 환경적 영향을 받는 환경들에서.

광속에 대한 측정 헤드(울브리흐트(Ulbricht) 구), 휘도 측정 헤드(텔레스코픽 광학부), 또는 조도 측정 헤드(코사인 수신기)가 또한 유익하게는 광학적 시스템에서 커플링 광학부로서 사용된다.

온도-안정화된 LED가 유익하게는 기준 광원으로서 사용된다. LED는 정전류를 사용하여 동작될 수 있으며, 그 결과, 특정한 양의 시간 이후에, 이것은 열역학적으로 평형 상태가 된다. 그런 다음, 스펙트럼이 상기 안정적인 상태들에서 획득된다. 대안적으로, 기준 광원(LED)은, 특히, 안정적이지는 않지만 재생가능한 LED의 열적 상태를 보장하기 위하여, 짧은 광의 플래시들(즉, 펄스)로 동작된다.

기준 광원은 유익하게는, 테스트 물체의 광 흡수가 일반적으로 발생하여 기준 광원의 그리고 측정 물체들의 광학적 경로가 가능한 한 유사해지는 한 측정 시스템 내로 통합된다. 예를 들어, 수신 광학부가 섬유를 사용하여 분광 복사계에 결합된 울브리히트 구를 포함하는 경우, 기준 광원은 바람직하게는 마찬가지로 울브리히트 구 내로 통합된다.

유익하게는, LED가 기준 광원으로서 사용되며, 이러한 LED는 3가지의 전형적인 관련 변화들을 개별적으로 검출할 가능성을 제공한다:

- 파장 스케일이 스펙트럼의 청색 피크를 사용하여 체크될 수 있다;

- 광 스루풋이 신호 레벨의 변화를 사용하여 체크될 수 있다;

- 스펙트럼 감도의 변화가 스펙트럼 형상을 사용하여 체크될 수 있다.

본 발명의 실시예들이 도면을 참조하여 이하에서 도시되고 설명될 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 디바이스의 제 1 실시예를 도시한다.
도 2는 순서도로서 본 발명에 따른 방법을 도시한다.
도 3은 기준 광원(5)으로서 사용되는 백색 LED의 스펙트럼을 도시한다.
도 4는 기준 스펙트럼과 측정된 스펙트럼의 비교를 도시한다.
도 5는 본 발명에 따른 디바이스의 대안적인 실시예를 도시한다.

