JP6691732B2 - 自動分析装置 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、試料及び試薬を反応容器に分注し、反応容器に分注された試料及
び試薬の混合液を測定する自動分析装置に関する。

自動分析装置は生化学検査項目や免疫検査項目等を対象とし、被検体から採取された試
料と各検査項目の試薬との混合液の反応によって生ずる色調や濁りの変化を光学的に測定
する。これにより、試料に含まれる各検査項目成分の濃度や酵素の活性等で表される分析
データを生成する。

この自動分析装置では、１つの分注プローブを用いて試料容器内の試料を、この試料に
設定された検査項目毎に１つのラインの反応容器に分注するランダムアクセス方式がある
。また、２つの分注プローブを用いて試料容器内の試料を、この試料に設定された２つの
検査項目毎に２つのラインの反応容器に同時に分注することができるセミランダムアクセ
ス方式がある。これらの試料分注プローブは、同一試料の分注終了毎に洗浄が行われる。

特開平９−１０１３１３号公報

しかしながら、セミランダムアクセス方式では処理速度の高速化が可能となるものの、
一方の試料分注プローが試料の分注を行わない場合でも２本の試料分注プローブが試料容
器内の試料と接触するため、次に分注される試料容器内の試料が汚染されやすい問題があ
る。

実施形態は、上記問題点を解決するためになされたもので、処理速度を低下させること
なく試料の汚染を低減することができる自動分析装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、実施形態の自動分析装置は、試料容器内の試料を吸引して第１の位置の反応容器に吐出する分注を行う第１の分注プローブと、前記試料容器内の試料を吸引して第２の位置の反応容器に吐出する分注を行う第２の分注プローブと、前記第１の分注プローブを前記試料容器と前記第１の位置の反応容器の間を第１の距離の軌道で移動可能に支持する第１の移動機構と、前記第２の分注プローブを前記試料容器と前記第２の位置の反応容器の間を前記第１の距離よりも長い第２の距離の軌道で移動可能に支持する第２の移動機構と、前記試料容器内の試料について前記第１の分注プローブを用いて１回目の分注を実行し、前記試料容器内の試料について前記第２の分注プローブを用いて２回目の分注を実行し、前記２回目の分注において、前記第２の分注プローブを前記第１の分注プローブよりも高速で前記試料容器内の試料上方の上停止位置から下降させる分析制御部とを備える。

実施形態に係る自動分析装置の構成を示すブロック図。 実施形態に係る分析部の構成を示す図。 実施形態に係る第１及び第２の移動機構の構成の一例を示す側面図。 実施形態に係る第１及び第２の試料分注プローブ、第１及び第２の移動機構、サンプラに保持された試料容器、サンプラ上の試料ラックに保持された試料容器、並びに反応ディスクに保持された反応容器の配置を示す平面図。 実施形態に係る第１及び第２の試料分注プローブが第２の試料容器位置で停止する試料容器内の試料を分注するときの動作を説明するための図。 実施形態に係る第１の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の１回目の分注が行われるときの第１の試料分注プローブの１回目の分注動作を示す図。 実施形態に係る第１の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の２回目の分注が行われるときの第２の試料分注プローブの１回目の分注動作を示す図。 実施形態に係る第１の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の２回目の分注が行われるときの第２の試料分注プローブの第１の減速位置を説明するための図。 実施形態に係る第１の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の３回目の分注が行われるときの第１の試料分注プローブの２回目の分注動作を示す図。 実施形態に係る第１の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の４回目の分注が行われるときの第２の試料分注プローブの２回目の分注動作を示す図。 実施形態に係る第２の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の１回目の分注が行われるときの第２の試料分注プローブの１回目の分注動作を示す図。 実施形態に係る第２の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の２回目の分注が行われるときの第１の試料分注プローブの１回目の分注動作を示す図。 実施形態に係る第２の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の３回目の分注が行われるときの第２の試料分注プローブの２回目の分注動作を示す図。 実施形態に係る第２の試料容器位置で停止した試料容器内の同一試料の４回目の分注が行われるときの第１の試料分注プローブの２回目の分注動作を示す図。

以下、図面を参照して実施形態を説明する。

図１は、実施形態に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析
装置１００は、各検査項目の標準試料や被検試料等の各試料と各検査項目の分析に用いる
試薬とを分注し、試料及び試薬の混合液を測定して標準データや被検データを生成する分
析部１０を備えている。また、分析部１０の各種ユニットを駆動する駆動部３１と、駆動
部３１を制御して分析部１０の各種ユニットを作動させる分析制御部３２とを備えている
。

また、自動分析装置１００は、分析部１０で生成された標準データや被検データを処理
して検量データや分析データを生成するデータ処理部４０と、データ処理部４０で生成さ
れた検量データや分析データを出力する出力部５０とを備えている。また、各検査項目の
分析に用いる試料の量、試薬の量等の分析パラメータの入力、各検査項目にＡライン又は
Ｂラインを設定するための入力、被検試料毎にこの被検試料の検査対象となる検査項目を
設定するための入力等を行う操作部６０を備えている。また、分析制御部３２、データ処
理部４０及び出力部５０を統括して制御するシステム制御部７０を備えている。

図２は、分析部１０の構成を示した図である。この分析部１０は、標準試料、管理用試
料、被検試料などの各試料を収容する試料容器１１を備えている。また、標準試料や管理
用試料が収容された試料容器１１を回動可能に保持するサンプラ１２ａと、被検試料等の
試料が収容された試料容器１１を保持する試料ラック１３とを備えている。また、複数の
試料ラック１３を短手方向の矢印Ｌ１方向、Ｌ１方向に移動した引き込み位置で長手方向
における矢印Ｌ２方向及びこのＬ２方向とは反対方向の矢印Ｌ３に移動可能に保持するサ
ンプラ１２ｂを備えている。

また、各試料に含まれる検査項目の成分と反応する試薬である例えば１試薬系及び２試
薬系の第１試薬を収容する試薬容器１３ａと、試薬容器１３ａ内の第１試薬と対をなす２
試薬系の第２試薬を収容する試薬容器１３ｂとを備えている。また、試薬容器１３ａを移
動可能に保持する試薬ラック１４ａと、試薬容器１３ｂを移動可能に保持する試薬ラック
１４ｂとを備えている。

また、試薬ラック１４ａに保持された試薬容器１３ａ内の第１試薬を保冷する試薬庫１
５ａと、試薬ラック１４ｂに保持された試薬容器１３ｂ内の第２試薬を保冷する試薬庫１
５ｂとを備えている。また、円周上にＡライン用とＢライン用に交互に配置された複数の
反応容器１６と、この反応容器１６を回転移動可能に保持する反応ディスク１７とを備え
ている。

また、Ａラインが設定された検査項目（Ａライン検査項目）の分析用として、各サンプ
ラ１２ａ，１２ｂに保持された試料容器１１内の各試料を吸引してＡライン用の反応容器
１６内に吐出する分注を行う第１の試料分注プローブ１８ａを備えている。また、第１の
試料分注プローブ１８ａを移動可能に支持する第１の移動機構１９ａを備えている。

また、Ｂラインが設定された検査項目（Ｂライン検査項目）の分析用として、各サンプ
ラ１２ａ，１２ｂに保持された試料容器１１内の各試料を吸引してＢライン用の反応容器
１６内に吐出する分注を行う第２の試料分注プローブ１８ｂを備えている。また、第２の
試料分注プローブ１８ｂを移動可能に支持する第２の移動機構１９ｂを備えている。

また、試薬ラック１４ａに保持されたＡライン検査項目の試薬容器１３ａ内の第１試薬
を吸引して、第１の試料分注プローブ１８ａにより試料が分注された反応容器１６に吐出
する分注を行う第１試薬分注プローブ２０ａを備えている。また、試薬ラック１４ａに保
持されたＢライン検査項目の試薬容器１３ａ内の第１試薬を吸引して、第２の試料分注プ
ローブ１８ｂにより試料が分注された反応容器１６に吐出する分注を行う第１試薬分注プ
ローブ２０ｂを備えている。

また、第１試薬分注プローブ２０ａ，２０ｂを移動可能に支持する第１試薬分注アーム
２１ａ，２１ｂを備えている。また、反応容器１６に分注された試料及び第１試薬の混合
液を撹拌する第１撹拌ユニット２２を備えている。また、試薬ラック１４ｂに保持された
Ａライン検査項目の試薬容器１３ｂ内の第２試薬を吸引して、第１試薬分注プローブ２０
ａにより第１試薬が分注された反応容器１６に吐出する分注を行う第２試薬分注プローブ
２３ａを備えている。

また、試薬ラック１４ｂに保持されたＢライン検査項目の試薬容器１３ｂ内の第２試薬
を吸引して、第１試薬分注プローブ２０ｂにより第１試薬が分注された反応容器１６に吐
出する分注を行う第２試薬分注プローブ２３ｂを備えている。また、第２試薬分注プロー
ブ２３ａ，２３ｂを移動可能に保持する第２試薬分注アーム２４ａ，２４ｂを備えている
。また、反応容器１６に分注された各試料、第１試薬及び第２試薬の混合液を撹拌する第
２撹拌ユニット２５を備えている。

また、第１撹拌ユニット２２や第２撹拌ユニット２５により撹拌が行われた混合液を収
容する反応容器１６に光を照射し、反応容器１６内の標準試料や被検試料を含む混合液を
透過した光を検出して標準データや被検データを生成する測定部２６を備えている。また
、測定を終えた反応容器１６内を洗浄する洗浄ノズル２７を備えている。そして、洗浄ノ
ズル２７により洗浄が行われた反応容器１６は、再び測定に使用される。

図１に示した駆動部３１は、分析部１０の各種ユニットやこのユニットに設けた機構を
駆動するモータを備えている。そして、サンプラ１２ａ、試薬ラック１４ａ及び試薬ラッ
ク１４ｂをそれぞれ回動駆動して、試料容器１１及び試薬容器１３ａ，１３ｂを移動する
。また、サンプラ１２ｂ上の試料ラック１３を移動する。また、反応ディスク１７を回転
駆動して反応容器１６を移動する。

また、駆動部３１は、第１及び第２の移動機構１９ａ，１９ｂ、第１試薬分注アーム２
１ａ，２１ｂ、第２試薬分注アーム２４ａ，２４ｂをそれぞれ上下及び回動駆動して第１
及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂ、第１試薬分注プローブ２０ａ，２０ｂ、及
び第２試薬分注プローブ２３ａ，２３ｂを移動する。また、第１及び第２撹拌ユニット２
２，２５及び洗浄ノズル２７をそれぞれ上下移動する。

データ処理部４０は、演算部４１及びデータ記憶部４２を備えている。そして、演算部
４１は、分析部１０で生成された各検査項目の標準データから検量データを生成し、分析
部１０で生成された被検データをこの検査項目の検量データを用いて分析データを生成す
る。また、データ記憶部４２は、演算部４１で生成された検量データを検査項目毎に保存
し、演算部４１生成された各検査項目の分析データを被検試料毎に保存する。

出力部５０は、データ処理部４０で生成された標準データや分析データを印刷出力する
印刷部５１及び表示出力する表示部５２を備えている。そして、印刷部５１は、プリンタ
などを備え、検量データや分析データを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ
用紙などに印刷出力する。また、表示部５２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え
、検査項目毎にこの検査項目の分析パラメータを設定するための画面や、各検査項目にＡ
ライン又はＢラインを設定するための画面、被検試料毎にこの被検試料の検査対象となる
検査項目を設定するための画面等を表示する。

操作部６０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを
備え、検査項目毎に分析パラメータやＡ又はＢラインを設定するための入力、被検試料毎
に検査項目を設定するための入力等を行う。

システム制御部７０は、図示しないＣＰＵと記憶回路を備えている。そして、操作部６
０から入力されるコマンド信号、分析パラメータ、検査項目の情報等の入力情報を記憶し
た後、これらの入力情報に基づいて、分析制御部３２、データ処理部４０及び出力部５０
を統括して制御する。

次に、図２及び図３を参照して、分析部１０の第１及び第２の移動機構１９ａ，１９ｂ
の構成の詳細を説明する。

図３は、第１及び第２の移動機構１９ａ，１９ｂの構成の一例を示した側面図である。

第１の移動機構１９ａは、第１の試料分注プローブ１８ａを支持する第１のプローブ支
持体１９１ａと、この第１のプローブ支持体１９１ａを上下移動可能に支持する第１の上
下動支持体１９２ａとを備えている。また、この第１の上下動支持体１９２ａを回動可能
に支持する第１の回動軸１９３ａを備えている。そして、第１の回動軸１９３ａの軸中心
１９から距離ｒ離れた位置に第１の試料分注プローブ１８ａが配置されている。

第１のプローブ支持体１９１ａは、第１の上下動支持体１９２ａに配置された駆動部３
１の例えばステッピングモータにより上下駆動される。これにより、第１の試料分注プロ
ーブ１８ａは下降及び上昇する。また、第１の上下動支持体１９２ａは、駆動部３１のモ
ータによる第１の回動軸１９３ａのＲ１方向及びＲ２方向への駆動により回動される。こ
れにより、第１の試料分注プローブ１８ａは、軸中心１９を中心とし、距離ｒを半径とす
る円の円弧の軌道を描いてＲ１方向及びＲ２方向に移動する。

第２の移動機構１９ｂは、第２の試料分注プローブ１８ｂを支持する第２のプローブ支
持体１９１ｂと、この第２のプローブ支持体１９１ｂを上下移動可能に支持する第２の上
下動支持体１９２ｂとを備えている。また、第１の移動機構１９ａの第１の回動軸１９３
ａに貫設され、第２の上下動支持体１９２ｂを回動可能に支持する第１の回動軸１９３ａ
と同軸上に配置された第２の回動軸１９３ｂを備えている。そして、第２の回動軸１９３
ｂの第１の回動軸１９３ａと共通する軸中心１９から距離ｒ離れた位置に第２の試料分注
プローブ１８ｂが配置されている。

このように、第１の試料分注プローブ１８ａを第１の移動機構１９ａに支持させると共
に第２の試料分注プローブ１８ｂを第２の移動機構１９ｂに支持させ、第１及び第２の移
動機構１９ａ，１９ｂをそれぞれ独立して駆動させることにより、第１の試料分注プロー
ブ１８ａ及び第２の試料分注プローブ１８ｂをそれぞれ高速で移動させることができる。
また、第１の移動機構１９ａの第１の回動軸１９３ａと第２の移動機構１９ｂの第２の回
動軸１９３ｂを同軸にすることにより、第１及び第２の移動機構１９ａ，１９ｂを小型化
することができる。

第２のプローブ支持体１９１ｂは、第２の上下動支持体１９２ｂに配置された駆動部３
１のステッピングモータにより上下駆動される。これにより、第２の試料分注プローブ１
８ｂは下降及び上昇する。また、第２の上下動支持体１９２ｂは、駆動部３１のモータに
よる第２の回動軸１９３ｂのＲ１方向及びＲ２方向への駆動により回動される。これによ
り、第２の試料分注プローブ１８ｂは、軸中心１９を中心とし、距離ｒを半径とする円の
円弧の軌道を描いてＲ１方向及びＲ２方向に移動する。

このように、第１の試料分注プローブ１８ａと第２の試料分注プローブ１８ｂを、同一
円周上の円弧の軌道を描いて移動させることができるため、第１及び第２の試料分注プロ
ーブ１８ａ，１８ｂにより分注させる試料を収容する試料容器１１を複数の位置に自由度
高く配置することができるため、分析部１０の小型化を図ることができる。

次に、図２乃至図５を参照して、試料容器１１内の試料の分注について説明する。

図４は、第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂ、第１及び第２の移動機構１
９ａ，１９ｂ、サンプラ１２ａに保持された試料容器１１、サンプラ１２ｂ上の試料ラッ
ク１３に保持された試料容器１１、並びに反応ディスク１７に保持された反応容器１６の
配置を示した平面図である。

第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂ並びに第１及び第２の移動機構１９ａ
，１９ｂの周囲に、サンプラ１２ａ、サンプラ１２ｂ及び反応ディスク１７が配置されて
いる。また、サンプラ１２ｂと反応ディスク１７の間に、第１試料分注プローブ１８ａの
洗浄が行われる第１の洗浄槽２８ａが配置されている。また、サンプラ１２ａと反応ディ
スク１７の間に、第２の試料分注プローブ１８ｂの洗浄が行われる第２の洗浄槽２８ｂが
配置されている。