도 1은 본 발명에 따른 디바이스를 도시한다. 예를 들어, 품질 보장의 목적을 위하여 측정될 LED인 테스트 물체(1)가 전원(2)에 의해 동작된다. LED(1)의 방출된 광은, 분광 복사계(4)의 측정 헤드(3)를 포함하는 수신 광학부로서 광학적 시스템에 의해 수신되며, 여기에서 측정 헤드(3)는 광 섬유에 의해 분광 복사계(4)에 연결된다. 수신 광학부는, 제어가능 정밀 전원(6)에 의해 작동되고 전기 에너지가 공급되는 기준 광원(5)을 더 포함한다. 기준 광원(5)은, 예를 들어, 알려진 스펙트럼 속성들을 갖는 백색 LED이며, 이의 광이 마찬가지로 분광 복사계(4)의 측정 헤드(3)에 의해 수신된다. 도 1의 실시예에 있어서, 측정 헤드(4)는 LED(1)에 의해 방출되는 광 및 기준 광원(5)의 광을 획득하고, 이것을 상이한 방출 방향들에 걸쳐 통합하기 위한 울브리히트 구를 포함한다. 이러한 경우에 있어서, 기준 광원(5)은, 울브리히트 내에 통합되며, 즉, 확실하게 통합된다. 측정 헤드(3)에 더하여, 고 안정 광검출기(미도시)가 광학적 시스템 내에 통합되며, 이러한 검출기는 기준 광원(5)의 방출의 안정성을 모니터링한다. 추가로, 디바이스는, 관련 측정을 시작하고, 정정 파라미터들을 지정하며, 획득된 측정 데이터를 판독하기 위하여 분광 복사계(4)와 통신하는 컴퓨터 시스템(미도시)을 포함한다. 추가로, 컴퓨터 시스템은 기준 광원(5)의 정밀 전원(6)의 동작 데이터뿐만 아니라 고 안정 광검출기의 측정 데이터를 수신한다. 본 발명에 따르면, 분광 복사계(4)의 교정의 편차를 언제라도 식별하는 것을 가능하게 하기 위하여 디바이스의 수신 광학부로서 기능하는 광학적 시스템 내에 기준 광원(5)이 통합되는 것이 본질적이다. 따라서, 테스트 물체(1)의 광 및 기준 광원(5)의 광이 분광 복사계(4) 및 측정 헤드(3)로 구성된 동일한 측정 어셈블리를 사용하여 측정된다. 2개의 스펙트럼 데이터세트들, 즉, 기준 광원(5)의 알려진 스펙트럼 및 분광 복사계(4)의 대응하는 측정 데이터가 교정의 유효성을 체크하기 위하여 컴퓨터 시스템에서 비교된다. 측정된 데이터와 기준 광원(5)의 저장된 교정 데이터 사이의 차이가 충분히 작은 경우, 즉, 지정된 임계보다 아래인 경우, 컴퓨터 시스템에 의해, 테스트 물체(1)로부터 획득된 측정 데이터의 대응하는 조정/정정을 수행하는 것이 가능하다. 이러한 프로세스와 병렬로, 기준 광원(5)은 고 안정 광검출기에 의해 모니터링되며, 이의 측정 데이터가 마찬가지로 전체적으로 극도로 신뢰할 수 있는 측정을 가능하게 하기 위하여 컴퓨터 시스템으로 전송된다. 기준 광원(5)의 광 방출의 편차가 고 안정 광검출기에 의해 식별되자 마자, 이는, (예를 들어, 기준 광원(5)의 노화때문에) 컴퓨터 시스템에 저장된 기준 광원(5)의 교정 데이터가 더 이상 유효하지 않으며, 따라서 시스템의 완전한 재교정과 기준 광원의 가능한 교체가 요구된다는 것을 나타낸다.

도 2는 본 발명에 따른 방법을 도시한다. 단계(20)에서, 각각의 경우에 측정될 가장 가까운 테스트 물체(1)가 측정을 위해 제공되며, 예를 들어, 이것은 제공되는 방식으로 분광 복사계(4)의 측정 헤드(3)에 대하여 위치된다. 그런 다음, 단계(21)에서, 테스트 물체(1)의 라디오메트릭, 포토메트릭 및/또는 컬러 메트릭 변수들이 분광 복사계(4)에 의해 측정된다. 컴퓨터 시스템은 이러한 목적을 위하여 분광 복사계(4)를 적절하게 작동시킨다. 단계(S22)에서, 분광 복사계(4)의 교정을 체크할 필요가 있는지 여부에 대하여 질의가 이루어진다. 이는, 예를 들어, 특정한 미리 결정된 수의 측정들 다음의 경우일 수 있다. 체크가 요구되지 않는 경우, 절차는 다시 단계(20)로 분기하며, 다음 테스트 물체(1)가 공급되고 측정된다. 질의의 결과가 교정이 체크되어야 한다는 것인 경우, 단계(S23)에서, 기준 광원(5)이 정밀 전원(6)에 의해 작동되고, 상기 광원의 광이 분광 복사계(4)에 의해 측정 헤드(3)를 통해 측정된다. 단계(24)에서, 컴퓨터 시스템에 이전에 저장된 기준 광원(5)의 기준 스펙트럼의 데이터로부터 단계(23)에서 기준 광원(5)으로부터 획득된 측정 데이터의 편차가 지정된 임계보다 아래인지 또는 그 이상인지 여부에 대한 질의가 이루어진다. 편차가 임계보다 아래인 경우, 방법은 다시 단계(20)로 점프하며, 다음 테스트 물체(1)가 위치되고 측정된다. 교정 데이터의 편차가 임계 이상인 경우, 단계(25)에서 각각의 경우에 테스트 물체들로부터 획득된 측정 데이터에 대응하는 정정을 적용하기 위하여 편차가 여전히 충분히 작은지 여부에 대한 질의가 이루어진다. 이러한 경우에, 단계(26)에서 분광 복사계(4)에 의해 기준 광원(5)으로부터 획득된 측정 데이터와 기준 광원(5)의 저장된 기준 스펙트럼의 비교로부터 대응하는 파라미터들이 도출된다. 그런 다음, 정정 데이터는, 식별된 편차들을 그에 따라서 보상하기 위하여, 후속 측정 절차들에서 테스트 물체들(1)로부터 획득된 측정 데이터에 적용된다. 식별된 편차가 너무 큰 경우, 단계(27)에서 시스템의 완전 재교정이 이루어진다.