サンプラ１２ｂ上の試料ラック１３は、駆動部３１によりＬ１方向に移動された後、引
き込み位置でＬ２方向に移動される。そして、第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，
１８ｂにより、保持した試料容器１１内の試料の吸引が可能となる第１の試料容器位置Ｐ
１１で停止する。

サンプラ１２ａに保持された試料容器１１は、第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ
，１８ｂにより試料の吸引が可能となる第２の試料容器位置Ｐ３１で停止する。また、洗
浄ノズル２７で洗浄が行われたＡ及びＢライン用の反応容器１６は、分析サイクルタイム
毎に回転移動して移動前とは異なる、第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂに
より試料の吐出が可能となる第１及び第２反応容器位置Ｃ２１，Ｃ２２で停止する。そし
て、第１及び第２反応容器位置Ｃ２１，Ｃ２２に反応容器１６が停止している間に、第１
の試料分注プローブ１８ａにより第１の反応容器位置Ｃ２１の反応容器１６に試料を吐出
させると共に第２の試料分注プローブ１８ｂにより第２の反応容器位置Ｃ２２の反応容器
１６に試料を吐出させることができる。

第１の試料分注プローブ１８ａは、第２の試料分注プローブ１８ｂとの衝突を回避する
ために第２の試料分注プローブ１８ｂとは異なるタイミングで第１の試料容器位置Ｐ１１
上方の上停止位置で停止する。また、第１の反応容器位置Ｃ２１上方の上停止位置で停止
する。また、第１の試料容器位置Ｐ１１の上停止位置と、第１の反応容器位置Ｃ２１の上
停止位置の間が、第１の距離Ｄ１１となる円弧状の第１の軌道Ｔ１に沿って、水平方向の
Ｒ１方向及びＲ２方向に移動する。

そして、第１の試料分注プローブ１８ａは、第１の試料容器位置Ｐ１１の上停止位置か
ら下降して、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止する試料容器１１内の試料を吸引してから
前記上停止位置まで上昇する。また、第１の反応容器位置Ｃ２１の上停止位置から下降し
て、第１の反応容器位置Ｃ２１の反応容器１６内に試料を吐出してから前記上停止位置ま
で上昇する。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、第１の試料分注プローブ１８ａとの衝突を回避する
ために第１の試料分注プローブ１８ａとは異なるタイミングで第１の試料容器位置Ｐ１１
の上停止位置で停止する。また、第２の反応容器位置Ｃ２２上方の上停止位置で停止する
。また、第１の試料容器位置Ｐ１１の上停止位置と第２の反応容器位置Ｃ２２の上停止位
置の間が、第１の距離Ｄ１１よりも長い第２の距離Ｄ１２となる円弧状の第１の軌道Ｔ１
の延長線上にある第２の軌道Ｔ２に沿って、第１の試料分注プローブ１８ａが第１の軌道
Ｔ１に沿って移動するときと同じ速度でＲ１方向及びＲ２方向に移動する。

そして、第２の試料分注プローブ１８ｂは、第１の試料容器位置Ｐ１１の上停止位置か
ら下降して、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止する試料容器１１内の試料を吸引してから
前記上停止位置まで上昇する。また、第２の反応容器位置Ｃ２２の上停止位置から下降し
て、第２の反応容器位置Ｃ２２の反応容器１６内に試料を吐出してから前記上停止位置ま
で上昇する。

図５は、第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂが第２の試料容器位置Ｐ３１
で停止する試料容器１１内の試料を分注するときの動作を説明するための図である。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、第１の試料分注プローブ１８ａとの衝突を回避する
ために第１の試料分注プローブ１８ａとは異なるタイミングで第２の試料容器位置Ｐ３１
上方の上停止位置で停止する。また、第２の反応容器位置Ｃ２２の上停止位置で停止する
。また、第２の試料容器位置Ｐ３１の上停止位置と、第２の反応容器位置Ｃ２２の上停止
位置の間が、第３の距離Ｄ１３となる円弧状の第２の軌道Ｔ２に含まれる第３の軌道Ｔ３
に沿って、Ｒ１方向及びＲ２方向に移動する。

そして、第２の試料分注プローブ１８ｂは、第２の試料容器位置Ｐ３１の上停止位置か
ら下降して、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止する試料容器１１内の試料を吸引してから
前記上停止位置まで上昇する。また、第２の反応容器位置Ｃ２２の上停止位置から下降し
て、第２の反応容器位置Ｃ２２の反応容器１６内に試料を吐出してから前記上停止位置ま
で上昇する。

第１の試料分注プローブ１８ａは、第２の試料分注プローブ１８ｂとの衝突を回避する
ために第２の試料分注プローブ１８ｂとは異なるタイミングで第２の試料容器位置Ｐ３１
の上停止位置で停止する。また、第１の反応容器位置Ｃ２１の上停止位置で停止する。ま
た、第２の試料容器位置Ｐ３１の上停止位置と、第１の反応容器位置Ｃ２１の上停止位置
の間が、第３の距離Ｄ１３よりも長い第４の距離Ｄ１４となる円弧状の第３の軌道Ｔ３の
延長線上にある第４の軌道Ｔ４に沿って、第２の試料分注プローブ１８ｂが第３の軌道Ｔ
３に沿って移動するときと同じ速度でＲ１方向及びＲ２方向に移動する。

そして、第１の試料分注プローブ１８ａは、第２の試料容器位置Ｐ３１の上停止位置か
ら下降して、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止する試料容器１１内の試料を吸引してから
前記上停止位置まで上昇する。また、第１の反応容器位置Ｃ２１の上停止位置から下降し
て、第１の反応容器位置Ｃ２１の反応容器１６内に試料を吐出してから前記上停止位置ま
で上昇する。

分析制御部３２は、試料容器１１内の試料を反応容器１６に分注させる場合、当該試料
と当該反応容器１６の間における第１又は第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂの移動
距離に基づいて、第１又は第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂの移動距離が長い一方
の分注プローブを移動距離が短い他方の試料分注プローブよりも高速で前記試料容器１１
上方の上停止位置から下降させる。

以下、図１乃至図１４を参照して、自動分析装置１００の試料の分注における動作につ
いて説明する。

先ず、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止する試料容器１１内の試料に複数のＡライン検
査項目及びＡライン検査項目と同数のＢライン検査項目が設定されている場合の分注につ
いて説明する。

分析制御部３２は、Ａライン検査項目とＢライン検査項目が設定されている場合には移
動距離の短い第１の試料分注プローブ１８ａに同一試料の１回目の分注を行わせる。そし
て、第１の試料分注プローブ１８ａによる同一試料の（２ｎ−１）回目（ｎは正の整数）
の分注と第２の試料分注プローブ１８ｂによる２ｎ回目の分注とを１分析サイクルタイム
の間に行わせる。

第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂは、第１の試料容器位置Ｐ１１上方の
上停止位置において、下端が同じ高さになるように調整されている。

図６は、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の同一試料の１回目の分
注が行われるときの第１の試料分注プローブ１８ａの１回目の分注動作を示した図である
。この第１の試料分注プローブ１８ａは、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止する試料容器
１１内の試料と接触することにより、当該試料の液面を検出する第１の液面検出器２９ａ
に電気的に接続されている。

第１の試料分注プローブ１８ａは、第１の洗浄槽２８ａから第１の軌道Ｔ１に沿ってＲ
１方向に移動した後、図６（ａ）に示すように、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試
料容器１１上方の上停止位置Ｐ１２で停止する。次いで、図６（ｂ）及び図６（ｃ）に示
すように、上停止位置Ｐ１２から第１の液面検出器２９ａにより試料容器１１内の試料の
液面が１回目に検出される第１の検出位置Ｐ１３まで第１の速度Ｖ１で下降する。

分析制御部３２は、第１の試料分注プローブ１８ａを上停止位置Ｐ１２から第１の検出
位置Ｐ１３まで下降させるために駆動部３１の第１の移動機構１９ａを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、第１の試料分注プローブ１８ａが下降した上
停止位置Ｐ１２と第１の検出位置Ｐ１３の間の距離Ｄ２１を算出する。

第１の試料分注プローブ１８ａは、図６（ｄ）に示すように、第１の検出位置Ｐ１３か
ら距離Ｄ２２下方の１回目の試料の吸引が可能な第１の吸引位置Ｐ１４で停止した後、試
料容器１１内の試料の吸引を行う。

ここで、第１の試料分注プローブ１８ａを下降させるときの第１の速度Ｖ１は、試料容
器１１内の試料の液面を検出してから第１の吸引位置Ｐ１４で停止したときの衝撃による
、第１の試料分注プローブ１８ａの試料の分注精度を許容範囲内に維持することができる
速度に設定されている。

このように、第１の試料分注プローブ１８ａのみを試料容器１１内に進入させて試料の
吸引を行うため、小児検体のように微量な試料を収容可能な開口面積の狭い試料容器１１
の場合でも、第１の試料分注プローブ１８ａを進入させて試料の吸引を行うことができる
。

第１の試料分注プローブ１８ａは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ１２まで上昇する。
次いで、上停止位置Ｐ１２から第１の軌道Ｔ１に沿ってＲ２方向へ移動し、第１の反応容
器位置Ｃ２１上方の上停止位置で停止する。そして、前記上停止位置から下降して、第１
の反応容器位置Ｃ２１の反応容器１６内に試料を吐出した後、当該上停止位置まで上昇す
る。その後、第１の軌道Ｔ１に沿って第１の洗浄槽２８ａまで移動する。

図７は、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の同一試料の２回目の分
注が行われるときの第２の試料分注プローブ１８ｂの１回目の分注動作を示した図である
。この第２の試料分注プローブ１８ｂは、第１の試料容器位置Ｐ１１における試料容器１
１内の試料と接触することにより、当該試料の液面を検出する第２の液面検出器２９ｂに
電気的に接続されている。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、第２の洗浄槽２８ｂから第２の軌道Ｔ２に沿ってＲ
２方向に移動する。そして、同一試料の１回目の分注を行うために試料を吸引した第１の
試料分注プローブ１８ａが上停止位置Ｐ１２からＲ２方向へ移動した後、図７（ａ）に示
すように、上停止位置Ｐ１２で停止する。次いで、図７（ｂ）に示すように、上停止位置
Ｐ１２から第１の速度Ｖ１よりも高速の第２の速度Ｖ２で下降する。

このように、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の試料の分注を行わ
せるために、移動距離が長い方の第２の試料分注プローブ１８ｂを移動距離が短い方の第
１の試料分注プローブ１８ａよりも高速で下降させることにより、第１及び第２の試料分
注プローブ１８ａ，１８ｂを異なるタイミングで試料の吸引を行わせることによる試料の
分注時間の延長を防ぐことができる。

分析制御部３２は、図８に示すように、同一試料の１回目の液面の検出で算出した距離
Ｄ２１から距離２３を差し引くことにより、試料容器１１内の試料と接触する前に第２の
試料分注プローブ１８ｂを第２の速度Ｖ２から減速させる第１の減速位置Ｐ１５となる距
離Ｄ２４を算出する。

このように、第１の検出位置Ｐ１３に基づいて、第１の減速位置Ｐ１５を求めることに
より、試料容器１１内の試料に接触する前に高速で下降している第２の試料分注プローブ
１８ｂを減速させることができる。

なお、試料の分注が行われる前に、第１の試料容器位置Ｐ１１に試料容器１１を配置し
、上停止位置Ｐ１２から第１及び第２の液面検出器２９ａ，２９ｂにより試料容器１１内
の試料の液面が検出される検出位置までに第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８
ｂを下降させる。そして、第１の試料分注プローブ１８ａを下降させて算出される上停止
位置Ｐ１２と検出位置間の第１の検出距離と、第２の試料分注プローブ１８ｂを下降させ
て算出される上停止位置Ｐ１２と検出位置間の第２の検出距離とが異なる場合、上停止位
置Ｐ１２における第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂの下端の高さが異なる
ものと判断し、第１の検出距離と第２の検出距離の差に基づいて第１の減速位置Ｐ１５を
補正するように実施してもよい。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、図７（ｃ）に示すように、上停止位置Ｐ１２から距
離Ｄ２４下方の第１の減速位置Ｐ１５まで第２の速度Ｖ２で下降する。次いで第１の減速
位置Ｐ１５で減速してから、図７（ｄ）及び図７（ｅ）に示すように、第２の液面検出器
２９ｂにより試料容器１１内の試料の液面が２回目に検出される第２の検出位置Ｐ１６ま
で第１の速度Ｖ１以下の速度ＶＬで下降する。そして、図７（ｆ）に示すように、第２の
検出位置Ｐ１６から距離Ｄ２２下方の２回目の試料の吸引が可能な第２の吸引位置Ｐ１７
で停止した後、試料容器１１内の試料の吸引を行う。

このように、第２の試料分注プローブ１８ｂのみを試料容器１１内に進入させて試料の
吸引を行うため、小児検体のように微量な試料を収容可能な開口面積の狭い試料容器１１
の場合でも、第２の試料分注プローブ１８ｂを進入させて試料の吸引を行うことができる
。

ここで、第２の試料分注プローブ１８ｂを下降させるときの第２の速度Ｖ２は、この速
度で液面を検出すると、試料容器１１内の試料の液面を検出してから第２の吸引位置Ｐ１
７で停止したときの衝撃による、第２の試料分注プローブ１８ｂの試料の分注精度の低下
を招くほどの高速に設定されている。

このように、高速で下降させている第２の試料分注プローブ１８ｂを第１の減速位置Ｐ
１５で減速させてから試料容器１１内の試料の液面と接触させることにより、第２の吸引
位置Ｐ１７で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したとき
の衝撃による第２の試料分注プローブ１８ｂの試料の分注精度の低下を防ぐことができる
。

分析制御部３２は、第２の試料分注プローブ１８ｂを上停止位置Ｐ１２から第２の検出
位置Ｐ１６まで下降させるために駆動部３１の第２の移動機構１９ｂを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、第２の試料分注プローブ１８ｂが下降した上
停止位置Ｐ１２と第２の検出位置Ｐ１６の間の距離Ｄ２５を算出する。

第２の試料分注プローブ１８ｂは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ１２まで上昇する。
次いで、上停止位置Ｐ１２から第２の軌道Ｔ２に沿ってＲ１方向へ移動し、第２の反応容
器位置Ｃ２２の上停止位置で停止する。そして、前記上停止位置から下降して、第１の試
料分注プローブ１８ａにより同一試料の１回目の分注により試料が吐出された第１の反応
容器位置Ｃ２１の反応容器１６に隣接する第２の反応容器位置Ｃ２２の反応容器１６内に
試料を吐出する。

第２の試料分注プローブ１８ｂは試料を吐出した後、第２の反応容器位置Ｃ２２の上停
止位置まで上昇する。次いで、前記上停止位置から第２の軌道Ｔ２に沿って第２の洗浄槽
２８ｂまで移動する。

なお、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止する試料容器１１内の試料にＢライン検査項目
が設定され、Ａライン検査項目が設定されていない場合、第１の試料分注プローブ１８ａ
は、図６（ｃ）に示した上停止位置Ｐ１２から第１の検出位置Ｐ１３まで第１の速度Ｖ１
で下降する。そして、第１の検出位置Ｐ１３まで下降した後、第１の吸引位置Ｐ１４まで
下降することなく上昇して第１の洗浄槽２８ａまで移動して待機する。一方、第２の試料
分注プローブ１８ｂは、図７に示した分注動作により、同一試料の１回目の分注を行う。
この第１の試料分注プローブ１８ａによる試料の液面検出動作及び第２の試料分注プロー
ブ１８ｂによる試料の１回目の分注動作を１分析サイクルタイムの間に行う。そして、Ｂ
ライン検査項目が複数設定されている場合、第２の試料分注プローブ１８ｂは、分析サイ
クルタイム毎に試料の分注を行う。一方、第１の試料分注プローブ１８ａは、第２の試料
分注プローブ１８ｂによる同一試料の分注が終了するまでの間、第１の洗浄槽２８ａで洗
浄が行われる。

このように、第２の試料分注プローブ１８ｂによる同一試料の分注が終了するまでの間
、第１の試料分注プローブ１８ａを第１の洗浄槽２８ａで洗浄することができる。これに
より、次に分注を行う試料容器１１内の試料の汚染を低減することができる。

図９は、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の同一試料の３回目の分
注が行われるときの第１の試料分注プローブ１８ａの２回目の分注動作を示した図である
。