도 3은, 청색 및 황색 스펙트럼 범위에서 최대치들을 갖는 기준 광원(5)으로서 사용되는 백색 LED의 스펙트럼을 도시한다. 컴퓨터 시스템에 저장된 기준 광원(5)의 알려진 스펙트럼을 재현하는 실선 커브(31)가 도시된다. 점선 커브(32)는, 단계(23)에서 분광 복사계(4)에 의해 측정 헤드(3)를 통해 측정된 기준 광원(5)의 파워 스펙트럼이다. 2개의 커브들이 서로 명백하게 벗어난다. 450 nm에서의 피크들의 영역에서, 측정된 파워는 실제 파워로부터 상당히 벗어난다. 이는 이중 화살표(33)에 의해 표시된다.

도 4는 커브(41)로서 커브들(32 및 31)의 비율을 대응하여 도시한다. 전체 가시 스펙트럼 범위에 걸친 비율이 1.0(이상적인 대응성)보다 상당히 낮다는 것이 확인될 수 있다. 예를 들어, (원으로 도시된) 550 nm에서, 편차는 약 5%이다. 점선 직선 라인(42)은 커브(41)의 선형 회귀로부터 기인한다. 커브(42)는, 획득된 측정 데이터의 대응하는 정정을 위하여, 후속 측정 단계들에서 사용되기 위하여 단계(26)(도 2)에서 도출될 수 있다.

이상의 실시예들이 보여주는 바와 같이, 본 발명에 따른 방법은, 측정 결과들의 품질 및 신뢰성이 개선될 수 있도록, 최소한의 지출로 더 짧은 시간 간격들 내에 기준 광원(5)에 의해 분광 복사계(4)의 교정의 모니터링을 수행하는 것이 가능한, 종래 기술을 뛰어 넘는 장점을 갖는다. 수신 광학부 내에 통합된 기준 광원(5)에 의한 체크를 위해 요구되는 시간은 단지 몇 초이다. 작은 편차들의 경우에 있어서, 측정 데이터는 그에 따라서 자동으로 정정되어 상당한 수동 지출을 필요로 하는 완전 재교정 사이의 시간 간격들이 증가될 수 있다. 결과적으로, 유용한 측정 시간 및 스루풋이 증가되며, 동시에 측정 결과들의 품질이 더 커진다.

도 5의 실시예에 있어서, 테스트 물체(1)는, (예를 들어, 휘도에 대한) 품질 보증의 목적을 위하여 측정될 그리고 그 위에 적절한 테스트 패턴이 재현될 매트릭스 디스플레이이다. 디스플레이의 방출된 광은, 광 섬유에 의해 분광 복사계(4)에 연결된 측정 헤드(3)를 포함하는 수신 광학부로서 광학적 시스템에 의해 수신된다. 수신 광학부는 대물 렌즈(51) 및 CCD 이미지 센서(52)를 더 포함한다. 빔 스플리터(53)에 의해, 디스플레이의 광의 일 부분이 광 섬유에 의해 분광 복사계(5)에 공급된다. 기준 광원(5)은 측정 헤드(3) 내로 통합되며, 이러한 기준 광원은 또한 통합된 정밀 전원(6)에 의해 작동되고 전기 에너지가 공급된다. 기준 광원(5)은, 예를 들어, 다시, 도 1의 실시예에서와 같이, 알려진 스펙트럼 속성들을 갖는 백색 LED이며, 이의 광이 마찬가지로 광 섬유에 의해 분광 복사계(4)로 공급된다. 분광 복사계의 교정을 모니터링하는 기초 접근 방식은 도 1 내지 도 4를 참조하여 이상에서 설명된 바와 같이 도 5의 실시예에서 설명된다.