第１の試料分注プローブ１８ａは、第１の洗浄槽２８ａから第１の軌道Ｔ１に沿ってＲ
１方向に移動する。そして、同一試料の２回目の分注を行うために試料を吸引した第２の
試料分注プローブ１８ｂが上停止位置Ｐ１２からＲ１方向へ移動した後、図９（ａ）に示
すように、上停止位置Ｐ１２で停止する。次いで、図９（ｂ）に示すように、上停止位置
Ｐ１２から第２の速度Ｖ２で下降する。

分析制御部３２は、同一試料の２回目の液面の検出で算出した距離Ｄ２５から距離２３
を差し引いて、第１の試料分注プローブ１８ａを第２の速度Ｖ２から減速させる第２の減
速位置Ｐ１８となる、上停止位置Ｐ１２からの距離Ｄ２６を算出する。

このように、第２の検出位置Ｐ１６に基づいて、第２の減速位置Ｐ１８を求めることに
より、試料容器１１内の試料に接触する前に第１の試料分注プローブ１８ａを減速させる
ことができる。

第１の試料分注プローブ１８ａは、図９（ｃ）に示すように、上停止位置Ｐ１２から距
離Ｄ２６下方の第２の減速位置Ｐ１８まで第２の速度Ｖ２で下降する。次いで、第２の減
速位置Ｐ１８で減速してから、図９（ｄ）及び図９（ｅ）に示すように、第１の液面検出
器２９ａにより試料容器１１内の試料の液面が３回目に検出される第３の検出位置Ｐ１９
まで速度ＶＬで下降する。そして、図９（ｆ）に示すように、第３の検出位置Ｐ１９から
距離Ｄ２２下方の３回目の試料の吸引が可能な第３の吸引位置Ｐ２０で停止した後、試料
容器１１内の試料の吸引を行う。

このように、高速で下降させている第１の試料分注プローブ１８ａを第２の減速位置Ｐ
１８で減速させてから、試料容器１１内の試料の液面と接触させることにより、第３の吸
引位置２０で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したとき
の衝撃による第１の試料分注プローブ１８ａの試料の分注精度の低下を防ぐことができる
。

なお、同一試料の３回目の分注における移動距離が短い方の第１の試料分注プローブ１
８ａを１回目の分注における速度よりも高速で下降させることにより、第３の検出位置Ｐ
１９まで速度ＶＬよりも更に低速で下降させて、試料の分注精度の向上を図るように実施
してもよい。

分析制御部３２は、第１の試料分注プローブ１８ａを上停止位置Ｐ１２から第３の検出
位置Ｐ１９まで下降させるために駆動部３１の第１の移動機構１９ａを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、第１の試料分注プローブ１８ａが下降した上
停止位置Ｐ１２と第３の検出位置Ｐ１９の間の距離Ｄ２７を算出する。

第１の試料分注プローブ１８ａは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ１２まで上昇する。
次いで、上停止位置Ｐ１２から第１の軌道Ｔ１に沿って第２の反応容器位置Ｃ２２の上停
止位置まで移動した後に下降して、同一試料の１回目及び２回目の分注が行われた後に回
転移動して第１の反応容器位置Ｃ２１で停止する反応容器１６内に試料を吐出する。試料
を吐出した後、第１の反応容器位置Ｃ２１の上停止位置まで上昇してから、第１の洗浄槽
２８ａまで移動する。

図１０は、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の同一試料の４回目の
分注が行われるときの第２の試料分注プローブ１８ｂの２回目の分注動作を示した図であ
る。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、第２の洗浄槽２８ｂから第２の軌道Ｔ２に沿ってＲ
２方向に移動する。そして、同一試料の３回目の分注を行うために試料を吸引した第１の
試料分注プローブ１８ａが上停止位置Ｐ１２からＲ２方向へ移動した後、図１０（ａ）に
示すように、上停止位置Ｐ１２で停止する。次いで、図１０（ｂ）に示すように、第２の
速度Ｖ２で下降する。

このように、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の試料の分注を行わ
せるために、移動距離が長い方の第２の試料分注プローブ１８ｂを移動距離が短い方の１
回目の分注における第１の試料分注プローブ１８ａよりも高速で下降させることにより、
第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂを異なるタイミングで試料の吸引を行わ
せることによる試料の分注時間の延長を防ぐことができる。

分析制御部３２は、同一試料の３回目の液面の検出で算出した距離Ｄ２７から距離２３
を差し引いて、第２の試料分注プローブ１８ｂを第２の速度Ｖ２から減速させる第３の減
速位置Ｐ２１となる、上停止位置Ｐ１２からの距離Ｄ２８を算出する。

このように、第３の検出位置Ｐ１９に基づいて、第３の減速位置Ｐ２１を求めることに
より、試料容器１１内の試料に接触する前に第２の試料分注プローブ１８ｂを減速させる
ことができる。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、図１０（ｃ）に示すように、上停止位置Ｐ１２から
距離Ｄ２８下方の第３の減速位置Ｐ２１まで第２の速度Ｖ２で下降する。次いで、第３の
減速位置Ｐ２１で減速してから、図１０（ｄ）及び図１０（ｅ）に示すように、第２の液
面検出器２９ｂにより試料容器１１内の試料の液面が４回目に検出される第４の検出位置
Ｐ２２まで速度ＶＬで下降する。そして、図１０（ｆ）に示すように、第４の検出位置Ｐ
２２から距離Ｄ２２下方の第４の吸引位置Ｐ２３で停止した後、試料容器１１内の試料の
吸引を行う。

このように、高速で下降させている第２の試料分注プローブ１８ｂを第３の減速位置Ｐ
２１で減速させてから試料容器１１内の試料の液面と接触させることにより、第４の吸引
位置２３で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの
衝撃による第２の試料分注プローブ１８ｂの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。

分析制御部３２は、第２の試料分注プローブ１８ｂが下降した上停止位置Ｐ１２から第
４の検出位置Ｐ２２までの距離Ｄ２９を算出する。

第２の試料分注プローブ１８ｂは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ１２まで上昇する。
次いで、上停止位置Ｐ１２から第２の反応容器位置Ｃ２２の上停止位置まで移動した後に
下降して、同一試料の１回目及び２回目の分注が行われた後に回転移動して第２の反応容
器位置Ｃ２２で停止する反応容器１６内に試料を吐出する。試料を吐出した後、第２の反
応容器位置Ｃ２２の上停止位置まで上昇してから、第２の洗浄槽２８ｂまで移動する。

同一試料の４回目の分注が行われた後、同一試料の（２ｍ−１）回目（ｍは３以上の整
数）の分注が行われる場合、第１の試料分注プローブ１８ａは第１の洗浄槽２８ａからＲ
１方向に移動する。そして、同一試料の２（ｍ−１）回目の分注を行うために試料を吸引
した第２の試料分注プローブ１８ｂが上停止位置Ｐ１２からＲ１方向へ移動した後、上停
止位置Ｐ１２で停止する。次いで、上停止位置Ｐ１２から第２の速度Ｖ２で下降する。

分析制御部３２は、同一試料の２（ｍ−１）回目の液面の検出で算出した上停止位置Ｐ
１２と第２（ｍ−１）の検出位置間の距離から距離２３を差し引いて、第１の試料分注プ
ローブ１８ａを第２の速度Ｖ２から減速させる第（ｍ＋１）の減速位置となる、上停止位
置Ｐ１２からの距離を算出する。

第１の試料分注プローブ１８ａは、上停止位置Ｐ１２から算出された距離下方の第（ｍ
＋１）の減速位置まで第２の速度Ｖ２で下降し、第（ｍ＋１）の減速位置で減速してから
、試料容器１１内の試料の液面が（２ｍ−１）回目に検出される第（２ｍ−１）の検出位
置まで速度ＶＬで下降する。そして、第（２ｍ−１）の検出位置から距離Ｄ２２下方の第
（２ｍ−１）の吸引位置で試料容器１１内の試料の吸引を行う。

第１の試料分注プローブ１８ａは上停止位置Ｐ１２まで上昇して第２の反応容器位置Ｃ
２２の上停止位置まで移動した後に下降して、同一試料の（２ｍ−３）回目及び２（ｍ−
１）回目の分注が行われた後に回転移動して第１の反応容器位置Ｃ２１で停止する反応容
器１６内に試料を吐出する。そして、試料を吐出してから、第１の反応容器位置Ｃ２１の
上停止位置まで上昇した後、第１の洗浄槽２８ａまで移動する。