Claims

발광 테스트 물체들(1)을 측정하기 위한 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법으로서,
상기 테스트 물체들(1)의 스펙트럼 데이터는 광학적 시스템에 의해 획득되고, 상기 테스트 물체들의 라디오메트릭(radiometric), 포토메트릭(photometric) 및/또는 컬러메트릭(colorimetric) 변수들이 상기 스펙트럼 데이터로부터 획득되며, 상기 분광 복사계(4)의 스펙트럼 감도의 변화, 광 스루풋의 변화 및/또는 파장 스케일의 변화는 상기 광학적 시스템 내에 통합된 기준 광원(5)에 의해 검출되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1에 있어서,
상기 기준 광원(5)의 안정성이 상기 광학적 시스템 내에 통합된 추가적인 검출기(7)에 의해 모니터링되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
광속에 대한 측정 헤드(3)가 커플링 광학부로서 상기 광학적 시스템 내에 제공되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 3에 있어서,
울브리히트(Ulbricht) 구가 상기 측정 헤드(3)에서 사용되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
휘도 측정 헤드가 커플링 광학부로서 상기 광학적 시스템 내에 제공되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
조도 측정 헤드가 커플링 광학부로서 상기 광학적 시스템 내에 제공되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 내지 청구항 6 중 어느 한 항에 있어서,
상기 기준 광원(5)은 정밀 전원(6)을 갖는 LED인 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 내지 청구항 7 중 어느 한 항에 있어서,
상기 기준 광원(5)은, 상기 기준 광원이 열역학 평형 상태로 안정화되도록 동작되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
상기 기준 광원(5)은 펄스 방식으로 동작되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 내지 청구항 9 중 어느 한 항에 있어서,
상기 기준 광원(5)은, 상기 테스트 물체(1)까지의 상기 커플링 광학부의 그리고 상기 기준 광원(5)의 광학적 경로가 대략적으로 동일한 길이가 되도록 배열되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 10에 있어서,
상기 기준 광원(5)은 상기 울브리히트 구 내에 통합되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 내지 청구항 11 중 어느 한 항에 있어서,
백색 LED가 상기 기준 광원(5)으로 사용되는 것을 특징으로 하는, 방법.
청구항 1 내지 청구항 12 중 어느 한 항에 따른 방법을 수행하기 위한 디바이스로서,
분광 복사계(4) 및 테스트 물체(1)로부터 발원하는 광에 대한 수신 광학부로서 상기 분광 복사계(4)에 결합되는 광학적 시스템을 포함하며, 기준 광원(5)이 상기 수신 광학부 내에 통합되는 것을 특징으로 하는, 디바이스.
청구항 13에 있어서,
상기 기준 광원(5)은 LED인 것을 특징으로 하는, 디바이스.
청구항 13 또는 청구항 14에 있어서,
상기 광학적 시스템은 커플링 광학부로서 광속에 대한 측정 헤드(3)를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디바이스.
청구항 15에 있어서,
상기 측정 헤드(3)는 울브리히트 구를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디바이스.
청구항 13 또는 청구항 14에 있어서,
상기 광학적 시스템은 커플링 광학부로서 휘도 측정 헤드를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디바이스.
청구항 13 또는 청구항 14에 있어서,
상기 광학적 시스템은 커플링 광학부로서 조도 측정 헤드를 포함하는 것을 특징으로 하는, 디바이스.
청구항 13 내지 청구항 18 중 어느 한 항에 있어서,
상기 기준 광원(5)은 온도-안정화되며, 정밀 전원(6)에 의해 동작되는 것을 특징으로 하는, 디바이스.