そして、第１の試料分注プローブ１８ａは、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料
容器１１内の試料の分注を引き続き行う場合、第１の洗浄槽２８ａから上停止位置Ｐ１２
まで移動する。また、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の試料の分注
を終了する場合、第１の洗浄槽２８ａで洗浄が行われる。

同一試料の２ｍ回目の分注において、第２の試料分注プローブ１８ｂは、第２の洗浄槽
２８ｂからＲ２方向に移動する。そして、同一試料の（２ｍ−１）回目の分注を行うため
に試料を吸引した第１の試料分注プローブ１８ａが上停止位置Ｐ１２からＲ２方向へ移動
した後、上停止位置Ｐ１２で停止する。次いで上停止位置Ｐ１２から第２の速度Ｖ２で下
降する。

分析制御部３２は、同一試料の（２ｍ−１）回目の液面の検出で算出した上停止位置Ｐ
１２と第（２ｍ−１）の検出位置間の距離から距離２３を差し引いて、第２の試料分注プ
ローブ１８ｂを第２の速度Ｖ２から減速させる第（ｍ＋２）の減速位置となる距離を算出
する。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、上停止位置Ｐ１２から算出された距離下方の第（ｍ
＋２）の減速位置まで第２の速度Ｖ２で下降し、第（ｍ＋２）の減速位置で減速してから
、試料容器１１内の試料の液面が２ｍ回目に検出される第２ｍの検出位置まで速度ＶＬで
下降する。そして、第２ｍの検出位置から距離Ｄ２２下方の第２ｍの吸引位置で試料容器
１１内の試料の吸引を行う。

第２の試料分注プローブ１８ｂは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ１２まで上昇して第
２の反応容器位置Ｃ２２の上停止位置まで移動する。次いで、前記上停止位置から下降し
て、同一試料の（２ｍ−３）回目及び２（ｍ−１）回目の分注が行われた後に回転移動し
て第２の反応容器位置Ｃ２２で停止する反応容器１６内に試料を吐出する。そして、試料
を吐出してから、第２の反応容器位置Ｃ２２上方の上停止位置まで上昇した後、第２の洗
浄槽２８ｂまで移動する。

そして、第２の試料分注プローブ１８ｂは、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料
容器１１内の試料の分注を引き続き行う場合、第２の洗浄槽２８ｂから上停止位置Ｐ１２
まで移動する。また、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の試料の分注
を終了する場合、第２の洗浄槽２８ｂで洗浄が行われる。

次に、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止する試料容器１１内の試料に複数のＡライン検
査項目及びＢライン検査項目が設定され、Ａライン検査項目とＢライン検査項目の数が異
なる場合における分注について説明する。

分析制御部３２はＡライン検査項目又はＢライン検査項目の設定された数が少ない一方
の検査項目の設定数がｃ（ｃは２以上の整数）であり、数が多い他方の検査項目の設定数
がｄ（ｄは３以上の整数）である場合、第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂ
による同一試料の分注をそれぞれｃ回に亘って交互に行わせる。その後、他方の検査項目
のラインに対応する第１又は第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂの一方の試料分注プ
ローブによる（ｄ−ｃ）回の分注を分析サイクルタイム毎に行わせる。

同一試料の（２ｃ＋１）の分注において、一方の試料分注プローブは一方の試料分注プ
ローブの洗浄が行われる第１又は第２の洗浄槽２８ａ，２８ｂの一方の洗浄槽から移動し
、上停止位置Ｐ１２で停止する。次いで、上停止位置Ｐ１２から第２の速度Ｖ２で下降す
る。

分析制御部３２は、同一試料の２ｃ回目の液面の検出で算出した上停止位置Ｐ１２と第
２ｃの検出位置間の距離から距離２３を差し引いて、一方の試料分注プローブを第２の速
度Ｖ２から減速させる第２ｃの減速位置となる、上停止位置Ｐ１２からの距離を算出する
。

一方の試料分注プローブは、上停止位置Ｐ１２から算出された距離下方の第２ｃの減速
位置まで第２の速度Ｖ２で下降し、第２ｃの減速位置で減速してから、試料容器１１内の
試料の液面が（２ｃ＋１）回目に検出される第（２ｃ＋１）の検出位置まで速度ＶＬで下
降する。そして、第（２ｃ＋１）の検出位置から距離Ｄ２２下方の第（２ｃ＋１）の吸引
位置で試料容器１１内の試料の吸引を行う。

一方の試料分注プローブは上停止位置Ｐ１２まで上昇して、一方の試料分注プローブに
対応する第１又は第２の反応容器位置Ｃ２１，Ｃ２２の一方の反応容器位置上方の上停止
位置まで移動した後に下降して、同一試料の（２ｃ−１）回目及び２ｃ回目の分注が行わ
れた後に回転移動して一方の反応容器位置で停止する反応容器１６内に試料を吐出する。
そして、試料を吐出してから、一方の反応容器位置上方の上停止位置まで上昇した後、一
方の洗浄槽まで移動する。

そして、一方の試料分注プローブは、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１
１内の試料の分注を引き続き行う場合、一方の洗浄槽から上停止位置Ｐ１２まで移動する
。また、第１の試料容器位置Ｐ１１で停止した試料容器１１内の試料の分注を終了する場
合、一方の洗浄槽で洗浄が行われる。

他方の試料分注プローブは、一方の試料分注プローブによる同一試料の分注が終了する
まで他方の洗浄槽で停止して洗浄が行われる。

このように、一方の試料分注プローブによる同一試料の分注が終了するまでの間、他方
の試料分注プローブを試料容器１１内の試料と接触させることなく、他方の洗浄槽で洗浄
することができる。これにより、次に分注を行う試料容器１１内の試料の汚染を低減する
ことができる。

次に、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止する試料容器１１内の試料に複数のＡライン検
査項目及びＡライン検査項目と同数のＢライン検査項目が設定されている場合の分注につ
いて説明する。

分析制御部３２は、Ａライン検査項目とＢライン検査項目が設定されている場合には移
動距離の短い第２の試料分注プローブ１８ｂから試料の分注を行わせる。そして、第１の
試料分注プローブ１８ａによる同一試料の（２ｎ−１）回目（ｎは正の整数）の分注と第
２の試料分注プローブ１８ｂによる２ｎ回目の分注とを１分析サイクルタイムの間に行わ
せる。

第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂは、第２の試料容器位置Ｐ３１上方の
上停止位置において、下端が同じ高さになるように調整されている。

図１１は、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止した試料容器１１内の同一試料の１回目の
分注が行われるときの第２の試料分注プローブ１８ｂの１回目の分注動作を示した図であ
る。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、第２の洗浄槽２８ｂから第３の軌道Ｔ３に沿ってＲ
２方向に移動した後、第２の試料容器位置Ｐ３１における試料容器１１上方の上停止位置
Ｐ３２で停止する。次いで、上停止位置Ｐ３２から第２の液面検出器２９ｂにより試料容
器１１内の試料の液面が１回目に検出される第１の検出位置Ｐ３３まで第１の速度Ｖ３で
下降する。分析制御部３２は、第２の試料分注プローブ１８ｂが下降した上停止位置Ｐ３
２と第１の検出位置Ｐ３３の間の距離Ｄ３１を算出する。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、第１の検出位置Ｐ３３から距離Ｄ２２下方の１回目
の試料の吸引が可能な第１の吸引位置Ｐ３４で停止した後、試料容器１１内の試料の吸引
を行う。

ここで、第２の試料分注プローブ１８ｂを下降させるときの第３の速度Ｖ３は、試料容
器１１内の試料の液面を検出してから第１の吸引位置Ｐ３４で停止したときの衝撃による
、第２の試料分注プローブ１８ｂの試料の分注精度の低下を招かない速度に設定されてい
る。

第２の試料分注プローブ１８ｂは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ３２まで上昇する。
次いで、上停止位置Ｐ３２から移動して第２の反応容器位置Ｃ２２の上停止位置で停止す
る。そして、前記上停止位置から下降して、第２の反応容器位置Ｃ２２の反応容器１６内
に試料を吐出した後、当該上停止位置まで上昇する。その後、第２の洗浄槽２８ｂまで移
動する。

図１２は、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止した試料容器１１内の同一試料の２回目の
分注が行われる場合の第１の試料分注プローブ１８ａの１回目の分注動作を示した図であ
る。

第１の試料分注プローブ１８ａは、第１の洗浄槽２８ａから第４の軌道Ｔ４に沿ってＲ
１方向に移動する。そして、同一試料の１回目の分注を行うために試料を吸引した第２の
試料分注プローブ１８ｂが上停止位置Ｐ３２からＲ１方向へ移動した後、上停止位置Ｐ３
２で停止する。次いで、上停止位置Ｐ３２から第１の速度Ｖ３よりも高速の第２の速度Ｖ
４で下降する。

このように、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止した試料容器１１内の試料の分注を行わ
せるために、移動距離が長い方の第１の試料分注プローブ１８ａを移動距離が短い方の第
２の試料分注プローブ１８ｂよりも高速で下降させることにより、第１及び第２の試料分
注プローブ１８ａ，１８ｂを異なるタイミングで試料の吸引を行わせることによる試料の
分注時間の延長を防ぐことができる。

分析制御部３２は、同一試料の１回目の液面の検出で算出した距離Ｄ３１から距離２３
を差し引いて、第１の試料分注プローブ１８ａを第２の速度Ｖ４から減速させる第１の減
速位置Ｐ３５となる、上停止位置Ｐ１２からの距離Ｄ３４を算出する。

このように、第１の検出位置Ｐ３３に基づいて、第１の減速位置Ｐ３５を求めることに
より、試料容器１１内の試料に接触する前に第１の試料分注プローブ１８ａを減速させる
ことができる。

第１の試料分注プローブ１８ａは、上停止位置Ｐ３２から距離Ｄ３４下方の第１の減速
位置Ｐ３５まで第２の速度Ｖ４で下降する。次いで、第１の減速位置Ｐ３５で減速してか
ら、第１の液面検出器２９ａにより試料容器１１内の試料の液面が２回目に検出される第
２の検出位置Ｐ３６まで第２の速度Ｖ３以下の速度ＶＬで下降する。そして、第２の検出
位置Ｐ３６から距離Ｄ２２下方の２回目の試料の吸引が可能な第２の吸引位置Ｐ３７で停
止した後、試料容器１１内の試料の吸引を行う。

ここで、第１の試料分注プローブ１８ａを下降させるときの第４の速度Ｖ４は、この速
度で液面を検出すると、試料容器１１内の試料の液面を検出してから第２の吸引位置Ｐ３
７で停止したときの衝撃による、第１の試料分注プローブ１８ａの試料の分注精度の低下
を招くほどの高速に設定されている。

このように、高速で下降させている第１の試料分注プローブ１８ａを第１の減速位置Ｐ
３５で減速させてから試料容器１１内の試料の液面と接触させることにより、第２の吸引
位置３７で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの
衝撃による第１の試料分注プローブ１８ａの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。

分析制御部３２は、第１の試料分注プローブ１８ａを上停止位置Ｐ３２から第２の検出
位置Ｐ３６まで下降させるために駆動部３１の第１の移動機構１９ａを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、上停止位置Ｐ３２と第２の検出位置Ｐ３６間
の距離Ｄ３５を算出する。

第１の試料分注プローブ１８ａは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ３２まで上昇する。
次いで、上停止位置Ｐ３２から第４の軌道Ｔ４に沿って移動し、第１の反応容器位置Ｃ２
１の上停止位置で停止する。そして、前記上停止位置から下降して、第２の試料分注プロ
ーブ１８ｂにより同一試料の１回目の分注により試料が吐出された第２の反応容器位置Ｃ
２２の反応容器１６に隣接する第１の反応容器位置Ｃ２１の反応容器１６内に試料を吐出
する。試料を吐出した後、第１の反応容器位置Ｃ２１の上停止位置まで上昇してから第１
の洗浄槽２８ａまで移動する。

図１３は、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止した試料容器１１内の同一試料の３回目の
分注が行われる場合の第２の試料分注プローブ１８ｂの２回目の分注動作を示した図であ
る。

第２の試料分注プローブ１８ｂは、第２の洗浄槽２８ｂからＲ２方向へ移動する。そし
て、同一試料の２回目の分注を行うために試料を吸引した第１の試料分注プローブ１８ａ
が上停止位置Ｐ３２からＲ２方向へ移動した後、上停止位置Ｐ３２で停止する。次いで、
上停止位置Ｐ３２から第２の速度Ｖ４で下降する。

分析制御部３２は、同一試料の２回目の液面の検出で算出した距離Ｄ３５から距離２３
を差し引いて、第２の試料分注プローブ１８ｂを第２の速度Ｖ４から減速させる第２の減
速位置Ｐ３８となる、上停止位置Ｐ３２からの距離Ｄ３６を算出する。

第１の試料分注プローブ１８ａは、上停止位置Ｐ３２から距離Ｄ３６下方の第２の減速
位置Ｐ３８まで第２の速度Ｖ４で下降する。次いで、第２の減速位置Ｐ３８で減速してか
ら、第２の液面検出器２９ｂにより試料容器１１内の試料の液面が３回目に検出される第
３の検出位置Ｐ３９まで速度ＶＬで下降する。そして、第３の検出位置Ｐ３９から距離Ｄ
２２下方の３回目の試料の吸引が可能な第３の吸引位置Ｐ４０で停止した後、試料容器１
１内の試料の吸引を行う。

このように、高速で下降させている第２の試料分注プローブ１８ｂを第２の減速位置Ｐ
３８で減速させてから試料容器１１内の試料の液面と接触させることにより、第３の吸引
位置４０で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの
衝撃による第２の試料分注プローブ１８ｂの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。

分析制御部３２は、第２の試料分注プローブ１８ｂを上停止位置Ｐ３２から第３の検出
位置Ｐ３９まで下降させるために駆動部３１の第２の移動機構１９ｂを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、上停止位置Ｐ３２と第３の検出位置Ｐ３９間
の距離Ｄ３７を算出する。

このように、第２の検出位置Ｐ３６に基づいて、第２の減速位置Ｐ３８を求めることに
より、試料容器１１内の試料に接触する前に第２の試料分注プローブ１８ｂを減速させる
ことができる。

第２の試料分注プローブ１８ｂは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ３２まで上昇する。
次いで、上停止位置Ｐ３２から第２の反応容器位置Ｃ２２の上停止位置まで移動した後に
下降して、同一試料の１回目及び２回目の分注が行われた後に回転移動して第２の反応容
器位置Ｃ２２で停止する反応容器１６内に試料を吐出する。

第２の試料分注プローブ１８ｂは試料を吐出してから、第２の反応容器位置Ｃ２２の上
停止位置まで上昇した後、第２の洗浄槽２８ｂまで移動する。そして、第２の試料容器位
置Ｐ３１で停止した試料容器１１内の試料の分注を引き続き行う場合、第２の洗浄槽２８
ｂから上停止位置Ｐ３２まで移動する。また、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止した試料
容器１１内の試料の分注を終了する場合、第２の洗浄槽２８ｂで洗浄が行われる。

図１４は、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止した試料容器１１内の同一試料の４回目の
分注が行われる場合の第１の試料分注プローブ１８ａの２回目の分注動作を示した図であ
る。

第１の試料分注プローブ１８ａは、第１の洗浄槽２８ａからＲ１方向に移動する。そし
て、同一試料の３回目の分注を行うために試料を吸引した第２の試料分注プローブ１８ｂ
が上停止位置Ｐ３２からＲ１方向へ移動した後、上停止位置Ｐ３２で停止してから第２の
速度Ｖ４で下降する。

このように、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止した試料容器１１内の試料の分注を行わ
せるために、移動距離が長い方の第１の試料分注プローブ１８ａを移動距離が短い方の１
回目の分注における第２の試料分注プローブ１８ｂよりも高速で下降させることにより、
第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂを異なるタイミングで試料の吸引を行わ
せることによる試料の分注時間の延長を防ぐことができる。

分析制御部３２は、同一試料の３回目の液面の検出で算出した距離Ｄ３７から距離２３
を差し引いて、第１の試料分注プローブ１８ａを第２の速度Ｖ４から減速させる第３の減
速位置Ｐ４１となる、上停止位置Ｐ３２からの距離Ｄ３８を算出する。

このように、第３の検出位置Ｐ３９に基づいて、第３の減速位置Ｐ４１を求めることに
より、試料容器１１内の試料に接触する前に第１の試料分注プローブ１８ａを減速させる
ことができる。

第１の試料分注プローブ１８ａは、上停止位置Ｐ３２から距離Ｄ３８下方の第３の減速
位置Ｐ４１まで第２の速度Ｖ４で下降する。次いで、第３の減速位置Ｐ４１で減速してか
ら、第１の液面検出器２９ａにより試料容器１１内の試料の液面が４回目に検出される第
４の検出位置Ｐ４２まで速度ＶＬで下降する。そして、第４の検出位置Ｐ４２から距離Ｄ
２２下方の第４の吸引位置Ｐ４３で停止した後、試料容器１１内の試料の吸引を行う。

このように、高速で下降させている第１の試料分注プローブ１８ａを第３の減速位置Ｐ
４１で減速させてから試料容器１１内の試料の液面と接触させることにより、第４の吸引
位置４３で停止させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの
衝撃による第１の試料分注プローブ１８ａの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。

分析制御部３２は、第１の試料分注プローブ１８ａを上停止位置Ｐ３２から第４の検出
位置Ｐ４２まで下降させるために駆動部３１の第１の移動機構１９ａを駆動するステッピ
ングモータに供給したパルス数に基づいて、上停止位置Ｐ３２と第４の検出位置Ｐ４２間
の距離Ｄ３９を算出する。

第１の試料分注プローブ１８ａは試料を吸引した後、上停止位置Ｐ３２まで上昇する。
次いで、上停止位置Ｐ３２から第１の反応容器位置Ｃ２１の上停止位置まで移動した後に
下降して、同一試料の１回目及び２回目の分注が行われた後に回転移動して第１の反応容
器位置Ｃ２１で停止する反応容器１６内に試料を吐出する。

第１の試料分注プローブ１８ａは試料を吐出した後、第１の反応容器位置Ｃ２１の上停
止位置まで上昇した後、第１の洗浄槽２８ａまで移動する。そして、第２の試料容器位置
Ｐ３１で停止した試料容器１１内の試料の分注を引き続き行う場合、第１の洗浄槽２８ａ
から上停止位置Ｐ３２まで移動する。また、第２の試料容器位置Ｐ３１で停止した試料容
器１１内の試料の分注を終了する場合、第１の洗浄槽２８ａで洗浄が行われる。

以上述べた実施形態によれば、第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂをそれ
ぞれ独立して移動可能に支持する第１及び第２の移動機構１９ａ，１９ｂを設け、第１又
は第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂの移動距離が長い一方の試料分注プローブを移
動距離が短い１回目の分注における他方の試料分注プローブよりも高速で下降させること
により、第１及び第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂを異なるタイミングで試料の吸
引を行わせることによる試料の分注時間の延長を防ぐことができる。

そして、高速で下降させている一方の試料分注プローブを減速させてから試料容器１１
内の試料の液面と接触させることにより、試料容器１１内の試料を吸引可能な位置で停止
させたときの衝撃を低減することができる。これにより、停止したときの衝撃による一方
の試料分注プローブの試料の分注精度の低下を防ぐことができる。

また、第１又は第２の試料分注プローブ１８ａ，１８ｂの一方の試料分注プローブが試
料の分注を行い、他方の試料分注プローブが待機しているとき、一方の試料分注プローブ
が試料の分注を行っている間、他方の試料分注プローブの洗浄を行うことができる。

以上により、処理速度を低下させることなく試料の汚染を低減することができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したも
のであり、発明の範囲を限定することを意図していない。これら新規な実施形態は、その
他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の
省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や
要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

Ｄ１１ 第１の距離
Ｄ１２ 第２の距離
Ｄ１３ 第３の距離
Ｄ１４ 第４の距離
Ｐ１１ 第１の試料容器位置
Ｃ２１ 第１の反応容器位置
Ｃ２２ 第２の反応容器位置
Ｐ３１ 第２の試料容器位置
Ｔ１ 第１の軌道
Ｔ２ 第２の軌道
Ｔ３ 第３の軌道
Ｔ４ 第４の軌道
１１ 試料容器
１６ 反応容器
１８ａ 第１の試料分注プローブ
１８ｂ 第２の試料分注プローブ
１９ａ 第１の移動機構
１９ｂ 第２の移動機構
３２ 分析制御部

Claims (7)

1. 試料容器内の試料を吸引して第１の位置の反応容器に吐出する分注を行う第１の分注プローブと、
   前記試料容器内の試料を吸引して第２の位置の反応容器に吐出する分注を行う第２の分注プローブと、
   前記第１の分注プローブを前記試料容器と前記第１の位置の反応容器の間を第１の距離の軌道で移動可能に支持する第１の移動機構と、
   前記第２の分注プローブを前記試料容器と前記第２の位置の反応容器の間を前記第１の距離よりも長い第２の距離の軌道で移動可能に支持する第２の移動機構と、
   前記第１の分注プローブが前記試料容器内の試料と接触することにより、当該試料の液面を検出する液面検出器と、
   前記第１及び第２の分注プローブを制御する分析制御部であって、
   前記試料容器内の試料について前記第１の分注プローブを用い、前記第１の分注プローブを、前記試料容器内の試料上方の上停止位置から、前記液面検出器により前記試料の液面が検出される第１の検出位置まで第１の速度で下降させて１回目の分注を実行し、
   前記試料容器内の前記１回目の分注と同一試料について前記第２の分注プローブを用い、前記第２の分注プローブを前記上停止位置から、前記第１の検出位置に基づく減速位置まで前記第１の速度よりも高速の第２の速度で下降させて、前記１回目の分注と同一の分析サイクルタイムの間に２回目の分注を実行する分析制御部と
   を備え、
   前記分析制御部は、前記第１の分注プローブによる試料容器内の試料の液面が検出される検出位置と、前記第２の分注プローブによる試料容器内の試料の液面が検出される検出位置とを用いて前記減速位置を補正する、自動分析装置。
2. 前記第２の分注プローブが前記試料容器内の試料と接触することにより、当該試料の液面を検出する液面検出器を有し、
   前記分析制御部は、
   前記試料の１回目の分注では、前記第１の分注プローブを前記上停止位置から前記第１の検出位置まで前記第１の速度で下降させ、
   前記試料の２回目の分注では、前記第２の分注プローブを前記上停止位置から前記減速位置まで前記第２の速度で下降させ、当該減速位置で減速させてから前記第２の分注プローブとの接触により前記試料の液面が検出される第２の検出位置まで前記第１の速度以下の速度で下降させることを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
3. 前記分析制御部は、前記試料の３回目の分注では、前記第１の分注プローブを前記上停止位置から、前記第２の検出位置に基づく第２の減速位置まで前記第２の速度で下降させ、当該第２の減速位置で減速させてから前記第１の分注プローブとの接触により前記試料の液面が検出される第３の検出位置まで前記第１の速度以下の速度で下降させることを特徴とする請求項２に記載の自動分析装置。
4. 前記第１の移動機構は、前記第１の分注プローブを支持する第１のプローブ支持体、この第１のプローブ支持体を上下移動可能に支持する第１の上下動支持体、及びこの第１の上下動支持体を回動可能に支持する第１の回動軸を有し、
   前記第２の移動機構は、前記第２の分注プローブを支持する第２のプローブ支持体、この第２のプローブ支持体を上下移動可能に支持する第２の上下動支持体、及びこの第２の上下動支持体を回動可能に支持する前記第１の回動軸と同軸上に配置された第２の回動軸を有することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の自動分析装置。
5. 前記第１の分注プローブと前記第１の回動軸の軸中心の間の距離と、前記第２の分注プローブと前記第２の回動軸の前記第１の回動軸と共通する当該軸中心の間の距離は同じであることを特徴とする請求項４に記載の自動分析装置。
6. 前記分析制御部は、前記第１の分注プローブと前記第２の分注プローブを異なるタイミングで前記上停止位置に停止させることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の自動分析装置。
7. 前記分析制御部は、前記第１及び第２の位置に反応容器が停止している間に、前記第１の分注プローブにより前記第１の位置の反応容器に前記試料を吐出させると共に前記第２の分注プローブにより前記第２の位置の反応容器に前記試料を吐出させることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の自動分析装置。

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